JP2010122120A - 角鋼用超音波探傷設備 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被探傷部材である角鋼の挿入空間を挟んで対向配置された複数の超音波探触子を備え、角鋼の搬送ライン上の探傷位置と搬送ライン外の校正位置とを相互に移行可能な超音波探傷装置と、内部に人工欠陥が形成され、断面が角形で長尺な校正用試験片の一端部を支持し、前記校正位置にある超音波探傷装置の前記超音波探触子間に、前記校正用試験片を挿通することが可能な校正用試験片支持装置とで構成する。
【選択図】図1
Description
イ.搬送設備の磨耗等によるパスライン変動が起きた場合、超音波探触子の校正用試験片に接触する位置が変化し、超音波探触子の照射範囲も変化するため、安定した校正結果が得られない。
ロ.同じ校正試験片を長く使用してパスライン上での搬送を繰り返すと、搬送ロールとの接触等により校正用試験片に傷が付くことがあり、校正精度が低下するようになる。
そこで、本発明は、そのような問題がなく、オフライン位置で迅速に校正試験が実施できる角鋼用超音波探傷設備を提供することを課題とする。
(2)前記校正用試験片には、該試験片の各表面の近傍を該表面に平行に貫通する人工欠陥及び中心部を2方向から貫通する人工欠陥が形成されていることを特徴とする上記(1)に記載の角鋼用超音波探傷設備。
図1〜3に、本発明の一実施の形態に係る角鋼の超音波探傷設備を概略的に示す。この角鋼の探傷設備は、角鋼10の搬送ライン上の探傷位置Aと搬送ライン外の校正位置Bとをb方向に相互に移行可能な超音波探傷装置1と、前記校正位置に対向して配置され、校正用試験片2を支持するとともにC方向に移動して、校正位置にある超音波探傷装置1の超音波探触子間に該試験片を挿通して校正試験を実施するための試験片支持装置3とを備えている。
超音波探傷では、超音波の入射位置により探傷範囲が変化するため、従来のオンライン校正方式では校正が安定しない。
また、支持部9では、チャック機構によって校正用試験片2を支持するようにして、校正用試験片2の交換が可能な構造としている。
校正用試験片2の一端部は、試験片支持装置3のチャックによって把持される把持部となるため、人工欠陥は、この試験片の他端部から長手方向中心部に向かって形成されている。
2 校正用試験片
3 校正用試験片支持装置
4 鞍型サドル
5 超音波探触子
6 鞍型サドル支持用のシリンダ
7 超音波探傷装置のフレーム
8 超音波探触子の探傷範囲
9 校正用試験片の支持部材
10 被検査材である角鋼
A 超音波探傷位置
B 校正試験位置
p〜u 校正用試験片に形成された人工欠陥
Claims (2)
- 被探傷部材である角鋼の挿入空間を挟んで対向配置された複数の超音波探触子を備え、角鋼の搬送ライン上の探傷位置と搬送ライン外の校正位置とを相互に移行可能な超音波探傷装置と、
内部に人工欠陥が形成され、断面が角形で長尺な校正用試験片の一端部を支持し、前記校正位置にある超音波探傷装置の前記超音波探触子間に、前記校正用試験片を挿通することが可能な校正用試験片支持装置と
を備えることを特徴とする角鋼用超音波探傷設備。 - 前記校正用試験片には、該試験片の各表面の近傍を該表面に平行に貫通する人工欠陥及び中心部を2方向から貫通する人工欠陥が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の角鋼用超音波探傷設備。
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