JP2010280048A - 円筒研削機 - Google Patents
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- 238000000227 grinding Methods 0.000 title claims abstract description 69
- 239000000463 material Substances 0.000 title abstract description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 88
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 84
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 84
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 84
- 239000010985 leather Substances 0.000 claims abstract description 38
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000003754 machining Methods 0.000 abstract description 6
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 6
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 3
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 239000002649 leather substitute Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000009736 wetting Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Abstract
【解決手段】シリコン単結晶1を、両端から主軸側チャック2bおよび心押側チャック2cにより挟み込んで支持し、シリコン単結晶1を主軸側チェック2aの駆動に伴い軸周りに回転させて、研削水を供給しながら外周を研削する円筒研削機であって、主軸側チャック2bおよび心押側チャック2cは、シリコン単結晶1の各端部を受け入れる円錐状の凹部を有し、この凹部の表面に皮革が貼り付けられており、皮革は摩擦係数が乾燥時よりも吸水時に大きくて、0.4以上であることを特徴とする円筒研削機である。
【選択図】図4
Description
(1)シリコン単結晶の欠けの発生を抑えつつ芯振れの発生を抑制するためには、適度な弾性を有すること。
(2)すべりおよび位置ずれの発生を抑えるためには、濡れた状態でも適度な摩擦力を有すること。
(3)研削水の飛散による濡れた状態でもすべりおよび位置ずれの発生を抑えるためには、吸湿性を有すること。
これらの3つの性質を満足するものとして、皮革が有効であることを見出した。
2:チャック、 2a:凹部、 2b:主軸側チャック、 2c:心押側チャック、
3:主軸台、 4:心押台、 5:砥石台、 6:砥石、 7:皮革
Claims (3)
- チョクラルスキー法により育成したままのシリコン単結晶を、両端から主軸側チャックおよび心押側チャックにより挟み込んで支持し、前記シリコン単結晶を前記主軸側チェックの駆動に伴い軸周りに回転させて、研削水を供給しながら外周を研削する円筒研削機であって、
前記主軸側チャックおよび前記心押側チャックは、前記シリコン単結晶の各端部を受け入れる円錐状の凹部を有し、この凹部の表面に皮革が貼り付けられており、
前記皮革は、摩擦係数が乾燥時よりも吸水時に大きくて、0.4以上であることを特徴とする円筒研削機。 - 前記皮革が牛革であることを特徴とする請求項1に記載の円筒研削機。
- 前記皮革は、乾燥時および吸水時に、表面粗さの中心線平均粗さRaが10μm以上で、最大高さRyが40μm以上であることを特徴とする請求項1または2に記載の円筒研削機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009137062A JP5316237B2 (ja) | 2009-06-08 | 2009-06-08 | 円筒研削機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009137062A JP5316237B2 (ja) | 2009-06-08 | 2009-06-08 | 円筒研削機 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010280048A true JP2010280048A (ja) | 2010-12-16 |
JP2010280048A5 JP2010280048A5 (ja) | 2012-03-22 |
JP5316237B2 JP5316237B2 (ja) | 2013-10-16 |
Family
ID=43537265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009137062A Active JP5316237B2 (ja) | 2009-06-08 | 2009-06-08 | 円筒研削機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5316237B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2009
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JP5316237B2 (ja) | 2013-10-16 |
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