JP2010123909A - Electro-optical device and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce an optical leakage current of a semiconductor element such as an element for pixel switching without increasing the rate of occupation of an image display region of a liquid crystal device by a non-opening region. <P>SOLUTION: On a TFT array substrate 10, a projection 42a is formed in an island shape covering a semiconductor layer 1a. A light shield film 25 extends over an upper surface and a side surface of the projection 42a. The light shield film 25 may be formed by: forming a light shield film of large size enough to extend to the projection 42a and its periphery and then patterning the light shield film of the large size such that the light shield film 25 remains on the upper surface and the side surface of the projection 42a; or forming the film by a CVD method on the upper surface and the side surface of the projection 42a. The semiconductor layer 1a is covered with the light shield film 25 from its upper side and side surface side in three-dimensional view. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、例えば、液晶装置等の電気光学装置、及びその製造方法の技術分野に関する。   The present invention relates to a technical field of, for example, an electro-optical device such as a liquid crystal device and a manufacturing method thereof.

この種の電気光学装置の一例である液晶装置では、画素スイッチング用素子として各画素部に設けられたTFTを遮光する遮光膜が当該素子の上層側及び下層側に設けられる場合が多い(特許文献1参照。)。遮光膜は、TFT等の半導体素子が形成される基板上において実質的に光が透過可能な開口領域を隔て、且つ光を透過させない非開口領域に設けられており、画素スイッチング用素子に発生する光リーク電流を低減する。   In a liquid crystal device that is an example of this type of electro-optical device, a light shielding film that shields a TFT provided in each pixel portion as a pixel switching element is often provided on an upper layer side and a lower layer side of the element (Patent Literature). 1). The light-shielding film is provided in a non-opening region that does not transmit light and is provided in a non-opening region that does not transmit light on a substrate on which a semiconductor element such as a TFT is formed. Reduce optical leakage current.

特開2000−164875号公報JP 2000-164875 A

しかしながら、遮光膜によってTFTを遮光することを目的として当該遮光膜のサイズを大きくした場合、画像を表示する表示領域のうち非開口領域が占める割合が大きくなってしまい、液晶装置が画像を表示する表示性能を低下させてしまう問題点が生じる。   However, when the size of the light-shielding film is increased for the purpose of shielding the TFT by the light-shielding film, the proportion of the non-opening area in the display area for displaying the image increases, and the liquid crystal device displays the image. There arises a problem that the display performance is lowered.

よって、本発明は上記問題点等に鑑みてなされたものであり、例えば、表示領域のうち非開口領域が占める割合を増大させることなく、より好ましく非開口領域が占める割合を低減しつつ、画素スイッチング用素子等の半導体素子における光リーク電流を低減可能な電気光学装置、及びその製造方法を提供することを課題とする。   Therefore, the present invention has been made in view of the above problems and the like. For example, without increasing the ratio of the non-opening area in the display area, more preferably, while reducing the ratio of the non-opening area, the pixel It is an object of the present invention to provide an electro-optical device capable of reducing light leakage current in a semiconductor element such as a switching element, and a manufacturing method thereof.

本発明に係る電気光学装置は上記課題を解決するために、基板上の表示領域に形成された半導体層と、前記半導体層を覆うように島状に形成された凸部と、前記凸部の上面及び側面の夫々に延びる遮光膜とを備える。   In order to solve the above problems, an electro-optical device according to the present invention includes a semiconductor layer formed in a display region on a substrate, a convex portion formed in an island shape so as to cover the semiconductor layer, and a A light shielding film extending on each of the upper surface and the side surface.

本発明に係る電気光学装置によれば、例えば、基板上に形成されたポリシリコン膜等の半導体膜を所定の形状にパターニングすることによって形成されている。このような半導体層は、例えば、基板上の表示領域に形成されるべき画素スイッチング用TFTのチャネル領域、ソース領域及びドレイン領域が形成されるべき半導体部分である。   The electro-optical device according to the present invention is formed, for example, by patterning a semiconductor film such as a polysilicon film formed on a substrate into a predetermined shape. Such a semiconductor layer is, for example, a semiconductor portion in which a channel region, a source region, and a drain region of a pixel switching TFT to be formed in a display region on a substrate are to be formed.

凸部は、前記半導体層を覆うように島状に形成されている。凸部は、例えば、半導体層上に形成された絶縁膜等の層間膜をエッチング等のパターニング法を用いて部分的に除去することによって形成されている。   The convex portion is formed in an island shape so as to cover the semiconductor layer. The convex portion is formed, for example, by partially removing an interlayer film such as an insulating film formed on the semiconductor layer by using a patterning method such as etching.

遮光膜は、前記凸部の上面及び側面の夫々に延びている。遮光膜は、例えば、凸部及びその周辺までに延びるように大きいサイズの遮光膜が形成された後、凸部の上面及び側面に遮光膜が残るように当該大きなサイズの遮光膜をパターニングすることによって形成されてもよいし、CVD法等の成膜を用いて凸部の上面及び側面に成膜されていてもよい。   The light shielding film extends on each of the upper surface and the side surface of the convex portion. For example, after the light shielding film having a large size is formed so as to extend to the convex portion and its periphery, the large size light shielding film is patterned so that the light shielding film remains on the upper surface and the side surface of the convex portion. Alternatively, the film may be formed on the upper surface and the side surface of the convex portion using film formation such as CVD.

したがって、本発明に係る電気光学装置によれば、半導体層が、3次元的に見てその上側及び側面側の夫々から遮光膜によって覆われている。よって、本発明に係る電気光学装置によれば、基板上から半導体層の上面及び側面の夫々の側から当該半導体層に照射される光を遮光膜によって確実に遮光できる。加えて、本発明に係る電気光学装置によれば、遮光膜を基板の基板面に沿って平坦に形成する場合に比べて、平面的に見た遮光膜の面積を減らしつつ、遮光性を高めることができる。より具体的には、例えば、表示領域を構成する複数の画素領域のうち相互に隣り合う画素領域の夫々の開口領域を隔てる非開口領域の幅は、遮光膜のサイズに対応しているため、遮光性を高めつつ、当該遮光膜の平面的な面積、即ちサイズを小さくできることによって、画素領域における開口率を高めることが可能である。   Therefore, according to the electro-optical device according to the present invention, the semiconductor layer is covered with the light shielding film from each of the upper side surface and the side surface side in three dimensions. Therefore, according to the electro-optical device according to the present invention, the light applied to the semiconductor layer from the upper surface and the side surface of the semiconductor layer from the substrate can be reliably blocked by the light shielding film. In addition, according to the electro-optical device according to the present invention, the light shielding property is improved while reducing the area of the light shielding film in a plan view as compared with the case where the light shielding film is formed flat along the substrate surface of the substrate. be able to. More specifically, for example, the width of the non-opening region that separates the opening regions of the pixel regions adjacent to each other among the plurality of pixel regions constituting the display region corresponds to the size of the light shielding film. The aperture ratio in the pixel region can be increased by reducing the planar area, that is, the size of the light-shielding film while improving the light-shielding property.

よって、本発明に係る電気光学装置によれば、遮光膜によって狭められる開口領域を極力狭めないようにすることができ、電気光学装置の表示性能を向上させることが可能であると共に、半導体層に対する遮光性を高めることによって光リーク電流を低減できる。   Therefore, according to the electro-optical device according to the present invention, the opening region narrowed by the light-shielding film can be prevented from being reduced as much as possible, the display performance of the electro-optical device can be improved, and the semiconductor layer can be improved. The light leakage current can be reduced by improving the light shielding property.

本発明に係る電気光学装置の一の態様では、前記半導体層の上面から前記遮光膜までの距離は、前記半導体層の縁から前記側面までの距離より大きくてもよい。   In one aspect of the electro-optical device according to the invention, a distance from the upper surface of the semiconductor layer to the light shielding film may be larger than a distance from an edge of the semiconductor layer to the side surface.

この態様によれば、効率良く半導体層を遮光できるように、凸部の上面及び側面に遮光膜を形成できる。   According to this aspect, the light shielding film can be formed on the upper surface and the side surface of the convex portion so that the semiconductor layer can be shielded efficiently.

本発明に係る電気光学装置の他の態様では、前記半導体層は、前記表示領域を構成する複数の画素部の夫々をスイッチング制御するスイッチング用素子である薄膜トランジスタの一部を構成しており、前記薄膜トランジスタは、前記表示領域における開口領域を相互に隔てる非開口領域に形成されていてもよい。   In another aspect of the electro-optical device according to the invention, the semiconductor layer constitutes a part of a thin film transistor that is a switching element that performs switching control of each of a plurality of pixel portions constituting the display region, The thin film transistor may be formed in a non-opening region that separates open regions in the display region.

この態様によれば、表示領域のうち開口領域が占める割合、即ち開口率を高めることができ、当該電気光学装置の表示性能を高めることが可能である。   According to this aspect, it is possible to increase the proportion of the display area occupied by the aperture area, that is, the aperture ratio, and to improve the display performance of the electro-optical device.

本発明に係る電気光学装置の製造方法は上記課題を解決するために、基板上の表示領域に半導体層を形成する第1工程と、前記半導体層を覆うように島状に凸部を形成する第2工程と、前記凸部の上面及び側面の夫々に延びる遮光膜を形成する第3工程とを備えている。   In order to solve the above problems, a method for manufacturing an electro-optical device according to the present invention includes a first step of forming a semiconductor layer in a display region on a substrate, and forming a convex portion in an island shape so as to cover the semiconductor layer. A second step and a third step of forming a light-shielding film extending on each of the upper surface and the side surface of the convex portion.

本発明に係る電気光学装置の製造方法によれば、上述の電気光学装置と同様に、遮光膜によって狭められる開口領域を極力狭めないようにすることができ、当該電気光学装置の表示性能を向上させることが可能であると共に、半導体層に対する遮光性を高めることによって光リーク電流を低減できる電気光学装置を製造可能である。   According to the method for manufacturing an electro-optical device according to the present invention, similarly to the electro-optical device described above, it is possible to prevent the opening area narrowed by the light-shielding film from being narrowed as much as possible, and to improve the display performance of the electro-optical device. In addition, it is possible to manufacture an electro-optical device that can reduce the light leakage current by increasing the light shielding property to the semiconductor layer.

本発明に係る電気光学装置の製造方法の一の態様では、前記第2工程は、前記半導体層上に層間膜を形成する第4工程と、前記層間膜を部分的に除去することによって、前記凸部を形成する第5工程とを備えていてもよい。   In one aspect of the method of manufacturing the electro-optical device according to the invention, the second step includes a fourth step of forming an interlayer film on the semiconductor layer, and the interlayer film is partially removed, thereby And a fifth step of forming a convex portion.

この態様によれば、簡便に凸部を形成可能である。   According to this aspect, the convex portion can be easily formed.

この態様では、前記第5工程において、前記半導体層の上面から前記遮光膜までの距離が、前記半導体層の縁から前記側面までの距離より大きくなるように、前記層間膜を部分的に除去してもよい。   In this aspect, in the fifth step, the interlayer film is partially removed so that the distance from the upper surface of the semiconductor layer to the light shielding film is larger than the distance from the edge of the semiconductor layer to the side surface. May be.

この態様によれば、後に施される第3工程において、半導体層を覆うような遮光膜を簡便に形成できるように凸部を形成しておくことが可能である。   According to this aspect, in the third step to be performed later, it is possible to form the convex portion so that the light shielding film covering the semiconductor layer can be easily formed.

本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施形態から明らかにされる。   Such an operation and other advantages of the present invention will become apparent from the embodiments described below.

本実施形態に係る液晶装置の全体構成を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure of the liquid crystal device which concerns on this embodiment. 図1のII−II´断面図である。It is II-II 'sectional drawing of FIG. 本実施形態に係る液晶装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成された複数の画素部における各種素子、配線等の等価回路である。4 is an equivalent circuit of various elements, wirings, and the like in a plurality of pixel portions formed in a matrix that forms an image display region of the liquid crystal device according to the present embodiment. 本実施形態に係る液晶装置の画素部の平面図である。It is a top view of the pixel part of the liquid crystal device concerning this embodiment. 図4のV−V´断面図である。It is VV 'sectional drawing of FIG. 本実施形態に係る液晶装置の製造方法の主要な工程を順に示した工程平面図(その1)である。It is process top view (the 1) which showed in a turn the main processes of the manufacturing method of the liquid crystal device concerning this embodiment. 本実施形態に係る液晶装置の製造方法の主要な工程を順に示した工程平面図(その2)である。It is process top view (the 2) which showed the main process of the manufacturing method of the liquid crystal device concerning this embodiment in order.

以下、図面を参照しながら、本発明に係る電気光学装置、及びその製造方法を説明する。以下では、本発明に係る電気光学装置の一実施形態として、液晶装置を挙げる。   Hereinafter, an electro-optical device and a manufacturing method thereof according to the present invention will be described with reference to the drawings. Hereinafter, a liquid crystal device will be described as an embodiment of the electro-optical device according to the invention.

<1:液晶装置>
<1−1:液晶装置の全体構成>
先ず、図1及び図2を参照しながら、本実施形態に係る液晶装置1の全体構成を説明する。図1は、TFTアレイ基板をその上に形成された各構成要素と共に対向基板の側から見た液晶装置1の平面図であり、図2は、図1のII−II´断面図である。
<1: Liquid crystal device>
<1-1: Overall Configuration of Liquid Crystal Device>
First, the overall configuration of the liquid crystal device 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a plan view of the liquid crystal device 1 as seen from the counter substrate side together with the components formed on the TFT array substrate, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II ′ of FIG.

図1及び図2において、液晶装置1では、本発明の「基板」の一例であるTFTアレイ基板10と対向基板20とが対向配置されている。TFTアレイ基板10と対向基板20との間に液晶層50が封入されており、TFTアレイ基板10と対向基板20とは、複数の画素部72(図3参照。)が設けられる表示領域たる画像表示領域10aの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材52により相互に接着されている。   1 and 2, in the liquid crystal device 1, a TFT array substrate 10, which is an example of the “substrate” of the present invention, and a counter substrate 20 are disposed to face each other. A liquid crystal layer 50 is sealed between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20, and the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 are images that are display regions in which a plurality of pixel portions 72 (see FIG. 3) are provided. They are bonded to each other by a sealing material 52 provided in a sealing area located around the display area 10a.

シール材52は、両基板を貼り合わせるための、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいてTFTアレイ基板10上に塗布された後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたものである。シール材52中には、TFTアレイ基板10と対向基板20との間隔(基板間ギャップ)を所定値とするためのグラスファイバ或いはガラスビーズ等のギャップ材が散布されている。   The sealing material 52 is made of, for example, an ultraviolet curable resin, a thermosetting resin, or the like for bonding the two substrates, and is applied on the TFT array substrate 10 in the manufacturing process and then cured by ultraviolet irradiation, heating, or the like. It is. In the sealing material 52, a gap material such as glass fiber or glass beads for dispersing the distance (inter-substrate gap) between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 to a predetermined value is dispersed.

シール材52が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域10aの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けられている。但し、このような額縁遮光膜53の一部又は全部は、TFTアレイ基板10側に内蔵遮光膜として設けられてもよい。尚、画像表示領域10aの周辺に位置する周辺領域が存在する。言い換えれば、本実施形態においては特に、TFTアレイ基板10の中心から見て、この額縁遮光膜53より以遠が周辺領域として規定されている。   A light-shielding frame light-shielding film 53 that defines the frame area of the image display area 10a is provided on the counter substrate 20 side in parallel with the inside of the seal area where the sealing material 52 is disposed. However, part or all of the frame light shielding film 53 may be provided as a built-in light shielding film on the TFT array substrate 10 side. There is a peripheral area located around the image display area 10a. In other words, particularly in the present embodiment, when viewed from the center of the TFT array substrate 10, the distance from the frame light shielding film 53 is defined as the peripheral region.

周辺領域のうち、シール材52が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、データ線駆動回路101及び外部回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿って設けられている。走査線駆動回路104は、この一辺に隣接する2辺に沿い、且つ、額縁遮光膜53に覆われるようにして設けられている。更に、このように画像表示領域10aの両側に設けられた二つの走査線駆動回路104間をつなぐため、TFTアレイ基板10の残る一辺に沿い、且つ、額縁遮光膜53に覆われるようにして複数の配線105が設けられている。   A data line driving circuit 101 and an external circuit connection terminal 102 are provided along one side of the TFT array substrate 10 in a region located outside the sealing region in which the sealing material 52 is disposed in the peripheral region. The scanning line driving circuit 104 is provided along two sides adjacent to the one side so as to be covered with the frame light shielding film 53. Further, in order to connect the two scanning line driving circuits 104 provided on both sides of the image display area 10 a in this way, a plurality of the pixel lines are covered along the remaining side of the TFT array substrate 10 and covered with the frame light shielding film 53. Wiring 105 is provided.

対向基板20の4つのコーナー部には、両基板間の上下導通端子として機能する上下導通材106が配置されている。他方、TFTアレイ基板10にはこれらのコーナー部に対向する領域において上下導通端子が設けられている。これらにより、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的な導通をとることができる。   Vertical conductive members 106 functioning as vertical conductive terminals between the two substrates are disposed at the four corners of the counter substrate 20. On the other hand, the TFT array substrate 10 is provided with vertical conduction terminals in a region facing these corner portions. Thus, electrical conduction can be established between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20.

図2において、TFTアレイ基板10上には、画素スイッチング用のTFTや走査線、データ線等の配線が形成された後の画素電極9a上に、配向膜16(図5参照。)が形成されている。他方、対向基板20上には、対向電極21の他、格子状又はストライプ状の遮光膜23、更には最上層部分に配向膜が形成されている。液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。   In FIG. 2, on the TFT array substrate 10, an alignment film 16 (see FIG. 5) is formed on the pixel electrode 9a after the pixel switching TFT, the scanning line, the data line and the like are formed. ing. On the other hand, on the counter substrate 20, in addition to the counter electrode 21, a lattice-shaped or striped light-shielding film 23 and an alignment film are formed on the uppermost layer portion. The liquid crystal layer 50 is made of, for example, a liquid crystal in which one or several types of nematic liquid crystals are mixed, and takes a predetermined alignment state between the pair of alignment films.

尚、図1及び図2に示したTFTアレイ基板10上には、これらのデータ線駆動回路101、走査線駆動回路104等の駆動回路に加えて、画像信号線上の画像信号をサンプリングしてデータ線に供給するサンプリング回路、複数のデータ線に所定電圧レベルのプリチャージ信号を画像信号に先行して各々供給するプリチャージ回路、製造途中や出荷時の当該電気光学装置の品質、欠陥等を検査するための検査回路等を形成してもよい。   1 and 2, on the TFT array substrate 10, in addition to the drive circuits such as the data line drive circuit 101 and the scanning line drive circuit 104, the image signal on the image signal line is sampled to obtain data. Sampling circuit that supplies lines, precharge circuit that supplies pre-charge signals of a predetermined voltage level to multiple data lines in advance of image signals, inspection of quality, defects, etc. of the electro-optical device during production or shipment An inspection circuit or the like may be formed.

<1−2:液晶装置の電気的な構成>
次に、図3を参照しながら、液晶装置1の電気的な構成を説明する。図3は、液晶装置1の画像表示領域10aを構成するマトリクス状に形成された複数の画素部における各種素子、配線等の等価回路である。
<1-2: Electrical configuration of liquid crystal device>
Next, the electrical configuration of the liquid crystal device 1 will be described with reference to FIG. FIG. 3 is an equivalent circuit of various elements, wirings, and the like in a plurality of pixel portions formed in a matrix that forms the image display region 10 a of the liquid crystal device 1.

図3において、液晶装置1の画像表示領域10aを構成するマトリクス状に配列された複数の画素領域の夫々には、画素電極9a、及び、TFT30が形成されている。TFT30は、画素電極9aに電気的に接続されており、液晶装置1の動作時にITO等の透明導電膜で構成された画素電極9aをスイッチング制御する画素スイッチング用素子である。画像信号が供給されるデータ線6aは、TFT30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画像信号S1、S2、・・・、Snは、この順に線順次に供給しても構わないし、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。   In FIG. 3, a pixel electrode 9 a and a TFT 30 are formed in each of a plurality of pixel regions arranged in a matrix that forms the image display region 10 a of the liquid crystal device 1. The TFT 30 is a pixel switching element that is electrically connected to the pixel electrode 9 a and performs switching control of the pixel electrode 9 a made of a transparent conductive film such as ITO during the operation of the liquid crystal device 1. The data line 6a to which the image signal is supplied is electrically connected to the source of the TFT 30. The image signals S1, S2,..., Sn to be written to the data lines 6a may be supplied line-sequentially in this order, or may be supplied for each group to a plurality of adjacent data lines 6a. May be.

TFT30のゲートに走査線3aが電気的に接続されており、液晶装置1は、所定のタイミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、G2、・・・、Gmを、この順に線順次で印加するように構成されている。画素電極9aは、TFT30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけそのスイッチを閉じることにより、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、・・・、Snが所定のタイミングで書き込まれる。画素電極9aを介して電気光学物質の一例としての液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、・・・、Snは、対向基板に形成された対向電極との間で一定期間保持される。   The scanning line 3a is electrically connected to the gate of the TFT 30, and the liquid crystal device 1 sequentially applies the scanning signals G1, G2,..., Gm to the scanning line 3a in a pulse sequence in this order at a predetermined timing. It is comprised so that it may apply. The pixel electrode 9a is electrically connected to the drain of the TFT 30, and the image signal S1, S2,... Supplied from the data line 6a is closed by closing the switch of the TFT 30 serving as a switching element for a certain period. Sn is written at a predetermined timing. A predetermined level of image signals S1, S2,..., Sn written in the liquid crystal as an example of the electro-optical material via the pixel electrode 9a is held for a certain period with the counter electrode formed on the counter substrate. The

液晶層50に含まれる液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。ノーマリーホワイトモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が増加され、全体として液晶装置1からは画像信号に応じたコントラストをもつ光が出射される。蓄積容量70は、画像信号がリークすることを防ぐために、一方の容量電極が固定電位線300に電気的に接続されていると共に、他方の容量電極が画素電極9aに電気的に接続されている。このような蓄積容量70は、画素電極9aと対向電極との間に形成される液晶容量と並列に付加されている。   The liquid crystal contained in the liquid crystal layer 50 modulates light and enables gradation display by changing the orientation and order of the molecular assembly depending on the applied voltage level. In the normally white mode, the transmittance for incident light is reduced according to the voltage applied in units of each pixel, and in the normally black mode, the light is incident according to the voltage applied in units of each pixel. The transmittance with respect to light is increased, and light having a contrast corresponding to an image signal is emitted from the liquid crystal device 1 as a whole. In the storage capacitor 70, one capacitor electrode is electrically connected to the fixed potential line 300 and the other capacitor electrode is electrically connected to the pixel electrode 9a in order to prevent the image signal from leaking. . Such a storage capacitor 70 is added in parallel with a liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 9a and the counter electrode.

<1−3:画素部の具体的な構成>
図4及び図5を参照しながら、画素部72の具体的な構成を説明する。図4は、画像表示領域10aの一部の構成を示した平面図である。図5は、図4のV−V´断面図である。尚、図4には、遮光膜25の上層側と、半導体層1aの下層側との夫々の側に設けられた液晶装置1の構成要素の図示を説明の便宜上省略したうえで、相互に隣り合う4つの画素部を示している。
<1-3: Specific Configuration of Pixel Unit>
A specific configuration of the pixel unit 72 will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG. 4 is a plan view showing a partial configuration of the image display area 10a. 5 is a cross-sectional view taken along the line VV ′ of FIG. In FIG. 4, the components of the liquid crystal device 1 provided on the upper layer side of the light shielding film 25 and the lower layer side of the semiconductor layer 1a are not shown for convenience of explanation, and are adjacent to each other. Four matching pixel parts are shown.

図4に示すように、液晶装置1のTFTアレイ基板10上には、X方向及びY方向の夫々に沿ってマトリクス状に複数の透明な画素電極9a(点線部9a´により輪郭が示されている)が設けられており、画素電極9aの縦横の境界に各々沿ってデータ線(不図示)及び走査線3aが設けられている。TFTアレイ基板10上の画像表示領域10aのうち縦横に延びるデータ線及び走査線3a等の不透明な配線、並びに、本発明の「遮光膜」の一例である遮光膜25が形成された領域は、画像表示領域10aのうち実質的に光が透過しない非開口領域である。また、画素領域のうち画像表示に寄与する光が透過可能な領域が開口領域である。画素スイッチング用のTFT30は、走査線3aと、遮光膜25に重なるデータ線とが相互に交差する領域の夫々に設けられている。   As shown in FIG. 4, on the TFT array substrate 10 of the liquid crystal device 1, a plurality of transparent pixel electrodes 9a (contours are indicated by dotted line portions 9a ′) in a matrix along each of the X direction and the Y direction. And data lines (not shown) and scanning lines 3a are provided along the vertical and horizontal boundaries of the pixel electrode 9a. Of the image display area 10a on the TFT array substrate 10, the area where the opaque lines such as the data lines and the scanning lines 3a extending vertically and horizontally, and the light shielding film 25 as an example of the “light shielding film” of the present invention are formed, This is a non-opening area in which light is not substantially transmitted in the image display area 10a. In addition, an area in which light contributing to image display can be transmitted among the pixel area is an opening area. The pixel switching TFT 30 is provided in each of the regions where the scanning line 3a and the data line overlapping the light shielding film 25 intersect each other.

走査線3aのうち、半導体層1aの一部であり、且つ図4中右上がりの斜線領域で示したチャネル領域1cに対向するように重なる部分が、TFT30のゲート電極3a2である。ゲート電極3a2は、金属膜等の導電膜をパターニングすることによって形成されている。   Of the scanning line 3a, a portion that is a part of the semiconductor layer 1a and overlaps with the channel region 1c indicated by the hatched region rising to the right in FIG. 4 is the gate electrode 3a2 of the TFT 30. The gate electrode 3a2 is formed by patterning a conductive film such as a metal film.

TFT30は、チャネル長方向であるY方向に沿って延びる半導体層1aを備えている。半導体層1aが、本発明の「半導体層」の一例である。TFT30は、ゲート電極3a2と、走査線3aからの電界によりチャネルが形成される半導体層1a中のチャネル領域1cと、チャネル領域1cの両側に設けられたソース領域1s及びドレイン領域1dと、コンタクト部1f及び1gとを備えている。尚、TFT30は、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有していてもよい。LDD構造を有するTF30によれば、TFT30トランジスタの高速動作が可能となり、液晶装置1の表示性能を高めることが可能である。TFT30は、コンタクト部1fに電気的に接続されたコンタクトホール81を介してデータ線に電気的に接続されていると共に、コンタクト部1gに電気的に接続されたコンタクトホール83を介して画素電極9aに電気的に接続されている。したがって、TFT30によれば、TFT30による画素部のスイッチング制御によって画素電極9aへの画像信号の供給を確実に行うことが可能であり、画像信号に応じた高品位の画像を表示可能である。   The TFT 30 includes a semiconductor layer 1a extending along the Y direction that is the channel length direction. The semiconductor layer 1a is an example of the “semiconductor layer” in the present invention. The TFT 30 includes a gate electrode 3a2, a channel region 1c in the semiconductor layer 1a in which a channel is formed by an electric field from the scanning line 3a, a source region 1s and a drain region 1d provided on both sides of the channel region 1c, and a contact portion. 1f and 1g. The TFT 30 may have an LDD (Lightly Doped Drain) structure. According to the TF 30 having the LDD structure, the TFT 30 transistor can operate at high speed, and the display performance of the liquid crystal device 1 can be improved. The TFT 30 is electrically connected to the data line via a contact hole 81 electrically connected to the contact portion 1f, and the pixel electrode 9a via a contact hole 83 electrically connected to the contact portion 1g. Is electrically connected. Therefore, according to the TFT 30, it is possible to reliably supply the image signal to the pixel electrode 9a by switching control of the pixel portion by the TFT 30, and it is possible to display a high-quality image corresponding to the image signal.

図5に示すように、液晶装置1は、遮光膜11、層間膜41、半導体層1a、本発明の「凸部」の一例である凸部42aを含む層間膜42、本発明の「遮光膜」の一例である遮光膜25、及び、層間膜43を備えている。   As shown in FIG. 5, the liquid crystal device 1 includes a light shielding film 11, an interlayer film 41, a semiconductor layer 1a, an interlayer film 42 including a convex portion 42a which is an example of the “convex portion” of the present invention, and the “light shielding film of the present invention. The light shielding film 25 and the interlayer film 43 are provided as an example.

遮光膜11は、TFTアレイ基板10から図中上方に突出するように形成されている。遮光膜11は、半導体層1aの下側から半導体層1aに照射される光を遮光する。したがって、遮光膜11によれば、液晶装置1の動作時において、半導体層1aに発生する可能性がある光リーク電流を低減できる。層間膜41は、遮光膜11上に形成された絶縁膜である。   The light shielding film 11 is formed so as to protrude upward in the figure from the TFT array substrate 10. The light shielding film 11 shields light irradiated on the semiconductor layer 1a from the lower side of the semiconductor layer 1a. Therefore, according to the light shielding film 11, it is possible to reduce the light leakage current that may be generated in the semiconductor layer 1 a during the operation of the liquid crystal device 1. The interlayer film 41 is an insulating film formed on the light shielding film 11.

半導体層1aは、層間膜41上に形成されたポリシリコン膜等の半導体膜を所定の形状にパターニングすることによって形成されている。   The semiconductor layer 1a is formed by patterning a semiconductor film such as a polysilicon film formed on the interlayer film 41 into a predetermined shape.

凸部42aは、TFTアレイ基板10上において、半導体層1aを覆うように島状に形成されている。凸部42aは、半導体層1a上に形成された絶縁膜である層間膜42をエッチング等のパターニング法を用いて部分的に除去することによって形成されている。   The convex portion 42a is formed in an island shape on the TFT array substrate 10 so as to cover the semiconductor layer 1a. The convex portion 42a is formed by partially removing the interlayer film 42, which is an insulating film formed on the semiconductor layer 1a, using a patterning method such as etching.

遮光膜25は、凸部42aの上面及び側面の夫々に延びている。遮光膜25は、凸部42a及びその周辺まで延びるように大きいサイズの遮光膜が形成された後、凸部42aの上面及び側面に遮光膜25が残るように当該大きなサイズの遮光膜をパターニングすることによって形成されてもよいし、CVD法等の成膜を用いて凸部42aの上面及び側面に成膜されていてもよい。層間膜43は、遮光膜25上に形成されており、その上に画素電極9a及び配向膜16が順次形成されている。   The light shielding film 25 extends on each of the upper surface and the side surface of the convex portion 42a. The light shielding film 25 is formed by patterning the large size light shielding film so that the light shielding film 25 remains on the upper surface and the side surface of the convex portion 42a after a large size light shielding film is formed so as to extend to the convex portion 42a and its periphery. Alternatively, it may be formed on the upper surface and the side surface of the convex portion 42a using film formation such as CVD. The interlayer film 43 is formed on the light shielding film 25, and the pixel electrode 9a and the alignment film 16 are sequentially formed thereon.

したがって、本実施形態に係る液晶装置1によれば、半導体層1aが、3次元的に見てその上側及び側面側の夫々から遮光膜25によって覆われている。よって、本実施形態に係る液晶装置1によれば、液晶装置1の動作時において、TFTアレイ基板10上から半導体層1aの上面及び側面の夫々の側から当該半導体層1aに照射される光を遮光膜25によって確実に遮光できる。加えて、液晶装置1によれば、遮光膜25をTFTアレイ基板10の基板面に沿って平坦に形成する場合に比べて、平面的に見た遮光膜25の面積を減らしつつ、遮光性を高めることができる。より具体的には、画像表示領域10aを構成する複数の画素領域のうち相互に隣り合う画素領域の夫々の開口領域を隔てる非開口領域の幅W2(図4及び図5参照。)は、遮光膜25のサイズに対応しているため、遮光性を高めつつ、当該遮光膜25の平面的な面積、即ちサイズを小さくできることによって、画素領域における開口率を高めることが可能である。   Therefore, according to the liquid crystal device 1 according to the present embodiment, the semiconductor layer 1a is covered with the light shielding film 25 from the upper side and the side surface side in three dimensions. Therefore, according to the liquid crystal device 1 according to the present embodiment, during the operation of the liquid crystal device 1, the light irradiated on the semiconductor layer 1 a from the upper surface and the side surface of the semiconductor layer 1 a from the TFT array substrate 10 is irradiated. The light shielding film 25 can surely shield the light. In addition, according to the liquid crystal device 1, compared with the case where the light shielding film 25 is formed flat along the substrate surface of the TFT array substrate 10, the light shielding property is reduced while reducing the area of the light shielding film 25 in plan view. Can be increased. More specifically, the width W2 (see FIGS. 4 and 5) of the non-opening region that separates the open regions of the pixel regions adjacent to each other among the plurality of pixel regions constituting the image display region 10a is shielded from light. Since it corresponds to the size of the film 25, the aperture ratio in the pixel region can be increased by reducing the planar area, that is, the size of the light shielding film 25 while improving the light shielding property.

よって、本実施形態に係る液晶装置1によれば、遮光膜によって狭められる開口領域を極力狭めないようにすることができ、液晶装置1の表示性能を向上させることが可能であると共に、半導体層1aに対する遮光性を高めることによって光リーク電流を低減できる。   Therefore, according to the liquid crystal device 1 according to the present embodiment, it is possible to prevent the opening region narrowed by the light-shielding film from being narrowed as much as possible, to improve the display performance of the liquid crystal device 1, and to improve the semiconductor layer. The light leakage current can be reduced by improving the light shielding property against 1a.

また、図5に示すように、特に、液晶装置1では、半導体層1aの上面から遮光膜25までの距離T1は、半導体層1aの縁から凸部42aの側面までの距離W1より大きいため、液晶装置1の製造時において、半導体層1aを覆うように凸部42aの上面及び側面に遮光膜25を簡便に形成することが可能である。   Further, as shown in FIG. 5, in the liquid crystal device 1, in particular, the distance T1 from the upper surface of the semiconductor layer 1a to the light shielding film 25 is larger than the distance W1 from the edge of the semiconductor layer 1a to the side surface of the convex portion 42a. At the time of manufacturing the liquid crystal device 1, the light shielding film 25 can be easily formed on the upper surface and side surfaces of the convex portion 42a so as to cover the semiconductor layer 1a.

<2:液晶装置の製造方法>
次に、図6及び図7を参照しながら、液晶装置1を製造するための液晶装置の製造方法を説明する。図6及び図7は、本実施形態に係る液晶装置の製造方法の主要な工程を順に示した工程断面図である。
<2: Manufacturing method of liquid crystal device>
Next, a manufacturing method of a liquid crystal device for manufacturing the liquid crystal device 1 will be described with reference to FIGS. 6 and 7 are process cross-sectional views sequentially showing main processes of the method of manufacturing the liquid crystal device according to the present embodiment.

図6(a)に示すように、TFTアレイ基板10上の画像表示領域10aとなるべき領域に遮光膜11及び層間膜41を形成した後、その上に半導体層1aを形成する。   As shown in FIG. 6A, after the light shielding film 11 and the interlayer film 41 are formed in the region to be the image display region 10a on the TFT array substrate 10, the semiconductor layer 1a is formed thereon.

次に、図6(b)に示すように、半導体層1a上に層間膜42を形成する。次に、図7(c)に示すように、層間膜42を部分的に除去することによって、半導体層1aを覆うように島状に凸部42aを形成する。より具体的には、フォトリソグラフィ技術或いはエッチング法等の汎用のパターニング法を用いて層間膜42を部分的に除去し、凸部42aを形成する。この際、半導体層1aの上面から遮光膜25までの距離T1が、半導体層1aの縁から凸部42aの側面までの距離W1より大きくなるように、層間膜42を部分的に除去する。このように層間膜42を部分的に除去することによって、後の工程で凸部42aの上面及び側面の夫々に遮光膜25を形成する際に、半導体層1aを覆うような遮光膜25を簡便に形成できる。   Next, as shown in FIG. 6B, an interlayer film 42 is formed on the semiconductor layer 1a. Next, as shown in FIG. 7C, the interlayer film 42 is partially removed to form island-shaped protrusions 42a so as to cover the semiconductor layer 1a. More specifically, the interlayer film 42 is partially removed using a general-purpose patterning method such as a photolithography technique or an etching method to form the convex portion 42a. At this time, the interlayer film 42 is partially removed so that the distance T1 from the upper surface of the semiconductor layer 1a to the light shielding film 25 is larger than the distance W1 from the edge of the semiconductor layer 1a to the side surface of the convex portion 42a. By partially removing the interlayer film 42 in this way, the light shielding film 25 that covers the semiconductor layer 1a can be easily formed when the light shielding film 25 is formed on each of the upper surface and the side surface of the convex portion 42a in a later step. Can be formed.

次に、図7(d)に示すように、CVD法或いはスパッタリング法等の汎用の成膜法を用いて、凸部42aの上面及び側面の夫々に延びる遮光膜25を形成する。その後、遮光膜25の上層側に設けられる液晶装置1の構成要素を順次形成することによって、液晶装置1が製造される。   Next, as shown in FIG. 7D, the light shielding film 25 extending on the upper surface and the side surface of the convex portion 42a is formed by using a general-purpose film forming method such as a CVD method or a sputtering method. Thereafter, the liquid crystal device 1 is manufactured by sequentially forming the components of the liquid crystal device 1 provided on the upper layer side of the light shielding film 25.

このような液晶装置の製造方法によれば、遮光膜25によって狭められる開口領域を極力狭めないように遮光膜25を形成でき、表示性能が高められた液晶装置1を製造可能である。加えて、半導体層1aに対する遮光性を高めることによって光リーク電流が低減された液晶装置1を製造可能である。   According to such a method for manufacturing a liquid crystal device, the light shielding film 25 can be formed so as not to narrow the opening region narrowed by the light shielding film 25 as much as possible, and the liquid crystal device 1 with improved display performance can be manufactured. In addition, it is possible to manufacture the liquid crystal device 1 in which the light leakage current is reduced by improving the light shielding property with respect to the semiconductor layer 1a.

1・・・液晶装置、1c・・・チャネル領域、1s・・・ソース領域、1d・・・ドレイン領域、1f,1g・・・コンタクト部、3a2・・・ゲート電極、10・・・TFTアレイ基板、20・・・対向基板、11,25・・・遮光膜、30・・・TFT、41,43・・・層間膜、42a・・・凸部   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Liquid crystal device, 1c ... Channel region, 1s ... Source region, 1d ... Drain region, 1f, 1g ... Contact part, 3a2 ... Gate electrode, 10 ... TFT array Substrate, 20 ... counter substrate, 11, 25 ... light shielding film, 30 ... TFT, 41, 43 ... interlayer film, 42a ... convex part

Claims (6)

基板上の表示領域に形成された半導体層と、
前記半導体層を覆うように島状に形成された凸部と、
前記凸部の上面及び側面の夫々に延びる遮光膜と
を備えたことを特徴とする電気光学装置。
A semiconductor layer formed in a display region on the substrate;
A convex portion formed in an island shape so as to cover the semiconductor layer;
An electro-optical device comprising: a light-shielding film extending on each of an upper surface and a side surface of the convex portion.
前記半導体層の上面から前記遮光膜までの距離は、前記半導体層の縁から前記側面までの距離より大きいこと
を特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1, wherein a distance from an upper surface of the semiconductor layer to the light shielding film is larger than a distance from an edge of the semiconductor layer to the side surface.
前記半導体層は、前記表示領域を構成する複数の画素部の夫々をスイッチング制御するスイッチング用素子である薄膜トランジスタの一部を構成しており、前記薄膜トランジスタは、前記表示領域における開口領域を相互に隔てる非開口領域に形成されていること
を特徴とする請求項1又は2に記載の電気光学装置。
The semiconductor layer constitutes a part of a thin film transistor which is a switching element that controls switching of each of a plurality of pixel portions constituting the display region, and the thin film transistor separates an opening region in the display region from each other. The electro-optical device according to claim 1, wherein the electro-optical device is formed in a non-opening region.
基板上の表示領域に半導体層を形成する第1工程と、
前記半導体層を覆うように島状に凸部を形成する第2工程と、
前記凸部の上面及び側面の夫々に延びる遮光膜を形成する第3工程と
を備えたことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A first step of forming a semiconductor layer in a display region on a substrate;
A second step of forming a convex portion in an island shape so as to cover the semiconductor layer;
And a third step of forming a light-shielding film extending on each of an upper surface and a side surface of the convex portion.
前記第2工程は、前記半導体層上に層間膜を形成する第4工程と、前記層間膜を部分的に除去することによって、前記凸部を形成する第5工程と
を備えたことを特徴とする請求項4に記載の電気光学装置の製造方法。
The second step includes a fourth step of forming an interlayer film on the semiconductor layer, and a fifth step of forming the convex portion by partially removing the interlayer film. The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 4.
前記第5工程において、前記半導体層の上面から前記遮光膜までの距離が、前記半導体層の縁から前記側面までの距離より大きくなるように、前記層間膜を部分的に除去すること
を特徴とする請求項5に記載の電気光学装置の製造方法。
In the fifth step, the interlayer film is partially removed so that a distance from an upper surface of the semiconductor layer to the light shielding film is larger than a distance from an edge of the semiconductor layer to the side surface. The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 5.
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