JP2010152397A5 - - Google Patents

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  1. 可視領域にスペクトルを有する第1のレーザ光を試料上で走査して前記試料を励起して蛍光を発生させる第1の走査光学系と、
    前記第1の走査光学系内の光路中に配されて前記試料からの蛍光を前記第1のレーザ光の光路から分離する第1ダイクロイックミラーと、
    第1ダイクロイックミラーで分離された蛍光を検出する光検出器と、
    第1ダイクロイックミラーと光検出器との間に配置され前記第1のレーザ光を遮断し前記蛍光を透過する測光フィルタと、
    紫外または赤外領域にスペクトルを有する第2のレーザ光を試料上の特定の部位に導入するための第2の走査光学系と、
    第1ダイクロイックミラーと光検出器との間に配置され前記第2のレーザ光の透過を制限する吸収フィルタと、
    を備えたことを特徴とする走査型レーザ顕微鏡。
  2. 可視領域にスペクトルを有する第1のレーザ光を試料上で走査して前記試料を励起して蛍光を発生させる第1の走査光学系と、
    前記第1の走査光学系内の光路中に配されて前記試料からの蛍光を前記第1のレーザ光の光路から分離する第1ダイクロイックミラーと、
    第1ダイクロイックミラーで分離された蛍光を検出する光検出器と、
    第1ダイクロイックミラーと光検出器との間に配置され前記第1のレーザ光を遮断し前記蛍光を透過する測光フィルタと、
    試料に特異現象を発現させるための第2のレーザ光を試料上の特定の部位に導入するための第2の走査光学系と、
    第1ダイクロイックミラーと光検出器との間に配置され前記第2のレーザ光の透過を制限する吸収フィルタと、
    を備えたことを特徴とする走査型レーザ顕微鏡。
  3. 前記特異現象は、少なくともケージド試薬の開裂、光褪色のいずれかを含むことを特徴とする請求項2に記載の走査型レーザ顕微鏡。
  4. 前記光検出器と前記測光フィルタが複数設けられ、
    これらの光検出器に向けて試料からの蛍光を分光する第2ダイクロイックミラーを前記第1ダイクロイックミラーと光検出器との間に備え、
    前記吸収フィルタは、前記第1ダイクロイックミラーと前記第2ダイクロイックミラーとの間に配置され、
    前記測光フィルタは、それぞれの光検出器と前記第2ダイクロイックミラーとの間に配置されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の走査型レーザ顕微鏡。
  5. 前記第2のレーザ光の波長を切り換える波長切り換え部と、
    この第2のレーザ光の波長に応じて前記吸収フィルタを切り換えるフィルタ切り換え部とを備えることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の走査型レーザ顕微鏡。
  6. 前記測光フィルタは基板の一方の面に配置され、前記吸収フィルタは前記基板の他方の面に配置されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の走査型レーザ顕微鏡。
  7. 前記第の2レーザ光は多光子励起現象を引き起こすことができるIRパルスレーザであることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の走査型レーザ顕微鏡。
  8. 前記第2の走査光学系は、前記第1の走査光学系を備えた走査型レーザ顕微鏡本体に対して着脱可能であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の走査型レーザ顕微鏡。
  9. 前記測光フィルタは、前記第1のレーザ光の透過率が0.01%以下であり、前記吸収フィルタは、前記第2のレーザ光の透過率が0.01%以下であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の走査型レーザ顕微鏡。
  10. 前記測光フィルタ及び吸収フィルタは、干渉フィルタであることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の走査型レーザ顕微鏡。
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