JP2010190728A - 光ファイバ特性測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ブリルアン散乱光から得られるブリルアン周波数シフト量と、レイリー散乱光から得られるレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量とに基づいて、光ファイバの温度特性と光ファイバの歪み特性とを分離して測定する。
【選択図】図1
Description
より詳細には、例えば、光ファイバ中におけるブリルアン散乱によって生じる散乱光であるブリルアン散乱光から上記温度分布及び歪み分布を測定する方法(特許文献1参照)や、光ファイバ中におけるレイリー散乱によって生じる散乱光であるレイリー散乱光から上記温度分布及び歪み分布を測定する方法(非特許文献1参照)が提案されている。
したがって、従来のブリルアン散乱光を用いた測定方法及びレイリー散乱光を用いた測定方法は、光ファイバの温度特性と光ファイバの歪み特性とを分離して測定することができないという欠点を有している。
第1の発明は、光ファイバの一端から入射したコヒーレント光の散乱光に基づいて上記光ファイバの特性を測定する光ファイバ特性測定装置であって、ブリルアン散乱光から得られるブリルアン周波数シフト量と、レイリー散乱光から得られるレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量とに基づいて、上記光ファイバの温度特性と上記光ファイバの歪み特性とを分離して測定するという構成を採用する。
第2の発明は、上記第1の発明において、上記ブリルアン周波数シフト量、上記光ファイバの温度の変化量及び上記光ファイバの歪みの変化量をパラメータとする第1関係式と、上記レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量、上記光ファイバの温度の変化量及び上記光ファイバの歪みの変化量をパラメータとする第2関係式とを用いて上記光ファイバの温度特性と上記光ファイバの歪み特性とを分離するという構成を採用する。
第3の発明は、上記第2の発明において、上記ブリルアン周波数シフト量をΔfB、上記レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量をΔfR、上記光ファイバの温度の変化量をΔT、上記光ファイバの歪みの変化量をΔε、係数をa,b,c,dとした場合に、上記第1関係式が式(1)で表され、ΔfB=a・Δε+b・ΔT (1)上記第2関係式が式(2)で表されるΔfR=c・Δε+d・ΔT (2)という構成を採用する。
第4の発明は、上記第1〜第3いずれかの発明において、射出するコヒーレント光の光周波数を変更可能な光源手段と、上記コヒーレント光を測定光と参照光とに分岐する光分岐手段と、上記測定光を上記光ファイバに入射すると共に上記光ファイバからの上記散乱光を上記測定光と別経路で射出する光方向性結合手段と、上記参照光及び上記散乱光を受光して受光信号とする光検出手段と、上記受光信号から上記ブリルアン周波数シフト量、上記レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量を得ると共に上記光ファイバの温度特性と上記光ファイバの歪み特性とを分離して算出する信号処理手段と、上記信号処理手段が上記ブリルアン周波数シフト量を取得する際に上記コヒーレント光の光周波数が固定され、上記信号処理手段が上記レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量を取得する際に上記コヒーレント光の光周波数を変更するように上記光源手段を制御する制御手段と、を備えるという構成を採用する。
したがって、本発明によれば、光ファイバの一端から入射した測定光の散乱光に基づいて光ファイバの特性を測定する光ファイバ特性測定装置において、光ファイバの温度特性と光ファイバの歪み特性とを区別して測定することが可能となる。
図1は、本実施形態の光ファイバ特性測定装置10の構成を示すブロック図である。この図に示すように、本実施形態の光ファイバ特性測定装置10は、光源装置11、第1光カプラ12(光分岐手段)、光変調器13、パルスジェネレータ14、第1偏波制御器15、光アンプ16、第2光カプラ17(光方向性結合手段)、光コネクタ18、センシング用光ファイバ19(光ファイバ)、第2偏波制御器20、第3光カプラ21、光検出器22(光検出手段)、ミキサ23、第1切替スイッチ31、第2切替スイッチ32、高周波発振器24、信号処理部25(信号処理手段)、制御部26、入力装置27及び出力装置28を備えている。
光周波数安定化光源11aは、狭線幅のコヒーレント光L0を安定して射出する光源である。この光周波数安定化光源11aとしては、例えば、1.55μm帯のレーザ光を射出するMQW−DFB(多重量子井戸−分布帰還型)半導体レーザ等をシアン化水素ガスなどの分子の吸収線を利用して光周波数を安定化して用いることができる。
SSB変調器11bは、入力される高周波信号に基づいて光周波数安定化光源11aから入射されるコヒーレント光L0を周波数シフトさせるものである。また、高周波発振器11cは、SSB変調器11bに入力する高周波信号を生成するものである。
なお、高周波発振器11cは、制御部26に電気的に接続されており、制御部26からの指令に基づいて生成する高周波信号の周波数を変更可能とされている。そして、高周波発振器11cにて生成される高周波信号の周波数が変更されることによって、光源装置11から射出されるコヒーレント光L0の周波数が変更される。
パルスジェネレータ14は、光変調器13に入力するパルス信号を生成するものである。
第1偏波制御器15は、光変調器13から射出された測定光L1の偏波状態をランダムに変化させるものである。なお、測定光L1の偏波状態がランダムに変化されることによって、センシング用光ファイバ19からの戻り光である散乱光L3の偏波依存性による測定への影響を除去することができる。
光アンプ16は、光変調器13から射出された測定光L1を増幅させて出力するものである。この光アンプ16としては、例えばEr(エルビウム)ドープファイバを利用した光ファイバ増幅器等を用いることができる。
なお、第1偏波制御器15及び光アンプ16は、必要に応じて設置されるものである。したがって、光変調器13から射出された測定光L1の偏波状態が既にランダムである場合には、第1偏波制御器15を省くことができる。また、光変調器13から射出された測定光L1の強度が十分である場合には、光アンプ16を省くことができる。
なお、第2偏波制御器20は、必要に応じて設置されるものである。したがって、参照光L2と散乱光L3との偏波不整合による測定ノイズが無視できる程度の場合には、第2偏波制御器20を省くことができる。
光検出器22は、合波光L4を受光し、参照光L2と散乱光L3との周波数差分を示す信号を受光信号S1として出力するものである。なお、光検出器22は、コンデンサを備えており、合波光L4を電気変換した際に生じる直流成分を除去する。
このような、第3光カプラ21及び光検出器22によってヘテロダイン光検出回路が構成される。
なお、光検出器22の後には必要に応じて受光信号S1を増幅するアンプが設置される。このようなアンプを設置する場合には、光検出器22にコンデンサを設置せず、アンプにおいて上記直流成分を除去するようにしても良い。
高周波発振器24は、ミキサ23に入力する上記高周波信号を生成して出力するものである。
なお、高周波発振器24は、制御部26に電気的に接続されており、制御部26の指令に基づいて、高周波信号の生成を行う。
また、第2切替スイッチ32と信号処理部25との間に必要に応じてローパスフィルタ及びアンプが設置される。
入力データ記憶部25bは、演算部25eから入力される算出データを記憶するものである。
そして、本実施形態の光ファイバ特性測定装置10において演算データ記憶部25cは、下式(1)で示される第1関係式と、下式(2)で示される第2関係式とが記憶されている。
ΔfB=a・Δε+b・ΔT (1)
ΔfR=c・Δε+d・ΔT (2)
なお、上式(1),(2)において、ブリルアン周波数シフト量がΔfB、レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量がΔfR、センシング用光ファイバ19の温度の変化量がΔT、センシング用光ファイバ19の歪みの変化量がΔε、係数がa,b,c,dとされている。
また、演算データ記憶部25cは、上記係数a,b,c,dも記憶している。また、演算データ記憶部25cは、センシング用光ファイバ19の温度分布(温度特性)及び歪み分布(歪み特性)の初期値を記憶している。さらに、演算データ記憶部25cは、センシング用光ファイバ19が初期状態(温度分布及び歪み分布が上記初期値である状態)において得られるレイリー散乱光の長手方向の強度分布であるレイリー散乱波形を記憶している。
なお、ブリルアン周波数シフト量ΔfB、レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfR、センシング用光ファイバ19の温度の変化量ΔT、センシング用光ファイバ19の歪みの変化量Δε、係数a,b,c,dについては、後に詳説する。
詳細には、演算部25eは、ブリルアン周波数シフト量ΔfB、センシング用光ファイバ19の温度の変化量ΔT及びセンシング用光ファイバ19の歪みの変化量Δεをパラメータとする上記第1関係式(1)と、レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfR、センシング用光ファイバ19の温度の変化量ΔT及びセンシング用光ファイバ19の歪みの変化量Δεをパラメータとする上記第2関係式(2)とを用いて、センシング用光ファイバ19の温度の変化量ΔT及びセンシング用光ファイバ19の歪みの変化量Δεを算出し、算出した温度の変化量ΔT及び歪みの変化量Δεを用いてセンシング用光ファイバ19の温度分布と歪み分布とを分離して算出する。
出力装置28は、信号処理部25にて算出したセンシング用光ファイバ19の温度分布及び歪み分布を視覚化して表示するものである。
つまり、信号処理部25及び制御部26は、コンピュータが備える記憶装置(例えばRAM、ROM、ハードディスクドライブ等)とCPUとによって具現化される。また、入力装置27は、コンピュータが備えるキーボードやマウス等によって具現化される。また、出力装置28は、コンピュータが備えるディスプレイ等によって具現化される。
ただし、上記構成に限られるものではなく、例えば、入力装置27がネットワークとの通信装置、また出力装置28がプリンタによって具現化されても良い。
なお、ブリルアン散乱光は、センシング用光ファイバ19からの戻り光である散乱光L3に含まれている。そして、光検出器22から出力される受光信号S1の周波数がブリルアン散乱光の周波数を示している。したがって、当該受光信号S1の周波数からブリルアン散乱光の周波数を算出してブリルアン周波数として入力データ記憶部25bに一旦記憶させ、演算データ記憶部25cに記憶されている初期状態(ΔT=Δε=0)でのブリルアン周波数との差分を計算することによってブリルアン周波数シフト量ΔfBを算出することができる。
レイリー散乱波形は、センシング用光ファイバ19が設置された環境の特性(温度分布及び歪み分布)が変化するに伴って変化する。ただし、コヒーレント光L0(すなわち測定光L1)の周波数を適切に変更することによって、環境変化後のレイリー散乱波形を環境変化前と一致させることができる。そして、この際変化させたコヒーレント光L0の周波数の変化量がレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRとされる。
なお、レイリー散乱光は、センシング用光ファイバ19からの戻り光である散乱光L3に含まれている。そして、光検出器22から出力される受光信号S1の強度がレイリー散乱光の強度を示している。そして、センシング用光ファイバ19に沿ったレイリー散乱光の強度を入力データ記憶部25bに記憶させることによってレイリー散乱光の長手方向の強度分布であるレイリー散乱波形を得ることができる。続いて、予め演算データ記憶部25cに記憶された初期状態におけるレイリー散乱波形と一致するように、制御部26によって光源装置11を制御することによってコヒーレント光L0を変化させ、この際の変化量をレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRとすることができる。
センシング用光ファイバ19の歪みの変化量Δεは、演算データ記憶部25cに記憶されたセンシング用光ファイバ19の歪み分布の初期値との差である。
詳細には、係数aは、センシング用光ファイバ19の歪み分布が変化しないように、かつ意図的に既知の値に温度分布を変化させて取得されたブリルアン周波数シフト量ΔfBを用いて算出する。つまり、第1関係式(1)の右辺第2項を固定値とし、ブリルアン周波数シフト量ΔfBと既知の温度の変化量ΔTとから係数aが算出できる。
係数bは、センシング用光ファイバ19の温度分布が変化しないように、かつ意図的に既知の値に歪み分布を変化させて取得されたブリルアン周波数シフト量ΔfBを用いて算出する。つまり、第1関係式(1)の右辺第1項を固定値とし、ブリルアン周波数シフト量ΔfBと既知の歪みの変化量Δεとから係数bが算出できる。
係数cは、センシング用光ファイバ19の歪み分布が変化しないように、かつ意図的に既知の値に温度分布を変化させて取得されたレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRを用いて算出する。つまり、第2関係式(2)の右辺第2項を固定値とし、レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRと既知の温度の変化量ΔTとから係数cが算出できる。
係数dは、センシング用光ファイバ19の温度分布が変化しないように、かつ意図的に既知の値に歪み分布を変化させて取得されたレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRを用いて算出する。つまり、第2関係式(2)の右辺第1項を固定値とし、レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRと既知の歪みの変化量Δεとから係数dが算出できる。
具体的には、制御部26は、光源装置11の高周波発振器11cによって生成される高周波信号の周波数を一定に制御することによって、光周波数が固定されたコヒーレント光L0を光源装置11に射出させる。また、制御部26は、ミキサ23に入力する高周波信号を高周波発振器24によって生成させる。また、制御部26は、第1切替スイッチ31及び第2切替スイッチ32によって受光信号S1がミキサ23を通過して信号処理部25に到達する接続環境を形成する。
測定光L1は、光変調器13においてパルスジェネレータ14で生成されたパルス信号に基づいてパルス化され、第1偏波制御器15にて偏波状態がランダム化された後に、光アンプ16で増幅され、その後第2光カプラ17及び光コネクタ18を介してセンシング用光ファイバ19の一端に入射される。
一方参照光L2は、第2偏波制御器20にて偏波状態がランダム化された後に、第3光カプラ21に入射する。
散乱光L3は、第3光カプラ21に入射する。そして、第3光カプラ21において参照光L2と散乱光L3とが合波されて、その結果生成される合波光L4が第3光カプラ21から射出される。
そして、合波光L4は、光検出器22において受光信号S1に変換される。
そして、信号処理部25に入力された受光信号S1は、制御部26の制御の下、A/Dコンバータ25aによってデジタル信号に変換され、演算部25eに入力される。
演算部25eは、制御部26の制御の下、受光信号S1の周波数からブリルアン散乱光の周波数を算出する。そして、この算出されたブリルアン散乱光の周波数は入力データ記憶部25bに記憶される。
なお、センシング用光ファイバ19は、信号処理部25において、全長方向に亘って複数の領域に分割されて記憶されている。そして、領域ごとにブリルアン周波数シフト量ΔfBが算出されて入力データ記憶部25bに記憶される。
具体的には、制御部26は、光源装置11の高周波発振器11cによって生成される高周波信号の周波数を一定に制御することによって、光周波数が固定されたコヒーレント光L0を光源装置11に射出させる。また、制御部26は、高周波発振器24における高周波信号の生成を停止する。また、制御部26は、第1切替スイッチ31及び第2切替スイッチ32によって受光信号S1がミキサ23を通過せずに信号処理部25に到達する接続環境を形成する。
測定光L1は、光変調器13においてパルスジェネレータ14で生成されたパルス信号に基づいてパルス化され、第1偏波制御器15にて偏波状態がランダム化された後に、光アンプ16で増幅され、その後第2光カプラ17及び光コネクタ18を介してセンシング用光ファイバ19の一端に入射される。
一方参照光L2は、第2偏波制御器20にて偏波状態がランダム化された後に、第3光カプラ21に入射する。
散乱光L3は、第3光カプラ21に入射する。そして、第3光カプラ21において参照光L2と散乱光L3とが合波されて、その結果生成される合波光L4が第3光カプラ21から射出される。
そして、合波光L4は、光検出器22において受光信号S1に変換される。
演算部25eは、制御部26の制御の下、受光信号S1からレイリー散乱波形を算出する。この算出されたレイリー散乱波形は入力データ記憶部25bに記憶される。そして、レイリー散乱波形がセンシング用光ファイバ19の全長に亘って算出されて記憶される。
続いて、演算部25eは、制御部26の制御の下、演算データ記憶部25cに記憶された初期状態におけるレイリー散乱波形と比較して、算出して得られたレイリー散乱波形が異なる領域を抽出する。
その後、制御部26は、光源装置11を制御することによって、抽出した領域のスペクトルが初期状態の波形に一致するように、コヒーレント光L0の周波数を変更する。より詳細には、制御部26は、抽出した領域の波形と当該領域の初期状態の波形との相関をとり、相関値が最も強くなるコヒーレント光L0の周波数を決定する。そして、制御部26は、このコヒーレント光L0の周波数の変化量をレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRとして入力データ記憶部25bに記憶する。
なお、全長に亘って複数の領域に分割されたセンシング用光ファイバ19の領域ごとにレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRが算出されて入力データ記憶部25bに記憶される。
具体的には、制御部26の制御の下、演算部25eが、入力データ記憶部25bに記憶されたブリルアン周波数シフト量ΔfB及びレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRを、演算データ記憶部25cに記憶された第1関係式(1)及び第2関係式(2)に代入し、温度変化量ΔT及び歪み変化量Δεについて解くことによって、センシング用光ファイバ19の温度変化量ΔT及びセンシング用光ファイバ19の歪み変化量Δεを算出する。
なお、全長に亘って複数の領域に分割されたセンシング用光ファイバ19の領域ごとに温度変化量ΔT及び歪み変化量Δεが算出され、算出された温度変化量ΔT及び歪み変化量Δεは、各領域に対応付けられて入力データ記憶部25bに一旦記憶される。
具体的には、制御部26の制御の下、演算部25eが、ステップS3にて算出された温度変化量ΔTと歪み変化量Δεとを、演算データ記憶部25cに予め記憶されたセンシング用光ファイバ19の温度分布の初期値及びセンシング用光ファイバ19の歪み分布初期値に加えることによって、新たなセンシング用光ファイバ19の温度分布及びセンシング用光ファイバ19の歪み分布を分離して算出する。
そして、算出されたセンシング用光ファイバ19の温度分布及びセンシング用光ファイバ19の歪み分布は、算出データとして演算部25eから出力され、制御部26を介して出力装置28に入力されることで視覚化されて表示される。
つまり、本実施形態の光ファイバ特性測定装置10によれば、ブリルアン散乱光から得られるブリルアン周波数シフト量ΔfBと、レイリー散乱光から得られるレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRとの両方を取得する。
そして、これらのブリルアン周波数シフト量ΔfB及びレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRの両方を用いることによって、上述のようにセンシング用光ファイバ19の温度分布と歪み分布とを独立して算出することが可能となる。
したがって、本実施形態の光ファイバ特性測定装置10によれば、温度分布と歪み分布とを区別して測定することが可能となる。
一方、本実施形態の光ファイバ特性測定装置10は、レイリー散乱光から得られるレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRのみから光ファイバの特性を測定する方法(例えば非特許文献1)を採用する従来の装置と比較して、ハードウェア構成としては、ミキサ23及び高周波発振器24のみを設置することで実現することができる。
そして、本実施形態の光ファイバ特性測定装置10においては、ブリルアン周波数シフト量ΔfBを取得するための構成と、レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRを取得するための構成との多くが共通化されて兼用とされている(例えば、第1光カプラ12、光変調器13、パルスジェネレータ14、第1偏波制御器15、光アンプ16、第2光カプラ17、光コネクタ18、センシング用光ファイバ19、第2偏波制御器20、第3光カプラ21、光検出器22、信号処理部25、制御部26、入力装置27及び出力装置28が共通化されている)ため、本実施形態の光ファイバ特性測定装置10を従来の装置とほぼ同じ大きさとすることができ装置の大型化を抑制することができる。
しかしながら、本発明はこれに限定されるものではなく、図4に示すように、光源装置11が、高精度にコヒーレント光L0の光周波数を変化させることができる光周波数可変光源によって構成されていても良い。
また、図5に示すように、ミキサ23及び高周波発振器24に換えて参照光L2を高周波信号に基づいて周波数シフトさせるSSB変調器29及び該SSB変調器29に入力する高周波信号を生成する高周波発振器30を備える構成を採用することもできる。
さらに図6に示すように、光源装置11を上記光周波数可変光源によって構成すると共に、ミキサ23及び高周波発振器24に換えてSSB変調器29及び高周波発振器30を備える構成を採用することもできる。
また、図5及び図6では、SSB変調器29及び高周波発振器30は、参照光L2を周波数シフトさせるために第1光カプラ12と第3光カプラ21の間に設置されているが、測定光L1を周波数シフトさせるように光変調器13と第2光カプラ17の間に設置しても良い。この時、SSB変調器29のかわりに両側波帯の信号を発生する光強度変調器を採用しても良い。
しかしながら、本発明はこれに限定されるものではなく、ブリルアン周波数シフト量ΔfBを取得するための構成と、レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfRを取得するための構成とを別体で設ける構成を採用することもできる。
しかしながら、本発明はこれに限定されるものではなく、第1関係式としてブリルアン周波数シフト量ΔfB、センシング用光ファイバ19の温度の変化量ΔT、センシング用光ファイバ19の歪みの変化量Δεをパラメータとして備える関係式を用い、第2関係式としてレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量ΔfR、温度の変化量ΔT、歪みの変化量Δε、をパラメータとして備える関係式を用いることによって、温度の変化量ΔT及び歪みの変化量Δεを分離して算出することができる。
しかしながら、本発明はこれに限定されるものではなく、センシング用光ファイバ19を備えない構成を採用することもできる。
このような構成を採用する場合には、予め設置されたセンシング用光ファイバに対して本発明の光ファイバ特性測定装置を接続し、この接続されたセンシング用光ファイバの特性を測定し、さらにはセンシング用光ファイバの設置された環境の特性を測定することとなる。
Claims (4)
- 光ファイバの一端から入射したコヒーレント光の散乱光に基づいて前記光ファイバの特性を測定する光ファイバ特性測定装置であって、
ブリルアン散乱光から得られるブリルアン周波数シフト量と、レイリー散乱光から得られるレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量とに基づいて、前記光ファイバの温度特性と前記光ファイバの歪み特性とを分離して測定することを特徴とする光ファイバ特性測定装置。 - 前記ブリルアン周波数シフト量、前記光ファイバの温度の変化量及び前記光ファイバの歪みの変化量をパラメータとする第1関係式と、前記レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量、前記光ファイバの温度の変化量及び前記光ファイバの歪みの変化量をパラメータとする第2関係式とを用いて前記光ファイバの温度特性と前記光ファイバの歪み特性とを分離することを特徴とする請求項1記載の光ファイバ特性測定装置。
- 前記ブリルアン周波数シフト量をΔfB、前記レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量をΔfR、前記光ファイバの温度の変化量をΔT、前記光ファイバの歪みの変化量をΔε、係数をa,b,c,dとした場合に、前記第1関係式が下式(1)で表され、
ΔfB=a・Δε+b・ΔT (1)
前記第2関係式が下式(2)で表される
ΔfR=c・Δε+d・ΔT (2)
ことを特徴とする請求項2記載の光ファイバ特性測定装置。 - 射出するコヒーレント光の光周波数を変更可能な光源手段と、
前記コヒーレント光を測定光と参照光とに分岐する光分岐手段と、
前記測定光を前記光ファイバに入射すると共に前記光ファイバからの前記散乱光を前記測定光と別経路で射出する光方向性結合手段と、
前記参照光及び前記散乱光を受光して受光信号とする光検出手段と、
前記受光信号から前記ブリルアン周波数シフト量、前記レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量を得ると共に前記光ファイバの温度特性と前記光ファイバの歪み特性とを分離して算出する信号処理手段と、
前記信号処理手段が前記ブリルアン周波数シフト量を取得する際に前記コヒーレント光の光周波数が固定され、前記信号処理手段が前記レイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量を取得する際に前記コヒーレント光の光周波数を変更するように前記光源手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする請求項1〜3いずれかに記載の光ファイバ特性測定装置。
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