JP2010117772A5 - - Google Patents

Description

本発明の特徴量抽出装置の一つの態様は、画像からエッジを抽出するエッジ画像抽出部と、所定画素のエッジ方向と、前記所定画素の近隣領域に存在するエッジ画素のエッジ方向と、前記所定画素と前記近隣領域に存在するエッジ画素との空間位置関係と、の全ての組み合わせごとのエッジ画素の個数を、画像の特徴量として算出する特徴量算出部と、を具備する構成を採る。

本発明の特徴量抽出方法の一つの態様は、画像からエッジを抽出するエッジ抽出ステップと、所定画素のエッジ方向と、前記所定画素の近隣領域に存在するエッジ画素のエッジ方向と、前記所定画素の近隣領域に存在するエッジ画素との空間位置関係と、の全ての組み合わせごとのエッジ画素の個数を、画像の特徴量として算出する特徴量算出ステップと、を含む。

Claims (6)

1. 画像からエッジを抽出するエッジ画像抽出部と、
   所定画素のエッジ方向と、前記所定画素の近隣領域に存在するエッジ画素のエッジ方向と、前記所定画素と前記近隣領域に存在するエッジ画素との空間位置関係と、の全ての組み合わせごとのエッジ画素の個数を、画像の特徴量として算出する特徴量算出部と、
   を具備する特徴量抽出装置。
2. 前記空間位置関係は、前記近隣領域に存在するエッジ画素が、前記所定画素の近隣領域を複数の領域に分割してなる分割領域のうちのどの分割領域に存在するかである、
   請求項１に記載の特徴量抽出装置。
3. 画像からエッジを抽出するエッジ画像抽出部と
   前記画像の特徴量を、次の式（１）又は式（２）によって算出する特徴量算出部と、
   を具備する特徴量抽出装置。
   

   

   
   i,j：エッジ方向の番号，i=1,…,Ｎ_i , j=1,…,Ｎ _j
   Ｎ_i：エッジ方向の数
   k：エッジ画素の位置番号，k=1,…,Ｎ_k
   Ｎ_k：分割子領域の数
   

   

   
   i,j：エッジ方向の番号，i=1,…,Ｎ _i , j=1,…,Ｎ_j
   Ｎ_j：エッジ方向の数
   k：エッジ画素の位置番号，k=1,…,Ｎ_k
   Ｎ_k：分割子領域の数
   但し、式（１）及び式（２）において、Ｎ，Ｍは特徴量を算出する対象領域の縦方向及び横方向の画素数を示し、（ｘ，ｙ）は所定画素の座標を示し、Ｒ_ｋ（ｘ,ｙ）は画素（ｘ,ｙ）のｋ番目の近隣領域を示し、Ｅ_ｉ，Ｅ_ｊは、次の式（３）により定義されたものである。
   

   
4. 画像からエッジを抽出するエッジ画像抽出部と
   前記画像の特徴量を、次の式（４）によって算出する特徴量算出部と、
   を具備する特徴量抽出装置。
   

   

   但し、式（４）において、Ｎ，Ｍは特徴量を算出する対象領域の縦方向及び横方向の画素数を示し、（ｘ，ｙ）は所定画素の座標を示し、Ｒ_ｋ（ｘ,ｙ）は画素（ｘ,ｙ）のｋ番目の近隣領域を示し、Ｅ_ｉ，Ｅ_ｊは、次の式（５）により定義されたものである。
   

   
5. 請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の特徴量抽出装置と、
   前記特徴量抽出装置によって得られた複数の特徴量をそれぞれ入力し、入力した特徴量と予め学習によって獲得された識別関数とから推定値を出力する複数の弱識別器と、
   前記複数の弱識別器から出力された推定値を足し合わせる結合部と、
   足し合わされた推定値を閾値判定する判定部と、
   を具備する物体識別装置。
6. 画像からエッジを抽出するエッジ抽出ステップと、
   所定画素のエッジ方向と、前記所定画素の近隣領域に存在するエッジ画素のエッジ方向と、前記所定画素の近隣領域に存在するエッジ画素との空間位置関係と、の全ての組み合わせごとのエッジ画素の個数を、画像の特徴量として算出する特徴量算出ステップと、
   を含む特徴量抽出方法。