JP2011019102A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2011019102A5
JP2011019102A5 JP2009162612A JP2009162612A JP2011019102A5 JP 2011019102 A5 JP2011019102 A5 JP 2011019102A5 JP 2009162612 A JP2009162612 A JP 2009162612A JP 2009162612 A JP2009162612 A JP 2009162612A JP 2011019102 A5 JP2011019102 A5 JP 2011019102A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lower electrode
electrode
clock
input
transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009162612A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011019102A (ja
JP5222240B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2009162612A priority Critical patent/JP5222240B2/ja
Priority claimed from JP2009162612A external-priority patent/JP5222240B2/ja
Priority to US12/832,230 priority patent/US8519320B2/en
Publication of JP2011019102A publication Critical patent/JP2011019102A/ja
Publication of JP2011019102A5 publication Critical patent/JP2011019102A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5222240B2 publication Critical patent/JP5222240B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (18)

  1. 第1基準電圧が入力される上部電極と、金属膜から成る下部電極と、前記上部電極と前記下部電極との間に挟持される光依存可変抵抗素子とを有する光センサ素子と、
    前記下部電極と第2基準電圧を供給する第2基準電圧線との間に接続される容量素子と、
    オン状態の時に前記下部電極に第1電源電圧を入力し、オフ状態の時に前記下部電極をフローティング状態とするスイッチ回路と、
    前記下部電極がフローティングの状態において、前記光依存可変抵抗素子に所定期間光が照射された後の前記下部電極の電圧変化を検出する検出回路とを有し、
    前記光依存可変抵抗素子は、アモルファスシリコン膜であり、
    前記下部電極と前記光依存可変抵抗素子の前記アモルファスシリコン膜とで構成されるダイオードの電流−電圧特性において、前記第1基準電圧は、順方向の電圧であることを特徴とする光センサ回路。
  2. 前記第1の基準電圧と前記第2基準電圧とは同一の電圧であることを特徴とする請求項1に記載の光センサ回路。
  3. 前記スイッチ回路と前記検出回路は、半導体層としてポリシリコン層を使用する薄膜トランジスタで構成されることを特徴とする請求項1に記載の光センサ回路。
  4. 第1基準電圧が入力される第1上部電極と、金属膜から成る第1下部電極と、前記第1上部電極と前記第1下部電極との間に挟持された第1光依存可変抵抗素子とを有する第1光センサ素子と、
    前記第1基準電圧が入力される第2上部電極と、第2下部電極と、前記第2上部電極と前記第2下部電極との間に挟持された第2光依存可変抵抗素子とを有する暗電流補償用の第2光センサ素子と、
    前記第1下部電極と前記第2下部電極との間に接続される容量素子と、
    オン状態の時に前記第1下部電極に第1電源電圧を入力し、オフ状態の時に前記第1下部電極をフローティング状態とする第1スイッチ回路と、
    オン状態の時に前記第2下部電極に第1電源電圧を入力し、オフ状態の時に前記第2下部電極をフローティング状態とする第2スイッチ回路と、
    前記第2下部電極がフローティングの状態で所定期間経過後に、前記第2下部電極に第1電源電圧を入力する第3スイッチ回路と、
    前記第1下部電極がフローティングの状態において、前記第1光依存可変抵抗素子に所定期間光が照射された後で前記第3スイッチ回路がオン状態の時に前記第1下部電極の電圧変化を検出する検出回路とを有し、
    前記第1光依存可変抵抗素子は、アモルファスシリコン膜であり、
    前記第2光依存可変抵抗素子は、遮光されたアモルファスシリコン膜であり、
    前記第1下部電極と前記第1光依存可変抵抗素子の前記アモルファスシリコン膜とで構成されるダイオードの電流−電圧特性、および、前記第2下部電極と前記第2光依存可変抵抗素子の前記アモルファスシリコン膜とで構成されるダイオードの電流−電圧特性において、前記第1基準電圧は、順方向の電圧であることを特徴とする光センサ回路。
  5. 前記各スイッチ回路と前記検出回路は、半導体層としてポリシリコン層を使用する薄膜トランジスタで構成されることを特徴とする請求項4に記載の光センサ回路。
  6. マトリクス状に配置された光センサ画素と、出力線とを備え、
    前記各光センサ画素は、光センサ素子を有する光センサアレイであって、
    前記各光センサ素子は、第1の基準電圧が入力される上部電極と、下部電極と、前記上部電極と前記下部電極との間に挟持される光依存可変抵抗素子とを有し、
    前記各光センサ画素は、前記下部電極と第2基準電圧を供給する第2基準電圧線との間に接続される容量素子と、
    第2電極に第1電源電圧が入力され、第1電極が前記下部電極に接続されるとともに、制御電極に第2クロックが入力される第1トランジスタと、
    第2電極に第2電源電圧が入力され、制御電極が前記下部電極に接続される第2トランジスタと、
    第2電極が前記第2トランジスタの第1電極に接続され、第1電極が前記出力線に接続されるとともに、制御電極に第1クロックが入力される第3トランジスタとを有し、
    前記光依存可変抵抗素子は、アモルファスシリコン膜であることを特徴とする光センサアレイ。
  7. 前記第1基準電圧を供給する第1基準電圧線と、
    前記第2基準電圧を供給する第2基準電圧線と、
    前記第1電源電圧を供給する第1電源電圧線と、
    前記第2電源電圧を供給する第2電源電圧線と、
    前記第1クロックを入力する第1クロック線と、
    前記第2クロックを入力する第2クロック線とを有することを特徴とする請求項6に記載の光センサアレイ。
  8. 前記第1クロックと、前記第2クロックとは位相が異なることを特徴とする請求項6に記載の光センサアレイ。
  9. 前記第1トランジスタは、前記第2クロックによりオンとなった時に、前記下部電極に前記第1電源電圧を入力し、次に前記第2クロックが入力されるまでの期間、前記下部電極をフローティング状態とすることを特徴とする請求項6に記載の光センサアレイ。
  10. 前記第3トランジスタは、前記第2クロックより前に入力される第1クロックによりオンとなり、
    前記出力線は、前記第3トランジスタオンとなる前に、前記第1基準電圧とされ、
    前記第2トランジスタと前記第3トランジスタとにより、前記下部電極がフローティングの状態の時に前記光依存可変抵抗素子に所定期間光が照射された後の前記下部電極の電圧変化を、前記出力線の電圧変化として検出することを特徴とする請求項9に記載の光センサアレイ。
  11. 前記第1基準電圧と前記第2基準電圧とは同一の電圧であることを特徴とする請求項6に記載の光センサアレイ。
  12. マトリクス状に配置された光センサ画素と、出力線とを備え、
    前記各光センサ画素は、第1光センサ素子と、暗電流補償用の第2光センサ素子を有する光センサアレイであって、
    前記第1光センサ素子は、第1基準電圧が入力される第1上部電極と、第1下部電極と、前記第1上部電極と前記第1下部電極との間に挟持された第1光依存可変抵抗素子とを有し、
    前記第2光センサ素子は、第1基準電圧が入力される第2上部電極と、第2下部電極と、前記第2上部電極と前記第2下部電極との間に挟持された第2光依存可変抵抗素子とを有し、
    前記各光センサ画素は、前記第1下部電極と第2下部電極との間に接続される容量素子と、
    第2電極に第1電源電圧が入力され、第1電極が前記第1下部電極に接続されるとともに、制御電極に第2クロックが入力される第1トランジスタと、
    第2電極に第2電源電圧が入力され、制御電極が前記下部電極に接続される第2トランジスタと、
    第2電極が前記第2トランジスタの第1電極に接続され、第1電極が前記出力線に接続されるとともに、制御電極に第1クロックが入力される第3トランジスタと、
    第2電極に第1電源電圧が入力され、第1電極が前記第2下部電極に接続されるとともに、制御電極に第2クロックが入力される第4トランジスタと、
    第2電極に第2電源電圧が入力され、第1電極が前記第2下部電極に接続されるとともに、制御電極に第1クロックが入力される第5トランジスタと、
    前記第1光依存可変抵抗素子は、アモルファスシリコン膜であり、
    前記第2光依存可変抵抗素子は、遮光されたアモルファスシリコン膜であることを特徴とする光センサアレイ。
  13. 前記第1基準電圧を供給する第1基準電圧線と、
    前記第1電源電圧を供給する第1電源電圧線と、
    前記第2電源電圧を供給する第2電源電圧線と、
    前記第1クロックを入力する第1クロック線と、
    前記第2クロックを入力する第2クロック線とを有することを特徴とする請求項12に記載の光センサアレイ。
  14. 前記第1クロックと、前記第2クロックとは位相が異なることを特徴とする請求項12に記載の光センサアレイ。
  15. 前記第1トランジスタは、前記第2クロックによりオンとなった時に、前記第1下部電極に前記第1電源電圧を入力し、次に前記第2クロックが入力されるまでの期間、前記第1下部電極をフローティング状態となし、
    前記第4トランジスタは、前記第2クロックによりオンとなった時に、前記第2下部電極に前記第1電源電圧を入力し、次に前記第2クロックが入力されるまでの期間、前記第2下部電極をフローティング状態とすることを特徴とする請求項12に記載の光センサアレイ。
  16. 前記第5トランジスタは、前記第2クロックより前に入力される第1クロックによりオンとなった時に、前記第2下部電極に前記第1電源電圧を入力することを特徴とする請求項15に記載の光センサアレイ。
  17. 前記第3トランジスタは、前記第2クロックより前に入力される第1クロックによりオンとなり、
    前記出力線は、前記第3トランジスタオンとなる前に、前記第1基準電圧とされ、
    前記第2トランジスタと前記第3トランジスタとにより、前記第1下部電極がフローティングの状態において前記光依存可変抵抗素子に所定期間光が照射された後の前記下部電極の電圧変化を、前記出力線の電圧変化として検出することを特徴とする請求項16に記載の光センサアレイ。
  18. 前記各トランジスタは、半導体層としてポリシリコン層を使用する薄膜トランジスタで構成されることを特徴とする請求項6または請求項12に記載の光センサアレイ。
JP2009162612A 2009-07-09 2009-07-09 光センサ回路、および光センサアレイ Active JP5222240B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009162612A JP5222240B2 (ja) 2009-07-09 2009-07-09 光センサ回路、および光センサアレイ
US12/832,230 US8519320B2 (en) 2009-07-09 2010-07-08 Optical sensor circuit or array including optical sensor element having a light dependent variable resistance element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009162612A JP5222240B2 (ja) 2009-07-09 2009-07-09 光センサ回路、および光センサアレイ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011019102A JP2011019102A (ja) 2011-01-27
JP2011019102A5 true JP2011019102A5 (ja) 2012-07-12
JP5222240B2 JP5222240B2 (ja) 2013-06-26

Family

ID=43426773

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009162612A Active JP5222240B2 (ja) 2009-07-09 2009-07-09 光センサ回路、および光センサアレイ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8519320B2 (ja)
JP (1) JP5222240B2 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5661399B2 (ja) 2010-09-28 2015-01-28 株式会社ジャパンディスプレイ 光センサ、および光センサアレイ
JP5654305B2 (ja) 2010-09-28 2015-01-14 株式会社ジャパンディスプレイ 光センサアレイ
KR101941984B1 (ko) * 2011-09-27 2019-04-12 삼성디스플레이 주식회사 액정표시장치
US8994891B2 (en) * 2012-05-16 2015-03-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and touch panel
US8872120B2 (en) 2012-08-23 2014-10-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device and method for driving the same
US8618865B1 (en) 2012-11-02 2013-12-31 Palo Alto Research Center Incorporated Capacitive imaging device with active pixels
US9035301B2 (en) * 2013-06-19 2015-05-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device
JP6232589B2 (ja) * 2013-06-24 2017-11-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 固体撮像装置およびその製造方法
US9215392B2 (en) 2014-04-21 2015-12-15 Palo Alto Research Center Incorporated Impedance readout circuit and method having filter for determining an AC current component inversely proportional to the output impedance of a pixel
US10101373B2 (en) 2014-04-21 2018-10-16 Palo Alto Research Center Incorporated Capacitive imaging device with active pixels and method
FR3035727B1 (fr) * 2015-04-30 2017-05-26 Commissariat Energie Atomique Capteur d'empreintes digitales ou palmaires
JP6693355B2 (ja) * 2016-09-09 2020-05-13 富士通株式会社 信号出力回路、イメージセンサ及び撮像装置
GB2568891B (en) * 2017-11-29 2020-10-07 Peratech Holdco Ltd Detection apparatus

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05136390A (ja) * 1991-11-08 1993-06-01 Canon Inc 画像読取装置及びその製造方法
EP0542152B1 (en) * 1991-11-08 1999-07-14 Canon Kabushiki Kaisha Laminated solid-state image sensing apparatus and method of manufacturing the same
JP3066944B2 (ja) * 1993-12-27 2000-07-17 キヤノン株式会社 光電変換装置、その駆動方法及びそれを有するシステム
JPH11297977A (ja) * 1998-04-09 1999-10-29 Sharp Corp 二次元画像検出器
JP2008171871A (ja) * 2007-01-09 2008-07-24 Hitachi Displays Ltd 高感度光センサ素子及びそれを用いた光センサ装置
JP2008251609A (ja) 2007-03-29 2008-10-16 Mitsubishi Electric Corp フォトセンサーおよびその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2011019102A5 (ja)
TWI342388B (en) Ambient light sensing circuit and flat panel display including ambient light sensing circuit
US20050258341A1 (en) Light quantity detection circuit and display panel using the same
JP2011211182A5 (ja)
EP1617192A1 (en) Circuit detecting ambient light
JP2009276744A5 (ja)
KR101022118B1 (ko) 광 감지회로 및 그 구동방법과 이를 구비한 터치 스크린 패널
ATE543174T1 (de) Oled-display mit alterungs- und wirkungsgradkompensation
TW200726209A (en) Pixel circuits including boosting capacitors, methods of driving the same, and image sensors including the same
JP5222240B2 (ja) 光センサ回路、および光センサアレイ
TW200701169A (en) Electroluminescent display devices
JP2009182194A5 (ja)
JP2012079399A5 (ja)
TW201032107A (en) Active pixel sensor and method for making same
JP6180712B2 (ja) 単純化された光センシング回路、前記光センシング回路を含む光センシング装置、前記光センシング装置を駆動する方法、及び前記光センシング装置を含む画像取得装置及び光タッチスクリーン装置
TW201224894A (en) Touch system and recognition method
JP2012022311A5 (ja) 入出力装置
JP2019165130A5 (ja)
JP2006253236A (ja) 表示装置
WO2019041814A1 (zh) 测光模块、测光电路和电子设备
JP2008242336A5 (ja)
JP2007322830A (ja) 表示装置及びその制御方法
JP2014096566A5 (ja)
JP4613689B2 (ja) 光センサ内蔵表示装置
KR101415725B1 (ko) 표시 장치와 그 구동 방법