JP2011058969A - 光学計測器用断熱装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 本発明は、高温加熱中の対象物を微細に計測するため、熱源との距離が近い光学計測器を熱気から保護し、安定した計測を可能とする計測器の実現を目的とする。
【解決手段】 対象物と光学計測器との間に平行平面な透明体を配置し、光学計測器と透明体の間に強制対流を発生させる空冷または液体冷却と、前記透明体を支持し、液体を使った冷却が可能な熱交換器により、光学計測器への熱気を遮断する光学計測器用断熱装置を構成するようにした。
【選択図】 図1

Description

本発明は、高温または加熱中の対象物を観察する、あるいはその表面形状などを計測する光学装置に関するものである。
高温加熱が必要であり、かつ加熱に伴う形状や物理的諸特性の変化が問題となる製品あるいは物質が工業生産品の中には数多く存在する。加熱中あるいは高温下で観察が求められているものの一例として、電子回路基板製造における半田ボール電極のリフロー工程がある。半田をボール状に形成するためには半田が溶融する250℃前後まで加熱する必要があるが、リフロー工程においては、半田だけでなく基板も一緒に加熱されることから、半田の溶融状態だけでなく基板の変形が問題となることもあり得る。
これらリフロー工程中に発生する問題は、製品の品質や歩留まりに影響してしまうことから、リフロー工程中の半田ボールの融解状態や基板の反りを観察あるいは計測しそのメカニズムを解明することが重要となる。
高温下あるいは加熱中の物体の観察には、対象物を密閉して熱気を遮断し、密閉筐体の一部に断熱ガラスで観察用の窓を設け、観察系(カメラ+レンズあるいは人)によりその窓を通して観察するのが一般的である。
この場合、密閉している筐体あるいは観察窓のガラスも高温になったり、温度勾配によって偏光に影響がでる光応力が発生する可能性があり、また空気による熱対流により観察系も熱の影響を受ける可能性がある。高精度の計測が必要な光計測器の場合、熱の影響があるとキャリブレーション値が変化してしまうなど、無視できない影響があるため、影響を受けない程度に観察窓から離して設置する、あるいは観察窓や筐体の外部表面が高温にならないように断熱材を挟んだ2重筐体、2重窓とするなどの対策が一般的である。
特開2009-10164号公報
しかし、対象物が微細で、顕微鏡のような高倍率の拡大光学系が必要な場合、顕微鏡のワーキングディスタンスは非常に短いため、観察窓から離して設置することは不可能であり、同様に対象物から結果的に離して設置されることになる2重筐体、2重窓も不可能である。非常に薄い2重構造は可能と思われるが、それでは断熱の効果を得ることができない。
高精度の光学計測器で、計測原理的に光の偏光特性を利用する装置、あるいは対象物の偏光特性自体を計測するような装置の場合、計測光路中にガラスが挿入されること自体、光学系の収差性能が変化してしまうため好ましくない。さらに、ガラスの熱膨張により応力歪みが発生し、複屈折現象がおこり偏光特性が乱されることが考えられる。
本発明が解決しようとする課題は、高温加熱中の対象物と光学計測器との距離が短い場合でも、計測器への熱伝導・熱対流・熱輻射を遮断し、偏光特性に影響を大きく与えない、高精度で、安定した観察及び計測を可能とする光学計測器用断熱装置の実現である。
本発明は、厚みの薄い石英ガラスなどの平行平面透明体が、偏光特性に影響を与えない有用性があること、平行平面透明体に接して常温の気体または流体を強制的に流すと、その平行平面透明体からの熱伝達が遮断されることを利用したものである。
さて、前記課題を解決するために、光学計測器の光路中に挿入される少なくとも1枚の平行平面透明体と、前記平行平面透明体を支持しかつ、熱源から前記光学計測器に向かう熱対流を遮断し、その内部に液体を流して熱が問題とならない外部へ排熱することで自らを冷却する機能を有する熱交換器と、前記光学計測器と平行平面透明体の間に、強制的に気体あるいは液体の流れを発生させることで前記平行平面透明体から前記光学計測器への対流熱伝達を防ぐ対流発生機構とにより断熱をする構造をもつ光学計測器用断熱装置を構成する。
前記平行平面透明体を2枚挿入し、2枚の間の空間に前記対流発生機構により強制的に気体あるいは液体の対流を発生させる。
前記平行平面透明体は、少なくとも1面に、熱源からの輻射熱を低減する薄膜が塗布され、また、熱膨張で発生する応力歪みによる複屈折が、偏光を利用する前記光学計測器の計測に影響しない程度に薄くしたもので構成する。
また、前記光学計測器の設置空間の温度が、熱源からの熱により上昇することを抑制し、かつ前記熱交換器による結露発生を抑制するための空調機構を備える。
さらに、前記光学計測器の周囲に設置され、熱源からの熱対流を遮断する機能を有する断熱材を備えた装置を構成する。
以上のように構成することで、高温加熱中の対象物と光学計測器との距離が短い場合でも、熱源から計測器への熱を遮断し、複屈折を抑え、安定して微細に観察及び計測が可能となる光学計測器用断熱装置が実現できる。
以下では、本発明を具体的に実施するにあたり最良と思われる実施形態について述べる。
まず、本発明を具現化した実施形態の例を、図1、図2を参照して説明する。
基本的な構成部品は、光学計測器6の光学系部101を覆う断熱材1と、その下部に付ける断熱装置2と、断熱材1及び設置空間の温度上昇を抑える空調装置5である。また、本実施例では光学系部101は対物レンズ部を表し、光学計測器6はその光学系部101に入った光をカメラに結像させて、観測及び計測する役割を持っている。
断熱材1は、加熱装置4からの熱対流が光学計測器6の光学系部101に直接当たり、光学系部101の温度が上昇するのを防ぐために設けている。空調装置5により光学計測器6周辺の空間は一定温度に保たれているので、断熱材1として熱伝導率の低い、熱容量の大きい材質を使用すれば、時間経過と共に断熱材1自身が温度上昇して光学計測器6に熱が伝達してしまうようなことは起こらない。ここでは、光学計測器6の光学系部101のみを覆う形となっているが、これに限られるものではない。光学計測器6全体を覆う場合も本発明の範疇である。
空調装置5は、対象物3及び加熱装置4(以下熱源という。)からの発熱により時間経過とともに光学計測器6周辺の空間の温度が上昇していくのを防ぎ、温度を一定にするのが主な役割である。光学計測器6周辺に熱気が滞留しないように空気の対流を起こしたり、不要な熱を廃棄したりする機能をもつ。また、後述するように、断熱装置2では冷却機構を用いるため、結露が発生しないように湿度を管理する目的もある。
断熱装置2は、熱源からの熱が光学計測器6に伝達されることを防ぐために設けられている。熱源から光学計測器6へは主に空気を介した対流熱伝達により熱が伝達されると考えられるから、たとえば、空調装置5の冷風を熱源と光学計測器6の間に流すことで熱伝達を防ぐことも可能と考えられる。しかし、加熱中の対象物3にも冷風が当たり、対象物3自体が冷却されてしまうため、対象物3のある高温空間と、常温である必要のある光学計測器6の存在する空間を明らかに分けるために断熱装置2を設けている。
断熱装置2の構造を図2に示す。断熱装置2は、熱源と光学計測器6との間に挿入され、熱源からの熱気が直接光学計測器6に当たるのを防いでいるが、熱源との距離が非常に近いため、強制的な冷却をしない限りいずれ高温となってしまい、結局光学計測器6に熱が到達してしまう。そこで断熱装置2は、自身で冷却する機構を持つ構造となっている。
本課題のように、高温で熱源との距離が非常に近い場合には、フィンやファンなどを用いた単純な空冷機構では冷却能力が足りない。またペルチェ素子のような冷却素子と放熱機構を組み合わせることも考えられるが、いずれにしても光学計測器6の周辺空間に放熱することは避けなければならない。
そこで、断熱装置2に液体循環用の配管部103を設けて、外部に位置する装置の冷却液体循環装置106と液体用循環ホース102で接続することにより、自身を冷却する機構とした。図2、3中に示すように、光学計測器6の光路を遮らないように配置した循環用パイプ203内に一定温度の液体を循環させ、均一に断熱装置2全体が冷却されるようにしている。
断熱装置2は、本体材料および循環用パイプ203に熱伝導率の高い材質を使用することで熱交換器としての効率を上げることができる。また、断熱装置2の内部に循環用パイプ203を通しているため、断熱装置2の小型化が図れ、かつ、装置の形状に合わせて、均一に冷却できるようにパイプを配置することも可能としている。さらに、パイプを通す部分に厚みができたとしても、光学系部101を挿入する部分(光路中)にはパイプを配置しないため、対象物3と光学計測器6との間の空間(以下ワーキングディスタンスと称する)が大きくとれない場合でも、ワーキングディスタンスに対して十分に薄く設計することができる。
液体の温度を低く設定すれば冷却効果は高まるが、低すぎても光学計測器6に影響を与えると考えられるため、定常状態で室温レベルとなるように設定するのが望ましい。局所的に低温となる部分などがあると、その部分で結露してしまう可能性もあるため、空調装置5による湿度制御が必要である。
このような冷却機構により断熱装置2本体部分は冷却できるが、計測光路部分は循環用パイプ203を配管することができないため直接冷却できない。そのため、そのままでは高温熱源からの熱気は計測光路を通して光学計測器6側へと伝わってしまう。
そこで、断熱装置2ではさらに、計測光路部分に2枚の平行平面透明体202を配置し、これらの間の空間に、図4に示すような強制対流を発生させる機構を設けている。気体または液体を強制対流させるため、送風・送水口204と排気・排水口205を設け、外部に位置する送風発生装置105や気体吸引装置(図示していない)、またはその両方に気体送排用ホース104で接続する。これによって計測器の光路を遮ることなく、2枚の平行平面透明体202の間の熱伝達は強制対流によって遮断される。また、平行平面透明体202は高温にさらされるため、その材質には耐熱性に優れた、例えば合成石英ガラスなどが該当する。
2枚の平行平面透明体202の間の熱伝達は熱伝導・熱対流・熱輻射のうち熱対流であるが判明した。2枚の平行平面透明体202間に強制対流をさせない場合、今回図示しないが、図2中の光学系部101側の平行平面透明体202は加熱装置4が設定温度(260℃)に達した時点で開始温度24度から70度付近まで温度上昇が起こった。光学系部101の先端部と光学系部側の平行平面透明体202は近接していてほぼ同じ温度となるため、このままでは断熱装置の機能としては不十分である。一方、強制対流を発生させた場合、図2中の対象物3側の平行平面透明体202が図6グラフに示すように、約100℃近くまで上昇しているのに対し、光学系部101側の平行平面透明体202はほとんど温度変化していない。このことから平行平面透明体202の2枚の間に発生させている強制対流は十分な断熱効果があることがわかる。
2枚の平行平面透明体202間の熱伝達を遮断する手段としては、2枚の間の空間部を密閉して、気体を排出し真空状態にする構造も考えられる。しかし、空間を真空にすると、大気圧により平行平面透明体202に強い圧力がかかるため平面の歪みが発生し、例えば光学計測器6が無収差波面を必要とするような場合、悪影響を与える可能性がある。少なくとも、かなり強度を持った厚さのガラスを使用する必要があり、スペースが必要となるし、光学的にも光学計測器6への影響は避けられない。
また、平行平面透明体202を配置しないで対流を発生させることも考えられるが、その場合、対流は排気・排水口205以外に、光学系部101方向と対象物3方向へも流れてしまう。光学系部101方向に対流が発生してしまうと、加熱装置により温められた空気が光学系部101へ直接当たってしまい断熱の効果が下がってしまう。一方、対象物3方向へ分岐した対流は、加熱温度に対しては温度が低いため、対象物3が冷やされ、適切な加熱処理が行われない。
そのため、光学系部101及び対象物3の間には2枚の平行平面透明体202を配置し、それに対して平行で一方向に対流が発生するような機構であると良い。この機構により、層流状態の気体または液体を流すことができ、気体または液体の屈折率を安定させて、そのゆらぎによる計測ノイズを低減することが可能となる。干渉計測をするような場合は屈折率のゆらぎは大きな問題となる。検証実験では、気体を対流させた状態を干渉計で観測してもゆらぎがないことを確認している。また、その状態でリフロー中の対象物を観測しても画像のゆらぎは見られなかった。
平行平面透明体202は、必ずしも2枚である必要はない。1枚だけにして、その1枚の平行平面透明体202と光学計測器6の光学系部101との間に空気の流れを作ることも考えられるし、逆に平行平面透明体202を3枚以上配置し、強制対流させる層を増やす機構も考えられる。これらについても本発明の範疇である。
また、熱源からは輻射熱も発生する。これは電磁波の形で空間を伝播し、気体に影響をほぼ受けずに熱が伝わるため、上記のような対策で防ぐことはできない。輻射熱の影響は、本発明で考えているような課題に対してはあまり問題とはならないと考えられるが、平行平面透明体202に熱源からの輻射熱のピーク波長を反射するような薄膜を塗布することで、光学計測器6への熱移動を低減することができる。
以上のような機能を有しているので、平行平面透明体202は、輻射熱対策以外はそれ自身に断熱または冷却する機能を必要としないため、熱的には厚さを任意に選択することができる。これにより、従来の観察方法で光路中に置かれるガラス厚に対し、厚さを大幅に薄くしても光学計測器6に対する熱遮断を可能としている。
平行平面透明体202を薄くすることができるのは、光学計測器6にとっては大きなメリットである。単純なメリットとしては、本発明の課題の場合、ワーキングディスタンスが大きくとれないことが前提であるから薄く製作可能であることは、ワーキングディスタンスが小さくとも挿入できることになるし、また断熱装置2の挿入によりさらに小さくなるワーキングディスタンスを少しでも大きく確保できることになる。
さらに、光学計測器6の中には、顕微鏡のように結像性能が非常に重要であるものが存在する。対物レンズの開口数が比較的大きいものにおいては、光路中に平行平面が挿入されると球面収差あるいは色収差が発生し、画質を劣化させてしまう。画質の劣化量は平行平面の厚さの影響により変わり、薄いものであれば影響は小さい。本発明の場合、顕微鏡のカバーガラスレベルの厚さににすることもできるため、光学計測器6への影響は非常に小さくすることができる。
また、光学計測器6の中には、光の持つ偏光特性を利用したもの、あるいは対象物3の偏光特性を計測するものなども含まれるが、このような場合、光路中に挿入された平行平面透明体202が複屈折特性を有していると正しい計測ができなくなってしまう。
複屈折とは、物質に固有なある軸を考え、その軸方向に振動する光線を常光線、その軸に直交する方向に振動する光線を異常光線と呼ぶことにすると、これら2つの光線に対する物質の屈折率がそれぞれ異なる値をもつ現象のことをいう。通常ガラスはアモルファスな構造を持つため、複屈折現象は見られないが、物理的な圧力負荷がかかると、分子配列に方向性が生じ、複屈折現象が現れることが知られている。
本発明において、平行平面透明体202の対象物3に面する面は確実に高温となる。その場合、平行平面透明体202に熱歪みが発生し、その歪みにより複屈折が発生すると考えられる。複屈折が発生すると直線偏光が直線でなくなり、例えば楕円偏光となり計測に影響を与えることになるが、その影響の程度は平行平面透明体202の厚さによって異なる。平行平面透明体202を十分薄くできるならばその影響を小さくすることができ、計測には無視できる。本実施例での検証実験では、薄さ0.12mmの合成石英ガラスを使用し、これが前記の画像劣化及び複屈折が計測に影響を与えない程度の厚さであることを確認している。
本発明により、物体加熱時の精密な形状観察及び計測が可能となる。物体の高温ストレスによる影響を研究する分野において大きな需要があると考えられる。
本発明の実施例を示した図である。 本発明の断熱装置部を説明するための縦断面図である。 熱交換器の循環用パイプの配置を示した横断面図である。 強制対流を発生させる機構部を説明するための断面図である。 強制対流を発生させる機構部を説明するための上面図である。 平行平面透明体の温度状態を示したグラフである。
1 断熱材
2 断熱装置
3 対象物
4 加熱装置
5 空調装置
6 光学計測器
7 設置台
101 光学系部
102 液体循環用ホース
103 配管部
104 気体送排用ホース
105 送風発生装置
106 冷却水循環装置
201 熱交換器プレート
202 平行平面透明体
203 循環用パイプ
204 送風・送水口
205 排気・排水口

Claims (6)

  1. 光学計測器の光路中に挿入される少なくとも1枚の平行平面透明体と、
    前記平行平面透明体を支持し、かつ、熱源から前記光学計測器に向かう熱対流を遮断し、内部に液体を流して熱が問題とならない外部へ排熱することで自らを冷却する機能を有する熱交換器と、
    前記光学計測器と平行平面透明体との間に、強制的に気体あるいは液体の流れを発生させることで前記平行平面透明体から前記光学計測器への対流熱伝達を防ぐ対流発生機構とにより構成されることを特徴とする光学計測器用断熱装置。
  2. 前記平行平面透明体は2枚で構成され、
    2枚の間の空間に前記対流発生機構により強制的に気体あるいは液体の対流を生じさせることを特徴とする請求項1記載の光学計測器用断熱装置。
  3. 前記平行平面透明体の少なくとも1面に、熱源からの輻射熱を低減する薄膜が塗布されていることを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の光学計測器用断熱装置。
  4. 前記平行平面透明体は、熱膨張で発生する応力歪みによる複屈折が、偏光を利用する前記光学計測器の計測に影響しない程度に薄いことを特徴とする請求項1または請求項2または請求項3のいずれかに記載の光学計測器用断熱装置。
  5. 前記光学計測器の設置空間の温度が、熱源からの熱により上昇することを抑制し、かつ前記熱交換器による結露発生を抑制するための空調機構を備えることを特徴とする請求項1または請求項2または請求項3または請求項4のいずれかに記載の光学計測器用断熱装置。
  6. 前記光学計測器の周囲に設置され、熱源からの熱対流を遮断する機能を有する断熱材を備えることを特徴とする請求項1または請求項2または請求項3または請求項4または請求項5のいずれかに記載の光学計測器用断熱装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015529858A (ja) * 2012-09-13 2015-10-08 ブランディーズ・ユニバーシティBrandeis University 低温超分解能蛍光顕微鏡法および他の用途のための冷却システムおよび方法
JP2019144129A (ja) * 2018-02-21 2019-08-29 株式会社東光高岳 基板形状計測装置

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS526539A (en) * 1975-07-05 1977-01-19 Kawano Rinshiyou Igaku Kenkyusho Observation recorder for live cells and others
JPS6173011A (ja) * 1984-09-18 1986-04-15 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 結露防止した測長装置
JPH08201440A (ja) * 1995-01-27 1996-08-09 Toshiba Corp 光変流器及びその製造方法
JPH11258401A (ja) * 1997-11-25 1999-09-24 Hoya Corp 光学素子及びその製造方法
JP2000004056A (ja) * 1998-06-15 2000-01-07 Takuma Co Ltd 耐熱プローブ及びこれを備えたレーザ流速計
JP2001117016A (ja) * 1999-10-21 2001-04-27 Tokai Hit:Kk 検体温度管理器用プロテクターと、検体温度管理器
JP2001290120A (ja) * 2000-04-07 2001-10-19 Sony Corp 投射型液晶表示装置
JP2003307412A (ja) * 2002-04-15 2003-10-31 Haneda Makoto 形状測定装置
JP2004093280A (ja) * 2002-08-30 2004-03-25 Fujitsu Ltd 測定装置
JP2007024711A (ja) * 2005-07-19 2007-02-01 Schott Ag 光分散を用いた熱ガラス体厚の無接触光学測定方法及び装置
JP2007127672A (ja) * 2000-11-14 2007-05-24 Nippon Steel Corp 炉幅測定装置及び炉幅測定方法

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS526539A (en) * 1975-07-05 1977-01-19 Kawano Rinshiyou Igaku Kenkyusho Observation recorder for live cells and others
JPS6173011A (ja) * 1984-09-18 1986-04-15 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 結露防止した測長装置
JPH08201440A (ja) * 1995-01-27 1996-08-09 Toshiba Corp 光変流器及びその製造方法
JPH11258401A (ja) * 1997-11-25 1999-09-24 Hoya Corp 光学素子及びその製造方法
JP2000004056A (ja) * 1998-06-15 2000-01-07 Takuma Co Ltd 耐熱プローブ及びこれを備えたレーザ流速計
JP2001117016A (ja) * 1999-10-21 2001-04-27 Tokai Hit:Kk 検体温度管理器用プロテクターと、検体温度管理器
JP2001290120A (ja) * 2000-04-07 2001-10-19 Sony Corp 投射型液晶表示装置
JP2007127672A (ja) * 2000-11-14 2007-05-24 Nippon Steel Corp 炉幅測定装置及び炉幅測定方法
JP2003307412A (ja) * 2002-04-15 2003-10-31 Haneda Makoto 形状測定装置
JP2004093280A (ja) * 2002-08-30 2004-03-25 Fujitsu Ltd 測定装置
JP2007024711A (ja) * 2005-07-19 2007-02-01 Schott Ag 光分散を用いた熱ガラス体厚の無接触光学測定方法及び装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015529858A (ja) * 2012-09-13 2015-10-08 ブランディーズ・ユニバーシティBrandeis University 低温超分解能蛍光顕微鏡法および他の用途のための冷却システムおよび方法
US9784962B2 (en) 2012-09-13 2017-10-10 Brandeis University Cooling systems and methods for cryo super-resolution fluorescence light microscopy and other applications
US10678039B2 (en) 2012-09-13 2020-06-09 Brandeis University Cooling systems and methods for cryo super-resolution fluorescence light microscopy and other applications
JP2019144129A (ja) * 2018-02-21 2019-08-29 株式会社東光高岳 基板形状計測装置

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