JPS61107144A - Method for inspecting container - Google Patents

Method for inspecting container

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JPS61107144A
JPS61107144A JP59229171A JP22917184A JPS61107144A JP S61107144 A JPS61107144 A JP S61107144A JP 59229171 A JP59229171 A JP 59229171A JP 22917184 A JP22917184 A JP 22917184A JP S61107144 A JPS61107144 A JP S61107144A
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JP
Japan
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signal
image sensor
bottle
signals
output
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Application number
JP59229171A
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Japanese (ja)
Inventor
Takashi Miyazawa
宮沢 尊
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Kirin Brewery Co Ltd
Original Assignee
Kirin Brewery Co Ltd
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
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    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N33/0081Containers; Packages; Bottles

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Abstract

PURPOSE:To enable certain high speed inspection and to facilitate handling, by comparing the generation signal corresponding to the rotary position of a container by using a unidimensional image sensor. CONSTITUTION:The emitted light from the diffusion plate 5 of an illumination apparatus 3 passes through a rotating glass bottle 1 and the linear part corresponding to a part of the optical image of the bottle 1 is formed on the image sensor 8 of a camera 6. Said linear part is converted by an A/D converter 12 in a signal processing system 9 on the output of the sensor 18 and four sets of picture element signals are stored by a shift register 17. One picture element signal is obtained at the time of one scanning of the sensor 8. The output of the register 17 and A/D conversion output enter a subtraction part 14 and the subtraction output is compared with the output signal of a setting part 16 by a comparing part 15 and, when the subtraction output is larger, a signal 15a is applied to an exclusion apparatus 10 as an exclusion order signal. The inspected bottle is excluded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は透明または半透明の容器、例えばガラス壜の検
査方法に関する。
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a method for inspecting transparent or translucent containers, such as glass bottles.

(発明の技術的背景および背景技術の問題点〕壜の検査
は大別して、飲料や食品の充填工程におけるi15!壜
の検査と壜製造工程における新製の検査に分けることが
できる。前者においては近年″CODなどの優れた撮像
素子の出現と改良された映像信号の処理技−により、高
速でかつ高精度な検査技術が実現している(特開昭57
−137844、特開昭58−132650)。−方、
後者の壜製造工程においては、壜の処理速度が毎分10
0〜200本と比較的低速であるため、検査位置で一旦
停止させ続いて壜にスピンを与えて壜各部の検査を行う
方法が採用されている。従来装填工程における壜検査は
欠け、ビリなどを重視していたので変調を与えた光を多
数の投光器で投光し、夫々に対応する多数の受光器で反
射光を受光してその光量の変化で欠陥を検出している。
(Technical Background of the Invention and Problems with the Background Art) Bottle inspection can be broadly divided into i15! bottle inspection in the filling process for beverages and foods and inspection of new bottles in the bottle manufacturing process.In the former, In recent years, with the advent of superior imaging devices such as COD and improved video signal processing techniques, high-speed and highly accurate inspection technology has been realized (Japanese Patent Application Laid-Open No. 57
-137844, JP-A-58-132650). - way,
In the latter bottle manufacturing process, the bottle processing speed is 10 per minute.
Since the speed is relatively low (0 to 200 bottles), a method is adopted in which each part of the bottle is inspected by temporarily stopping the bottle at an inspection position and then applying spin to the bottle. Conventionally, bottle inspection in the loading process focused on defects such as chips and rips, so modulated light was emitted by multiple projectors, and the reflected light was received by a number of corresponding receivers, resulting in changes in the amount of light. Detecting defects.

しかし最近は壜の品質に対する要求が多様化し壜胴部の
欠け、傷の他、微細な石や金属などの異物やシードと呼
ばれる微細な空泡も検出し、そのような壜を排除する必
要がある。そのためこの検査技術の開発に力が入れられ
ているが未だ高精度で信頼性の高い検査技術が開示され
ていない。最近開示されたものの中に一次元イメージセ
ンサー(リニアアレー)を使用したものがある。これは
二次元イメージセンサ−(例えばCODカメラ)を使用
すると装置が高価になるので比較的低廉なリニアアレー
を使用したものである。特開昭58−99738や特開
昭58−71442などに開示されている技術は夫々ダ
イオードアレーを単列又は2列使用したものであるが、
前者はダイオードアレーの欠陥である不感帯の影響を少
くしようとして、不感帯の幅を狭くしたり、単位素子を
平行四辺形にしたり、2列組み合せてカバーしたりする
工夫をしたものであり、後者は壜の向きを変えることに
より2方向から夫々のリニアアレーで壜胴の全検査領域
を走査する方法を採用している。
However, recently, demands on the quality of bottles have become more diverse, and in addition to chips and scratches on the bottle body, it is also necessary to detect foreign objects such as minute stones and metals, as well as minute air bubbles called seeds, and eliminate such bottles. be. Therefore, efforts are being made to develop this inspection technique, but a highly accurate and reliable inspection technique has not yet been disclosed. Among the recently disclosed devices is one using a one-dimensional image sensor (linear array). This uses a relatively inexpensive linear array, since using a two-dimensional image sensor (for example, a COD camera) would make the device expensive. The techniques disclosed in JP-A-58-99738 and JP-A-58-71442 use a single row or two rows of diode arrays, respectively.
The former is an attempt to reduce the effect of the dead zone, which is a defect in diode arrays, by narrowing the width of the dead zone, making the unit element a parallelogram, and covering it by combining two rows. A method is adopted in which the entire inspection area of the bottle body is scanned by linear arrays from two directions by changing the direction of the bottle.

しかしながら、このような方法では現在要望されている
微細な欠陥(0,5厘程度)を確実に検出することは困
難である。
However, with such a method, it is difficult to reliably detect minute defects (about 0.5 mm) which are currently desired.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明の目的は、取扱いが容易で安価な装置を用いて、
高速かつ確実に検査を行ないうる容器の検査方法を提供
することにある。
The purpose of the present invention is to use an easy-to-handle and inexpensive device to
An object of the present invention is to provide a method for inspecting containers that can be inspected quickly and reliably.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、−次元に限って見た場合、二次元のイメージ
センサ−(固体撮像素子)よりも高い分解能を有する一
次元イメージセンサー(リニアアレー)を採用し、定位
置で容器を回転させ、上記一次元イメージセンサーを走
査することによって信号の組を順次発生させ、容器があ
る回転位置にある時に発生した組の信号と、上記回転位
置と少し異なる別の回転位置にある時に発生した信号の
組とを互いに比較して、欠陥の有無を判定するようにし
たものである。
The present invention employs a one-dimensional image sensor (linear array) that has a higher resolution than a two-dimensional image sensor (solid-state image sensor) when viewed only in the -dimension, and rotates the container in a fixed position. A set of signals is sequentially generated by scanning a one-dimensional image sensor, and a set of signals is generated when the container is at a certain rotational position, and a set of signals is generated when the container is at another rotational position slightly different from the above rotational position. The presence or absence of a defect is determined by comparing these with each other.

〔発明実施例〕[Invention Examples]

第1図は、本発明の検査方法の実施に用いられるシステ
ムを概略的に示したものである。同図において、2は回
転台で、図示しない搬送機構によって搬入された容器、
例えばガラス環1を、その中心軸線を中心として回転さ
せる。3は照明装置で、ランプ4と拡散板5とを有する
。6はカメラで、レンズ7と、一次元イメージセンサー
(例えばCODの如き固体撮像素子)8とを有する。
FIG. 1 schematically shows a system used to carry out the inspection method of the present invention. In the same figure, reference numeral 2 denotes a rotating table, and containers are carried in by a transport mechanism (not shown).
For example, the glass ring 1 is rotated about its central axis. A lighting device 3 includes a lamp 4 and a diffuser plate 5. A camera 6 includes a lens 7 and a one-dimensional image sensor (for example, a solid-state image sensor such as a COD) 8.

照明装N3の拡散板5から出た光は、壜1を通過し、レ
ンズ7により収束されて、イメージセンサ−8上には壜
1の光像の一部即ち第2図(a)に1aで示す部分に対
応する線形の部分が形成されるようになっている。この
像は光の透過量が多い部分で明るく、少ない部分で暗い
もので、壜の縦方向の位置(高さ位置)を縦軸に取り−
、明るさを横軸に取ってグラフを描くと、例えば第2図
(b)に示す如きものとなる。即ち、壜の上端より上で
は、照明(拡散板)からの光が直接イメージセンサ−に
入港されるので、明るさは従って電気信号の大きさは最
大であり、また一定である。
The light emitted from the diffuser plate 5 of the illumination device N3 passes through the bottle 1 and is converged by the lens 7, and a part of the optical image of the bottle 1, ie, 1a in FIG. 2(a), is displayed on the image sensor 8. A linear part corresponding to the part shown by is formed. This image is bright in areas where there is a large amount of light transmitted, and dark in areas where there is little.The vertical axis is the vertical position (height position) of the bottle.
If a graph is drawn with brightness as the horizontal axis, it will be as shown in FIG. 2(b), for example. That is, above the top of the bottle, the light from the illumination (diffusion plate) enters the image sensor directly, so the brightness and therefore the magnitude of the electrical signal are maximum and constant.

壜の口部付近は、形状が複雑であるため、その部分を通
過した光の強さも複雑に変化する。口部から胴部にかけ
てはなだらかに明るさが増し、胴部では大きな変化はな
い。壜の底部では急激に明るさが減少し、壜を載せた台
部では明るさが最低となる。
Since the area around the mouth of the bottle has a complex shape, the intensity of light passing through that area also changes in a complex manner. The brightness gradually increases from the mouth to the body, and there is no major change in the body. The brightness rapidly decreases at the bottom of the bottle, and reaches its lowest level at the base on which the bottle is placed.

CODを用いたイメージセンサ−8は、結像位置に受光
面を有し、直線状に配列された2000〜3000個の
受光素子から成る受光部と、受光素子にそれぞれ対応し
て設けられた複数の蓄積素子から成る蓄積部とを備え、
受光素子により映像の各画素の明るさに応じた量の電荷
が発生され、この電荷が対応する蓄積素子に移しかえら
れた後、順次シフトされて出力されるものである。この
シフトによる信号の順次出力(読出し)は、蓄積素子の
走査による信号の順次出力と等価であるので、以下蓄積
素子からの信号の順次出力を走査ということがある。
The image sensor 8 using COD has a light-receiving surface at the imaging position, a light-receiving section consisting of 2,000 to 3,000 light-receiving elements arranged in a straight line, and a plurality of light-receiving elements provided corresponding to each of the light-receiving elements. and a storage section consisting of a storage element,
An amount of charge corresponding to the brightness of each pixel of the image is generated by the light receiving element, and after this charge is transferred to the corresponding storage element, it is sequentially shifted and output. Since the sequential output (reading) of signals by this shift is equivalent to the sequential output of signals by scanning the storage element, hereinafter the sequential output of signals from the storage element may be referred to as scanning.

壜1を撮像しているイメージセンサ−から順次発生され
る信号の列の信号の大きさを、信号の発生順に(従って
信号発生中の時間の経過に対して)プロットすれば、第
2図(b)の如きグラフが得られる。
If we plot the signal magnitudes of a series of signals sequentially generated from the image sensor that is imaging the bottle 1 in the order in which the signals are generated (therefore, with respect to the elapse of time during signal generation), we get Figure 2 ( A graph like b) is obtained.

第3図はイメージセンサ−8の出力信号を処理する信号
処理系を示したものである。
FIG. 3 shows a signal processing system for processing the output signal of the image sensor 8.

11は増幅回路で、イメージセンサ−8から順次出力さ
れるアナログ画素信号ESを増幅してVSAとする。1
2はA/D (アナログ−ディジタル)変換器で、増幅
されたアナログ画素信号VSAを例えば64レベル(6
ビツト)のディジタル信号に変換する。
Reference numeral 11 denotes an amplifier circuit that amplifies analog pixel signals ES sequentially output from the image sensor 8 into VSA. 1
2 is an A/D (analog-digital) converter which converts the amplified analog pixel signal VSA into, for example, 64 levels (64 levels).
bit) into a digital signal.

上記のうち、カメラ6、増幅回路11およびA/D変換
器12により、壜の直線部分の映像の画素の信号を順次
かつ繰返し発生する画素信号発生装置が構成されている
Of the above, the camera 6, the amplifier circuit 11, and the A/D converter 12 constitute a pixel signal generation device that sequentially and repeatedly generates signals of pixels of an image of a straight line portion of the bottle.

シフトレジスタ13はA/D変換器12から出力される
画素信号を4組分記憶する。ここで、1組の画素信号と
は、イメージセンサ−8を1回走査した時に順次発生さ
れた信号の集まりを意味する。シフトレジスタ13は従
って、4走査前に入力された信号を出力する。
The shift register 13 stores four sets of pixel signals output from the A/D converter 12. Here, one set of pixel signals means a collection of signals sequentially generated when the image sensor 8 is scanned once. The shift register 13 therefore outputs the signal input four scans ago.

減算部14は、シフトレジスタ13の出力とA/D変換
器12の出力の差を求める。言い換えれば、壜が各回転
位置にある時の信号と、それより4走査前の時点におけ
る信号との差を求める。
The subtraction unit 14 calculates the difference between the output of the shift register 13 and the output of the A/D converter 12. In other words, the difference between the signal when the bottle is at each rotational position and the signal at a time four scans earlier is determined.

壜は検査位置でその軸線を中心として回転運動させられ
るので、各回の走査によって得られる信号は、壜がそれ
ぞれ異なる回転位置にある時に壜を通過した光の強さを
表し、これを壜が固定されていると仮定して図示すると
、各回の走査によって得られる信号は第4図(a)のs
o、si。
Since the bottle is rotated about its axis in the inspection position, the signal obtained from each scan represents the intensity of light passing through the bottle when the bottle is in a different rotational position, The signal obtained by each scan is shown as s in Fig. 4(a).
o, si.

82.83.84で示すように、異なる角度で壜壁を通
過した光の強さを表わす。各信号を、4走査前の信号と
比較するということは、第4図(a>では、例えば線S
Oに沿って壜を通過した光の強さを、線S4に沿って壜
を通過した光の強さと比較することを意味する。1回の
走査が行なわれる一間における壜の凹転量を無視しく零
とみなす)、1i1S0.84が壜の表面と交わる点を
つなぐと、第4図(b)に80.84で示す如くとなる
。そして、それぞれの場合に得られる1走査分の信号は
、第4図(c)、(d)に示す如くとなる。図示の例で
は、第4図(b)の線S4上に欠陥りがあり、このため
、第4図(d)にS4Dで示す如く、これに対応する部
分で信号が小さくなっている。
82, 83, and 84 represent the intensity of light passing through the bottle wall at different angles. Comparing each signal with the signal from four scans ago means, for example, the line S
This means comparing the intensity of light passing through the bottle along line O with the intensity of light passing through the bottle along line S4. (The amount of concave rotation of the bottle during one scan period is ignored and is assumed to be zero.) If we connect the points where 1i1S0.84 intersects with the surface of the bottle, we get 80.84 as shown in Fig. 4(b). becomes. The signals for one scan obtained in each case are as shown in FIGS. 4(c) and 4(d). In the illustrated example, there is a defect on the line S4 in FIG. 4(b), and therefore the signal is small in the corresponding portion, as shown by S4D in FIG. 4(d).

各信号を、4走査前の信号と比較するということはまた
、イメージセンサ−の同じ受光素子によって受光された
光の強さ同士を、従って壜の同じ高さ位置の信号同士を
比較することを意味する。
Comparing each signal with the signal from four scans ago also means comparing the intensities of light received by the same light-receiving element of the image sensor, and therefore the signals at the same height position on the bottle. means.

前述のように、壜を通過する光の強さは、壜の高さ方向
のそれぞれの部分によって異なるが、それによる差異は
、同じ高さ同士の信号を比較することによって打消され
、壜に欠陥がある場合(ただし欠陥が小さく、一方の線
、例えばS4上にあって、他方のmso上にはない場合
)にのみ、両信号の差が大きくなる。
As mentioned above, the intensity of light passing through a bottle differs depending on the height of the bottle, but this difference can be canceled out by comparing signals at the same height, and it is possible to detect defects in the bottle. Only if the defect is small and is on one line, e.g. S4 and not on the other mso, will the difference between the two signals be large.

比較部15は、減算部14の出力と設定部16に予め設
定された信号の大きさを比較し、減算部14の出力の方
が大きければ、信号15a1発生する。この場合、減算
部14の出力の方が一度でも大きければ信号を出すこと
としてもよく、また減算部14の出力の方が大きいとい
う判断が1回の走査中に所定回数以上なされたときに信
号15aを出すこととしてもよく、また減算部14の出
力の方が大きいという判断が1回の走査中に所定回数以
上連続してなされたときに信号15aを出すこととして
もよい。該信号15aは、排除指令信号として排除装置
10に与えられる。排除装置10は、この信号を受けて
検査された壜を排除する。
The comparing section 15 compares the magnitude of the output of the subtracting section 14 and the signal preset in the setting section 16, and if the output of the subtracting section 14 is larger, a signal 15a1 is generated. In this case, a signal may be output if the output of the subtraction unit 14 is larger even once, and a signal may be output when it is determined that the output of the subtraction unit 14 is larger at least a predetermined number of times during one scan. The signal 15a may be outputted, or the signal 15a may be outputted when the determination that the output of the subtraction unit 14 is larger is made consecutively at least a predetermined number of times during one scan. The signal 15a is given to the exclusion device 10 as an exclusion command signal. The rejecting device 10 receives this signal and rejects the inspected bottle.

尚上記の実施例では、各信号を4走査前の信号と比較す
ることとしているが、何走査前の信号と比較するかは検
出しようとする欠陥の大きさや壜の回転速度等に応じて
変えうる。また、各信号を、複数の他の信号、例えば4
走査前のみならず3走査前、あるいは5走査前の信号と
比較し、これらの比較結果を総合して(例えば論理和、
論理積、これらの組合せ)、それに基いて欠陥の有無を
判断することとしてもよい。
In the above embodiment, each signal is compared with the signal from four scans ago, but the number of scans before the signal to be compared can be changed depending on the size of the defect to be detected, the rotational speed of the bottle, etc. sell. Also, each signal may be replaced by a plurality of other signals, e.g.
Compare not only the signals before scanning but also the signals before 3 or 5 scanning, and synthesize these comparison results (for example, logical OR,
The presence or absence of a defect may be determined based on logical product (logical product, combination of these).

また、信号の差を求める代りに、比を求め、その比が所
定値以上かどうかの判断の結果に基いて、欠陥の有無を
検出することとしてもよい。
Furthermore, instead of determining the difference between the signals, a ratio may be determined, and the presence or absence of a defect may be detected based on the result of determining whether the ratio is greater than or equal to a predetermined value.

第5図は、信号処理系の他の例を示したものである。こ
の例は、第3図の例と比べて、シフトレジスタ17およ
び減算部18が挿入されている点で異なる。シフトレジ
スタ17は、A/D変換器12から出力される画素信号
を数画素分、例えば5画素分記憶するもので、シフトレ
ジスタ17の出力は、”A/D変換器12の出力の5画
素前のものである。減算部18は、シフトレジスタ17
の出力とA/D変換器12の出力との差を求めるもので
、このように差分を求めることにより、微分と同様の操
作を行なったことになる。
FIG. 5 shows another example of the signal processing system. This example differs from the example shown in FIG. 3 in that a shift register 17 and a subtraction section 18 are inserted. The shift register 17 stores the pixel signal output from the A/D converter 12 for several pixels, for example, 5 pixels. The subtraction unit 18 is the previous one.
The purpose is to find the difference between the output of the A/D converter 12 and the output of the A/D converter 12. By finding the difference in this way, an operation similar to differentiation is performed.

シフトレジスタ13および減算部14は、A/D変換器
12の出力の代りに減算部18の出力を受ける。従って
、減算部14では、各走査における画素信号の微分信号
と、それより所定数例えば4走査前の画素信号の微分信
号との差を求めることとなり、比較部15では、微分信
号同士の差が設定値より大きいかどうかによって欠陥の
有無を判定することとなる。
Shift register 13 and subtraction section 14 receive the output of subtraction section 18 instead of the output of A/D converter 12. Therefore, the subtraction unit 14 calculates the difference between the differential signal of the pixel signal in each scan and the differential signal of the pixel signal a predetermined number of scans earlier, for example, 4 scans, and the comparison unit 15 calculates the difference between the differential signals. The presence or absence of a defect is determined based on whether the value is larger than a set value.

このように、微分信号同士を比較するのは次の理由によ
る。即ち、壜の成形には2つ割の金型を使用するため、
成形された壜に第6図(a)に一連のrXJ印で示す如
く、継ぎ目が生ずる。これは壜胴部に強く現われる傾向
があり、この部分を通過した光による信号は、(第6図
(b)にXで示す)は、通常の(継ぎ1以外の)部分を
通過した光による信号(第6図(b)にSで示す)に比
べ小さくなる。従って、第3図の回路で信号の処理をす
ると、壜が欠陥と判断されてしまうおそれがある。一方
、継ぎ目による影響は1走査分の信号の全体に対して一
定ないし、少しずつ変化するのみであるから、微分信号
(第6図(C)にdXで示す)は、通常の部分のそれ(
第6図(C)にdsで示す)とあまり変らない。従って
、両者の差は小さく、継ぎ目のために壜が欠陥であると
判断されるおそれがなくなる。
The reason for comparing the differential signals in this way is as follows. In other words, since a two-piece mold is used to form the bottle,
A seam appears in the formed bottle, as shown by a series of rXJ marks in FIG. 6(a). This tends to appear strongly in the body of the bottle, and the signal due to light passing through this area (indicated by It is smaller than the signal (indicated by S in FIG. 6(b)). Therefore, if the signal is processed by the circuit shown in FIG. 3, there is a risk that the bottle will be determined to be defective. On the other hand, since the influence of the seam is not constant for the entire signal for one scan and only changes little by little, the differential signal (indicated by dX in Fig. 6(C)) is different from that of the normal part (
(shown as ds in FIG. 6(C)). Therefore, the difference between the two is small, and there is no possibility that the bottle will be judged as defective due to the seam.

尚上記の実施例では、イメージセンサ−8からの信号を
ディジタル信号に変換した後、ディジタル型のレジスタ
に記憶させているが、アナログ型のレジスタ(例えば抵
抗とコンデンサの組合せを含むもの)を用いることもで
きる。
In the above embodiment, the signal from the image sensor 8 is converted into a digital signal and then stored in a digital register, but an analog register (for example, one containing a combination of a resistor and a capacitor) is used. You can also do that.

また、上記のように数組(実施例で4組)の信号を記憶
するレジスタを用いる代りに、記憶容量の大きい、例え
ば壜の全周にわたってのデータを記憶し得る記憶装置(
アドレス指定によってデータの書き込み、読み出しがで
きるもの)を用いることもできる。このようにすれば、
同じ回転位置のデータを、何度か繰返して利用できる。
Also, instead of using registers that store several sets of signals (four sets in the example) as described above, a storage device with a large storage capacity, for example, that can store data over the entire circumference of the bottle (
It is also possible to use a device in which data can be written or read by specifying an address. If you do this,
Data for the same rotational position can be used repeatedly.

例えば、イメージセンサ−からの信号の大きさ同士を比
較するのみならず、その微分信号同士を比較するような
場合や、互いにある走査回数(例えば4走査)異なる回
転位置のデータ同士を比較するだけでなく、互いにそれ
とは別の走査回数(例えば5走査)異なる回転位置のデ
ータ同士を比較する場合、同じ回転位置のデータが繰返
して使用されるので、上記のような記憶装置を用いると
便利である。
For example, you may want to compare not only the magnitudes of signals from image sensors, but also their differential signals, or just compare data at rotational positions that differ by a certain number of scans (for example, 4 scans). However, when comparing data at different rotational positions with a different number of scans (for example, 5 scans), the data at the same rotational position will be used repeatedly, so it is convenient to use the above storage device. be.

第7図は、本発明の他の実施例を示したものである。こ
の実施例のカメラ6′は、一次元イメージセンサー8の
ほかに、二次元イメージセンサ−31を内蔵し、レンズ
7を通過した光はハーフミラ−32によって、一次元イ
メージセンサー8と二次元イメージセンサ−31とに分
けられる。〒次元イメージセンサー8の出力は第1図お
よび第3図または第5図の実施例と同様の信号処理系9
に導かれ同様の処理を受ける。
FIG. 7 shows another embodiment of the invention. The camera 6' of this embodiment has a built-in two-dimensional image sensor 31 in addition to the one-dimensional image sensor 8, and the light passing through the lens 7 is transmitted between the one-dimensional image sensor 8 and the two-dimensional image sensor by a half mirror 32. -31. The output of the dimensional image sensor 8 is processed by a signal processing system 9 similar to the embodiment shown in FIGS. 1 and 3 or 5.
and undergo similar treatment.

二次元イメージセンサ−31は横方向に400〜500
程度、縦方向に300〜400程度の受光素子がマトリ
ックス状に配列されたもので、壜全体の映像(第8図に
示す)がその受光面に結像され得るもので、二次元イメ
ージセンサ−31の出力は増幅器32を介してモニター
テレビ33に供給される。同期信号発生器34は、イメ
ージセンサ−8,31および信号処理系9の動作を同期
させるものである。検査ゲート設定器35は、壜の形状
と検査条件に従って検査領域の上限および下限を設定す
るもので、モニターテレビ33の表示画面上には検査ゲ
ートマーカー(第8図に、壜1Aに対し33a、33b
で、壜1Bに対し33c、33bで示す)として表われ
る。
The two-dimensional image sensor 31 has 400 to 500 pixels in the horizontal direction.
About 300 to 400 light-receiving elements are arranged in a matrix in the vertical direction, and an image of the entire bottle (shown in Figure 8) can be imaged on the light-receiving surface. The output of 31 is supplied to a monitor television 33 via an amplifier 32. The synchronization signal generator 34 synchronizes the operations of the image sensors 8 and 31 and the signal processing system 9. The inspection gate setting device 35 sets the upper and lower limits of the inspection area according to the shape of the bottle and the inspection conditions.Inspection gate markers (33a, 33a for bottle 1A in FIG. 8, 33b
33c and 33b for bottle 1B).

一次元イメージセンサーのみを組込んだカメラでは、位
置合わせ(上下、左右)やレンズまでの距離(焦点)合
わせをするために、オシロスコープ等の測定器を用いる
必要があり、これが被検金製の種類、形状に変更がある
度に必要となるため、走査が煩雑である。これに対して
、上記のように二次元イメージセンサ−31をも組込ん
だカメラを用いれば、位置合わせや焦点合わせのみなら
ず、検査ゲート設定も容易となり、検査の準備が迅速か
つ簡単に行い得る。
Cameras that only incorporate a one-dimensional image sensor require the use of measuring instruments such as an oscilloscope to align the position (up and down, left and right) and the distance to the lens (focus). Scanning is complicated because it is required every time there is a change in type or shape. On the other hand, if you use a camera that also incorporates the two-dimensional image sensor 31 as described above, it will be easy to not only align and focus, but also set the inspection gate, making preparations for inspection quick and easy. obtain.

尚、二次元イメージセンサ−を組込んだ場合にも、一次
元イメージセンサー8で検査を行なうのは、一次元イメ
ージセンサーの方が分解能が高くまた1回の走査に要す
る時間が短いからである。
Note that even when a two-dimensional image sensor is installed, the inspection is performed using the one-dimensional image sensor 8 because the one-dimensional image sensor has higher resolution and takes less time for one scan. .

即ち、上記のように、一次元イメージセンサーとしては
、受光素子が2000〜3000程度配列されたものが
あるが、一方二次元イメージセンサーとしては横方向に
400〜500、縦方向に300〜400程度マトリッ
クス状に配列されたものが用いられているのが現状であ
り、一方向の分解能は一次元イメージセンサーの方が4
〜7倍程度高い。また、二次元イメージセンサ−の全受
光素子数は12〜20万個程度となるので、一画面分走
査するのに要する時間は40〜100倍程度である。従
って、高速回転している壜の検査には、高速性の点で一
次元イメージセンサーの方が有利である。このような理
由により、第7図の実施例では一次元イメージセンサー
と二次元イメージセンサ−を組合せることとしているの
である。
That is, as mentioned above, some one-dimensional image sensors have about 2,000 to 3,000 light receiving elements arranged, while two-dimensional image sensors have about 400 to 500 light receiving elements arranged in the horizontal direction and 300 to 400 in the vertical direction. Currently, one-dimensional image sensors are used that are arranged in a matrix, and one-dimensional image sensors have a resolution of 4.
~7 times higher. Further, since the total number of light receiving elements of a two-dimensional image sensor is about 120,000 to 200,000, the time required to scan one screen is about 40 to 100 times longer. Therefore, for inspecting bottles that are rotating at high speed, a one-dimensional image sensor is more advantageous in terms of high speed. For this reason, the embodiment shown in FIG. 7 uses a combination of a one-dimensional image sensor and a two-dimensional image sensor.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように本発明によれば、一次元イメージセンサー
を用い、容器をその軸線が一次元イメージセンサーの長
手方向に並行でかつ固定した状態にして回転させ、容器
がある回転位置にある時にイメージセンサ−°から得ら
れる信号を、容器が上記回転位置と少し異なる回転位置
にある時にイメージセンサ−から得られる信号とを比較
し、この比較結果に基いて、欠陥の有無を判定すること
としているので、走査速度および検査精度を著しく向上
させることができる。
As described above, according to the present invention, a one-dimensional image sensor is used to rotate a container with its axis parallel to the longitudinal direction of the one-dimensional image sensor and fixed, and when the container is at a certain rotational position, an image is generated. The signal obtained from the sensor ° is compared with the signal obtained from the image sensor when the container is at a rotational position slightly different from the above rotational position, and based on the results of this comparison, the presence or absence of defects is determined. Therefore, scanning speed and inspection accuracy can be significantly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明一実施例の検査方法の実施に用い得る装
置を示す概略図、第2図(a)は壜の光像の線形の部分
に対応する部分を示す図、第2図(b)は第2図(a)
に示す部分の明るさを示す図、第3図は信号処理系の一
例を示すブロック図、第4図(a)は壜を異なる角度で
通過する光線を示す図、第4図(b)は第4図(a)の
光線のうち2つと、壜の表面とが交わる点をつないだ線
を示す図、第4図(c)および(d)は第4図(b)の
線So、84の部分にそれぞれ対応する像の明るさを示
す図、第5図は信号処理系の他の例を示すブロック図、
第6図(a)は壜の継ぎ目に第4図(b)の線S4が重
なった状態を示す図、第6図(b)は第6図(a)の場
合の線So、84の部分にそれぞれ対応する像の明るさ
を示す図、第6図(C)は第6図(b)の明るさを走査
方向に沿って微分した値を示す図、第7図は本発明の他
の実施例の検査方法の実施に用い得る装置を示す概略図
、第8図は第7図のモニターテレビの映像の一例を示し
た図である。 1・・・壜、2・・・回転台、3・・・照明装置、6・
・・カメラ、8・・・一次元イメージセンサー,9・・
・信号処理系、10・・・排除装置、11・・・増幅回
路、12・・・A/D変換器、13.17・・・シフト
レジスタ、14.18・・・減算部、15・・・比較部
、16・・・設定部。 出願人代理人  猪  股    清 (α)(b) 一一一−明るさ 第3図 70へ 第4図 (α) 第5図
FIG. 1 is a schematic diagram showing an apparatus that can be used to carry out the inspection method according to an embodiment of the present invention, FIG. b) is Fig. 2(a)
3 is a block diagram showing an example of a signal processing system, FIG. 4(a) is a diagram showing light rays passing through the bottle at different angles, and FIG. 4(b) is a diagram showing the brightness of the part shown in . Figure 4(c) and (d) are the lines So and 84 in Figure 4(b). FIG. 5 is a block diagram showing another example of the signal processing system.
Fig. 6(a) is a diagram showing a state in which line S4 in Fig. 4(b) overlaps the seam of the bottle, and Fig. 6(b) is a portion of line So, 84 in the case of Fig. 6(a). FIG. 6(C) is a diagram showing the value obtained by differentiating the brightness of FIG. 6(b) along the scanning direction, and FIG. 7 is a diagram showing the brightness of the image corresponding to FIG. 8 is a schematic diagram showing an apparatus that can be used to carry out the inspection method of the embodiment. FIG. 8 is a diagram showing an example of the image of the monitor television shown in FIG. 1... Bottle, 2... Turntable, 3... Lighting device, 6...
...Camera, 8...One-dimensional image sensor, 9...
-Signal processing system, 10...Exclusion device, 11...Amplification circuit, 12...A/D converter, 13.17...Shift register, 14.18...Subtraction unit, 15... - Comparison section, 16...setting section. Applicant's agent Kiyoshi Inomata (α) (b) 111-Brightness Figure 3 To 70 Figure 4 (α) Figure 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、一次元イメージセンサーの近傍の検査位置に容器を
搬入し、該容器の軸線を上記イメージセンサーの長手方
向に並行にして固定した状態で該容器を上記軸線を中心
にして回転させながら、該容器を照明し、該容器の光像
を上記イメージセンサー上に形成させ、上記イメージセ
ンサーを走査することによつて1組の信号を得、該走査
を繰返すことにより信号の組を順次発生させ、1組の信
号と、該1組の信号が得られた時の容器の回転位置より
も少しだけ回転した異なる回転位置の時に得られた他の
組の信号とを互いに比較し、この比較結果に基いて容器
の欠陥の有無を判定することを特徴とする透明または半
透明の容器の検査方法。 2、特許請求の範囲第1項の方法において、イメージセ
ンサーをその一端から他端に走査する間に発生される信
号を微分することにより上記1組の信号を得ることを特
徴とする方法。 3、特許請求の範囲第1項記載の方法において、上記一
次元イメージセンサーとともに二次元イメージセンサー
を用い、これによりモニター用画像を生じさせることを
特徴とする方法。
[Claims] 1. A container is brought to an inspection position near the one-dimensional image sensor, and with the axis of the container fixed parallel to the longitudinal direction of the image sensor, the container is centered around the axis. While rotating, the container is illuminated, an optical image of the container is formed on the image sensor, a set of signals is obtained by scanning the image sensor, and a set of signals is obtained by repeating the scanning. The sets of signals are sequentially generated, and one set of signals is compared with another set of signals obtained at a different rotational position slightly rotated from the rotational position of the container at the time when the one set of signals was obtained. and determining the presence or absence of a defect in the container based on the comparison result. 2. The method of claim 1, characterized in that the set of signals is obtained by differentiating the signals generated while scanning the image sensor from one end to the other. 3. A method according to claim 1, characterized in that a two-dimensional image sensor is used together with the one-dimensional image sensor to generate a monitor image.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63182556A (en) * 1987-01-26 1988-07-27 Suntory Ltd Method and device for optical inspection of bottle or the like
EP0293510A2 (en) * 1987-06-04 1988-12-07 Kabushiki Kaisha Kirin Techno System Apparatus for inspecting side-wall of bottle
JPS6475940A (en) * 1987-09-18 1989-03-22 Dainippon Printing Co Ltd Method for measuring transparency of container made of synthetic resin
JPH01107140A (en) * 1987-07-21 1989-04-25 Emhart Ind Inc Leakage inspector for product
WO2008129650A1 (en) * 2007-04-13 2008-10-30 Toyo Glass Co., Ltd. Container mouth portion defect inspection method and device
WO2009025038A1 (en) * 2007-08-22 2009-02-26 Toyo Glass Co., Ltd. Method and device for inspecting defect of side face at mouth of container

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4871694A (en) * 1971-12-28 1973-09-27
JPS50112089A (en) * 1974-02-12 1975-09-03
JPS50137181A (en) * 1974-04-17 1975-10-31
JPS57137844A (en) * 1981-02-20 1982-08-25 Kirin Brewery Co Ltd Detector for defect

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4871694A (en) * 1971-12-28 1973-09-27
JPS50112089A (en) * 1974-02-12 1975-09-03
JPS50137181A (en) * 1974-04-17 1975-10-31
JPS57137844A (en) * 1981-02-20 1982-08-25 Kirin Brewery Co Ltd Detector for defect

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63182556A (en) * 1987-01-26 1988-07-27 Suntory Ltd Method and device for optical inspection of bottle or the like
EP0293510A2 (en) * 1987-06-04 1988-12-07 Kabushiki Kaisha Kirin Techno System Apparatus for inspecting side-wall of bottle
JPH01107140A (en) * 1987-07-21 1989-04-25 Emhart Ind Inc Leakage inspector for product
JPS6475940A (en) * 1987-09-18 1989-03-22 Dainippon Printing Co Ltd Method for measuring transparency of container made of synthetic resin
WO2008129650A1 (en) * 2007-04-13 2008-10-30 Toyo Glass Co., Ltd. Container mouth portion defect inspection method and device
JPWO2008129650A1 (en) * 2007-04-13 2010-07-22 東洋ガラス株式会社 Container mouth defect inspection method and apparatus
JP4667457B2 (en) * 2007-04-13 2011-04-13 東洋ガラス株式会社 Container mouth defect inspection method and apparatus
KR101108490B1 (en) 2007-04-13 2012-01-31 도요 가라스 가부시키가이샤 Container mouth portion defect inspection method and device
WO2009025038A1 (en) * 2007-08-22 2009-02-26 Toyo Glass Co., Ltd. Method and device for inspecting defect of side face at mouth of container
JPWO2009025038A1 (en) * 2007-08-22 2010-11-18 東洋ガラス株式会社 Container mouth side defect inspection method and apparatus
JP4676500B2 (en) * 2007-08-22 2011-04-27 東洋ガラス株式会社 Container mouth side defect inspection method and apparatus

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