JP2010101934A - Electro-optical device and method for manufacturing the same - Google Patents

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拓則 壹岐
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce a light leakage current in a semiconductor element such as a pixel switching element without increasing a proportion of a non-aperture area in an image display region of a liquid crystal device, for example. <P>SOLUTION: A first interlayer film (41) is formed on a second light-shielding film (11). The first interlayer film (41) has a first protruding part (41a) protruding upward from a TFT array substrate 10, corresponding to the shape of the second light-shielding film (11). The first interlayer film (41) is an insulating film as a base of a semiconductor layer (1a). Therefore, only by forming the first interlayer film (41) on the second light-shielding film (11), a part of the first interlayer film (41) overlapping the second light-shielding film (11) becomes the first protruding part 41a having a shape corresponding to the shape of the second light-shielding film (11). <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、例えば、液晶装置等の電気光学装置、及びその製造方法の技術分野に関する。   The present invention relates to a technical field of, for example, an electro-optical device such as a liquid crystal device and a manufacturing method thereof.

この種の電気光学装置の一例である液晶装置では、画素スイッチング用素子として各画素部に設けられたTFTを遮光する遮光膜が当該素子の上層側及び下層側に設けられる場合が多い(特許文献1参照。)。遮光膜は、TFT等の半導体素子が形成される基板上において実質的に光が透過可能な開口領域を隔て、且つ光を透過させない非開口領域に設けられており、画素スイッチング用素子に発生する光リーク電流を低減する。   In a liquid crystal device that is an example of this type of electro-optical device, a light shielding film that shields a TFT provided in each pixel portion as a pixel switching element is often provided on an upper layer side and a lower layer side of the element (Patent Literature). 1). The light-shielding film is provided in a non-opening region that does not transmit light and is provided in a non-opening region that does not transmit light on a substrate on which a semiconductor element such as a TFT is formed. Reduce optical leakage current.

特開2000−164875号公報JP 2000-164875 A

しかしながら、遮光膜によってTFTを遮光することを目的として当該遮光膜のサイズを大きくした場合、画像を表示する表示領域のうち非開口領域が占める割合が大きくなってしまい、液晶装置が画像を表示する表示性能を低下させてしまう問題点が生じる。   However, when the size of the light-shielding film is increased for the purpose of shielding the TFT by the light-shielding film, the proportion of the non-opening area in the display area for displaying the image increases, and the liquid crystal device displays the image. There arises a problem that the display performance is lowered.

よって、本発明は上記問題点等に鑑みてなされたものであり、例えば、表示領域のうち非開口領域が占める割合を増大させることなく、より好ましく非開口領域が占める割合を低減しつつ、画素スイッチング用素子等の半導体素子における光リーク電流を低減可能な電気光学装置、及びその製造方法を提供することを課題とする。   Therefore, the present invention has been made in view of the above problems and the like. For example, without increasing the ratio of the non-opening area in the display area, more preferably, while reducing the ratio of the non-opening area, the pixel It is an object of the present invention to provide an electro-optical device capable of reducing light leakage current in a semiconductor element such as a switching element, and a manufacturing method thereof.

本発明に係る電気光学装置は上記課題を解決するために、基板上の表示領域に形成されており、前記基板の上方に向かって突出した突出部と、前記突出部上に形成されており、前記突出部の形状に対応して前記上方に向かって突出した第1突状部を有する第1層間膜と、前記基板上の一方向に沿って前記突出部の幅以上の幅を有し、且つ前記第1突状部上において前記突出部に重なっており、前記基板上に設けられた他の導電部に電気的に接続された半導体層と、前記半導体層上に形成されており、前記第1突出部に対応して前記上方に向かって突出した第2突状部を有する第2層間膜と、前記第2突状部上に形成され、且つ前記第2突状部を覆う第1遮光膜とを備える。   In order to solve the above problems, an electro-optical device according to the present invention is formed in a display area on a substrate, and is formed on the protrusion and a protrusion protruding upward from the substrate. A first interlayer film having a first protruding portion protruding upward corresponding to the shape of the protruding portion, and having a width equal to or greater than the width of the protruding portion along one direction on the substrate; And a semiconductor layer overlying the projecting portion on the first projecting portion, electrically connected to another conductive portion provided on the substrate, and formed on the semiconductor layer, A second interlayer film having a second projecting portion projecting upward corresponding to the first projecting portion, and a first layer formed on the second projecting portion and covering the second projecting portion A light shielding film.

本発明に係る電気光学装置によれば、突出部は、例えば、基板上の表示領域に形成された下地膜から上方の突出するように、或いは基板からその上方に突出するように形成されている。   According to the electro-optical device of the present invention, the protruding portion is formed so as to protrude upward from the base film formed in the display area on the substrate, or to protrude upward from the substrate, for example. .

第1層間膜は、例えば、半導体層の下地になる絶縁膜であり、前記突出部上に形成されている。したがって、突出部上に第1層間膜を形成するだけで、第1層間膜のうち突出部に重なる部分が前記突出部の形状に対応して前記上方に向かって突出した第1突状部となる。   The first interlayer film is, for example, an insulating film serving as a base for the semiconductor layer, and is formed on the protruding portion. Therefore, only by forming the first interlayer film on the protruding portion, a portion of the first interlayer film that overlaps the protruding portion protrudes upward corresponding to the shape of the protruding portion. Become.

半導体層は、前記基板上の一方向に沿って前記突出部の幅以上の幅を有し、且つ前記第1突状部上において前記突出部に重なっており、前記基板上に設けられた配線部等の他の導電部に電気的に接続されている。   The semiconductor layer has a width equal to or greater than the width of the protruding portion along one direction on the substrate, and overlaps the protruding portion on the first protruding portion, and is provided on the substrate. It is electrically connected to other conductive parts such as parts.

第2層間膜は、前記半導体層上に形成されている。したがって、第2層間膜を半導体層上に形成するだけで、第2層間膜のうち第2突状部に重なる部分が前記第1突出部に対応して前記上方に向かって突出した第2突状部になる。   The second interlayer film is formed on the semiconductor layer. Therefore, only by forming the second interlayer film on the semiconductor layer, a portion of the second interlayer film that overlaps with the second protruding portion protrudes upward corresponding to the first protruding portion. It becomes the shape part.

第1遮光膜は、前記第2突状部上に形成され、且つ前記第2突状部を覆うように形成されている。したがって、第1遮光膜は、一方向に沿って半導体層の幅より広い第2突状部の表面に沿って延びており、3次元的に見て半導体層をその上側から覆うように半導体層の周辺まで延びている。   The first light shielding film is formed on the second projecting portion and is formed so as to cover the second projecting portion. Therefore, the first light-shielding film extends along the surface of the second protruding portion that is wider than the width of the semiconductor layer along one direction, and covers the semiconductor layer from the upper side when viewed three-dimensionally. It extends to the periphery of.

したがって、本発明に係る電気光学装置によれば、基板の上方から半導体層に向かって照射される光を第1遮光膜によって効率良く遮光できる。より具体的には、半導体層上に平坦な遮光膜を形成する場合に比べて、一方向に沿った幅が狭い第1遮光膜によって、半導体層上と、半導体層に対する斜め方向との夫々から半導体層に向かって照射される光を遮光できる。   Therefore, according to the electro-optical device of the present invention, the light irradiated from above the substrate toward the semiconductor layer can be efficiently shielded by the first light shielding film. More specifically, compared with the case where a flat light shielding film is formed on the semiconductor layer, the first light shielding film having a narrow width along one direction causes the semiconductor layer and the oblique direction with respect to the semiconductor layer. Light irradiated toward the semiconductor layer can be shielded.

よって、本発明に係る電気光学装置によれば、第1遮光膜によって狭められる開口領域を極力狭めないようにすることができ、電気光学装置の表示性能を向上させることが可能であると共に、半導体層に対する遮光性を高めることによって光リーク電流を低減できる。   Therefore, according to the electro-optical device according to the present invention, the opening region narrowed by the first light-shielding film can be prevented from being reduced as much as possible, the display performance of the electro-optical device can be improved, and the semiconductor The light leakage current can be reduced by improving the light shielding property to the layer.

本発明に係る電気光学装置の一の態様では、前記突出部は、前記半導体層の下側から前記半導体層に照射される光を遮光する第2遮光膜であってもよい。   In one aspect of the electro-optical device according to the aspect of the invention, the protruding portion may be a second light-shielding film that shields light applied to the semiconductor layer from below the semiconductor layer.

この態様によれば、基板の下側から半導体層に照射される光も遮光でき、光リーク電流の発生をより一層低減できる。   According to this aspect, light irradiated on the semiconductor layer from the lower side of the substrate can also be shielded, and generation of light leakage current can be further reduced.

本発明に係る電気光学装置の他の態様では、前記半導体層は、前記表示領域を構成する複数の画素部の夫々をスイッチング制御するスイッチング用素子である薄膜トランジスタの一部を構成しており、前記薄膜トランジスタは、前記表示領域における開口領域を相互に隔てる非開口領域に形成されていてもよい。   In another aspect of the electro-optical device according to the invention, the semiconductor layer constitutes a part of a thin film transistor that is a switching element that performs switching control of each of a plurality of pixel portions constituting the display region, The thin film transistor may be formed in a non-opening region that separates open regions in the display region.

この態様によれば、表示領域のうち開口領域が占める割合、即ち開口率を高めることができ、当該電気光学装置の表示性能を高めることが可能である。   According to this aspect, it is possible to increase the proportion of the display area occupied by the aperture area, that is, the aperture ratio, and to improve the display performance of the electro-optical device.

本発明に係る電気光学装置の製造方法は上記課題を解決するために、基板の上方に向かって突出した突出部を前記基板上の表示領域に形成する工程と、前記突出部の形状に対応して前記上方に向かって突出した第1突状部を有する第1層間膜を前記突出部上に形成する工程と、前記基板上の一方向に沿って前記突出部の幅以上の幅を有し、且つ前記第1突状部上において前記突出部に重なっており、前記基板上に設けられた他の導電部に電気的に接続された半導体層を、前記第1突状部上に形成する工程と、前記第1突出部に対応して前記上方に向かって突出した第2突状部を有する第2層間膜を前記半導体層上に形成する工程と、前記第2突状部を覆う第1遮光膜を前記第2突状部上に形成する工程とを備えている。   In order to solve the above-described problem, a method of manufacturing an electro-optical device according to the present invention corresponds to a step of forming a protruding portion protruding upward on a substrate in a display area on the substrate, and a shape of the protruding portion. And forming a first interlayer film having a first protrusion protruding upward on the protrusion, and having a width equal to or greater than the width of the protrusion along one direction on the substrate. And a semiconductor layer which overlaps with the protrusion on the first protrusion and is electrically connected to another conductive portion provided on the substrate is formed on the first protrusion. Forming a second interlayer film on the semiconductor layer having a second projecting portion projecting upward corresponding to the first projecting portion, and covering the second projecting portion. Forming a light shielding film on the second protrusion.

本発明に係る電気光学装置の製造方法によれば、上述の電気光学装置と同様に、第1遮光膜によって狭められる開口領域を極力狭めないようにすることができ、当該電気光学装置の表示性能を向上させることが可能であると共に、半導体層に対する遮光性を高めることによって光リーク電流を低減できる電気光学装置を製造可能である。   According to the method for manufacturing an electro-optical device according to the present invention, similarly to the above-described electro-optical device, the opening area narrowed by the first light-shielding film can be prevented from being reduced as much as possible, and the display performance of the electro-optical device can be reduced. In addition, it is possible to manufacture an electro-optical device that can reduce the light leakage current by improving the light shielding property with respect to the semiconductor layer.

本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施形態から明らかにされる。   Such an operation and other advantages of the present invention will become apparent from the embodiments described below.

以下、図面を参照しながら、本発明に係る電気光学装置、及びその製造方法を説明する。以下では、本発明に係る電気光学装置の一実施形態として、液晶装置を挙げる。   Hereinafter, an electro-optical device and a manufacturing method thereof according to the present invention will be described with reference to the drawings. Hereinafter, a liquid crystal device will be described as an embodiment of the electro-optical device according to the invention.

<1:液晶装置>
<1−1:液晶装置の全体構成>
先ず、図1及び図2を参照しながら、本実施形態に係る液晶装置1の全体構成を説明する。図1は、TFTアレイ基板をその上に形成された各構成要素と共に対向基板の側から見た液晶装置1の平面図であり、図2は、図1のII−II´断面図である。
<1: Liquid crystal device>
<1-1: Overall Configuration of Liquid Crystal Device>
First, the overall configuration of the liquid crystal device 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a plan view of the liquid crystal device 1 as seen from the counter substrate side together with the components formed on the TFT array substrate, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II ′ of FIG.

図1及び図2において、液晶装置1では、TFTアレイ基板10と対向基板20とが対向配置されている。TFTアレイ基板10と対向基板20との間に液晶層50が封入されており、TFTアレイ基板10と対向基板20とは、複数の画素部72(図3参照。)が設けられる表示領域たる画像表示領域10aの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材52により相互に接着されている。   1 and 2, in the liquid crystal device 1, a TFT array substrate 10 and a counter substrate 20 are disposed to face each other. A liquid crystal layer 50 is sealed between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20, and the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 are images that are display regions in which a plurality of pixel portions 72 (see FIG. 3) are provided. They are bonded to each other by a sealing material 52 provided in a sealing area located around the display area 10a.

シール材52は、両基板を貼り合わせるための、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいてTFTアレイ基板10上に塗布された後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたものである。シール材52中には、TFTアレイ基板10と対向基板20との間隔(基板間ギャップ)を所定値とするためのグラスファイバ或いはガラスビーズ等のギャップ材が散布されている。   The sealing material 52 is made of, for example, an ultraviolet curable resin, a thermosetting resin, or the like for bonding the two substrates, and is applied on the TFT array substrate 10 in the manufacturing process and then cured by ultraviolet irradiation, heating, or the like. It is. In the sealing material 52, a gap material such as glass fiber or glass beads for dispersing the distance (inter-substrate gap) between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 to a predetermined value is dispersed.

シール材52が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域10aの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けられている。但し、このような額縁遮光膜53の一部又は全部は、TFTアレイ基板10側に内蔵遮光膜として設けられてもよい。尚、画像表示領域10aの周辺に位置する周辺領域が存在する。言い換えれば、本実施形態においては特に、TFTアレイ基板10の中心から見て、この額縁遮光膜53より以遠が周辺領域として規定されている。   A light-shielding frame light-shielding film 53 that defines the frame area of the image display area 10a is provided on the counter substrate 20 side in parallel with the inside of the seal area where the sealing material 52 is disposed. However, part or all of the frame light shielding film 53 may be provided as a built-in light shielding film on the TFT array substrate 10 side. There is a peripheral area located around the image display area 10a. In other words, particularly in the present embodiment, when viewed from the center of the TFT array substrate 10, the distance from the frame light shielding film 53 is defined as the peripheral region.

周辺領域のうち、シール材52が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、データ線駆動回路101及び外部回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿って設けられている。走査線駆動回路104は、この一辺に隣接する2辺に沿い、且つ、額縁遮光膜53に覆われるようにして設けられている。更に、このように画像表示領域10aの両側に設けられた二つの走査線駆動回路104間をつなぐため、TFTアレイ基板10の残る一辺に沿い、且つ、額縁遮光膜53に覆われるようにして複数の配線105が設けられている。   A data line driving circuit 101 and an external circuit connection terminal 102 are provided along one side of the TFT array substrate 10 in a region located outside the sealing region in which the sealing material 52 is disposed in the peripheral region. The scanning line driving circuit 104 is provided along two sides adjacent to the one side so as to be covered with the frame light shielding film 53. Further, in order to connect the two scanning line driving circuits 104 provided on both sides of the image display area 10 a in this way, a plurality of the pixel lines are covered along the remaining side of the TFT array substrate 10 and covered with the frame light shielding film 53. Wiring 105 is provided.

対向基板20の4つのコーナー部には、両基板間の上下導通端子として機能する上下導通材106が配置されている。他方、TFTアレイ基板10にはこれらのコーナー部に対向する領域において上下導通端子が設けられている。これらにより、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的な導通をとることができる。   Vertical conductive members 106 functioning as vertical conductive terminals between the two substrates are disposed at the four corners of the counter substrate 20. On the other hand, the TFT array substrate 10 is provided with vertical conduction terminals in a region facing these corner portions. Thus, electrical conduction can be established between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20.

図2において、TFTアレイ基板10上には、画素スイッチング用のTFTや走査線、データ線等の配線が形成された後の画素電極9a上に、配向膜が形成されている。他方、対向基板20上には、対向電極21の他、格子状又はストライプ状の遮光膜23、更には最上層部分に配向膜が形成されている。液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。   In FIG. 2, on the TFT array substrate 10, an alignment film is formed on the pixel electrode 9a after the pixel switching TFT, the scanning line, the data line and the like are formed. On the other hand, on the counter substrate 20, in addition to the counter electrode 21, a lattice-shaped or striped light-shielding film 23 and an alignment film are formed on the uppermost layer portion. The liquid crystal layer 50 is made of, for example, a liquid crystal in which one or several types of nematic liquid crystals are mixed, and takes a predetermined alignment state between the pair of alignment films.

尚、図1及び図2に示したTFTアレイ基板10上には、これらのデータ線駆動回路101、走査線駆動回路104等の駆動回路に加えて、画像信号線上の画像信号をサンプリングしてデータ線に供給するサンプリング回路、複数のデータ線に所定電圧レベルのプリチャージ信号を画像信号に先行して各々供給するプリチャージ回路、製造途中や出荷時の当該電気光学装置の品質、欠陥等を検査するための検査回路等を形成してもよい。   1 and 2, on the TFT array substrate 10, in addition to the drive circuits such as the data line drive circuit 101 and the scanning line drive circuit 104, the image signal on the image signal line is sampled to obtain data. Sampling circuit that supplies lines, precharge circuit that supplies pre-charge signals of a predetermined voltage level to multiple data lines in advance of image signals, inspection of quality, defects, etc. of the electro-optical device during production or shipment An inspection circuit or the like may be formed.

<1−2:液晶装置の電気的な構成>
次に、図3を参照しながら、液晶装置1の電気的な構成を説明する。図3は、液晶装置1の画像表示領域10aを構成するマトリクス状に形成された複数の画素部における各種素子、配線等の等価回路である。
<1-2: Electrical configuration of liquid crystal device>
Next, the electrical configuration of the liquid crystal device 1 will be described with reference to FIG. FIG. 3 is an equivalent circuit of various elements, wirings, and the like in a plurality of pixel portions formed in a matrix that forms the image display region 10 a of the liquid crystal device 1.

図3において、液晶装置1の画像表示領域10aを構成するマトリクス状に配列された複数の画素領域の夫々には、画素電極9a、及び、TFT30が形成されている。TFT30は、画素電極9aに電気的に接続されており、液晶装置1の動作時にITO等の透明導電膜で構成された画素電極9aをスイッチング制御する画素スイッチング用素子である。画像信号が供給されるデータ線6aは、TFT30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画像信号S1、S2、・・・、Snは、この順に線順次に供給しても構わないし、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。   In FIG. 3, a pixel electrode 9 a and a TFT 30 are formed in each of a plurality of pixel regions arranged in a matrix that forms the image display region 10 a of the liquid crystal device 1. The TFT 30 is a pixel switching element that is electrically connected to the pixel electrode 9 a and performs switching control of the pixel electrode 9 a made of a transparent conductive film such as ITO during the operation of the liquid crystal device 1. The data line 6a to which the image signal is supplied is electrically connected to the source of the TFT 30. The image signals S1, S2,..., Sn to be written to the data lines 6a may be supplied line-sequentially in this order, or may be supplied for each group to a plurality of adjacent data lines 6a. May be.

TFT30のゲートに走査線3aが電気的に接続されており、液晶装置1は、所定のタイミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、G2、・・・、Gmを、この順に線順次で印加するように構成されている。画素電極9aは、TFT30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけそのスイッチを閉じることにより、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、・・・、Snが所定のタイミングで書き込まれる。画素電極9aを介して電気光学物質の一例としての液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、・・・、Snは、対向基板に形成された対向電極との間で一定期間保持される。   The scanning line 3a is electrically connected to the gate of the TFT 30, and the liquid crystal device 1 sequentially applies the scanning signals G1, G2,..., Gm to the scanning line 3a in a pulse sequence in this order at a predetermined timing. It is comprised so that it may apply. The pixel electrode 9a is electrically connected to the drain of the TFT 30, and the image signal S1, S2,... Supplied from the data line 6a is closed by closing the switch of the TFT 30 serving as a switching element for a certain period. Sn is written at a predetermined timing. A predetermined level of image signals S1, S2,..., Sn written in the liquid crystal as an example of the electro-optical material via the pixel electrode 9a is held for a certain period with the counter electrode formed on the counter substrate. The

液晶層50に含まれる液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。ノーマリーホワイトモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が増加され、全体として液晶装置1からは画像信号に応じたコントラストをもつ光が出射される。蓄積容量70は、画像信号がリークすることを防ぐために、一方の容量電極が固定電位線300に電気的に接続されていると共に、他方の容量電極が画素電極9aに電気的に接続されている。このような蓄積容量70は、画素電極9aと対向電極との間に形成される液晶容量と並列に付加されている。   The liquid crystal contained in the liquid crystal layer 50 modulates light and enables gradation display by changing the orientation and order of the molecular assembly depending on the applied voltage level. In the normally white mode, the transmittance for incident light is reduced according to the voltage applied in units of each pixel, and in the normally black mode, the light is incident according to the voltage applied in units of each pixel. The transmittance with respect to light is increased, and light having a contrast corresponding to an image signal is emitted from the liquid crystal device 1 as a whole. In the storage capacitor 70, one capacitor electrode is electrically connected to the fixed potential line 300 and the other capacitor electrode is electrically connected to the pixel electrode 9a in order to prevent the image signal from leaking. . Such a storage capacitor 70 is added in parallel with a liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 9a and the counter electrode.

<1−3:画素部の具体的な構成>
図4及び図5を参照しながら、画素部72の具体的な構成を説明する。図4は、画像表示領域10aの一部の構成を示した平面図である。図5は、図4のV−V´断面図である。尚、図4には、遮光膜25の上層側と、半導体層1aの下層側との夫々の側に設けられた液晶装置1の構成要素の図示を説明の便宜上省略したうえで、相互に隣り合う4つの画素部を示している。
<1-3: Specific Configuration of Pixel Unit>
A specific configuration of the pixel unit 72 will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG. 4 is a plan view showing a partial configuration of the image display area 10a. 5 is a cross-sectional view taken along the line VV ′ of FIG. In FIG. 4, the components of the liquid crystal device 1 provided on the upper layer side of the light shielding film 25 and the lower layer side of the semiconductor layer 1a are not shown for convenience of explanation, and are adjacent to each other. Four matching pixel parts are shown.

図4に示すように、液晶装置1のTFTアレイ基板10上には、X方向及びY方向の夫々に沿ってマトリクス状に複数の透明な画素電極9a(点線部9a´により輪郭が示されている)が設けられており、画素電極9aの縦横の境界に各々沿ってデータ線(不図示)及び走査線3aが設けられている。TFTアレイ基板10上の画像表示領域10aのうち縦横に延びるデータ線及び走査線3a等の不透明な配線、並びに、第1遮光膜25が形成された領域は、画像表示領域10aのうち実質的に光が透過しない非開口領域である。また、画素領域のうち画像表示に寄与する光が透過可能な領域が開口領域である(図5参照。)。画素スイッチング用のTFT30は、走査線3aと、第1遮光膜25に重なるデータ線とが相互に交差する領域の夫々に設けられている。   As shown in FIG. 4, on the TFT array substrate 10 of the liquid crystal device 1, a plurality of transparent pixel electrodes 9a (contours are indicated by dotted line portions 9a ′) in a matrix along each of the X direction and the Y direction. And data lines (not shown) and scanning lines 3a are provided along the vertical and horizontal boundaries of the pixel electrode 9a. In the image display area 10a on the TFT array substrate 10, the data lines extending in the vertical and horizontal directions, the opaque wiring such as the scanning lines 3a, and the area where the first light shielding film 25 is formed are substantially in the image display area 10a. This is a non-opening region where light is not transmitted. In addition, an area where light contributing to image display can be transmitted in the pixel area is an opening area (see FIG. 5). The pixel switching TFT 30 is provided in each of the regions where the scanning line 3a and the data line overlapping the first light shielding film 25 intersect each other.

走査線3aのうち、半導体層1aの一部であり、且つ図4中右上がりの斜線領域で示したチャネル領域1cに対向するように重なる部分が、TFT30のゲート電極3a2である。ゲート電極3a2は、金属膜等の導電膜をパターニングすることによって形成されている。   Of the scanning line 3a, a portion that is a part of the semiconductor layer 1a and overlaps with the channel region 1c indicated by the hatched region rising to the right in FIG. 4 is the gate electrode 3a2 of the TFT 30. The gate electrode 3a2 is formed by patterning a conductive film such as a metal film.

TFT30は、チャネル長方向であるY方向に沿って延びる半導体層1aを備えている。半導体層1aが、本発明の「半導体層」の一例である。半導体層1aは、ゲート電極3a2と、走査線3aからの電界によりチャネルが形成される半導体層1a中のチャネル領域1cと、チャネル領域1cの両側に設けられたソース領域1s及びドレイン領域1dと、コンタクト部1f及び1gとを備えている。尚、TFT30は、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有していてもよい。LDD構造を有するTF30によれば、TFT30トランジスタの高速動作が可能となり、液晶装置1の表示性能を高めることが可能である。TFT30は、コンタクト部1fに電気的に接続されたコンタクトホール81を介してデータ線に電気的に接続されていると共に、コンタクト部1gに電気的に接続されたコンタクトホール83を介して画素電極9aに電気的に接続されている。したがって、TFT30によれば、TFT30による画素部のスイッチング制御によって画素電極9aへの画像信号の供給を確実に行うことが可能であり、画像信号に応じた高品位の画像を表示可能である。   The TFT 30 includes a semiconductor layer 1a extending along the Y direction that is the channel length direction. The semiconductor layer 1a is an example of the “semiconductor layer” in the present invention. The semiconductor layer 1a includes a gate electrode 3a2, a channel region 1c in the semiconductor layer 1a in which a channel is formed by an electric field from the scanning line 3a, a source region 1s and a drain region 1d provided on both sides of the channel region 1c, Contact portions 1f and 1g are provided. The TFT 30 may have an LDD (Lightly Doped Drain) structure. According to the TF 30 having the LDD structure, the TFT 30 transistor can operate at high speed, and the display performance of the liquid crystal device 1 can be improved. The TFT 30 is electrically connected to the data line via a contact hole 81 electrically connected to the contact portion 1f, and the pixel electrode 9a via a contact hole 83 electrically connected to the contact portion 1g. Is electrically connected. Therefore, according to the TFT 30, it is possible to reliably supply the image signal to the pixel electrode 9a by switching control of the pixel portion by the TFT 30, and it is possible to display a high-quality image corresponding to the image signal.

図5に示すように、液晶装置1は、本発明の「突出部」の一例である第2遮光膜11、第1層間膜41、半導体層1a、第2層間膜42、及び遮光膜25を備えている。   As shown in FIG. 5, the liquid crystal device 1 includes the second light shielding film 11, the first interlayer film 41, the semiconductor layer 1 a, the second interlayer film 42, and the light shielding film 25, which are examples of the “projection” of the present invention. I have.

第2遮光膜11は、TFTアレイ基板10から図中上方に突出するように形成されている。このような第2遮光膜11は、半導体層1aの下側から半導体層1aに照射される光を遮光する。したがって、第2遮光膜11によれば、液晶装置1の動作時において、半導体層1aに発生する可能性がある光リーク電流を低減できる。   The second light shielding film 11 is formed so as to protrude upward in the figure from the TFT array substrate 10. Such a second light shielding film 11 shields light applied to the semiconductor layer 1a from below the semiconductor layer 1a. Therefore, according to the second light shielding film 11, it is possible to reduce the light leakage current that may be generated in the semiconductor layer 1 a during the operation of the liquid crystal device 1.

第1層間膜41は、第2遮光膜11上に形成されている。第1層間膜41は、第2遮光膜11の形状に対応して図中TFTアレイ基板10の上方に向かって突出した第1突状部41aを有している。このような第1層間膜41は、半導体層1aの下地になる絶縁膜である。したがって、第2遮光膜11上に第1層間膜41が形成されるだけで、第1層間膜41のうち第2遮光膜11に重なる部分が第2遮光膜11の形状に対応した形状を有する第1突状部41aになる。半導体層1aは、図中X方向に沿って第2遮光膜11の幅W1以上の幅W2を有し、且つ第1突状部41a上において第2遮光膜11に重なっている。   The first interlayer film 41 is formed on the second light shielding film 11. The first interlayer film 41 has a first protruding portion 41 a that protrudes upward from the TFT array substrate 10 in the drawing corresponding to the shape of the second light shielding film 11. Such a first interlayer film 41 is an insulating film serving as a base for the semiconductor layer 1a. Therefore, only the first interlayer film 41 is formed on the second light shielding film 11, and the portion of the first interlayer film 41 that overlaps the second light shielding film 11 has a shape corresponding to the shape of the second light shielding film 11. It becomes the 1st protrusion part 41a. The semiconductor layer 1a has a width W2 that is equal to or larger than the width W1 of the second light shielding film 11 along the X direction in the drawing, and overlaps the second light shielding film 11 on the first protrusion 41a.

第2層間膜42は、半導体層1a上に形成されており、第1突出部41aに対応してTFTアレイ基板10の上方に向かって突出した第2突状部42aを有している。したがって、第2層間膜42を半導体層1a上に形成するだけで、第2層間膜42のうち第1突状部41aに重なる部分が第1突出部41aに対応してTFTアレイ基板10の上方に向かって突出した第2突状部42aになる。ここで、半導体層1aの幅W2が、第2遮光膜11の幅W1以上の大きさであることから、第2突状部42aの表面は、3次元的に見て半導体層1aを覆うように形成されている。   The second interlayer film 42 is formed on the semiconductor layer 1a, and has a second protruding portion 42a that protrudes upward from the TFT array substrate 10 corresponding to the first protruding portion 41a. Therefore, only by forming the second interlayer film 42 on the semiconductor layer 1a, the portion of the second interlayer film 42 that overlaps the first protrusion 41a corresponds to the first protrusion 41a and is located above the TFT array substrate 10. It becomes the 2nd protrusion part 42a which protruded toward. Here, since the width W2 of the semiconductor layer 1a is greater than or equal to the width W1 of the second light shielding film 11, the surface of the second projecting portion 42a covers the semiconductor layer 1a in three dimensions. Is formed.

第1遮光膜25は、第2突状部42a上に形成され、且つ第2突状部42aを覆っている。即ち、第2突状部42aの表面が、3次元的に見て半導体層1aを覆うように半導体層1aの周辺まで延びている。第1遮光膜25は、第2突状部42aの表面に沿って幅W2より大きい幅W3を有している。第1遮光膜25上には、第3層間膜43、画素電極9a、及び配向膜16が形成されている。尚、配向膜16上の液晶層50等の構成要素の図示は省略されている。   The first light shielding film 25 is formed on the second protrusion 42a and covers the second protrusion 42a. That is, the surface of the second projecting portion 42a extends to the periphery of the semiconductor layer 1a so as to cover the semiconductor layer 1a in three dimensions. The first light shielding film 25 has a width W3 that is greater than the width W2 along the surface of the second protrusion 42a. On the first light shielding film 25, the third interlayer film 43, the pixel electrode 9a, and the alignment film 16 are formed. Note that illustration of components such as the liquid crystal layer 50 on the alignment film 16 is omitted.

したがって、液晶装置1によれば、TFTアレイ基板10の上方から半導体層1aに向かって照射される光を第1遮光膜25によって効率良く遮光できる。より具体的には、X方向に沿った平坦な遮光膜の幅より幅が狭い第1遮光膜25を設けても、第1遮光膜25は、当該平坦な遮光膜と同等或いはそれ以上の遮光性を有することになる。つまり、第1遮光膜25によれば、その幅を極力狭めた状態で、半導体層1a上と、半導体層1aに対する斜め方向との夫々から半導体層1aに向かって照射される光を遮光できる。   Therefore, according to the liquid crystal device 1, the light irradiated toward the semiconductor layer 1 a from above the TFT array substrate 10 can be efficiently shielded by the first light shielding film 25. More specifically, even if the first light shielding film 25 having a width smaller than the width of the flat light shielding film along the X direction is provided, the first light shielding film 25 is equal to or more than the flat light shielding film. Will have sex. That is, according to the first light shielding film 25, light irradiated toward the semiconductor layer 1a from each of the semiconductor layer 1a and the oblique direction with respect to the semiconductor layer 1a can be shielded with the width thereof reduced as much as possible.

よって、液晶装置1によれば、第1遮光膜25によって狭められる開口領域を極力狭めないようにすることができ、液晶装置1の表示性能を向上させることが可能である。より具体的には、画像表示領域10aのうち開口領域が占める割合、即ち開口率を高めることができ、当該電気光学装置の表示性能を高めることが可能である。加えて、液晶装置1によれば、半導体層1aに対する遮光性を高めることによって光リーク電流を低減できる。   Therefore, according to the liquid crystal device 1, the opening area narrowed by the first light shielding film 25 can be prevented from being narrowed as much as possible, and the display performance of the liquid crystal device 1 can be improved. More specifically, the ratio occupied by the aperture area in the image display area 10a, that is, the aperture ratio can be increased, and the display performance of the electro-optical device can be improved. In addition, according to the liquid crystal device 1, the light leakage current can be reduced by improving the light shielding property to the semiconductor layer 1a.

<2:液晶装置の製造方法>
次に、図6及び図7を参照しながら、液晶装置1を製造するための液晶装置の製造方法を説明する。図6及び図7は、本実施形態に係る液晶装置の製造方法の主要な工程を順に示した工程断面図である。
<2: Manufacturing method of liquid crystal device>
Next, a manufacturing method of a liquid crystal device for manufacturing the liquid crystal device 1 will be described with reference to FIGS. 6 and 7 are process cross-sectional views sequentially showing main processes of the method of manufacturing the liquid crystal device according to the present embodiment.

図6(a)に示すように、TFTアレイ基板10上の上方に向かって突出した第2遮光膜11をTFTアレイ基板10上の画像表示領域10aとなるべき領域に形成する。   As shown in FIG. 6A, the second light-shielding film 11 protruding upward on the TFT array substrate 10 is formed in a region to be the image display region 10a on the TFT array substrate 10.

次に、図6(b)に示すように、第2遮光膜11に重なるように第2層間膜41を形成する。この際、第2遮光膜11に重なるように第1層間膜41を形成することによって、第2遮光膜11の形状に対応してTFTアレイ基板10の上方に向かって突出した第1突状部41aが形成される。   Next, as shown in FIG. 6B, a second interlayer film 41 is formed so as to overlap the second light shielding film 11. At this time, by forming the first interlayer film 41 so as to overlap the second light shielding film 11, the first projecting portion projecting upward of the TFT array substrate 10 corresponding to the shape of the second light shielding film 11. 41a is formed.

次に、図6(c)に示すように、X方向に沿って第2遮光膜11の幅W1以上の幅W2を有し、且つ第1突状部41a上において第2遮光膜11に重なる半導体層1aを形成する。半導体層1aは、第1層間膜41上にポロシリコン膜などの半導体層を形成した後、当該半導体層をパターニングすることによって形成される。また、半導体層1a及びコンタクトホール81等との電気的な接続するためには、半導体層1a上に第2層間膜42を形成した後、当該層間膜を部分的に除去して穴部を形成し、その中に導電膜を形成すればよい。   Next, as shown in FIG. 6C, the second light shielding film 11 has a width W2 equal to or larger than the width W1 of the second light shielding film 11 along the X direction, and overlaps the second light shielding film 11 on the first protrusion 41a. The semiconductor layer 1a is formed. The semiconductor layer 1a is formed by forming a semiconductor layer such as a polysilicon film on the first interlayer film 41 and then patterning the semiconductor layer. In order to electrically connect the semiconductor layer 1a and the contact hole 81, etc., the second interlayer film 42 is formed on the semiconductor layer 1a, and then the interlayer film is partially removed to form a hole. Then, a conductive film may be formed therein.

次に、図7(d)に示すように、第2層間膜42を半導体層1a上に形成する。これにより、第1突出部41aに対応してTFTアレイ基板10の上方に向かって突出した第2突状部42aが形成される。   Next, as shown in FIG. 7D, a second interlayer film 42 is formed on the semiconductor layer 1a. As a result, a second protruding portion 42a that protrudes upward from the TFT array substrate 10 corresponding to the first protruding portion 41a is formed.

次に、図7(e)に示すように、第2突状部42aを覆うように第1遮光膜25を第2突状部42a上に形成する。第1遮光膜25を形成する際には、遮光性を有する膜を第2層間膜42上に形成した後、当該膜をパターニングすることによって形成可能である。その後、第1遮光膜25上に形成すべき第3層間膜43等を順に形成した後、TFTアレイ基板10及び対向基板20間に液晶層50を挟持することによって液晶装置1が形成される。   Next, as shown in FIG. 7E, the first light-shielding film 25 is formed on the second protruding portion 42a so as to cover the second protruding portion 42a. The first light shielding film 25 can be formed by forming a light shielding film on the second interlayer film 42 and then patterning the film. Thereafter, the third interlayer film 43 and the like to be formed on the first light shielding film 25 are sequentially formed, and the liquid crystal device 1 is formed by sandwiching the liquid crystal layer 50 between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20.

したがって、本実施形態に係る液晶装置の製造方法によれば、上述の液晶装置1と同様に、第1遮光膜25によって狭められる開口領域を極力狭めないようにすることができ、当該液晶装置の表示性能を向上させることが可能であると共に、半導体層1aに対する遮光性を高めることによって光リーク電流を低減できる電気光学装置を製造可能である。   Therefore, according to the method for manufacturing the liquid crystal device according to the present embodiment, the opening region narrowed by the first light shielding film 25 can be minimized as much as the liquid crystal device 1 described above. It is possible to manufacture an electro-optical device capable of improving the display performance and reducing the light leakage current by improving the light shielding property with respect to the semiconductor layer 1a.

本実施形態に係る液晶装置の全体構成を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure of the liquid crystal device which concerns on this embodiment. 図1のII−II´断面図である。It is II-II 'sectional drawing of FIG. 本実施形態に係る液晶装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成された複数の画素部における各種素子、配線等の等価回路である。4 is an equivalent circuit of various elements, wirings, and the like in a plurality of pixel portions formed in a matrix that forms an image display region of the liquid crystal device according to the present embodiment. 本実施形態に係る液晶装置の画素部の平面図である。It is a top view of the pixel part of the liquid crystal device concerning this embodiment. 図4のV−V´断面図である。It is VV 'sectional drawing of FIG. 本実施形態に係る液晶装置の製造方法の主要な工程を順に示した工程平面図(その1)である。It is process top view (the 1) which showed in a turn the main processes of the manufacturing method of the liquid crystal device concerning this embodiment. 本実施形態に係る液晶装置の製造方法の主要な工程を順に示した工程平面図(その2)である。It is process top view (the 2) which showed the main process of the manufacturing method of the liquid crystal device concerning this embodiment in order.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・液晶装置、1c・・・チャネル領域、1s・・・ソース領域、1d・・・ドレイン領域、1f,1g・・・コンタクト部、3a2・・・ゲート電極、10・・・TFTアレイ基板、20・・・対向基板、11,25・・・遮光膜、30・・・TFT、41・・・第1層間膜、42・・・第2層間膜   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Liquid crystal device, 1c ... Channel region, 1s ... Source region, 1d ... Drain region, 1f, 1g ... Contact part, 3a2 ... Gate electrode, 10 ... TFT array Substrate, 20 ... counter substrate, 11, 25 ... light shielding film, 30 ... TFT, 41 ... first interlayer film, 42 ... second interlayer film

Claims (4)

基板上の表示領域に形成されており、前記基板の上方に向かって突出した突出部と、
前記突出部上に形成されており、前記突出部の形状に対応して前記上方に向かって突出した第1突状部を有する第1層間膜と、
前記基板上の一方向に沿って前記突出部の幅以上の幅を有し、且つ前記第1突状部上において前記突出部に重なっており、前記基板上に設けられた他の導電部に電気的に接続された半導体層と、
前記半導体層上に形成されており、前記第1突出部に対応して前記上方に向かって突出した第2突状部を有する第2層間膜と、
前記第2突状部上に形成され、且つ前記第2突状部を覆う第1遮光膜と
を備えたことを特徴とする電気光学装置。
Formed in a display area on the substrate, and a protruding portion protruding upward of the substrate;
A first interlayer film formed on the projecting portion and having a first projecting portion projecting upward corresponding to the shape of the projecting portion;
It has a width equal to or larger than the width of the protruding portion along one direction on the substrate, and overlaps the protruding portion on the first protruding portion, and is connected to another conductive portion provided on the substrate Electrically connected semiconductor layers;
A second interlayer film formed on the semiconductor layer and having a second projecting portion projecting upward corresponding to the first projecting portion;
An electro-optical device comprising: a first light-shielding film formed on the second projecting portion and covering the second projecting portion.
前記突出部は、前記半導体層の下側から前記半導体層に照射される光を遮光する第2遮光膜であること
を特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1, wherein the protruding portion is a second light shielding film that shields light applied to the semiconductor layer from below the semiconductor layer.
前記半導体層は、前記表示領域を構成する複数の画素部の夫々をスイッチング制御するスイッチング用素子である薄膜トランジスタの一部を構成しており、
前記薄膜トランジスタは、前記表示領域における開口領域を相互に隔てる非開口領域に形成されていること
を特徴とする請求項1又は2に記載の電気光学装置。
The semiconductor layer constitutes a part of a thin film transistor that is a switching element that controls switching of each of a plurality of pixel portions constituting the display region,
The electro-optical device according to claim 1, wherein the thin film transistor is formed in a non-opening region that separates open regions in the display region.
基板の上方に向かって突出した突出部を前記基板上の表示領域に形成する工程と、
前記突出部の形状に対応して前記上方に向かって突出した第1突状部を有する第1層間膜を前記突出部上に形成する工程と、
前記基板上の一方向に沿って前記突出部の幅以上の幅を有し、且つ前記第1突状部上において前記突出部に重なっており、前記基板上に設けられた他の導電部に電気的に接続された半導体層を、前記第1突状部上に形成する工程と、
前記第1突出部に対応して前記上方に向かって突出した第2突状部を有する第2層間膜を前記半導体層上に形成する工程と、
前記第2突状部を覆う第1遮光膜を前記第2突状部上に形成する工程と
を備えたことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
Forming a protrusion protruding upward from the substrate in a display area on the substrate;
Forming a first interlayer film on the protruding portion having a first protruding portion protruding upward corresponding to the shape of the protruding portion;
It has a width equal to or greater than the width of the protruding portion along one direction on the substrate, and overlaps the protruding portion on the first protruding portion, and other conductive portions provided on the substrate Forming an electrically connected semiconductor layer on the first protrusion;
Forming a second interlayer film on the semiconductor layer having a second projecting portion projecting upward corresponding to the first projecting portion;
And a step of forming a first light-shielding film covering the second projecting portion on the second projecting portion.
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