JP2011013140A - 偏光板用オンライン位相差測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】位相差測定部は偏光子4a〜4c、検光子5a〜5c及び分光器10a〜10cが被測定物7の移動方向に沿って配置された第1、第2、第3の3組を含む。各組の偏光子4a〜4cと検光子5a〜5cは平行ニコルの状態に配置され、かつそれぞれの組の偏光子4a〜4cと検光子5a〜5cは基準方位に対する偏光方位θが0°、45°、90°に設定されている。被測定物7に対して直交重ねになる方位に配置された位相差板6を配置する。この位相差板6の位相差値は被測定物7との直交重ね状態での位相差値が測定光の波長λの範囲においてλ/2以下となるように設定されている。演算処理部11は3つの偏光方位θに対する波長λiごとの検出光強度Ii(θ)から平行ニコル回転法の原理に基づいて複数波長における位相差Rを算出し、位相差の波長分散特性R(λ)を得る
【選択図】図8
Description
ここで、θは偏光子・検光子の透過軸方位、I0(θ)は被測定物がないときの検出光強度、αは直交する2つの光学主軸方向に直線偏光が透過するときの振幅透過率比、φは被測定物の配向角(被測定物の2つの光学主軸のうちの屈折率が大きい方向すなわち遅相軸の方向)、Rは被測定物の位相差、λは測定波長である。θとφは基準方位に選んだMD方向を基準にしたときの角度である。
ここで、a,b,cは被測定物ごとに決まる定数であるが、吸収端波長と呼ばれるcについてはヨウ素系偏光板の場合、c=600nmとすると単体透過率が異なる偏光板であっても(3)式でよく近似できることが経験的にわかっている。
Cの値が求まると、次式によって位相差Rが計算できる。
ここで、mは次数で自然数1、2、3、・・・であり、図1に示すようにλ/2ごとに増加するので具体的には[2×R/λ]の整数部に1加えた数値になる。一般的な偏光板の位相差が図5(a)の程度であるとすると、波長850nmから1100nmの波長に対して次数mは2から4の値をとることになる。
(7)式においてa0,b0,c0はすべて既知であるので、400個の位相差から最小二乗法で係数a、bを決定できる。このとき、PVAフィルムのように波長分散のない材料で作製した位相差板を使用すれば、位相差板の位相差は一定値R0となり(7)式の代わりに次のようになる。
いずれの式で表した場合も係数a、bが求まれば、前述の説明の通りPVAフィルムの位相差とヨウ素の位相差とを同時に得ることができる。
被測定物と位相差板が重ね合わさった状態での、3組の偏光子と検光子による波長ごとの検出光強度Ii(0),Ii(45),Ii(90)に対して各係数を掛けた値を算出する。
分光器の検出波長ごとに(4)式、(5)式のI(0),I(45),I(90)の代わりに、(10)式で計算したI'i(0),I'i(45),I'i(90)を用いてCを計算し、検出波長ごとの位相差をm=1として(6)式から求める。その値が、(7)式あるいは(8)式のR'(λ)に相当する。
演算処理部11は専用のコンピュータ又は汎用のパーソナルコンピュータにより実現される。
4a,4b,4c 偏光子
5a,5b,5c 検光子
6 位相差板
10a,10b,10c 分光器
11 演算処理部
110 光量補正係数算出部
112 位相差算出部
114 分散曲線算出部
Claims (5)
- 偏光板からなる移動中の被測定物に偏光子を通して近赤外域の多波長成分を含む測定光が照射され、前記被測定物を透過した測定光が検光子を通して分光器に入射して波長λiごとの検出光強度Ii(θ)(iは波長がλiであることを示し、θは後述の偏光方位である。)が測定される位相差測定部であって、前記偏光子、検光子及び分光器は被測定物の移動方向に沿って配置された第1、第2、第3の3組を含み、各組の偏光子と検光子は平行ニコルの状態に配置され、かつそれぞれの組の偏光子と検光子は基準方位に対する偏光方位θが0°、45°、90°に設定されている位相差測定部と、
前記被測定物に対して直交重ねになる方位に配置された位相差板であって、該位相差板の位相差値は被測定物と該位相差板の直交重ね状態での位相差値Rが測定光の波長λの範囲においてλ/2以下となり、かつ|C|<K(C=cos2πR/λ、Kは0.90〜0.95の範囲の数値をとる定数である。)となるように設定されたものである位相差板と、
前記位相差測定部で測定された波長λiごとの検出光強度Ii(θ)から前記被測定物の位相差を少なくとも算出する演算処理部と、を備え、
前記演算処理部は、3つの偏光方位θに対する波長λiごとの検出光強度Ii(θ)から平行ニコル回転法の原理に基づいて複数波長における位相差を算出し、前記被測定物の位相差の波長分散特性R(λ)を得るオンライン位相差測定装置。 - 被測定物は基材フィルムにヨウ素が吸着配向している偏光板であり、
前記演算処理部は被測定物の位相差の波長分散特性Rp(λ)を以下の波長分散式で表し、
右辺第一項のaを被測定物の基材フィルムの位相差とし、さらにある基準波長λ0における右辺第二項のb/(λ0 2−c2)(cは吸収端波長と呼ばれる定数)の値をヨウ素の位相差とする請求項1に記載のオンライン位相差測定装置。 - 前記位相差板は波長分散特性をもつ材料からなり、近赤外域で測定したときの位相差の波長分散特性R0(λ)が既知の定数a0,b0,c0により(3)式と同じ形で表されるものであり、
前記演算処理部は被測定物と前記位相差板との直交重ね合わせ状態で測定できる位相差R'(λ)を次式で表わし、
複数波長における位相差算出値を用いて最小二乗法により係数a、bを決定するものである請求項2に記載のオンライン位相差測定装置。 - 前記位相差板は波長分散特性をもたず、その位相差は一定値R0となっているものであり、
前記演算処理部は被測定物と前記位相差板との直交重ね合わせ状態で測定できる位相差R'(λ)を次式で表わし、
複数波長における位相差算出値を用いて最小二乗法により係数a、bを決定するものである請求項2に記載のオンライン位相差測定装置。 - 前記演算処理部は検出波長λiごとの光量の補正係数βi(θ)として[一定値/(被測定物がないときの分光器検出光強度I0i(θ))]を計算する補正係数算出部をさらに備え、
前記演算処理部は被測定物と前記位相差板との重ね合わせ状態での分光器検出光強度Ii(θ)に替えてβi(θ)で補正された波長ごとの検出光強度βi(θ)×Ii(θ)を用いて位相差を算出する請求項1から4のいずれかに記載のオンライン位相差測定装置。
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