JP2011007693A - 光電子増倍装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】SPECT装置のガンマカメラをSiPMにて構成する場合、SiPMが有する全APD14cを所定数のAPD14cからなるAPDアレイ14dに分割し、各APDアレイ14dに対して、周辺温度の上昇に応じて抵抗値が低下し、かつ、周辺温度の低下に応じて抵抗値が上昇する半導体抵抗14eと、半導体抵抗14eと直列に接続され、抵抗値が周辺温度の変化に対して固定である固定抵抗14fとから構成され、さらに、固定抵抗14fがAPDアレイ14dの各APD14cと並列接続される電圧制御機構を設置する。
【選択図】図4
Description
11 天板
12 寝台
13 寝台駆動部
14 ガンマカメラ
14a シンチレータ
14b SiPM(シリコンフォトマルチプライアー)
14c APD(アバランシェフォトダイオード)
14d APDアレイ
14e 半導体抵抗
14f 固定抵抗
15 カメラ駆動部
20 コンソール装置
21 入力部
22 表示部
23 寝台制御部
24 カメラ制御部
25 データ収集部
26 画像再構成部
27 データ記憶部
28 システム制御部
Claims (5)
- 光を増幅素子により電気信号として増倍する光電子増倍装置であって、
前記増幅素子に印加される印加電圧が、周辺温度の上昇に応じて上昇するように分圧制御し、かつ、前記周辺温度の低下に応じて低下するように分圧制御する電圧制御機構を備えたことを特徴とする光電子増倍装置。 - 前記電圧制御機構は、前記周辺温度の上昇に応じて抵抗値が低下し、かつ、前記周辺温度の低下に応じて抵抗値が上昇する半導体抵抗と、当該半導体抵抗と直列に接続され、抵抗値が周辺温度の変化に対して固定である固定抵抗とから構成され、当該固定抵抗が分圧制御の対象となる増幅素子と並列接続されることを特徴とする請求項1に記載の光電子増倍装置。
- 前記電圧制御機構は、分圧制御の対象となる増幅素子ごとに、または、分圧制御の対象となる複数の増幅素子である増幅素子群ごとに設置されることを特徴とする請求項1または2に記載の光電子増倍装置。
- 前記印加電圧は、前記増幅素子が発生する電圧の方向に対して、逆方向の電圧であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の光電子増倍装置。
- 前記印加電圧は、前記増幅素子が発生する電圧の方向に対して、順方向の電圧であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の光電子増倍装置。
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