JP2010257840A

JP2010257840A - 蛍光ランプの製造方法

Info

Publication number: JP2010257840A
Application number: JP2009108071A
Authority: JP
Inventors: Kunihiko Ikada; 邦彦筏; Takeo Yasuda; 丈夫安田
Original assignee: Toshiba Lighting and Technology Corp
Current assignee: Toshiba Lighting and Technology Corp
Priority date: 2009-04-27
Filing date: 2009-04-27
Publication date: 2010-11-11

Abstract

【課題】１８０℃を超える高温度で放出される不純ガスを原因とする発光管の良否判定を行える蛍光ランプの製造方法を提供することにある。
【解決手段】封止工程１３により、内面に蛍光体が塗布されたバルブの両端にフィラメント電極を封止する。排気工程１４により、封止されたバルブ内を排気する。この後、ガス充填工程１５によりバルブ内に希ガスを封入してから、封切工程１６により排気管を閉じて発光管を形成する。点灯検査工程１７により、発光管を点灯させた状態で加熱炉に通過させながらエージングをする。このエージングをする点灯検査工程１７で、発光管の表面最低温度が１８０℃を超える温度となるように発光管を加熱炉で加熱しながら、表面最低温度に応じて定められた所要時間の間発光管を加熱炉に滞在させる。それにより、エージングをしながら発光管の良否を検査できるようにしたことを特徴としている。
【選択図】図１

Description

本発明はエージングによる点灯検査工程を備えた蛍光ランプの製造方向に関する。

ゲッタを封装した排気管封切後のランプを、１００〜１８０℃の温度で加熱処理して吸蔵不純ガスを放出させ、その後の冷却過程においてこのランプをエージングして、放出された不純ガスをゲッタで吸収除去することにより、ランプ内各部に不純ガスが再吸収されることを抑制した蛍光ランプの製造方法が知られている（例えば、特許文献１参照。）。

この製造方法は例えばＦＬＲ１１０型蛍光ランプに適用される。この製造方法によれば、エージングにより放出された不純ガスがゲッタで除去されるので、長期点灯中の不純ガスの放出が抑制され、その結果、不純ガスによる管壁黒化、始動特性の低下、始動電圧の上昇或いは早期始動不良を減少させることができる。

以上のようにエージング前の加熱により放出された不純ガスのランプ内各部への再吸収抑制を目的とした従来の製造方法で、不純ガスを放出させる温度の上限を１８０℃とした理由は、この温度を超えた場合、放出される不純ガスの量が多すぎて、エージングの始動が困難になるからであると、説明されている。

特開平６１−２８１４３２号公報

蛍光ランプに吸蔵される不純ガスとしては、Ｎ_２、ＣＯ_２、ＣＯ、Ｈ_２Ｏ、Ｈ_２等が代表的に知られている。この内、Ｎ_２は熱に対して不活性（安定）で他の元素と結合し難いが、低温で放出される。これに対して、ＣＯ_２、ＣＯは熱に対して活性であり分解し易く、Ｈ_２Ｏ、Ｈ_２は熱に対して更に活性であり分解し易い。

ＦＬＲ１１０型蛍光ランプなどの直管型蛍光ランプは、形状的に大きく、かつ負荷も比較的低く、そのバルブの表面最低温度は最高でも４０℃程度である。そのため、点灯中においてＮ_２の放出を抑制できれば実用上は充分である。こうした事情から、加熱により放出されたＮ_２及びＨｇのガスを吸蔵できるゲッタを用いた前記製造方法が提案されている。この方法によれば、エージング前の過熱工程での加熱温度が１００〜１８０℃であるので、Ｈ_２、Ｈ_２Ｏ、及びＨｇの不純ガスを放出させて、それを冷却過程でのエージングの際に、ゲッタに再吸収させることができる。

一方、最近多用されつつある電球型の蛍光ランプは、その発光管のバルブが略Ｕ字形や略Ｍ形等に曲げられていて小形に作られているとともに、Ｅ26型等の口金とグローブとで密閉された空間内に発光管が収容された構成であり、かつ、高負荷である。そのため、電球型の蛍光ランプの点灯中、その発光管の表面最低温度は少なくとも１６０℃であり、ランプの構成によっては発光管の表面最低温度が２４０℃以上となる電球型の蛍光ランプも提供されている。

このように小形で高負荷の蛍光ランプを、特許文献１の製造方法で製造すると、その使用時の発光管の表面最低温度は、特許文献１の製造方法で行われる不純ガスを放出させるための加熱温度の上限付近乃至はこの上限温度を超える温度となる。

しかし、小形で高負荷の蛍光ランプが特許文献１の製造方法で製造された場合、前記のように１００〜１８０℃の加熱温度では、吸蔵された全ての不純ガスを放出できない。そのため、小形で高負荷の蛍光ランプの点灯中、１００〜１８０℃の加熱で放出されずに吸蔵されたままの不純ガスが放出されるようになる。このことは、特許文献１中の不純ガスを放出させる温度の上限である１８０℃を超えた場合、放出される不純ガスの量が多すぎて、エージングの始動が困難になる、との記載に整合する。

前記高温の温度域で放出される不純ガスは、ＣＯ_２、ＣＯ、Ｈ_２を主成分とすることが、本発明者の研究により解明された。更に、この不純ガスの放出のピークとなる温度は、図６に示すように２５０℃であることも判明した。これとともに、図６に示すように１００℃で不純ガスの放出ピークがあり、ここで放出される不純ガスはＮ_２、Ｈ_２Ｏを主成分とすることも判明した。

小形で高負荷の蛍光ランプで、その点灯中に吸蔵された不純ガスが以上のように放出されると、そのガスにより発光管電圧が上昇するとともに放電不良が起きる。したがって、ちらつき現象を経て、やがては不点の状態に至ることがある。

このような事態は改善されるべきであるが、既述のように特許文献１に記載の従来技術は、１８０℃を超える高温度で放出される不純ガスを原因とする不点についての対策を講じていない。即ち、不純ガスを原因とする不点対策としては、不点原因を除去できる製品開発も可能である。しかし、これに代えて、不点原因はそのままにして置いて、発光管が不純ガスを原因として不点となるか否かを検査することにより、発光管の良否判定を行い、不良製品を排除して、良製品のみを提供することが現実的である。しかし、こうした要請は、特許文献１に記載の従来技術では満たすことができない。

前記のように従来技術は、１８０℃を超える温度で放出される不純ガスを原因とする発光管の良否判定を行うことができない、という課題がある。

前記課題を解決するために、請求項１の発明は、内面に蛍光体が塗布されたバルブの両端に電極を封止する封止工程と；封止された前記バルブ内を排気する排気工程と；排気後に前記バルブ内に希ガスを封入するガス充填工程と；この充填工程で用いた排気管を閉じて発光管を形成する封切工程と；封切後に前記発光管を加熱しながらエージング点灯回路によりエージングをする点灯検査工程であって、前記発光管の表面最低温度が１８０℃を超える温度となるように前記発光管を加熱しながら前記表面最低温度に応じて定められた加熱時間の間前記発光管をエージングする前記点灯検査工程と；を具備したことを特徴としている。

この発明で、発光管とは、内面に蛍光体が塗布されたバルブの両端に電極を封止するとともに、バルブ内に希ガスを封入してなり、電極間の放電で水銀から紫外線を発生させ、この紫外線で蛍光体を発光させるものを指している。この発明で、発光管の表面最低温度とは、発光管を発光させた状態で、そのバルブ表面の温度の内で最も低い温度を指している。この表面最低温度が生じる位置は、例えば電球型の蛍光ランプがその口金を上向きにして配置される場合、口金を下向きにして配置される場合、或いは口金を横向きにして配置される場合等の蛍光ランプの点灯方向により異なる。

この発明で、エージングする際に発光管を加熱する手段として例えばヒータが内蔵された加熱炉を挙げることができ、この加熱炉に発光管を通過させることで、発光管を加熱できる。この場合、加熱炉は、これを通過しようとする発光管を上方から加熱するヒータ、下方から加熱するヒータ、側方から加熱するヒータの内、少なくとも一つのヒータを有していればよいとともに、この加熱炉中の所定領域を通過する時間により、加熱されながらエージングされる発光管の表面最低温度に応じて定められた発光管の加熱時間（ガス放出検査時間）を確保できる。

この発明で、エージングされる発光管の加熱時間（ガス放出検査時間）は、同じの大きさの発光管であれば、１８０℃を超える加熱温度が高い程加熱時間は短くてよく、この逆に加熱温度が１８０℃の近い略加熱時間を長く必要とする。これとともに、この発明で、加熱時間（ガス放出検査時間）とは１８０℃を超える温度を発光管が維持している時間を指している。図６に示したように１８０℃を超えた温度領域でのガス放出のピーク温度が２５０℃であるので、点灯検査工程の処理時間を短くする上で、加熱温度を（２５０±５０）℃の範囲内に設定することが好ましく、又、３２０℃を超える温度域で加熱することは不純ガスを効率よく放出させるには難があり点灯検査工程の実行時間を短くする、つまり製造性を向上する上では好ましくない。この発明で、１８０℃を超える加熱温度とした根拠は、高温度領域で不純ガスが放出を始める温度は約１７０℃であるが、そのばらつきを考慮するとともに、１７０℃の温度での加熱時間よりも短い時間で点灯検査工程が終わるようにしたことにある。

請求項１の発明では、封止工程、排気工程、ガス充填工程、及び封切工程を経て形成された発光管を、点灯検査工程により加熱しながらエージングすることによって、発光管をエージングしながら１８０℃を超える温度で放出される不純ガスを原因とする発光管の良否判定を行うことができる。

即ち、排気工程での排気不良を原因として不純ガスが発光管の各部に吸蔵されている場合、発光管を点灯させたエージング状態で、この発光管の最低表面温度が１８０℃を超えるように所定時間加熱されることにより、吸蔵されている不純ガスが放出される。放出された不純ガスにより点灯中に発光管にちらつきが発生し、或いは放電が立ち消えて不点状態になると、その発光管は不良製品であると判定できる。排気工程での排気が充分で不純ガスが発光管の各部に吸蔵されていないか、点灯を持続する上で問題にならない程度のごく微量な吸蔵である場合、前記加熱に拘らず、不純ガスを原因とする発光管のちらつき、或いは不点を生じないので、その発光管は良製品であると判定できる。

請求項２の発明は、請求項１の発明において、前記エージング点灯回路が鉄心と電線を組み合わせて形成された鉄心安定器を有していて、このエージング点灯回路を用いて前記発光管をエージングすることを特徴としている。

請求項２の発明では、発光管を点灯させるエージング点灯回路の鉄心安定器は、発光管の点灯安定時に電極間にかかる電圧（ランプ電圧）を低く制御しているため、不純ガスの放出を原因として電極間の放電が止まると、ランプ電流が切れ易い。これにより、発光管の不良判定を確実にできる。なお、これに対して電子安定器をエージング点灯回路に用いた場合、この電子安定器は、発光管のランプ電圧を高く維持する電子回路であるので、不純ガスが放出されても放電を維持する性能があり、したがって、発光管の不良判定をするには適していない。

請求項１の発明によれば、発光管の表面最低温度が１８０℃を超える温度で、かつ、この表面最低温度に応じて定められた加熱時間で発光管をエージングする点灯検査工程を備えて、発光管をエージングしながら１８０℃を超える温度で放出される不純ガスを原因とする発光管の良否判定を行うことができるので、この判定により良製品と判定された発光管が組み込まれた蛍光ランプを提供できる。

請求項２の発明によれば、請求項１の発明において、更に、不純ガスが放出されて電極間の放電を止まった場合、その状態を維持し易いので、発光管の不良判定を確実にできる。

本発明の蛍光ランプの製造方法を製造工程順に示すフローチャートである。本発明の製造対象の一例である電球型の蛍光ランプを一部断面して示す側面図である。本発明の蛍光ランプ製造方法の点灯検査工程を担うエージング装置を概念的に示す平面図である。図３のエージング装置の加熱炉を図３中Ｆ４−Ｆ４線に沿って示す概念的な断面図である。図３のエージング装置で用いられるエージング点灯回路を示す回路図である。本発明の製造対象である電球型の蛍光ランプの発光管の不純ガス放出特性を示すグラフである。図３のエージング装置で電球型の蛍光ランプの発光管をその表面最低温度が１８０℃となるように加熱した条件下での点灯時間と発光管電圧（ＶＬ）との関係を示すグラフである。図３のエージング装置で電球型の蛍光ランプの発光管をその表面最低温度が２３０℃となるように加熱した条件下での点灯時間と発光管電圧（ＶＬ）との関係を示すグラフである。

以下、図１〜図８を参照して本発明の一実施の形態について、詳細に説明する。

図２中符号１は、本発明の一実施形態に係る製造方向で造られた蛍光ランプ、例えば電球型の蛍光ランプを示している。この電球型の蛍光ランプ１は、口金２と、発光管３と、インバータ式の点灯回路４と、グローブ５と、カバー６を備えている。カバー６の一端側に発光管３が取付けられ、カバー６の他端側に口金２が取付けられている。これとともに、発光管３を点灯させる点灯回路４はカバー６の内側に配設されている。透明又は拡散透光性の材料からなるグローブ５は、カバー６の一端側に取付けられていて、発光管３を覆っている。

発光管３は、その放電路を曲げてコンパクトに作られていて、例えばＵ字形に曲げられている。この発光管３は、図１に示した封止工程１３、排気工程１４、ガス充填工程１５、及び封切工程１６を経て形成される。

つまり、まず、蛍光体（図示しない）が内面に塗布されガラス製のバルブ１０と、フィラメント電極１１（図５参照）が装着されるとともに図示しない排気管を有したマウントステム１２を用意する。

バルブ１０の両端にマウントステム１２を封止し、次いで、バルブ１０を加熱しながら排気管を通じてバルブ１０内を真空ポンプ等により排気する。これにより、電極を活性化する。この排気後に、排気管を通じて不活性ガスなどの希ガスをバルブ１０内に充填し、次いで排気管を封切する。以上の工程を順次経ることで発光管３が形成される。

この後、本発明方法では図１に示すように点灯検査工程１７を実施して製品１８を得る。この点灯検査工程１７では、図３及び図４に示した加熱手段付きのエージング装置２１を用いて、このエージング装置２１が有したエージング点灯回路２２（図５参照）を用いて発光管３を点灯させてエージングをするとともに、これと同時に点灯状態にある発光管３を加熱する。

図５に示すようにエージング点灯回路２２は鉄心安定器２３及び点灯管２４を有している。鉄心安定器２３は、図示しない鉄心とこれに絶縁被覆電線を巻き付けて組み合わされたものであって、商用交流電源２５を発光管３のフィラメント電極１１に印加する。点灯管２４は、ガラス管内に固定電極とバイメタル電極を封入してなるスタータであり、発光管３の両端のフィラメント電極１１に接続されている。

このエージング点灯回路２２で、この回路に商用交流電源２５の電圧が加えられると、点灯管２４でのグロー放電により点灯管２４の接点をなした固定電極とバイメタル電極が閉じるので、発光管３のフィラメント電極１１に短絡電流が流れてこのフィラメント電極１１が予熱され、この電極から電子が放出される。やがて、点灯管２４が冷えてその接点が開くと、その瞬間に鉄心安定器２３からキック電圧が発生してフィラメント電極１１間にかかり、発光管３が点灯する。この始動後には、フィラメント電極１１にかかるランプ電流によりフィラメント電極１１からの電子放出が継続されて点灯状態が維持される。エージング点灯回路２２は後述する発光管受け部材３１と同数設けられる。

エージング装置２１は、エージング点灯回路２２の他に、図３に示すように発光管３が着脱自在にセットされる発光管受け部材３１を複数有したコンベア３２と、搬入機構３３と、搬出機構３４と、判定センサ３５と、加熱手段例えば加熱炉３６を備えている。

コンベア３２は環状例えば円環形であり、その上面に発光管受け部材３１が周方向に一定間隔で取付けられている。なお、コンベア３２は四角環形でも、真っ直ぐに配設されていても良い。このコンベア３２は例えば２分で一回転されるようになっている。発光管受け部材３１は、それに検査対象の発光管が取付けられた状態で、この発光管に通電できる。

搬入機構３３は、製造された検査対象の発光管３を、搬入位置に移動されてきた発光管受け部材３１に自動的にセットする。搬出機構３４は、搬入位置を基点としてコンベア３２の搬送方向（図３及び図４中矢印Ｆで示す。）に略３６０°に近い角度に達する位置に設定された搬出位置に移動されてきた発光管３を、発光管受け部材３１から自動的に外すとともに、判定センサ３５が取得する判別情報に基づき、後述する良製品と不良製品とを仕分けする。

判定センサ３５は、例えば光センサなどからなり、加熱炉３６の出口３６ｂと前記搬出位置との間に配設されている。この判定センサ３５は、発光管受け部材３１にセットされた発光管３が加熱炉３６を通過した状態で点灯状態を維持している場合、その光を検知して発光管３が良製品であると判定する。又、判定センサ３５は、発光管受け部材３１にセットされた発光管３が加熱炉３６を通過した状態で不点状態にある場合、この発光管３からの光を検知しないことにより、この発光管３が不良製品であると判定する。

図３に示すように加熱炉３６はコンベア３２の前記搬入位置と搬出位置との間で搬入位置から搬出位置に至る搬送領域に配置されている。図４に示すように加熱炉３６の一端に入口３６ａが開口され、加熱炉３６の他端に出口３６ｂが開口されている。この加熱炉３６にコンベア３２が通されている。加熱炉３６はその内部にヒータ３７を有している。図４に示したヒータ３７は、加熱炉３６を通るコンベア３２及びその上面に支持された検査対象の発光管３を上方から加熱するために、加熱炉３６の上部にコンベア３２に対向して配設されている。

ヒータ３７は電気ヒータであり、入力を調整することにより発熱量を変えることができる。加熱炉３６の入口３６ａ付近と出口３６ｂ付近の炉内温度は低いが、加熱炉３６の中間部（コンベア３２による搬送方向を基準として）の炉内温度が、１８０℃以上、好ましくは２００℃〜３００℃、例えば２３０℃を維持するように前記入力調整によりヒータ３７の発熱が調整されている。この炉内温度領域を本明細書ではガス放出検査領域と称し、この領域は、例えば加熱炉３６全体の略１/３を占めて加熱炉３６の中央部に設定されている。又、本明細書では、前記ガス放出検査領域を通過するのに要する時間をガス放出検査時間と称する。

点灯検査工程１７では、コンベア３２が連続運転されるとともに加熱炉３６が加熱状態にある条件下で、搬入機構３３により検査対象である発光管３が、搬入位置に移動されてきた発光管受け部材３１にセットされる。こうしてセットされた発光管３は、この発光管３がセットされた発光管受け部材３１の夫々に個別に接続されているエージング点灯回路２２によって点灯されて、コンベア３２上に保持されている間エージングされる。エージングに要する時間は、点灯開始時から搬出機構３４でコンベア３０上から外されるまでの時間である。

このエージング中、発光管３は加熱炉３６を所定の時間をかけて通過する。この搬送及び加熱炉３６を通過するために要する時間は、コンベア３２に搬送速度に依存している。この加熱炉通過時間よりも発光管３が所定の温度まで昇温してその昇温した温度に維持されている時間（前記ガス放出検査時間）は短い。点灯状態の発光管３が加熱炉３６で加熱されることにより、発光管３の各部に不純ガスが吸蔵されている場合、その不純ガスが放出される。

この不純ガスは図６に示すように二回に分けて放出される。具体的には、発光管３の温度が上昇して、その表面最低温度が１００℃前後となるように発光管３が加熱されることにより、第１回目の不純ガスが放出される。この後、一旦、不純ガスの放出が中断し、更に、発光管３の表面最低温度が１８０℃以上から３００℃となるように発光管３が加熱された状態で、第２回目の不純ガスが放出される。第１回目の低い加熱温度で放出される吸蔵ガスは、主にＨ_２及びＨｇのガスであり、第２回目の高い加熱温度で放出される吸蔵ガスは、主にＣＯ_２、ＣＯ、Ｈ_２のガスであって、一回目に放出された不純ガスよりも多く放出される。

図７に、前記ガス放出検査領域において検査される発光管３の表面最低温度が１８０℃となるように前記加熱炉３６が有したヒータ３７の発熱量を調整した場合の点灯時間（言い換えれば加熱手段によるガス放出検査時間）と、ＶＬ（発光管電圧）の変化を示す。ここにＶＬの値は、検査される発光管３にかかる電圧であり、この値が高いほど発光管３内に不純ガスが多く放出されたことを表している。

この実施例１において、不純ガスが１％以下の良製品として用意された発光管は、点灯開始（始動）後、１２秒まではＶＬの値が僅かに高まる傾向が見られ、その後、点灯開始から３０秒を越えても６０秒経過しても、ＶＬの値には変化が見られなかった。なお、点灯開始後１２秒の不安定期間は、以下の理由による。つまり、検査される発光管３が加熱されると、不純ガスの他に水銀ガスも同時に放出され、この水銀ガスがＶＬの値を高くするように働くからである。この水銀ガスの放出は前記不安定期間を超えると無視できるほど低くなって安定するが、それ以降も不純ガスの放出は継続される。

これに対して、不純ガスが１０％の不良製品として用意された発光管３は、点灯開始の時点から良製品に係る発光管よりＶＬの値が高いとともに、この点灯開始時点から３０秒までは、ＶＬの値には変化が殆ど見られなかったが、３０秒を超えて時間が経過するほど、ＶＬの値が徐々に高くなる傾向が見られた。したがって、更に、長いガス放出検査時間を設定することにより、やがては不純ガスの放出量の増加に伴うＶＬ値の増加で、当該し発光管が不点に至るようになる。

図８に、前記ガス放出検査領域において検査される発光管３の表面最低温度が２００℃以上例えば２３０℃となるように前記加熱炉３６が有したヒータ３７の発熱量を調整した場合の点灯時間（言い換えれば加熱手段によるガス放出検査時間）と、ＶＬ（発光管電圧）の変化を示す。

この実施例２において、不純ガスが１％以下の良製品として用意された発光管は、点灯開始（始動）から３０秒を越えても６０秒経過しても、ＶＬの値には変化が見られなかった。この場合に、点灯開始直後に前記不安定期間が見られない理由は、検査される発光管３の表面最低温度が高いことに伴い、水銀ガスの放出速度が速く、それが速やかに安定するからであると考えられる。

これに対して、不純ガスが５％の不良製品として用意された発光管では、点灯開始の時点からＶＬの値が９０ボルトと良製品に係る発光管のＶＬ値より高いとともに、この点灯開始時点から急激にＶＬの値が増加し、やがて点灯開始時点から３０秒を経過した時点で発光管が不点（点灯状態から消灯する。）に至り、かつ、この不点に至った時点でのＶＬの値は１３０ボルトであった。

この場合、鉄心安定器２３を有した図５のエージング点灯回路２２で、検査対象の発光管のＶＬ値が所定のレベルに達する直前の段階では、検査対象の発光管の放電が不安定になるので、ちらつきを生じるとともに、点灯管２４は点滅を繰り返すようになる。そして、前記所定レベルをＶＬ値が超えると、点灯管２４の点滅は継続するが、検査対象の発光管は不点状態となる。

又、不純ガスが１０％の不良製品として用意された発光管では、点灯開始の時点からＶＬの値が１３０ボルトと良製品に係る発光管ＶＬ値より高いとともに、この点灯開始時点から１２秒経過するまではＶＬの値が僅かに低下し、かつ、元のＶＬ値１３０に戻る傾向が見られ、その後は急激にＶＬの値が増加し、やがて点灯開始時点から３０秒を経過した時点で発光管が不点に至り、かつ、この不点に至った時点でのＶＬの値は１７５ボルトであった。

以上の結果から不純ガスが１％以下の発光管は、エージング中の加熱に拘らず、ＶＬの値が殆ど変化することがなく、点灯状態を維持して、コンベア３２の動作で加熱炉３６を通過する。これに対して、不純ガスが５％又は１０％の発光管は、エージング中において加熱炉３６のガス放出検査領域での加熱による不純ガスの放出を原因として、不純ガスが１％以下の発光管のＶＬ値との乖離ないしは発光管に不点を生じる。この場合、ガス放出検査領域での加熱温度が高いほど、検査される発光管が不点に達するまでの時間が短く、製造性が良い。又、ガス放出検査領域を通過するに要するガス放出検査時間は、以上の結果からして３０秒以上あれば良いことが分かった。

加熱炉３６の出口３６ｂを通過して、判定センサ３５が監視するセンサ位置に到達した発光管３は、それが良製品である場合には点灯状態にあり、不良製品である場合には不点状態にある。そのため、判定センサ３５は、センサ位置に搬送されてきた発光管３が点灯状態にあるのか不点状態にあるのかを検出できる。

以上のように本発明に係る蛍光ランプの製造方法は、封切後にエージング点灯回路２２により検査対象の発光管３を点灯させた状態で加熱炉３６に通過させながらエージングをする点灯検査工程１７であって、検査対象の発光管３の表面最低温度が１８０℃を超える温度となるように加熱炉３６で前記発光管を加熱するとともに、前記表面最低温度に応じて定められた所要時間以上検査対象の発光管３を加熱炉３６に滞在させて前記エージングをする前記点灯検査工程１７を備えたことによって、１８０℃を超える温度で放出される不純ガスを原因とする発光管の良否判定を行うことができる。

そして、判定センサ３５の検出情報は搬出機構３４に供給される。搬出機構３４は、搬出位置に搬送されてきた全ての発光管を、発光管受け部材３１から取外した上で、良製品に係る発光管と不良製品に係る発光管とを仕分けして、それぞれの仕分け箇所に受け渡す。

なお、以上のようにして選別された良製品に係る発光管３は、電球型の蛍光ランプ１の組立工程に搬送され、口金２、点灯回路４、及びグローブ５と組み合わされて、電球型の蛍光ランプ１に組立てられる。こうして得た電球型の蛍光ランプ１が備えた発光管３は、既述のように１８０℃を超える温度で放出される不純ガスを原因とする発光管の良否判定の結果、良製品として選別されたものであるので、高品質な電球型の蛍光ランプ１を製造できる。

以上説明した検査において、検査対象の発光管を点灯させるエージング点灯回路２２が有した鉄心安定器２３は、発光管３の点灯安定時にフィラメント電極１１間にかかる電圧（ランプ電圧）を低く制御しているため、不純ガスの放出を原因としてフィラメント電極１１間の放電が止まると、ランプ電流が切れ易い。そのため、検査対象の発光管の不良判定を確実にできる。これに対して電子安定器をエージング点灯回路２２に用いた場合、この電子安定器は、検査対象の発光管のランプ電圧を高く維持する電子回路であるので、不純ガスが放出されても放電を維持する性能があり、したがって、検査対象の発光管の不良判定をするには適していない。

なお、既述のように１８０℃を超える高温度で放出される不純ガスによって検査対象の発光管のＶＬ値が上昇するので、放電が立ち消えする所定のレベルを計測器で検出することにより、当該発光管を消灯させることも可能である。しかし、この場合、計測器及びそれが所定レベルのＶＬ値を検出した直後に、当該発光管への通電を停止させる手段を新たに工夫する必要であり、構成上複雑となる可能性が高い。これに対して、鉄心安定器２３を用いることで、新たな工夫も複雑な構成を採用することなく、発光管のＶＬ値が所定レベルに達することで既述のように発光管を不点状態に維持できる。したがって、図５に示したエージング点灯回路２２を採用することは、発光管が不点状態となる程度の不純ガスの放出を、低コストで検出する上で好ましい。

１…電球型の蛍光ランプ、３…発光管、１０…バルブ、１１…フィラメント電極、１３…封止工程、１４…排気工程、１５…ガス充填工程、１６…封切工程、１７…点灯検査工程、２１…エージング装置、２２…エージング点灯回路、２３…鉄心安定器、３６…加熱炉（加熱手段）

Claims

内面に蛍光体が塗布されたバルブの両端に電極を封止する封止工程と；
封止された前記バルブ内を排気する排気工程と；
排気後に前記バルブ内に希ガスを封入するガス充填工程と；
この充填工程で用いた排気管を閉じて発光管を形成する封切工程と；
封切後に前記発光管を加熱しながらエージング点灯回路によりエージングをする点灯検査工程であって、前記発光管の表面最低温度が１８０℃を超える温度となるように前記発光管を加熱しながら前記表面最低温度に応じて定められた加熱時間の間前記発光管をエージングする前記点灯検査工程と；
を具備したことを特徴とする蛍光ランプの製造方法。
前記エージング点灯回路が鉄心と電線を組み合わせて形成された鉄心安定器を有していて、このエージング点灯回路を用いて前記発光管をエージングすることを特徴とする請求項１に記載の蛍光ランプの製造方法。