JP4667457B2

JP4667457B2 - Container mouth defect inspection method and apparatus

Info

Publication number: JP4667457B2
Application number: JP2007520604A
Authority: JP
Inventors: 崇原田
Original assignee: Toyo Glass Co Ltd
Current assignee: Toyo Glass Co Ltd
Priority date: 2007-04-13
Filing date: 2007-04-13
Publication date: 2011-04-13
Anticipated expiration: 2027-04-13
Also published as: CN101646935A; CN101646935B; KR20100004994A; KR101108490B1; WO2008129650A1; JPWO2008129650A1

Description

【技術分野】
【０００１】
本発明は、ガラスびんなどの容器の口部天面の欠陥の有無を検査する容器口部検査方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の検査を行う検査方法、装置として、本出願人は下記特許文献１、２に開示されるものを既に提案している。
特許文献１は、びん口部天面に投光した反射光を１個の光電素子で受光し、その出力信号を増幅度調整可能な増幅器で、最新の所定数のびんのデータの平均値に基づいて、その値が所定値となるように上記増幅器の増幅度を調整するものである。検査中のびんについて、口部天面全周にわたり上記増幅器の出力信号を比較演算し、その異常成分が所定値を越えたとき欠陥信号を出力する。
個々のびんの天面の反射率の違いや投光器の経年劣化に影響されずに安定した検査ができるという特徴を有する。
【０００３】
特許文献２は、びん口部天面に投光した反射光をラインセンサ（イメージセンサ）で受光し、仮想天咬出しの頂角が規定値以下で、ディップ幅Ｄ（天咬出し部分の溝幅）が規定値以上となったときに天咬出し欠陥ありと判定し、不良信号を出力するものである。
これにより、今まで自動検査が困難であった天咬出しを高精度で自動的に検査できるようになった。
【特許文献１】
特公平３−７２６０号公報
【特許文献２】
特公平５−４０８４６号公報
【０００４】
上記特許文献１は、天咬出しの検出ができないばかりでなく、１個の光電素子を用いる検査であるために、検査精度に限界があった。すわなち、小さな天筋、天泡などを検出するのが困難で、閾値を下げてこれに対応しようとすれば、種々のノイズで良品を不良品と判定する誤判が増加するという問題があった。
【０００５】
上記特許文献２は、天咬出しの欠陥のみしか検出することができず、天筋、天泡、天出不良、天咬出しの全ての欠陥を検査するためには、特許文献１の検査装置を併用しなければならなかった。
【０００６】
本発明は、検査を行うべき検査ゲートを的確に作成することによって、天面の天筋・天泡検査を精度よく行えるようにするとともに、天筋、天泡、天出不良、天咬出しの全ての欠陥を１台の検査装置で検査することを可能にすることを目的としてなされたものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
〔請求項１〕
本願発明は、回転する容器口部の検査位置に投光し、該検査位置において反射光を口部の幅方向に向けたラインセンサで受光して容器口部の欠陥を検査する検査方法において、
前記ラインセンサの各ラインのラインデータを前記口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、
そのデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有し、
該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より大きい場合、最初にエッジ信号閾値（ＥＬ）に達したアドレス（検査ゲートエッジアドレスＧＥ）に所定のオフセット値（ＯＦＳ）を加えたアドレスを検査ゲート開始位置アドレス（ＧＥＳ）とし、
前記領域の幅が前記エッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、前記領域の次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域がある場合、その第２の領域の最初にエッジ信号閾値（ＥＬ）に達したアドレス（検査ゲートエッジアドレスＧＥ）に所定のオフセット値（ＯＦＳ）を加えたアドレスを検査ゲート開始位置アドレス（ＧＥＳ）とし、
前記検査ゲート開始位置アドレス（ＧＥＳ）から任意の手段で求めた検査ゲート終了位置（ＧＥＥ）までを、検査を行う範囲である検査ゲートとし、
該検査ゲートにおいて天筋又は天泡検査を行うことを特徴とする容器口部欠陥検査方法である。
【０００８】
天筋とは、表面の細い凹溝状の傷で、正常部分よりも反射光が暗くなる。天泡とは、表面の浅い内部に泡が存在する欠陥で、泡のレンズ効果により正常部分よりも反射光が明るくなる。
【０００９】
本願の請求項１の発明はエッジ信号閾値（ＥＬ）に達したアドレス（検査ゲートエッジアドレスＧＥ）から所定のオフセット値（ＯＦＳ）を加えた位置を検査ゲート開始位置アドレス（ＧＥＳ）とするので、例えば、容器の中心が回転軸とずれ、容器が回転によってブレるような場合でも、天面（及び口部側面）の天筋・天泡検査を行うべき範囲（検査ゲート）の開始位置を正確に設定することができるので、種々のノイズに影響されずに、天面の天筋・天泡検査を精度よく行うことが可能となる。また、最初にエッジ信号閾値（ＥＬ）に達した領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、前記領域の次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域がある場合、その第２の領域の最初にエッジ信号閾値（ＥＬ）に達したアドレス（検査ゲートエッジアドレスＧＥ）から所定のオフセット値（ＯＦＳ）を加えた位置を検査ゲート開始位置アドレス（ＧＥＳ）とするので、口部の内側に天咬出しなどがあった場合でも、天面の天筋・天泡検査を行うべき範囲（検査ゲート）の開始位置を的確に設定することができ、天面の天筋・天泡検査を精度よく行うことが可能となる。
【００１０】
エッジ信号閾値（ＥＬ）、オフセット値（ＯＦＳ）は、口部の断面形状及び大きさ、ラインセンサの仕様等を考慮して適宜定める。
【００１１】
〔請求項２〕
また本発明は、前記請求項１の検査方法において、前記検査ゲートの終了位置アドレス（ＧＥＥ）を求める手段が、前記検査ゲート開始位置アドレス（ＧＥＳ）に所定の検査ゲート幅値（ＷＩＤ）を加えるものであることを特徴とする容器口部欠陥検査方法である。
【００１２】
検査ゲート開始位置アドレス（ＧＥＳ）に所定の検査ゲート幅値（ＷＩＤ）を加えて検査ゲートの終了位置アドレス（ＧＥＥ）とすることで、天面（及び天側面）の天筋・天泡検査を行うべき範囲（検査ゲート）の終了位置を正確に設定することができる。ゲート幅（ＷＩＤ）は、天筋・天泡検査を行うべき口部天面、天側面の幅を考慮して適宜定める。
検査ゲートの終了位置アドレス（ＧＥＥ）を求める他の方法としては、例えば、電圧の閾値を定め、その閾値を下回る位置を検査ゲートの終了位置アドレスとする方法などがあるが、所定のゲート幅（ＷＩＤ）を加える方法の方が、天筋・天泡検査を行うべき範囲を検査ゲートとして正確に設定することができ、又全てのラインにおいて検査ゲートの幅が同じになるので、好適である。
【００１３】
〔請求項３〕
また本発明は、回転する容器口部の検査位置に投光し、該検査位置において反射光を口部の幅方向に向けたラインセンサで受光して容器口部の天筋又は天泡検査を行う検査方法であって、
前記ラインセンサの各ラインのラインデータＡと、そのラインよりも所定の差分間隔（ＦＰ）進んだラインのラインデータＢを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の差分閾値（ＴＨ）より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記ラインデータＡから次々に所定の差分実施回数（ＶＳ）繰り返し、
差分実施回数（ＶＳ）における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値（ＰＸＬ）より大きい場合に、天筋又は天泡の欠陥ありとして判定する容器口部欠陥検査方法であって、
前記差分処理される２つのラインデータの双方が、所定の天筋・天泡判定値（ＴＡＬ）よりも大きいデータを有しない場合を天筋と判定し、前記２つのラインデータの少なくとも一方に前記天筋・天泡判定値（ＴＡＬ）よりも大きいデータを有する場合を天泡と判定することを特徴とする容器口部欠陥検査方法である。
【００１４】
本発明においては、単にラインごとの異常成分で判定するものではなく、設定された差分実施回数（ＶＳ）の複数のラインデータを総合して判定を行うので、例えば、軽度の欠陥が広範囲に亘ってある場合や、細い傷がラインと直角方向（口部円周方向）にある場合など、従来検出が困難であった欠陥も精度よく検出することができる。
【００１５】
差分データのみからの判定では、欠陥が天筋であるか天泡であるかを判定することはできないが、このようにすることで、その欠陥が天筋であるか天泡であるかを判定することができる。
【００１６】
〔請求項４〕
また本発明は、前記請求項２の検査方法において、前記天筋又は天泡検査が前記請求項３に記載の検査方法によって行われることを特徴とする容器口部欠陥検査方法である。
請求項２に記載の方法により検査ゲートを設定し、請求項３に記載の検査方法によって天筋又は天泡検査を行うことで、高精度で天筋又は天泡の欠陥を検出することができる。
【００１７】
〔請求項５〕
また本発明は、前記請求項１〜４のいずれかの検査方法において、前記ラインセンサの各ラインのラインデータを前記口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、
そのデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有しない場合、
及びそのデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域がない場合
及びそのデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域を有し、その第２の領域の幅が天出不良検出幅ＴＷより小さい場合に天出不良検査を行うことを特徴とする容器口部欠陥検査方法である。
【００１８】
天出不良とは、口部天面の内端又は外端、又は天面の幅全体が波状になっている欠陥である。
【００１９】
〔請求項６〕
また本発明は、前記請求項５の検査方法において、前記天出不良検査が、
ラインデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有しない場合、
及びラインデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域がない場合
及びラインデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域を有し、その第２の領域の幅が天出不良検出幅ＴＷより小さい場合に、
そのラインを検出ラインとしてカウントし、
所定の回数（Ｎ回）ラインデータを取り込んだ後のカウントされた前記検出ラインの数の合計が所定の天出不良閾値（ＴＷＬ）よりも多い場合に天出不良と判定するものであることを特徴とする容器口部欠陥検査方法である。
【００２０】
天出不良は、口部天面の全幅が波打っている場合、全幅の反射光が暗くなり、口部天面の内側又は外側が波打っている場合は、内側又は外側の反射光が暗くなる。この性質を利用して、上記の方法で精度よく天出不良を検出することができる。
【００２１】
〔請求項７〕
また本発明は、前記請求項１〜６のいずれかの検査方法において、前記ラインセンサの各ラインのラインデータを前記口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、
そのデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第１の領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、
次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域がある場合に天咬出し検査を行うことを特徴とする容器口部欠陥検査方法である。
【００２２】
天咬出しとは、容器口部内端に溝を挟んで上方に突出する突条が形成される欠陥である。
【００２３】
〔請求項８〕
また本発明は、前記請求項７の検査方法において、前記天咬出し検査が、
前記第１の領域が最初に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）に達するアドレス１と前記第２の領域が最初に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）に達するアドレス２との差（Ｄ）が、所定の天咬出し位置（ＴＰ）よりも大きい場合に、
そのラインを検出ラインとしてカウントし、
所定の回数（Ｎ回）ラインデータを取り込んだ後のカウントされた前記検出ラインの合計数が所定の天咬出し閾値（ＴＫＬ）よりも多い場合に天咬出し不良と判定するものであることを特徴とする容器口部欠陥検査方法である。
【００２４】
天咬出しは、前記第１の領域と第２の領域の間隔が広いほど大きな欠陥となる。したがって、第１の領域が最初に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越えるアドレス１と第２の領域が最初に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越えるアドレス２との差（Ｄ）に天咬出し閾値（ＴＫＬ）を設けることで、精度よく天咬出しの欠陥を検出することができる。
【００２５】
〔請求項９〕
また本発明は、
容器口部に投光する投光器と、
容器口部からの反射光を受ける口部の幅方向に向けたラインセンサと、
容器口部が順次全周に亘って投光されるように容器を回転駆動する駆動装置と、
前記ラインセンサからの信号を受けて検査ゲートを検出する検査ゲート検出手段と、
前記検査ゲート検出手段で検出した検査ゲートにおいて天筋・天泡の欠陥を検出する天筋検出手段及び天泡検出手段を有し、
前記検査ゲートが、
前記ラインセンサの各ラインのラインデータを前記口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、
そのデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より大きい場合、最初にエッジ信号閾値（ＥＬ）に達したアドレス（検査ゲートエッジアドレスＧＥ）に所定のオフセット値（ＯＦＳ）を加えたアドレスを検査ゲート開始位置アドレス（ＧＥＳ）とし、
前記領域の幅が前記エッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、前記領域の次に前記エッジ信号閾値ＥＬを越える第２の領域がある場合、その第２の領域の最初にエッジ信号閾値（ＥＬ）に達したアドレス（検査ゲートエッジアドレスＧＥ）から所定のオフセット値（ＯＦＳ）を加えたアドレスを検査ゲート開始位置アドレス（ＧＥＳ）とし、
前記検査ゲート開始位置アドレス（ＧＥＳ）から任意の手段で求めた検査ゲート終了位置（ＧＥＥ）までを、天筋・天泡の欠陥を検査する範囲である検査ゲートとすることを特徴とする容器口部欠陥検査装置である。
【００２６】
本発明装置は、請求項１の検査方法で検査を行うので、天筋・天泡検査を行うべき範囲（検査ゲート）の開始位置を正確に設定することができ、天筋・天泡検査を精度よく行うことが可能となる。
【００２７】
〔請求項１０〕
また本発明は、前記請求項９の検査装置において、前記検査ゲートの終了位置アドレス（ＧＥＥ）を求める手段が、前記検査ゲート開始位置アドレス（ＧＥＳ）に所定の検査ゲート幅値（ＷＩＤ）を加えるものであることを特徴とする容器口部欠陥検査装置である。
【００２８】
本発明装置は、請求項２の検査方法で検査を行うので、天筋・天泡検査を行うべき範囲（検査ゲート）の開始位置及び終了位置を正確に設定することができ、天筋・天泡検査を精度よく行うことが可能となる。
【００２９】
〔請求項１１〕
また本発明は、前記請求項９又は１０の検査装置において、
前記天筋検出手段又は天泡検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインのラインデータＡと、そのラインよりも所定の差分間隔（ＦＰ）進んだラインのラインデータＢを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の差分閾値（ＴＨ）より大きいデータの素子数を求め、
この処理を前記ラインデータＡから次々に所定の差分実施回数（ＶＳ）繰り返し、
差分実施回数（ＶＳ）における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値（ＰＸＬ）より大きい場合に、天筋又は天泡の欠陥ありとして判定することを特徴とする容器口部欠陥検査装置である。
本発明装置は、例えば、軽度の欠陥が広範囲に亘ってある場合や、細い傷がラインと直角方向（口部円周方向）にある場合など、従来検出が困難であった欠陥も検出することができる。
【００３０】
〔請求項１２〕
また本発明は、請求項１１の検査装置において、
前記差分処理される２つのラインデータの双方が、所定の天筋・天泡判定値（ＴＡＬ）よりも大きいデータを有しない場合を天筋の欠陥と判定し、前記２つのラインデータの少なくとも一方に前記天筋・天泡判定値（ＴＡＬ）よりも大きいデータを有する場合を天泡の欠陥と判定することを特徴とする容器口部欠陥検査装置である。
【００３１】
本発明装置は、請求項３の方法で天筋又は天泡の検出を行うので、その欠陥が天筋であるか天泡であるかを容易に区別して判定することができる。
【００３２】
〔請求項１３〕
また本発明は、前記請求項９〜１２のいずれかの検査装置において、前記検査ゲート検出手段からの信号を受けて天出不良を検出する天出不良検出手段を有することを特徴とする容器口部欠陥検査装置である。
天出不良検出手段を設けることで、天出不良の欠陥を検出することも可能となる。
【００３３】
〔請求項１４〕
また本発明は、前記請求項１３の検査装置において、
前記検査ゲート検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインのラインデータを前記口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、
そのデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有しない場合、
及びそのデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域がない場合
及びそのデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域を有し、その第２の領域の幅が天出不良検出幅ＴＷより小さい場合に天出不良検出手段に信号を送り、天出不良検査を行うことを特徴とする容器口部欠陥検査装置である。
【００３４】
〔請求項１５〕
また本発明は、前記請求項１４の検査装置において、
前記天出不良検出手段が、
ラインデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有しない場合、
及びラインデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域がない場合
及びラインデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域を有し、その第２の領域の幅が天出不良検出幅ＴＷより小さい場合に、
そのラインを検出ラインとしてカウントし、
所定の回数（Ｎ回）ラインデータを取り込んだ後のカウントされた前記検出ラインの数が所定の天出不良閾値（ＴＷＬ）よりも多い場合に天出不良と判定するものであることを特徴とする容器口部欠陥検査装置である。
【００３５】
本発明装置は、請求項６に記載の方法で天出不良を検査するので、天出不良の欠陥を高精度に検出することができる。
【００３６】
〔請求項１６〕
また本発明は、前記請求項９〜１５のいずれかの検査装置において、前記検査ゲート検出手段からの信号を受けて天咬出しを検出する天咬出し検出手段を有することを特徴とする容器口部欠陥検査装置である。
天咬出し検出手段を設けることで、天咬出しの欠陥を検出することも可能となる。
【００３７】
〔請求項１７〕
また本発明は、前記請求項１６の検査装置において、
前記検査ゲート検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインのラインデータを前記口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、
そのデータがエッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第１の領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値（ＥＷ）より小さく、
次に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）を越える第２の領域がある場合に天咬出し検出手段に信号を送り、天咬出し検査を行うことを特徴とする容器口部欠陥検査装置である。
【００３８】
〔請求項１８〕
また本発明は、前記請求項１７の検査装置において、
前記天咬出し検出手段が、
前記第１の領域が最初に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）に達するアドレス１と前記第２の領域が最初に前記エッジ信号閾値（ＥＬ）に達するアドレス２との差（Ｄ）が、所定の天咬出し位置（ＴＰ）よりも大きい場合に、
そのラインを検出ラインとしてカウントし、
所定の回数（Ｎ回）ラインデータを取り込んだ後のカウントされた前記検出ラインの数が所定の天咬出し閾値（ＴＫＬ）よりも多い場合に天咬出し不良と判定するものであることを特徴とする容器口部欠陥検査装置である。
【００３９】
本発明装置は、請求項８に記載の方法で天咬出しを検査するので、天咬出しの欠陥を高精度に検出することができる。
【００４０】
〔請求項１９〕
また本発明は、前記請求項９〜１８のいずれかの検査装置において、
前記投光器が、容器口部の天面に投光する投光系と、容器口部天面から続く外側面に投光する投光系の２系統を有するものであり、
前記ラインセンサが、容器口部の真上より外側方向から、容器口部天面及び口部外側面からの反射光を受光するように設けられていることを特徴とする容器口部欠陥検査装置である。
【００４１】
このように構成することで、容器口部天面だけでなく、口部外側面の欠陥も同時に検査することが可能となる。
【発明の効果】
【００４２】
本発明の検査方法及び検査装置は、例えば、容器の中心が回転軸とずれ、容器が回転によってブレるような場合や、口部の内側に天咬出しなどがあった場合でも、天面の天筋・天泡検査を行うべき範囲（検査ゲート）を的確に作成することができ、天面の天筋・天泡検査を精度よく行うことが可能となる。
さらに、天筋・天泡の検出を、単に１ラインごとの異常成分で判定するものではなく、差分実施回数（ＶＳ）の複数のラインデータを総合して判定を行うので、例えば、軽度の欠陥が広範囲に亘ってある場合や、細い傷がラインと直角方向（口部円周方向）にある場合など、従来検出が困難であった欠陥も精度よく検出することができる。
【００４３】
さらに本発明装置は、天筋、天泡、天咬出し、天出不良の全ての欠陥を１台の装置で精度よく検出することができる。また、投光器を、容器口部の天面に投光する投光系と、容器口部の外側面に投光する投光系の２系統にすると、容器口部天面だけでなく、口部外側面の欠陥も同時に検査することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】実施例の容器口部検査装置１のブロック図である。
【図２】容器口部検査装置１のフローチャートである。
【図３】投光器２の正面図である。
【図４】投光器２の側面図である。
【図５】投光器２の照射範囲の説明図である。
【図６】検査ゲート作成のフローチャートである。
【図７】検査ゲート作成例の説明図である。
【図８】検査ゲート作成例の説明図である。
【図９】天筋検出のフローチャートである。
【図１０】差分間隔ＦＰ及び差分実施回数ＶＳ_１の説明図である。
【図１１】差分処理の説明図である。
【図１２】天泡検出のフローチャートである。
【図１３】差分処理の説明図である。
【図１４】天出不良検出のフローチャートである。
【図１５】天出不良検出の説明図である。
【図１６】天咬出し検出のフローチャートである。
【図１７】天咬出し検出の説明図である。
【図１８】検査ステーションの平面図である。
【符号の説明】
【００４５】
１容器口部検査装置
２投光器
２１白色ＬＥＤ
２２高透過率拡散板
２３フレネルレンズ
２４照射範囲
２５白色ＬＥＤ
２６高透過率拡散板
２７フレネルレンズ
２８照射範囲
３ラインセンサ
３１素子配列
４メモリ
５検査ゲート検出手段
６天筋検出手段
７天泡検出手段
８天出不良検出手段
９天咬出し検出手段
１０検査台
１１容器
１２検査ステーション
１３コンベア
１４搬入バイパス
１５フィードウォーム
１６スターホイール
１７搬出バイパス
【実施例】
【００４６】
図１は実施例の容器口部検査装置１のブロック図、図２は容器口部検査装置１のフローチャート、図３は投光器２の正面図、図４は投光器２の側面図、図５は投光器２の照射範囲の説明図である。図１に示すように、容器口部検査装置１は投光器２、ラインセンサ３、メモリ４、検査ゲート検出手段５、天筋検出手段６、天泡検出手段７、天出不良検出手段８、天咬出し検出手段９、及び容器を回転駆動する駆動装置（図示せず）などからなる。検査ゲート検出手段５は、さらに天面検出手段５ａと検査ゲート幅判定手段５ｂからなる。メモリ４、検査ゲート検出手段５、天筋検出手段６、天泡検出手段７、天出不良検出手段８、及び天咬出し検出手段９はコンピュータ内に設定することができる。駆動装置は、従来周知のこの種の検査装置と同じものを使用できる。
【００４７】
投光器２からの光は容器（ガラスびんなど）１１の口部天面及び口部外側面で反射し、その反射光をラインセンサ３で受光する。ラインセンサ３で受光した各ラインデータはメモリ４に蓄積される。メモリ４から読み出されたラインデータは、検査ゲート検出手段５で検査ゲートが作成されると共に、天筋検出手段６及び天泡検出手段７、天出不良検出手段８、天咬出し検出手段９のどの検出手段で検査されるべきか分別される。その分別結果に基づき、ラインデータは天筋検出手段６、天泡検出手段７、天出不良検出手段８、又は天咬出し検出手段９で検査される。各検出手段で不良と判定された場合は、不良信号が出力される。不良信号はメモリに記録される他、警告装置の作動や不良容器排除装置の作動などに利用することができる。
【００４８】
図２により、容器口部検査装置１における処理の概要を説明する。
ステップ１０１……データ処理指令ＯＮか？
という判定が先ず行われ、ＹＥＳであると、
ステップ１０２……データ処理（不良を検出）する
へ進み、検査ゲート検出手段５で検査ゲートが作成されると共に、天筋検出手段６、天泡検出手段７、天出不良検出手段８、又は天咬出し検出手段９で検査が行われる。この後、
ステップ１０３……不良か？
という判定が行われ、ＹＥＳであると
ステップ１０４……不良を記録する
へ進み、コンピュータのメモリに不良の情報が記録され、ステップ１０５へ進む。ＮＯであると、そのままステップ１０５へ進む。
ステップ１０５……次のデータ処理指令
からはステップ１０１へ戻り、次のラインデータについて上記の処理（ステップ１０１〜１０５）が繰り返される。
【００４９】
容器１１は、図４に示すように、駆動装置（図示せず）によって回転する検査台１０の上に載置され検査される。投光器２は、図３、４に示すように、２系統の投光系を有する。第１の投光系は白色ＬＥＤ２１、高透過率拡散板２２、フレネルレンズ２３からなる。第１の投光系は、θ_１が約４０°の収束光を主に容器口部天面１１ａに向けて照射する。第２の投光系は、白色ＬＥＤ２５、高透過率拡散板２６、フレネルレンズ２７からなる。第２の投光系は、θ_２が約３０°の収束光を主に容器口部外側面１１ｂに向けて照射する。第１の投光系の口部天面の平面における照射範囲２４及び第２の投光系の口部天面の平面における照射範囲２８は、概ね図５に示すようになる。照射範囲２４、２８の直径は約１２ｍｍで、照射範囲２８の中心は照射範囲２４の中心よりも約６ｍｍ外側に離れている。
【００５０】
（検査ゲート作成）
次に、図６〜８に基づいて、ラインセンサの各ラインにおける検査ゲートの検出について説明する。図６は検査ゲート作成のフローチャート、図７、８は検査ゲート作成例の説明図である。
図６において、
ステップ２０１……エッジ信号閾値ＥＬ、エッジ幅閾値ＥＷを設定する
によってエッジ信号閾値ＥＬ、エッジ幅閾値ＥＷが設定される。これらの値は、検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ２０２……オフセット値ＯＦＳを設定する
によってオフセット値ＯＦＳが設定される。オフセット値ＯＦＳは、最初にエッジ信号閾値（ＥＬ）に達したアドレス（検査ゲートエッジアドレスＧＥ）に加えて検査ゲート開始位置アドレスＧＥＳを決定するための素子数で、検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ２０３……検査ゲート幅値ＷＩＤを設定する
によって検査ゲート幅値ＷＩＤが設定される。ゲート幅値ＷＩＤは、検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ２０４……天出不良幅ＴＷを設定する
によって天出不良幅ＴＷが設定される。天出不良幅ＴＷは、天出不良検査を行うかどうかを決めるための素子数で、検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ２０５……データのアドレスを設定する
によってデータを格納するメモリのアドレスが設定され、
ステップ２０６……メモリのアドレスセーブエリアをクリアする
という処理が行われる。この後、メモリより読み出される各アドレスのラインデータについて以下の処理が行われる。
【００５１】
ステップ２０７……ラインデータの左端アドレスからサーチする
によってラインデータを口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、
ステップ２０８……データがエッジ信号閾値ＥＬを超えるものはあるか？
という判定が行われ、ＮＯである場合は、そのラインデータについて天出不良検出手段による天出不良検査が行われ、ＹＥＳの場合は、
ステップ２０９……データがエッジ幅閾値ＥＷより大きいか？
という判定が行われる。ＮＯの場合は
ステップ２１０……次アドレスをサーチしてエッジ信号閾値ＥＬより大きいデータはあるか？
の判定が行われ、ＮＯの場合は天出不良検出手段による天出不良検査が行われ、ＹＥＳの場合は、
ステップ２１１……ＥＬ（エッジ信号閾値）より大きいデータの幅がＴＷ（天出不良幅）より大きいか？
の判定が行われ、ＮＯの場合は天出不良検出手段による天出不良検査が行われ、ＹＥＳの場合は、天咬出し検出手段による天咬出し検査が行われるとともに、次のステップ２１２に進む。上記のステップ２０１〜２１１の処理が図１の天面検出手段５ａで、後記のステップ２１２〜２１６が検査ゲート幅判定手段５ｂである。
ステップ２１２……検査ゲートエッジアドレスＧＥが算出される
という処理が行われる。エッジ信号閾値ＥＬより大きい領域が１つの場合は、最初にＥＬに達したアドレスが検査ゲートエッジアドレスＧＥとなり、２つある場合は第２の領域において最初にＥＬに達したアドレスがＧＥとなる。
ステップ２１３……オフセット値により検査ゲート開始位置アドレスＧＥＳを算出する
の処理で、検査ゲートエッジアドレスＧＥにオフセット値ＯＦＳを加えたアドレスが検査ゲート開始位置アドレスＧＥＳとして設定され、
ステップ２１４……検査ゲート幅値により検査ゲート終了位置アドレスＧＥＥを算出され、検査ゲートが作成される
によって、検査ゲート開始位置アドレスＧＥＳに検査ゲート幅値ＷＩＤを加えたアドレスが終了位置アドレスＧＥＥとして設定され、検査ゲート開始位置アドレスＧＥＳから検査ゲート終了位置アドレスＧＥＥまでの検査ゲートが作成される。
ステップ２１５……取り込んだデータ毎に検査ゲートを作成する（取り込み数Ｎ回）
という処理で、Ｎ番目のラインデータまで、メモリからラインデータを取り込み、そのラインデータ毎にステップ２０７〜２１４の処理を行う。取り込み数Ｎは予め設定しておくが、容器口部全周のライン数ｎよりも若干多い数で、好ましくはｎ＋１０からｎの１．３倍程度である。
ステップ２１６……取り込んだラインデータ順にデータをセーブする
によって検査ゲートが作成されたラインデータを順番にメモリにセーブし、各ラインデータについて天筋検出手段及び天泡検出手段による天筋、天泡検査が行われる。
【００５２】
図７はエッジ信号閾値ＥＬを超える領域が２つある場合の検査ゲート作成の説明図で、第１の領域Ｔ_１の幅がエッジ幅閾値ＥＷより小さく（ステップ２０９）、第２の領域Ｔ_２の幅が天出不良幅ＴＷよりも大きい（ステップ２１１）ので、第２の領域が最初にエッジ信号閾値ＥＬに達した検査ゲートエッジアドレスＧＥにオフセット値ＯＦＳを加えたアドレスが検査ゲート開始位置アドレスＧＥＳとなり、さらに検査ゲート幅値ＷＩＤを加えたアドレスが検査ゲート終了位置アドレスＧＥＥとなる。図７において、符号αは天筋、βは天泡、γは天出不良、δは天咬出しを示している。
【００５３】
図８はエッジ信号閾値ＥＬを超える領域が１つの場合の検査ゲート作成の説明図で、エッジ信号閾値ＥＬを超える領域の幅がエッジ幅閾値ＥＷより大きいので（ステップ２０９）、その領域が最初にエッジ信号閾値ＥＬに達した検査ゲートエッジアドレスＧＥにオフセット値ＯＦＳを加えたアドレスが検査ゲート開始位置アドレスＧＥＳとなり、さらに検査ゲート幅値ＷＩＤを加えたアドレスが検査ゲート終了位置アドレスＧＥＥとなる。
【００５４】
（天筋検出）
図９は天筋検出のフローチャートである。同図において、
ステップ３０１……差分フィルタＦを設定する
で差分フィルタＦが設定される。差分フィルタＦは２つのラインデータを検査ゲート内において差分するものである。
ステップ３０２……差分間隔ＦＰを設定する
で差分間隔ＦＰが設定される。これにより、各ラインデータはそのＦＰ個先のラインデータと差分処理を行うことになる。ＦＰは、例えば３〜１０とすることができる。
ステップ３０３……天筋差分閾値ＴＨ_１を設定する
で天筋差分閾値ＴＨ_１が設定される。天筋差分閾値ＴＨ_１は検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ３０４……差分素子数閾値ＰＸＬ_１を設定する
で差分素子数閾値ＰＸＬ_１を設定する。差分素子数閾値ＰＸＬ_１は検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ３０５……差分実施回数ＶＳ_１を設定する
で差分実施回数ＶＳ_１が設定される。これにより、ＶＳ_１個の差分データが１セットとして取り扱われることになる。ＶＳ_１は、例えば２〜１０とすることができる。
ステップ３０６……天筋・天泡判定値ＴＡＬを設定する
で天筋・天泡判定値ＴＡＬが設定される。天筋・天泡判定値ＴＡＬは検査する容器の種類により、予め定めておく。
【００５５】
ステップ３０７……１番目のラインデータをロードし、取り込みデータＡとする
ステップ３０８……取り込みデータＡのラインデータからＦＰ番目進んだラインデータをロードし、取り込みデータＢとする
ステップ３０９……取り込みデータＡと取り込みデータＢを比較する
の処理の後、
ステップ３１０……比較データがＴＡＬより小さいか？
という判定が行われる。これは、取り込みデータＡと取り込みデータＢに天筋・天泡判定値ＴＡＬよりも大きい部分が有るか無いかを調べ、取り込みデータＡ、Ｂ共にＴＡＬよりも大きい部分がない場合（図１１）をＹＥＳ、少なくとも一方にＴＡＬよりも大きい部分がある場合（図１３）をＮＯと判定する。ＹＥＳの場合は、ステップ３１１に進み、ＮＯの場合はステップ３１４に進む。
ステップ３１１……Ｆを使用して取り込みデータＡとＦＰ進んだ取り込みデータＢを差分する
によって、検査ゲート内における取り込みデータＡ、Ｂの電圧の差分データが作成される。
ステップ３１２……差分データがＴＨ_１より大きいか？
という判定が行われ、ＹＥＳの場合はステップ３１３に進み、ＮＯの場合はステップ３１４に進む。ＹＥＳの場合、
ステップ３１３……ＴＨ_１より大きいデータの素子数を算出し、セーブする
という処理が行われた後、
ステップ３１４……次のラインデータをロードし、取り込みデータＡとし、そのラインデータからＦＰ進んだラインデータをロードし、取り込みデータＢとする
の処理が行われる。ここでいう「次のラインデータ」とは、ステップ３１１における「取り込みデータＡ」の次のラインデータである。
ステップ３１５……取り込みデータＡと取り込みデータＢを比較する
の処理の後、
ステップ３１６……ＶＳ_１回比較したか？
の判定が行われる。これは、ＶＳ_１回の差分データから天筋欠陥の判定を行うためのものである。ＮＯの場合はステップ３１０〜３１６が繰り返され、ＹＥＳの場合は、
ステップ３１７……ＶＳ_１回分のＴＨ_１より大きいデータの素子数をロードし、全てを加算し、差分総素子数としてセーブする
の処理を行う。これは、ＶＳ_１回分の各差分データにおいて、電圧が天筋差分閾値ＴＨ_１より大きい素子数をカウントし、ＶＳ_１回分を合計し、メモリにセーブする処理である。その後、
ステップ３１８……次のラインデータをロードし、取り込みデータＡとする
という処理が行われる。ここでいう「次のラインデータ」とは、ステップ３１５における「取り込みデータＡ」の次のラインデータである。その後、
ステップ３１９……所定のラインデータをロードし、取り込みデータＡとしたか？
の判定が行われる。ここで、所定のラインデータとは、容器口部全周の全てのラインデータについてステップ３１７の処理が行われるように、任意に定めればよく、例えば｛Ｎ−（ＶＳ_１＋ＦＰ）＋２｝番目のラインデータとすることができる。ステップ３１９でＮＯの場合は、ステップ３０８〜ステップ３１９の処理が繰り返され、ＹＥＳの場合は、
ステップ３２０……全ての差分総素子数をロードする
によって、ステップ３１７でセーブされた全ての差分総素子数をロードし、
ステップ３２１……全ての差分総素子数の中にＰＸＬ_１より大きいものがあるか？
の判定が行われる。全ての差分総素子数の中に差分素子数閾値ＰＸＬ_１より大きいものが１つでもあれば、天筋欠陥ありと判定され、１つもなければ良品（天筋なし）と判定される。
【００５６】
図１０は差分間隔ＦＰ及び差分実施回数ＶＳ_１の説明図である。同図は、差分間隔ＦＰ＝３、差分実施回数ＶＳ_１＝５の場合を例示している。取り込み１番目のラインデータと、差分間隔ＦＰ＝３だけ進んだ取り込み４番目のラインデータを差分処理（I）する（ステップ３１１）。同様にして、取り込み２番目のラインデータと取り込み５番目のラインデータを差分処理（II）、取り込み３番目のラインデータと取り込み６番目のラインデータを差分処理（III）、取り込み４番目のラインデータと取り込み７番目のラインデータを差分処理（IV）、取り込み５番目のラインデータと取り込み８番目のラインデータを差分処理（V）する。差分実施回数ＶＳ_１＝５であるので、差分処理（I）〜（V）迄の差分結果を１セットとして処理する。すなわち、各差分データを天筋差分閾値ＴＨ_１と比較し（ステップ３１２）、これよりも大きい素子数を求め（ステップ３１３）、差分処理（I）〜（V）の全てについて天筋差分閾値ＴＨ_１より大きい素子数を合計して差分総素子数を求め（ステップ３１７）、差分素子数閾値ＰＸＬ_１と比較して天筋の判定を行う（ステップ３２１）。このように、取り込み１番目のラインデータから取り込み５番目のラインデータまでの差分処理結果を１セットとして天筋の判定を行う。その後は、次の、取り込み６番目のラインデータから取り込み１０番目のラインデータまでの差分処理結果を１セットとして天筋の判定を行う。
【００５７】
図１１は差分処理の説明図である。Ａラインのラインデータが左上に示される。ＡラインからＦＰ番目進んだＢラインのラインデータが右上に示される。Ｂラインには天筋αがあるので、検査ゲート（ＷＩＤ間）の電圧が低くなっている。また、ＡラインとＢラインの双方のラインデータが天筋・天泡判定値ＴＡＬよりも小さい電圧となっている。ＡラインとＢラインのラインデータを差分処理した結果が右下に示される。差分処理は、検査ゲート内（ＷＩＤ間）において電圧を引き算することで行われる。この場合は、検査ゲート内（ＷＩＤ間）の全ての素子において、天筋差分閾値ＴＨ_１より大きくなっているので、ＷＩＤ間の全ての素子の数が算出される（ステップ３１３）。
【００５８】
（天泡検出）
図１２は天泡検出のフローチャートである。天泡検出は、天筋検出とほとんど同じ処理で行われる。同図において、ステップ４０１〜４２１は、天筋検出のステップ３０１〜３２１に対応する。また、ステップ４０３〜４０５の天泡差分閾値ＴＨ_２、差分素子数閾値ＰＸＬ_２、差分実施回数ＶＳ_２は、天筋検出のステップ３０３〜３０５の天筋差分閾値ＴＨ_１、差分素子数閾値ＰＸＬ_１、差分実施回数ＶＳ_１に対応し、この対応関係にある数値は同じ値としてもよいし、違う値を設定してもよい。
天泡検出が天筋検出と実質的に異なるのは、
ステップ４１０……比較データがＴＡＬより大きいか？
という判定で、天筋検出の場合の「比較データがＴＡＬより小さいか？」と逆になっている点のみである。
【００５９】
図１３は差分処理の説明図である。Ａラインのラインデータが左上に示される。ＡラインからＦＰ番目進んだＢラインのラインデータが右上に示される。Ｂラインには天泡βがあるので、検査ゲート（ＷＩＤ間）の電圧が高くなっている。このように、Ａ又はＢのラインデータの少なくとも一方に天筋・天泡判定値ＴＡＬよりも大きい電圧の部分があるときは、天泡検出が行われ、そうでない場合は天筋検出が行われる。ＡラインとＢラインのラインデータを差分処理した結果が右下に示される。差分処理は、検査ゲート内（ＷＩＤ間）において電圧を引き算することで行われる。この場合は、検査ゲート内（ＷＩＤ間）の一部の素子において、天泡差分閾値ＴＨ_２より大きくなっているので、その大きい素子の数が算出される（ステップ４１３）。
【００６０】
（天出不良検出）
図１４は天出不良検出のフローチャートである。同図において、
ステップ５０１……天出不良閾値ＴＷＬを設定する
の処理の後、
ステップ５０２……ラインデータの左端アドレスからサーチする
によってラインデータを口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、
ステップ５０３……データがエッジ信号閾値ＥＬを超えるものはあるか？
という判定が行われ、ＹＥＳの場合はステップ５０４に、ＮＯの場合はステップ５０７に進む。
ステップ５０４……データがエッジ幅閾値ＥＷより大きいか？
という判定が行われ、ＮＯの場合は、このＥＷを超える領域がノイズ又は天咬出しであるのでステップ５０５に進み、ＹＥＳの場合はステップ５０６に進む。
ステップ５０５……次アドレスをサーチしてエッジ信号閾値ＥＬより大きいデータはあるか？
の判定が行われ、ＹＥＳの場合はステップ５０６に進み、ＮＯの場合はステップ５０７に進む。
ステップ５０６……データを超えた素子数がＴＷより少ないか？
で、エッジ信号閾値ＥＬより大きい部分の素子数が天出不良幅ＴＷ（ステップ２０４参照）より大きいかどうかが判定され、ＹＥＳであればステップ５０７に、ＮＯであればステップ５０８に進む。
ステップ５０７……検出ライン数をカウントし、セーブする
の処理が行われる。検出ライン数としてカウントされるのは、
（１）ステップ５０３でＮＯと判定された場合、
（２）ステップ５０５でＮＯと判定された場合、
（３）ステップ５０６でＹＥＳと判定された場合
である。すなわち、
（１）ラインデータがエッジ信号閾値ＥＬを越える領域を有しない場合、
（２）ラインデータがエッジ信号閾値ＥＬを越える領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値ＥＷより小さく、次に前記エッジ信号閾値ＥＬを越える第２の領域がない場合
（３）ラインデータがエッジ信号閾値ＥＬを越える領域を有し該領域の幅がエッジ幅閾値ＥＷより小さく、次に前記エッジ信号閾値ＥＬを越える第２の領域を有し、その第２の領域の幅が天出不良検出幅ＴＷより小さい場合
である。
ステップ５０８……Ｎ番目のラインデータを処理したか？
の判定により、ＮＯであれば
ステップ５０９……次のラインデータを処理する
によって、５０２〜５０８の処理をＮ番目のラインデータが処理されるまで繰り返し、ステップ５０８がＹＥＳであれば、
ステップ５１０……Ｎ回目迄の検出ライン数のカウントをロードする
により、１番目のラインデータからＮ番目のラインデータ迄で、ステップ５０７で検出ラインとされたライン数の合計がロードされ、
ステップ５１１……Ｎ回目迄にカウントされた検出ライン数がＴＷＬより多いか？
の判定により、ステップ５１０の検出ラインの合計が天出不良閾値ＴＷＬより多い場合に天出不良、少ない場合に良品（天出不良なし）と判定される。
【００６１】
図１５は天出不良検出の説明図である。
同図において、左側に示す「天出不良１ラインデータ」は、ステップ５０３「データがエッジ信号閾値ＥＬを超えるものはあるか？」が「ＹＥＳ」、ステップ５０４「データがエッジ幅閾値ＥＷより大きいか？」が「ＮＯ」、ステップ５０５「次アドレスをサーチしてエッジ信号閾値ＥＬより大きいデータはあるか？」が「ＮＯ」で、ステップ５０７により検出ラインとしてカウントされる場合である。
同図において、右側に示す「天出不良２ラインデータ」は、ステップ５０３「データがエッジ信号閾値ＥＬを超えるものはあるか？」が「ＹＥＳ」、ステップ５０４「データがエッジ幅閾値ＥＷより大きいか？」が「ＮＯ」、ステップ５０５「次アドレスをサーチしてエッジ信号閾値ＥＬより大きいデータはあるか？」が「ＹＥＳ」、ステップ５０６「データを超えた素子数が天出不良検出幅ＴＷより小さいか？」が「ＹＥＳ」で、ステップ５０７により検出ラインとしてカウントされる場合である。
その他、ステップ５０３「データがエッジ信号閾値ＥＬを超えるものはあるか？」が「ＮＯ」の場合も、ステップ５０７により検出ラインとしてカウントされる。
【００６２】
（天咬出し検出）
図１６は天咬出し検出のフローチャートである。同図において、
ステップ６０１……天咬出し位置ＴＰを設定する
ステップ６０２……天咬出し閾値ＴＫＬを設定する
の処理の後、
ステップ６０３……ラインデータの左端アドレスからサーチする
によってラインデータを口部の内側方向から外側方向に向かってサーチし、
ステップ６０４……エッジ信号閾値ＥＬより大きい部分をサーチする
の後、
ステップ６０５……その幅がエッジ幅閾値ＥＷより小さいか？
によって、エッジ信号閾値ＥＬより大きい部分の幅がエッジ幅閾値ＥＷより小さいかを判定し、ＹＥＳの場合はステップ６０６に、ＮＯの場合はステップ６１２に進む。
ステップ６０６……エッジ幅閾値ＥＷより小さいデータのアドレス１をセーブする
によって、エッジ信号閾値ＥＬを越える領域が最初に前記エッジ信号閾値ＥＬに達するアドレス１をセーブする。
ステップ６０７……次アドレスをサーチしてエッジ信号閾値ＥＬより大きいデータがあるか？
によって、エッジ信号閾値ＥＬを越える第２の領域があるかどうかを判定し、ＹＥＳの場合はステップ６０８に、ＮＯの場合はステップ６１２に進む。
ステップ６０８……ＥＬより大きいデータのアドレス２をセーブする
によってエッジ信号閾値ＥＬを越える第２の領域が最初に前記エッジ信号閾値ＥＬに達するアドレス２をセーブする。
ステップ６０９……アドレス１とアドレス２をロードする
の後、
ステップ６１０……アドレス１とアドレス２間の素子数がＴＰより大きいか？
によって、アドレス１とアドレス２の差Ｄが天咬出し位置ＴＰよりも大きいかどうかが判定され、ＹＥＳの場合は、
ステップ６１１……検出ライン数をカウントし、セーブする
の処理の後にステップ６１２に進み、ＮＯの場合は直接ステップ６１２に進む。
ステップ６１２……Ｎ番目のラインデータを処理したか？
が判定され、ＮＯであれば、
ステップ６１３……次のラインデータを処理する
によって、６０３〜６１２の処理をＮ番目のラインデータが処理されるまで繰り返し、ステップ６１２がＹＥＳであれば、
ステップ６１４……Ｎ回目迄の検出ライン数のカウントをロードする
により、１番目のラインデータからＮ番目のラインデータ迄で、ステップ６１１で検出ラインとされたライン数の合計がロードされ、
ステップ６１５……Ｎ回目迄にカウントされた検出ライン数がＴＫＬより多いか？
の判定により、ステップ６１４の検出ラインの合計が天咬出し閾値ＴＫＬより多い場合に天咬出し不良、少ない場合に良品（天咬出しなし）と判定される。
【００６３】
図１７は天咬出し検出の説明図である。
同図において、ラインデータは、エッジ信号閾値ＥＬを越える第１の領域Ｔ_１（ステップ６０４）と、第２の領域Ｔ_２（ステップ６０７）を有する。第１の領域Ｔ_１の幅はエッジ幅閾値ＥＷより小さい（ステップ６０５）。第１の領域Ｔ_１が初めてエッジ信号閾値ＥＬに達するアドレス１と、第２の領域Ｔ_２が初めてエッジ信号閾値ＥＬに達するアドレス２の差Ｄが、天咬出し閾値ＴＫＬよりも大きいので、このラインデータは、ステップ６１１により、検出ラインとしてカウントされる。
【産業上の利用可能性】
【００６４】
本発明の検査装置は、例えば図１８に示す検査ステーション７に取り付けて使用される。同図において、コンベア１３によって送られてきた容器１１は、搬入バイパス１４に導かれ、ここにおいてフィードウォーム１５によって一定の間隔に整列された後検査ステーション１２へ送り込まれる。送り込まれた容器１１は、間欠回転するスターホイール１６に嵌合捕捉され、これによって検査ポジションＡ、検査ポジションＢ、検査ポジションＣの順に間欠的に回送され、型番認識や所定の検査が行われる。このような検査を受けた結果、良品とされた容器は搬出バイパス１７に導入され、さらにコンベア１３に導入されて他所へ搬送される。一方、不良品とされた容器は排除ポジションＤまで回送されて排除される。このような検査ステーションはガラスびんなどのガラス製品の検査に汎用されているものである。本発明の検査装置は、このような検査ステーションの任意の検査ポジションに、従来の検査装置に代えて取り付け使用することができる。
【００６５】
本発明は、ガラスびん以外の容器、例えばペットボトルなどの口部天面検査に利用し、天面に欠陥のある容器を排除して、口部のシール性を保全することができる。【Technical field】
[0001]
  The present invention relates to a container mouth inspection method and apparatus for inspecting the presence or absence of defects on the top of a mouth of a container such as a glass bottle.
[Background]
[0002]
  As an inspection method and apparatus for performing this kind of inspection, the present applicant has already proposed those disclosed in Patent Documents 1 and 2 below.
  Patent Document 1 is an amplifier capable of receiving the reflected light projected on the top of the bottle mouth portion with a single photoelectric element and adjusting the output signal of the amplification unit.NobyBased on the average value of the data, the amplification degree of the amplifier is adjusted so that the value becomes a predetermined value. For the bottle under inspection, the output signal of the amplifier is compared over the entire circumference of the mouth top, and a defect signal is output when the abnormal component exceeds a predetermined value.
  It has the feature that it can be inspected stably without being affected by the difference in the reflectance of the top surface of each bottle and the aging of the projector.
[0003]
  In Patent Document 2, reflected light projected on the top of the bottle mouth is received by a line sensor (image sensor), and the apex angle of the virtual sky bite is below a specified value, and the dip width D (groove in the bite portion) When the width is equal to or greater than the specified value, it is determined that there is a defect in the top bite and a defect signal is output.
  As a result, it has become possible to automatically inspect high-precision bites that had previously been difficult to automatically inspect.
[Patent Document 1]
Japanese Patent Publication No. 3-7260
[Patent Document 2]
Japanese Patent Publication No. 5-40846
[0004]
  The above-mentioned Patent Document 1 is not only unable to detect the celestial bite, but also has a limit in inspection accuracy because it is an inspection using one photoelectric element. In other words, it is difficult to detect small celestial streaks, bubbles, etc., and if you try to cope with this by lowering the threshold value, there is a problem that misunderstandings that determine non-defective products due to various noises increase. It was.
[0005]
  The above-mentioned patent document 2 can detect only the defect of the ceiling bite, and in order to inspect all the defects of the celestial muscle, the ceiling bubble, the ceiling defect, and the ceiling bite, the inspection apparatus of patent document 1 Had to be used together.
[0006]
  The present invention makes it possible to accurately inspect the top and bottom of the top surface and the foam by accurately creating the inspection gate to be inspected. The purpose is to enable all defects to be inspected by a single inspection apparatus.
[Means for Solving the Problems]
[0007]
[Claim 1]
  In the inspection method of inspecting a defect of the container mouth by projecting light at the inspection position of the rotating container mouth and receiving the reflected light at the inspection position with a line sensor directed in the width direction of the mouth.
  Search the line data of each line of the line sensor from the inner side to the outer side of the mouth,
  The data has a region that exceeds the edge signal threshold (EL);
  When the width of the area is larger than the edge width threshold (EW), an inspection gate is started by adding a predetermined offset value (OFS) to the address (inspection gate edge address GE) that first reached the edge signal threshold (EL). Location address (GES)
  If the width of the region is smaller than the edge width threshold (EW) and there is a second region that exceeds the edge signal threshold (EL) next to the region, the edge signal threshold (EL) at the beginning of the second region ) Is an address obtained by adding a predetermined offset value (OFS) to the address (inspection gate edge address GE) that has reached) as the inspection gate start position address (GES),
  From the inspection gate start position address (GES) to the inspection gate end position (GEE) obtained by an arbitrary means is set as an inspection gate that is a range to be inspected.
  At the inspection gateTheIt is a container mouth part defect inspection method characterized by performing a celestial muscle or a top bubble inspection.
[0008]
  The celestial muscle is a groove with a narrow groove on the surface, and the reflected light is darker than the normal part. A sky bubble is a defect in which bubbles are present inside a shallow surface, and the reflected light becomes brighter than the normal part due to the lens effect of the bubbles.
[0009]
  In the invention of claim 1 of the present application, a position obtained by adding a predetermined offset value (OFS) from an address (inspection gate edge address GE) reaching the edge signal threshold (EL) is set as an inspection gate start position address (GES). For example, even when the center of the container deviates from the rotation axis and the container shakes due to rotation, the start position of the range (inspection gate) where the top and bottom of the top surface (and the side of the mouth) should be inspected is accurate. Therefore, it is possible to accurately inspect the top and top of the top surface without being affected by various noises. In addition, when the width of the region that first reached the edge signal threshold (EL) is smaller than the edge width threshold (EW) and there is a second region that exceeds the edge signal threshold (EL) next to the region, Since the position obtained by adding a predetermined offset value (OFS) from the address (inspection gate edge address GE) that reaches the edge signal threshold (EL) at the beginning of the area 2 is the inspection gate start position address (GES), Even if there is a celestial bite inside, the start position of the area (inspection gate) where the top surface of the top surface should be inspected (examination gate) can be accurately set, and the top surface of the top surface Inspection can be performed with high accuracy.
[0010]
  The edge signal threshold (EL) and the offset value (OFS) are appropriately determined in consideration of the cross-sectional shape and size of the mouth, the specifications of the line sensor, and the like.
[0011]
[Claim 2]
  According to the present invention, in the inspection method of claim 1, the means for obtaining the end position address (GEE) of the inspection gate adds a predetermined inspection gate width value (WID) to the inspection gate start position address (GES). It is a container mouth part defect inspection method characterized by being a thing.
[0012]
  By adding a predetermined inspection gate width value (WID) to the inspection gate start position address (GES) and setting it as the end position address (GEE) of the inspection gate, it is possible to inspect the top surface (and the top surface) of the celestial muscles and celestial bubbles. The end position of the range to be performed (inspection gate) can be set accurately. The gate width (WID) is appropriately determined in consideration of the widths of the mouth top surface and the top side surface where the top and bottom bubbles should be inspected.
  As another method for obtaining the end position address (GEE) of the inspection gate, for example, there is a method of setting a voltage threshold value and setting a position below the threshold value as the end position address of the inspection gate. The method of adding (WID) is more preferable because the range for performing the top and bottom bubble inspection can be accurately set as the inspection gate, and the width of the inspection gate is the same in all lines.
[0013]
[Claim 3]
  Further, the present invention projects light to the inspection position of the rotating container mouth, and receives the reflected light at the inspection position with a line sensor directed in the width direction of the mouth to inspect the top or bottom of the container mouth. An inspection method to be performed,
  The line data A of each line of the line sensor and the line data B of a line advanced by a predetermined difference interval (FP) from the line are subjected to differential processing in the inspection gate, and the differential data is a predetermined differential threshold (TH). Find the number of elements of larger data,
  This operation is repeated one after another from the line data A by a predetermined difference execution number (VS),
  When the difference total element number, which is the sum of the element numbers in the difference execution number (VS), is larger than a predetermined difference element number threshold value (PXL), it is determined that there is a defect in the top or top bubble.That capacityInstrument mouth defect inspection methodBecause
  When both of the two line data to be differentially processed do not have data larger than a predetermined celestial muscle / foam determination value (TAL), it is determined as a celestial muscle, and at least one of the two line data A container mouth defect inspection method, characterized in that a case having data larger than a natural line / top bubble determination value (TAL) is determined as a top bubbleIt is.
[0014]
  In the present invention, the determination is not based on the abnormal component for each line, but is performed by comprehensively determining a plurality of line data of the set number of executions of differences (VS). Or if there are fine scratches in the direction perpendicular to the line (around the mouthFor), It is possible to accurately detect defects that have conventionally been difficult to detect.
[0015]
  Although it is not possible to determine whether a defect is a celestial muscle or a bubble by making a determination based only on the difference data, it is possible to determine whether the defect is a celestial or a bubble by doing so. can do.
[0016]
[Claims4]
  Further, the present invention provides the inspection method according to claim 2, wherein the celestial muscle or celestial bubble inspection is the claim.To 3It is a container mouth part defect inspection method characterized by being performed by the described inspection method.
  An inspection gate is set by the method according to claim 2, andTo 3By performing the celestial muscle or celestial bubble inspection by the described inspection method, the defect of the celestial muscle or the celestial bubble can be detected with high accuracy.
[0017]
[Claims5]
  Moreover, this invention is the said Claims 1-.4In any of the inspection methods, the line data of each line of the line sensor is searched from the inner side to the outer side of the mouth,
  If the data does not have an area that exceeds the edge signal threshold (EL),
  And the data has an area exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the area is smaller than the edge width threshold (EW), and then there is no second area exceeding the edge signal threshold (EL).
  And a region whose data exceeds an edge signal threshold (EL), the width of the region being smaller than an edge width threshold (EW), and then a second region exceeding the edge signal threshold (EL), The container mouth portion defect inspection method is characterized by performing an inspection defect inspection when the width of the second region is smaller than the exposure defect detection width TW.
[0018]
  The inconvenience is a defect in which the inner end or outer end of the mouth top surface, or the entire width of the top surface is wavy.
[0019]
[Claims6]
  The present invention also provides the above claims.5In the inspection method of
  If the line data does not have an area that exceeds the edge signal threshold (EL),
  And the line data has an area exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the area is smaller than the edge width threshold (EW), and then there is no second area exceeding the edge signal threshold (EL).
  And an area where the line data exceeds an edge signal threshold (EL), the width of the area is smaller than the edge width threshold (EW), and then a second area exceeding the edge signal threshold (EL), When the width of the second region is smaller than the overexposure detection width TW,
  Count that line as a detection line,
  It is determined that there is a standing failure when the total number of the detected lines counted after fetching line data a predetermined number of times (N times) is larger than a predetermined standing failure threshold (TWL). It is the container mouth part defect inspection method characterized.
[0020]
  If the full width of the top of the mouth is wavy, the reflected light of the full width will be dark, and if the inside or outside of the top of the mouth is wavy, the reflected light on the inside or outside will be dark. Become. Using this property, it is possible to accurately detect a standing defect by the above method.
[0021]
[Claims7]
  Moreover, this invention is the said Claims 1-.6In any of the inspection methods, the line data of each line of the line sensor is searched from the inner side to the outer side of the mouth,
  The data has a first region that exceeds the edge signal threshold (EL) and the width of the region is less than the edge width threshold (EW);
  Next, when there is a second region exceeding the edge signal threshold value (EL), the top bite inspection is performed.
[0022]
  The top bite is a defect in which a protrusion that protrudes upward with a groove interposed between the inner ends of the container mouth is formed.
[0023]
[Claims8]
  The present invention also provides the above claims.7In the inspection method of
  A difference (D) between an address 1 at which the first area first reaches the edge signal threshold (EL) and an address 2 at which the second area first reaches the edge signal threshold (EL) is a predetermined ceiling. If it is larger than the bite position (TP),
  Count that line as a detection line,
  When the total number of the detected lines counted after acquiring the line data for a predetermined number of times (N times) is larger than a predetermined celestial bite threshold (TKL), it is determined that the bite is poor. It is the container mouth part defect inspection method characterized.
[0024]
  Ascending is more serious as the distance between the first region and the second region is larger. Therefore, the difference between the address 1 where the first area first exceeds the edge signal threshold value (EL) and the address 2 where the second area first exceeds the edge signal threshold value (EL) is represented by the difference (D). By providing (TKL), it is possible to accurately detect the defect of the top bite.
[0025]
[Claims9]
  The present invention also provides
  A projector that projects light to the container mouth,
  A line sensor oriented in the width direction of the mouth part that receives the reflected light from the container mouth part;
  A drive device that rotationally drives the container so that the container mouth is sequentially projected over the entire circumference;
  Inspection gate detection means for detecting an inspection gate in response to a signal from the line sensor;
  It has a celestial muscle detection means and a celestial bubble detection means for detecting defects of celestial muscles and celestial bubbles in the inspection gate detected by the inspection gate detection means,
  The inspection gate is
  Search the line data of each line of the line sensor from the inner side to the outer side of the mouth,
  If the data has an area exceeding the edge signal threshold (EL) and the width of the area is larger than the edge width threshold (EW), the address (inspection gate edge address GE) that first reached the edge signal threshold (EL) is set. An address to which a predetermined offset value (OFS) is added is set as an inspection gate start position address (GES),
  When the width of the region is smaller than the edge width threshold (EW) and there is a second region that exceeds the edge signal threshold EL after the region, the edge signal threshold (EL) is set to the beginning of the second region. An address obtained by adding a predetermined offset value (OFS) from the reached address (inspection gate edge address GE) is set as an inspection gate start position address (GES).
  A container opening characterized in that a range from the inspection gate start position address (GES) to the inspection gate end position (GEE) obtained by an arbitrary means is an inspection gate that is a range for inspecting a defect of the top and bottom bubbles. This is a partial defect inspection apparatus.
[0026]
  Since the apparatus of the present invention performs the inspection by the inspection method of claim 1, it is possible to accurately set the start position of the range (inspection gate) where the celestial muscle and celestial bubble inspection should be performed. It becomes possible to carry out with high accuracy.
[0027]
[Claim 10]
  The present invention also provides the above claims.9In this inspection apparatus, the means for obtaining the end position address (GEE) of the inspection gate adds a predetermined inspection gate width value (WID) to the inspection gate start position address (GES). It is a mouth defect inspection device.
[0028]
  Since the apparatus according to the present invention performs the inspection by the inspection method of claim 2, the start position and end position of the range (inspection gate) to be inspected for the celestial muscle and ceiling foam can be accurately set. It is possible to perform the bubble inspection with high accuracy.
[0029]
[Claim 11]
  The present invention also provides the above claims.9Or 10In the inspection equipment of
  The celestial muscle detecting means or the celestial bubble detecting means,
  The line data A of each line of the line sensor and the line data B of a line advanced by a predetermined difference interval (FP) from the line are subjected to differential processing in the inspection gate, and the differential data is a predetermined differential threshold (TH). Find the number of elements of larger data,
  This process is repeated one after another from the line data A by a predetermined difference execution number (VS),
  A container characterized in that it is determined that there is a defect in the top or top bubble when the total number of differential elements, which is the sum of the number of elements in the differential execution count (VS), is greater than a predetermined differential element count threshold (PXL). It is a mouth defect inspection device.
  The device of the present invention, ExampleFor example, it is possible to detect defects that have been difficult to detect in the past, such as when there are minor defects over a wide range, or when thin scratches are perpendicular to the line (in the circumferential direction of the mouth).
[0030]
[Claim 12]
  The present invention also provides claim 1.1In the inspection equipment of
  When both of the two line data to be subjected to the difference processing do not have data larger than a predetermined celestial muscle / foam determination value (TAL), it is determined as a celestial defect, and at least one of the two line data In this case, the container mouth portion defect inspection apparatus is characterized in that a case having data larger than the above-mentioned celestial muscle / top bubble determination value (TAL) is determined as a top bubble defect.
[0031]
  The device of the present invention is claimed3Since the celestial muscle or the bubble is detected by this method, it can be easily distinguished and determined whether the defect is the celestial muscle or the bubble.
[0032]
[Claim 13]
  The present invention also provides the above claims.9~ 12In any of the inspection apparatuses described above, the container mouth portion defect inspection apparatus has an overhang defect detection means for detecting an overhang defect in response to a signal from the inspection gate detection means.
  By providing an over-exposure defect detection means, it becomes possible to detect an over-defect defect.
[0033]
[Claim 14]
  Moreover, this invention is the said Claim 1.3In the inspection equipment of
  The inspection gate detection means includes
  Search the line data of each line of the line sensor from the inner side to the outer side of the mouth,
  If the data does not have an area that exceeds the edge signal threshold (EL),
  And the data has an area exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the area is smaller than the edge width threshold (EW), and then there is no second area exceeding the edge signal threshold (EL).
  And having a region whose data exceeds an edge signal threshold (EL), the width of the region being smaller than an edge width threshold (EW), and then a second region exceeding the edge signal threshold (EL), When the width of the second region is smaller than the overexposure defect detection width TW, the container mouth portion defect inspection apparatus is characterized in that a signal is sent to the overexposure defect detection means and the overexposure defect inspection is performed.
[0034]
[Claim 15]
  Moreover, this invention is the said Claim 1.4In the inspection equipment of
  The above-mentioned tapping defect detecting means is
  If the line data does not have an area that exceeds the edge signal threshold (EL),
  And the line data has an area exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the area is smaller than the edge width threshold (EW), and then there is no second area exceeding the edge signal threshold (EL).
  And an area where the line data exceeds an edge signal threshold (EL), the width of the area is smaller than the edge width threshold (EW), and then a second area exceeding the edge signal threshold (EL), When the width of the second region is smaller than the overexposure detection width TW,
  Count that line as a detection line,
  It is characterized in that when the number of the detected lines counted after fetching the line data for a predetermined number of times (N times) is larger than a predetermined overexposure threshold (TWL), it is determined that there is an overexposure defect. It is a container mouth part defect inspection apparatus.
[0035]
  The device of the present invention is claimed6Therefore, it is possible to detect the defect of the inadequate defect with high accuracy.
[0036]
[Claim 16]
  The present invention also provides the above claims.9~ 15In any of the inspection apparatuses described above, the container mouth portion defect inspection apparatus includes a top bite detecting unit that detects a top bite in response to a signal from the inspection gate detection unit.
  By providing the top bite detection means, it becomes possible to detect a top bite defect.
[0037]
[Claim 17]
  Moreover, this invention is the said Claim 1.6In the inspection equipment of
  The inspection gate detection means includes
  Search the line data of each line of the line sensor from the inner side to the outer side of the mouth,
  The data has a first region that exceeds the edge signal threshold (EL) and the width of the region is less than the edge width threshold (EW);
  Next, when there is a second region exceeding the edge signal threshold (EL), a signal is sent to the top bite detecting means, and the top bite inspection is performed.
[0038]
[Claim 18]
  Moreover, this invention is the said Claim 1.7In the inspection equipment of
  The celestial bite detecting means is
  A difference (D) between an address 1 at which the first area first reaches the edge signal threshold (EL) and an address 2 at which the second area first reaches the edge signal threshold (EL) is a predetermined ceiling. If it is larger than the bite position (TP),
  Count that line as a detection line,
  When the number of the detected lines counted after fetching the line data a predetermined number of times (N times) is larger than a predetermined celestial biting threshold (TKL), it is determined that the bite is poor. It is a container mouth part defect inspection apparatus.
[0039]
  The device of the present invention is claimed8As described above, since the inspection of the celestial bite is performed, the defect of the celestial bite can be detected with high accuracy.
[0040]
[Claims19]
  The present invention also provides the above claims.9~ 18In any of the inspection devices
  The projector has two systems: a light projecting system that projects light on the top surface of the container mouth portion, and a light projecting system that projects light on the outer surface continuing from the top surface of the container mouth portion,
  The container mouth defect inspection device, wherein the line sensor is provided so as to receive reflected light from the top surface of the container mouth and the outer surface of the mouth from the outside direction directly above the container mouth. It is.
[0041]
  By comprising in this way, it becomes possible to test | inspect not only the container mouth part top surface but the defect of a mouth outer side surface simultaneously.
【The invention's effect】
[0042]
  The inspection method and inspection apparatus of the present invention, for example, even when the center of the container deviates from the rotation axis and the container is shaken by rotation, or when there is a ceiling bite or the like inside the mouth, The range (inspection gate) to be inspected for celestial muscles and celestial bubbles can be accurately created, and the celestial and celestial bubble inspections on the top surface can be accurately performed.
  Furthermore, the detection of celestial muscles and bubbles is not simply determined by abnormal components for each line, but is performed by comprehensively determining a plurality of line data of the number of executions of differences (VS). If there is a wide area, or a small scratch is in a direction perpendicular to the line (the circumference of the mouthFor), It is possible to accurately detect defects that have conventionally been difficult to detect.
[0043]
  Furthermore, the device of the present invention can accurately detect all the defects such as celestial muscles, celestial bubbles, celestial erection, and inadequate erection. In addition, when the projector is made up of two systems, a light projecting system that projects light on the top surface of the container mouth and a light projecting system that projects light on the outer surface of the container mouth, not only the top surface of the container mouth but also the mouth It is possible to inspect defects on the outer surface at the same time.
[Brief description of the drawings]
[0044]
FIG. 1 is a block diagram of a container mouth inspection device 1 of an embodiment.
FIG. 2 is a flowchart of the container mouth portion inspection apparatus 1.
3 is a front view of a projector 2. FIG.
4 is a side view of the projector 2. FIG.
FIG. 5 is an explanatory diagram of an irradiation range of the projector.
FIG. 6 is a flowchart for creating an inspection gate.
FIG. 7 is an explanatory diagram of an example of creating an inspection gate.
FIG. 8 is an explanatory diagram of an example of creating an inspection gate.
FIG. 9 is a flowchart of celestial muscle detection.
FIG. 10 shows the difference interval FP and the difference execution count VS.₁It is explanatory drawing of.
FIG. 11 is an explanatory diagram of difference processing.
FIG. 12 is a flowchart of sky bubble detection.
FIG. 13 is an explanatory diagram of difference processing.
FIG. 14 is a flowchart of detection of an appearance defect.
FIG. 15 is an explanatory diagram of detection of an overcoming defect.
FIG. 16 is a flowchart of the detection of a celestial bite.
FIG. 17 is an explanatory diagram of detection of a celestial bite.
FIG. 18 is a plan view of an inspection station.
[Explanation of symbols]
[0045]
  1 Container mouth inspection device
  2 Floodlight
  21 White LED
  22 High transmittance diffuser
  23 Fresnel lens
  24 Irradiation range
  25 White LED
  26 High transmittance diffuser
  27 Fresnel lens
  28 Irradiation range
  3 Line sensor
  31 Element arrangement
  4 memory
  5 Inspection gate detection means
  6 Celestial muscle detection means
  7 Sky bubble detection means
  8 Means for detecting defective standing
  9 Cavity detection means
  10 Inspection table
  11 containers
  12 Inspection station
  13 Conveyor
  14 Loading bypass
  15 Feed Warm
  16 Star Wheel
  17 Unloading bypass
【Example】
[0046]
  1 is a block diagram of a container mouth portion inspection apparatus 1 according to an embodiment, FIG. 2 is a flowchart of the container mouth portion inspection apparatus 1, FIG. 3 is a front view of a projector 2, FIG. 4 is a side view of the projector 2, and FIG. It is explanatory drawing of 2 irradiation range. As shown in FIG. 1, the container mouth inspection device 1 includes a projector 2, a line sensor 3, a memory 4, an inspection gate detection unit 5, a celestial muscle detection unit 6, a top bubble detection unit 7, a ceiling defect detection unit 8, a ceiling It consists of a biting detection means 9 and a drive device (not shown) for rotating the container. The inspection gate detection means 5 further comprises a top surface detection means 5a and an inspection gate width determination means 5b. The memory 4, the inspection gate detection means 5, the top muscle detection means 6, the top bubble detection means 7, the top failure detection means 8, and the top bite detection means 9 can be set in the computer. The drive device can be the same as this kind of well-known inspection device.
[0047]
  The light from the projector 2 is reflected by the top of the mouth and the outer side of the mouth of the container (such as a glass bottle) 11, and the reflected light is received by the line sensor 3. Each line data received by the line sensor 3 is stored in the memory 4. For the line data read from the memory 4, an inspection gate is created by the inspection gate detection means 5, and the top muscle detection means 6, the top bubble detection means 7, the rising defect detection means 8, the top bite detection means 9 Which detection means should be inspected is sorted out. Based on the classification result, the line data is inspected by the celestial muscle detecting means 6, the celestial bubble detecting means 7, the bulging defect detecting means 8, or the celestial biting detecting means 9. If each detection means determines that the failure is detected, a failure signal is output. In addition to being recorded in the memory, the failure signal can be used for the operation of a warning device, the operation of a defective container removal device, and the like.
[0048]
  With reference to FIG. 2, an outline of processing in the container mouth inspection apparatus 1 will be described.
  Step 101 ... Is the data processing command ON?
Is determined first, and if it is YES,
  Step 102 ... Data processing (detects a defect)
The inspection gate is created by the inspection gate detection means 5 and the inspection is performed by the top muscle detection means 6, the top bubble detection means 7, the bulging defect detection means 8, or the ceiling bite detection means 9. After this,
  Step 103 ... Is it defective?
Is determined, and if it is YES
  Step 104 ... Record the defect
The defect information is recorded in the memory of the computer, and the process proceeds to step 105. If NO, the process proceeds to step 105 as it is.
  Step 105 …… Next data processing command
Return to step 101, and the above processing (steps 101 to 105) is repeated for the next line data.
[0049]
  As shown in FIG. 4, the container 11 is placed on an inspection table 10 that is rotated by a driving device (not shown) and inspected. As shown in FIGS. 3 and 4, the projector 2 has two light projecting systems. The first light projecting system includes a white LED 21, a high transmittance diffusion plate 22, and a Fresnel lens 23. The first light projection system is θ₁Irradiates convergent light of about 40 ° mainly toward the top surface 11a of the container mouth. The second light projecting system includes a white LED 25, a high transmittance diffusion plate 26, and a Fresnel lens 27. The second floodlight system is θ₂Irradiates convergent light of about 30 ° mainly toward the container mouth outer surface 11b. The irradiation range 24 in the plane of the top surface of the mouth of the first light projection system and the irradiation range 28 in the plane of the top surface of the mouth of the second light projection system are substantially as shown in FIG. The diameter of the irradiation ranges 24 and 28 is about 12 mm, and the center of the irradiation range 28 is separated from the center of the irradiation range 24 by about 6 mm.
[0050]
(Inspection gate creation)
  Next, the detection of the inspection gate in each line of the line sensor will be described with reference to FIGS. FIG. 6 is a flowchart for creating an inspection gate, and FIGS. 7 and 8 are explanatory diagrams of an example of creating an inspection gate.
  In FIG.
  Step 201: Set the edge signal threshold EL and the edge width threshold EW.
To set the edge signal threshold EL and the edge width threshold EW. These values are determined in advance according to the type of container to be inspected.
  Step 202 ... Set the offset value OFS
Sets the offset value OFS. The offset value OFS is the number of elements for determining the inspection gate start position address GES in addition to the address (inspection gate edge address GE) that first reaches the edge signal threshold (EL), and depends on the type of container to be inspected in advance. Set it up.
  Step 203... Sets the inspection gate width value WID
The inspection gate width value WID is set by. The gate width value WID is determined in advance according to the type of container to be inspected.
  Step 204... Sets the defect appearance width TW.
To set the inadequate defect width TW. The inadequate defect width TW is the number of elements for determining whether or not to perform the inadequate defect inspection, and is determined in advance according to the type of the container to be inspected.
  Step 205 ... Set the data address
Sets the memory address to store the data,
  Step 206 …… Clears the memory address save area.
The process is performed. Thereafter, the following processing is performed on the line data of each address read from the memory.
[0051]
  Step 207 ... Search from the left end address of the line data
To search the line data from the inside to the outside of the mouth,
  Step 208 ... Is there data that exceeds the edge signal threshold EL?
If the determination is NO, if the NO is NO, an inadvertent defect inspection by the inadequate defect detection means is performed, and if YES,
  Step 209. Is the data larger than the edge width threshold EW?
Is determined. If NO
  Step 210 ... Is there data that is larger than the edge signal threshold EL by searching for the next address?
In the case of NO, an oversight defect inspection by the oversight defect detection means is performed, and in the case of YES,
  Step 211 ...... Is the data width larger than EL (edge signal threshold) larger than TW (protruding defect width)?
In the case of NO, an over-out defect inspection is performed by the over-out defect detection means, and in the case of YES, the over-extraction inspection is performed by the over-extraction detection means, and the process proceeds to the next step 212. . The processing in steps 201 to 211 is the top surface detection means 5a in FIG. 1, and steps 212 to 216 described later are inspection gate width determination means 5b.
  Step 212 ... The inspection gate edge address GE is calculated.
The process is performed. If there is one area larger than the edge signal threshold EL, the address that first reached EL becomes the inspection gate edge address GE, and if there are two, the address that first reached EL in the second area becomes GE.
  Step 213: The inspection gate start position address GES is calculated from the offset value.
In this process, the address obtained by adding the offset value OFS to the inspection gate edge address GE is set as the inspection gate start position address GES.
  Step 214... The inspection gate end position address GEE is calculated from the inspection gate width value, and an inspection gate is created.
Thus, an address obtained by adding the inspection gate width value WID to the inspection gate start position address GES is set as the end position address GEE, and inspection gates from the inspection gate start position address GES to the inspection gate end position address GEE are created.
  Step 215 ... Create an inspection gate for each imported data (number of acquisitions N times)
In this process, the line data is fetched from the memory up to the Nth line data, and the processes in steps 207 to 214 are performed for each line data. The number N of intakes is set in advance, but is slightly larger than the number n of lines on the entire circumference of the container mouth, and is preferably about 1.3 times n + 10 to n.
  Step 216 ... Save the data in the order of the imported line data
The line data on which the inspection gate is created is saved in the memory in order, and the celestial line and the celestial bubble inspection by the celestial line detecting means and the celestial bubble detecting means are performed on each line data.
[0052]
  FIG. 7 is an explanatory diagram of creating an inspection gate when there are two regions exceeding the edge signal threshold value EL.₁Of the second region T is smaller than the edge width threshold EW (step 209).₂Is larger than the overcasting defect width TW (step 211), the address obtained by adding the offset value OFS to the inspection gate edge address GE in which the second region first reaches the edge signal threshold EL is the inspection gate start position address. The address obtained by adding the inspection gate width value WID becomes the inspection gate end position address GEE. In FIG. 7, symbol α indicates the top muscle, β indicates the top bubble, γ indicates the lack of standing, and δ indicates the top biting.
[0053]
  FIG. 8 is an explanatory diagram of creating an inspection gate in the case where there is one region exceeding the edge signal threshold EL. Since the width of the region exceeding the edge signal threshold EL is larger than the edge width threshold EW (step 209), that region is the first. The address obtained by adding the offset value OFS to the inspection gate edge address GE that has reached the edge signal threshold value EL becomes the inspection gate start position address GES, and the address obtained by adding the inspection gate width value WID becomes the inspection gate end position address GEE.
[0054]
(Celestial muscle detection)
  FIG. 9 is a flowchart of the detection of the celestial muscle. In the figure,
  Step 301... Set the difference filter F
Thus, the difference filter F is set. The difference filter F is a difference between the two line data in the inspection gate.
  Step 302 …… Sets the difference interval FP.
Thus, the difference interval FP is set. As a result, each line data is subjected to differential processing with the line data ahead of the FP. The FP can be 3 to 10, for example.
  Step 303 …… Tele muscle difference threshold TH₁Set
Celestial muscle difference threshold TH₁Is set. Tensile difference threshold TH₁Is predetermined according to the type of container to be inspected.
  Step 304... Difference element number threshold value PXL₁Set
The difference element number threshold value PXL₁Set. Difference element number threshold PXL₁Is predetermined according to the type of container to be inspected.
  Step 305 …… Difference execution count VS₁Set
Difference execution times VS₁Is set. As a result, VS₁The pieces of difference data are handled as one set. VS₁Can be 2-10, for example.
  Step 306 …… Sets the celestial muscle / foam determination value TAL
The celestial and celestial bubble determination value TAL is set. The celestial muscle / foam determination value TAL is determined in advance depending on the type of container to be inspected.
[0055]
  Step 307... Loads the first line data and sets it as fetch data A
  Step 308... The line data that is FP-th advanced from the line data of the captured data A is loaded, and the captured data B is obtained.
  Step 309... Compare the captured data A and the captured data B
After processing
  Step 310 ... Is the comparison data smaller than TAL?
Is determined. In this case, it is checked whether or not the captured data A and captured data B have a portion larger than the natural muscle / celestial bubble determination value TAL. YES, if at least one part is larger than TAL (FIG. 13), it is determined as NO. If yes, then continue with step 311, otherwise continue with step 314.
  Step 311... F is used to differentiate between the captured data A and the captured data B advanced by FP.
As a result, voltage difference data of the captured data A and B in the inspection gate is created.
  Step 312 …… The difference data is TH.₁Is it bigger?
In the case of YES, the process proceeds to step 313. In the case of NO, the process proceeds to step 314. If yes,
  Step 313 …… TH₁Calculate the number of elements of larger data and save
After the process is done,
  Step 314... The next line data is loaded and taken as fetched data A, and line data advanced FP from that line data is loaded and fetched as data B
Is performed. The “next line data” here is the next line data of the “capture data A” in step 311.
  Step 315... Compare the captured data A and the captured data B
After processing
  Step 316 ... VS₁Have you compared times?
Is determined. This is VS₁This is for determining a celestial muscle defect from the difference data of times. If NO, steps 310-316 are repeated, if YES,
  Step 317 ... VS₁TH₁Load the number of elements with larger data, add all, and save as difference total number of elements
Perform the process. This is VS₁In each difference data for each batch, the voltage is the celestial muscle difference threshold TH.₁Count the larger number of elements, VS₁This is the process of adding the batches and saving them in memory. afterwards,
  Step 318... Load the next line data and set it as fetch data A
The process is performed. The “next line data” here is the next line data of the “capture data A” in step 315. afterwards,
  Step 319. Did the predetermined line data be loaded and used as fetched data A?
Is determined. Here, the predetermined line data may be arbitrarily determined so that the process of step 317 is performed on all the line data of the entire circumference of the container mouth. For example, {N− (VS₁+ FP) +2} th line data. If NO in step 319, the processing from step 308 to step 319 is repeated. If YES,
  Step 320 ... Load all the difference total elements
To load all the differential total elements saved in step 317,
  Step 321... PXL in the total number of all differential elements₁Is there something bigger?
Is determined. The difference element number threshold PXL in the total difference element number₁If there is any larger one, it is determined that there is a celestial defect, and if there is none, it is determined that the product is non-defective (no celestial).
[0056]
  FIG. 10 shows the difference interval FP and the difference execution count VS.₁It is explanatory drawing of. The figure shows the difference interval FP = 3 and the difference execution count VS.₁The case of = 5 is illustrated. Difference processing (I) is performed on the first line data acquired and the fourth line data acquired by the difference interval FP = 3 (step 311). Similarly, the second line data for acquisition and the fifth line data for acquisition are subjected to differential processing (II), the third line data for acquisition and the sixth line data for acquisition are subjected to differential processing (III), and the fourth line data for acquisition. Then, the seventh processing line data is subjected to difference processing (IV), and the fifth processing line data and the eighth processing line data are subjected to differential processing (V). Difference execution times VS₁= 5, the difference results from difference processing (I) to (V) are processed as one set. That is, each difference data is converted to the celestial muscle difference threshold TH.₁(Step 312), the number of elements larger than this is obtained (step 313), and the celestial muscle difference threshold TH is obtained for all of the difference processes (I) to (V).₁The larger number of elements is summed to obtain the total difference element number (step 317), and the difference element number threshold value PXL₁The celestial muscle is determined in comparison with (step 321). In this way, the top muscle is determined by setting the difference processing result from the first line data to the fifth line data to be one set. After that, the difference of the next processing from the sixth line data to the tenth line data is determined as one set, and the top muscle is determined.
[0057]
  FIG. 11 is an explanatory diagram of the difference process. Line data for the A line is shown in the upper left. The line data of the B line that is FP-th advanced from the A line is shown in the upper right. Since the B line has the celestial muscle α, the voltage of the inspection gate (between WID) is low. In addition, the line data of both the A line and the B line has a voltage smaller than the top / top bubble determination value TAL. The result of differential processing of the line data of the A line and the B line is shown in the lower right. The difference process is performed by subtracting the voltage within the inspection gate (between WIDs). In this case, all the elements in the inspection gate (between WIDs), the top muscle difference threshold TH₁Since it is larger, the number of all elements between the WIDs is calculated (step 313).
[0058]
(Head bubble detection)
  FIG. 12 is a flowchart of sky bubble detection. The top bubble detection is performed by almost the same process as the top stripe detection. In the figure, steps 401 to 421 correspond to steps 301 to 321 for detecting the celestial muscle. Also, the sky bubble difference threshold TH in steps 403 to 405₂, Difference element number threshold PXL₂, Differential execution count VS₂Is the celestial muscle difference threshold TH in steps 303 to 305 of celestial muscle detection.₁, Difference element number threshold PXL₁, Differential execution count VS₁The numerical values in the correspondence relationship may be the same value or different values.
  The reason that sky bubble detection is substantially different from sky detection is that
  Step 410 ... Is the comparison data larger than TAL?
This is only the point that is the opposite of “Is the comparison data smaller than TAL?”
[0059]
  FIG. 13 is an explanatory diagram of the difference processing. Line data for the A line is shown in the upper left. The line data of the B line that is FP-th advanced from the A line is shown in the upper right. Since there is a sky bubble β on the B line, the voltage of the inspection gate (between WID) is high. In this way, when at least one of the A or B line data has a voltage portion that is larger than the celestial and celestial bubble determination value TAL, celestial bubble detection is performed; otherwise, celestial muscle detection is performed. . The result of differential processing of the line data of the A line and the B line is shown in the lower right. The difference process is performed by subtracting the voltage within the inspection gate (between WIDs). In this case, some elements in the inspection gate (between WID)foamDifference threshold TH₂Since it is larger, the number of the larger elements is calculated (step 413).
[0060]
(Badness detection)
  FIG. 14 is a flow chart for detecting an overcasting defect. In the figure,
  Step 501... Sets the tapping defect threshold value TWL.
After processing
  Step 502 ... Search from the leftmost address of the line data
To search the line data from the inside to the outside of the mouth,
  Step 503: Is there data that exceeds the edge signal threshold EL?
If YES, the process proceeds to step 504. If NO, the process proceeds to step 507.
  Step 504 ... Is the data larger than the edge width threshold EW?
If NO, the process proceeds to step 505 because the area exceeding the EW is noise or cresting, and if YES, the process proceeds to step 506.
  Step 505 ... Is there data larger than the edge signal threshold EL by searching for the next address?
In the case of YES, the process proceeds to step 506, and in the case of NO, step 50 is determined.7Proceed to
  Step 506 ... Is the number of elements exceeding the data smaller than TW?
Thus, it is determined whether or not the number of elements larger than the edge signal threshold EL is larger than the display defect width TW (see step 204). If YES, the process proceeds to step 507, and if NO, the process proceeds to step 508.
  Step 507 ... Count and save the number of detected lines
Is performed. The number of detected lines is counted
(1) If NO is determined in step 503,
(2) If NO is determined in step 505,
(3) If YES is determined in step 506
It is. That is,
(1) When the line data does not have an area exceeding the edge signal threshold EL,
(2)LaThe in-data has a region exceeding the edge signal threshold EL, the width of the region is smaller than the edge width threshold EW, and then there is no second region exceeding the edge signal threshold EL
(3) The line data has a region exceeding the edge signal threshold EL, the width of the region is smaller than the edge width threshold EW, and then a second region exceeding the edge signal threshold EL, and the second region. When the width of the is smaller than the detection failure width TW
It is.
  Step 508 ... Did the Nth line data be processed?
If the determination is NO,
  Step 509 ... Process next line data
By repeating steps 502 to 508 until the Nth line data is processed, if step 508 is YES,
  Step 510 ... Loads the count of the number of detected lines up to the Nth time.
From the first line data to the Nth line data, the total number of lines determined as detection lines in step 507 is loaded.
  Step 511...... Is the number of detected lines counted up to the Nth more than TWL?
With this determination, when the total number of detection lines in step 510 is larger than the display failure threshold TWL, it is determined that the display is defective, and when it is less, it is determined that the product is non-defective (no display failure).
[0061]
  FIG. 15 is an explanatory diagram of detection of over-exposure.
  In the figure, the “progression 1 line data” shown on the left side is “YES” in step 503 “Is there data that exceeds the edge signal threshold EL?” And step 504 “data is greater than the edge width threshold EW. “?” Is “NO”, and step 505 “is the next address searched and there is data larger than the edge signal threshold EL?” Is “NO”, and is counted as a detection line in step 507.
  In the figure, “progression 2 line data” shown on the right side is “YES” in step 503 “Is there data that exceeds the edge signal threshold EL”, and step 504 “data is greater than the edge width threshold EW”? "?" Is "NO", step 505 "is the next address searched and there is more data than the edge signal threshold EL?" Is "YES", step 506 "the number of elements exceeding the data is the tampering defect detection width TW" This is a case where “is smaller than?” Is “YES” and is counted as a detection line in step 507.
  In addition, when step 503 “is any data exceeding the edge signal threshold EL?” Is “NO”, it is counted as a detection line by step 507.
[0062]
(Heavenly bite detection)
  FIG. 16 is a flowchart of the detection of the celestial bite. In the figure,
  Step 601... Sets the top bite position TP
  Step 602... Sets the top bite threshold TKL
After processing
  Step 603 ... Search from the left end address of the line data
To search the line data from the inside to the outside of the mouth,
  Step 604 ... Search for a portion larger than the edge signal threshold EL.
After,
  Step 605 ... Is the width smaller than the edge width threshold EW?
To determine whether the width of the portion larger than the edge signal threshold EL is smaller than the edge width threshold EW. If YES, the process proceeds to step 606. If NO, the process proceeds to step 612.
  Step 606: Save address 1 of data smaller than edge width threshold EW
Thus, the address 1 at which the region exceeding the edge signal threshold EL first reaches the edge signal threshold EL is saved.
  Step 607... Is there data larger than the edge signal threshold EL by searching the next address?
To determine whether there is a second region exceeding the edge signal threshold EL. If YES, the process proceeds to step 608. If NO, the process proceeds to step 612.
  Step 608... Saves address 2 of data larger than EL
The address 2 where the second region exceeding the edge signal threshold EL first reaches the edge signal threshold EL first is saved.
  Step 609 ... Loads address 1 and address 2
After,
  Step 610 ... Is the number of elements between address 1 and address 2 greater than TP?
To determine whether the difference D between the address 1 and the address 2 is larger than the top extraction position TP. If YES,
  Step 611 ... Count the number of detected lines and save
After the above process, the process proceeds to step 612. If NO, the process proceeds directly to step 612.
  Step 612 ... Has the Nth line data been processed?
Is determined and if NO,
  Step 613: Process next line data
Thus, the processing from 603 to 612 is repeated until the Nth line data is processed, and if step 612 is YES,
  Step 614... Counts the number of detected lines up to the Nth time.
From the first line data to the Nth line data, the total number of lines determined as detection lines in step 611 is loaded.
  Step 615. Is the number of detected lines counted up to the Nth time larger than TKL?
Therefore, when the total number of detection lines in step 614 is larger than the ceiling biting threshold value TKL, it is determined that the biting is poor, and when it is small, it is determined that the product is non-defective (no biting).
[0063]
  FIG. 17 is an explanatory diagram of the detection of the celestial bite.
  In the figure, the line data is a first region T exceeding the edge signal threshold EL.₁(Step 604) and the second region T₂(Step 607). First region T₁Is smaller than the edge width threshold EW (step 605). First region T₁Address 1 that reaches the edge signal threshold EL for the first time, and the second region T₂Since the difference D of the address 2 that reaches the edge signal threshold EL for the first time is larger than the top bite threshold TKL, this line data is counted as a detection line in step 611.
[Industrial applicability]
[0064]
  The inspection apparatus of the present invention is used by being attached to, for example, an inspection station 7 shown in FIG. In the figure, containers 11 sent by a conveyor 13 are guided to a carry-in bypass 14 where they are aligned at a fixed interval by a feed worm 15 and then sent to an inspection station 12. The fed container 11 is fitted and captured by the intermittently rotating star wheel 16, and is thereby intermittently forwarded in the order of inspection position A, inspection position B, and inspection position C, and model number recognition and predetermined inspection are performed. As a result of undergoing such an inspection, a container that is regarded as a non-defective product is introduced into the carry-out bypass 17 and further introduced into the conveyor 13 and conveyed to another place. On the other hand, a defective container is sent to the exclusion position D and rejected. Such an inspection station is widely used for inspection of glass products such as glass bottles. The inspection apparatus of the present invention can be attached and used at any inspection position of such an inspection station in place of the conventional inspection apparatus.
[0065]
  INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used for inspection of the top of the mouth of containers other than glass bottles, for example, PET bottles, and can eliminate the container having a defect on the top and maintain the sealing performance of the mouth.

Claims

In the inspection method of inspecting the defect of the container mouth by projecting light at the inspection position of the rotating container mouth and receiving the reflected light at the inspection position with the line sensor directed in the width direction of the mouth.
Search the line data of each line of the line sensor from the inner side to the outer side of the mouth,
The data has a region that exceeds the edge signal threshold (EL);
When the width of the region is larger than the edge width threshold (EW), an address obtained by adding a predetermined offset value (OFS) to the address (GE) that first reaches the edge signal threshold (EL) is used as the inspection gate start position address (GES). )age,
When the width of the region is smaller than the edge width threshold value (EW) and there is a second region that exceeds the edge signal threshold value (EL) next to the region, the edge signal threshold value (EL) at the beginning of the second region ) That has reached the address (GE) that has reached) and a predetermined offset value (OFS) as the inspection gate start position address (GES),
From the inspection gate start position address (GES) to the inspection gate end position (GEE) obtained by an arbitrary means is set as an inspection gate that is a range to be inspected.
A method for inspecting a defect of a container mouth, wherein a top or bottom bubble inspection is performed at the inspection gate.

2. The inspection method according to claim 1, wherein the means for obtaining the end position address (GEE) of the inspection gate adds a predetermined inspection gate width value (WID) to the inspection gate start position address (GES). The container mouth part defect inspection method.

This is an inspection method in which light is projected to the inspection position of the rotating container mouth, and the reflected light is received by the line sensor directed in the width direction of the mouth at the inspection position to inspect the top or bottom of the container mouth. And
The line data A of each line of the line sensor and the line data B of a line advanced by a predetermined difference interval (FP) from the line are subjected to differential processing in the inspection gate, and the differential data is a predetermined differential threshold (TH). Find the number of elements of larger data,
This operation is repeated one after another from the line data A by a predetermined difference execution number (VS),
If the difference total number element is the sum of the number of the elements in the difference execution count (VS) is greater than a predetermined differential number of elements threshold (PXL), and the container mouth defects you determined as Yes defects of the top muscle or Ten'awa An inspection method ,
When both of the two line data to be differentially processed do not have data larger than a predetermined celestial muscle / foam determination value (TAL), it is determined as a celestial muscle, and at least one of the two line data A container mouth defect inspection method, wherein a case having data larger than a natural line / top bubble determination value (TAL) is determined as a top bubble .

The inspection method for a container mouth according to claim 2, wherein the inspection of the celestial muscle or the top bubble is performed by the inspection method according to claim 3 .

In the inspection method according to any one of claims 1 to 4 , the line data of each line of the line sensor is searched from the inner side to the outer side of the mouth,
If the data does not have an area that exceeds the edge signal threshold (EL),
And the data has a region exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the region is smaller than the edge width threshold (EW), and then there is no second region exceeding the edge signal threshold (EL) and The data has a region exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the region is smaller than the edge width threshold (EW), and then a second region exceeding the edge signal threshold (EL), the second A container mouth portion defect inspection method, comprising: performing an inconvenience inspection when the width of the area is smaller than the inconvenience detection width TW.

6. The inspection method according to claim 5 , wherein the inadequate defect inspection is performed.
If the line data does not have an area that exceeds the edge signal threshold (EL),
And the line data has an area exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the area is smaller than the edge width threshold (EW), and then there is no second area exceeding the edge signal threshold (EL) The data has a region exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the region is smaller than the edge width threshold (EW), and then a second region exceeding the edge signal threshold (EL), the second When the width of the area is smaller than the overcasting defect detection width TW,
Count that line as a detection line,
It is determined that there is a standing failure when the total number of the detected lines counted after fetching line data a predetermined number of times (N times) is larger than a predetermined standing failure threshold (TWL). The container mouth part defect inspection method characterized by the above.

The inspection method according to any one of claims 1 to 6 , wherein the line data of each line of the line sensor is searched from the inner side to the outer side of the mouth,
The data has a first region that exceeds the edge signal threshold (EL) and the width of the region is less than the edge width threshold (EW);
Next, when there is a second region exceeding the edge signal threshold value (EL), the top bite inspection is performed.

The inspection method according to claim 7 , wherein the celestial bite inspection is performed.
The difference (D) between the address 1 at which the first region first reaches the edge signal threshold (EL) and the address 2 at which the second region first reaches the edge signal threshold (EL) is a predetermined ceiling. If it is larger than the bite position (TP),
Count that line as a detection line,
When the total number of the detected lines counted after fetching the line data for a predetermined number of times (N times) is larger than a predetermined top bite threshold (TKL), it is determined that the top bite is defective. The container mouth part defect inspection method characterized by the above.

A projector that projects light to the container mouth,
A line sensor oriented in the width direction of the mouth part that receives the reflected light from the container mouth part;
A drive device that rotationally drives the container so that the container mouth is sequentially projected over the entire circumference;
Inspection gate detection means for detecting an inspection gate in response to a signal from the line sensor;
It has a celestial muscle detection means and a celestial bubble detection means for detecting defects of celestial muscles and celestial bubbles in the inspection gate detected by the inspection gate detection means,
The inspection gate is
Search the line data of each line of the line sensor from the inner side to the outer side of the mouth,
When the data has a region exceeding the edge signal threshold (EL) and the width of the region is larger than the edge width threshold (EW), a predetermined offset value is set to the address (GE) that first reaches the edge signal threshold (EL). The address to which (OFS) is added is the inspection gate start position address (GES),
When the width of the region is smaller than the edge width threshold (EW) and there is a second region that exceeds the edge signal threshold EL after the region, the edge signal threshold (EL) is set to the beginning of the second region. An address obtained by adding a predetermined offset value (OFS) from the reached address (GE) is set as an inspection gate start position address (GES),
A container opening characterized in that a range from the inspection gate start position address (GES) to the inspection gate end position (GEE) obtained by an arbitrary means is an inspection gate that is a range for inspecting a defect of the top and bottom bubbles. Defect inspection equipment.

10. The inspection apparatus according to claim 9 , wherein the means for obtaining the end position address (GEE) of the inspection gate adds a predetermined inspection gate width value (WID) to the inspection gate start position address (GES). A container mouth defect inspection device.

In the testing apparatus according to claim 9 or 1 0,
The celestial muscle detecting means or the celestial bubble detecting means,
The line data A of each line of the line sensor and the line data B of a line advanced by a predetermined difference interval (FP) from the line are subjected to differential processing in the inspection gate, and the differential data is a predetermined differential threshold (TH). Find the number of elements of larger data,
This operation is repeated one after another from the line data A by a predetermined difference execution number (VS),
A container characterized in that it is determined that there is a defect in the top or bottom bubble when the total number of differential elements, which is the sum of the number of elements in the number of differential executions (VS), is larger than a predetermined differential element count threshold (PXL) Mouth defect inspection device.

In the testing apparatus of claim 1 1,
When both of the two line data to be differentially processed do not have data larger than a predetermined celestial muscle / foam determination value (TAL), it is determined as a celestial defect, and at least one of the two line data The container mouth part defect inspection apparatus characterized in that a case having data larger than the above-mentioned celestial muscle / top bubble determination value (TAL) is determined as a top bubble defect.

The inspection apparatus according to any one of claims 9 to 12 , further comprising an overhang defect detecting means for detecting an overhang defect in response to a signal from the inspection gate detection means.

In the testing apparatus according to claim 1 3,
The inspection gate detection means includes
Search the line data of each line of the line sensor from the inner side to the outer side of the mouth,
If the data does not have an area that exceeds the edge signal threshold (EL),
And the data has a region exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the region is smaller than the edge width threshold (EW), and then there is no second region exceeding the edge signal threshold (EL) and The data has a region exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the region is smaller than the edge width threshold (EW), and then a second region exceeding the edge signal threshold (EL), the second A container mouth portion defect inspection apparatus which sends a signal to an exposure defect detection means to perform an inspection defect inspection when the width of the area is smaller than the exposure defect detection width TW.

In the testing apparatus according to claim 1 4,
The above-mentioned tapping defect detecting means is
If the line data does not have an area that exceeds the edge signal threshold (EL),
And the line data has an area exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the area is smaller than the edge width threshold (EW), and then there is no second area exceeding the edge signal threshold (EL) The data has a region exceeding the edge signal threshold (EL), the width of the region is smaller than the edge width threshold (EW), and then a second region exceeding the edge signal threshold (EL), the second When the width of the area is smaller than the overcasting defect detection width TW,
Count that line as a detection line,
When the number of the detected lines counted after the line data is fetched a predetermined number of times (N times) is larger than a predetermined balance defect threshold value (TWL), it is determined that the balance is a balance defect. Container mouth defect inspection device.

The inspection apparatus according to any one of claims 9 to 15 , further comprising a top biting detection means for detecting a top bite in response to a signal from the inspection gate detection means.

The inspection apparatus according to claim 16 ,
The inspection gate detection means includes
Search the line data of each line of the line sensor from the inner side to the outer side of the mouth,
The data has a first region that exceeds the edge signal threshold (EL) and the width of the region is less than the edge width threshold (EW);
Next, when there is a second region exceeding the edge signal threshold value (EL), a signal is sent to the top bite detecting means, and the top bite inspection is performed.

The inspection device according to claim 17 ,
The celestial bite detecting means is
The difference (D) between the address 1 at which the first region first reaches the edge signal threshold (EL) and the address 2 at which the second region first reaches the edge signal threshold (EL) is a predetermined ceiling. If it is larger than the bite position (TP),
Count that line as a detection line,
When the number of the detected lines counted after fetching the line data for a predetermined number of times (N times) is larger than a predetermined apex threshold (TKL), it is determined that the apex is poor. A container mouth defect inspection device.

The inspection apparatus according to any one of claims 9 to 18 ,
The floodlight has two systems: a light projecting system that projects light on the top surface of the container mouth portion, and a light projecting system that projects light on the outer surface continuing from the top surface of the container mouth portion,
The container mouth defect inspection device, wherein the line sensor is provided so as to receive reflected light from the top surface of the container mouth and the outer surface of the mouth from the outside direction directly above the container mouth. .