KR20190016368A - Inspection method for edge of flat panel display and recording medium - Google Patents

Inspection method for edge of flat panel display and recording medium Download PDF

Info

Publication number
KR20190016368A
KR20190016368A KR1020170100518A KR20170100518A KR20190016368A KR 20190016368 A KR20190016368 A KR 20190016368A KR 1020170100518 A KR1020170100518 A KR 1020170100518A KR 20170100518 A KR20170100518 A KR 20170100518A KR 20190016368 A KR20190016368 A KR 20190016368A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
edge
flat panel
panel display
image
display panel
Prior art date
Application number
KR1020170100518A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
한복길
Original Assignee
주식회사 비에프테크
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 비에프테크 filed Critical 주식회사 비에프테크
Priority to KR1020170100518A priority Critical patent/KR20190016368A/en
Publication of KR20190016368A publication Critical patent/KR20190016368A/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00—Function characteristic
    • G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device

Abstract

The present invention relates to an inspection method for an edge of a flat panel display and a recording medium. More specifically, the present invention comprises the following: a step (1) of obtaining an edge image obtained by photographing an edge of a flat panel display and a good edge image obtained by photographing an edge of a flat panel display in a good condition; a step (2) of matching the edge image obtained in the step (1) with the good edge image obtained in the step (1); a step (3) of comparing the edge image with the good edge image which are matched in the step (2) to detect a defect on the edge of the flat panel display; and a step (4) of determining that the flat panel display is a good product if no defect is detected in the step (3), and determining that the flat panel display is a defective product, if a defect is detected in the step (3). According to the inspection method for an edge of a flat panel display and the recording medium of the present invention, the image of the flat panel display is acquired and matched and contrasted with the image of the flat panel display in the good condition such that the edge of various types of flat panel displays can be accurately inspected irrespective of the shape of the flat panel display. Also, according to the inspection method for an edge of a flat panel display and the recording medium of the present invention, it is possible to shorten the time required for inspecting the edge defects of the flat panel display and improve the accuracy of the defect detection by improving the matching rate in the image matching of the image of the flat panel display and the image of the flat panel display in the good condition.

Description

평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법 및 기록매체{INSPECTION METHOD FOR EDGE OF FLAT PANEL DISPLAY AND RECORDING MEDIUM}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a method of inspecting an edge of a flat panel display panel,

본 발명은 평판 디스플레이 패널의 검사 방법 및 기록매체에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 모든 엣지면을 검사할 수 있는 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법 및 기록매체에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a flat panel display panel inspection method and a recording medium, and more particularly, to a flat panel display panel edge inspection method and recording medium capable of inspecting all edge surfaces.

평판 디스플레이 패널(Flat Panel Display)은 다양한 전자기기에서 전자 콘텐츠를 볼 수 있도록 하는 디스플레이 장치이다. 이러한 평판 디스플레이 패널은 얇고 가벼우며, 소비전력이 낮은 장점으로 인해 휴대성이 필요한 모바일 디바이스 등에 널리 사용되고 있다.
A flat panel display (FPD) is a display device that allows electronic contents to be viewed in various electronic devices. Such flat panel display panels are widely used for mobile devices requiring portability because of their thinness and light weight and low power consumption.

도 1은 평판 디스플레이 패널이 절단된 모습을 도시한 도면이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 일반적으로 평판 디스플레이 패널은 원판 유리에서 평판 디스플레이 패널이 사용되는 제품에 따라 필요한 크기나 형태로 절단되어 사용된다. 그러나 원판 유리를 절단하는 경우, 절단 공정상의 문제로 인해 평판 디스플레이 패널의 불량 여부를 확인하는 검사가 필요하다. 즉, 절단 공정 후 평판 디스플레이 패널에 압흔, 긁힘 및 돌기 등의 불량이 있는지 여부를 정밀하게 검사하는 것이 필수적이다. 만약 평판 디스플레이 패널에 대한 검사를 하지 않는다면, 다음 공정에서 불량이 발생하거나 제품 출고 후 해당 평판 디스플레이 패널이 사용된 제품 전체가 불량으로 처리될 수 있으므로 전체적인 생산 비용이 증가한다. 따라서 평판 디스플레이 패널 검사는 평판 디스플레이 패널의 생산 공정에서 매우 중요하다.
1 is a view showing a state in which a flat panel display panel is cut. As shown in FIG. 1, generally, a flat panel display panel is cut and used in a necessary size or shape according to a product in which a flat panel display panel is used in a disk glass. However, when cutting the original glass, it is necessary to inspect whether the flat display panel is defective due to a problem in the cutting process. That is, it is necessary to precisely check whether there is any defect such as indentation, scratching, protrusion or the like on the flat panel display panel after the cutting process. If the flat panel display panel is not inspected, defects may occur in the next process, or the entire product using the flat panel display panel may be treated as defective after the product is shipped, thereby increasing the overall production cost. Therefore, inspection of flat panel display panels is very important in the production process of flat panel display panels.

특히, 평판 디스플레이 패널의 엣지면은 별도의 연마 공정이 필요하므로, 엣지면을 연마한 후 검사를 통한 양품 분류가 필요하다. 종래의 평판 디스플레이의 엣지면 검사 장치는 인풋 컨베이어에 평판 디스플레이 패널을 로딩한 후, 검사 모듈의 테이블로 전달한 다음, 한 쌍의 검사 모듈을 통해 평판 디스플레이 패널의 엣지면을 검사했다. 보다 구체적으로, 한 쌍의 검사 모듈의 이격 거리를 조절하여 먼저 평판 디스플레이 패널의 장변의 엣지면을 검사하고, 평판 디스플레이 패널을 90° 회전시켜 단변의 엣지면을 검사했다. 그러나 이러한 검사 방식은 평판 디스플레이 패널을 회전시켜 검사를 해야 하기 때문에 많은 시간이 소요되고, 검사 과정에서 평판 디스플레이 패널이 손상될 우려가 있었다.
Particularly, since the edge surface of the flat panel display panel requires a separate polishing process, it is necessary to sort the surface of the flat surface display panel by inspection after polishing the edge surface. Conventionally, an edge surface inspection apparatus of a flat panel display loads a flat panel display panel on an input conveyor, and then transfers the flat panel display panel to a table of the inspection module. Then, the edge surface of the flat panel display panel is inspected through a pair of inspection modules. More specifically, the edges of the long side of the flat panel display panel were first inspected by adjusting the spacing distance of the pair of inspection modules, and the flat panel display panel was rotated by 90 degrees to examine the edge surface of the short side. However, such an inspection method requires a long period of time since the flat panel display panel must be rotated and inspected, and the flat panel display panel may be damaged during the inspection.

도 2는 종래의 평판 디스플레이 패널의 검사 소프트웨어의 알고리즘에 대한 순서도를 도시한 도면이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 카메라를 통해 평판 디스플레이 패널의 엣지면을 촬영하여 불량 여부를 검사하는 소프트웨어가 제안된 바 있다. 이러한 검사 소프트웨어는 평판 디스플레이 패널의 엣지면에 대한 이미지를 취득하여 비교함으로써, 검사 과정에서 평판 디스플레이 패널이 손상되는 문제를 해결할 수 있었다. 그러나 평판 디스플레의 엣지면에 대한 이미지를 양품 평판 디스플레이 이미지와 매칭하여 불량 여부를 판단할 경우, 각각의 이미지간의 매칭율이 떨어지는 문제점이 있었다. 또한, 종래의 검사 소프트웨어는 검사 항목(Burr, Chipping, Crack, Broken, Scratch 등)을 순서대로 검사하는 방식으로, 지정되지 않은 항목에 대해서는 검사를 할 수 없고, 추가적인 항목을 검사하기 위해서는 소프트웨어를 새로 개발해야 하는 문제점이 있었다.
2 is a flowchart showing an algorithm of an inspection software of a conventional flat panel display panel. As shown in FIG. 2, software has been proposed for photographing an edge surface of a flat panel display panel through a camera to check whether the edge surface is defective. This inspection software can solve the problem of damaging the flat panel display panel in the inspection process by acquiring and comparing images of the edge surface of the flat panel display panel. However, when the image of the edge of the flat panel display is matched with the flat panel display image to determine whether the image is defective, there is a problem that the matching rate between the images is deteriorated. In addition, the conventional inspection software is a method of inspecting inspection items (Burr, Chipping, Crack, Broken, Scratch, etc.) in order. Unchecked items can not be inspected. There was a problem to be developed.

관련된 선행 기술로서, 대한민국 등록특허 제10-0789658호 ‘LCD 판넬 검사장치’ 등이 제안된 바 있다.As related prior art, Korean Patent No. 10-0789658 entitled " LCD panel inspection apparatus " has been proposed.

본 발명은 기존에 제안된 방법들의 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 평판 디스플레이 패널의 이미지를 취득하여 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 이미지와 매칭시켜 대조함으로써, 평판 디스플레이 패널의 형태와 무관하게 여러 형태의 평판 디스플레이 패널의 엣지면을 정확하게 검사할 수 있는, 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법 및 기록매체를 제공하는 것을 목적으로 한다.
The present invention has been proposed in order to solve the above-mentioned problems of the previously proposed methods, and it is an object of the present invention to provide a flat panel display panel which can acquire an image of a flat panel display panel, And an object of the present invention is to provide a method and an apparatus for inspecting an edge surface of a flat panel display panel that can accurately inspect edge surfaces of various types of flat panel display panels.

또한, 본 발명은, 평판 디스플레이 패널의 이미지와 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 이미지 매칭 시 매칭율을 향상시킴으로써, 평판 디스플레이의 엣지면 불량을 검사하는데 소요되는 시간을 단축시키고, 불량 검출의 정확도를 향상시킬 수 있는, 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법 및 기록매체를 제공하는 것을 목적으로 한다.Further, the present invention improves the matching rate in image matching between the image of the flat panel display panel and the flat panel display panel in the good condition, thereby shortening the time required to check the edge surface defect of the flat panel display and improving the accuracy of the defect detection And an object of the present invention is to provide a method of inspecting an edge of a flat panel display panel and a recording medium.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법은,According to an aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting an edge of a flat panel display panel,

(1) 평판 디스플레이 패널의 엣지면이 촬영된 엣지면 이미지 및 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 엣지면이 촬영된 양품 엣지면 이미지가 취득되는 단계;(1) an edge image obtained by photographing an edge surface of a flat panel display panel and a good edge image obtained by photographing an edge surface of a flat panel display panel in a good condition are obtained;

(2) 상기 단계 (1)에서 취득된 엣지면 이미지가 상기 단계 (1)에서 취득된 양품 엣지면 이미지와 매칭되는 단계;(2) matching the edge image obtained in the step (1) with the image of the good edge image obtained in the step (1);

(3) 상기 단계 (2)에서 매칭된 엣지면 이미지와 양품 엣지면 이미지를 대조하여 상기 평판 디스플레이 패널의 엣지면에 대한 불량이 검출되는 단계; 및(3) comparing the matched edge image and the good edge image in step (2) to detect a defect on the edge surface of the flat panel display panel; And

(4) 상기 단계 (3)에서 불량이 검출되지 않는 경우, 상기 평판 디스플레이 패널이 양품으로 판정되고, 상기 단계 (3)에서 불량이 검출되는 경우, 상기 평판 디스플레이 패널이 불량품으로 판정되는 단계를 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.
(4) when the defective is not detected in the step (3), the flat panel display panel is judged as defective, and when the defective is detected in the step (3), the flat panel display panel is judged as defective As a feature of the configuration.

바람직하게는, 상기 단계 (1)은,Preferably, the step (1)

광축이 상기 평판 디스플레이 패널 및 양품 상태의 평판 디스플레이 패널과 수직하는 카메라에 의해 엣지면 이미지 및 양품 엣지면 이미지가 취득될 수 있다.
An edge plane image and a good-quality edge plane image can be obtained by a camera whose optical axis is perpendicular to the flat panel display panel and the flat panel display panel in the good condition.

더욱 바람직하게는, 상기 단계 (1)은,More preferably, the step (1)

상기 평판 디스플레이 패널 및 상기 양품 상태의 평판 디스플레이 패널을 회전시켜 모든 엣지면에 대한 엣지면 이미지가 취득될 수 있다.
The flat surface display panel and the flat panel display panel in the good condition can be rotated to obtain an edge surface image for all the edge surfaces.

바람직하게는, 상기 단계 (2)는,Preferably, the step (2)

(2-1) 상기 엣지면 이미지의 밝기 평균값이 상기 양품 엣지면 이미지의 밝기 평균값으로 조정되는 단계를 포함할 수 있다.
(2-1) the average brightness value of the edge plane image is adjusted to the brightness average value of the good edge plane image.

더욱 바람직하게는, 상기 단계 (2)는,More preferably, the step (2)

(2-2) 상기 단계 (2-1)에서 조정된 엣지면 이미지가 상기 양품 엣지면 이미지와 매칭되는 단계를 더 포함할 수 있다.
(2-2) In the step (2-1), the adjusted edge surface image may be matched with the good edge image.

바람직하게는, 상기 단계 (3)은,Preferably, the step (3)

상기 단계 (2)에서 매칭된 엣지면 이미지와 양품 엣지면 이미지의 픽셀에 대한 차이값이 미리 정해진 허용 오차를 초과하는 경우를 평판 디스플레이 패널의 엣지면에 대한 불량으로 판단할 수 있다.
If the difference between the matched edge image and the good edge image image in the step (2) exceeds a predetermined tolerance, it can be determined as a defect with respect to the edge surface of the flat panel display panel.

또한, 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 기록매체는,According to another aspect of the present invention, there is provided a recording medium for an edge surface inspection of a flat panel display panel,

상기 단계 (1) 내지 단계 (4)의 적어도 어느 하나의 단계를 실행하는 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체인 것을 그 구성상의 특징으로 한다.Readable recording medium for executing at least any one of the steps (1) to (4) above.

본 발명에서 제안하고 있는 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법 및 기록매체에 따르면, 평판 디스플레이 패널의 이미지를 취득하여 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 이미지와 매칭시켜 대조함으로써, 평판 디스플레이 패널의 형태와 무관하게 여러 형태의 평판 디스플레이 패널의 엣지면을 정확하게 검사할 수 있다.
According to the edge surface inspection method and recording medium of the flat panel display panel proposed in the present invention, the image of the flat panel display panel is acquired and matched with the image of the flat panel display panel in the good condition, The edge surfaces of various types of flat panel display panels can be accurately inspected.

또한, 본 발명에서 제안하고 있는 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법 및 기록매체에 따르면, 평판 디스플레이 패널의 이미지와 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 이미지 매칭 시 매칭율을 향상시킴으로써, 평판 디스플레이의 엣지면 불량을 검사하는데 소요되는 시간을 단축시키고, 불량 검출의 정확도를 향상시킬 수 있다.According to the edge surface inspection method and recording medium of the flat panel display panel proposed in the present invention, by improving the matching rate in image matching of the image of the flat panel display panel and the flat panel display panel in the good condition, It is possible to shorten the time required for inspecting the defect and improve the accuracy of defect detection.

도 1은 평판 디스플레이 패널이 절단된 모습을 도시한 도면.
도 2는 종래의 평판 디스플레이 패널의 검사 소프트웨어의 알고리즘에 대한 순서도를 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법이 수행되는 알고리즘을 도시한 도면.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법의 구성을 도시한 도면.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법에서 엣지면 이미지가 취득되는 모습을 도시한 도면.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법에서 단계 S200의 구성을 도시한 도면.1 is a view showing a state in which a flat panel display panel is cut.
2 is a flowchart showing an algorithm of inspection software of a conventional flat panel display panel.
3 is a diagram illustrating an algorithm in which an edge surface inspection method of a flat panel display panel according to an embodiment of the present invention is performed.
4 is a view illustrating a configuration of an edge surface inspection method of a flat panel display panel according to an embodiment of the present invention.
5 is a view showing a state in which an edge plane image is acquired in a method of inspecting an edge plane of a flat panel display panel according to an embodiment of the present invention.
6 is a view illustrating the configuration of step S200 in the edge surface inspection method of a flat panel display panel according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 다만, 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도면 전체에 걸쳐 동일 또는 유사한 부호를 사용한다.
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art can easily carry out the present invention. In the following detailed description of the preferred embodiments of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear. The same or similar reference numerals are used throughout the drawings for portions having similar functions and functions.

덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 ‘연결’되어 있다고 할 때, 이는 ‘직접적으로 연결’되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 ‘간접적으로 연결’되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 어떤 구성요소를 ‘포함’한다는 것은, 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다.
In addition, in the entire specification, when a part is referred to as being 'connected' to another part, it may be referred to as 'indirectly connected' not only with 'directly connected' . Also, to "include" an element means that it may include other elements, rather than excluding other elements, unless specifically stated otherwise.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법이 수행되는 알고리즘을 도시한 도면이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법은, 평판 디스플레이 패널의 이미지를 취득하고, 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 이미지와 매칭하여 양품 또는 불량품 여부를 판단할 수 있다. 이하에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법의 각각의 구성에 대해 상세히 설명하기로 한다.
FIG. 3 is a diagram illustrating an algorithm for performing an edge surface inspection method of a flat panel display panel according to an exemplary embodiment of the present invention. Referring to FIG. 3, an edge surface inspection method for a flat panel display panel according to an exemplary embodiment of the present invention includes acquiring an image of a flat panel display panel, matching the image with a flat panel display panel in a good condition, Can be determined. Hereinafter, each configuration of the edge surface inspection method of a flat panel display panel according to an embodiment of the present invention will be described in detail.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법의 구성을 도시한 도면이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법은, 평판 디스플레이 패널의 엣지면이 촬영된 엣지면 이미지 및 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 엣지면이 촬영된 양품 엣지면 이미지가 취득되는 단계(S100), 단계 S100에서 취득된 엣지면 이미지가 단계 S100에서 취득된 양품 엣지면 이미지와 매칭되는 단계(S200), 단계 S200에서 매칭된 엣지면 이미지와 양품 엣지면 이미지를 대조하여 평판 디스플레이 패널의 엣지면에 대한 불량이 검출되는 단계(S300), 및 단계 S300에서 불량이 검출되지 않는 경우, 평판 디스플레이 패널이 양품으로 판정되고, 단계 S300에서 불량이 검출되는 경우, 평판 디스플레이 패널이 불량품으로 판정되는 단계(S400)를 포함할 수 있다.
FIG. 4 is a view illustrating a configuration of a method of inspecting an edge of a flat panel display panel according to an exemplary embodiment of the present invention. Referring to FIG. 4, an edge surface inspection method of a flat panel display panel according to an exemplary embodiment of the present invention includes an edge surface image in which an edge surface of a flat panel display panel is photographed and an edge surface image of a flat panel display panel in a non- (S200) in which the edge image obtained in step S100 is matched with the image of the good edge image obtained in step S100 (step S200). In step S200, the matching edge image and the good edge (S300) in which a defect on the edge surface of the flat panel display panel is detected by comparing the image of the flat panel display panel and a case in which no defect is detected in the step S300, the flat panel display panel is judged as good and the defect is detected in the step S300 , And determining that the flat panel display panel is defective (S400).

단계 S100에서는, 평판 디스플레이 패널의 엣지면이 촬영된 엣지면 이미지 및 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 엣지면이 촬영된 양품 엣지면 이미지가 취득될 수 있다. 여기서, 엣지면 이미지는, 평판 디스플레이 패널의 엣지면이 촬영된 이미지이다. 또한, 양품 상태의 평판 디스플레이 패널은 검사를 통해서 양품이라고 판단된 평판 디스플레이 패널을 의미한다. 후술하는 바와 같이, 이미 양품이라고 판단된 양품 상태의 평판 디스플레이 패널을 기준으로 검사하고자 하는 평판 디스플레이 패널을 대조함으로써, 평판 디스플레이 패널의 불량 여부가 판단될 수 있다. 따라서 단계 S100에서는, 불량을 검출하기 위한 전 단계로서, 검사하고자 하는 평판 디스플레이 패널의 엣지면 이미지와, 비교 기준이 되는 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 엣지면 이미지가 취득될 수 있다.
In step S100, an edge image obtained by photographing the edge surface of the flat panel display panel and a good edge image obtained by photographing the edge surface of the flat panel display panel in the good condition may be obtained. Here, the edge surface image is an image in which the edge surface of the flat panel display panel is photographed. Also, the flat panel display panel in the good condition means the flat panel display panel judged to be good through inspection. As described later, whether or not the flat panel display panel is defective can be determined by comparing the flat panel display panel to be inspected on the basis of the flat panel display panel which is judged to be a good product. Therefore, in step S100, the edge surface image of the flat panel display panel to be inspected and the edge surface image of the flat panel display panel in the good condition as the comparison standard can be obtained as the previous step for detecting the defect.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법에서 엣지면 이미지가 취득되는 모습을 도시한 도면이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 한편, 단계 S100에서는, 광축(L)이 평판 디스플레이 패널(P) 및 양품 상태의 디스플레이 패널(P')과 평행하는 카메라(C)에 의해 엣지면 이미지 및 양품 엣지면 이미지가 취득될 수 있다. 바람직하게는, 카메라(C)는 평판 디스플레이 패널(P)의 상부에 설치되는 상부 카메라(UC)와, 평판 디스플레이 패널의 하부에 설치되는 하부 카메라(LC)를 포함할 수 있다. 따라서 상부 카메라(UC)는 평판 디스플레이 패널(P)의 엣지면의 상부에 대한 엣지면 이미지를 촬영할 수 있으며, 하부 카메라(LC)는 평판 디스플레이 패널(P)의 엣지면의 하부에 대한 엣지면 이미지를 촬영할 수 있다. 따라서 평판 디스플레이 패널(P)의 엣지면 상하부 모두에 대해 불량 여부를 검사할 수 있다.
FIG. 5 is a view illustrating a state in which an edge plane image is acquired in an edge surface inspection method of a flat panel display panel according to an embodiment of the present invention. 5, on the other hand, in step S100, the optical axis L is detected by the camera C parallel to the flat panel display panel P and the display panel P 'in the good condition, A face image can be acquired. Preferably, the camera C may include an upper camera UC installed on a flat display panel P and a lower camera LC installed on a lower portion of the flat display panel. The upper camera UC can take an edge surface image of the upper side of the edge surface of the flat panel display panel P and the lower camera LC can pick up an edge surface image of the lower side of the edge surface of the flat panel display panel P Can be photographed. Therefore, it is possible to check whether or not all of the upper and lower portions of the edge surface of the flat panel display panel P are defective.

단계 S100에서는, 평판 디스플레이 패널(P) 및 양품 상태의 평판 디스플레이 패널(P')을 회전시켜 모든 엣지면에 대한 엣지면 이미지가 취득될 수 있다. 단계 S100에서는, 평판 디스플레이 패널(P) 또는 양품 상태의 평판 디스플레이 패널(P')의 상면 또는 하면을 지지한 상태에서 수평 방향으로 평판 디스플레이 패널(P) 또는 양품 상태의 평판 디스플레이 패널(P')을 회전시킴으로써 카메라(C)에 의해 평판 디스플레이 패널(P) 또는 양품 상태의 평판 디스플레이 패널(P')의 모든 엣지면이 촬영될 수 있다. 이때, 회전축은 평판 디스플레이 패널의 무게중심 상에서 높이 방향(Z축 방향)으로 설정될 수 있다. 따라서 평판 디스플레이 패널(P)이 도 1에 도시된 바와 같이 다양한 형태를 가진다고 하더라도, 평판 디스플레이 패널(P) 또는 양품 상태의 평판 디스플레이 패널(P')의 모든 엣지면에 대한 엣지면 이미지가 취득될 수 있다.
In step S100, the flat panel display panel P and the flat panel display panel P 'in the good condition can be rotated to obtain an edge surface image for all the edge surfaces. In step S100, the flat panel display panel P or the flat panel display panel P 'in the good condition, in the horizontal direction, while supporting the upper or lower surface of the flat panel display panel P or the flat panel display panel P' All the edge surfaces of the flat panel display panel P or the flat panel display panel P 'in the good condition can be photographed by the camera C by rotating the flat panel display panel P'. At this time, the rotation axis can be set in the height direction (Z-axis direction) on the center of gravity of the flat panel display panel. Therefore, even if the flat panel display panel P has various forms as shown in Fig. 1, an edge surface image for all the edge surfaces of the flat panel display panel P or the flat panel display panel P 'in the good condition is acquired .

단계 S200에서는, 단계 S100에서 취득된 엣지면 이미지가 단계 S100에서 취득된 양품 엣지면 이미지와 매칭될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법은, 엣지면 이미지를 매칭하여 대조함으로써 평판 디스플레이 패널의 불량 여부를 검출하므로, 각각의 이미지를 매칭시키는 과정이 중요하다. 매칭 단계에서 제대로 매칭이 이루어지지 않는 경우, 불량 여부가 제대로 검출될 수 없기 때문이다.
In step S200, the edge surface image acquired in step S100 may be matched with the good edge image acquired in step S100. In the method of inspecting an edge of a flat panel display panel according to an exemplary embodiment of the present invention, it is important to match images of the flat panel display panel to each other by detecting whether the flat panel display panel is defective by matching and matching the edge image. If the matching is not properly performed at the matching step, it can not be detected correctly.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법에서 단계 S200의 구성을 도시한 도면이다. 도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법의 단계 S200은, 엣지면 이미지의 밝기 평균값이 양품 엣지면 이미지의 밝기 평균값으로 조정되는 단계 및 단계 S210에서 조정된 엣지면 이미지가 양품 엣지면 이미지와 매칭되는 단계를 포함할 수 있다.
6 is a view illustrating the configuration of step S200 in the method of inspecting an edge of a flat panel display panel according to an embodiment of the present invention. 6, step S200 of the method of inspecting an edge surface of a flat panel display panel according to an embodiment of the present invention includes adjusting a brightness average value of an edge surface image to a brightness average value of a good edge image, Wherein the adjusted edge-side image is matched with the good-edge-side image.

단계 S210에서는, 엣지면 이미지의 밝기 평균값이 양품 엣지면 이미지의 밝기 평균값으로 조정될 수 있다. 엣지면 이미지의 취득 과정상의 문제로, 양품 엣지면 이미지와 엣지면 이미지에는 밝기 차이가 존재한다. 이러한 밝기 차이가 존재하는 경우, 엣지면 이미지가 매칭되어도 불량 여부가 제대로 검출될 수 없으므로, 밝기 차이를 해소할 수 있는 전처리 단계가 필요하다. 단계 S210에서는, 매칭 단계를 위한 전처리 단계로서, 검사하고자 하는 평판 디스플레이 패널의 엣지면 이미지의 밝기 평균값을 비교 기준이 되는 양품 디스플레이 패널의 엣지면 이미지의 밝기 평균값으로 조정할 수 있다. 이처럼 밝기의 평균값을 조정하는 단계를 거치게 되면, 엣지면 이미지의 매칭율을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.
In step S210, the brightness average value of the edge face image may be adjusted to the brightness average value of the good edge face image. There is a difference in brightness between the good edge image and the edge image due to the process of acquiring the edge image. If there is such a brightness difference, even if the edge image is matched, it can not be detected correctly, so a pre-processing step that can resolve the brightness difference is needed. In step S210, as a pre-processing step for the matching step, the average brightness value of the edge plane image of the flat panel display panel to be inspected can be adjusted to the average brightness value of the edge plane image of the good display panel as a comparison reference. If the step of adjusting the average value of the brightness is performed, there is an advantage that the matching rate of the edge image can be improved.

단계 S220에서는, 단계 S210에서 조정된 엣지면 이미지가 양품 엣지면 이미지와 매칭될 수 있다. 여기서, 매칭은 엣지면 이미지의 레이어와 양품 엣지면 이미지의 레이어가 중첩되는 형태로 매칭될 수 있다. 따라서 단계 S300에서 후술하는 바와 같이, 각각의 레이어에서 픽셀에 대한 차이값이 계산될 수 있다. 이때, 엣지면 이미지는 단계 S210에서 밝기의 평균값이 조정되었으므로, 엣지면 이미지와 양품 엣지면 이미지가 매칭되어도 밝기의 평균값에 차이가 없게 된다. 따라서 단계 S220에서는, 보다 정확하게 매칭이 이루어질 수 있다.
In step S220, the edge image adjusted in step S210 may be matched with the good edge image. Here, the matching can be matched with the layer of the edge image and the layer of the good edge image. Thus, as described later in step S300, a difference value for a pixel in each layer can be calculated. At this time, since the average value of the brightness is adjusted in step S210, the average value of the brightness does not differ even if the edge image and the good edge image are matched. Therefore, in step S220, matching can be performed more accurately.

단계 S300에서는, 단계 S200에서 매칭된 엣지면 이미지와 양품 엣지면 이미지를 대조하여 평판 디스플레이 패널의 엣지면에 대한 불량이 검출될 수 있다. 이때, 단계 S300에서는, 단계 S200에서 매칭된 엣지면 이미지와 양품 엣지면 이미지의 픽셀에 대한 차이값이 미리 정해진 허용 오차를 초과하는 경우를 평판 디스플레이 패널의 엣지면에 대한 불량으로 판단할 수 있다. 단계 S200에서는, 엣지면 이미지와 양품 엣지면 이미지가 매칭되므로, 동일 위치의 픽셀에 대한 차이를 통해 평판 디스플레이 패널의 불량 여부를 검출할 수 있다. 즉, 엣지면 이미지가 양품 엣지면 이미지와 차이가 있다면, 이는 픽셀상의 차이를 의미한다. 따라서 픽셀에 대한 차이를 통해 평판 디스플레이 패널에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다.
In step S300, a defect on the edge surface of the flat panel display panel can be detected by comparing the edge surface image matched with the good edge surface image in step S200. At this time, in step S300, it may be determined that the difference between the matched edge image and the good edge image in step S200 exceeds a predetermined tolerance as a defect with respect to the edge surface of the flat panel display panel. In step S200, since the edge image and the good edge image match each other, it is possible to detect whether or not the flat panel display panel is defective through the difference between the pixels at the same position. That is, if the edge image differs from the good edge image, this means the difference on the pixel. Therefore, it is possible to detect whether or not a defect is caused to the flat panel display panel through the difference between the pixels.

보다 구체적으로, 단계 S210에서 엣지면 이미지와 양품 엣지면 이미지와의 밝기의 평균값이 동일하게 조정되었으므로, 픽셀상의 RGB 값의 차이로 픽셀에 대한 차이를 판단할 수 있다. 그러나 밝기의 평균값이 조정되었다고 하더라도, 카메라로 인한 촬영의 한계상 픽셀의 RGB 값이 정확하게 동일할 수 없다. 따라서 픽셀의 RGB 값에 대한 일정 수준의 오차를 허용할 필요가 있다. 이러한 허용 오차가 낮을수록 미세한 차이까지 불량으로 판별할 수 있으므로, 허용 오차는 요구되는 정확도에 따라 통상의 기술자에 의해서 다양하게 설정될 수 있다.
More specifically, since the average value of the brightness of the edge plane image and the good-quality edge plane image are adjusted to be equal in step S210, it is possible to determine a difference with respect to the pixel by the difference of RGB values on the pixel. However, even if the average value of the brightness is adjusted, the RGB value of the pixel can not be exactly the same on the limit of photographing by the camera. Therefore, it is necessary to allow a certain level of tolerance for the RGB values of the pixel. The smaller the allowable error, the smaller the difference can be judged as defective. Therefore, the tolerance can be variously set by the ordinary technician according to the required accuracy.

단계 S400에서는, 단계 S300에서 불량이 검출되지 않는 경우, 평판 디스플레이 패널이 양품으로 판정되고, 단계 S300에서 불량이 검출되는 경우, 평판 디스플레이 패널이 불량품으로 판정될 수 있다. 실시예에 따라서는, 불량품으로 판정된 평판 디스플레이 패널에 대해서, 허용 오차를 일정량 증가시킨 후, 단계 (1) 내지 단계 (4)가 반복될 수 있다. 따라서 허용 오차에 의해 양품임에도 불량품으로 판정된 평판 디스플레이 패널을 분류해낼 수 있다.
In step S400, if a defect is not detected in step S300, the flat panel display panel is judged as a good product, and if a defect is detected in step S300, the flat panel display panel may be determined as a defective product. In some embodiments, steps (1) to (4) may be repeated after a certain amount of tolerance has been increased for flat panel display panels determined to be defective. Therefore, it is possible to classify the flat panel display panel determined as a defective product even though it is a good product due to the tolerance.

한편, 본 발명의 다른 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 기록매체는, 본 발명의 다른 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법의 단계 S100 내지 단계 S400의 적어도 어느 하나의 단계를 실행하는 기록매체일 수 있다. 각각의 단계는 컴퓨터상에서 수행될 수 있는 명령어들의 집합으로 구현될 수 있으며, 기록매체는 이러한 명령어들의 집합을 포함할 수 있다.
Meanwhile, at least one of the steps S100 to S400 of the method of inspecting an edge of a flat panel display panel according to another embodiment of the present invention is applied to the edge surface inspection recording medium of the flat panel display panel according to another embodiment of the present invention. And the like. Each step can be implemented as a set of instructions that can be executed on a computer, and the recording medium can include a set of such instructions.

전술한 바와 같이, 본 발명에서 제안하고 있는 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법 및 기록매체에 따르면, 평판 디스플레이 패널의 이미지를 취득하여 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 이미지와 매칭시켜 대조함으로써, 평판 디스플레이 패널의 형태와 무관하게 여러 형태의 평판 디스플레이 패널의 엣지면을 정확하게 검사할 수 있다. 또한, 본 발명에서 제안하고 있는 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법 및 기록매체에 따르면, 평판 디스플레이 패널의 이미지와 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 이미지 매칭 시 매칭율을 향상시킴으로써, 평판 디스플레이의 엣지면 불량을 검사하는데 소요되는 시간을 단축시키고, 불량 검출의 정확도를 향상시킬 수 있다.
As described above, according to the edge surface inspection method and recording medium of the flat panel display panel proposed in the present invention, the image of the flat panel display panel is acquired and matched with the image of the flat panel display panel in the good condition, The edge surfaces of various types of flat panel display panels can be inspected accurately regardless of the shape of the flat display panel. According to the edge surface inspection method and recording medium of the flat panel display panel proposed in the present invention, by improving the matching rate in image matching of the image of the flat panel display panel and the flat panel display panel in the good condition, It is possible to shorten the time required for inspecting the defect and improve the accuracy of defect detection.

이상 설명한 본 발명은 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 다양한 변형이나 응용이 가능하며, 본 발명에 따른 기술적 사상의 범위는 아래의 청구범위에 의하여 정해져야 할 것이다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the appended claims.

C: 카메라
UC: 상부 카메라
LC: 하부 카메라
L: 광축
P: 평판 디스플레이 패널
P': 양품 상태의 평판 디스플레이 패널
Z: Z축
S100: 평판 디스플레이 패널의 엣지면이 촬영된 엣지면 이미지 및 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 엣지면이 촬영된 양품 엣지면 이미지가 취득되는 단계
S200: 단계 S100에서 취득된 엣지면 이미지가 단계 S100에서 취득된 양품 엣지면 이미지와 매칭되는 단계
S210: 엣지면 이미지의 밝기 평균값이 양품 엣지면 이미지의 밝기 평균값으로 조정되는 단계
S220: 단계 S210에서 조정된 엣지면 이미지가 양품 엣지면 이미지와 매칭되는 단계
S300: 단계 S200에서 매칭된 엣지면 이미지와 양품 엣지면 이미지를 대조하여 평판 디스플레이 패널의 엣지면에 대한 불량이 검출되는 단계
S400: 단계 S300에서 불량이 검출되지 않는 경우, 평판 디스플레이 패널이 양품으로 판정되고, 단계 S300에서 불량이 검출되는 경우, 평판 디스플레이 패널이 불량품으로 판정되는 단계C: Camera
UC: Top camera
LC: Lower camera
L: optical axis
P: Flat panel display panel
P ': flat panel display panel in good condition
Z: Z axis
S100: an edge image obtained by photographing the edge surface of the flat panel display panel and a good edge image obtained by photographing the edge surface of the flat panel display panel in the good condition
S200: the edge image obtained in step S100 is matched with the image of the good edge image acquired in step S100
S210: the brightness average value of the edge image is adjusted to the brightness average value of the good edge image
S220: In step S210, the adjusted edge image is matched with the good edge image
S300: In step S200, a match is detected between the matched edge image and the good edge image to detect a defect on the edge surface of the flat panel display panel
S400: When no defect is detected in step S300, when the flat panel display panel is determined to be good, and when a defect is detected in step S300, the flat panel display panel is judged as defective

Claims (7)

(1) 평판 디스플레이 패널의 엣지면이 촬영된 엣지면 이미지 및 양품 상태의 평판 디스플레이 패널의 엣지면이 촬영된 양품 엣지면 이미지가 취득되는 단계;
(2) 상기 단계 (1)에서 취득된 엣지면 이미지가 상기 단계 (1)에서 취득된 양품 엣지면 이미지와 매칭되는 단계;
(3) 상기 단계 (2)에서 매칭된 엣지면 이미지와 양품 엣지면 이미지를 대조하여 상기 평판 디스플레이 패널의 엣지면에 대한 불량이 검출되는 단계; 및
(4) 상기 단계 (3)에서 불량이 검출되지 않는 경우, 상기 평판 디스플레이 패널이 양품으로 판정되고, 상기 단계 (3)에서 불량이 검출되는 경우, 상기 평판 디스플레이 패널이 불량품으로 판정되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법.
(1) an edge image obtained by photographing an edge surface of a flat panel display panel and a good edge image obtained by photographing an edge surface of a flat panel display panel in a good condition are obtained;
(2) matching the edge image obtained in the step (1) with the image of the good edge image obtained in the step (1);
(3) comparing the matched edge image and the good edge image in step (2) to detect a defect on the edge surface of the flat panel display panel; And
(4) when the defective is not detected in the step (3), the flat panel display panel is judged as defective, and when the defective is detected in the step (3), the flat panel display panel is judged as defective The edge surface of the flat panel display panel is inspected.
제1항에 있어서, 상기 단계 (1)은,
광축이 상기 평판 디스플레이 패널 및 양품 상태의 평판 디스플레이 패널과 수직하는 카메라에 의해 엣지면 이미지 및 양품 엣지면 이미지가 취득되는 것을 특징으로 하는, 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법.
2. The method of claim 1, wherein the step (1)
Wherein an edge plane image and a good-quality edge plane image are obtained by a camera whose optical axis is perpendicular to the flat panel display panel and the flat panel display panel in the good condition.
제2항에 있어서, 상기 단계 (1)은,
상기 평판 디스플레이 패널 및 상기 양품 상태의 평판 디스플레이 패널을 회전시켜 모든 엣지면에 대한 엣지면 이미지가 취득되는 것을 특징으로 하는, 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법.
3. The method of claim 2, wherein step (1)
Wherein the flat panel display panel and the flat panel display panel in the good condition are rotated to obtain an edge surface image for all the edge surfaces.
제1항에 있어서, 상기 단계 (2)는,
(2-1) 상기 엣지면 이미지의 밝기 평균값이 상기 양품 엣지면 이미지의 밝기 평균값으로 조정되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법.
2. The method of claim 1, wherein step (2)
(2-1) the step of adjusting the brightness average value of the edge surface image to an average brightness value of the good edge image image.
제4항에 있어서, 상기 단계 (2)는,
(2-2) 상기 단계 (2-1)에서 조정된 엣지면 이미지가 상기 양품 엣지면 이미지와 매칭되는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법.
5. The method of claim 4, wherein step (2)
(2-2) A method of inspecting an edge surface of a flat panel display panel, further comprising the step (2-1) of matching the adjusted edge image with the good edge image.
제1항에 있어서, 상기 단계 (3)은,
상기 단계 (2)에서 매칭된 엣지면 이미지와 양품 엣지면 이미지의 픽셀에 대한 차이값이 미리 정해진 허용 오차를 초과하는 경우를 평판 디스플레이 패널의 엣지면에 대한 불량으로 판단하는 것을 특징으로 하는, 평판 디스플레이 패널의 엣지면 검사 방법.
2. The method of claim 1, wherein step (3)
Characterized in that it is judged that the difference between the matched edge plane image and the good edge plane image in the step (2) exceeds a predetermined tolerance as a defect with respect to the edge plane of the flat panel display panel A method of inspecting an edge of a display panel.
제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 단계 (1) 내지 단계 (4)의 적어도 어느 하나의 단계를 실행하는 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체.7. The method according to any one of claims 1 to 6,
A computer-readable recording medium for executing at least any one of the steps (1) to (4).
KR1020170100518A 2017-08-08 2017-08-08 Inspection method for edge of flat panel display and recording medium KR20190016368A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170100518A KR20190016368A (en) 2017-08-08 2017-08-08 Inspection method for edge of flat panel display and recording medium

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170100518A KR20190016368A (en) 2017-08-08 2017-08-08 Inspection method for edge of flat panel display and recording medium

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20190016368A true KR20190016368A (en) 2019-02-18

Family

ID=65561610

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170100518A KR20190016368A (en) 2017-08-08 2017-08-08 Inspection method for edge of flat panel display and recording medium

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20190016368A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102045940B1 (en) 2019-05-21 2019-11-18 (주)케이테크놀로지 Inspection method for edge of flat panel display cell

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102045940B1 (en) 2019-05-21 2019-11-18 (주)케이테크놀로지 Inspection method for edge of flat panel display cell

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102576277B1 (en) Apparatus and mehtod for detecting defects
KR20110078958A (en) Apparatus for inspecting outward aspect of lcd panel
US9291577B2 (en) Apparatus for inspecting glass substrate
WO2017202114A1 (en) Method and apparatus for determining illumination intensity for inspection, and optical inspection method and apparatus
WO2020098181A1 (en) Liquid crystal panel defect detection method and system thereof
JP2015004674A (en) Method for discriminating defect of optical film
CN111982925A (en) Detection method and detection device
US20190033234A1 (en) Objective lens
KR20190016368A (en) Inspection method for edge of flat panel display and recording medium
TWM568454U (en) Optical inspection apparatus
WO2017049863A1 (en) Liquid crystal one drop filling system and control method
JP2002243655A (en) Method and equipment for visual inspection of electronic component
KR102034042B1 (en) Method for inspecting the exterior scratch of Flat display panel
KR101198406B1 (en) Pattern inspection device
KR100749954B1 (en) Method and apparatus for inspection of polarizer
CN111665260B (en) Display panel inspection device
US8045150B2 (en) Semiconductor wafer inspection method
TWI389245B (en) Chip sorter with prompt chip pre-position and optical examining process thereof
US20130278925A1 (en) Detecting device and method for substrate
KR100971081B1 (en) Defect Inspection Method of Polarizing Film
KR20160101436A (en) Method for inspectiong the outside of panels
TWM585899U (en) System for inspecting defects of semiconductor device
KR20150091920A (en) apparatus for inspecting glass edge and method for inspecting glass edge using thereof
CN112629822B (en) Method for inspecting internal dirt of polaroid
KR101940762B1 (en) Automatic Inspection Apparatus For Display Module And Inspecting Method Of Image Quality Using The Same

Legal Events

Date Code Title Description
E601 Decision to refuse application