JP2011038789A - Method and device for inspecting mouth part of glass bottle - Google Patents

Method and device for inspecting mouth part of glass bottle Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To detect a foam or a foreign matter at the peripheral wall of the mouth of a glass bottle with high precision even in the glass bottle having a screw or a longitudinal groove formed at the outer peripheral surface of the mouth thereof. <P>SOLUTION: Light projected on the outer peripheral surface of the mouth of the glass bottle which is rotated centering around its axial line from a lateral direction is scattered in the peripheral wall of the mouth, and on the basis of the quantity of the scattered light radiated from the top surface of the mouth, it is determined whether the foam or the foreign matter is present at the peripheral wall of the mouth of the glass bottle. If the foam or the foreign matter is present at the peripheral wall of the mouth, the projected light is scattered by the foam or the foreign matter, and since much scattered light is radiated from the top surface of the mouth of the glass bottle to arrive at a light detection means, a flaw of the foam or the foreign matter can be detected with high precision. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、ガラスびん口部の周壁内部に泡、異物があるかどうかを検査する方法および装置に関する。   The present invention relates to a method and an apparatus for inspecting whether there are bubbles or foreign matters inside a peripheral wall of a glass bottle opening.

この種の検査を行う検査方法、装置としては、下記特許文献1、2に開示されように、光をガラスびん口部天面又は外周面若しくは内周面に投光し、口部外周面から放射される蛍光又は反射光(透過光)を受光し、その受光量によって口部に欠陥があるかどうかを判定するものが一般的である。   As an inspection method and apparatus for performing this type of inspection, as disclosed in the following Patent Documents 1 and 2, light is projected onto the top surface of the glass bottle mouth or the outer peripheral surface or inner peripheral surface, and from the outer peripheral surface of the mouth. It is common to receive emitted fluorescent light or reflected light (transmitted light) and determine whether there is a defect in the mouth based on the amount of received light.

図9は、このような従来の検査装置の説明図である。
CCDカメラのような受光手段がガラスびん口部の外周面を狙って設置されている。
特許文献1に示されるように、光を口部天面に投光した場合、口部の周壁内部に欠陥がないと、受光手段が受光する蛍光の受光量は上部から下部に行くにしたがって滑らかに減少するものとなり、欠陥があると、受光量が上部から下部に行くにしたがって減少する過程で急激な変動が生じるので、欠陥を検出することができる。
特許文献2に示されるように、光をガラスびん口部の外周面から投光した場合、口部周壁内に泡や異物があると、反射光(又は透過光)において当該部分が明るくなり、欠陥を検出することができる。
FIG. 9 is an explanatory diagram of such a conventional inspection apparatus.
Light receiving means such as a CCD camera is installed aiming at the outer peripheral surface of the glass bottle opening.
As shown in Patent Document 1, when light is projected onto the top of the mouth, if there is no defect inside the peripheral wall of the mouth, the amount of fluorescence received by the light receiving means becomes smoother from the top to the bottom. If there is a defect, a sudden change occurs in the process of decreasing the amount of received light from the upper part to the lower part, so that the defect can be detected.
As shown in Patent Document 2, when light is projected from the outer peripheral surface of the glass bottle mouth portion, if there are bubbles or foreign matter in the peripheral wall of the mouth portion, the portion becomes brighter in reflected light (or transmitted light), Defects can be detected.

また、下記特許文献3にはガラスびん口部天面の欠陥を検出する方法および装置が開示されている。
これは、口部天面に投光し、その反射光を捉えて口部天面に欠陥があるかどうかを検査するものである。
Patent Document 3 below discloses a method and apparatus for detecting defects on the top surface of the glass bottle opening.
In this method, light is projected onto the top of the mouth, and the reflected light is captured to check whether the top of the mouth is defective.

特許第3505655号公報Japanese Patent No. 3505655 特開2008−107347号公報JP 2008-107347 A WO2008/129650号公報WO2008 / 129650

前記特許文献1,2の検査方法、装置は、ガラスびん口部の外周面が滑らかなものであれば、高精度の検出が可能であるが、外周面にねじが形成されていると、そのレンズ効果によって、外周面から放射される光が乱れるので、検出精度が極端に悪くなるという問題がある。
ねじの影響を相殺する高度な画像処理によって、ある程度対処することは可能であるが、例えば、ねじ山の中やその直ぐ内側に泡・異物などがある場合は、ほとんど検出できない。さらに、特開2000−142653に示されるように、口部外周面に縦溝を有し、ねじが縦溝で分断されているびん口部の、ねじと縦溝の影響を相殺する画像処理はほとんど不可能である。
The inspection methods and devices of Patent Documents 1 and 2 are capable of high-precision detection if the outer peripheral surface of the glass bottle mouth is smooth, but if the outer peripheral surface is screwed, Since the light radiated from the outer peripheral surface is disturbed by the lens effect, there is a problem that detection accuracy is extremely deteriorated.
It can be dealt with to some extent by advanced image processing that cancels the influence of screws, but for example, when there are bubbles or foreign substances in the screw thread or immediately inside it, it can hardly be detected. Furthermore, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-142653, image processing for canceling the influence of the screw and the vertical groove on the bottle mouth portion having the vertical groove on the outer peripheral surface of the mouth and the screw being divided by the vertical groove is as follows. Almost impossible.

前記特許文献3の検査方法、装置は、ガラスびん口部天面(表面)の欠陥を高精度で検出でき、さらにその欠陥の種類までも検出できるものであるが、口部周壁内部の泡・異物を検出することはできない。   The inspection method and apparatus of Patent Document 3 can detect defects on the top surface (surface) of the glass bottle mouth with high accuracy and can detect even the type of the defect. A foreign object cannot be detected.

本発明は、口部外周面にねじや縦溝があるガラスびんにおいても、口部周壁内の泡や異物を高精度で検出できるようにすることを課題とするものである。   An object of the present invention is to make it possible to detect bubbles and foreign matters in the peripheral wall of the mouth with high accuracy even in a glass bottle having a screw or a vertical groove on the outer peripheral surface of the mouth.

〔請求項1〕
本発明は、ガラスびん口部の周壁内部に泡、異物があるかどうかを検査する方法であって、軸線を中心に回転するガラスびん口部の外周面に横方向から投光した光が口部周壁内部で散乱し、口部天面から放射されるその散乱光の量に基づいて、ガラスびん口部の周壁内部に泡、異物があるかどうかを判定することを特徴とするガラスびん口部検査方法である。
[Claim 1]
The present invention is a method for inspecting whether there is a bubble or a foreign substance inside the peripheral wall of the glass bottle mouth portion, and the light projected from the lateral direction on the outer peripheral surface of the glass bottle mouth portion rotating around the axis is the mouth. Glass bottle mouth characterized by determining whether there are bubbles or foreign matter inside the peripheral wall of the glass bottle mouth based on the amount of scattered light scattered inside the wall and emitted from the top of the mouth It is a part inspection method.

図1に基づいて、本発明の原理を説明する。
びん口部外周面を狙って投光手段を設け、口部外周面に横方向から投光する。受光手段はびん口部天面を狙って設ける。口部周壁内部に泡又は異物がない場合、投光した光はびん口部を横方向に透過し、口部周壁内部で散乱する光は非常に僅かであるので、散乱光は受光手段にほとんど到達しない。
図1に示すように、口部周壁内部に泡又は異物があると、投光した光が泡又は異物で散乱し、多くの散乱光がびん口部天面から放射し、受光手段に到達するので、泡・異物の欠陥を検出することができる。
The principle of the present invention will be described with reference to FIG.
A light projecting means is provided aiming at the outer peripheral surface of the bottle mouth, and light is projected from the lateral direction on the outer peripheral surface of the mouth. The light receiving means is provided aiming at the top of the bottle opening. When there are no bubbles or foreign matter inside the mouth peripheral wall, the projected light is transmitted laterally through the bottle mouth and very little light is scattered inside the mouth peripheral wall. Not reach.
As shown in FIG. 1, when there is a bubble or a foreign substance inside the mouth peripheral wall, the projected light is scattered by the foam or the foreign substance, and a lot of scattered light is emitted from the top of the bottle mouth and reaches the light receiving means. Therefore, it is possible to detect defects of bubbles and foreign matters.

ガラスびん口部外周面にねじや縦溝がある場合、外周面から投光され周壁内部に進入する光はねじや縦溝の影響を受けるが、その光が内部の泡・異物に全く到達しないことはなく、必ず散乱光が生じる。さらに、内部の泡・異物が無いときの受光手段の受光量は非常に少ないので、口部外周面にねじや縦溝がある場合でも泡・異物による散乱光を確実に検出できる。   If there is a screw or vertical groove on the outer peripheral surface of the glass bottle mouth, the light that is emitted from the outer peripheral surface and enters the peripheral wall is affected by the screw or vertical groove, but the light does not reach the internal bubbles or foreign matter at all There will always be scattered light. Furthermore, the amount of light received by the light receiving means when there is no internal bubble / foreign matter is very small, so that scattered light caused by bubbles / foreign matter can be reliably detected even when there are screws or vertical grooves on the outer peripheral surface of the mouth.

〔請求項2〕
また本発明は、前記散乱光を、受光素子がガラスびんの半径方向に配列されたラインセンサカメラで受光し、その受光量に基づいて前記判定を行う請求項1に記載の検査方法である。
[Claim 2]
Moreover, this invention is an inspection method of Claim 1 which receives the said scattered light with the line sensor camera by which the light receiving element was arranged in the radial direction of the glass bottle, and performs the said determination based on the received light quantity.

ガラスびん口部天面から放射される散乱光の量を検出する手段として、具体的にはラインセンサカメラを用いることができる。
これにより、複雑な画像処理を行うことなく、ラインデータの簡単な処理で泡や異物の欠陥を高精度で検出できる。
Specifically, a line sensor camera can be used as means for detecting the amount of scattered light emitted from the top surface of the glass bottle opening.
Thereby, it is possible to detect defects of bubbles and foreign matters with high accuracy by simple processing of line data without performing complicated image processing.

〔請求項3〕
また本発明は、ガラスびん口部の天面内周縁に投光した光の反射光であるエッジ光と、前記散乱光を前記ラインセンサカメラで受光し、その各ラインデータにおいて、前記エッジ光を受光した素子アドレスに基づいて検査を行う検査領域を決定し、その検査領域における受光量に基づいて前記判定を行う請求項2に記載の検査方法である。
[Claim 3]
The present invention also receives edge light, which is reflected light of the light projected on the inner peripheral edge of the top surface of the glass bottle mouth portion, and the scattered light with the line sensor camera, and in each line data, the edge light is received. The inspection method according to claim 2, wherein an inspection area to be inspected is determined based on the received element address, and the determination is performed based on the amount of light received in the inspection area.

エッジ光はガラスびん口部内周縁で反射した光なので、エッジ光の位置がびん口部内周縁の位置となる。
したがって、エッジ光を受光した素子アドレスに基づいて検査を行う検査領域を決定し、その検査領域における受光量に基づいて判定を行うことで、例えば、ガラスびんの中心が回転軸とずれ、びんが回転によってブレるような場合でも、適正な検査領域で検査することができ、検査を精度よく行うことが可能となる。
Since edge light is light reflected at the inner peripheral edge of the glass bottle opening, the position of the edge light is the position of the inner peripheral edge of the bottle opening.
Therefore, by determining the inspection area to be inspected based on the element address that has received the edge light and making the determination based on the amount of light received in the inspection area, for example, the center of the glass bottle is shifted from the rotation axis, Even in the case of shaking due to rotation, the inspection can be performed in an appropriate inspection region, and the inspection can be performed with high accuracy.

〔請求項4〕
また本発明は、前記ラインセンサの各ラインのラインデータを口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、その受光量データがエッジ信号閾値(EL)を越える領域であって、該領域の幅がエッジ幅閾値(EW)より大きい領域をエッジ領域とし、該エッジ領域内の任意のアドレスに所定のオフセット値(OFS)を加えたアドレスを検査開始位置(GES)とし、該検査開始位置(GES)に所定の検査領域幅値(WID)を加えたアドレスを検査終了位置(GEE)とし、該検査開始位置(GES)から検査終了位置(GEE)までを前記検査領域とする請求項3に記載の検査方法である。
[Claim 4]
In the present invention, the line data of each line of the line sensor is searched from the inner side to the outer side of the mouth, and the received light amount data exceeds the edge signal threshold (EL), An area having a width larger than the edge width threshold (EW) is defined as an edge area, an address obtained by adding a predetermined offset value (OFS) to an arbitrary address in the edge area is defined as a test start position (GES), and the test start position ( 4. An address obtained by adding a predetermined inspection area width value (WID) to (GES) is set as an inspection end position (GEE), and an area from the inspection start position (GES) to the inspection end position (GEE) is set as the inspection area. It is the inspection method described.

検査領域は、具体的には上記のように定めることができる。
エッジ領域(エッジ光の位置)を検出するのにエッジ信号閾値(EL)とエッジ幅閾値(EW)の2つの閾値を設けたのは、周囲の環境によりエッジ信号閾値(EL)を超えるノイズが入った場合でも、これを排除してエッジ光の位置を確実に検出するためである。
検査開始位置(GES)を求めるためのエッジ領域内の任意のアドレスは、例えばエッジ領域の始端アドレス、終端アドレス、又は中心アドレス等とすることができる。これらの任意のアドレスに適宜のオフセット値(OFS)を加えたアドレスを検査開始位置(GES)とする。
検査終了位置(GEE)は、検査開始位置(GES)に所定の検査領域幅値(WID)を加えたアドレスとすればよい。
Specifically, the inspection area can be determined as described above.
The two threshold values of the edge signal threshold value (EL) and the edge width threshold value (EW) are provided to detect the edge region (edge light position) because noise exceeding the edge signal threshold value (EL) is caused by the surrounding environment. This is because even if it enters, the position of the edge light is reliably detected by eliminating this.
An arbitrary address in the edge area for obtaining the inspection start position (GES) can be, for example, a start address, an end address, or a center address of the edge area. An address obtained by adding an appropriate offset value (OFS) to these arbitrary addresses is set as a test start position (GES).
The inspection end position (GEE) may be an address obtained by adding a predetermined inspection area width value (WID) to the inspection start position (GES).

〔請求項5〕
また本発明は、前記ラインセンサカメラの各ラインのラインデータAと、そのラインよりも所定の差分間隔(FP)進んだラインのラインデータBを前記検査領域内において差分処理し、その差分データが所定の差分閾値(TH)より大きいデータの素子数を求め、この操作を前記ラインデータAから次々に所定の差分実施回数(VS)繰り返し、差分実施回数(VS)における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL)より大きい場合に、泡又は異物の欠陥ありとして判定する請求項3又は4に記載の検査方法である。
[Claim 5]
In the present invention, the line data A of each line of the line sensor camera and the line data B of a line advanced by a predetermined difference interval (FP) from the line are subjected to differential processing within the inspection area, and the differential data is obtained. The number of elements having data greater than a predetermined difference threshold (TH) is obtained, and this operation is repeated from the line data A one after another by a predetermined number of differential executions (VS), and the total number of elements in the number of differential executions (VS). The inspection method according to claim 3 or 4, wherein when the total difference element number is larger than a predetermined difference element number threshold value (PXL), it is determined that there is a defect of a bubble or a foreign object.

泡や異物の検出は、具体的には上記のようにして行うことができる。
本発明においては、単にラインごとの異常成分で判定するものではなく、設定された差分実施回数(VS)の複数のラインデータを総合して判定を行うので、例えば、非常に細かい泡や異物が広範囲に亘ってある場合など、従来検出が困難であった欠陥も精度よく検出することができる。
Specifically, the detection of bubbles and foreign substances can be performed as described above.
In the present invention, the determination is not based on the abnormal component for each line, but is performed by comprehensively determining a plurality of line data of the set number of executions of the difference (VS). Defects that have been difficult to detect in the past can be detected with high accuracy, for example, over a wide range.

〔請求項6〕
また本発明は、ガラスびん口部の周壁内部に泡、異物があるかどうかを検査する装置であって、ガラスびんをその軸線を中心に回転させる回転手段と、ガラスびん口部の外周面に横方向から投光する投光手段Aと、投光した光が口部周壁内部で散乱し、口部天面から放射される散乱光を受光する受光手段と、該受光手段の受光量に基づいてガラスびん口部の周壁内部に泡、異物があるかどうかを判定する泡・異物検出手段を有することを特徴とするガラスびん口部検査装置である。
[Claim 6]
Further, the present invention is an apparatus for inspecting whether there are bubbles or foreign matter inside the peripheral wall of the glass bottle mouth part, and a rotating means for rotating the glass bottle around its axis, and an outer peripheral surface of the glass bottle mouth part. Based on the light projecting means A for projecting from the lateral direction, the light receiving means for receiving the scattered light radiated from the top surface of the mouth, and the light received by the light receiving means. The glass bottle mouth portion inspection apparatus has a foam / foreign matter detecting means for judging whether or not there is a bubble or foreign matter inside the peripheral wall of the glass bottle mouth portion.

本発明は、請求項1の検査方法で検査を行う装置であるので、口部外周面にねじや縦溝がある場合でも泡・異物による散乱光を確実に検出できる。
回転手段はガラスびんをその軸線を中心に回転させることができるものであれば良く、特に制限はないが、例えば、既存の検査機の回転ステーションとすることができる。
投光手段は、例えば、面にLEDをマトリックス状に配置したものとすることができる。
受光手段は、ラインセンサカメラ、CCDカメラなどとすることができる。
泡・異物検出手段は、市販のパーソナルコンピュータに設定することができる。
Since the present invention is an apparatus that performs an inspection by the inspection method of claim 1, even when there are screws or vertical grooves on the outer peripheral surface of the mouth, it is possible to reliably detect light scattered by bubbles and foreign matters.
The rotating means is not particularly limited as long as it can rotate the glass bottle around its axis, and can be, for example, a rotating station of an existing inspection machine.
For example, the light projecting means may have LEDs arranged in a matrix on the surface.
The light receiving means may be a line sensor camera, a CCD camera, or the like.
The bubble / foreign substance detection means can be set in a commercially available personal computer.

〔請求項7〕
また本発明は、前記受光手段が、受光素子がガラスびんの半径方向に配列されたラインセンサカメラである請求項6に記載の検査装置である。
[Claim 7]
Further, the present invention is the inspection apparatus according to claim 6, wherein the light receiving means is a line sensor camera in which light receiving elements are arranged in a radial direction of the glass bottle.

本発明は、請求項2の検査方法で検査を行う装置であるので、複雑な画像処理を行うことなく、ラインデータの簡単な処理で泡や異物の欠陥を高精度で検出できる。   Since the present invention is an apparatus that performs inspection by the inspection method of claim 2, it is possible to detect defects of bubbles and foreign matters with high accuracy by simple processing of line data without performing complicated image processing.

〔請求項8〕
また本発明は、ガラスびん口部の天面内周縁に投光する投光手段Bと、その光の反射光であるエッジ光と、前記散乱光を受光した前記ラインセンサカメラの各ラインデータにおいて、前記エッジ光を受光した素子アドレスに基づいて検査を行う検査領域を決定する検査領域検出手段を有する請求項7に記載の検査装置である。
[Claim 8]
In the line data of the line sensor camera that receives the scattered light, the edge light that is the reflected light of the light projecting means B that projects light to the inner peripheral edge of the top surface of the glass bottle mouth portion. The inspection apparatus according to claim 7, further comprising inspection region detection means for determining an inspection region to be inspected based on an element address that receives the edge light.

本発明は、請求項3の検査方法で検査を行う装置であるので、びんが回転によってブレるような場合でも、適正な検査領域で検査することができ、検査を精度よく行うことが可能となる。
投光手段Bは、天面内側縁の曲面部分の狭い範囲に投光できるもの、例えばレーザ光源などが好ましい。
検査領域検出手段は、前記泡・異物検出手段を設けたパーソナルコンピュータ内に設定することができる。
Since the present invention is an apparatus for inspecting by the inspection method of claim 3, even when the bottle is shaken by rotation, it can be inspected in an appropriate inspection area, and the inspection can be performed accurately. Become.
The light projecting means B is preferably a device capable of projecting light within a narrow range of the curved portion of the inner edge of the top surface, such as a laser light source.
The inspection area detecting means can be set in a personal computer provided with the bubble / foreign substance detecting means.

〔請求項9〕
また本発明は、前記検査領域検出手段が、前記ラインセンサの各ラインのラインデータを口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、その受光量データがエッジ信号閾値(EL)を越える領域であって、該領域の幅がエッジ幅閾値(EW)より大きい領域をエッジ領域とし、該エッジ領域内の任意のアドレスに所定のオフセット値(OFS)を加えたアドレスを検査開始位置(GES)とし、該検査開始位置(GES)に所定の検査領域幅値(WID)を加えたアドレスを検査終了位置(GEE)とし、該検査開始位置(GES)から検査終了位置(GEE)までを前記検査領域とするものである請求項8に記載の検査装置である。
[Claim 9]
In the present invention, the inspection area detection unit searches the line data of each line of the line sensor from the inner side to the outer side of the mouth, and the received light amount data exceeds an edge signal threshold (EL). An area in which the width of the area is larger than an edge width threshold (EW) is defined as an edge area, and an address obtained by adding a predetermined offset value (OFS) to an arbitrary address in the edge area is set as a test start position (GES). An address obtained by adding a predetermined inspection area width value (WID) to the inspection start position (GES) is set as an inspection end position (GEE), and the inspection is performed from the inspection start position (GES) to the inspection end position (GEE). The inspection apparatus according to claim 8, which is a region.

本発明は、請求項4の検査方法で検査を行う装置であるので、適正な検査領域を確実に設定することができる。   Since this invention is an apparatus which inspects with the inspection method of Claim 4, an appropriate inspection area | region can be set reliably.

〔請求項10〕
また本発明は、前記泡・異物検出手段が、前記ラインセンサカメラの各ラインのラインデータAと、そのラインよりも所定の差分間隔(FP)進んだラインのラインデータBを前記検査領域内において差分処理し、その差分データが所定の差分閾値(TH)より大きいデータの素子数を求め、この操作を前記ラインデータAから次々に所定の差分実施回数(VS)繰り返し、差分実施回数(VS)における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL)より大きい場合に、泡又は異物の欠陥ありとして判定するものである請求項8又は9に記載の検査装置である。
[Claim 10]
Further, according to the present invention, the bubble / foreign matter detection means includes line data A of each line of the line sensor camera and line data B of a line advanced by a predetermined difference interval (FP) from the line within the inspection area. Difference processing is performed, the number of data elements whose difference data is greater than a predetermined difference threshold value (TH) is obtained, and this operation is repeated from the line data A one after another by a predetermined number of differential executions (VS), and the number of differential executions (VS). The inspection apparatus according to claim 8 or 9, wherein when the total difference element number, which is the sum of the element numbers in the above, is larger than a predetermined difference element number threshold value (PXL), it is determined that there is a bubble or foreign object defect. is there.

本発明は、請求項5の検査方法で検査を行う装置であるので、従来検出が困難であった微細な欠陥も精度よく検出することができる。   Since this invention is an apparatus which inspects with the inspection method of Claim 5, the fine defect which was difficult to detect conventionally can also be detected accurately.

本発明は、口部外周面にねじや縦溝があるガラスびんにおいても、口部周壁内の泡や異物を高精度で容易に検出できる。   The present invention can easily detect bubbles and foreign matters in the peripheral wall of the mouth even in a glass bottle having a screw or a vertical groove on the outer peripheral surface of the mouth.

本発明の原理の説明図である。It is explanatory drawing of the principle of this invention. 実施例の検査装置の概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing of the test | inspection apparatus of an Example. 同検査装置のフローチャートである。It is a flowchart of the inspection apparatus. 検査領域作成のフローチャートである。It is a flowchart of inspection area creation. 検査領域作成例の説明図である。It is explanatory drawing of the example of test | inspection area creation. 泡・異物検出のフローチャートである。It is a flowchart of a bubble and a foreign material detection. 差分間隔FP及び差分実施回数VSの説明図である。It is explanatory drawing of the difference space | interval FP and the difference implementation frequency VS. 差分処理の説明図である。It is explanatory drawing of a difference process. 従来の検査装置の説明図である。It is explanatory drawing of the conventional inspection apparatus.

図2は実施例の検査装置の概略説明図である。この検査装置は、ガラスびんの回転手段(図示せず)、ラインセンサカメラ、投光器A(投光手段A)、投光器B(投光手段B)、メモリ、検査領域検出手段、泡・異物検出手段を有する。
ガラスびん回転手段は従来の検査装置の回転ステーションを用いた。
ラインセンサカメラは、受光素子がガラスびんの半径方向に配列されるように、投光した光の散乱光、エッジ光を受光できる位置に配置される。
投光器Aは、びん口部外周面に投光するもので、複数のLEDをマトリックス状に配置したものを用いた。
投光器Bは、びん口部天面内周縁(天面内側縁の曲面部分)に投光するもので、レーザ光源を用いた。
メモリ、検査領域検出手段及び泡・異物検出手段はコンピュータ内に設定されている。
FIG. 2 is a schematic explanatory diagram of the inspection apparatus according to the embodiment. This inspection apparatus includes a glass bottle rotating means (not shown), a line sensor camera, a projector A (projecting means A), a projector B (projecting means B), a memory, an inspection area detecting means, and a bubble / foreign substance detecting means. Have
As the glass bottle rotating means, a rotating station of a conventional inspection apparatus was used.
The line sensor camera is arranged at a position where it can receive scattered light and edge light of the projected light so that the light receiving elements are arranged in the radial direction of the glass bottle.
The projector A projects light on the outer peripheral surface of the bottle opening, and a plurality of LEDs arranged in a matrix is used.
The projector B projects light on the inner peripheral edge of the top of the bottle opening (the curved surface portion of the inner edge of the top surface), and a laser light source was used.
The memory, the inspection area detecting means and the bubble / foreign substance detecting means are set in the computer.

回転するガラスびん口部に対して、投光器A及び投光器Bで光を投光する。
投光器Aは、びん口部外周面に横方向から投光する。投光角度は、必ずしも水平である必要はなく、例えば10°程度傾いていても良い。投光された光は口部周壁内に進入し、その内部で散乱した一部の散乱光が口部天面から放射してラインセンサカメラに至る。
投光器Bは、びん口部天面内周縁に投光する。投光された光は天面内周縁の曲面部分(縦断面におけるR状部分)で反射し、エッジ光としてラインセンサカメラに至る。
ラインセンサカメラで受光した各ラインデータはメモリに蓄積される。メモリから読み出されたラインデータは、検査領域検出手段で検査領域が作成されると共に、泡・異物検出手段で検査される。泡・異物検出手段で不良と判定された場合は、不良信号が出力される。不良信号はメモリに記録される他、警告装置の作動や不良びん排除装置の作動などに利用することができる。
Light is projected by the projector A and the projector B to the rotating glass bottle opening.
The projector A projects light from the lateral direction on the outer peripheral surface of the bottle opening. The light projection angle is not necessarily horizontal, and may be inclined by about 10 °, for example. The projected light enters the peripheral wall of the mouth, and a part of the scattered light scattered inside radiates from the top of the mouth and reaches the line sensor camera.
The projector B projects light to the inner peripheral edge of the top of the bottle opening. The projected light is reflected by the curved surface portion (R-shaped portion in the longitudinal section) of the inner peripheral edge of the top surface, and reaches the line sensor camera as edge light.
Each line data received by the line sensor camera is stored in a memory. The line data read from the memory is inspected by the bubble / foreign matter detection means while the inspection area is created by the inspection area detection means. If the bubble / foreign matter detection means determines that the failure is detected, a failure signal is output. In addition to being recorded in the memory, the failure signal can be used for the operation of a warning device or the operation of a defective bottle removing device.

図3により、本検査装置における処理の概要を説明する。
ステップ101……データ処理指令ONか?
という判定が先ず行われ、YESであると、
ステップ102……データ処理(不良を検出)する
へ進み、検査領域検出手段で検査領域が作成されると共に、泡・異物検出手段で検査が行われる。この後、
ステップ103……不良か?
という判定が行われ、YESであると
ステップ104……不良を記録する
へ進み、コンピュータのメモリに不良の情報が記録され、ステップ105へ進む。NOであると、そのままステップ105へ進む。
ステップ105……次のデータ処理指令
からはステップ101へ戻り、次のびんのラインデータについて上記の処理(ステップ101〜105)が繰り返される。
The outline of the processing in this inspection apparatus will be described with reference to FIG.
Step 101 ... Is the data processing command ON?
Is determined first, and if it is YES,
Step 102: Proceed to data processing (defect detection), an inspection area is created by the inspection area detection means, and an inspection is performed by the bubble / foreign matter detection means. After this,
Step 103 ... Is it defective?
If YES, step 104... Proceeds to step 104... Records defect and the defect information is recorded in the memory of the computer. If NO, the process proceeds to step 105 as it is.
Step 105: Returning to the step 101 from the next data processing command, the above processing (steps 101 to 105) is repeated for the next bottle line data.

〔検査領域作成〕
次に、図4,5に基づいて、ラインセンサの各ラインにおける検査領域の検出について説明する。図4は検査領域作成のフローチャート、図5は検査領域作成例の説明図である。
図4において、
ステップ201……エッジ信号閾値EL、エッジ幅閾値EWを設定する
によってエッジ信号閾値EL、エッジ幅閾値EWが設定される。これらの値は、検査するびんの種類により、予め定めておく。
ステップ202……オフセット値OFSを設定する
によってオフセット値OFSが設定される。オフセット値OFSは、エッジ領域(E1〜E2)の始端アドレス(E1)に加えて検査開始位置アドレスGESを決定するための素子数で、検査するびんの種類により、予め定めておく。
ステップ203……検査領域幅値WIDを設定する
によって検査領域幅値WIDが設定される。領域幅値WIDは、検査するびんの種類により、予め定めておく。
ステップ204……データのアドレスを設定する
によってデータを格納するメモリのアドレスが設定され、
ステップ205……メモリのアドレスセーブエリアをクリアする
という処理が行われる。この後、メモリより読み出される各アドレスのラインデータについて以下の処理が行われる。
(Inspection area creation)
Next, the detection of the inspection area in each line of the line sensor will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is a flowchart for creating an inspection area, and FIG.
In FIG.
Step 201: The edge signal threshold EL and the edge width threshold EW are set by setting the edge signal threshold EL and the edge width threshold EW. These values are determined in advance according to the type of bottle to be inspected.
Step 202... The offset value OFS is set by setting the offset value OFS. The offset value OFS is the number of elements for determining the inspection start position address GES in addition to the start end address (E1) of the edge regions (E1 to E2), and is determined in advance according to the type of bottle to be inspected.
Step 203... The inspection area width value WID is set by setting the inspection area width value WID. The area width value WID is determined in advance according to the type of bottle to be inspected.
Step 204 ... By setting the address of the data, the address of the memory for storing the data is set,
Step 205... Processing for clearing the memory address save area is performed. Thereafter, the following processing is performed on the line data of each address read from the memory.

ステップ206……ラインデータの左端アドレスからサーチする
によってラインデータを口部天面の内側方向から外側方向に向かってサーチし、
ステップ207……エッジ信号閾値EL及びエッジ幅閾値EWを超えるエッジ領域を探す
という処理が行われ、最初にエッジ信号閾値EL及びエッジ幅閾値EWを超える領域(E1〜E2)をエッジ領域とする。
ステップ208……オフセット値により検査開始位置アドレスGESを算出する
の処理で、エッジ領域(E1〜E2)の始端アドレスE1にオフセット値OFSを加えたアドレスが検査開始位置アドレスGESとして設定され、
ステップ209……検査領域幅値により検査終了位置アドレスGEEを算出し、そのラインデータの検査領域を作成する
によって、検査開始位置アドレスGESに検査領域幅値WIDを加えたアドレスが検査終了位置アドレスGEEとして設定され、検査開始位置アドレスGESから検査終了位置アドレスGEEまでの検査領域が作成される。
ステップ210……取り込んだデータ毎に検査領域を作成する(取り込み数N回)
という処理で、N番目のラインデータまで、メモリからラインデータを取り込み、そのラインデータ毎にステップ206〜209の処理を行う。取り込み数Nは予め設定しておくが、容器口部全周のライン数nよりも若干多い数で、好ましくはn+10からnの1.3倍程度である。
ステップ211……取り込んだラインデータ順にデータをセーブする
によって検査領域が作成されたラインデータを順番にメモリにセーブし、各ラインデータに基づいて泡・異物検出手段による泡・異物検査が行われる。
Step 206... The line data is searched from the inner side to the outer side of the mouth top by searching from the left end address of the line data.
Step 207: A process of searching for an edge region exceeding the edge signal threshold value EL and the edge width threshold value EW is performed. First, regions (E1 to E2) exceeding the edge signal threshold value EL and the edge width threshold value EW are defined as edge regions.
Step 208: In the process of calculating the inspection start position address GES from the offset value, an address obtained by adding the offset value OFS to the start end address E1 of the edge region (E1 to E2) is set as the inspection start position address GES.
Step 209 ... By calculating the inspection end position address GEE from the inspection area width value and creating the inspection area of the line data, the address obtained by adding the inspection area width value WID to the inspection start position address GES is the inspection end position address GEE. And an inspection area from the inspection start position address GES to the inspection end position address GEE is created.
Step 210 ... Create an inspection area for each imported data (number of acquisitions N times)
In this process, the line data is fetched from the memory up to the Nth line data, and the processes of steps 206 to 209 are performed for each line data. The number N of intakes is set in advance, but is slightly larger than the number n of lines on the entire circumference of the container mouth, and is preferably about 1.3 times n + 10 to n.
Step 211: The line data in which the inspection areas are created by saving the data in the order of the fetched line data is sequentially saved in the memory, and the bubble / foreign matter inspection is performed by the bubble / foreign matter detecting means based on each line data.

図5の上段のグラフは、横軸にラインセンサカメラの受光素子配列(素子のアドレス)、縦軸に各受光素子の受光量(出力電圧)を示している。下段は、素子配列に対応したびん口部形状を示している。
投光器Bから投光され口部天面内周縁で反射したエッジ光が検出されて、口部天面内周縁付近の受光量が多くなっている。この受光量の多い部分で、エッジ信号閾値EL及びエッジ幅閾値EWを超える領域(E1〜E2)がエッジ領域である。
エッジ領域(E1〜E2)の始端アドレスE1にオフセット値OFSを加えたアドレスが検査開始位置アドレスGESとなる。
検査開始位置アドレスGESに検査領域幅値WIDを加えたアドレスが検査終了位置アドレスGEEとなり、検査開始位置アドレスGESから検査終了位置アドレスGEEまでが検査領域となる。
この場合、検査領域に泡・異物がないので、受光素子の受光量は低い値となっている。
In the upper graph of FIG. 5, the horizontal axis indicates the light receiving element array (element address) of the line sensor camera, and the vertical axis indicates the light receiving amount (output voltage) of each light receiving element. The lower part shows the mouth portion shape corresponding to the element arrangement.
Edge light projected from the projector B and reflected at the inner periphery of the mouth top surface is detected, and the amount of light received near the inner periphery of the mouth top surface is increased. Regions (E1 to E2) exceeding the edge signal threshold value EL and the edge width threshold value EW in the portion where the amount of received light is large are edge regions.
The address obtained by adding the offset value OFS to the start end address E1 of the edge region (E1 to E2) is the inspection start position address GES.
The address obtained by adding the inspection area width value WID to the inspection start position address GES is the inspection end position address GEE, and the inspection area is from the inspection start position address GES to the inspection end position address GEE.
In this case, since there are no bubbles / foreign substances in the inspection region, the amount of light received by the light receiving element is a low value.

〔泡・異物検出〕
図6は泡・異物検出のフローチャートである。同図において、
ステップ301……差分フィルタFを設定する
で差分フィルタFが設定される。差分フィルタFは2つのラインデータを検査ゲート内において差分するものである。
ステップ302……差分間隔FPを設定する
で差分間隔FPが設定される。これにより、各ラインデータはそのFP個先のラインデータと差分処理を行うことになる。FPは、例えば3〜10とすることができる。
ステップ303……差分閾値THを設定する
で差分閾値THが設定される。差分閾値THは検査するびんの種類により、予め定めておく。
ステップ304……差分素子数閾値PXLを設定する
で差分素子数閾値PXLを設定する。差分素子数閾値PXLは検査するびんの種類により、予め定めておく。
ステップ305……差分実施回数VSを設定する
で差分実施回数VSが設定される。これにより、VS個の差分データが1セットとして取り扱われることになる。VSは、例えば2〜10とすることができる。
[Bubble / foreign substance detection]
FIG. 6 is a flowchart of bubble / foreign matter detection. In the figure,
Step 301... Setting the difference filter F sets the difference filter F. The difference filter F is a difference between the two line data in the inspection gate.
Step 302... Setting the difference interval FP sets the difference interval FP. As a result, each line data is subjected to differential processing with the line data ahead of the FP. The FP can be 3 to 10, for example.
Step 303... Setting the difference threshold TH sets the difference threshold TH. The difference threshold TH is determined in advance according to the type of bottle to be inspected.
Step 304... The difference element number threshold value PXL is set by setting the difference element number threshold value PXL. The difference element number threshold value PXL is determined in advance according to the type of bottle to be inspected.
Step 305... The difference execution count VS is set by setting the difference execution count VS. As a result, VS pieces of difference data are handled as one set. The VS can be set to 2 to 10, for example.

ステップ306……1番目のラインデータをロードし、取り込みデータAとする
ステップ307……取り込みデータAのラインデータからFP番目進んだラインデータをロードし、取り込みデータBとする
ステップ308……取り込みデータAと取り込みデータBを比較する
の処理の後、
ステップ309……Fを使用して取り込みデータAとFP進んだ取り込みデータBを差分する
によって、検査領域内における取り込みデータA、Bの電圧の差分データが作成される。
ステップ310……差分データがTHより大きいか?
という判定が行われ、YESの場合はステップ311に進み、NOの場合はステップ312に進む。YESの場合、
ステップ311……THより大きいデータの素子数を算出し、セーブする
という処理が行われた後、
ステップ312……次のラインデータをロードし、取り込みデータAとし、そのラインデータからFP進んだラインデータをロードし、取り込みデータBとする
の処理が行われる。ここでいう「次のラインデータ」とは、ステップ309における「取り込みデータA」の次のラインデータである。
ステップ313……取り込みデータAと取り込みデータBを比較する
の処理の後、
ステップ314……VS回比較したか?
の判定が行われる。これは、VS回の差分データから泡・異物欠陥の判定を行うためのものである。NOの場合はステップ309〜314が繰り返され、YESの場合は、
ステップ315……VS回分のTHより大きいデータの素子数をロードし、全てを加算し、差分総素子数としてセーブする
の処理を行う。これは、VS回分の各差分データにおいて、電圧が差分閾値THより大きい素子数をカウントし、VS回分を合計し、メモリにセーブする処理である。その後、
ステップ316……次のラインデータをロードし、取り込みデータAとする
という処理が行われる。ここでいう「次のラインデータ」とは、ステップ313における「取り込みデータA」の次のラインデータである。その後、
ステップ317……所定のラインデータをロードし、取り込みデータAとしたか?
の判定が行われる。ここで、所定のラインデータとは、容器口部全周の全てのラインデータについてステップ315の処理が行われるように、任意に定めればよく、例えば(N−VS)番目のラインデータとすることができる。ステップ317でNOの場合は、ステップ307〜ステップ317の処理が繰り返され、YESの場合は、
ステップ318……全ての差分総素子数をロードする
によって、ステップ315でセーブされた全ての差分総素子数をロードし、
ステップ319……全ての差分総素子数の中にPXLより大きいものがあるか?
の判定が行われる。全ての差分総素子数の中に差分素子数閾値PXLより大きいものが1つでもあれば、泡・異物欠陥ありと判定され、1つもなければ良品(泡・異物なし)と判定される。
Step 306 ... Load the first line data and set it as fetch data A Step 307 ... Load line data advanced FPth from the line data of fetch data A and set it as fetch data B Step 308 ... Capture data After the process of comparing A and captured data B,
Step 309... The difference data of the voltages of the captured data A and B in the inspection area is created by subtracting the captured data A and the captured data B advanced by FP using F.
Step 310 ... Is the difference data larger than TH?
If YES, the process proceeds to step 311. If NO, the process proceeds to step 312. If yes,
Step 311... After calculating the number of elements of data greater than TH and saving,
Step 312... The next line data is loaded and used as fetched data A, and the line data advanced by FP from the line data is loaded and fetched data B is processed. The “next line data” here is the next line data of the “capture data A” in step 309.
Step 313: After the process of comparing the captured data A and the captured data B,
Step 314 ... Have you compared VS times?
Is determined. This is for determining the bubble / foreign substance defect from the difference data of VS times. If NO, steps 309 to 314 are repeated, and if YES,
Step 315... Load the number of elements of data larger than TH for VS times, add all, and save as the total number of difference elements. This is a process of counting the number of elements whose voltage is greater than the difference threshold TH in each difference data for VS times, totaling the VS times, and saving it in the memory. afterwards,
Step 316... The next line data is loaded and processed as fetched data A. The “next line data” here is the next line data of the “capture data A” in step 313. afterwards,
Step 317 ... Did the predetermined line data be loaded and used as fetched data A?
Is determined. Here, the predetermined line data may be arbitrarily determined so that the process of step 315 is performed on all the line data of the entire circumference of the container mouth, for example, the (N-VS) -th line data. be able to. If NO in step 317, the processing from step 307 to step 317 is repeated. If YES,
Step 318... Load all the difference total elements saved in step 315 by loading all the difference total elements.
Step 319. Is any of the total number of differential elements larger than PXL?
Is determined. If there is at least one difference element number threshold PXL out of all the difference total elements, it is determined that there is a bubble / foreign object defect, and if there is not one, it is determined that the product is non-defective (no bubbles / foreign object).

図7は差分間隔FP及び差分実施回数VSの説明図である。同図は、差分間隔FP=3、差分実施回数VS=5の場合を例示している。取り込み1番目のラインデータと、差分間隔FP=3だけ進んだ取り込み4番目のラインデータを差分処理(I)する(ステップ309)。同様にして、取り込み2番目のラインデータと取り込み5番目のラインデータを差分処理(II)、取り込み3番目のラインデータと取り込み6番目のラインデータを差分処理(III)、取り込み4番目のラインデータと取り込み7番目のラインデータを差分処理(IV)、取り込み5番目のラインデータと取り込み8番目のラインデータを差分処理(V)する。差分実施回数VS=5であるので、差分処理(I)〜(V)迄の差分結果を1セットとして処理する。すなわち、各差分データを差分閾値THと比較し(ステップ310)、これよりも大きい素子数を求め(ステップ311)、差分処理(I)〜(V)の全てについて差分閾値THより大きい素子数を合計して差分総素子数を求め、セーブする(ステップ315)。
このように、取り込み1番目のラインデータから取り込み5番目のラインデータまでの差分処理結果を1セットとして判定を行う。
その後は、次の、取り込み6番目のラインデータから取り込み10番目のラインデータまでの差分処理結果を1セットとして判定を行う。
これらの処理を、所定のラインデータが取り込まれるまで行った後(ステップ317)、全ての差分総素子数と差分素子数閾値PXLを比較して判定を行う(ステップ319)。
FIG. 7 is an explanatory diagram of the difference interval FP and the difference execution count VS. This figure illustrates the case where the difference interval FP = 3 and the difference execution count VS = 5. Difference processing (I) is performed on the first line data acquired and the fourth line data acquired by the difference interval FP = 3 (step 309). Similarly, the second line data for acquisition and the fifth line data for acquisition are subjected to differential processing (II), the third line data for acquisition and the sixth line data for acquisition are subjected to differential processing (III), and the fourth line data for acquisition. Then, the seventh processing line data is subjected to difference processing (IV), and the fifth processing line data and the eighth processing line data are subjected to differential processing (V). Since the difference execution count VS = 5, the difference results from difference processing (I) to (V) are processed as one set. That is, each difference data is compared with the difference threshold value TH (step 310), the number of elements larger than this is obtained (step 311), and the number of elements greater than the difference threshold value TH for all of the difference processes (I) to (V). The total number of differential elements is obtained and saved (step 315).
As described above, the difference processing result from the first captured line data to the fifth captured line data is determined as one set.
After that, the next difference processing result from the sixth line data to the tenth line data is determined as one set.
After these processes are performed until predetermined line data is fetched (step 317), a determination is made by comparing all the difference total element numbers with the difference element number threshold value PXL (step 319).

図8は差分処理の説明図である。Aラインのラインデータが左上に示される。AラインからFP番目進んだBラインのラインデータが右上に示される。Bラインには泡・異物があるので、検査領域(WID間)の電圧が高くなっている。AラインとBラインのラインデータを差分処理した結果が右下に示される。差分処理は、検査ゲート内(WID間)において電圧を引き算することで行われる。この場合は、検査ゲート内(WID間)の一部の素子が差分閾値THより大きくなっているので、その素子数が算出される(ステップ311)。   FIG. 8 is an explanatory diagram of the difference processing. Line data for the A line is shown in the upper left. The line data of the B line that is FP-th advanced from the A line is shown in the upper right. Since there are bubbles and foreign matter on the B line, the voltage in the inspection area (between WIDs) is high. The result of differential processing of the line data of the A line and the B line is shown in the lower right. The difference process is performed by subtracting the voltage within the inspection gate (between WIDs). In this case, since some elements in the inspection gate (between WIDs) are larger than the difference threshold TH, the number of elements is calculated (step 311).

実施例の検査装置及び比較例の検査装置で、実際に製造したガラスびん約5万本の口部検査を行った。比較例の検査装置は、口部外周面に光を投光し、その外周面からの反射光を受光手段で受光する従来の検査装置である。
検査結果を表1に示す。
With the inspection device of the example and the inspection device of the comparative example, the mouth inspection of about 50,000 glass bottles actually manufactured was performed. The inspection apparatus of the comparative example is a conventional inspection apparatus that projects light onto the outer peripheral surface of the mouth and receives the reflected light from the outer peripheral surface with a light receiving means.
Table 1 shows the inspection results.

Figure 2011038789
Figure 2011038789

比較例による検査は実施例による検査と比較して、約35%の1mm以上の大きな欠陥のあるびんを見逃し、約73%もの1mm以下の欠陥のあるびんを見逃している。
これにより、本発明の効果が実証された。
Compared with the inspection according to the example, the inspection according to the comparative example misses about 35% of the bottle with a large defect of 1 mm or more, and misses about 73% of the bottle with a defect of 1 mm or less.
Thereby, the effect of the present invention was proved.

Claims (10)

ガラスびん口部の周壁内部に泡、異物があるかどうかを検査する方法であって、
軸線を中心に回転するガラスびん口部の外周面に横方向から投光した光が口部周壁内部で散乱し、口部天面から放射されるその散乱光の量に基づいて、ガラスびん口部の周壁内部に泡、異物があるかどうかを判定することを特徴とするガラスびん口部検査方法。
A method for inspecting whether there are bubbles or foreign substances inside the peripheral wall of the glass bottle mouth,
Based on the amount of the scattered light emitted from the lateral wall of the mouth, the light projected from the lateral direction on the outer peripheral surface of the glass bottle mouth that rotates about the axis line is radiated from the top surface of the mouth. A method for inspecting a glass bottle mouth, wherein it is determined whether or not there are bubbles or foreign matter inside the peripheral wall of the part.
前記散乱光を、受光素子がガラスびんの半径方向に配列されたラインセンサカメラで受光し、その受光量に基づいて前記判定を行う請求項1に記載の検査方法。   The inspection method according to claim 1, wherein the scattered light is received by a line sensor camera in which light receiving elements are arranged in a radial direction of the glass bottle, and the determination is performed based on the amount of received light. ガラスびん口部の天面内周縁に投光した光の反射光であるエッジ光と、前記散乱光を前記ラインセンサカメラで受光し、その各ラインデータにおいて、前記エッジ光を受光した素子アドレスに基づいて検査を行う検査領域を決定し、その検査領域における受光量に基づいて前記判定を行う請求項2に記載の検査方法。   The line sensor camera receives the edge light, which is the reflected light of the light projected on the inner peripheral edge of the top surface of the glass bottle mouth, and the element address that received the edge light in each line data. The inspection method according to claim 2, wherein an inspection area to be inspected is determined based on the received light amount in the inspection area. 前記ラインセンサの各ラインのラインデータを口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、その受光量データがエッジ信号閾値(EL)を越える領域であって、該領域の幅がエッジ幅閾値(EW)より大きい領域をエッジ領域とし、
該エッジ領域内の任意のアドレスに所定のオフセット値(OFS)を加えたアドレスを検査開始位置(GES)とし、
該検査開始位置(GES)に所定の検査領域幅値(WID)を加えたアドレスを検査終了位置(GEE)とし、該検査開始位置(GES)から検査終了位置(GEE)までを前記検査領域とする請求項3に記載の検査方法。
The line data of each line of the line sensor is searched from the inner side to the outer side of the mouth, and the received light amount data exceeds the edge signal threshold (EL), and the width of the area is the edge width threshold. An area larger than (EW) is defined as an edge area,
An address obtained by adding a predetermined offset value (OFS) to an arbitrary address in the edge region is set as a test start position (GES),
An address obtained by adding a predetermined inspection area width value (WID) to the inspection start position (GES) is set as an inspection end position (GEE), and the inspection area from the inspection start position (GES) to the inspection end position (GEE) is defined as the inspection area. The inspection method according to claim 3.
前記ラインセンサカメラの各ラインのラインデータAと、そのラインよりも所定の差分間隔(FP)進んだラインのラインデータBを前記検査領域内において差分処理し、その差分データが所定の差分閾値(TH)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記ラインデータAから次々に所定の差分実施回数(VS)繰り返し、
差分実施回数(VS)における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL)より大きい場合に、泡又は異物の欠陥ありとして判定する請求項3又は4に記載の検査方法。
The line data A of each line of the line sensor camera and the line data B of a line advanced by a predetermined difference interval (FP) from the line are subjected to differential processing within the inspection area, and the differential data is processed with a predetermined differential threshold value ( TH) Find the number of data elements larger than
This operation is repeated one after another from the line data A by a predetermined difference execution number (VS),
5. The method according to claim 3, wherein when a difference total number of elements, which is a sum of the number of elements in a difference execution count (VS), is larger than a predetermined difference element number threshold (PXL), it is determined that there is a bubble or a foreign object defect. Inspection method.
ガラスびん口部の周壁内部に泡、異物があるかどうかを検査する装置であって、
ガラスびんをその軸線を中心に回転させる回転手段と、
ガラスびん口部の外周面に横方向から投光する投光手段Aと、
投光した光が口部周壁内部で散乱し、口部天面から放射される散乱光を受光する受光手段と、
該受光手段の受光量に基づいてガラスびん口部の周壁内部に泡、異物があるかどうかを判定する泡・異物検出手段
を有することを特徴とするガラスびん口部検査装置。
A device for inspecting whether there are bubbles or foreign objects inside the peripheral wall of the glass bottle mouth,
A rotating means for rotating the glass bottle around its axis;
Projecting means A for projecting from the lateral direction on the outer peripheral surface of the glass bottle mouth,
Light receiving means for receiving the scattered light radiated from the top surface of the mouth, where the projected light is scattered inside the peripheral wall of the mouth,
An apparatus for inspecting a glass bottle mouth, comprising: a foam / foreign material detecting means for determining whether or not there is a bubble or a foreign substance inside the peripheral wall of the glass bottle mouth based on the amount of light received by the light receiving means.
前記受光手段が、受光素子がガラスびんの半径方向に配列されたラインセンサカメラである請求項6に記載の検査装置。   The inspection apparatus according to claim 6, wherein the light receiving means is a line sensor camera in which light receiving elements are arranged in a radial direction of the glass bottle. ガラスびん口部の天面内周縁に投光する投光手段Bと、
その光の反射光であるエッジ光と、前記散乱光を受光した前記ラインセンサカメラの各ラインデータにおいて、前記エッジ光を受光した素子アドレスに基づいて検査を行う検査領域を決定する検査領域検出手段を有する請求項7に記載の検査装置。
A light projecting means B for projecting the inner peripheral edge of the top of the glass bottle mouth;
Inspection area detection means for determining an inspection area to be inspected based on an element address that has received the edge light in each line data of the line sensor camera that has received the scattered light and edge light that is reflected light of the light The inspection apparatus according to claim 7.
前記検査領域検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインのラインデータを口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、その受光量データがエッジ信号閾値(EL)を越える領域であって、該領域の幅がエッジ幅閾値(EW)より大きい領域をエッジ領域とし、
該エッジ領域内の任意のアドレスに所定のオフセット値(OFS)を加えたアドレスを検査開始位置(GES)とし、
該検査開始位置(GES)に所定の検査領域幅値(WID)を加えたアドレスを検査終了位置(GEE)とし、該検査開始位置(GES)から検査終了位置(GEE)までを前記検査領域とするものである請求項8に記載の検査装置。
The inspection area detecting means is
The line data of each line of the line sensor is searched from the inner side to the outer side of the mouth, and the received light amount data exceeds the edge signal threshold (EL), and the width of the area is the edge width threshold. An area larger than (EW) is defined as an edge area,
An address obtained by adding a predetermined offset value (OFS) to an arbitrary address in the edge region is set as a test start position (GES),
An address obtained by adding a predetermined inspection area width value (WID) to the inspection start position (GES) is set as an inspection end position (GEE), and the inspection area from the inspection start position (GES) to the inspection end position (GEE) is defined as the inspection area. The inspection apparatus according to claim 8.
前記泡・異物検出手段が、
前記ラインセンサカメラの各ラインのラインデータAと、そのラインよりも所定の差分間隔(FP)進んだラインのラインデータBを前記検査領域内において差分処理し、その差分データが所定の差分閾値(TH)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記ラインデータAから次々に所定の差分実施回数(VS)繰り返し、
差分実施回数(VS)における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL)より大きい場合に、泡又は異物の欠陥ありとして判定するものである請求項8又は9に記載の検査装置。
The bubble / foreign matter detecting means is
The line data A of each line of the line sensor camera and the line data B of a line advanced by a predetermined difference interval (FP) from the line are subjected to differential processing within the inspection area, and the differential data is processed with a predetermined differential threshold value ( TH) Find the number of data elements larger than
This operation is repeated one after another from the line data A by a predetermined difference execution number (VS),
10 or 9, when a difference total element number, which is the sum of the number of elements in the difference execution number (VS), is larger than a predetermined difference element number threshold (PXL), it is determined that there is a bubble or a foreign object defect. The inspection device described in 1.
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