JP2010283251A - 半導体人工分子および半導体発光素子 - Google Patents
半導体人工分子および半導体発光素子 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】第1半導体からなる各々離間して配置された複数の量子ドット101と、これら量子ドット101の間に配置された第2半導体からなる半導体層102とを少なくとも備える。また、第1半導体と第2半導体とはエネルギーギャップ(バンドギャップエネルギー)が異なり、各々の量子ドット101の間隔Lbは、第1半導体中の励起子のボーア半径の0.5倍〜5倍の範囲とされている。また、よりよくは、この間隔が、第1半導体中の励起子のボーア半径の1倍〜5倍の範囲とされている。
【選択図】 図1
Description
はじめに、実施例1における半導体人工分子について、図10および図11A〜図11Cを用いて説明する。図10は実施例1における半導体人工分子の構成を模式的に示す断面図である。また、図11A〜図11Cは、実施例1における半導体人工分子の製造方法例を説明するための工程図である。この半導体人工分子は、GaAsからなる基板1001の上に、基板1001の平面の法線方向に離間して配置されたGaAsからなる2つの量子ドット1002と、これら量子ドット1002の周囲を覆うAlGaAsからなる半導体層1003とを備える。この半導体人工分子では、各量子ドット1002は、この周囲が半導体層1003で覆われているが、2つの量子ドット1002は、これらの間に配置されている半導体層1003を介し、基板1001の平面の法線方向に積層されている。
次に、実施例2の半導体人工分子について、図13および図14A〜図14Dを用いて説明する。図13は実施例2における半導体人工分子の構成を模式的に示す断面図である。また、図14A〜図14Cは、実施例2における半導体人工分子の製造方法例を説明するための工程図である。この半導体人工分子は、GaAsからなる基板1301の上に、基板1301の平面の法線方向に離間して配置されたGaAsからなる2つの量子ドット1304と、これら量子ドット1304の間に配置されたAlGaAsからなる半導体層1303bとを備える。
次に、上述した半導体人工分子による半導体発光素子について説明する。図17は、本発明の実施の形態における半導体発光素子の構成を模式的に示す断面図である。この半導体発光素子は、n型のGaAsからなる基板1701の上に、基板1701の法線方向に離間して配置されたGaAsからなる2つの量子ドット1704a,1704bと、これら量子ドット1704a,1704bの間に配置され、アンドープのAlGaAsからなる半導体層1705とを備える。
Claims (8)
- 第1半導体からなる各々離間して配置された複数の量子ドットと、
これら量子ドットの間に配置された第2半導体からなる半導体層と
を少なくとも備え、
前記第1半導体と前記第2半導体とはエネルギーギャップが異なり、
各々の前記量子ドットは、前記第1半導体中の励起子のボーア半径の0.5倍〜5倍の範囲で離間している
ことを特徴とする半導体人工分子。 - 請求項1記載の半導体人工分子において、
各々の前記量子ドットは、前記第1半導体中の励起子のボーア半径の1倍〜5倍の範囲で離間している
ことを特徴とする半導体人工分子。 - 請求項1または2記載の半導体人工分子において、
前記量子ドットは、前記第2半導体からなる層を介して基板の上に形成されている
ことを特徴とする半導体人工分子。 - 請求項3記載の半導体人工分子において、
前記量子ドットの各々は、基板の上に前記半導体層を介して積層されている
ことを特徴とする半導体人工分子。 - 請求項4記載の半導体人工分子において、
前記量子ドットは、柱状の領域に積層されていることを特徴とする半導体人工分子 - 請求項5記載の半導体人工分子において、
前記柱状の領域の径は、前記量子ドットの大きさ以上とされ、前記第1半導体のエネルギーギャップに相当する光波長の半分以下とされている
ことを特徴とする半導体人工分子 - 請求項5または6記載の半導体人工分子において、
複数の前記柱状の領域を備えることを特徴とする半導体人工分子 - 請求項1〜7のいずれか1項に記載の半導体人工分子を活性層としたことを特徴とする半導体発光素子。
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-
2009
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