JP2011061490A - アンテナ素子及びアンテナ素子の検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】電圧定在波比（VSWR：Voltage Standing Wave Ratio）を測定しなくても、共振周波数特性に係る適否を検査できるアンテナ素子１を提供する。
【解決手段】給電部３と、給電部３に一端４Ａａ，４Ｂａ，４Ｃａが接続されるとともに他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂが開放された１又は２以上のアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃとが主面に形成された絶縁性基板２と、絶縁性基板２の上にアンテナ回路４を被覆するように積層された保護シート６と、を備え、保護シート６は、アンテナ回路４の共振周波数により定まる絶縁性基板上における他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂの位置に開口する開口部５１，５２，５３を有する。
【選択図】 図１Ａ

Description

本発明は、アンテナ素子及びアンテナ素子の検査方法に関するものである。

電磁波シールド用の金属製蓋の位置を合わせるため、フィルム基板にデバイス固定用の穴を設けた配線板が知られている（特許文献１）また、半田によってフィルムアンテナが基板から浮き上がるのを防止するため、アンテナ自体に開口部を設けたアンテナの構造が知られている（特許文献２）。

特開平１１−２７４６７４号公報 特開２００１−１１１３２２号公報

従来の構造のアンテナにおいて、アンテナ回路の共振周波数の適否を検査するには、電圧定在波比（VSWR：Voltage Standing Wave Ratio）を測定しなければならず、電圧定在波比を測定するための高価な測定装置及び高い測定技術が必要とされていた。

本発明が解決しようとする課題は、目視により、アンテナ回路の共振周波数の適否を検査できるアンテナ素子を提供することである。

本発明は、給電部と、前記給電部に一端が接続されるとともに他端が開放された１又は２以上のアンテナ回路とが主面に形成された絶縁性基板と、前記絶縁性基板の上に前記アンテナ回路を被覆するように積層された保護シートとを備え、前記保護シートが前記アンテナ回路の共振周波数により定まる絶縁性基板上における前記他端の位置に開口する開口部を有することにより、上記課題を解決する。

上記発明において、前記アンテナ回路の他端の表面に防錆層を形成することができる。

上記発明において、前記開口部の開口幅を、前記アンテナ回路の回路幅よりも大きくすることができる。

他の観点による、上記発明に係るアンテナ素子の検査方法において、前記アンテナ回路の他端の外縁の位置と、前記開口部の内縁の位置との位置関係に基づいて、前記アンテナ回路の共振周波数の適否を検査することにより、上記課題を解決する。

上記発明において、前記一のアンテナ回路の一端と他端間の抵抗値又は前記異なるアンテナ回路の他端間の抵抗値に基づいて、前記アンテナ回路の断線の有無を検査することができる。

上記発明において、前記一のアンテナ回路の一端と他端間のコイル成分値又は前記異なるアンテナ回路の他端間のコイル成分値に基づいて、前記アンテナ回路の短絡の有無を検査することができる。

本発明では、アンテナ回路を被覆する保護シートに、アンテナ回路の共振周波数により定まる絶縁性基板上における他端の位置に開口部を形成することにより、目的の共振周波数により定まるアンテナ回路の他端が形成されるべき位置で開口する開口部の位置と実際に形成されたアンテナ回路の他端の位置とを比較できるので、アンテナ回路の他端が正確な位置に形成されたか否かに基づいてその共振周波数の適否を目視により判断することができる。

本発明の実施形態に係るアンテナ回路の平面図である。 図１ＡのIＢ-IＢ線に沿う断面図である。 図１Ａに示すＡ部分の部分拡大図である。 アンテナ素子の部分平面図（その１）である。 図３Ａに示すアンテナ回路の他端の部分拡大図である。 アンテナ素子の部分平面図（その２）である。 図４Ａに示すアンテナ回路の他端の部分拡大図である。 アンテナ素子の部分平面図（その３）である。 図５Ａに示すアンテナ回路の他端の部分拡大図である。

《第１実施形態》
以下、図面に基づいて、本発明に係る本実施形態のアンテナ素子１について説明する。本実施形態では、異なる３つの共振周波数の送受信が可能なアンテナ素子１を例にして説明する。

図１Ａは、本実施形態のアンテナ素子１の平面図、図１Ｂは図１ＡのＩＢ-ＩＢに沿う断面図、図２は図１Ａで示すＡ部分の部分拡大図である。

図１Ａ、図１Ｂ及び図２に示すように、本実施形態のアンテナ素子１は、絶縁性基板２と、絶縁性基板２に形成された給電部３と、同じく絶縁性基板２の主面に形成され、給電部３に一端４Ａａ，４Ｂａ，４Ｃａ（以下、４ａとも総称する）が接続されるとともに、他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂ（以下、４ｂとも総称する）が開放されたアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃ（以下、４とも総称する）と、このアンテナ回路４を被覆するように積層された保護シート６と、を有する。

本実施形態に係るアンテナ回路４は、同図に示すように、給電点を含む給電部３とともに、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリイミド（ＰＩ）又はポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）などの樹脂で構成された絶縁性基板２の表面に形成されている。また、アンテナ回路４の他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂの表面には、錫メッキ層、銀メッキ層などの防錆層４Ｋが形成されている。

本実施形態のアンテナ素子１には、異なる３つの共振周波数に対応するため３つの独立したアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃが形成されている。これらの各アンテナ回路４は、目的とする通信周波数の電波を送信／受信するため、その通信周波数に対応する共振周波数に応じた長さに形成されている。

すなわち、アンテナ回路４の給電部３との接続端である一端４Ａａ，４Ｂａ，４Ｃａから開放端である他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂまでの長さは目的とする通信周波数に対応する共振周波数により定まる所定の長さとなり、アンテナ回路４の他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂは、絶縁性基板２の主面上における所定の位置に形成されるのが理想である。

そして、保護シート６は、アンテナ回路４が形成された絶縁性基板２の主面側に、アンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃを被覆するように積層されている。

ところで、アンテナ回路４は、後述するように、フォトリソグラフィー技術を用いてパターニングし、所定部分をエッチングにより除去することにより形成されるが、アンテナ回路４を高精度で形成することは難しい。例えば、アンテナ回路４の長さが長すぎたり短すぎたりして、アンテナ回路４の他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂを絶縁性基板２の主面上における所定の位置に形成できない場合がある。そのため、絶縁性基板２とアンテナ回路４との位置関係は常に絶対的なものではなく、製造上の個体差いわゆるバラツキを含む場合がある。

これに対し、絶縁性基板２とこれに積層される保護シート６との位置関係は、高精度で造り込むことができる。というのも、後述する製造工程においては、図１Ａに示すように、予め絶縁性基板２の原板２０に形成された位置決め穴２Ｑと同じく予め保護シート６の原板６０に形成された位置決め穴６Ｑとに共通の位置決めピンを挿通し、両者の位置関係を決定してから絶縁性基板２に保護シート６を積層するからである。絶縁性基板２の原板２０の位置決め穴２Ｑ及び保護シート６の原板６０の位置決め穴６Ｑは、いずれも、予め金型によって打ち抜いて形成されるため、金型の精度に応じた高い精度で所定の位置に形成することができる。このように、絶縁性基板２と保護シート６は高い精度で位置合わせがされているため、絶縁性基板２上の所定の位置と保護シート６上の所定の位置とは正確に対応づけることができるのである。

さらに、本実施形態の保護シート６には、アンテナ回路４の共振周波数により定まる絶縁性基板２上における所定の位置、すなわち、他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂが形成される位置に開口する開口部５１，５２，５３（以下、５０とも総称する）が形成されている。この開口部５０は、先述した位置決め穴６Ｑとともに、アンテナ素子１を構成する保護シート６を含む保護シートの原板６０を金型で打ち抜くことにより形成されるため、開口部５０と位置決め穴６Ｑとは金型の精度に応じた高い精度で所定の位置に形成することができる。

以上のように、開口部５０は、保護シート６に対する位置が高精度で造り込まれるとともに、保護シート６に対する絶縁性基板２の位置関係も高い精度で造り込まれる。その結果、開口部５０を、その開口位置が絶縁性基板２に対して所定位置となるように高精度で造り込むことができる。

つまり、本実施形態における各開口部５１，５２，５３を、アンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂが形成される絶縁性基板２上の所定の位置で開口させることができる。アンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃに欠けやはみ出し部分がなく適切に形成されている場合は、開口部５１，５２，５３の位置とアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂの位置が重なり、開口部５１，５２，５３からアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂを目視することができる。
形成する開口部５０の形状は特に限定されず、矩形であっても円形であってもよい。また、図２に示すように、本実施形態のアンテナ素子１の開口部５０は、その開口幅Ｘがアンテナ回路４の回路幅Ｙよりも大きくなるように形成されている。このようにすることで、開口部５０の内縁の位置とアンテナ回路４の他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂの外縁の位置とを比較することができ、その位置関係を視認することができる。

なお、開口部５０の開口幅Ｘは保護シート６の材質、厚さ、回路幅Ｙの値に応じて適宜設定することができるが、開口部５０の開口幅Ｘは、アンテナ回路４の回路幅Ｙの１１０％〜１４０％であることが好ましい。本実施形態では、アンテナ回路４の回路幅Ｙを０．４〜１．６mmとし、開口部５０の開口幅Ｘをφ０．５mm〜φ２・０mmの円形とする。

次に製造方法を説明する。アンテナ素子１を形成するには、まず、厚さ（８μｍ〜３００μｍ）程度のＰＥＴフィルム、ＰＩフィルム又はＰＥＮフィルムからなる絶縁性基板の原板２０に銅箔又はアルミニウム箔を貼り付けたシートを用意する。図１Ａはシートの一部を示す平面図であり、このシートには複数のアンテナ素子１が同時に形成され、後工程において個々のアンテナ素子１に打ち抜かれる。また、絶縁性基板の原板２０を含むシートの所定の位置には位置決め用穴２Ｑを形成しておく。この原板２０に貼り付けられた銅箔又はアルミニウム箔に対して、図１Ａに図示する給電部３との接続部及びアンテナ回路４をパターニングし、エッチングにより不要な部分を除去することにより、給電部３及びアンテナ回路４を形成する。このとき、先述のように、製造工程に由来する障害により、アンテナ回路４の長さに製造上の個体差が生じる場合がある。

そして、形成された給電部３には銅メッキ、Ａｕメッキを施す。アンテナ回路４、特に開放端である他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂには錫メッキなどの防錆処理を施す。また、他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂ以外のアンテナ回路４には、スクリーン印刷により絶縁膜を形成してもよい。

一方で厚さ（８μｍ〜３００μｍ）程度のＰＥＴフィルム、ＰＩフィルム又はＰＥＮフィルムからなる保護シート６を準備する。次いで、保護シート６を固定し、金型を用いて位置決め穴６Ｑ、開口部５１，５２，５３を形成する。

開口部５１，５２，５３は、アンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの共振周波数により定まる絶縁性基板２上における他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂの所定位置に開口するように形成する。

続いて、給電部３とアンテナ回路４が形成された絶縁性基板２の主面側に、接着剤を介して保護シート６を積層する。具体的に、まず、絶縁性基板２の原板２０に予め形成された位置決め穴２Ｑを所定の位置決めピンに通し、絶縁性基板２の原板２０をセットする。接着剤を塗布後、保護シート６の原板６０に予め形成された位置決め穴６Ｑを共通の位置決めピンに通して、絶縁性基板２の主面側に保護シート６を積層する。その後、金型により打ち抜き、個々のアンテナ素子１を得る。

絶縁性基板２と保護シート６との位置関係が位置決めピンと位置決め穴２Ｑ，６Ｑによって固定されているので、積層される保護シート６の開口部５１，５２，５３は、アンテナ回路４の他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂが形成される絶縁性基板２の所定位置に開口する。つまり、実際のアンテナ回路４の形成状態にかかわらず、保護シート６の開口部５１，５２，５３は絶縁性基板２の所定位置に開口する。

ちなみに、金型で所定形状に打ち抜かれたアンテナ回路４が形成された絶縁性基板２を、所定形状の凹部が形成された位置決め用プレートにセットし、接着剤を塗布した後、同じく金型で所定形状に打ち抜かれた保護シート６を同じ位置決め用プレートにセットして、絶縁性基板２と保護シート６とを積層してもよい。こうすることで、絶縁性基板２と保護シート６の位置関係を一定にすることができる。

また、開口部５０は、保護シート６を給電部３とアンテナ回路４が形成された絶縁性基板２に積層してから形成してもよい。たとえば、開口部５０が形成されていない保護シート６を給電部３とアンテナ回路４が形成された絶縁性基板２に積層してから、ハーフカット用の金型を用いて、アンテナ回路４の共振周波数により定まる絶縁性基板２上における他端４ｂの所定位置に開口部５０を形成してもよい。

本実施形態のアンテナ素子１は、アンテナ回路４の共振周波数により定まる絶縁性基板２上における他端４ｂの位置に開口する開口部５０を有する保護シート６を、給電部３とアンテナ回路４とが形成された絶縁性基板２の主面側に積層するので、開口部５０の開口位置と他端４ｂが形成されるべき位置とが重なり合い、保護シート６側から開口部５０を通してアンテナ回路４の他端４ｂの位置を確認することができる。

すなわち、目的の共振周波数により定まるアンテナ回路４の他端４ｂが位置すべきところに開口する開口部５０の位置と実際に形成されたアンテナ回路４の他端４ｂの位置とを比較することにより、アンテナ４の他端４ｂが正確な位置に形成されたか否かを検査することができる。

これにより、製造工程に由来する障害により、アンテナ回路４の長さを目的とする共振周波数により定まる所定の長さに形成することができないバラツキが生じた場合であっても、目視により、各アンテナ回路４が、目的の通信周波数の電波に対応する共振周波数に応じた長さに形成されているか否かを検査することができる。

続いて、上述した本実施形態のアンテナ素子１に適用される、アンテナの共振周波数特性、すなわち目的の通信周波数に対応する共振周波数の送受信を行う特性の適否を判断する検査方法、アンテナ回路の回路としての適否を判断する検査方法について説明する。

本実施形態では、アンテナ素子１の性能を、目的の電波の共振周波数特性を備えているか否かという第１の観点と、アンテナ回路４の断線や短絡が発生しているか否かという第２の観点からその適否を検査する。

まず、第１の観点によるアンテナ回路４の共振周波数特性の検査方法について説明する。目的とする共振周波数特性を備えるアンテナ素子１は、目的の通信周波数の電波を送信／受信するため、目的の通信周波数の電波に対応する共振周波数に応じた長さに形成されている。

図１Ａ，図１Ｂ及び図２に示す本実施形態のアンテナ素子１は、アンテナ回路４の共振周波数により定まる絶縁性基板２上における他端４ｂの位置に開口部５０が形成された保護シート６でアンテナ回路４を被覆するので、開口部５０の位置とアンテナ回路４の他端４ｂの位置とを比較することにより、アンテナ４の他端４ｂが正確な位置に形成されているか否か、つまり、アンテナ回路４が目的の電波の共振周波数に応じた長さに形成されているか否かを検査することができる。

本実施形態の検査方法では、アンテナ回路４の他端４ｂの外縁の位置と、開口部５０の内縁の位置との位置関係に基づいて、アンテナ回路４の共振周波数を検査する。検査者は保護シート６側から開口部５０を通して、アンテナ回路４の他端４ｂを目視により観察する。

具体的な検査例を、図３Ａ，図３Ｂ、図４Ａ，図４Ｂ、図５Ａ，図５Ｂに基づいて説明する。図３Ａは共振周波数に異常が無く適合品と判断されるアンテナ素子１の部分平面図、図３Ｂは図３Ａに示すアンテナ回路４の他端４ｂの部分の拡大図、図４Ａ，図５Ａは共振周波数に異常が有る不適合品と判断されるアンテナ素子１の部分平面図、図４Ｂ，図５Ｂは図４Ａ，図５Ａに示す各アンテナ回路４の他端４ｂの部分の拡大図である。

図３Ａ，図３Ｂに示すように、有色半透明の保護シート６の開口部５０から見たアンテナ回路４の他端４ｂの外縁が、開口部５０の内縁の内側に観察されるとともに、アンテナ回路４の他端４ｂの先端が開口部５０の開口幅Ｘの半分の位置に相当する１／２Ｘの位置から他端４ｂが対向する開口部５０の内縁までの領域に位置する場合は、アンテナ素子１は目的の共振周波数特性を具備する適合品であると判断する。他方、上記以外の場合、アンテナ素子１は目的の共振周波数特性を具備しない不適合品であると判断する。

例えば、図４Ａ，図４Ｂに示すように、有色半透明の保護シート６の開口部５０から見たアンテナ回路４の他端４ｂの外縁が、開口部５０の内縁の内側に観察されるものの、アンテナ回路４の他端４ｂの先端が開口部５０の開口幅Ｘの１／２Ｘの位置からアンテナ回路の一端４ａ側（給電部３側）の開口部５０の内縁までの領域に位置する場合は、アンテナ回路４が目的の共振周波数に対応する長さよりも短く、目的の共振周波数特性を具備しない不適合品であると判断する。

さらに、図５Ａ，図５Ｂに示すように、有色半透明の保護シート６の開口部５０から見たアンテナ回路４の他端４ｂの外縁が、開口部５０の内縁の内側に観察されず、アンテナ回路４の他端４ｂの先端が開口部５０を超えてその外側に位置する場合（有色半透明の保護シート６の下に透けてアンテナ回路４が見える場合）は、アンテナ回路４が目的の共振周波数に対応する長さよりも長く、目的の共振周波数特性を具備しない不適合品であると判断する。なお、図示はしないが、アンテナ回路４の他端４ｂの先端が開口部５０に至らずその外側に位置する場合は、アンテナ回路４が目的の共振周波数に対応する長さよりも短く、目的の共振周波数特性を具備しない不適合品であると判断する。

なお、上述の検査例では、アンテナ回路４の他端４ｂの先端の位置と開口部５０の開口幅Ｘの１／２Ｘの位置とを比較して、その位置関係に基づいてアンテナ回路４の共振周波数特性を検査したが、検査の基準はアンテナ回路４の回路幅、開口部５０の開口幅Ｘに応じて適宜設定することができる。

このように、本実施形態の検査方法によれば、アンテナ素子１が目的の共振周波数特性を備えているか否かを目視により検査することができる。これにより、高価な測定装置、厳密な測定環境及び高い測定技術が必要とされる電圧定在波比（VSWR：Voltage Standing Wave Ratio）を測定しなくても、アンテナ回路４の共振周波数特性を検査することができる。

さらに、目視によってアンテナ回路４の共振周波数特性を検査することができるので、生産時だけでなく、組み立て時などの下流工程においても検査をすることができる。すなわち、組み立てを行う工程で、組立者の目視によってアンテナ素子１の共振周波数特性を検査することができるので、生産時における共振周波数特性の検査工程を省くことができ、製品に係るコストを低減させることができる。

次に、第２の観点によるアンテナ回路４の断線や短絡が発生しているか否かの検査方法について説明する。

まず、断線発生の有無の検査方法について説明する。本実施形態では、一のアンテナ回路４の一端４ａと他端４ｂ間の抵抗値又は異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂ間の抵抗値に基づいて、アンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの断線の有無を検査する。

本実施形態のアンテナ素子１では、保護シート６の所定の位置(アンテナ回路４の他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂが形成される位置)に開口部５０が形成されているので、この開口部５０から測定用のプローブを他端４ｂに接触させることができる。

つまり、一のアンテナ回路４の一端４ａには給電部３を介して抗測定器のプローブを接触させることができ、他端４ｂには開口部５０から抵抗測定器のプローブを接触させることができるので、一のアンテナ回路４の一端４ａと他端４ｂの間の抵抗値を容易に測定することができる。

そして、一のアンテナ回路４において測定された抵抗値が予め設定された所定値域である場合は、アンテナ回路４に断線は生じておらず、適合品であると判断する。他方、一のアンテナ回路４において測定された抵抗値が予め設定された所定値域外である、特に所定値域の上限よりも高い設定値以上である場合は、アンテナ回路４に断線が生じており、不適合品であると判断する。

同様に、異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂにも開口部５０を通して抵抗測定器のプローブを接触させることができるので、異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂ間の抵抗値を容易に測定することができる。

そして、異なるアンテナ回路４において測定された抵抗値が予め設定された所定値域である場合は、絶縁されているべき異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃ間に電流が流れており、不適合品であると判断する。他方、異なるアンテナ回路４において測定された抵抗値が予め設定された所定値域外である、特に、所定値域の上限よりも高い設定値以上である場合は、異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃは絶縁されており、適合品であると判断する。

続いて、短絡発生の有無の検査方法について説明する。本実施形態では、一のアンテナ回路４の一端４ａと他端４ｂ間のコイル成分値又は異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂ間のコイル成分値に基づいて、アンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの短絡の有無を検査する。

本実施形態のアンテナ素子１では、保護シート６の所定の位置(アンテナ回路４の他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂが形成される位置)に開口部５０が形成されているので、この開口部５０から測定用のプローブを他端４ｂに接触させることができる。

つまり、一のアンテナ回路４の一端４ａには給電部３を介してコイル成分測定器のプローブを接触させることができ、他端４ｂには開口部５０を通してコイル成分測定器のプローブを接触させることができるので、一のアンテナ回路４の一端４ａと他端４ｂの間のコイル成分の値を容易に測定することができる。本実施形態において測定されるコイル成分の値は、インダクタンス[Ｈ]、リアクタンス[Ω]、キャパシタンス[Ｃ]の値である。

そして、一のアンテナ回路４において測定されたコイル成分の値が予め設定された所定値域内である場合は、一のアンテナ回路４に短絡は生じておらず、適合品であると判断する。他方、一のアンテナ回路４において測定されたコイル成分の値が予め設定された所定値域外、特に所定値域の上限よりも高い設定値以上である場合は、一のアンテナ回路４に短絡が生じており、不適合品であると判断する。

同様に、異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂには開口部５０を通してコイル成分測定器のプローブを接触させることができるので、異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃの他端４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂ間のコイル成分の値を容易に測定することができる。

そして、異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃ間において測定されたコイル成分の値が予め設定された所定値域内である場合は、絶縁されているべき異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃ間に電流が流れており、不適合品であると判断する。他方、異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃ間において測定されたコイル成分の値が所定値域外、特に所定値域の上限よりも高い設定値以上である場合は、異なるアンテナ回路４Ａ，４Ｂ，４Ｃは絶縁されており、適合品であると判断する。

このように、本実施形態の検査方法によれば、保護シート６の開口部５０から抵抗測定器又はコイル成分測定器のプローブを差し込んで一のアンテナ回路４の他端４ｂと一端４ａとの間、他のアンテナ回路の他端４ｂ同士の抵抗値又はコイル成分値を計測できるため、アンテナ回路４の回路特性の適否を簡易な手法で検査することができる。

以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記の実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。

１…アンテナ素子
２…絶縁性基板
３…給電部
４，４Ａ，４Ｂ，４Ｃ…アンテナ回路
４ａ，４Ａａ，４Ｂａ，４Ｃａ…アンテナ回路の一端
４ｂ，４Ａｂ，４Ｂｂ，４Ｃｂ…アンテナ回路の他端
５０，５１，５２，５３…開口部
６…保護シート

Claims (6)

1. 給電部と、前記給電部に一端が接続されるとともに他端が開放された１又は２以上のアンテナ回路とが主面に形成された絶縁性基板と、
   前記絶縁性基板の上に前記アンテナ回路を被覆するように積層された保護シートと、を備え、
   前記保護シートは、前記アンテナ回路の共振周波数により定まる絶縁性基板上における前記他端の位置に開口する開口部を有するアンテナ素子。
2. 請求項１に記載のアンテナ素子であって、
   前記アンテナ回路の他端の表面に防錆層が形成されたことを特徴とするアンテナ素子。
3. 請求項１又は２に記載のアンテナ素子であって、
   前記開口部の開口幅は、前記アンテナ回路の回路幅よりも大きいことを特徴とするアンテナ素子。
4. 請求項１〜３の何れか一項に記載のアンテナ素子の検査方法であって、
   前記アンテナ回路の他端の外縁の位置と、前記開口部の内縁の位置との位置関係に基づいて、前記アンテナ回路の共振周波数の適否を検査するアンテナ素子の検査方法。
5. 請求項１〜３の何れか一項に記載のアンテナ素子の検査方法であって、
   前記一のアンテナ回路の一端と他端間の抵抗値又は前記異なるアンテナ回路の他端間の抵抗値に基づいて、前記アンテナ回路の断線の有無を検査するアンテナ素子の検査方法。
6. 請求項１〜３の何れか一項に記載のアンテナ素子の検査方法であって、
   前記一のアンテナ回路の一端と他端間のコイル成分値又は前記異なるアンテナ回路の他端間のコイル成分値に基づいて、前記アンテナ回路の短絡の有無を検査するアンテナ素子の検査方法。

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