JP2010127680A - 放射線画像検出センサユニット - Google Patents
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Abstract
【課題】筐体を大型化することなく、外部から加わる衝撃によりカセッテ内のガラス基板が破損することを防止すること。
【解決手段】被写体のX線画像を検出する検出センサユニット21において、対向ガラス板212に対するガラス基板213の突出部が設けられている。突然の衝撃が加わってもガラス基板213の破損を防止するよう、ガラス基板213の突出部には突出部を補強する補強部材が設置されている。
【選択図】図6
【解決手段】被写体のX線画像を検出する検出センサユニット21において、対向ガラス板212に対するガラス基板213の突出部が設けられている。突然の衝撃が加わってもガラス基板213の破損を防止するよう、ガラス基板213の突出部には突出部を補強する補強部材が設置されている。
【選択図】図6
Description
本発明は、放射線画像検出センサユニットに関する。
近年、被写体に放射線を照射し、被写体を透過した放射線を検出して放射線画像を得る方法として、デジタル方式の放射線画像検出装置が用いられている。このような放射線画像検出装置としては、いわゆるFPD(Flat Panel Detector)がある。
FPDの一例としては、基板上に複数の検出素子を二次元的に配列し、被写体を透過した放射線が蛍光体(シンチレータ)に照射され、照射された放射線量に応じて発光する可視光を検出素子により電荷に変換して光電変換素子に蓄積し、光電変換素子に蓄積した電荷を読み出すことにより放射線画像を得るものがある(特許文献1参照)。このようなFPDは撮影直後に放射線画像を得られるという即時性を有している。
図9はFPDであるカセッテを用いた従来のシステムの概略図である。
カセッテA(特許文献1では「二次元撮影装置」という名称である)は放射線画像検出センサユニットBを内蔵し、放射線発生部Cから出射されたX線を被写体Pに照射し、被写体Pを透過したX線は二次元の格子状に配列した光電変換素子を有する放射線画像検出センサユニットBによって検出される。光電変換素子から出力される画像信号を画像処理部Dにおいてデジタル画像処理し、モニタEに被写体Pの放射線画像を表示する。
図10はカセッテAの縦断面図である。
筐体A1の内部には基台A2が設けられており、この基台A2には放射線画像検出センサユニットBが取り付けられている。放射線画像検出センサユニットBは、半導体素子と化学作用せず、半導体プロセスの温度に耐え、寸法安定性等が必要なことからガラス板により構成された基板B1と、半導体プロセスにより二次元配列的に形成された光電変換素子B2と、金属化合物から成る蛍光体を樹脂板に塗布した蛍光板B3と、蛍光板B3の上面にある不透湿フィルムB4が一体的に積層されて構成されている。基板B1の端部には光電変換素子B2で発生した電気信号を取り出すための電気信号取出部B5が設けられている。
基台A2の下面には、光電変換された電気信号を処理するための電子部品を搭載した電気基板A3が突起A4を介して固定されている。この電気基板A4と電気信号取出部B5間は、フレキシブル電気基板A5によって接続されている。
図10に示すカセッテAは可搬型である。
特開平11−284909号公報
図10に示すカセッテAは、基板B1において蛍光板B3から突出した部分(図10のX領域)があり、この突出部分に電気信号取出部B5が設置されている。また、基板B1の突出部分は、ガラス1枚により構成されているため、強度が低い。
カセッテAは持ち運ぶ際に落下させたり、他の物体と接触させたりして、カセッテA全体に衝撃が加わる場合があるが、基板B1の突出部分の強度が低いため、カセッテA全体に衝撃が加わった場合にガラス基板B1の突出部分が破損してしまう場合がある。破損防止のため、カセッテA内に加わる衝撃を吸収する緩衝部材を基板B1の突出部分の周辺に設置する方法も考えられるが、緩衝部材を設置すると筐体が大型化してしまう。従来のカセッテと互換性があるカセッテAとする場合はカセッテ全体の外形サイズが限られているため、ガラス基板B1の突出部分の周辺に緩衝部材を設置する十分なスペースを確保することができない。
そこで、本発明の目的は、筐体を大型化することなく、外部から加わる衝撃によりカセッテ内のガラス基板が破損することを防止する放射線画像検出センサユニットを提供することになる。
上記目的を達成するため、本発明に係る放射線画像検出センサユニットは、
被写体に向けて照射された放射線を検出する放射線画像検出センサユニットであって、
入射した放射線を光に変換するシンチレータと、
前記シンチレータにより変換された光を受けて電気信号に変換する光電変換部と、
前記シンチレータに対して放射線が照射される側に設置された対向ガラス板と、
少なくとも前記光電変換部を支持するガラス基板と、
前記対向ガラス板に対する前記ガラス基板の突出部に設置され、前記突出部を補強する補強部材と、
を有することを特徴とするものである。
被写体に向けて照射された放射線を検出する放射線画像検出センサユニットであって、
入射した放射線を光に変換するシンチレータと、
前記シンチレータにより変換された光を受けて電気信号に変換する光電変換部と、
前記シンチレータに対して放射線が照射される側に設置された対向ガラス板と、
少なくとも前記光電変換部を支持するガラス基板と、
前記対向ガラス板に対する前記ガラス基板の突出部に設置され、前記突出部を補強する補強部材と、
を有することを特徴とするものである。
本発明に係る放射線画像検出センサユニットによれば、筐体を大型化することなく、外部から加わる衝撃によりカセッテ内のガラス基板が破損することを防止することが出来る。
以下、本発明の実施の形態について図を基に説明する。
[カセッテ型検出器の概要]図1は、カセッテ型検出器の斜視図である。
カセッテ型検出器1は、カセッテ型のフラットパネルディテクタ(Flat Panel Detector:以下「FPD」と称する。)である。カセッテ型検出器1は、照射された放射線を検出してデジタル画像データとして取得する検出器ユニット2(図3等参照)と、検出器ユニット2を内部に収納するハウジング3とを備えている。
本実施形態において、ハウジング3は、その放射線入射方向の厚さが15mmとなるように形成されている。なお、ハウジング3の放射線入射方向の厚さは16mm以下であり、従来のスクリーン/フィルム用のカセッテにおけるJIS規格(JIS Z 4905)に準拠するサイズ(15mm+1mmであり、かつ15mm−2mm)の範囲内である(JIS Z 4905に対応する国際規格は、IEC 60406である)。
図2は、ハウジング3の分解斜視図である。
図2に示すように、ハウジング3は、両端部に開口部311、312を有する中空のハウジング本体部31と、ハウジング本体部31の各開口部311、312を覆う第1の蓋部材32及び第2の蓋部材33とを備えている。
ハウジング本体部31は、例えば、心材(型)の上にカーボン繊維を巻回して所望の厚み(例えば、1mm〜2mm)とした上で形状を整え、巻回したカーボン繊維の上に熱硬化性樹脂を流した上で、高温高圧で焼き固めることにより成型し、その後心材を抜き取ることによって形成する。また、所望の厚み(例えば、1mm〜2mm)で、予め所定サイズのハウジング本体部31の展開長に合致する矩形状の板状部材を形成し、この板状部材を心材(型)に沿って折り曲げて、端面同士を接着剤等で結合することにより、角筒状としてもよい。
第1の蓋部材32及び第2の蓋部材33は、蓋本体部321、331と、挿入部322、332とを備えており、例えば非導電性のプラスチック等の非導電性の材料によって形成されている。
挿入部322、332の各側面には、第1の蓋部材32及び第2の蓋部材33と、ハウジング本体部31と、を係合する係合片324、334が、開口部311、312に対する挿入方向に向かって延出している。係合片324、334の外側面には、それぞれ係合凸部325、335が設けられている。第1の蓋部材32と第2の蓋部材33がハウジング本体部31に挿入されると、係合凸部325、335がハウジング本体部31に設置された係合凹部315、316に係合する。
第1の蓋部材32における蓋本体部321の一側面には、カセッテ型検出器1と外部の機器との間で無線により情報の送受信を行うためのアンテナ装置9が埋め込まれており、アンテナ装置9には、金属からなる平板状の一対の放射板91、92と、一対の放射板91、92に対して給電する給電部93とが設けられている。
アンテナ装置9は、金属やカーボン等の導電性材料からなる導電性部材に近接した位置に設けると受信感度、受信利得が低下することから、カーボン等の導電性材料で形成されているハウジング本体部31や金属等で形成されている各種電子部品から出来るだけ離れた位置に設けることが好ましい。
また、蓋本体部321の一面であって、アンテナ装置9が形成されている面と同一面上には、ハウジング3の内部に設けられた充電池24(図3等参照)を充電する際に外部の電源等と接続される充電用端子45と、カセッテ型検出器1の電源のON/OFFを切り替える電源スイッチ46が設けられている。更に、アンテナ装置9が形成されている面と放射線入射側の面とによって形成される角部には、例えばLED等で構成され充電池24の充電状況や各種の操作状況等を表示するインジケータ47が設けられている。
[カセッテ型検出器の内部構造]次にカセッテ型検出器1の内部構造について説明する。図3は、図1に示すカセッテ型検出器1をa方向からみた所定箇所の断面図である。
図3に示すように、検出器ユニット2は、検出センサユニット(放射線画像検出センサ)21、基台22、各種の電子部品を実装した電気基板23、充電池24等により構成されている。本実施形態において、基台22の上方には遮蔽部材25を介して検出センサユニット21が取り付けられており、基台22の下方には複数の電気基板23と充電池24が取り付けられている。
基台22は可撓性があり、薄い樹脂により構成されている。厚さは約1mmであり、材質は例えば、ポリカーボネイトとABSを混合した樹脂である。このように可撓性のある樹脂により基台22が形成され、軽量化を行なうことで撮影時の患部へのセット性向上やカセッテ型検出器1移動時の持運び性の向上が図れる。
検出センサユニット21はシンチレータ層211、光電変換部としての信号検出部(不図示)、対向ガラス板212、ガラス基板213、補強部材214等から構成されている。検出センサユニット21の基本構造を説明すると、ガラス基板213の上に信号検出部が支持されており、その上方にシンチレータ層211が設置されている。シンチレータ層211の上方には対向ガラス板212が設置されており、シンチレータ層211は対向ガラス板212とガラス基板213に挟まれている(つまり積層構造となっている)。
シンチレータ層211は入射した放射線を光に変換する機能を有する。シンチレータ層211は、例えば、蛍光体を主たる成分とし、入射した放射線に基づいて、波長が300nmから800nmの電磁波、すなわち、可視光線を中心に紫外光から赤外光にわたる電磁波(光)を出力するようになっている。
シンチレータ層211は、対向ガラス板212の下側(撮影時に放射線が入射する側と反対側)に貼付されており、対向ガラス板212の上側(撮影時に放射線が入射する側)にはガラス保護フィルム(不図示)が積層されている。
シンチレータ層211の下方には信号検出部(図5では151で示す)が形成されおり、信号検出部はシンチレータ層211から出力された電磁波(光)を電気エネルギーに変換して蓄積し、蓄積された電気エネルギーに基づく画像信号の出力を行う。信号検出部はガラス基板213に支持されている。
対向ガラス板212とガラス基板213は、ともに厚みが0.6mm程度であり、レーザにより端面を切断することにより、端面、すなわち、切断面と、この切断面とガラス基材の上面との稜線部分、及び切断面とガラス基材の下面との稜線部分を平滑化する平滑化処理を施されている。
ガラス基板213の下方には補強部材214が設置されており、対向ガラス板212に対するガラス基板213の突出部を補強している。補強部材214についての詳細な構造は後述する。
基台22の下方には複数の電気基板23が設置されている。本実施形態において、電気基板23上に配置される電子部品としては、例えば各部の制御を行う制御部28(図5参照)を構成するCPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等からなる記憶部(図示せず)、走査駆動回路16(図5参照)、信号読出し回路17(図5参照)等がある。
また、基台22の中央部には、カセッテ型検出器1を構成する複数の駆動部(例えば、後述する走査駆動回路16(図5参照)、信号読出し回路17(図5参照)、通信部(不図示)、記憶部(不図示)、充電量検出部(不図示)、インジケータ47、検出センサユニット21等)に電力を供給する充電池24が設けられている。
充電池24として本実施形態では電気二重層コンデンサを使用している。但し、電気二重層コンデンサ以外に例えばリチウムイオンキャパシタ、ニッカド電池、ニッケル水素電池、リチウムイオン電池、小型シール鉛電池、鉛蓄電池等の充電自在な電池を適用することが出来る。
充電池24は、基台22上の所定の位置に設置することにより前述の充電用端子45と電気的に接続されるようになっており、例えば、カセッテ型検出器1を外部電源と接続されるクレードル等の充電用装置(図示せず)に装着することによって充電用装置側の端子とハウジング3側の充電用端子45とが接続されて充電池24の充電が行われるようになっている。
ガラス基板213の端部には信号検出部で発生した電気信号を取り出すための電気信号取出部215が設けられており、この電気信号取出部215と所定の電気基板23とはフレキシブルハーネス26により接続されている。
また、カセッテ型検出器1の落下等により衝撃が加わった場合でもハウジング3内の部品が破損しないよう、基台22の側面や対向ガラス板212の上面等に衝撃を吸収する緩衝部材27が設置されている。
[検出センサユニットの回路構成]次に、検出センサユニット21の回路構成について説明する。図4は、信号検出部151を構成する1画素分の光電変換部の等価回路図である。
図4に示すように、1画素分の光電変換部の構成は、フォトダイオード152と、フォトダイオード152で蓄積された電気エネルギーをスイッチングにより電気信号として取り出す薄膜トランジスタ(以下「TFT」と称する。)153とから構成されている。フォトダイオード152は、電荷を生成し蓄積する撮像素子である。フォトダイオード152から取り出された電気信号は、増幅器154により信号読出し回路17が検出可能なレベルにまで電気信号を増幅するようになっている。
具体的には、光の照射を受けるとフォトダイオード152で電荷が発生し、TFT153のゲートGに信号読出し用の電圧が印加されると、TFT153のソースSに接続されたフォトダイオード152から電荷がTFT153のドレインD側に流れ、増幅器154に並列に接続されたコンデンサ154aに蓄積される。そして、増幅器154から、コンデンサ154aに蓄積された電荷に比例して増幅された電気信号が出力されるようになっている。
また、増幅器154から増幅された電気信号が出力されて電気信号が取り出されると、増幅器154やコンデンサ154aに並列に接続されたスイッチ154bがオンされてコンデンサ154aに蓄積された電荷が放出されて、増幅器154がリセットされるようになっている。なお、フォトダイオード152は、単に規制キャパシタンスを有した光ダイオードでもよいし、フォトダイオード152と光電変換部のダイナミックレンジを改良するように追加コンデンサを並列に含んでいるものでもよい。
図5は、このような光電変換部を二次元に配列した等価回路図であり、画素間には、走査線Llと信号線Lrが直交するように配設されている。TFT153のソースSには前述のフォトダイオード152の一端側が接続されており、TFT153のドレインDは信号線Lrに接続されている。一方、フォトダイオード152の他端側は、各行に配された隣接するフォトダイオード152の他端側と接続されて共通のバイアス線Lbを通じてバイアス電源155に接続されている。
このバイアス電源155は制御部28に接続され、制御部28からの指示によりバイアス線Lbを通じてフォトダイオード152に電圧がかるようになっている。また各行に配されたTFT153のゲートGは、共通の走査線Llに接続されており、走査線Llは走査駆動回路16を介して制御部28に接続されている。同様に、各列に配されたTFT153のドレインDは、共通の信号線Lrに接続されて制御部28に制御される信号読出し回路17に接続されている。
信号読出し回路17には、前述した信号線Lrごとの増幅器154が設けられている。信号読出し時には、選択された走査線Llに信号読出し用の電圧が印加され、それによりその走査線Llに接続されている各TFT153のゲートGに電圧が印加され、各TFT153を介して各フォトダイオード152から各信号線Lrにそのフォトダイオード152で発生した電荷が流れる。そして、各増幅器154でフォトダイオード152ごとに電荷が増幅され、1行分のフォトダイオード152の情報が取り出される。そして、この操作を走査線Llをそれぞれ切り替えて全ての走査線Llについて行うことで、全フォトダイオード152から情報を取り出すようになっている。
各増幅器154にはそれぞれサンプルホールド回路156が接続されている。各サンプルホールド回路156は信号読出し回路17に設けられたアナログマルチプレクサ157に接続されており、信号読出し回路17により読み出された信号は、アナログマルチプレクサ157からA/D変換器158を介して前述した制御部28に出力されるようになっている。
なお、TFT153は、液晶ディスプレイ等に使用されている無機半導体系のもの、有機半導体を用いたものの何れであってもよい。
また、本実施形態では、撮像素子として光電変換素子としてのフォトダイオード152を用いた場合を例示したが、光電変換素子はフォトダイオード以外の固体撮像素子を用いてもよい。
以上、図1〜図5に示すようなカセッテ型検出器1を使用することにより、被写体のX線画像を検出することが可能となっている。
[ガラス基板の破損防止]図6は、検出センサユニット21の詳細図である。図6(a)は検出センサユニット21の断面図、図6(b)は図6(a)におけるb方向からみた検出センサユニット21の上面図、図6(c)は図6(a)におけるc方向からみた検出センサユニット21の下面図である。
図6(a)で示すように、ガラス基板213においてシンチレータ層211や対向ガラス板212から突出した部分(図6(a)のY領域)があり、この突出部(対向ガラス板212に対するガラス基板213の突出部)に電気信号取出部215が設置されている。検出センサユニット21を内蔵するカセッテ型検出器1を持ち運ぶ際に落下させたり、他の物体と接触させたりして、カセッテ型検出器1全体に衝撃が加わる場合があるが、ガラス基板213の突出部が何ら補強されていないと強度が低いため、衝撃が加わった場合にガラス基板213の突出部が破損してしまう場合がある。そこで、ガラス基板213の突出部を補強する補強部材214がガラス基板213に設置されている。
図6(a)、図6(c)で示すように補強部材214はガラス基板213の下面に設置されており、また、補強部材214はシンチレータ層211の下面に設置された信号検出器の電気信号に影響を与えることがないよう、絶縁性のフィルムにより形成されている。絶縁性のフィルムとしては、強度や耐熱性に優れるPET(polyethylene terephthalate)フィルムである。
ガラス基板213の下面に設置した補強部材214によりガラス基板213の突出部は厚さが増すために強度が高くなり、カセッテ型検出器1に撮影時や移動時の落下等の突然の衝撃が加わってもガラス基板213の変形を防止し、ガラス基板213の破損を防止することが出来る。 ガラス基板213の突出部の受ける衝撃応力をσ、衝撃力をW、ガラス基板213の突出部厚み方向の断面積をSとすると、衝撃応力σは次の(1)式で表せる。
σ=W/S ・・・(1)
つまり、衝撃力Wを断面積Sで割った値が衝撃応力σとなる。この式より衝撃応力σを小さくすることがガラス基板213の変形を防止し、ガラス基板213の破損を防止することに繋がる。
σ=W/S ・・・(1)
つまり、衝撃力Wを断面積Sで割った値が衝撃応力σとなる。この式より衝撃応力σを小さくすることがガラス基板213の変形を防止し、ガラス基板213の破損を防止することに繋がる。
衝撃応力σを小さくする1つの手段として断面積Sを大きい値とするという手段がある。本実施形態のガラス基板213の突出部に補強部材214を設置することで、ガラス基板213の突出部厚み方向の断面積Sが補強部材214を設置していない時より大きい値となり、衝撃応力Sを小さく出来る。この衝撃応力Sを小さくすることでガラス基板213の変形を防止し、ガラス基板213の破損を防止することが出来る。
また、補強部材214は軽量で比較的薄い絶縁性のフィルムでも補強部材としての機能を発揮できる。本実施形態では、補強部材214の厚みは0.3mm〜1.2mmである。このことによりガラス基板213の突出部に補強部材214を設置する構造でカセッテ型検出器1のX線入射方向の厚みを抑えてスペースを大きくとることなく強度が高くなるため、従来のカセッテと互換性を維持した軽量で小型のカセッテ型検出器1を提供でき、併せてガラス基板213の変形を防止し、ガラス基板213の破損を防止することが出来る。
更に、ガラス基板213において、突出部以外の部分はシンチレータ層211や対向ガラス板212により積層構造となっており、この部分は一定の強度があるため、補強部材214は突出部のみに設置すれば良い。この結果、ガラス基板213全面に補強部材214を設置する必要はなく、カセッテ型検出器1の軽量化を図ることも出来る。
なお、図6(b)、図6(c)で示すようにガラス基板213の左右に突出部があるため、左右の突出部に設置する補強部材214を同じ材料で且つ形状を同一にし、左右で対称になるように複数の補強部材214がガラス基板213に設置されている。このようにすればカセッテ型検出器1内が熱により高温となっても熱によるガラス基板213の不均一な変形を防止でき、シンチレータ層211や信号検出部151による放射線画像の検出動作が適切に行うことが出来る。
[検出センサユニットの変形例]図7、図8に検出センサユニット21の変形例を示す。
図7はガラス基板213の四辺に補強部材214を設置した検出センサユニット21を示す説明図である。図7(a)は検出センサユニット21の上面図であり、図7(c)は検出センサユニット21の下面図である。
図6に示す検出センサユニット21ではガラス基板213の対向する二辺に電気信号取出部215が設置された突出部が設けられているが、図7に示す検出センサユニット21の変形例では、ガラス基板213の四辺において突出部が設けられており、その四辺に電気信号取出部215が設置されている。従って、補強部材214も突出部と同様に、ガラス基板213の四辺、且つガラス基板213の下面に形成されている。つまり、ガラス基板213の四辺において電気信号を取り出す検出センサユニット21でも、図7のように補強部材214を設置することにより、カセッテ型検出器1に撮影時や移動時の落下等の突然の衝撃が加わってもガラス基板213の変形を防止し、ガラス基板213の破損を防止することが出来る。
なお、ガラス基板213の四辺のうち、何れかの辺に電気部品が設置されていて補強部材214を取り付けることが出来ない場合は、他の残りの辺に補強部材214を設置するようにしてもよい。このようにすることでも、カセッテ型検出器1に撮影時や移動時の落下等の突然の衝撃が加わってもガラス基板213の変形を防止し、ガラス基板213の破損を防止することが出来る。
図8は補強部材214を増設した検出センサユニット21を示す説明図である。図8で示す検出センサユニット21では、補強部材214をガラス基板213の突出部の下方に設置するだけでなく、ガラス基板213の突出部の上方(電気信号取付部215の上方でもある)にも設置してある。このような形態であれば、ガラス基板213の突出部において厚さが増すために更に強度が高くなり、よりガラス基板の破損を防止することが可能となる。また、ガラス基板213の突出部の上方にある空間が有効利用でき、補強部材214を設置してもカセッテ型検出器1を大きくすることなく、撮影時や移動時の落下等の突然の衝撃が加わってもガラス基板213の変形を防止し、ガラス基板213の破損を防止することが出来る。
なお、本発明は当該実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲における変更や追加があっても本発明に含まれる。
本実施形態では、検出センサユニット21がシンチレータ層211と信号検出部151とによって構成されている間接変換方式のFPDを例として説明したが、FPDは間接変換方式のものに限られない。例えば、放射線を吸収し放射線を電荷に変換するアモルファス・セレン(a−Se)層を設け、このa−Se層の中に放射線フォトンを高電圧で引き込むことにより、検出器に照射された放射線の放射線エネルギーを直接電荷量に変換する(電気信号化する)直接変換方式のFPDにおいても、a−Se層を2枚のガラス基材の間に挟み込む本発明の構成を適用することが可能である。
1 カセッテ型検出器
2 検出器ユニット
3 ハウジング
9 アンテナ装置
21 検出センサユニット
22 基台
23 電気基板
24 充電池
25 遮蔽部材
26 フレキシブルハーネス
27 緩衝部材
151 信号検出部
211 シンチレータ層
212 対向ガラス板
213 ガラス基板
214 補強部材
215 電気信号取出部
2 検出器ユニット
3 ハウジング
9 アンテナ装置
21 検出センサユニット
22 基台
23 電気基板
24 充電池
25 遮蔽部材
26 フレキシブルハーネス
27 緩衝部材
151 信号検出部
211 シンチレータ層
212 対向ガラス板
213 ガラス基板
214 補強部材
215 電気信号取出部
Claims (4)
- 被写体に向けて照射された放射線を検出する放射線画像検出センサユニットであって、
入射した放射線を光に変換するシンチレータと、
前記シンチレータにより変換された光を受けて電気信号に変換する光電変換部と、
前記シンチレータに対して放射線が照射される側に設置された対向ガラス板と、
少なくとも前記光電変換部を支持するガラス基板と、
前記対向ガラス板に対する前記ガラス基板の突出部に設置され、前記突出部を補強する補強部材と、
を有することを特徴とする放射線画像検出センサユニット。 - 前記補強部材は、絶縁性の部材である請求項1に記載の放射線画像検出センサユニット。
- 前記ガラス基板において複数の前記補強部材が対称に設置されている請求項1又は2に記載の放射線画像検出センサユニット。
- 前記補強部材は、前記突出部の上方及び下方に設置されている請求項1から請求項3までの何れか1項に記載の放射線画像検出センサユニット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008300653A JP2010127680A (ja) | 2008-11-26 | 2008-11-26 | 放射線画像検出センサユニット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008300653A JP2010127680A (ja) | 2008-11-26 | 2008-11-26 | 放射線画像検出センサユニット |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010127680A true JP2010127680A (ja) | 2010-06-10 |
Family
ID=42328202
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008300653A Pending JP2010127680A (ja) | 2008-11-26 | 2008-11-26 | 放射線画像検出センサユニット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010127680A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012150320A (ja) * | 2011-01-20 | 2012-08-09 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 放射線画像検出カセッテ |
US10539690B2 (en) | 2017-06-13 | 2020-01-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | X-ray detector, X-ray photographing apparatus including the same, and method of manufacturing the same |
JPWO2021033663A1 (ja) * | 2019-08-16 | 2021-02-25 | ||
US11774376B2 (en) | 2019-12-26 | 2023-10-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Power supply unit and radiation imaging apparatus including the same |
-
2008
- 2008-11-26 JP JP2008300653A patent/JP2010127680A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2012150320A (ja) * | 2011-01-20 | 2012-08-09 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 放射線画像検出カセッテ |
US10539690B2 (en) | 2017-06-13 | 2020-01-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | X-ray detector, X-ray photographing apparatus including the same, and method of manufacturing the same |
JPWO2021033663A1 (ja) * | 2019-08-16 | 2021-02-25 | ||
US11774376B2 (en) | 2019-12-26 | 2023-10-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Power supply unit and radiation imaging apparatus including the same |
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