JP2011040685A - 光パルス発生器およびこれを用いた光パルス試験器 - Google Patents
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Abstract
を目的にする。
【解決手段】レーザダイオードにバイアス電圧を印加する電圧源とレーザダイオードを直接変調してパルス光を出射させるためのスイッチング素子とを有する光パルス発生器に改良を加えたものである。本装置は、スイッチング素子のオン後のレーザダイオードの発光時の順方向電圧の過渡特性により充電を開始しレーザダイオードに順方向電流が流れ始めると放電を開始して順方向電流と同じ方向でレーザダイオードに電流を流す補助電流回路を設けたことを特徴とするものである。
【選択図】図1
Description
図9において、光パルス発生器は、レーザダイオード11、トランジスタ12、定電流源13、定電圧源14、変調制御信号源15を有し、パルス光を出射する。光パルス発生器のレーザダイオード11、トランジスタ12、定電流源13、定電圧源14で閉ループを構成している。
変調制御信号源12が、トランジスタ12をオン/オフするための変調制御信号をトランジスタ12に出力する。そして、変調制御信号がローレベルからハイレベルに変化し、変調制御信号がハイレベルの間、トランジスタ12がオンされる。
レーザダイオードにバイアス電圧を印加する電圧源と前記レーザダイオードを直接変調してパルス光を出射させるためのスイッチング素子とを有する光パルス発生器において、
前記スイッチング素子のオン後のレーザダイオードの発光時の順方向電圧の過渡特性により充電を開始し前記レーザダイオードに順方向電流が流れ始めると放電を開始して順方向電流と同じ方向で前記レーザダイオードに電流を流す補助電流回路を設けたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、
補助電流回路は、前記レーザダイオードに並列に設けられたコンデンサであることを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、
パルス光を被測定光ファイバに出射し、前記パルス光に対する前記被測定光ファイバからの戻り光に基づいて前記被測定光ファイバの特性を測定する光パルス試験器において、
前記パルス光を発生させる請求項1または2記載の光パルス発生器を有することを特徴とするものである。
請求項1、2によれば、スイッチング素子がオンされレーザダイオードに電圧源の順バイアス電圧が印加されると、レーザダイオードの発光時の順方向電圧の過渡特性により、レーザダイオードに並列に設けられたコンデンサが充電を開始する。そして、レーザダイオードに順方向電流が流れ始めると、コンデンサが放電を開始して順方向電流と同じ方向でレーザダイオードに電流を流す。これにより、レーザダイオードに並列するコンデンサからの電流経路は、レーザダイオード、スイッチング素子、電圧源それぞれの間に存在するインダクタンスの影響をうけない。従って、立ち上がりエッジが急峻な電流をレーザダイオードに流すことができ、その結果、立ち上がりエッジが急峻なパルス光を出力できる。
また、請求項3によれば、請求項1または2に記載した光パルス発生器を用いてパルス光を生成して試験を行なうので、ダイナミックレンジ、距離分解能等が向上し、精度よく被測定光ファイバを試験できる。
図1は、本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図9と同一のものに同一符号を付し、説明を省略する。
図1において、光パルス発生器のLD11に並列にコンデンサC1〜C4が設けられる。図1では、4個のコンデンサC1〜C4をLD11に並列に設けているが、並列に設けるコンデンサの個数は何個でもよく、1個でも複数でもよい。
変調制御信号源15が、トランジスタ12をオン/オフするための変調制御信号をトランジスタ12に出力する。変調制御信号がローレベルでは、トランジスタ12がオフされているので、LD11は無バイアス状態(定電圧源14からバイアス電圧が印加されていない状態)である。そして、変調制御信号がローレベルからハイレベルに変化し、変調制御信号がハイレベルの間、トランジスタ12がオンされる。
図5〜図7を用いて説明する。
図5は、光パルス発生器の低電圧によるLD駆動を説明する図である。ここで、説明を簡単にするため、インダクタンスL1〜L4、定電流源13、変調制御信号源15の図示は省略している。また、定電圧源14の電圧をEとし、定電圧源14のマイナス側の電位を0[V]とする。そして、定電圧源14のマイナス側とトランジスタ12のエミッタ端子間の電圧をVrとし、エミッタ電流(トランジスタ12から定電圧源14への方向)をIrとしている。順方向電圧Vf、電流Ia、電流Idは、図3と同様である。
図8は、図1に示す光パルス発生器を用いたOTDRの構成を示した図である。図8において、被測定線路の被測定光ファイバF1は、光信号を伝送する線路であり、被測定対象の光ファイバである。
信号処理部50が、あらかじめ光パルス発生器10の変調制御信号源15にパルス光のパルス幅(つまり、トランジスタ12をオンする時間幅)を設定しておく。そして、信号処理部50内のタイミング発生手段(図示せず)が、所定の間隔でタイミング信号を変調御信号源15に送出する。そして、変調制御信号源15が、タイミング信号に同期させてトランジスタ12をオンさせLD11にパルス光を出力させる。そして、LD11からのパルス光が、方向性結合器20、測定コネクタCNを介して被測定光ファイバに入射する。
図1に示す光パルス発生器をOTDR100に用いる構成を示したが、パルス光を出射するどのような測定器に用いてもよい。
10 光パルス発生器
11 レーザダイオード
12 トランジスタ(スイッチング素子)
14 電圧源
20 方向性結合器
30 受光部
40 サンプリング部
50 信号処理部
60 表示部
100 光パルス試験器
Claims (3)
- レーザダイオードにバイアス電圧を印加する電圧源と前記レーザダイオードを直接変調してパルス光を出射させるためのスイッチング素子とを有する光パルス発生器において、
前記スイッチング素子のオン後のレーザダイオードの発光時の順方向電圧の過渡特性により充電を開始し前記レーザダイオードに順方向電流が流れ始めると放電を開始して順方向電流と同じ方向で前記レーザダイオードに電流を流す補助電流回路を設けたことを特徴とする光パルス発生器。 - 補助電流回路は、前記レーザダイオードに並列に設けられたコンデンサであることを特徴とする請求項1記載の光パルス発生器。
- パルス光を被測定光ファイバに出射し、前記パルス光に対する前記被測定光ファイバからの戻り光に基づいて前記被測定光ファイバの特性を測定する光パルス試験器において、
前記パルス光を発生させる請求項1または2記載の光パルス発生器を有することを特徴とする光パルス試験器。
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