JP2010153718A - Method of mounting electronic component - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、複数の電子部品を隣接して基板に搭載する電子部品搭載方法に関するものである。 The present invention relates to an electronic component mounting method for mounting a plurality of electronic components adjacent to each other on a substrate.
吸着によりノズルに保持した電子部品を基板に搭載する場合、ノズル内をブローすることで電子部品の離脱を円滑にする真空破壊が行われている。ブローされたエアは、近隣に既に搭載されている電子部品と干渉することがあるため、電子部品が吹き飛ばされたり、搭載位置の位置ずれを引き起こされたりすることがないようにブローの強さが設定される。しかし、ノズルが電子部品の中心からずれた位置を吸着している場合には、ずれた方向にある電子部品との距離が縮まり、ブローされたエアが搭載状態に悪影響を与えることがある。そこで、従来、ノズルが電子部品の中心から大きくずれた位置を吸着している場合には、電子部品の搭載を中断し、吸着した電子部品を破棄するというものが提案されている(特許文献1参照)。
しかし、ブローをしないことで近隣の電子部品に対する悪影響を回避することはできるが、一旦は吸着した電子部品を破棄し、新たな電子部品を吸着した後に搭載し直すことになるため、破棄による無駄なコストが発生するとともに生産効率も低下するという問題がある。 However, it is possible to avoid the adverse effects on nearby electronic parts by not blowing, but because the discarded electronic parts are discarded once and new electronic parts are picked up, they are re-mounted, which is a waste of disposal. There is a problem that production costs are reduced as well as cost is increased.
本発明は、既に搭載された電子部品にブローによる影響を及ぼすことなく電子部品を搭載することができる電子部品搭載方法を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide an electronic component mounting method capable of mounting an electronic component without affecting the already mounted electronic component by blowing.
請求項1に記載の電子部品搭載方法は、電子部品を吸着しているノズルを基板に向けて下降させる工程と、ノズルの下降中にノズルの内部を所定のブロー圧でブローする工程と、ブローにより正圧側に移行中のノズルの内圧が負圧のときに電子部品を基板に接触させる工程と、電子部品を所定の時間基板に押し付けた状態でノズルの内部のブローを継続する工程と、ブローを継続しながらノズルを上昇させる工程を含む第1の電子部品搭載方法と、電子部品を吸着しているノズルを基板に向けて下降させる工程と、ノズルの下降中にノズルの内部を前記所定のブロー圧より低いブロー圧でブローする工程と、ブローにより正圧側に移行中のノズルの内圧が負圧のときに電子部品を基板に接触させる工程と、電子部品を前記所定の時間より長い時間基板に押し付けた状態でノズルの内部のブローを継続する工程と、ブローを継続しながらノズルを上昇 させる工程を含む第2の電子部品搭載方法を併用する。 The electronic component mounting method according to claim 1 includes a step of lowering a nozzle adsorbing the electronic component toward the substrate, a step of blowing the inside of the nozzle with a predetermined blow pressure while the nozzle is descending, The step of bringing the electronic component into contact with the substrate when the internal pressure of the nozzle being transferred to the positive pressure side is negative, the step of continuing to blow inside the nozzle while the electronic component is pressed against the substrate for a predetermined time, A first electronic component mounting method including a step of raising the nozzle while continuing, a step of lowering the nozzle adsorbing the electronic component toward the substrate, and the inside of the nozzle during the lowering of the nozzle A step of blowing at a blow pressure lower than the blow pressure, a step of bringing the electronic component into contact with the substrate when the internal pressure of the nozzle being shifted to the positive pressure side by the blow is negative, and the electronic component being longer than the predetermined time Together comprising the steps of continuing the blowing of the interior of the nozzle pressed against between the substrate, the second electronic component mounting method comprising the step of raising the nozzle while continuing blow.
請求項2に記載の電子部品搭載方法は請求項1に記載の電子部品搭載方法であって、電子部品の搭載予定箇所に隣接して他の電子部品が既に搭載されている場合には、前記第2の電子部品搭載方法を用いる。
The electronic component mounting method according to
請求項3に記載の電子部品搭載方法は請求項1に記載の電子部品搭載方法であって、電子部品を吸着しているノズルの位置と電子部品の中心との位置ずれ量に基づいて、前記第1の電子部品搭載方法もしくは前記第2の電子部品搭載方法の何れの方法を用いるかを決定する。
The electronic component mounting method according to
請求項4に記載の電子部品搭載方法は請求項1に記載の電子部品搭載方法であって、電子部品の搭載予定箇所に隣接して既に搭載されている他の電子部品を基板と接合する半田の印刷状態に基づいて、前記第1の電子部品搭載方法もしくは前記第2の電子部品搭載方法の何れの方法を用いるかを決定する。 The electronic component mounting method according to claim 4 is the electronic component mounting method according to claim 1, wherein solder for joining another electronic component already mounted adjacent to a planned mounting position of the electronic component to the substrate is provided. Whether to use the first electronic component mounting method or the second electronic component mounting method is determined based on the printing state.
電子部品を基板に搭載するときのブロー圧を低下させることで、隣接する電子部品に影響を与えないように搭載動作を継続することができる。ブロー圧が低下した分だけノズルの内圧が正圧側に移行するまでの時間が長くなるが、ブロー圧を低下させない場合に電子部品を基板に押し付ける時間より長い時間押し付けることで、電子部品の搭載品質を確保することができる。 By reducing the blow pressure when the electronic component is mounted on the substrate, the mounting operation can be continued so as not to affect the adjacent electronic component. The time until the internal pressure of the nozzle shifts to the positive pressure side becomes longer as much as the blow pressure decreases, but if the blow pressure is not reduced, the electronic component mounting quality can be increased by pressing the electronic component against the board for a longer time. Can be secured.
添付した図面を参照しながら本発明の実施の形態について説明する。図1は電子部品の搭載機構の構成を示す図、図2はノズルの移動と吸着バルブおよびブローバルブの開閉状態の関係を示すタイミングチャート、図3は電子部品の搭載動作を示すフローチャートである。 Embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an electronic component mounting mechanism, FIG. 2 is a timing chart showing the relationship between the movement of a nozzle and the open / closed state of an adsorption valve and a blow valve, and FIG. 3 is a flowchart showing an electronic component mounting operation.
最初に、図1を参照しながら電子部品の搭載動作に関わる機構について説明する。搭載ヘッド1は、複数のノズル2を鉛直方向に移動可能に備え、所定の位置に水平姿勢で固定された基板3に対して水平方向に移動自在である。各ノズル2は、それぞれ吸着バルブ4を介して真空ポンプ5と接続されており、またブローバルブ6を介してエア源7を接続されている。ブローバルブ6を閉じ、吸着バルブ4を開いた状態においてノズル2の内部は吸気されて負圧となり、ノズル2に電子部品8を吸着して保持することが可能になる(図中左側の初期位置にある3本のノズル)。これに対し、吸着バルブ4を閉じ、ブローバルブ6を開くと、ブリーエアによりノズル2の内圧が負圧から正圧側に移行し、ノズル2に吸着していた電子部品8を強制的に離脱することが可能になる。右側の搭載位置にあるノズル2は、内部が負圧から正圧に移行したいわゆる真空破壊の状態にあり、これにより、電子部品8をノズル2から円滑に離脱して基板3に受け渡すことができる。ノズル2の内部をブローするブロー圧はレギュレータ9の弁の開度により任意に調整することができる。制御部10は、レギュレータ9の開度の調整、吸気バルブ4およびブローバルブ6の開閉のタイミングの調整、ノズル2の移動に関する制御を行う。
First, a mechanism related to an electronic component mounting operation will be described with reference to FIG. The mounting head 1 is provided with a plurality of
次に、図2に示すタイミングチャートを参照しながら、ノズルの移動と吸着バルブおよびブローバルブの開閉状態の関係について説明する。タイミングチャートの上段のグラフは、ノズルの位置を表している。下段のグラフは、吸気バルブ4とブローバルブ6の開閉状態を表している。中段のグラフは、吸気バルブ4とブローバルブ6の開閉状態を変化させた結果として起るノズル2の内圧の変化を表している。
Next, the relationship between the movement of the nozzle and the open / closed state of the suction valve and the blow valve will be described with reference to the timing chart shown in FIG. The upper graph in the timing chart represents the position of the nozzle. The lower graph represents the open / close state of the intake valve 4 and the blow valve 6. The middle graph shows the change in the internal pressure of the
電子部品8を基板3に搭載する工程において、ノズル2は、吸着している電子部品8を基板3に搭載するために搭載位置に向けて移動(下降)を開始し(時間T1)、そのまま一定速度で移動を続け、所定時間を経過した後に搭載位置に到達する(時間T3)。ノズル2の移動の途中で、それまで開いていた吸気バルブ4は閉じられ、閉じていたブローバルブ6が開かれる(時間T2)。これにより即時にノズル2の内圧が負圧から正圧に移行することはなく、負圧を維持した状態で徐々に正圧側に移行し、ノズル2が搭載位置に到達した後に正圧に転じる(時間T4)。ノズル2が搭載位置に到達した時点(時間T3)ではノズル2の内圧は負圧であるので、電子部品8はノズル2から落下することなく基板3に接触する。
In the process of mounting the
ノズル2は、電子部品8を基板3に押し付けるために所定の時間だけ搭載位置に滞留した後に初期位置に向けて移動(上昇)を開始し(時間T5)、所定時間を経過した後に初期位置に到達する(時間T7)。ノズル2の移動の途中で、それまで開いていたブローバルブ6が閉じられる(時間T6)。ノズル2が電子部品8から離脱する時点(時間T5)ではブローバルブ6は開いた状態にあり、基板3に搭載された電子部品8はブロー圧で基板3側に押し付けられるので、移動するノズル2に伴って持ち帰られることはない。このブロー圧は、レギュレータ9の開度の調整によって加減することができる。
The
微小な電子部品8を稠密に搭載する場合には、近隣に既に搭載されている電子部品に対してブロー圧の影響が及び易くなり、軽量な電子部品を吹き飛ばしたり、吹き飛ばすまでは至らずとも搭載位置をずらしたりするなどの不具合が生じることがあるので、そのような場合にはレギュレータ9の開度を狭め、ブロー圧を低下させた状態で電子部品の搭載を行うことになる。図2中の二点破線で示したグラフがブロー圧を低下させた場合のタイミングチャートであり、ブロー圧が低下すると、同じタイミング(時間T2)でバルブ4、5を切り替えた場合であっても、通常のブロー圧の場合に正圧に移行する時間T4より後の時間T41で正圧に移行するので、ノズル2が電子部品8基板3側に押し付けるために所定時間だけ搭載位置に滞留した後に初期位置に向けて移動(上昇)を開始するタイミング(時間T51)も通常のブロー圧の場合のタイミング(時間T5)より後ろにずれ込む。ノズル2は、初期位置に向けて移動(上昇)を開始(時間T51)してから所定時間を経過した後に初期位置に到達する(時間T71)。ノズル2の移動の途中の時間T61でブローバルブ6が閉じられる。
When minute
このように、ブロー圧を低下させると、ノズル2をより長時間搭載位置に滞留させ、電子部品8を基板3に押し付けておく必要があり、また、ブローバルブ6もより長時間開いておく必要がある。そのため、電子部品8を搭載し終えたノズル2が初期位置に復帰するタイミングも後ろにずれ込むことになるが、一点鎖線で示したようにノズル2の移動速度を速めることで、通常のブロー圧の場合と同じタイミング(時間T7)で初期位置に復帰させることができる。
Thus, when the blow pressure is lowered, the
次に、図3のフローチャートに示す電子部品の搭載方法について説明する。この搭載方法は、電子部品の吸着位置や近隣に搭載されている電子部品の半田状態を考慮してブロー圧とノズルが搭載位置に滞留する時間を変更するようになっている。ノズル2が電子部品8を吸着すると(ST1)、電子部品8の吸着位置を確認し(ST2)、適正な位置(電子部品8の中心)で吸着していれば、ブロー圧および搭載位置での滞留時間を変更することなく電子部品8を基板3に実装する(ST3)。電子部品8の吸着位置の適否は、ノズル2の中心に対する電子部品8の中心の距離を測定することで判定し、この距離が予め定めた閾値以内であれば適正と判定する。ノズル2が電子部品8の中心からずれた位置を吸着しているほど、電子部品8の搭載時にノズル2と近隣の電子部品(ノズル2がずれた方向に搭載されている電子部品)との距離が近接し、ブローの影響が顕著になることから、閾値は、ブローが近隣の電子部品の搭載状態に影響を与えることがあるか否かを基準として定められる。
Next, an electronic component mounting method shown in the flowchart of FIG. 3 will be described. In this mounting method, the blow pressure and the time during which the nozzle stays at the mounting position are changed in consideration of the suction position of the electronic component and the solder state of the electronic component mounted in the vicinity. When the
電子部品8の吸着位置が適正でない場合、電子部品8の搭載予定箇所に隣接する電子部品が搭載されているかどうかを確認し(ST4)、隣接する電子部品が存在しなければ、ブロー圧を低下させる必要がないので、ブロー圧および搭載位置での滞留時間を変更することなく電子部品8を基板3に実装する(ST3)。これに対し、隣接する電子部品が存在する場合、隣接する電子部品の半田状態を確認する(ST5)。半田状態は半田の量や位置を基準にその適否を判定する。半田の量や位置情報は基板3に半田を印刷したときに行う検査によりデータとして取得されているので、このデータを確認することで半田状態の適否を判定する(ST6)。適量の半田が所定の位置に正確に印刷されていれば、半田
状態が適正であると判定する。
If the suction position of the
半田状態が適正であれば、電子部品はブローの影響を受けにくいので、ブロー圧および搭載位置での滞留時間を変更することなく電子部品8を基板3に実装する(ST3)。しかし、半田状態が適正でない場合、電子部品はブローの影響を受けやすく、吹き飛ばされたり位置ずれを起こしたりする可能性が高い。従って、半田状態が適正でない場合にはブロー圧を変更し(ST7)、隣接する電子部品に影響を与えない程度にまで低下させる。これに伴い、ノズル2が搭載位置に滞留する時間も変更し(ST8)、より長い時間滞留するようにすることで、ノズル2の内圧が正圧に移行してから所定時間電子部品8を基板3に対して押し付けることができるようにしている。
If the solder state is appropriate, the electronic component is not easily affected by the blow, and the
このように、ブローが隣接する電子部品に影響を及ぼす可能性がある場合であっても、影響を与えない程度にブロー圧を調整することで、一度吸着した電子部品を破棄したり、吸着をやり直したりすることなく電子部品の搭載動作を継続することができる。 In this way, even if blow may affect adjacent electronic components, by adjusting the blow pressure to such an extent that it does not affect the electronic components once adsorbed, The electronic component mounting operation can be continued without redoing.
本発明は電子部品を特に狭隣接で実装する分野において有用である。 The present invention is useful particularly in the field of mounting electronic components in a narrow neighborhood.
2 ノズル
3 基板
8 電子部品
2
Claims (4)
電子部品を吸着しているノズルを基板に向けて下降させる工程と、ノズルの下降中にノズルの内部を前記所定のブロー圧より低いブロー圧でブローする工程と、ブローにより正圧側に移行中のノズルの内圧が負圧のときに電子部品を基板に接触させる工程と、電子部品を前記所定の時間より長い時間基板に押し付けた状態でノズルの内部のブローを継続する工程と、ブローを継続しながらノズルを上昇 させる工程を含む第2の電子部品搭載方法を併用することを特徴とする電子部品搭載方法。 The step of lowering the nozzle that adsorbs the electronic component toward the substrate, the step of blowing the inside of the nozzle with a predetermined blow pressure while the nozzle is lowered, and the internal pressure of the nozzle that is moving to the positive pressure side by the blow is negative. A step of bringing the electronic component into contact with the substrate at the time of pressure, a step of continuing to blow inside the nozzle while the electronic component is pressed against the substrate for a predetermined time, and a step of raising the nozzle while continuing the blowing. 1 electronic component mounting method;
A step of lowering the nozzle that adsorbs the electronic component toward the substrate, a step of blowing the inside of the nozzle at a blow pressure lower than the predetermined blow pressure while the nozzle is being lowered, and a transition to the positive pressure side by the blow The step of bringing the electronic component into contact with the substrate when the internal pressure of the nozzle is negative, the step of continuing to blow inside the nozzle while pressing the electronic component against the substrate for a time longer than the predetermined time, and continuing the blowing An electronic component mounting method characterized by using a second electronic component mounting method including a step of raising the nozzle while moving.
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