JP2011028822A - 磁気記録装置及び磁気記録評価装置 - Google Patents

Abstract

【課題】パターンドメディアを記録媒体として用いた磁気記録装置において、記録エラー及び再生エラーを少なくすることが可能な磁気記録装置を提供する。
【解決手段】磁気記録装置は、互いに磁気的に孤立した複数の磁気記録セルが配列された磁気記録媒体と、所定の遅延時間で書込情報に応じて磁界を発生し、磁気記録媒体に情報を記録する書込素子と、磁気記録媒体に記録された情報を読取る読取素子と、遅延時間を記憶するメモリと、遅延時間を変化させながら行なったテストライトの品質指標値の算出を繰返し、算出結果から品質指標値が最良となるように遅延時間を最適化し、メモリに記憶させるテストライト機能（Ｓ２０７〜Ｓ２１８、Ｓ２２２、Ｓ２２４）とを含む。
【選択図】図７

Description

本発明は、記録媒体にデータを記録する磁気記録装置に関し、特に高密度記録が可能な記録媒体を用いた磁気記録装置に関する。

パソコンなどの情報機器の飛躍的な機能向上に伴い、ユーザが扱うデータの情報量は増大している。このため、より多くのデータが記憶できる大容量記録装置の実現がユーザから強く求められている。

大容量記憶装置の例として、ハードディスクを用いた記録装置が挙げられる。ハードディスクは、円盤状の基板上に磁性体が塗布されたものである。ハードディスクは、磁気ヘッドを用いてディスク表面の磁性層を磁化することにより情報を記憶する。

大容量記録装置の実現には、記録媒体であるハードディスクの記録密度の向上が大きな課題となる。上記した従来のハードディスクでは、媒体面に一様かつ連続的に形成された磁性層において、データを書込み単位である記録マークのエッジがギザギザ形状となる。このギザギザ形状は、再生時におけるノイズ（トランジションノイズ）の原因となり、ノイズによりＳ／Ｎ比（Ｓｉｇｎａｌ ｔｏ Ｎｏｉｓｅ Ｒａｔｉｏ）が低下して、記録した情報が正しく再生できなくなるという問題が発生する。

また、記録密度の向上には、記録マーク自体を小型化することも必要となってくる。従来のハードディスクでは、一様に形成された磁性層上に記録マークを形成するため、記録マークを小さくし密度を上げていくと、記録マーク間で磁気の干渉を起こす。その結果、情報を正しく記録できない、及び記録した情報が正しく再生できないなどの問題が生じる。

こうした問題を解決するための技術の一つとして、パターンドメディアがある。パターンドメディアとは、磁気的に孤立した磁気記録セルを配列した磁気記録媒体のことをいう。磁気記録セルは、非磁性材料の中に等間隔で規則正しく並べられた磁性材料の粒子からなる。この磁気記録セルに磁気情報が記録されており、記録マークのエッジが磁気記録セルのエッジとなる。したがって、記録マークが小さくなっても高いＳ／Ｎ比を確保しやすくなる。その結果、記録媒体にパターンドメディアを用いることで、再生時のノイズ、及び記録マーク間の磁気の干渉を低減することができ、記録密度の大幅な向上を図ることができる。

パターンドメディアにおいては、予め形成された磁気記録セルに合わせて磁界を発生し、情報を記録する。そのため、タイミングを調整し、磁気記録セルに対して高い精度で磁界を発生させる必要がある。

特許文献１には、パターンドメディアを用いた磁気記録装置において、記録時の漏れ磁界を検知して、磁界発生のタイミング調整を行なう技術が開示されている。特許文献１に開示の技術では、磁気記録素子が媒体の磁気記録セル上にある場合と、非磁気記録部にある場合とで、漏れ磁界が異なることを利用し、磁気記録素子が媒体の磁気記録セル上で磁界を発生するようタイミングを制御する。

特開２００３−２８１７０１号

パターンドメディアのような高密度磁気記録媒体に形成される磁気記録セル間のピッチは、数十ｎｍ程度と非常に狭い。このため、記録を行なう記録再生ヘッドの磁気記録素子の位置と、所望の磁気記録セルの位置との間にわずかなズレが生じただけで、記録エラーが発生しやすくなってしまうという問題がある。そのため、パターンドメディアを用いた磁気記録装置においては、最適なタイミングで磁界発生を行なうことが必要である。

磁気記録装置が磁気記録媒体に対する磁気記録素子の位置決め制御を行なう場合、磁気記録媒体の周方向における磁気記録素子の位置決め精度として、通常磁気記録セル間のピッチの１０％以下、すなわち数ｎｍ以下が要求される。面記録密度が１Ｔｂ／ｉｎ^２程度の場合、１ｎｍ程度の精度が要求されると考えられている。磁気記録媒体は、磁気記録素子に対して運動しているので、磁気記録素子の位置制御は磁界発生のタイミング制御と同等の意味合いを持つ。磁気記録媒体の周方向への線速度が数十ｍ／ｓであれば、数十ｐｓ程度のタイミング制御が必要となる。

特許文献１の技術においては、磁界の検出素子が、磁界発生素子からの漏れ磁界とともに、媒体に記録した磁界を検出してしまう。そのため、タイミング調整用の信号を分離する必要があった。また、磁界発生素子と磁界の検出素子との距離によっては、媒体からの磁界信号のピークと、漏れ磁界信号のピークとがほぼ同時に検出される場合があり、信号の分離が困難になるという問題があった。また、漏れ磁界の信号は、媒体からの信号よりも小さくなる傾向があり、検出時の僅かなノイズにより検出ミスが発生する可能性がある。さらに、媒体の個体差という要因のため一律にタイミング制御を行なうことが難しいという問題もある。

そのため本発明の目的は、パターンドメディアを記録媒体として用いた磁気記録装置において、記録エラー及び再生エラーを少なくすることが可能な磁気記録装置を提供することである。

本発明のもう一つの目的は、パターンドメディアを記録媒体として用いた磁気記録装置において、記録エラー及び再生エラーを少なくするために、用いられる記録媒体の特性を測定することが可能な磁気記録評価装置を提供することである。

本発明の第１の局面に係る磁気記録装置は、互いに磁気的に孤立した複数の磁気記録セルが配列された記録面を有する磁気記録媒体と、記録面に対して相対的に移動しながら、所定の設定情報にしたがった条件で書込情報に応じて磁界を発生し、磁気記録媒体の磁気記録セルに情報を記録するための書込手段と、書込手段とともに記録面に対して相対的に移動しながら、磁気記録媒体の磁気記録セルに記録された情報を読取るための読取手段と、書込手段による情報の書込のための所定の設定情報を記憶するための記憶手段と、テストライト開始信号に応答して、所定の設定情報を変化させながら、書込手段及び読取手段によるテスト情報の書込及び読出と、読出したテスト情報の書込の品質を表す所定の品質指標値の算出とを繰返し、その結果に基づいて、所定の品質指標値が予め定められる条件を充足するように所定の設定情報を最適化して記憶手段に記憶させるためのテストライト手段とを含む。

書込手段は、記録面に対して相対的に移動しながら、所定の設定情報にしたがった条件で書込情報に応じて磁界を発生し、磁気記録媒体の磁気記録セルに情報を記録する。読取手段は、書込手段とともに記録面に対して相対的に移動しながら、磁気記録媒体の磁気記録セルに記録された情報を読取る。記憶手段は、書込手段による情報の書込のための所定の設定情報を記憶する。テストライト手段は、テストライト開始信号に応答して、所定の設定情報を変化させながら、書込手段及び読取手段によるテスト情報の書込及び読出と、読出したテスト情報の書込の品質を表す所定の品質指標値の算出とを繰返し、その結果に基づいて、所定の品質指標値が予め定められる条件を充足するように所定の設定情報を最適化して記憶手段に記憶させる。

この磁気記録装置は、磁気記録媒体に対して書込手段に係わる所定の設定情報を変化させながら、磁気記録媒体にテスト情報の書込及び読出と、テスト情報の書込の品質を表す品質指標値の算出とを繰返す。そして、品質指標値が予め定められる条件を満たすような最適な所定の設定情報を求め、その設定情報を用いて情報の書込を行なう。それにより、媒体への書込みタイミングが重要となるパターンドメディアを用いた磁気記録装置において、書込手段の最適な設定情報を用いて、磁気記録媒体に情報を書込むことができる。その結果、パターンドメディアを記録媒体として用いた磁気記録装置において、記録エラー及び再生エラーを少なくすることが可能な磁気記録装置を提供することができる。

好ましくは、磁気記録装置は、読取手段の出力信号が、書込手段による書込のトリガーとなる所定の信号と一致するか否かを判定するための判定手段をさらに含む。所定の設定情報は、判定手段が出力信号と所定の信号とが一致すると判定してから書込手段が磁界を発生するまでの待機時間を含む。

この磁気記録装置は、読取手段の出力信号が所定の信号と一致するか否かを判定し、磁気記録媒体からの出力信号が所定の信号と一致してから、書込手段が磁界を発生するまでの待機時間を調整する。読取手段による書込手段による書込のトリガーとなる所定の信号の検出から、磁界を発生するまでの待機時間を調整することで、書込手段による情報書込時の書込手段と磁気記録媒体の磁気記録セルとの位置関係を調整することができる。

好ましくは、テストライト手段は、テストライト開始信号に応答して、上限及び下限を持つ予め定められた所定の変更範囲にわたって待機時間を段階的に変更するための待機時間変更手段と、待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、読取手段から所定の信号が出力されてから当該待機時間が経過したときを基準として、書込手段にテスト情報にしたがった磁気の発生を開始させて磁気記録媒体にテスト情報を書込ませるためのテスト情報書込手段と、待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、テスト情報書込手段により磁気記録媒体に書込まれたテスト情報を読取手段に読取らせるためのテスト読取手段と、待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、テスト情報書込手段が書込んだテスト情報と、テスト読取手段が読取ったテスト情報とを照合することによって品質指標値を算出するための品質指標値算出手段と、品質指標値算出手段により算出された品質指標値と、対応する待機時間と関連付けて記憶するための品質情報記憶手段と、設定情報記憶手段に記憶された品質指標値のうちで、定められる条件を満たすものと関連付けて品質情報記憶手段に記憶された待機時間を記憶手段に記憶させるための最適時間記憶手段とを含む。

待機時間変更手段は、テストライト開始信号に応答して、上限及び下限を持つ予め定められた所定の変更範囲にわたって待機時間を段階的に変更する。テスト情報書込手段は、待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、読取手段から所定の信号が出力されてから当該待機時間が経過したときを基準として、書込手段にテスト情報にしたがった磁気の発生を開始させて磁気記録媒体にテスト情報を書込ませる。テスト読取手段は、待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、テスト情報書込手段により磁気記録媒体に書込まれたテスト情報を読取手段に読取らせる。品質指標値算出手段は、待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、テスト情報書込手段が書込んだテスト情報と、テスト読取手段が読取ったテスト情報とを照合することによって品質指標値を算出する。品質情報記憶手段は、品質指標値算出手段により算出された品質指標値と、対応する待機時間と関連付けて記憶する。最適時間記憶手段は、設定情報記憶手段に記憶された品質指標値のうちで、定められる条件を満たすものと関連付けて品質情報記憶手段に記憶された待機時間を記憶手段に記憶させる。

この磁気記録装置は、テストライト手段において、所定の変更範囲にわたって待機時間を段階的に変化させながらテスト情報の書込及び読出と、読出したテスト情報の品質指標値の算出を行なう。そして、待機時間と待機時間ごとの品質指標値とを関連付けて記憶し、記憶された品質指標値が予め定められた条件を満たす時の待機時間を記憶手段に記憶させる。このように、書込に関わる待機時間を段階的に変化させながら磁気記録媒体にテスト情報を書込み、待機時間ごとの書込品質を算出し記憶することで、磁気記録媒体ごとに最適な待機時間を求めることができる。

好ましくは、予め定められる条件は、品質指標値が最良であるという条件である。

より好ましくは、磁気記録媒体は円盤形状を有し、記録面上において磁気記録セルが円盤形状の周方向へピッチｄで配置され、書込手段及び読取手段に対する相対運動の設計速度を線速度ｖとして、所定の変更範囲幅はｄ／ｖより大きく選ばれる。

この磁気記録装置は、品質指標値が最良であるときの待機時間を記憶手段に記憶する。その結果、信号品質値が最良となるように磁気記録媒体に情報を記録することができる。また、磁気記録媒体が上記する構造及び設計である時、算出される品質指標値と待機時間との関係は、ｄ／ｖの周期的なグラフを描く。そのため、予め定められる条件が品質指標値が最良であるという条件の場合は、テストライト手段で変更する所定の設定範囲幅をｄ／ｖより大きくすることで最良となる品質指標値を確実に検出することができる。

好ましくは、品質指標値算出手段は、待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、テスト情報書込手段が書込んだテスト情報と、テスト読取手段が読取ったテスト情報とを照合することによって、読取られたテスト情報の、書込まれたテスト情報に対するエラーレートを算出するためのエラーレート算出手段を含む。

好ましくは、品質指標値算出手段は、待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、テスト読取手段が読取って出力する信号波形を所定の基準信号と照合することによって、読取り信号のジッタを算出するためのジッタ算出手段を含む。

より好ましくは、予め定められる条件は、品質指標値が予め定められる規定値以下の値であるという条件である。

エラーレート及びジッタは、その値が小さいほど信号の品質が良いことを表す。品質指標値が予め定められる規定値以下の値であるという条件を満たす時、条件を満たす品質指標値から書込品質の良い待機時間を求めることができる。

より好ましくは、予め定められる条件は、待機時間変更手段が所定の変更範囲の下限から上限に向けて待機時間を段階的に変更する時に、変更された待機時間に対応して算出される品質指標値が予め定められる規定値より大きな値から規定値以下の値を初めて取る時の待機時間をｔ_ａ、待機時間がｔ_ａより大きく、かつ品質指標値が規定値より小さな値から規定値以上の値を初めて取る時の待機時間をｔ_ｂとしたとき、品質指標値が（ｔ_ｂ＋ｔ_ａ）／２となる待機時間に対応する値であるという条件である。

さらに好ましくは、磁気記録媒体は円盤形状を有し、記録面上には磁気記録セルが円盤形状の周方向にピッチｄで配置され、書込手段及び読取手段に対する相対運動の設計速度を線速度ｖとして、所定の変更範囲の幅は２ｄ／ｖより大きく選ばれる。

品質指標値が予め定められる規定値以下の値をとる時の待機時間の範囲において、時間範囲の中心時間に対応する値であるという条件を満たすように、待機時間を決定する。そのように決定された待機時間を用いて書込を行なうときは、ノイズなどの影響で書込タイミングにずれが生じた場合でも、品質指標値の変化を一定の範囲内に収める可能性を高くすることができる。また、磁気記録媒体が上記する構造及び設計である時、算出される品質指標値と待機時間との関係は、待機時間に対してｄ／ｖの周期的なグラフを描く。そのため、予め定められる条件が、上記した条件の場合は、テストライト手段で変更する所定の設定範囲幅を２ｄ／ｖより大きくすることで条件を満たす品質指標値を確実に検出することができる。

好ましくは、磁気記録媒体は、所定のサーボパターンが予め書込まれたサーボパターン領域と、書込手段によるデータの書込が可能なユーザデータ領域とを含む。

より好ましくは、磁気記録媒体は円盤形状を有し、書込手段と読取手段とは、円盤形状の周方向に間隔Ｌをもって配置されており、かつ書込手段及び読取手段に対する相対運動の設計速度を線速度ｖとすると、下限の値はＬ／ｖより大きく選ばれる。

磁気記録媒体が上記の構造及び設計であり、書込手段及び読取手段が上記の条件を満たす場合、読取手段で読取ったセルが書込手段を通過するまでにＬ／ｖかかる。そのため、サーボパターン領域で信号を読取後、サーボパターン領域に続くユーザデータ領域上に信号を書込む場合、下限の値をＬ／ｖより大きく選ぶことによって、書込手段がユーザデータ領域上で磁界を発生することを確実に行なうことができる。

好ましくは、磁気記録媒体は、書込手段によるデータの書込が可能なユーザデータ領域を含む。ユーザデータ領域は、読取手段が書込手段による書込のトリガーとなる所定の信号を出力するための情報を含む。

磁気記録媒体は、データの書込が可能なユーザデータ領域に、書込手段による書込のトリガーとなる所定の信号を出力するための情報を含む。所定の信号を出力する情報をユーザデータ領域中に含むことで、磁気記録媒体において、その情報を保存するための専用の領域を確保する必要がなくなるので、容量の大きな磁気記録媒体を実現することができる。また、磁気記録媒体は所定の信号を含む出力するための情報を含むことから、テストライト手段による所定の設定情報を最適化することができ、より容量の大きな磁気記録媒体を用いた磁気記録装置において、記録時及び再生時の記録エラーの発生が少なくすることができる。

好ましくは、磁気記録装置は、テストライト手段によって最適化された待機時間が記憶手段に記憶されてからの経過時間を計るための計時手段と、計時手段が所定の設定時間を計時したことに応答して、テストライト開始信号を発生してテストライト手段に与えるための手段とをさらに含む。

一定期間ごとにテストライト手段を実行することで、経年変化した磁気記録媒体に対して、最適な所定の設定情報を与えることができる。

好ましくは、磁気記録装置は、テストライト手段の動作時以外の通常の動作時において、書込手段による情報の書込の品質を示す記録状態値を算出するための記録状態値算出手段と、記録状態値算出手段によって算出された記録状態値が所定の基準値以下になったことに応答して、テストライト手段を動作させるための手段とをさらに含む。

この磁気記録装置は、通常の動作時において書込手段による情報の書込の品質を算出し、その値が所定の基準値以下になったことに応答してテストライト手段を動作させる。書込品質が基準値以下の悪い状態になったときにテストライト手段を動作させることで、所定の設定情報を最適化し、記録時における信号の品質を一定以上に保つことができる。

好ましくは、磁気記録媒体は、テストライト手段の動作時に使用される領域を予め確保するためのテストライト領域と、テストライト手段の動作時以外に書込手段による情報の書込が可能な領域とを含む。

磁気記録媒体に予めテストライト手段の動作時に使用される領域をテストライト領域として確保しておくことで、磁気記録媒体の空き容量が少なくなりテストライトが行なえなくなることを防ぐことができる。その結果、磁気記録媒体への書込時における所定の設定情報の最適化を確実に行なうことができる。

好ましくは、所定の設定情報は、発生する磁界のパルス幅及び発生する磁界の最大値のいずれか一方又はその双方を含む。

磁界発生時のパルス幅を変更することによって、磁気記録セルに対する書込タイミングを調整することができる。テストライト手段によりパルス幅を最適化することによって、磁気記録装置における記録時の記録エラーを低減することができる。また、発生する磁界の最大値を変更することによって、磁気記録セルが保持する磁力を調整することができ、磁気記録セルに対して適切な磁界の強さで情報を記録することができる。テストライト手段により発生する磁界の最大値を最適化することによって、磁気記録セルに対する記録時の磁界の強度不足、又は過度の磁化による磁界の干渉などが原因の記録エラーを低減させることができる。

好ましくは、磁気記録装置は、記録面上には、磁気記録セルが円盤形状の周方向にピッチｄで配置され、書込手段と読取手段とは、円盤形状の周方向に間隔Ｌをもって配置されており、磁気記録ヘッドが半径方向に移動するときの磁気記録ヘッドの媒体に対するスキュー角の最大値をΘとするとき、Ｌ（１−ｃｏｓΘ）＞ｄ／１０である。

この磁気記録装置の場合、記録磁界の発生タイミングが、磁気記録セルの１０％の距離に対応する時間以上のずれが生じる半径範囲が存在することになる。このような場合には、記録エラーが発生しやすい状況が発生する。このため、スキュー角θの最大値がΘとなる磁気記録装置であってこの数式を満足する磁気記録装置においては、上記に準じてテストライトを行うことが特に好ましい。

本発明の第２の局面に係る磁気記録評価装置は、互いに磁気的に孤立した複数の磁気記録セルが配列された記録面を有する円盤形状の磁気記録媒体を脱着自在に保持するスピンドルと、スピンドルを回転させるためのスピンドルモータと、スピンドルに保持された磁気記録媒体の記録面に対して、所定の設定情報にしたがった条件で、書込情報に応じて磁界を発生し、磁気記録媒体の磁気記録セルに情報を記録するための書込手段、及びスピンドルに保持された磁気記録媒体の磁気記録セルに記録された情報を読取るための読取手段が一定の位置関係を保つように設置されたサスペンションを脱着自在に保持するための接合部と、接合部に保持されたサスペンションに設置される書込手段及び読取手段を、磁気記録媒体の記録面上の半径方向に動作させるための手段と、テストライト開始信号に応答して、磁気記録媒体がスピンドルに保持され、かつサスペンションが接合部に保持された状態で、所定の設定情報を変化させながら、書込手段及び読取手段によるテスト情報の書込及び読出と、読出したテスト情報の書込の品質を表す所定の品質指標値の算出とを繰返した結果に基づいて、所定の品質指標値が予め定められる条件を充足するように所定の設定情報を最適化し、出力するためのテストライト手段とを含む。

この磁気記録評価装置は、スピンドルにセットされた磁気記録媒体に対して、書込手段に係わる所定の設定情報を変化させながら、磁気記録媒体にテスト情報の書込及び読出と、テスト情報の書込品質を表す品質指標値の算出とを繰返す。そして、品質指標値が予め定められる条件を満たすように所定の設定情報を求め、設定情報を出力する。それにより、磁気記録評価装置にセットされた磁気記録媒体に対して、書込手段の最適な設定情報を得ることができる。その結果、パターンドメディアを記録媒体として用いた磁気記録装置において、記録エラー及び再生エラーを少なくするために、用いられる記録媒体の特性を測定することが可能な磁気記録評価装置を提供することができる。

好ましくは、磁気記録評価装置は、読取手段の出力信号が、書込手段による書込のトリガーとなる所定の信号と一致するか否かを判定するための判定手段をさらに含む。所定の設定情報は、判定手段が出力信号と所定の信号とが一致すると判定してから書込手段が磁界を発生するまでの待機時間である。

この磁気記録装置は、磁気記録媒体に対して書込手段に係わる所定の設定情報を変化させながら、磁気記録媒体にテスト情報の書込及び読出と、テスト情報の書込の品質を表す品質指標値の算出とを繰返す。そして、品質指標値が予め定められる条件を満たすような最適な所定の設定情報を求め、その設定情報を用いて情報の書込を行なう。それにより、媒体への書込みタイミングが重要となるパターンドメディアを用いた磁気記録装置において、書込手段の最適な設定情報を用いて、磁気記録媒体に情報を書込むことができる。その結果、パターンドメディアを記録媒体として用いた磁気記録装置において、記録エラー及び再生エラーを少なくすることが可能な磁気記録装置を提供することができる。

本発明の第１の実施の形態に係る磁気記録装置３０の構成を表すブロック図である。 ＣＰＵ４２で所定のプログラムが実行されることによって実現される、記録再生ヘッド５０の制御を行なうための機能的構成を表すブロック図である。 磁気記録装置３０の内部構成を表す図である。 記録再生ヘッド５０を記録媒体側から見たときの、記録再生ヘッド５０の概略構成を表す図である。 第１の実施の形態に係る磁気記録媒体１００の概略構成を表す図である。 磁気再生素子５４が、図５の破線１３６に沿って磁気記録媒体１００を読取ったときに検出する信号を表す図である。 磁気記録装置３０のＣＰＵ４２によって実行され、磁気記録装置３０におけるテストライトプログラムの制御構造をフローチャート形式で表す図である。 図７のプログラムのＳ２１２で記録される、遅延時間とエラーレートとの関係を表す図である。 磁気記録装置における磁気記録媒体及び記録再生ヘッドの位置関係について表す図である。 図９（Ａ）の磁気記録媒体が用いられた時の遅延時間ｔとエラーレートとの関係を表すグラフである。 図９（Ａ）の磁気記録媒体が用いられた時の遅延時間ｔとエラーレートとの関係を表す別のグラフである。 サーボデータ領域を持たない磁気記録媒体２００の概略構成を表す図である。 磁気再生素子が、図１２の破線２０６に沿って磁気記録媒体２００を読取ったときに検出する信号を表す図である。 テストライト領域が予め割当てられている磁気記録媒体を表す図である。 磁気記録媒体における磁気記録セルの配置構造を表す図である。 磁気記録媒体のセクタ分離帯を含んだ構造を表す図ある。 本発明の第２の実施の形態に係る磁気記録評価装置２９０の構成を表すブロック図である。 ＣＰＵ３０２で所定のプログラムが実行されることによって実現される、記録再生ヘッド３６６の制御を行なうための機能的構成を表すブロック図である 磁気記録評価装置２９０の概略構成を表す図である。 磁気記録評価装置２９０のＣＰＵ３０２によって実行され、磁気記録評価装置２９０におけるテストライトプログラムの制御構造をフローチャート形式で表す図である。 図２０のプログラムのＳ４２０で記録される、遅延時間とジッタ値との関係を表す図である。 磁気記録媒体１００の製造方法について説明する図である。 異なる半径位置での記録再生を行う場合の記録再生ヘッド５０の位置の変化を示す図である。 磁気記録素子５２と磁気再生素子５４の磁気記録媒体における周方向への距離Ｌが変化した場合の模式図である。

以下、本発明の具体的な実施の形態について説明する。以下の説明及び図面においては、同一部品には同じ参照符号および名称を付してある。それらの機能も同様である。したがって、それらについての詳細な説明は繰返さない。

［第１の実施の形態］
―構成―
図１を参照して、磁気記録装置３０は、磁気記録装置３０の動作を制御するコントローラ４０と、円盤状の磁気記録媒体を回転させるスピンドルを駆動するスピンドルモータ５８と、スピンドルモータ５８の動作をコントローラ４０の制御にしたがって制御するためのスピンドル制御部５６と、図示しないサスペンションの先端に設けられ、記録媒体に対して磁気情報の読書きを行なうための記録再生ヘッド５０と、スピンドルに装着された磁気記録媒体の半径方向に記録再生ヘッド５０が移動するよう、サスペンションを駆動するＶＣＭ（Ｖｏｉｃｅ Ｃｏｉｌ Ｍｏｔｏｒ）６２と、コントローラ４０及び記録再生ヘッド５０に接続され、コントローラ４０と記録再生ヘッド５０との間の信号のレベルを適正に調整するためのアンプ７０と、コントローラ４０とＶＣＭ６２とに接続され、コントローラ４０の制御にしたがってＶＣＭ６２を駆動するＶＣＭ制御部６０とを含む。

コントローラ４０は、所定のプログラムを実行することにより磁気記録装置３０全体の動作を制御するＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）４２と、ＣＰＵ４２に接続されたバス４３と、いずれもバス４３に接続された、ＣＰＵ４２で実行するプログラムなどを記録するためのＲＯＭ（Ｒｅａｄ−Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）４４、ＣＰＵ４２がプログラムを実行する時に一時記憶部として用いるＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）４６、磁気媒体に記録する際の最適遅延時間を記憶する設定情報記憶部４８、及び外部端末との接続を提供する外部機器インターフェイス６６とを含む。スピンドル制御部５６及びＶＣＭ制御部６０はいずれもＣＰＵ４２に接続されており、ＣＰＵ４２からの制御信号を受けて動作する。アンプ７０はＣＰＵ４２及び記録再生ヘッド５０に接続されており、記録再生ヘッド５０から出力される再生信号を増幅してＣＰＵ４２に与え、ＣＰＵ４２からの記録信号のレベルを記録に適したレベルに変換して記録再生ヘッド５０に与える。

記録再生ヘッド５０は、アンプ７０からの記録信号にしたがって磁界を発生するための磁気記録素子５２と、磁気記録媒体に記憶された磁界情報を読取り電気信号として出力するための磁気再生素子５４とを含む。

また、ＲＯＭ４４及びＲＡＭ４６は、記録再生ヘッド５０が含む磁気記録素子５２及び磁気再生素子５４に関して、磁気記録素子５２が発生する磁界の強さ、パルス幅、発生タイミングなどの情報を記憶する。ＲＯＭ４４及びＲＡＭ４６はさらに、磁気再生素子５４が追従するトラックを判別するための信号振幅、領域判別用の信号振幅、配置情報、信号振幅と記録再生ヘッド５０の半径方向への移動量とを対応付けたテーブルなどを記憶する。

図２を参照して、コントローラ４０が所定のプログラムを実行することにより、ハードウェアとプログラムとの協働によって実現する機能ブロックは、遅延時間の調整時に、種々の遅延時間を使用してテストデータを磁気記録媒体に書込むテストライトを行なった際の、再生データのエラーレートを遅延時間ごとに算出するためのエラーレート算出部９０と、エラーレート算出部９０により遅延時間ごとに算出されたエラーレートを受け、エラーレートが低くなるように遅延時間を調整し、図１に示す設定情報記憶部４８に記憶させるための遅延時間調整部９２と、動作時に磁気再生素子が検出した信号に基づき、磁界発生のタイミングの基準となる基準タイミングを特定するための信号特定部９４と、遅延時間調整部９２により調整された遅延時間を設定情報記憶部４８から読出し、信号特定部９４が検出した基準タイミングから、遅延時間調整部９２から読出した遅延時間だけ遅延したタイミングで磁気記録素子５２の磁界発生を開始させるためのタイミング制御部９６と、磁気再生素子５４の検出信号から記録再生ヘッド５０の位置情報を算出し、ＶＣＭ制御部６０に移動指示を送信して記録再生ヘッド５０の磁気記録媒体に対する半径位置制御を行なうためのヘッド位置制御部９８とを含む。

ヘッド位置制御部９８は、フィードバック制御による半径位置制御を行なうことで、所定のトラックに追従して記録再生を行なうトラッキング制御を実現する。すなわち、ヘッド位置制御部９８は、磁気再生素子５４の検出信号の信号波形から記録媒体上に記録されたサーボパターンを検出し、サーボパターンの配置情報及び識別情報を参照することによってオフトラック方向及びオフトラック量を判定し、ヘッド位置の制御を行なう。

図３を参照して、磁気記録装置３０はさらに、パターンドメディアの磁気記録媒体である磁気記録媒体１００と、スピンドルモータ５８によって駆動されるスピンドル１０６とを含む。

磁気記録媒体１００は円盤形状をしており、中央部にはスピンドル１０６が嵌合可能な穴部が形成されている。磁気記録媒体１００に嵌合したスピンドル１０６は、磁気記録媒体１００を矢印１０８方向に回転させる。

磁気記録装置３０はさらに、ＶＣＭ６２（図１参照）により一端部を中心に回動するよう駆動され、他端の下面に記録再生ヘッド５０を備えたサスペンション１０２と、記録再生ヘッド５０を退避させる位置に設けられたランプ機構１０４とを含む。

サスペンション１０２は、ＶＣＭ６２によってその先端が磁気記録媒体１００上の半径方向に移動可能なように駆動される。サスペンション１０２の先端部には記録再生ヘッド５０が備えられているため、記録再生ヘッド５０はＶＣＭ６２の動作に応じて磁気記録媒体１００の半径方向における位置を変更することができる。

図４及び図３を参照して、記録再生ヘッド５０は、いずれも磁気記録媒体１００と向かい合う面（磁気記録媒体１００と近い面）に配置された、磁気記録媒体１００に対して垂直方向の磁界を印加するための磁気記録素子５２と、磁気記録媒体１００に記録された磁界を検出して電気信号を出力するための磁気再生素子５４とを含む。

磁気記録素子５２は、磁気記録媒体１００に情報を記憶する時は、情報を記録するのに十分な強度の磁界を印加する。この時、印加する磁界の方向も考慮される。本実施の形態においては、図４において紙面手前から奥に向かう磁界の方向を下向き、紙面奥から手前に向かう磁界の方向を上向きとする。磁気記録媒体１００に情報を記録するときには、下向きの磁界、又は上向きの磁界を印加する。

なお、磁気記録素子５２と、磁気再生素子５４との磁気記録媒体１００から見た円周方向における位置関係は以下の通りである。すなわち、記録再生ヘッド５０が回転する磁気記録媒体１００の任意の位置を通過するとき、任意の位置上を磁気再生素子５４が先に通過し、磁気記録素子５２がその後に通過するような位置関係になっている。そのため、記録再生ヘッド５０は、先に磁気再生素子５４の検出信号を出力し、その後に、磁気記録素子５２によって情報を記憶する。

ここで、磁気記録装置３０における磁気記録媒体１００に対する磁気情報の記録再生について説明する。本実施形態に係る磁気記録装置３０の磁気再生素子５４は、磁化検出領域で磁化が存在しない場合には、磁気記録媒体１００からゼロレベル（後述）の信号を出力する。また、磁気再生素子５４は、下向きの磁化が存在する場合にはプラスの信号を出力する。一方、上向きの磁化が存在する場合にはマイナスの信号を出力する。

図５を参照して、磁気記録媒体１００は、孤立した複数個の円柱状の磁気記録セル１３０を含む、パターンドメディアの磁気記録媒体である。また、記録媒体面内方向に対して垂直方向に磁化されることで情報が記録されるタイプの磁気記録媒体である。

磁気記録媒体１００は、ユーザデータを記録するユーザデータ領域１３２と、予め設定された、磁界の方向が変化しないサーボパターン領域１３４とを含む。ユーザデータ領域には磁気記録セル１３０が含まれ、磁気記録装置３０によって磁気情報が記録再生される。サーボパターン領域１３４は、磁界の方向が変化しないため、サーボパターン領域の信号を、例えばトラッキングサーボ用パターンなどの検出信号として用いる。

磁気記録媒体１００では、複数のトラックが該磁気記録媒体１００の半径方向に等しい間隔、つまり一定のトラックピッチ（図５の例では５０ｎｍとする）で同心円状に配置されている。複数のトラックの各々には上記磁気記録セル１３０が配置されている。すなわち、各トラックを基準にして見ると（例えば、破線１３６を該複数のトラックの内の１つとして見ると）、磁気記録セル１３０は一列に配置されている。本実施形態に係る磁気記録媒体１００での磁気記録セル１３０の大きさは、直径２５ｎｍ及び高さ４０ｎｍとする。

図５を参照して、本実施の形態では、矢印１４０が示す方向を磁気記録媒体１００の回転方向とする。そのため、磁気記録装置３０は、磁気記録媒体１００において、図５の右側の磁気記録セル１３０から順に信号を検出する。

以下、磁気記録媒体１００の製造方法の一例について示す。

図２２を参照して、まず、ガラス基板４１０上に軟磁性層４２０を形成し、この軟磁性層４２０上にレジスト４３０を塗布する（図２２Ａ）。次に、レジスト４３０上に微細パターンを形成する。微細パターンとは、記録媒体上に形成される磁気的に孤立した磁気記録セル１３０の配置パターンのことである。磁気記録媒体１００の場合、微細パターンによって直径２５ｎｍ程度の円を配置し、円柱状の磁気記録セル１３０を形成する。微細パターンの形成方法の例として、レジストの所望の位置に電子線を照射し、現像処理を行なうことでレジスト上に所望のパターンを形成する「電子リソグラフィー法」がある。電子リソグラフィー法にて現像処理がなされると、電子線が照射された部分のレジストが無くなり、レジスト上に微細パターンが形成される（図２２Ｂ）。微細パターンを形成後、磁気記録セル１３０を形成する材料４４０（Ｃｏなど）をレジスト上に成膜する。この時、レジスト４３０がなくなった領域に関しては、磁気記録セル１３０を形成する材料４４０の一部が軟磁性層上に成膜される（図２２Ｃ）。その後、有機溶剤などを用いて、レジスト４３０とレジスト４３０上に堆積した磁気記録セル１３０を形成する材料４４０とを除去する。このとき、軟磁性層４２０上に直接堆積した磁気記録セル１３０を形成する材料４４０は除去されずに残る（図２２Ｄ）。これが磁気記録セル１３０となる。レジスト４３０及びレジスト４３０上に堆積した磁気記録セルを形成する材料４４０を除去後、この基板４１０上に非磁性層を成膜する。そして、この基板の非磁性層側から研磨を行ない、磁気記録セル１３０を表面に露出させ、基板表面を平滑にする。最後に、磁気記録セル１３０が形成された基板に対して潤滑剤を塗布する。

上記磁気記録媒体１００の製造方法では、磁気記録セル１３０を形成する材料としてＣｏを挙げた。しかし、他の金属、例えばＰｔ、Ｆｅ、Ｎｉ、Ｃｒ、Ｍｎ及びこれらの金属からなる合金を用いてもよい。合金の例としては、ＣｏＰｔ、ＳｍＣｏ、ＣｏＣｒ又はＴｂＦｅＣｏ合金を用いてもよい。さらに、レジストへの微細パターンの形成方法としては上記した電子リソグラフィー法の他に、例えば陽極酸化法、フォトリソグラフィー法、ナノインプリント法等を用いることが可能である。

また、上記した磁気記録媒体１００の製造方法では、磁気記録媒体１００の片面にのみ磁気記録面（磁気記録セル１３０を有する面）を形成しているが、これに限らず、磁気記録媒体１００の両面に磁気記録面を形成してもよい。この場合には、上記製造方法に示す工程が、磁気記録媒体１００の両面に対して実施されればよい。なお、磁気記録媒体１００の両面に形成される磁気記録面への潤滑剤の塗布については、同時に行うことも可能である。

図６を参照して、曲線１５６は、図５の破線１３６に沿って磁気再生素子５４が磁気記録媒体１００を読取ったときの検出信号を表す。曲線１５６が座標軸１５０に対して上部にあるときはプラスの信号が、下部にあるときはマイナスの信号が、及び軸１５０上にあるときはゼロレベルの信号が検出されたものとする。

図６において、領域１５２内の検出信号はサーボパターン領域１３４から検出された信号を表し、領域１５４内の信号はユーザデータ領域１３２から検出された信号を表す。図５及び図６を参照して、磁気再生素子５４は、サーボパターン領域１３４から下向きの磁化を紙面左側から３個検出したことを示している。磁気再生素子５４はさらに、サーボパターン領域１３４の信号を検出後、ユーザデータ領域１３２の磁気記録セル１３０から紙面左側から順に３個（検出順に下向き、上向き、下向き）の磁化を検出したことを示している。

後述するテストライトプログラムにおいて、検出する基準信号はサーボパターン領域１３４からの信号が用いられる。サーボパターン領域１３４は、磁化方向が変化しない領域である。そのため、基準信号として用いる信号の検出に向いており、その結果、基準信号検出に起因する記録エラーを生じにくくすることができる。

図７に示すテストライトプログラムは、磁気記録装置３０において、磁気記録媒体１００への記録するときの最適な遅延時間を設定するためのプログラムである。ここでの「遅延時間」とは、磁気再生素子５４が磁気記録媒体１００から予め定めた基準信号を検出してから、磁気記録素子５２が磁気記録媒体１００へ記録（磁界発生）を開始するまでの時間のことを指す。テストライトプログラムでは、磁気記録媒体１００に対してある遅延時間でテストデータを書込み、書込んだテストデータを読取ってエラーレートを算出し、記録する。そして、設定された遅延時間範囲内で遅延時間を変更しながらテストデータの書込み及びエラーレートの算出を繰返し、記録時のエラーが生じにくい最適な遅延時間を決定する。また、テストライトプログラムで用いられるパラメータ変数（遅延時間範囲における初期設定の最小値ｔｍｉｎ、最大値ｔｍａｘ、テストライト繰返し回数Ｎ、エラーレート規定値ｅｒ_ｍ）、及び基準信号は、予めプログラム内に記憶されているものとする。

図７を参照して、このプログラムは、磁気記録装置３０に電源が投入され、遅延時間の調整が指示された時に起動する。このプログラムは、パラメータ変数ｔｍｉｎ、ｔｍａｘ、及びＮから遅延時間のステップ値Δｔを算出するステップ（以下単に「Ｓ」と記載する。）２０４と、Ｓ２０４に続いて実行され、変数ｎに０を設定するＳ２０６と、Ｓ２０６に続いて実行され、磁気再生素子５４が基準信号を検出したか否かを判定し、判定結果に応じて制御の流れを分岐させるＳ２０７とを含む。

Ｓ２０４において算出するステップ値Δｔは、Δｔ＝（ｔｍａｘ−ｔｍｉｎ）／（Ｎ−１）から算出する。このステップ値Δｔは、テストライトプログラムで遅延時間を段階的に変更させる時に用いる値である。このステップ値Δｔを用いると、変数ｎに対応した遅延時間ｔ_ｎ（ｎ＝０〜Ｎ−１）は、ｔ_０＝ｔｍｉｎ、ｔ_１＝ｔｍｉｎ＋Δｔ、…、ｔ_ｎ＝ｔｍｉｎ＋ｎ・Δｔ、…、ｔ_Ｎ−２＝ｔｍｉｎ＋（Ｎ−２）・Δｔ、ｔ_Ｎ−１＝ｔｍｉｎ＋（Ｎ−１）・Δｔ＝ｔｍａｘ、として表すことができる。

このプログラムはさらに、Ｓ２０７で基準信号を検出した（ＹＥＳ）と判定された時に実行され、磁気記録素子５２を用いて変数ｎに対応した遅延時間ｔ_ｎで磁気記録媒体１００にテストデータを記録するＳ２０８と、Ｓ２０８に続いて実行され、Ｓ２０８で記録したテストデータを磁気再生素子５４で再生し、エラーレートｅｒ_ｎを算出するＳ２１０と、Ｓ２１０に続いて実行され、遅延時間ｔ_ｎ及び対応するエラーレートｅｒ_ｎを記録するＳ２１２と、Ｓ２１２に続いて実行され、変数ｎにｎ＋１の値を設定するＳ２１４と、Ｓ２１４に続いて実行され、変数ｎが、ｎ＞Ｎ−１の条件式を満たすか否かを判定し、判定結果に応じて制御の流れを分岐させるＳ２１６とを含む。このプログラムはさらに、Ｓ２１６で条件式を満たす（ＹＥＳ）と判定された時に実行され、記録した遅延時間ｔｎとエラーレートｅｒ_ｎとの関係において、予め設定されたエラーレート規定値ｅｒ_ｍ以下の値においてエラーレートｅｒ_ｎに極小値があるか否か判定し、判定結果に応じて制御の流れを分岐させるＳ２１８と、Ｓ２１８で極小値がない（ＮＯ）と判定された時に実行され、遅延時間範囲の最小値ｔｍｉｎと最大値ｔｍａｘとを再設定し、制御をＳ２０４に戻すＳ２２０と、Ｓ２１８で極小値がある（ＹＥＳ）と判定された時に実行され、エラーレートが規定値ｅｒ_ｍ以下となる時の遅延時間範囲の中心値ｔｃを算出するＳ２２２と、Ｓ２２２に続いて実行され、ｔｃを最適遅延時間として設定し、設定情報記憶部４８に記憶させるＳ２２４とを含む。Ｓ２０７で、基準信号を検出していない（ＮＯ）と判定された場合、制御はＳ２０７に戻り基準信号を検出するまで待つ。Ｓ２１６で条件式を満たさない（ＮＯ）と判定された場合、制御はＳ２０７に戻る。Ｓ２２４実行後、このプログラムは終了する。

Ｓ２１０で算出されるエラーレートｅｒ_ｎは、遅延時間ｔ_ｎで磁気記録媒体１００にテストデータを記録した時の間違い率である。具体的には、遅延時間ｔ_ｎで磁気記録素子５２が磁気記録媒体１００にテストデータを記録し、磁気再生素子５４が記録されたテストデータを再生して、その再生結果から算出する。エラーレートの算出例として、エラーレート＝（間違って記録（読出）されたデータの個数）／（記録したテストデータの全個数）、で算出する。この場合、エラーレートの最大値は１、最小値は０となり、エラーレートが０に近いほどエラーが少なく良好であるといえる。

図８を参照して、矢印１６０は、エラーレートが予め設定されたエラーレート規定値ｅｒ_ｍ以下になる時の遅延時間ｔの範囲を表す。矢印１６０で表すような、エラーレートが規定値ｅｒ_ｍ以下になる時の遅延時間の範囲を、遅延時間の「マージン（許容範囲）」と呼ぶ。また、図８を参照して、エラーレートが規定値以下になる時の最小の時間をｔ_ａ、最大の時間をｔ_ｂとする。

図７のプログラムにおいて、Ｓ２１８での極小値とは、図８に示すような遅延時間とエラーレートとの関係において、測定する遅延時間範囲の中でエラーレートが描く曲線が下に凸となる範囲での最小値のことを指す。

Ｓ２２２において、ｔ_ｃは、図８を参照して、ｔ_ｃ＝（ｔ_ｂ＋ｔ_ａ）／２、で算出する。

Ｓ２２０において、パラメータ変数ｔｍｉｎ及びｔｍａｘを再設定する時は、測定する遅延時間の範囲が広がるように、すなわち｜ｔｍａｘ−ｔｍｉｎ｜の値が大きくなるように、遅延時間の最小値ｔｍｉｎ及び最大値ｔｍａｘを再設定する。

―動作―
第１の実施の形態に係る磁気記録装置３０は以下のように動作をする。

磁気記録装置３０のＣＰＵ４２は、電源が投入され記録媒体の最適化処理が選択されると、パラメータ変数（遅延時間範囲の最小値ｔｍｉｎ、最大値ｔｍａｘ、及びテストライト繰返し回数Ｎ）から遅延時間のステップ値Δｔを算出する（Ｓ２０４）。磁気記録装置３０は変数ｎに０を代入後（Ｓ２０６）、磁気再生素子５４が磁気記録媒体１００から基準信号を検出したか否かを判定する（Ｓ２０７）。基準信号を検出した（Ｓ２０７でＹＥＳ）場合、遅延時間ｔ_０＝ｔｍｉｎで、磁気記録素子５２が磁気記録媒体１００にテストデータを記録する（Ｓ２０８）。遅延時間ｔ_０でテストデータを記録後、磁気再生素子５４でテストデータを再生し、再生結果と元のテストデータとを比較して遅延時間ｔ_０に対するエラーレートｅｒ_０を算出して（Ｓ２１０）、ｔ_０及びｅｒ_０の値を記録する（Ｓ２１２）。その後、変数ｎにｎ＋１の値を代入し（Ｓ２１４）、変数ｎが条件式ｎ＞Ｎ−１を満たすか否かを判定する（Ｓ２１６）。ここではＳ２１４で変数ｎは１となり、テストライト繰返し回数Ｎを仮に１００とした場合、Ｓ２１６の条件式は満たさない（ＮＯ）ので、制御はＳ２０７に戻る。その後、ｎ＝１でＳ２０７からＳ２１２の処理を行ない、遅延時間ｔ_１＝ｔ_０＋１・Δｔでのエラーレートｅｒ_１を算出して結果を記録する。そして変数ｎにｎ＋１（＝２）の値を代入する。以降、こうした処理を変数ｎがｎ＞Ｎ−１の条件式を満たすまで繰返す。変数ｎ＝Ｎ−１＝９９の時、遅延時間ｔ_９９＝ｔｍｉｎ＋９９・Δｔ＝ｔｍａｘで磁気記録媒体１００にテストデータを記録し、再生結果からエラーレートｅｒ_９９を算出して、ｔ_９９及びｅｒ_９９の値を記録する。Ｓ２１４で変数ｎにｎ＝１００の値が代入される。その結果Ｓ２１６の条件式が満たされ、制御はＳ２１８に進む。

Ｓ２１８では、記録したｅｒ_ｎ（ｎ＝０〜９９）の値が遅延時間ｔ_ｎに対して描く曲線が下に凸で、かつ規定値ｅｒ_ｍ以下の極小値があるか否かが判定される。極小値がない（Ｓ２１８でＮＯ）と判定された場合は、遅延時間範囲、すなわちｔｍａｘ−ｔｍｉｎの値が大きくなるように、ｔｍｉｎ及びｔｍａｘを再設定し、制御をＳ２０４に戻して再度、遅延時間ｔ_ｎに対するエラーレートｅｒ_ｎを算出する。

極小値がある（Ｓ２１８でＹＥＳ）と判定された場合には、エラーレートの規定値ｅｒ_ｍと同一又は近似の値を取るときの遅延時間ｔ_ａ及びｔ_ｂ（ｔｍｉｎ＜ｔ_ａ＜ｔ_ｂ＜ｔｍａｘ）を決定し、最適な遅延時間ｔ_ｃをｔ_ｃ＝（ｔ_ｂ＋ｔ_ａ）／２として算出する（Ｓ２２２）。Ｓ２２２で算出したｔ_ｃを、磁気記録媒体１００の最適遅延時間として設定し、設定情報記憶部４８に記録して（Ｓ２２４）、テストライトプログラムを終了する。

通常動作時、磁気記録装置３０は、以下のように動作する。

磁気記録装置３０は、磁気記録媒体１００にデータを記録する時、磁気再生素子５４で磁気記録媒体１００を読取り、基準信号を検出する。磁気再生素子５４が基準信号を検出すると、磁気記録素子５２に基準信号検出から最適遅延時間ｔ_ｃだけ遅らせたタイミングで磁界を発生させて、磁気記録媒体１００にデータを記録する。

以上のように、本実施の形態に係る磁気記録装置３０は、テストライトプログラムを実行する。テストライトでは、磁気記録媒体から基準となる検出信号を検出してから、磁気記録媒体にデータを記録するまでの遅延時間を設定してテストデータを記録媒体に書込み、書込んだデータを磁気再生素子で読取って、設定した遅延時間に対するエラーレートを算出し記憶する。この動作を設定した遅延時間範囲内で繰返し行ない、予め設定したエラーレートの規定値以下で極小値をとる点を検出する。そして、その極小値の前後においてエラーレートの規定値と一致又は近似の値をとる遅延時間を算出し、その中心値を最適遅延時間として設定する。通常動作時には、書込時の遅延時間としてこの最適遅延時間を用いる。

このように、実際に磁気記録媒体に対して遅延時間を変更しながらテストデータを記録し、エラーレートを測定することで、パターンドメディアを記録媒体として用いた磁気記録装置において重要な磁界発生タイミングの最適な値を設定することができる。その結果、パターンドメディアを記録媒体として用いた磁気記録装置において、予め形成させた磁気記録セルに対し、高い精度でタイミングを合わせて磁界発生させることが可能となり、記録エラー及び再生エラーを少なくすることができる磁気記録装置を提供することができる。

第１の実施の形態において磁気記録装置３０は、最適遅延時間をエラーレートの規定値ｅｒ_ｍ以下となる時間範囲の中心値ｔ_ｃとしている。その結果、データ記録時の遅延時間に誤差が生じた場合でも、エラーレートを規定値以下に抑える可能性を高くすることができる。

また、基準となる信号は上記した信号に限るものではない。クロック発生用のパターン信号、アドレスパターン信号、及びトラッキング用のバーストパターン信号などであっても良い。信号が検出される領域に関してもサーボパターン領域とは限らず、ユーザデータ領域から検出されるような形態であっても良い。

本実施の形態では、磁気記録媒体の磁気記録セルの大きさを、直径２５ｎｍ及び高さ４０ｎｍとした。しかし、磁気記録セルの大きさはこれに限らない。磁気記録セルの大きさは、好ましくは直径が５ｎｍ〜４５ｎｍ及び高さが１０ｎｍ〜６０ｎｍの範囲である。磁気記録セルの形状についても、円柱状に限られるものではない。例えば四角柱状、楕円柱状、球状等であってもよく、孤立した磁気記録セルに磁気情報が記録できればどのような形状であってもよい。

本実施の形態では、遅延時間範囲においては図８に示すようにエラーレートの極小値は１つだけであったが、磁気記録媒体によっては遅延時間範囲内に複数のエラーレートの極小値を持つ場合がある。その場合は複数の極小値のうちのいずれかを選択し、選択した極小値の前後でエラーレート規定値と一致又は近似する時の遅延時間を抽出し、その時間の中心値を最適遅延時間とすればよい。

磁気記録装置３０は、遅延時間に関して上記の様に算出された最適遅延時間を用いる以外に、遅延時間範囲内でエラーレートが規定値ｅｒ_ｍ以下となる時のいずれかの遅延時間ｔ_ｎを遅延時間として設定できるようにしてもよい。この結果、エラーレートが規定値以下となるような遅延時間でデータを記録することができる。磁気記録装置３０はさらに、遅延時間範囲内でエラーレートが規定値ｅｒ_ｍ以下で、かつエラーレートが最小値をとる時の遅延時間を最適遅延時間としても良い。このようにすることで、エラーレートが最も小さくなる時の遅延時間で磁界を発生させ情報を記録することが可能になる。このとき、遅延時間ｔ_ｎを横軸、エラーレートｅｒ_ｍを縦軸としたグラフでは、発生する各種ノイズによってスムーズなラインを描くグラフにならない可能性が高い。この場合、より適した遅延時間を抽出するために、２次曲線、又はｓｉｎなどの三角関数曲線によって近似曲線を作成し、その曲線に基づいて最小値などを抽出することが好ましい。この際、近似曲線から１点を抽出することになるため、その遅延時間がｔ_ｎ（ｎ＝０〜Ｎ−１）のいずれかの値と等しくならなくても良い。

さらに、本実施の形態ではエラーレートを信号品質値として考え、エラーレートの基準値を用いて最適遅延時間を算出していたが、信号品質値はエラーレートに限られるものではない。例えば、ジッタを信号品質値として考えても良い。ジッタは、再生信号のクロック信号に対する時間的なずれを示し、エラーレートと同様に値が小さいほど信号品質は良いとされるものである。磁気記録装置が、磁気再生素子が検出した信号からジッタを算出するジッタ算出部を含み、上記検出した信号から算出されるジッタ値が基準値以内となる遅延時間の範囲で、磁気記録媒体への遅延時間を設定するようにしても良い。このようにすることで、磁気再生素子が基準となる信号を検出してからどれだけの遅延時間を経過して、磁気記録素子が磁界発生を開始するかを調整することが可能となる。その結果、ジッタが小さくなるような磁気記録素子と磁気記録セルとの位置関係の時に磁界発生を開始することが可能となり、記録及び再生エラーの発生を低減することができる。つまり、磁気磁界発生の開始が、記録セルに対してどのような位置の時に記録エラーを生じにくくするかがわかり、その後行なう記録及び再生のエラー発生を抑えることができる。

また、検出した信号から算出されたジッタが最小となる時の遅延時間を、ユーザデータ記録用の最適遅延時間として設定しても良い。このようにすることで、ジッタが最も小さくなる時の記録条件で磁界発生を行なうことが可能となる。また、上記検出した信号から算出されたジッタが規定値以内となる時間範囲の中心値を、ユーザデータ記録用の遅延時間として設定しても良い。このようにすることで、記録タイミングに誤差が生じた場合でも、ジッタが規定値以下になる可能性を高くすることができる。

磁気記録装置は、テストライト時の磁界発生におけるパルス幅及び最大磁界をそれぞれ調整できるようにすることが好ましい。テストライト時の磁界発生におけるパルス幅を調整することによって、磁気記録セルに対する磁界発生のタイミングを調整することができ、磁気記録セルに対して適切なタイミングで情報を記録することができる。その結果、記録時における記録エラーを低減させることができる。また、最大磁界を調整することによって、磁気記録セルが保持する磁力を調整することができ、磁気記録セルに対して適切な磁界の強さで情報を記録することができる。その結果、磁気記録セルに対する記録時の磁界の強度不足などによって生じる記録エラーを低減させることができる。

磁界発生時のパルス幅及び最大磁界を調整する場合、上述した遅延時間の算出方法と同様にして、記録時における最適パルス幅、及び最適磁界強度をそれぞれ設定することができる。具体的には、記録時における発生磁界のパルス幅及び磁界強度をそれぞれパラメータとして変化させ、その時のエラーレートを算出し、エラーレートが規定値以下で極小値をとる時のパルス幅及び磁界強度をそれぞれの最適設定値とする。なお、この場合、先に最適遅延時間を決定してしまうと、設定可能なパルス幅の時間範囲を狭くしてしまう可能性がある。そのため、記録時における最適パルス幅を設定した後に、最適遅延時間を算出することが好ましい。

また、テストライトは一定期間毎に実行されることが好ましい。定期的にテストライトを実行することにより、記録再生ヘッド及び磁気記録媒体などの経時変化による最適遅延時間の変化を修正することができ、記録時におけるエラー発生を継続的に少なくすることができる。ここでの一定期間とは、例えば、１年間であっても、１時間であっても良い。また、上記した実施の形態のように、磁気記録装置に遅延時間の調整が指示された時であってもよい。

さらに、テストライトは再生時のエラーレートが一定の値以上になった時点で実行されることが好ましい。このような契機でテストライトを実行することで、磁気記録装置は、磁気記録媒体の経時変化及びその他の外的影響により最適な遅延時間に変化が生じてエラーが多く発生するようになっても、テストライトプログラムが実行されて最適遅延時間が再設定される。再生時のエラーレートを把握し、エラーレートの状態に合わせて遅延時間が再設定されることで、磁気記録装置での記録時におけるエラー発生を常に少ない状態にすることができる。この時、一定の値とは、エラーレートの基準値であるｅｒ_ｍであっても良く、ｅｒ_ｍより小さい値であっても良い。また、ジッタを用いてテストライトを行なってもよく、ジッタが一定の値以上になった時点でテストライトを実行するようにしても良い。

磁気記録装置における磁気記録媒体は、上記実施の形態で用いられた磁気記録セルの配置構造に限られるわけではない。図１５を参照して、図１５（Ａ）は、磁気記録セル２４２が格子状に配列された磁気記録媒体２４０を表している。矢印２４４は、磁気記録媒体２４０の周方向を表している。図１５（Ｂ）は、磁気記録セル２５２の形状が楕円状になった磁気記録媒体２５０を表している。矢印２５４は、磁気記録媒体２５０の周方向を表している。磁気記録媒体は、図１５（Ａ）、図１５（Ｂ）の例で示すような構造でも良く、磁気記録セルの配列及び形状は実施の形態で用いられた構造に限られるものではない。磁気記録媒体における磁気記録セルの配列及び形状などの構造は、磁気記録素子による記録及び磁気再生素子による再生が可能な構造であればよい。図１６は、磁気記録セル２６２を複数含んだユーザデータ領域２６４がセクタ分離帯２６６によって分離された、磁気記録媒体２６０の配置構造を表している。磁気記録媒体２６０は、矢印２６８の方向に回転する。磁気記録媒体は図１６に示すような構造でもよい。また、図１６の例におけるセクタ分離帯２６６はサーボパターン領域を含んでいてもよく、サーボパターンの情報及びアドレスパターン情報などを記憶していても良い。

また、本実施形態は磁気記録セル１つに対して、１ビットの信号を記録する例であるが、いくつかの磁気記録セルを１つの磁気記録セル群とし、磁気記録セル群１つが１ビットとなるように記録されてもよく、このようにしても、上記テストライトを行うことにより記録エラーを少なくすることができる。この場合、記録密度は低くなるが、１つの磁気記録セルの中に誤記録をされた磁気記録セルが含まれていても、その他の磁気記録セルから正しい信号が得られれば、再生エラーに結びつきにくくなる。このため、いくつかの磁気記録セルの集合である磁気記録セル群に対して、１ビットの信号を記録する場合、含まれる磁気記録セルの数が少なくなるほど、各磁気記録セルへの記録エラーが再生エラーに結びつきやすくなる。よって、上記テストライトは、上記実施形態のように磁気記録セル１つに対して、１ビットの信号を記録する磁気記録装置において、より大きな効果を奏する。

例えば、磁気記録セル３つを磁気記録セル群とし、この磁気記録セル群に対して１ビットを記録する場合を考えると、磁気記録セル３つのうち２つが正確に記録され、うち１つが、記録磁界の発生タイミングのずれ（磁気記録セルに対する磁気記録素子の位置ずれ）のために誤記録となった場合、磁気記録セル２つからは正確な情報が得られるため、再生エラーになりにくくなる。一方、磁気記録セル１つに対して１ビットを記録する場合を考えると、記録磁界の発生タイミングのずれ（磁気記録セルに対する磁気記録素子の位置ずれ）のために誤記録となった場合は再生エラーとなる可能性が高くなる。

ここで、磁気記録装置３０は、異なる半径位置での記録再生を行う際、図２３の点線で示すような、ＶＣＭ、サスペンション及び記録再生ヘッドの位置になる（図２３は外周側で記録再生を行う例）。このため、記録再生ヘッド５０が磁気記録媒体１００に対して、スキュー角が生じるようになり、磁気記録素子５２と磁気再生素子５４の磁気記録媒体における周方向への距離Ｌが変化する。この点について、図２４に示す模式図で説明する。

図２４は、回転方向（周方向）１４０に対して、磁気記録素子５２と磁気再生素子５４が媒体の周方向に距離Ｌを隔てて平行に並んでいる状態と、これに対し、スキュー角θとなったときの記録再生ヘッド５０´、磁気記録素子５２´及び磁気再生素子５４´の状態を示している。

このとき、スキュー角θとなったときの、磁気記録素子５２´と磁気再生素子５４´の磁気記録媒体における周方向への距離Ｌ´は、
Ｌ´＝Ｌｃｏｓθ
となり、ＬとＬ´との差ΔＬは、
ΔＬ＝Ｌ（１−ｃｏｓθ）
となる。磁気記録媒体に配列された磁気記録セルの周方向へのピッチがｄのとき、
ΔＬ＞ｄ／１０つまりＬ（１−ｃｏｓθ）＞ｄ／１０
となるθの範囲（媒体における半径方向の範囲）が存在し、距離Ｌが、磁気記録セルのピッチｄの１０％より大きく変化する範囲が存在する場合、記録磁界の発生タイミングが、磁気記録セルの１０％の距離に対応する時間以上のずれが生じる半径範囲が存在することになり、課題に示した通り、記録エラーが発生しやすい状況が発生する。このため、スキュー角θの最大値がΘとなる磁気記録装置であって、
Ｌ（１−ｃｏｓΘ）＞ｄ／１０
となる磁気記録装置は、上記に準じてテストライトを行うことが好ましい。例えば、距離Ｌ、ピッチｄ及びスキュー角の最大値がそれぞれ、１μｍ、３０ｎｍ及び５°である場合、
Ｌ（１−ｃｏｓΘ）＝３．８（ｎｍ）
ｄ／１０＝３（ｎｍ）
であり、Ｌ（１−ｃｏｓθ）＞ｄ／１０となるため、上記テストライトを行うことが好ましい。

また、磁気記録装置における磁気記録媒体は、光などにより局所的に昇温させることで記録及び再生が行なわれる熱アシスト型の磁気記録媒体を用いても良い。この場合、記録再生ヘッドに光源などを新たに設ければよい。また、マイクロ波等のエネルギーにより局所的に反転磁界を低減させることで情報を記録する、マイクロ波アシスト型の磁気記録媒体を用いても良い。この場合、記録再生ヘッドにマイクロ波発生源などを新たに設ければよい。これら磁気記録媒体を用いることにより記録エラーが生じにくく、かつ大容量の磁気記録装置を実現することが可能になる。

なお、ユーザデータ記録用の遅延時間を決定する方法は、上記に限られるものではない。例えば、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｍａｘｉｍｕｍ Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式においてエラーレートとの相関性が高いＳＡＭ（Ｓｅｑｕｅｎｃｅｄ Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ Ｍａｒｇｉｎ）を用いても良い。その他に、信号品質値として、磁気再生素子が検出する信号の振幅を用い、振幅が規定値内になるように遅延時間を設定しても良い。ただし、信号品質値として信号振幅を選択する場合は、上記したエラーレート及びジッタの例とは異なり、その値が大きいほど信号品質値が良い。そのため、エラーレートを用いた時の「極小値」、「最小」及び「上に凸」は、振幅の用いた時にはそれぞれ「極大値」、「最大」及び「下に凸」に対応する。

（第１の実施の形態の変形例）
以下に、第１の実施の形態に係る磁気記録装置の変形例について記載する。

（変形例１）
図９を参照して、図９（Ａ）は、磁気記録媒体のユーザデータ領域における磁気記録セル１６２の配置について表す図である。図９（Ａ）を参照して、ユーザデータ領域における磁気記録セル１６２は、周方向へピッチｄで配置され、矢印１６５の方向に線速度ｖで移動する。

図９（Ｂ）は、変形例１における記録再生ヘッド１６４について表す図である。図９（Ｂ）を参照して、磁気記録素子１６６と磁気再生素子１６８とは、それらの中心位置が周方向距離Ｌの間隔をあけるように配置されている。周方向距離Ｌは、磁気記録素子１６６と磁気再生素子１６８との距離（誤差を含まない設計値のような値）と、記録再生ヘッド１６４のスキュー角とにより算出することができる。

図１０に示すグラフは、遅延時間ｔを横軸、エラーレートを縦軸にとってある。エラーレート基準値をｅｒ_ｍ１とする。図１０を参照して、曲線１７０は遅延時間ｔに対するエラーレート値を表す曲線、矢印１７４はテストライトにおける遅延時間の初期設定範囲、矢印１７２は周期的に変化する曲線１７０の時間周期幅、矢印１７６はエラーレート基準値をｅｒ_ｍ１としたときのマージンを表している。

図９（Ａ）の条件を満たすとき、図１０に示すように遅延時間ｔとエラーレートとの関係は、矢印１７２に示す時間周期幅で周期的なグラフを描く。この時の時間周期幅はｄ／ｖとなる。このとき、矢印１７４で示すテストライトにおける遅延時間の初期設定範囲を２ｄ／ｖより大きくすると、１度のテストライトプログラムの実行で、上に凸となる２つの頂点（点１７７、点１７８）に挟まれた時間周期幅ｄ／ｖ相当の連続な曲線で、かつ極小値を持った曲線を少なくとも１本得ることができる。この時のエラーレート基準値ｅｒ_ｍ１は、極小値よりも大きいものとする。

テストライトにおける遅延時間の初期設定範囲を２ｄ／ｖより大きくすることにより、図７に示すプログラムにおけるＳ２１８において、常にＹＥＳ（エラーレートの規定値以下の極小値がある）と判定される。その結果、初期遅延時間の範囲を示すｔｍｉｎ及びｔｍａｘを変更して再度テストライトプログラムを実行することがなくなり、短時間でテストライトを終了することが可能になる。

また、遅延時間の初期設定範囲に関連して、図９（Ｂ）に示す記録再生ヘッド１６４のように、磁気記録素子１６６と磁気再生素子１６８とが周方向にＬの距離をあけて配置されているときは、遅延時間の初期設定範囲の最小値ｔｍｉｎは、Ｌ／ｖよりも大きい方がよい。

第１の実施の形態における遅延時間は、サーボパターン領域にある基準信号を磁気再生素子が検出してから、磁気記録素子が記録するための磁界を発生するまでの時間を表している。磁気記録媒体は、磁気再生素子、磁気記録素子の順番で通過していくため、遅延時間の最小値ｔｍｉｎがＬ／ｖよりも小さいと、磁気の記録できないサーボパターン領域で磁界を発生するため、テストライトが無効になる。テストライトプログラムにおいて、遅延時間の初期設定範囲の最小値ｔｍｉｎがＬ／ｖよりも大きいと、確実にユーザデータ領域でテストライトを行なうことができる。その結果、テストライトにおけるエラーレートの検出を効率よく行なうことができる。

図１１に示すグラフは、遅延時間ｔを横軸、エラーレートを縦軸にとってある。エラーレート基準値をｅｒ_ｂとする。図１１を参照して、曲線１８０は遅延時間ｔに対するエラーレート値を表す曲線、矢印１８４はテストライトにおける遅延時間の初期設定範囲、矢印１８２は周期的に変化する曲線１８０の時間周期幅を表す。

図９（Ａ）の条件を満たすとき、図１１に示すように遅延時間ｔとエラーレートとの関係は、矢印１８２に示す時間周期幅で周期的なグラフを描き、この時の時間周期幅はｄ／ｖとなる。また、この周期的なグラフは共通の極小値ｅｒ_ｂをとる。この時、最適遅延時間としてエラーレートが最小となる時、すなわち信号品質値が最良となる時の遅延時間をとるものとする。すると、テストライトにおける遅延時間の初期設定範囲（矢印１８４で示す）をｄ／ｖより大きくすることで、１度のテストライトで極小値を持つ連続した曲線が得られ、そこから最適遅延時間を設定することができる。

最適遅延時間をエラーレートが最小となる時、すなわち信号品質値が最良となる時の遅延時間とするとしたとき、テストライトにおける遅延時間の初期設定範囲をｄ／ｖより大きくすることにより、１度のテストライトで最適遅延時間を得ることができる。その結果、短時間でテストライトを終了することができる。

なお、本実施の形態では、「遅延時間」を、磁気再生素子５４が磁気記録媒体１００から予め定めた基準信号を検出してから、磁気記録素子５２が磁気記録媒体１００へ記録（磁界発生）を開始するまでの時間と定義したが、関連する時間を待機時間として定義しても良い。例えば、「待機時間」を、信号特定部９４が磁界発生のタイミングの基準となる基準タイミングを特定してから磁気記録素子５２が磁界を発生するまでの時間と定義しても良く、基準タイミングの検出に関連するいずれかの動作から、記録の開始に関連するいずれかの動作までの時間を「遅延時間」と定義することで、上記同様の効果を奏する。

（変形例２）
以下に、磁気記録装置で用いる磁気記録媒体がサーボデータ領域を持たない場合の例を示す。

図１２を参照して、磁気記録媒体２００は、ユーザデータを記録再生するユーザデータ領域２０８でのみ構成されており、複数個の磁気記録セル２０２を含む。テストライトにおける基準となる信号は、ユーザデータ領域２０８の少なくとも一部から検出される。矢印２０４は、磁気記録媒体２００の周方向（媒体の回転方向）を表している。磁気記録媒体２００では、複数のトラックが該磁気記録媒体２００の半径方向に等しい間隔で同心円状に配置されており、これら複数のトラックの各々には上記磁気記録セル２０２が配置されている。破線２０６は、該複数トラックの内の１つのトラックを示す。

図１３を参照して、曲線２１０は、図１２の破線２０６に沿って磁気記録媒体２００を読取ったときの検出信号を表す。曲線２１０が座標軸２１６に対して上部にあるときはプラスの信号が、下部にあるときはマイナスの信号が、及び座標軸２１６上にあるときはゼロレベルの信号が磁気再生素子により検出されたものとする。

図１３において、領域２１２に現れる検出信号は、磁気記録媒体２００のユーザデータ領域２０８から検出される信号であり、予め設定される基準信号である。変形例２では、この信号が検出されてから磁気記録素子が記録（磁界発生）を開始するまでが遅延時間となる。領域２１４に現れる信号もユーザデータ領域２０８から検出される信号であり、この信号が記録されたユーザデータを表す信号である。

図１３を参照すると、紙面左側から３個の信号（検出順に下向き、上向き、上向きに磁化された信号）が基準信号となっており、基準信号を検出した後に、ユーザデータ信号として紙面左側から３個の信号（検出順に下向き、上向き、上向きに磁化された信号）を検出したことを示している。

変形例２で実行されるテストライトプログラム（図７のプログラム参照）において、Ｓ２０７で検出される基準信号は、ユーザデータ領域２０８から検出される信号である。その基準信号を用いて、第１の実施の形態と同様にテストライトプログラムを実行することによって、サーボデータ領域を設けていない磁気記録媒体であっても最適遅延時間を算出することができる。

このように、磁気記録媒体のデータ記憶容量を大きくするために、サーボデータ領域を設けていない磁気記録媒体であっても、テストライトを行なって、最適遅延時間を算出することが可能である。その結果、磁気記録装置において、サーボパターン領域を設けない、より容量の大きな磁気記録媒体を用いた時にも、記録時及び再生時の記録エラーの発生が少ない磁気記録装置を提供することができる。

なお、サーボデータ領域を設けていない磁気記録媒体では、ユーザデータ領域の磁気記録セルからの漏れ磁場を検知して、トラッキングサーボなどを行なうものとする。

（変形例３）
以下に、磁気記録装置で用いられる磁気記録媒体に、予めテストライトのための領域が割当てられている場合の例を示す。

図１４を参照して、図１４（Ａ）に示す磁気記録媒体２２０は、ある半径領域を１周する形でテストライト領域２２２が割当てられている例を表している。図１４（Ｂ）に示す磁気記録媒体２３０は、テストライト領域２３２が半径方向に広がって割当てられている例を示している。磁気記録媒体２３０は、複数のテストライト領域２３２を含むが、いずれの領域でも同様にテストライトを行なうことができる。また、テストライト領域２２２及び２３２は、ユーザデータを記録しないテストライトのために確保される領域である。なお、テストライトのために確保される領域は、ユーザデータ領域と同様に、磁気的に孤立した磁気記録セルが配列された領域を含み、テストライト領域内又はその（周方向において）前にテストライトのトリガーとなるパターンを備えている。

このように、予め磁気記録媒体にテストライトのための領域を割り当てることで、磁気記録媒体の空き領域が少なくなり、テストライトが行なえなくなることを防ぐことができる。このあらかじめ確保されているテストライトのための領域において、テストライトプログラムを実行し最適遅延時間が算出でき、磁気記録媒体へ書込むときの記録及び再生時の記録エラーの発生が少ない磁気記録装置を提供することができる。

テストライトのための領域の割当て方は、図１４に示す例に限定されるものではない。テストライトのための領域は、例えば、磁気記録媒体の各セクタに設けられていても良く、複数のセクタからなる領域ごとに設けられていても良い。また、トラックごとに設けられていても良い。このように領域を設定することで、各セクタ、各領域、及び各トラックに適した磁界発生のタイミングを設定することが可能となる。

特に、トラックごとに適した磁界発生のタイミング（遅延時間）を設定しておくことによる効果は大きい。第１の実施の形態で述べたように、磁気記録装置における記録再生ヘッドは、磁気記録媒体に対する半径位置を変更させる時に、サスペンションのＶＣＭに固定された部分を中心にしてサスペンションをスイングさせる。このため、記録再生ヘッドは、磁気記録媒体に対してスキュー角を生じることになり、半径位置ごとに、磁気記録素子と磁気再生素子との磁気記録媒体に対する位置が異なってくる。このような点を考慮すると、半径領域ごと、又はトラックごとにテストライトを実施して、適した磁界発生タイミング（遅延時間）をそれぞれに設定しておくことが好ましい。

なお、磁気記録媒体にテストライト領域を設けない場合であっても、テストライトによって、各半径領域、及び各トラックに適した磁界発生のタイミングを設定することが望ましい。このようにすることで、記録再生ヘッドのスキュー角の変化に対応し、各トラックに適した磁界発生タイミング（遅延時間）で記録を行うことが可能となる。

上記のように磁気記録媒体にテストライト領域が備えられている場合、アドレスパターンなどを設けることで、テストライト領域がどこであるかを磁気記録装置が認識することが可能となる。また、例えば、テストライト領域の前に、テストライト領域があることを示すパターンを設けることによりテストライト領域を識別することが可能である。このようにすることで、ユーザデータの書込を行なう際に、テストライト領域に誤って書込んでしまう恐れを小さくすることができる。読出の際には、上記アドレスパターン、又はテストライト領域があることを示すパターンに基づき、テストライト領域の読出を行なわないようにすることができる。

また、テストライト領域でテストライトを行なった時は、磁気再生素子による検出（再生）が終わった後、テストライトによって記録した情報を消去することが好ましい。テストライト後の不要な情報を消去しておくことで、ユーザデータ領域に記録した情報の再生時に、テストライト後の不要な情報による影響を防ぐことができる。また、テストライトによって記録した情報の消去以外にも、例えば、テストライトを実行後に、磁気記録装置が磁気記録媒体のテストライトを行なった領域のアドレス情報を取得し、その領域はユーザデータを上書きしても良い領域であることを記憶しておいても良い。それにより、テストライトプログラムで使用したテストライト領域をユーザデータ記憶のために使うことができ、より多くのデータを磁気記録媒体に記録することが可能な磁気記録装置を実現することができる。

［第２の実施の形態］
第２の実施の形態では、磁気記録媒体及びサスペンションが装置に取外し可能であり、装置にセットされた磁気記録媒体及びサスペンション（磁気記録素子、及び磁気再生素子を含む）の組合せに対して上記したテストライトプログラムを実行し、最適な遅延時間を算出するための磁気記録評価装置について説明する。

―構成―
図１７を参照して、磁気記録評価装置２９０は、磁気記録評価装置２９０の動作を制御するコントローラ３００と、円盤状の磁気記録媒体を回転させるスピンドルを駆動するスピンドルモータ３１８と、スピンドルモータ３１８の動作をコントローラ３００の制御にしたがって制御するためのスピンドル制御部３１６と、図示しないサスペンションの先端に設けられ、磁気記録媒体に対して磁気情報の読書きを行なうための記録再生ヘッドと接続するための記録ヘッド接合部３１０と、スピンドルに装着された磁気記録媒体の半径方向に記録再生ヘッドが移動するよう、サスペンションを駆動するＶＣＭ３２２と、コントローラ３００及び記録再生ヘッド接合部３１０に接続され、コントローラ３００と記録再生ヘッド接合部３１０に接続される記録再生ヘッドとの間の信号のレベルを適正なレベルに調整するためのアンプ３２８と、コントローラ３００とＶＣＭ３２２とに接続され、コントローラ３００の制御にしたがってＶＣＭ３２２を駆動するＶＣＭ制御部３２０とを含む。記録ヘッド接合部３１０に接続される記録再生ヘッドは、磁気記録媒体に磁界を印加し情報を記録するための磁気記録素子と、磁気記録媒体に記録された情報を読取り電気信号として出力するための磁気再生素子を含む（いずれも図示せず）。

コントローラ３００は、所定のプログラムを実行することにより磁気記録評価装置２９０全体の動作を制御するＣＰＵ３０２と、ＣＰＵ３０２に接続されたバス３０３と、いずれもバス３０３に接続された、ＣＰＵ３０２で実行するプログラムなどを記録するためのＲＯＭ３０４、ＣＰＵ３０２でプログラムを実行時に一時記憶部として用いるＲＡＭ３０６、及び外部端末との接続を提供するための外部機器インターフェイス３２６を含む。

ＲＯＭ３０４及びＲＡＭ３０６は、記録再生ヘッドが含む磁気記録素子及び磁気再生素子に関して、磁気記録素子が発生する磁界の強さ、パルス幅、発生タイミングなどの情報を記憶する。ＲＯＭ３０４及びＲＡＭ３０６はさらに、磁気再生素子が追従するトラックを判別するための信号振幅、領域判別用の信号振幅、配置情報、信号振幅と記録再生ヘッドの半径方向への移動量とを対応付けたテーブルなどを記憶する。

図１８を参照して、コントローラ３００が所定のプログラムを実行することにより、ハードウェアとプログラムとの協働によって実現する機能ブロックは、遅延時間の調整時に、種々の遅延時間を使用してテストデータを磁気記録媒体に書込むテストライトを行なった際の、テストデータの再生信号のジッタ値を遅延時間ごとに算出するためのジッタ算出部３４０と、ジッタ算出部３４０により遅延時間ごとに算出されたジッタ値を受け、ジッタ値が低くなるように遅延時間を調整し最適化するための遅延時間調整部３４２と、実際の動作時に、磁気再生素子が検出した信号に基づき、磁界発生のタイミングの基準となる基準タイミングを特定するための信号特定部３４４と、遅延時間調整部３４２により調整された遅延時間を読出し、信号特定部３４４が検出した基準タイミングから、遅延時間調整部３４２から読出した遅延時間だけ遅延したタイミングで磁気記録素子に磁界を発生させるためのタイミング制御部３４６と、磁気再生素子の検出信号から記録再生ヘッドの位置情報を算出し、ＶＣＭ制御部３２０に移動指示を送信して記録再生ヘッドの磁気記録媒体に対する半径位置制御を行なうためのヘッド位置制御部３４８とを含む。

ヘッド位置制御部３４８は、フィードバック制御による半径位置制御を行なうことで、所定のトラックに追従して記録再生を行なうトラッキング制御を実現する。すなわち、ヘッド位置制御部３４８は、磁気再生素子の検出信号の信号波形から記録媒体上に記録されたサーボパターンを検出し、サーボパターンの配置情報及び識別情報を参照することによってオフトラック方向及びオフトラック量を判定し、ヘッド位置の制御を行なう。

図１９を参照して、磁気記録評価装置２９０はさらに、測定対象となる磁気記録媒体が装着されスピンドルモータ３１８によって駆動されて、磁気記録媒体を回転させるためのスピンドル３６２と、磁気記録評価装置２９０に電源を投入するための電源ボタン３６８と、テスト対象である磁気記録媒体３６０に対するテストライトプログラムの実行開始を指示するためのスタートボタン３７０と、評価装置への異物侵入を防ぐための防塵カバー３７４とを含む。

本実施の形態において、測定対象となるパターンドメディアである磁気記録媒体３６０は、円盤形状をしており、中央部にはスピンドル３６２が嵌合可能な穴部が形成されている。磁気記録媒体３６０に嵌合したスピンドル３６２は、磁気記録媒体３６０を矢印３７２方向に回転させる。

また、磁気記録評価装置２９０は、ＶＣＭ３２２（図１７参照）に脱着自在なサスペンション３６４が接続される。サスペンション３６４は、ＶＣＭ３２２と接続される側の他端下面に記録再生ヘッド３６６を備える。サスペンション３６４は、ＶＣＭ３２２に接続されると、接続された一端部を中心に回動し、その他端が測定対象となる磁気記録媒体３６０上の半径方向に移動可能なように駆動される。サスペンション３６４の先端部には記録再生ヘッド３６６が備えられているため、記録再生ヘッド３６６はＶＣＭ３２２の動作に応じて磁気記録媒体３６０の半径方向における位置を変更することができる。また、サスペンション３６４は、ＶＣＭ３２２との接続端側に記録再生ヘッド３６６とコントローラ３００との信号のやり取りを行なうための信号入出力部３８０をさらに備える。信号入出力部３８０は、サスペンション３６４がＶＣＭ３２２にセットされるときに、記録ヘッド接合部３１０に接続される。それにより、サスペンション３６４が磁気記録評価装置２９０に接続された時は、記録再生ヘッド３６６の動作はコントローラ３００によって制御される。

磁気記録評価装置２９０でテストライトプログラムを実行するときは、装置の電源を投入し、測定対象の磁気記録媒体３６０をスピンドル３６２にセットする。磁気記録媒体３６０をセット後、サスペンション３６４をＶＣＭ３２２にセットし、スタートボタン３７０を押すことでテストライトプログラムが実行される。

図２０に示すテストライトプログラムは、測定対象である磁気記録媒体３６０の記録時における最適な遅延時間を算出するためのプログラムである。このテストライトプログラムで用いられるパラメータ変数（初期設定遅延時間の最小値ｔｍｉｎ、最大値ｔｍａｘ、テストライト繰返し回数Ｎ、ジッタ規定値ｊ_ｂなど）、及び基準信号は、予めプログラム内に記憶されているものとする。

図２０を参照して、磁気記録評価装置２９０に電源が投入された時に起動するこのプログラムは、測定対象である磁気記録媒体３６０がスピンドル３６２にセットされたか否かを判定し、判定結果に応じて制御の流れを分岐させるＳ４０２と、Ｓ４０２で記録媒体がセットされた（ＹＥＳ）と判定された場合に実行され、サスペンション３６４がＶＣＭ３２２にセットされたか否かを判定し、判定結果に応じて制御の流れを分岐させるＳ４０４と、Ｓ４０４でサスペンション３６４がセットされた（ＹＥＳ）と判定された場合に実行され、スタートボタン３７０が押されたか否かを判定し、判定結果に応じて制御の流れを分岐させるＳ４０６と、Ｓ４０６でスタートボタン３７０が押された（ＹＥＳ）と判定された場合に実行され、パラメータ変数から遅延時間のステップ値Δｔを算出するＳ４１０とを含む。

Ｓ４１０において算出するステップ値Δｔは、Δｔ＝（ｔｍａｘ−ｔｍｉｎ）／（Ｎ−１）で算出する。このステップ値Δｔは、テストライト処理で遅延時間を段階的に変更させる時に用いる値である。このステップ値Δｔを用いると、遅延時間ｔ_ｎ（ｎ＝０〜Ｎ−１）は、ｔ_０＝ｔｍｉｎ、ｔ_１＝ｔｍｉｎ＋Δｔ、…、ｔ_ｎ＝ｔｍｉｎ＋ｎ・Δｔ、…、ｔ_Ｎ−２＝ｔｍｉｎ＋（Ｎ−２）・Δｔ、ｔ_Ｎ−１＝ｔｍｉｎ＋（Ｎ−１）・Δｔ＝ｔｍａｘ、と表すことができる。

このプログラムはさらに、Ｓ４１０に続いて実行され、変数ｎに０を設定するＳ４１２と、Ｓ４１２に続いて実行され、磁気再生素子が基準信号を検出したか否かを判定し、判定結果に応じて制御の流れを分岐させるＳ４１４と、Ｓ４１４で基準信号を検出した（ＹＥＳ）と判定された時に実行され、磁気記録素子を用いて変数ｎに対応した遅延時間ｔ_ｎで測定対象である磁気記録媒体３６０にテストデータを記録するＳ４１６と、Ｓ４１６に続いて実行され、Ｓ４１６で記録したテストデータを磁気再生素子で再生し、信号品質値としてジッタ値ｊ_ｎを算出するＳ４１８と、Ｓ４１８に続いて実行され、遅延時間ｔ_ｎに対応したジッタ値ｊ_ｎを記録するＳ４２０と、Ｓ４２０に続いて実行され、変数ｎにｎ＋１の値を設定するＳ４２２と、Ｓ４２２に続いて実行され、変数ｎが、ｎ＞Ｎ−１の条件式を満たすか否かを判定し、判定結果に応じて制御の流れを分岐させるＳ４２４と、Ｓ４２４で条件式を満たす（ＹＥＳ）と判定された時に実行され、記録した遅延時間ｔ_ｎとジッタ値ｊ_ｎとの関係において、予め設定されたジッタ規定値ｊ_ｂ以下の値でジッタ値ｊ_ｎに極小値があるか否か判定し、判定結果に応じて制御の流れを分岐させるＳ４２６と、Ｓ４２６で極小値がない（ＮＯ）と判定された時に実行され、遅延時間範囲の最小値ｔｍｉｎと最大値ｔｍａｘとを再設定し、制御をＳ４１０に戻すＳ４２８と、Ｓ４２６で極小値がある（ＹＥＳ）と判定された時に実行され、ジッタ値ｊ_ｎが最小値となるときの遅延時間ｔ_ｄを抽出するＳ４３０と、Ｓ４３０に続いて実行され、ｔ_ｄを最適遅延時間として設定し、外部機器インターフェイス３２６を介して接続された記録再生装置に最適遅延時間ｔ_ｄを転送するＳ４３２とを含む。

Ｓ４０２で、記録媒体がセットされていない（ＮＯ）と判定された場合、制御はＳ４０２に戻る。Ｓ４０４でサスペンション３６４がセットされていない（ＮＯ）と判定された場合、制御はＳ４０４に戻る。Ｓ４０６でスタートボタン３７０が押されていない（ＮＯ）と判定された場合、制御はＳ４０２に戻る。Ｓ４１４で、基準信号を検出していない（ＮＯ）と判定された場合、制御はＳ４１４に戻り、基準信号を検出するまで待つ。Ｓ４２４で、条件式を満たさない（ＮＯ）と判定された場合、制御はＳ４１４に戻る。また、Ｓ４３２実行後、このプログラムを終了する。

Ｓ４１８で算出されるジッタ値ｊ_ｎは、再生信号のクロック信号に対する時間的なずれを示し、第１の実施の形態で用いられたエラーレートと同様、値が小さいほど信号品質は良い。

図２１は、図２０のプログラムのＳ４２０で記録される、遅延時間とジッタ値との関係を表す図である。

図２１を参照して、矢印４００で表される範囲は、予め設定されたジッタ規定値ｊ_ｂ以下になる時の遅延時間ｔの範囲であり、矢印４００で表されるようなジッタ値がジッタ規定値ｊ_ｂ以下になる時の遅延時間の範囲を、遅延時間の「マージン（許容範囲）」と呼ぶ。

図２０のプログラムにおいて、Ｓ４２６での極小値とは、図２１に示すような遅延時間とジッタ値との関係において、測定する遅延時間範囲の中でのジッタ値が描く曲線が下に凸となる範囲での最小値を指す。

Ｓ４３０において抽出されるｔ_ｄは、図２１を参照して、ジッタ規定値ｊ_ｂ以下でジッタ値が最小値ｊ_ｄをとる時の遅延時間ｔ_ｄである。

Ｓ４２８において、パラメータ変数ｔｍｉｎ及びｔｍａｘを再設定する時は、測定する遅延時間の範囲が広がるように、すなわち｜ｔｍａｘ−ｔｍｉｎ｜の値が大きくなるように、遅延時間の最小値ｔｍｉｎ及び最大値ｔｍａｘを再設定する。

―動作―
第２の実施の形態に係る磁気記録評価装置２９０は以下のように動作をする。

磁気記録評価装置２９０は、外部機器インターフェイス３２６を介して別の磁気記録装置に接続される。接続される磁気記録装置は第１の実施の形態で説明した磁気記録装置と同様な構成である。磁気記録評価装置２９０は、接続される磁気記録装置で使用されるものと同じ、パターンドメディアの磁気記録媒体と、磁気記録素子及び磁気再生素子を含んだサスペンションとを用いて測定し、磁気記録媒体の記録時における最適遅延時間を算出して、磁気記録装置に転送する。

第２の実施の形態において測定される磁気記録媒体は、第１の実施の形態に記載の概略構成及び製造方法に基づいて製作された磁気記録媒体である。磁気記録評価装置２９０における磁気記録媒体の記録再生方法については、第１の実施の形態で示した磁気記録装置３０と同様であるため、説明を繰返さない。

磁気記録評価装置２９０は電源が投入されると、利用者により測定対象の磁気記録媒体３６０がセットされるのを待つ（Ｓ４０２）。磁気記録媒体３６０をセット後、サスペンション３６４がセットされ（Ｓ４０４）、スタートボタン３７０が押されると（Ｓ４０６でＹＥＳ）、磁気記録評価装置２９０は、パラメータ変数から遅延時間のステップ値Δｔを算出する（Ｓ４１０）。その後、磁気記録評価装置２９０は変数ｎに０を代入し（Ｓ４１２）、磁気再生素子が磁気記録媒体３６０から基準信号を検出したか否かを判定する（Ｓ４１４）。基準信号を検出した（Ｓ４１４でＹＥＳ）場合、遅延時間ｔ_０＝ｔｍｉｎのタイミングで磁気記録素子から磁界を発生し、予め定めておいたテストデータを磁気記録媒体３６０に記録する（Ｓ４１６）。遅延時間ｔ_０でテストデータを記録後、磁気再生素子でテストデータを再生し、ジッタ算出部３４０から遅延時間ｔ_０におけるジッタ値ｊ_０を算出して（Ｓ４１８）、ｔ_０及びｊ_０の値を記録する（Ｓ４２０）。その後、変数ｎにｎ＋１の値を代入し（Ｓ４２２）、変数ｎが条件式ｎ＞Ｎ−１を満たすか否かを判定する（Ｓ４２４）。Ｓ４２２で変数ｎが１となり、テストライト繰返し回数Ｎを仮に１００とした場合、Ｓ４２４の条件式は満たさず（ＮＯ）、制御はＳ４１４に戻る。その後、ｎ＝１でＳ４１４からＳ４２０の処理を行ない、遅延時間ｔ_１＝ｔ_０＋１・Δｔでのジッタ値ｊ_１を算出して結果を記録する。そして、変数ｎにｎ＋１の値を代入する。以降、このような処理を変数ｎがｎ＞Ｎ−１の条件式を満たすまでＳ４１４からＳ４２２の処理を繰返す。変数ｎがｎ＝Ｎ−１＝９９の時、遅延時間ｔ_９９＝ｔｍｉｎ＋９９・Δｔ＝ｔｍａｘで磁気記録媒体３６０にテストデータを記録し、再生結果からジッタ値ｊ_９９を算出して、ｔ_９９及びｊ_９９の値を記録する。Ｓ４２２で変数ｎにｎ＝１００の値が代入される。Ｓ４２４の条件式が満たされ、制御はＳ４２６に進む。

Ｓ４２６では、記録したｊ_ｎ（ｎ＝０〜９９）の値がｔ_ｎに対して描く曲線において、下に凸で、かつ規定値ｊ_ｂ以下の値で極小値をとる点があるか否かが判定される。極小値がない（Ｓ４２６でＮＯ）と判定された場合は、遅延時間範囲、すなわちｔｍａｘ−ｔｍｉｎの値が大きくなるように、ｔｍｉｎ及びｔｍａｘを再設定し（Ｓ４２８）、制御をＳ４１０に戻して再度、遅延時間ｔ_ｎに対するジッタ値ｊ_ｎを算出する。極小値がある（Ｓ４２６でＹＥＳ）と判定された場合は、極小値、すなわち測定する遅延時間範囲の中でのジッタ値が下に凸となる最小値をとる時の遅延時間を最適遅延時間ｔ_ｄとして抽出し（Ｓ４３０）、接続された磁気記録装置に最適遅延時間ｔ_ｄの情報を転送する（Ｓ４３２）。情報を転送後、テストライトプログラムを終了する。

磁気記録評価装置２９０から最適遅延時間ｔ_ｄの情報を受けた磁気記録装置は、最適遅延時間情報を設定情報記憶部４８に記憶する。磁気記録装置は、磁気記録媒体にデータを記録する時、磁気再生素子で磁気記録媒体を読取り、基準信号を検出する。磁気再生素子が基準信号を検出すると、磁気記録素子に基準信号検出から最適遅延時間ｔ_ｄだけ遅らせたタイミングで磁界を発生させて、磁気記録媒体にデータを記録する。

以上のように、第２の実施の形態に係る磁気記録評価装置２９０は、測定対象である磁気記録媒体３６０に対してテストライトプログラムを実行し、磁気記録媒体から基準となる検出信号を検出してから、磁気記録媒体にデータを記録するまでの遅延時間を設定してテストデータを記録媒体に書込み、書込んだデータを磁気再生素子で読取って、遅延時間に対するジッタ値を算出し記憶する。この動作を、設定した遅延時間範囲内で繰返し行ない、予め設定したジッタ規定値以下で極小値をとる点を検出する。そして、その極小値をとる遅延時間を抽出し、その遅延時間を最適遅延時間とする。その後、接続された外部の磁気記録装置に最適遅延時間の情報を送信する。

このように、測定対象となる磁気記録媒体に対して、実際に遅延時間を変更させながらテストデータを記録し、それぞれの遅延時間に対する信号品質を見ながら最適な遅延時間を設定することで、パターンドメディアを記録媒体として用いるときに重要になる、磁界発生タイミングをより正確に測定することができる。また、第２の実施の形態における磁気記録評価装置においては測定対象となる磁気記録媒体を入換えて、それぞれの記録媒体ごとの最適遅延時間を測定することができる。その結果、パターンドメディアを記録媒体として用いた磁気記録装置において、記録エラー及び再生エラーの少なくするために、用いられる記録媒体の個体差に応じて適切な遅延時間を設定可能な磁気記録評価装置を提供することができる。

また、磁気記録評価装置から最適遅延時間情報を受信した磁気記録端末は、そのデータを適用して磁気記録を実行する。磁気記録評価装置を用いて最適遅延時間情報を測定し、他の磁気記録装置においてその情報を適用することで、例えば、同一条件の下で磁気記録装置を量産する場合などに、それぞれの記録装置でテストライトプログラムを実行する手間が省けるという効果がある。また、テストライトプログラムで使用される領域も、ユーザデータを記憶する領域として使用することができ、磁気記録媒体により多くの情報を記憶することができる。

本実施の形態では、抽出された最適遅延時間は、外部の磁気記録装置に転送されて用いられるが、算出された最適遅延時間情報を磁気記録媒体自身に書き込んでも良い。その結果、磁気記録装置が磁気記録評価装置に接続されない場合でも、その記録媒体を読込むことで、その磁気記録媒体の記録時の最適遅延時間を読取り、適用することができる。

また、第２の実施の形態における磁気記録評価装置においては、ジッタ値がジッタ規定値以下で最小値をとる時間を最適遅延時間としたが、ジッタ値が規定値以下となるときのいずれかの遅延時間を設定するようにしても良い。これにより、ジッタが規定値以下となるような遅延時間でデータを記録することができる。また、ジッタが規定値以内となる時間範囲の中心値を最適遅延時間として設定しても良い。その結果、データ記録時の遅延時間に誤差が生じた場合でも、ジッタ値を規定値以下に抑える可能性を高くすることができる。

さらに、磁気記録評価装置２９０において、ジッタ値の代わりに第１の実施の形態のようにエラーレートを用いて遅延時間を決定しても良い。磁気記録評価装置２９０は、磁気再生素子が検出した信号からエラーレートを算出するエラーレート算出部を備え、磁気記録媒体から基準となる信号を検出し、それから磁気再生素子が磁界発生を開始するまでの経過時間（遅延時間）を調整する。経過時間を調整することにより、エラーレートが小さくなるような磁気記録素子と磁気記録セルとの位置関係の時に磁界発生を開始することが可能となり、記録エラー及び再生エラーを生じにくくすることができる。つまり、磁界発生の開始位置が磁気記録セルに対してどのような位置の時に記録エラーが生じにくくなるかが分かり、その時の遅延時間を算出し、それを用いて記録することで記録及び再生時のエラーが抑えることができる。

また、上記検出した信号から算出されたエラーレートが最小となるときの時間を、最適遅延時間として設定しても良い。このようにすることで、エラーレートが最も小さくなる時の条件で磁界発生を行なうことが可能となる。また、上記検出した信号から算出されたエラーレートが規定値以内となる時間範囲の中心値を、最適遅延時間として設定しても良い。このようにすることで、記録タイミングに誤差が生じた場合でも、エラーレートが規定値以下になる可能性を高くすることができる。

なお、遅延時間を決定する方法は上記したものに限られるわけではない。例えば、第１の実施の形態と同様に、信号品質値として磁気再生素子が検出する信号の振幅、及びＰＲＭＬ検出におけるＳＡＭを用いることができる。

今回開示された実施の形態は単に例示であって、本発明が上記した実施の形態のみに制限されるわけではない。本発明の範囲は、発明の詳細な説明の記載を参酌した上で、特許請求の範囲の各請求項によって示され、そこに記載された文言と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含む。

３０ 磁気記録装置
４０、３００ コントローラ
４２、３０２ ＣＰＵ
５０、３６６ 記録再生ヘッド
５２、５２´ 磁気記録素子
５４、５４´ 磁気再生素子
９０ エラーレート算出部
９２、３４２ 遅延時間調整部
９４、３４４ 信号特定部
９６、３４６ タイミング制御部
１００、３６０ 磁気記録媒体
１３０、２０２ 磁気記録セル
１３２ ユーザデータ領域
１３４ サーボパターン領域
２９０ 磁気記録評価装置
３４０ ジッタ算出部
３７０ スタートボタン

Claims (20)

1. 互いに磁気的に孤立した複数の磁気記録セルが配列された記録面を有する磁気記録媒体と、
   前記記録面に対して相対的に移動しながら、所定の設定情報にしたがった条件で、書込情報に応じて磁界を発生し、前記磁気記録媒体の前記磁気記録セルに情報を記録するための書込手段と、
   前記書込手段とともに前記記録面に対して相対的に移動しながら、前記磁気記録媒体の前記磁気記録セルに記録された情報を読取るための読取手段と、
   前記書込手段による情報の書込のための前記所定の設定情報を記憶するための記憶手段と、
   テストライト開始信号に応答して、前記所定の設定情報を変化させながら、前記書込手段及び前記読取手段によるテスト情報の書込及び読出と、読出した前記テスト情報の書込の品質を表す所定の品質指標値の算出とを繰返し、その結果に基づいて、前記所定の品質指標値が予め定められる条件を充足するように前記所定の設定情報を最適化して前記記憶手段に記憶させるためのテストライト手段とを含む、磁気記録装置。
2. 前記読取手段の出力信号が、前記書込手段による書込のトリガーとなる所定の信号と一致するか否かを判定するための判定手段をさらに含み、
   前記所定の設定情報は、前記判定手段が前記出力信号と前記所定の信号とが一致すると判定してから前記書込手段が磁界を発生するまでの待機時間を含む、請求項１に記載の磁気記録装置。
3. 前記テストライト手段は、
   前記テストライト開始信号に応答して、上限及び下限を持つ予め定められた所定の変更範囲にわたって前記待機時間を段階的に変更するための待機時間変更手段と、
   前記待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、前記読取手段から前記所定の信号が出力されてから当該待機時間が経過したときを基準として、前記書込手段に前記テスト情報にしたがった磁気の発生を開始させて前記磁気記録媒体にテスト情報を書込ませるためのテスト情報書込手段と、
   前記待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、前記テスト情報書込手段により前記磁気記録媒体に書込まれたテスト情報を前記読取手段に読取らせるためのテスト読取手段と、
   前記待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、前記テスト情報書込手段が書込んだテスト情報と、前記テスト読取手段が読取ったテスト情報とを照合することによって前記品質指標値を算出するための品質指標値算出手段と、
   前記品質指標値算出手段により算出された前記品質指標値と、対応する待機時間と関連付けて記憶するための品質情報記憶手段と、
   前記設定情報記憶手段に記憶された前記品質指標値のうちで、前記定められる条件を満たすものと関連付けて前記品質情報記憶手段に記憶された待機時間を前記記憶手段に記憶させるための最適時間記憶手段とを含む、請求項２に記載の磁気記録装置。
4. 前記予め定められる条件は、前記品質指標値が最良であるという条件である、請求項３に記載の磁気記録装置。
5. 前記磁気記録媒体は円盤形状を有し、
   前記記録面上において前記磁気記録セルが前記円盤形状の周方向へピッチｄで配置され、
   前記書込手段及び前記読取手段に対する相対運動の設計速度を線速度ｖとして、
   前記所定の変更範囲幅はｄ／ｖより大きく選ばれる、請求項４に記載の磁気記録装置。
6. 前記品質指標値算出手段は、前記待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、前記テスト情報書込手段が書込んだテスト情報と、前記テスト読取手段が読取ったテスト情報とを照合することによって、読取られたテスト情報の、書込まれたテスト情報に対するエラーレートを算出するためのエラーレート算出手段を含む、請求項３に記載の磁気記録装置。
7. 前記品質指標値算出手段は、前記待機時間変更手段により変更された待機時間ごとに、前記テスト読取手段が読取って出力する信号波形を所定の基準信号と照合することによって、読取り信号のジッタを算出するためのジッタ算出手段を含む、請求項３に記載の磁気記録装置。
8. 前記予め定められる条件は、前記品質指標値が予め定められる規定値以下の値であるという条件である、請求項６又は請求項７に記載の磁気記録装置。
9. 前記予め定められる条件は、前記待機時間変更手段が前記所定の変更範囲の前記下限から前記上限に向けて前記待機時間を段階的に変更する時に、変更された前記待機時間に対応して算出される前記品質指標値が予め定められる規定値より大きな値から前記規定値以下の値を初めて取る時の前記待機時間をｔ_ａ、前記待機時間がｔ_ａより大きく、かつ前記品質指標値が前記規定値より小さな値から前記規定値以上の値を初めて取る時の前記待機時間をｔ_ｂとしたとき、前記品質指標値が（ｔ_ｂ＋ｔ_ａ）／２となる前記待機時間に対応する値であるという条件である、請求項６又は請求項７に記載の磁気記録装置。
10. 前記磁気記録媒体は円盤形状を有し、
    前記記録面上には、前記磁気記録セルが前記円盤形状の周方向にピッチｄで配置され、
    前記書込手段及び前記読取手段に対する相対運動の設計速度を線速度ｖとして、
    前記所定の変更範囲の幅は２ｄ／ｖより大きく選ばれる、請求項９に記載の磁気記録装置。
11. 前記磁気記録媒体は、所定のサーボパターンが予め書込まれたサーボパターン領域と、前記書込手段によるデータの書込が可能なユーザデータ領域とを含む、請求項３〜請求項１０のいずれかに記載の磁気記録装置。
12. 前記磁気記録媒体は円盤形状を有し、
    前記書込手段と前記読取手段とは、前記円盤形状の周方向に間隔Ｌをもって配置されており、
    かつ前記書込手段及び前記読取手段に対する相対運動の設計速度を線速度ｖとすると、前記下限の値はＬ／ｖより大きく選ばれる、請求項１１に記載の磁気記録装置。
13. 前記磁気記録媒体は、前記書込手段によるデータの書込が可能なユーザデータ領域を含み、前記ユーザデータ領域は、前記読取手段が前記書込手段による書込のトリガーとなる前記所定の信号を出力するための情報を含む、請求項３〜請求項１０のいずれかに記載の磁気記録装置。
14. 前記テストライト手段によって最適化された前記待機時間が前記記憶手段に記憶されてからの経過時間を計るための計時手段と、
    前記計時手段が所定の設定時間を計時したことに応答して、前記テストライト開始信号を発生して前記テストライト手段に与えるための手段とをさらに含む、請求項２〜請求項１３のいずれかに記載の磁気記録装置。
15. 前記テストライト手段の動作時以外の通常の動作時において、前記書込手段による情報の書込の品質を示す記録状態値を算出するための記録状態値算出手段と、
    前記記録状態値算出手段によって算出された前記記録状態値が所定の基準値以下になったことに応答して、前記テストライト手段を動作させるための手段とをさらに含む、請求項１〜請求項１４のいずれかに記載の磁気記録装置。
16. 前記磁気記録媒体は、前記テストライト手段の動作時に使用される領域を予め確保するためのテストライト領域と、前記テストライト手段の動作時以外に前記書込手段による情報の書込が可能な領域とを含む、請求項１〜請求項３のいずれかに記載の磁気記録装置。
17. 前記所定の設定情報は、発生する磁界のパルス幅及び発生する磁界の最大値のいずれか一方又はその双方を含む、請求項１に記載の磁気記録装置。
18. 前記記録面上には、前記磁気記録セルが前記円盤形状の周方向にピッチｄで配置され、
    前記書込手段と前記読取手段とは、前記円盤形状の周方向に間隔Ｌをもって配置されており、
    磁気記録ヘッドが半径方向に移動するときの磁気記録ヘッドの前記媒体に対するスキュー角の最大値をΘとするとき、
    Ｌ（１−ｃｏｓΘ）＞ｄ／１０
    である、請求項１〜請求項１７のいずれかに記載の磁気記録装置。
19. 互いに磁気的に孤立した複数の磁気記録セルが配列された記録面を有する円盤形状の磁気記録媒体を脱着自在に保持するスピンドルと、
    前記スピンドルを回転させるためのスピンドルモータと、
    前記スピンドルに保持された前記磁気記録媒体の前記記録面に対して、所定の設定情報にしたがった条件で、書込情報に応じて磁界を発生し、前記磁気記録媒体の前記磁気記録セルに情報を記録するための書込手段、及び前記スピンドルに保持された前記磁気記録媒体の前記磁気記録セルに記録された情報を読取るための読取手段が一定の位置関係を保つように設置されたサスペンションを脱着自在に保持するための接合部と、
    前記接合部に保持された前記サスペンションに設置される前記書込手段及び前記読取手段を、前記磁気記録媒体の前記記録面上の半径方向に動作させるための手段と、
    テストライト開始信号に応答して、前記磁気記録媒体が前記スピンドルに保持され、かつ前記サスペンションが前記接合部に保持された状態で、前記所定の設定情報を変化させながら、前記書込手段及び前記読取手段によるテスト情報の書込及び読出と、読出した前記テスト情報の書込の品質を表す所定の品質指標値の算出とを繰返した結果に基づいて、前記所定の品質指標値が予め定められる条件を充足するように前記所定の設定情報を最適化し、出力するためのテストライト手段とを含む、磁気記録評価装置。
20. 前記読取手段の出力信号が、前記書込手段による書込のトリガーとなる所定の信号と一致するか否かを判定するための判定手段をさらに含み、
    前記所定の設定情報は、前記判定手段が前記出力信号と前記所定の信号とが一致すると判定してから前記書込手段が磁界を発生するまでの待機時間である、請求項１９に記載の磁気記録評価装置。

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