JP2010139419A - 形状測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】形状測定装置1は、投影パターン13の像を、対物レンズ17の焦点面に結像して検査対象物Sに照射する照明光学系2と、検査対象物Sの像を結像する撮像光学系3と、検査対象物Sの像を検出して画像信号を出力する撮像素子21と、検査対象物S又は対物レンズ17を相対的に移動させて、撮像素子21により、合焦状態の異なる複数の像の画像データを取得して検査対象物Sの形状を得る制御部20と、を有し、対物レンズ17の焦点面に形成された投影パターン13の像のピッチ及び対物レンズ17の開口数が、撮像光学系3により、検査対象物Sから出射する回折光のうち、少なくとも3次の回折光までを取り込むことができるように設定する。
【選択図】図1
Description
17 対物レンズ 18 結像レンズ 20 制御部 21 撮像素子
Claims (4)
- 対物レンズを有し、光を透過する領域及び遮断する領域の繰り返しパターンが形成された投影パターンの像を、前記対物レンズを介して当該対物レンズの焦点面に結像して検査対象物に照射する照明光学系と、
前記対物レンズと結像レンズとを有し、前記検査対象物で反射若しくは散乱した光により、前記検査対象物の像を結像する撮像光学系と、
前記撮像光学系により結像された前記検査対象物の像を検出して画像信号を出力する撮像素子と、
前記検査対象物又は前記対物レンズを、前記対物レンズの光軸方向に相対的に移動させて、前記撮像素子により、合焦状態の異なる複数の前記像の画像データを取得して前記検査対象物の形状を得る制御部と、を有し、
前記対物レンズの焦点面に形成された前記投影パターンの像における前記繰り返しパターンのピッチ及び前記対物レンズの開口数を、前記撮像光学系により、前記検査対象物から出射する回折光のうち、少なくとも3次の回折光までを取り込むことができるように設定した形状測定装置。 - 前記投影パターンの像における前記繰り返しパターンのピッチ及び前記対物レンズの開口数を、前記撮像光学系により、前記検査対象物から出射する前記回折光のうち、多くとも21次の回折光までを取り込むことができるように設定した請求項1に記載の形状測定装置。
- 前記制御部は、前記画像信号のうち、前記投影パターンの像における前記繰り返しパターンのピッチの3次高調波から21高調波までを抽出するフィルタを有し、前記フィルタを通過した前記画像信号による前記画像データを取得して前記検査対象物の形状を得るように構成された請求項1に記載の形状測定装置。
- 前記検査対象物が平面であって、且つ、前記対物レンズの焦点面に配置されているときに、前記撮像素子により検出される前記検査対象物の像における前記投影パターンの前記繰り返しパターンのピッチが、少なくとも前記撮像素子の画素サイズの4倍以上である請求項1〜3いずれか一項に記載の形状測定装置。
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2008
- 2008-12-12 JP JP2008316980A patent/JP2010139419A/ja active Pending
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