JP2010117576A - 集積回路装置、電気光学装置及び電子機器 - Google Patents

集積回路装置、電気光学装置及び電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】駆動対象を高速かつ安定に駆動でき、さらに静電耐量の高い集積回路装置、電気光学装置及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】集積回路装置は出力端子20に接続される駆動対象を駆動する駆動回路10と、駆動回路10の第1の出力ノードN1と出力端子20との間に設けられる第1の静電保護用抵抗素子30と、駆動回路10の第2の出力ノードN2と出力端子20との間に設けられ、その抵抗値が第1の静電保護用抵抗素子30より大きい第2の静電保護用抵抗素子31とを含み、駆動回路10は、駆動期間の前半期間では第1及び第2の静電保護用抵抗素子30、31を介して駆動対象を駆動し、駆動期間の後半期間では、第1の静電保護用抵抗素子30を介すことなく第2の静電保護用抵抗素子31を介して駆動対象を駆動する。
【選択図】図1

Description

本発明は、集積回路装置、電気光学装置及び電子機器等に関する。
近年ではハイビジョン映像等の高精細な映像技術が普及しており、それに伴って液晶プロジェクタ等の表示機器(電子機器)の高精細化、多階調化が進んでいる。高精細化によって液晶パネル(電気光学パネル)などのデータ線をより高速に駆動することが要求されている。また、多階調化によってより電圧精度の高い駆動が要求されている。
ところが、液晶パネル(電気光学パネル)などのデータ線には寄生的な容量、インダクタンス及び抵抗が存在するために、高速に駆動するとリンギング等による信号品質の劣化が生じてしまい、その結果、データ線を所望の階調電圧に設定することができないという課題があった。
この課題に対して例えば特許文献1には、データ線をオペアンプで駆動した後にDAC出力で駆動する手法が開示されている。また、例えば特許文献2には、駆動回路の出力抵抗を切り替えて発振を防止する手法が開示されている。これらの手法によれば、駆動回路の出力インピーダンスを変化させることによって、上記リンギング等を低減することができる。
しかしながら、これらの手法では静電保護用抵抗が1つのノードに見えるために、駆動回路の静電耐量の最も低い部分に静電気の電荷が集中してしまうという課題がある。また、特許文献2の手法では出力インピーダンス切り替えのための特別の抵抗素子を設ける必要があり、回路の占める面積が増大するという課題がある。
特開2001−188615号公報 特開2005−175812号公報
本発明の幾つかの態様によれば、駆動対象を高速かつ安定に駆動でき、さらに静電耐量の高い集積回路装置、電気光学装置及び電子機器等を提供できる。
本発明の一態様は、集積回路装置の出力端子に接続される駆動対象を駆動する駆動回路と、前記駆動回路の第1の出力ノードと前記出力端子との間に設けられる第1の静電保護用抵抗素子と、前記駆動回路の第2の出力ノードと前記出力端子との間に設けられ、その抵抗値が前記第1の静電保護用抵抗素子より大きい第2の静電保護用抵抗素子とを含み、前記駆動回路は、駆動期間の前半期間では、前記第1の静電保護用抵抗素子及び前記第2の静電保護用抵抗素子を介して前記駆動対象を駆動し、前記駆動期間の後半期間では、前記第1の静電保護用抵抗素子を介すことなく前記第2の静電保護用抵抗素子を介して前記駆動対象を駆動する集積回路装置に関係する。
本発明の一態様によれば、駆動期間の前半期間での出力インピーダンスよりも、駆動期間の後半期間での出力インピーダンスの方が大きくなる出力インピーダンス制御を実現できる。この出力インピーダンス制御により信号電圧の立ち上がり時及び立ち下がり時に生じるオーバーシュート、アンダーシュート及びリンギング等の信号品質の劣化を抑えることができる。さらに静電保護用抵抗素子を流用することによって、出力インピーダンス制御のための特別の抵抗素子を設ける必要がなくなり、回路の占める面積を縮小することができる。さらに集積回路装置の出力端子から見た電源へのインピーダンスを上記出力インピーダンスと同程度の値とすることができるために、静電耐量を高めることができる。
また本発明の一態様では、前記駆動回路は、駆動アンプと、前記駆動アンプの出力ノードと前記第1の出力ノードとの間に設けられた第1のスイッチ素子と、前記駆動アンプの出力ノードと前記第2の出力ノードとの間に設けられた第2のスイッチ素子とを含み、前記第1のスイッチ素子は前記駆動期間の前記前半期間ではオン状態であり、前記駆動期間の前記後半期間ではオフ状態であり、前記第2のスイッチ素子は前記駆動期間の前記前半期間及び前記後半期間を通じてオン状態であるとしてもよい。
このようにすれば、第1、第2のスイッチ素子のオン・オフ制御により、上述した出力インピーダンス制御を実現でき、信号品質の劣化等を防止できる。さらに、電気光学パネルのデータ線を駆動する場合には、例えばイコライズ期間及びプリチャージ期間では駆動アンプをデータ線から電気的に切り離すことができる。
また本発明の一態様では、前記駆動回路は、差動部と、前記差動部の出力がその入力に接続され、その出力が前記第1の出力ノードに出力される第1の出力部と、前記差動部の出力がその入力に接続され、その出力が前記第2の出力ノードに出力される第2の出力部とを含み、前記駆動期間の前記前半期間では、前記第1の出力部と前記第2の出力部が共に出力イネーブル状態に設定され、前記駆動期間の前記後半期間では、前記第1の出力部が出力ディスイネーブル状態に設定され、前記第2の出力部が出力イネーブル状態に設定されてもよい。
このようにすれば、出力インピーダンスを切り替えるためのスイッチ素子が不要になるため、回路の占める面積を縮小することができる。
また本発明の一態様では、前記第1の出力部は、そのドレインが前記第1の出力ノードに接続され、そのゲートに前記差動部の第1の差動出力ノードが接続される第1のN型トランジスタと、そのドレインが前記第1のN型トランジスタのソースに接続され、そのゲートに出力イネーブル信号が入力され、そのソースが低電位側電源に接続される第2のN型トランジスタと、そのドレインが前記第1の出力ノードに接続され、そのゲートに前記差動部の第2の差動出力ノードが接続される第1のP型トランジスタと、そのドレインが前記第1のP型トランジスタのソースに接続され、そのゲートに前記出力イネーブル信号の反転信号が入力され、そのソースが高電位側電源に接続される第2のP型トランジスタとを含み、前記第2の出力部は、そのドレインが前記第2の出力ノードに接続され、そのゲートに前記差動部の前記第1の差動出力ノードが接続され、そのソースが低電位側電源に接続される第3のN型トランジスタと、そのドレインが前記第2の出力ノードに接続され、そのゲートに前記差動部の前記第2の差動出力ノードが接続され、そのソースが高電位側電源に接続される第3のP型トランジスタとを含み、前記駆動期間の前記前半期間では、前記出力イネーブル信号が高電位レベルに設定され、前記駆動期間の前記後半期間では、前記出力イネーブル信号が低電位レベルに設定されてもよい。
このようにすれば、出力インピーダンスの切り替えに用いるトランジスタとしてゲート幅(チャネル幅)の小さいものを用いることが可能になるため、回路の占める面積を縮小することができる。
また本発明の一態様では、前記第1の静電保護用抵抗素子は、第1〜第N(Nは2以上の整数)の静電保護用抵抗ユニットのうちのi(iは1≦i<Nとなる整数)個の静電保護用抵抗ユニットにより構成され、前記第2の静電保護用抵抗素子は、前記第1〜前記第Nの静電保護用抵抗ユニットのうちの前記i個の静電保護用抵抗ユニットを除くN−i個の静電保護用抵抗ユニットにより構成され、前記集積回路装置の1辺と平行な方向を第1の方向とし、前記第1の方向に直交する方向を第2の方向とした場合に、前記第1〜前記第Nの静電保護用抵抗ユニットは、前記駆動回路の前記第1の方向に配置され、前記第1〜前記第Nの静電保護用抵抗ユニットのうちの第j+1(jは1≦j<Nとなる整数)の静電保護用抵抗ユニットは、前記第1〜前記第Nの静電保護用抵抗ユニットのうちの第jの静電保護用抵抗ユニットの前記第2の方向に配置されてもよい。
このようにすれば、複数の静電保護用抵抗ユニットのうちから任意に抵抗ユニットを組み合わせることにより、容易に所望の抵抗値を持つ2つの静電保護用抵抗素子を形成することができる。
また本発明の一態様では、前記第1〜前記第Nの静電保護用抵抗ユニットとして、第1、第2及び第3の抵抗ユニットが設けられ、前記第2の抵抗ユニットは前記第1の抵抗ユニットと前記第3の抵抗ユニットとの間に配置され、前記第1の静電保護用抵抗素子は前記第1及び前記第3の抵抗ユニットにより構成され、前記第2の静電保護用抵抗素子は前記第2の抵抗ユニットにより構成されてもよい。
このようにすれば、抵抗値が異なる2つの静電保護用抵抗素子を容易に形成することができる。さらに、より多くの熱の発生源となる抵抗ユニットを離して配置することができるから温度の上昇を抑えることができ、集積回路装置の静電耐量を高めることができる。
また本発明の一態様では、前記第1、第2及び第3の抵抗ユニットは不純物領域により形成され、集積回路装置の前記出力端子に接続される第1の金属線と、前記第1の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、前記駆動回路から最も近い位置に形成されるコンタクトを第1のコンタクトとし、前記第1の金属線と前記第2の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、前記駆動回路から最も近い位置に形成されるコンタクトを第2のコンタクトとし、前記第1の金属線と前記第3の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、前記駆動回路から最も近い位置に形成されるコンタクトを第3のコンタクトとした場合に、前記第1のコンタクト及び前記第3のコンタクトは前記第2のコンタクトよりも前記駆動回路に近い位置に形成され、前記駆動回路の前記第1の出力ノードに接続される第2の金属線と前記第1の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、前記駆動回路から最も遠い位置に形成されるコンタクトを第4のコンタクトとし、前記駆動回路の前記第2の出力ノードに接続される第3の金属線と前記第2の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、前記駆動回路から最も遠い位置に形成されるコンタクトを第5のコンタクトとし、前記第2の金属線と前記第3の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、前記駆動回路から最も遠い位置に形成されるコンタクトを第6のコンタクトとし、前記第1のコンタクトと前記第4のコンタクトとの距離をL1とし、前記第2のコンタクトと前記第5のコンタクトとの距離をL2とし、前記第3のコンタクトと前記第6のコンタクトとの距離をL3とした場合に、L1<L2及びL3<L2としてもよい。
このようにすれば、抵抗値が大きく異なる2つの静電保護用抵抗素子を、コンタクトの配置を変更するだけで容易に形成することができる。さらに、不純物領域と金属線とのコンタクト領域を広くすることにより、抵抗素子領域を流れる電流を減少させることができるから、集積回路装置の静電耐量を高めることができる。
また本発明の一態様では、前記駆動対象は電気光学パネルであってもよい。
このようにすれば、電気光学パネルに画像データ等を高速かつ安定に供給することができ、さらにデータ線駆動回路等の静電耐量を高めることができる。
また本発明の他の態様は、上記に記載された集積回路装置を含む電気光学装置及び電子機器等に関係する。
以下、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお以下に説明する本実施形態は特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。
1.基本的な構成例
図1に本実施形態の集積回路装置の基本的な構成例を示す。なお本実施形態の集積回路装置は図1の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素に置き換えたり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。
本構成例の集積回路装置は、駆動回路10と静電保護用の第1及び第2の静電保護用抵抗素子30、31を含む。駆動回路10は入力信号IAを受けて、出力信号を第1及び第2の出力ノードN1、N2に出力し、集積回路装置の出力端子20に接続される駆動対象を駆動する。第1の静電保護用抵抗素子30は駆動回路10の第1の出力ノードN1と出力端子20との間に設けられ、第2の静電保護用抵抗素子31は駆動回路10の第2の出力ノードN2と出力端子20との間に設けられる。第1の静電保護用抵抗素子30の抵抗値をR1とし、第2の静電保護用抵抗素子31の抵抗値をR2とした場合に、R1<R2に設定されている。
駆動回路10は、駆動期間の前半期間T1では第1の静電保護用抵抗素子30と第2の静電保護用抵抗素子31を介して駆動対象を駆動し、駆動期間の後半期間T2では、第1の静電保護用抵抗素子30を介すことなく第2の静電保護用抵抗素子31を介して駆動対象を駆動する。すなわち駆動回路10のそれ自身の出力インピーダンスをRDとした場合に、駆動期間の前半期間T1では第1及び第2の静電保護用抵抗素子30、31が並列に接続されることになるから、回路全体の出力インピーダンスはRD+(R1×R2)/(R1+R2)となる。ここでR1よりR2が十分大きい場合(例えばR1=50Ω、R2=1kΩ)には回路全体の出力インピーダンスはほぼRD+R1となる。一方、駆動期間の後半期間T2では例えば第2の静電保護用抵抗素子31のみが接続されるから、回路全体の出力インピーダンスはRD+R2となる。
ここで、駆動期間とは、駆動対象(例えばデータ線)を駆動することによって、駆動対象の電圧を所望電圧(例えば画像データに応じたデータ電圧)に設定するための期間であり、例えば駆動対象が電気光学パネル(データ線)である場合には、例えば1水平走査期間(1H期間)である。また1つの駆動回路(演算増幅器)が、例えば1水平走査期間においてR用、G用、B用のデータ線(画素)を時分割に駆動する場合には、R用、G用、B用の各駆動期間を、本実施形態の駆動期間とすることができる。
このように本実施形態の集積回路装置では、駆動期間の前半期間T1での出力インピーダンスをROUT1とし、駆動期間の後半期間T2での出力インピーダンスをROUT2とした場合に、ROUT1<ROUT2とする出力インピーダンス制御を行うことができる。
図2は本実施形態の集積回路装置を用いて上記の出力インピーダンス制御をした場合と、出力インピーダンス制御をしない場合について、駆動信号の信号波形の一例を示したものである。
図2においてV1は出力インピーダンス制御をしない場合の信号波形の一例を示す。この場合には駆動期間の前半期間T1と後半期間T2の両期間を通じて、出力インピーダンスは低い値であるから、図2のA1に示すように信号電圧の立ち上がりは急峻になる。出力端子20に接続される駆動対象(例えば電気光学パネル等)は寄生的な容量、インダクタンス及び抵抗を含んでいる。一般的にこのような寄生素子を含む駆動対象を急峻な立ち上がり又は立ち下がりをもつ信号で駆動すると、オーバーシュート、アンダーシュート及びリンギング等が発生し、信号品質の劣化を招くことが知られている。例えば図2のA2はオーバーシュートを示し、A3〜A6はリンギングを示す。このように出力インピーダンス制御をしない場合には、信号電圧が安定するまでに時間がかかり、また、ノイズの発生源にもなるなど回路の誤動作を生じさせるおそれがある。
図2においてV2は本実施形態の集積回路装置を用いて上記の出力インピーダンス制御をした場合の信号波形の一例を示す。上述したように駆動期間の前半期間T1では出力インピーダンスは低い値であり、後半期間T2では出力インピーダンスは高い値になる。このため前半期間T1では急峻に立ち上がるが、後半期間T2に入ると出力インピーダンスが高くなるためB1に示すように立ち上がりが緩やかになる。その結果、B2に示すようにオーバーシュートは低減され、B3〜B6に示すようにリンギングも抑えられている。
図2の信号波形例は信号電圧の立ち上がり時について示したものであるが、立ち下がり時についても上記の出力インピーダンス制御を行うことによりアンダーシュート及びリンギング等の信号品質の劣化を抑えることができる。
以上説明したように、図1の本実施形態の集積回路装置を用いることにより、信号品質を劣化させることなく駆動対象を駆動することができ、回路の安定な動作を得ることができる。
さらに本実施形態の集積回路装置では、上記の出力インピーダンス制御のために第1、第2の静電保護用抵抗素子30、31を用いている。一般的に集積回路装置においては、外部の静電気が入出力端子を介して充放電することによる静電破壊を防止するために、入出力端子に隣接して静電保護用抵抗素子を設けることが行われている。この静電保護用抵抗素子を上記の出力インピーダンス制御にも流用することによって、出力インピーダンス制御のための特別の抵抗素子を設ける必要がなくなり、回路の占める面積を縮小することができる。
さらに本実施形態の集積回路装置では、出力端子20から見た電源へのインピーダンスを上記出力インピーダンスと同程度の値とすることができるために、静電耐量を高めることができる。
2.第1の構成例
図3に本実施形態の集積回路装置の第1の構成例を示す。本構成例では駆動回路10は駆動アンプ40、第1のスイッチ素子SW1及び第2のスイッチ素子SW2を含む。第1のスイッチ素子SW1は駆動アンプ40の出力ノードN3と第1の出力ノードN1との間に設けられ、第2のスイッチ素子SW2は駆動アンプ40の出力ノードN3と第2の出力ノードN2との間に設けられる。SW1は駆動期間の前半期間T1ではオン状態であり、駆動期間の後半期間T2ではオフ状態である。SW2は駆動期間の前半期間T2及び後半期間T2を通じてオン状態である。
第1及び第2のスイッチ素子SW1、SW2は、例えば1個のN型トランジスタと1個のP型トランジスタを並列に接続したトランスファーゲート(トランスミッションゲート)で構成することができる。
図3の第1の構成例についても、図1の構成例と同様な出力インピーダンス制御を行うことによりオーバーシュート、アンダーシュート及びリンギング等の信号品質の劣化を抑えることができる。すなわち駆動アンプ40は、駆動期間の前半期間T1では第1の静電保護用抵抗素子30と第2の静電保護用抵抗素子31を介して駆動対象を駆動し、駆動期間の後半期間T2では第2の静電保護用抵抗素子31のみを介して駆動対象を駆動する。これによって、上述したように駆動期間の前半期間T1での出力インピーダンスをROUT1とし、駆動期間の後半期間T2での出力インピーダンスをROUT2とした場合に、ROUT1<ROUT2とする出力インピーダンス制御を行うことができる。
また、第1の構成例についても静電保護用抵抗素子を上記の出力インピーダンス制御に流用することによって、出力インピーダンス制御のための特別の抵抗素子を設ける必要がなくなり、回路の占める面積を縮小することができる。
さらに第1の構成例では、第1及び第2のスイッチ素子SW1、SW2を共にオフ状態とすることができる。例えば液晶パネル等のデータ線を駆動する場合には、各水平走査期間の始めにデータ線と対向電極を電気的に短絡して両者を等電位にする制御(イコライズ)及び各データ線をある一定の中間電位に設定する制御(プリチャージ)が行われている。これらの制御が行われる期間では駆動アンプ40をデータ線から電気的に切り離す必要があるが、第1の構成例ではSW1及びSW2を共にオフ状態とすることにより、これを実現することができる。
以上説明したように第1の構成例を用いることにより、信号品質を劣化させることなく駆動対象を駆動することができ、回路の安定な動作を得ることができる。また、静電保護用抵抗素子を出力インピーダンス制御に流用することによって、出力インピーダンス制御のための特別の抵抗素子を設ける必要がなくなり、回路の占める面積を縮小することができる。さらに、液晶パネル等のデータ線を駆動する場合には、イコライズ期間及びプリチャージ期間では駆動アンプをデータ線から電気的に切り離すことができる。
3.第2の構成例
図4に第2の構成例を示す。本構成例では、駆動回路10は差動部50と、第1の出力部51と、第2の出力部52とを含む。第1の出力部51は、差動部50の出力がその入力に接続され、その出力が第1の出力ノードN1に出力される。第2の出力部52は、差動部50の出力がその入力に接続され、その出力が第2の出力ノードN2に出力される。駆動期間の前半期間T1では、第1の出力部51と第2の出力部52が共に出力イネーブル状態に設定され、駆動期間の後半期間T2では、第1の出力部51が出力ディスイネーブル状態に設定され、第2の出力部52が出力イネーブル状態に設定される。
図4の第2の構成例についても、図1の構成例と同様な出力インピーダンス制御を行うことによりオーバーシュート、アンダーシュート及びリンギング等の信号品質の劣化を抑えることができる。すなわち駆動回路10は、駆動期間の前半期間T1では第1の静電保護用抵抗素子30と第2の静電保護用抵抗素子31を介して駆動対象を駆動し、駆動期間の後半期間T2では第2の静電保護用抵抗素子31のみを介して駆動対象を駆動する。これによって、上述したように駆動期間の前半期間T1での出力インピーダンスをROUT1とし、駆動期間の後半期間T2での出力インピーダンスをROUT2とした場合に、ROUT1<ROUT2とする出力インピーダンス制御を行うことができる。
また、第2の構成例についても静電保護用抵抗素子を上記の出力インピーダンス制御に流用することによって、出力インピーダンス制御のための特別の抵抗素子を設ける必要がなくなり、回路の占める面積を縮小することができる。
さらに第2の構成例では、出力インピーダンスを切り替えるためのスイッチ素子が不要になるという利点がある。上述した図3の第1の構成例では、出力インピーダンスを切り替えるために2個のスイッチ素子SW1、SW2を設けている。このスイッチ素子を構成するトランジスタはオン抵抗(オン状態での抵抗)を小さくしなければならない。オン抵抗が大きければ、出力インピーダンスはほぼスイッチ素子のオン抵抗で決まってしまう。この場合では、スイッチ素子を切り替えても出力インピーダンスはほとんど変化しないからである。
スイッチ素子を構成するトランジスタのオン抵抗を小さくするためには、このトランジスタのゲート幅(チャネル幅)を大きくしなければならない。そのために上述した図3の第1の構成例では、回路が占める面積が大きくなるという欠点がある。一方、図4の第2の構成例では、出力インピーダンスを切り替えるためのスイッチ素子が不要なので、回路の占める面積を縮小することができる。
図5に第2の構成例の更に詳細な構成例を示す。本構成例では、差動部50はAB級のプッシュプル型の差動アンプで構成される。
第1の出力部51はそのドレインが第1の出力ノードN1に接続され、そのゲートに差動部50の第1の差動出力ノードND1が接続される第1のN型トランジスタTN6と、そのドレインが第1のN型トランジスタTN6のソースに接続され、そのゲートに出力イネーブル信号ENBが入力され、そのソースが低電位側電源VSSに接続される第2のN型トランジスタTN7と、そのドレインが第1の出力ノードN1に接続され、そのゲートに差動部50の第2の差動出力ノードND2が接続される第1のP型トランジスタTP6と、そのドレインが第1のP型トランジスタTP6のソースに接続され、そのゲートに出力イネーブル信号ENBの反転信号XENBが入力され、そのソースが高電位側電源VDDに接続される第2のP型トランジスタTP7とを含む。
第2の出力部52はそのドレインが第2の出力ノードN2に接続され、そのゲートに差動部50の第1の差動出力ノードND1が接続され、そのソースが低電位側電源VSSに接続される第3のN型トランジスタTN8と、そのドレインが第2の出力ノードN2に接続され、そのゲートに差動部50の第2の差動出力ノードND2が接続され、そのソースが高電位側電源VDDに接続される第3のP型トランジスタTP8とを含む。
駆動期間の前半期間T1では、出力イネーブル信号ENBが高電位レベル(高電位側電源VDD)に設定され、駆動期間の後半期間T2では、出力イネーブル信号ENBが低電位レベル(低電位側電源VSS)に設定される。
図5の構成例では、以下のように出力インピーダンス制御を行うことによりオーバーシュート、アンダーシュート及びリンギング等の信号品質の劣化を抑えることができる。
駆動期間の前半期間T1では、出力イネーブル信号ENBが高電位レベルに設定されるからN型トランジスタTN7はオン状態となる。また、ENBの反転信号XENBは低電位レベルに設定されるからP型トランジスタTP7もオン状態となる。一方、第2の出力部52は常に出力可能な状態である。したがって、前半期間T1では第1の出力部51は第1の静電保護用抵抗素子30を介して駆動対象を駆動し、同時に第2の出力部52は第2の静電保護用抵抗素子31を介して駆動対象を駆動する。
駆動期間の後半期間T2では、出力イネーブル信号ENBが低電位レベルに設定されるからN型トランジスタTN7はオフ状態となる。また、ENBの反転信号XENBは高電位レベルに設定されるからP型トランジスタTP7もオフ状態となる。したがって、後半期間T2では第1の出力部51は動作せず、第2の出力部52のみが第2の静電保護用抵抗素子31を介して駆動対象を駆動する。
以上説明したように、図5の構成例によって、図1の構成例と同様な出力インピーダンス制御を行うことによりオーバーシュート、アンダーシュート及びリンギング等の信号品質の劣化を抑えることができる。
さらに図5の構成例では、出力インピーダンスの切り替えに用いるトランジスタTN7、TP7はいずれもそのソースが電源(VDD又はVSS)に接続されているから、出力イネーブル信号ENBが高電位レベルに設定される時はそのゲートバイアス電圧の絶対値は常にVDDに設定されることになる。一方、上述した図3の第1の構成例のスイッチ素子を構成するトランジスタの場合は、ソースの電位は通過する信号の電位によって変化するからゲートバイアス電圧の絶対値は図5の構成例の場合より小さくなる。
一般的に電界効果型トランジスタは、ゲート長及びゲート幅が一定である場合には、ゲートバイアス電圧の絶対値が大きいほどドレイン電流が大きくなる。したがって、図5の構成例のTN7及びTP7の方が、図3の第1の構成例のスイッチ素子を構成するトランジスタより小さいゲート幅(チャネル幅)のトランジスタを用いることができるという利点がある。
4.集積回路装置のレイアウト
本実施形態の集積回路装置のレイアウトは例えば以下に述べるものである。
第1の静電保護用抵抗素子30は、第1〜第N(Nは2以上の整数)の静電保護用抵抗ユニットのうちのi(iは1≦i<Nとなる整数)個の静電保護用抵抗ユニットにより構成される。第2の静電保護用抵抗素子31は、第1〜第Nの静電保護用抵抗ユニットのうちのi個の静電保護用抵抗ユニットを除くN−i個の静電保護用抵抗ユニットにより構成される。
集積回路装置の1辺と平行な方向を第1の方向D1とし、D1に直交する方向を第2の方向D2とした場合に、第1〜第Nの静電保護用抵抗ユニットは、駆動回路10の第1の方向D1に配置され、第1〜第Nの静電保護用抵抗ユニットのうちの第j+1(jは1≦j<Nとなる整数)の静電保護用抵抗ユニットは、第1〜第Nの静電保護用抵抗ユニットのうちの第jの静電保護用抵抗ユニットの第2の方向D2に配置される。
このようにすれば、複数の静電保護用抵抗ユニットのうちから任意に抵抗ユニットを組み合わせることにより、容易に所望の抵抗値を持つ2つの静電保護用抵抗素子を形成することができる。
図6に本実施形態の集積回路装置のレイアウトの一例を示す。本レイアウト例では、第1〜第Nの静電保護用抵抗ユニットとして、第1、第2及び第3の抵抗ユニット61、62、63(広義には第1〜第Nの静電保護用抵抗ユニット)が設けられる。第2の抵抗ユニット62(広義には第j+1の静電保護用抵抗ユニット)は第1の抵抗ユニット61(広義には第jの静電保護用抵抗ユニット)のD2方向に配置され、第3の抵抗ユニット63は第2の抵抗ユニット62のD2方向に配置される。即ち第2の抵抗ユニット62は第1の抵抗ユニット61と第3の抵抗ユニット63との間に配置される。
そして第1の静電保護用抵抗素子30は、2個の第1及び第3の抵抗ユニット61、63(広義にはi個の静電保護用抵抗ユニット)により構成され、第2の静電保護用抵抗素子31は、1個の第2の抵抗ユニット62(広義にはN−i個の静電保護用抵抗ユニット)により構成される。
このように図6の本レイアウト例によれば、抵抗値が異なる2つの静電保護用抵抗素子を容易に形成することができる。
さらに本レイアウト例によれば、集積回路装置の静電耐量を高めることができる。抵抗素子に発生する熱はその抵抗素子で消費される電力に比例し、その電力はその抵抗素子にかかる電圧が一定であればその抵抗値に反比例する。したがって、抵抗値の低い第1及び第3の抵抗ユニット61、63は抵抗値の高い第2の抵抗ユニット62よりも多くの熱を発生する。また本レイアウト例によれば、より多くの熱の発生源となる第1及び第3の抵抗ユニット61、63を互いに離して配置することができるから、温度の上昇を抑えることができる。このようにして集積回路装置の静電耐量を高めることができる。
5.抵抗ユニットのレイアウト
図7に本実施形態の抵抗ユニットのレイアウトの一例を示す。本レイアウト例によれば第1、第2及び第3の抵抗ユニット61、62、63は不純物領域DA1〜DA3により形成される。
出力端子20に接続される第1の金属線ML1と、第1の抵抗ユニット61の不純物領域DA1とを接続するコンタクトのうち、駆動回路10から最も近い位置に形成されるコンタクトを第1のコンタクトCH1とする。第1の金属線ML1と第2の抵抗ユニット62の不純物領域DA2とを接続するコンタクトのうち、駆動回路10から最も近い位置に形成されるコンタクトを第2のコンタクトCH2とする。第1の金属線ML1と第3の抵抗ユニット63の不純物領域DA3とを接続するコンタクトのうち、駆動回路10から最も近い位置に形成されるコンタクトを第3のコンタクトCH3とする。以上の場合に、第1のコンタクトCH1及び第3のコンタクトCH3は第2のコンタクトCH2よりも駆動回路10に近い位置に形成される。
駆動回路10の第1の出力ノードN1に接続される第2の金属線ML2と第1の抵抗ユニット61の不純物領域DA1とを接続するコンタクトのうち、駆動回路10から最も遠い位置に形成されるコンタクトを第4のコンタクトCH4とする。駆動回路10の第2の出力ノードN2に接続される第3の金属線ML3と第2の抵抗ユニット62の不純物領域DA2とを接続するコンタクトのうち、駆動回路10から最も遠い位置に形成されるコンタクトを第5のコンタクトCH5とする。第2の金属線ML2と第3の抵抗ユニット63の不純物領域DA3とを接続するコンタクトのうち、駆動回路10から最も遠い位置に形成されるコンタクトを第6のコンタクトCH6とする。CH1とCH4との距離をL1とし、CH2とCH5との距離をL2とし、CH3とCH6との距離をL3とした場合に、L1<L2及びL3<L2である。
以上説明した図7の抵抗ユニットのレイアウト例によれば、第2の抵抗ユニット62の抵抗値を第1及び第3の抵抗ユニット61、63の抵抗値より高くすることができる。各抵抗ユニットの抵抗値はそれぞれのコンタクト間の距離L1、L2、L3に比例するからである。また、第1及び第3の抵抗ユニット61、63は並列に接続されているから、その抵抗値は並列接続の合成抵抗値となる。
例えばL1=L3かつL2=10×L1として、不純物領域DA1〜DA3の幅及びシート抵抗値(単位面積当たりの抵抗値)を適当な値に設定することにより、第1及び第3の抵抗ユニット61、63の抵抗値を100Ωとし、第2の抵抗ユニット62の抵抗値を1kΩとすることができる。このようにすれば、第1及び第2の静電保護用抵抗素子30、31の抵抗値をそれぞれR1、R2とした場合に、R1=50Ω、R2=1kΩとすることができる。
以上説明したように、図7の本レイアウト例によれば、抵抗値が大きく異なる2つの静電保護用抵抗素子を、コンタクトの配置を変更するだけで容易に形成することができる。
さらに本レイアウト例によれば、集積回路装置の静電耐量を高めることができる。例えば第1の抵抗ユニット61について説明する。図7には示していないが、不純物領域DA1がP型のときは静電保護用ダイオードを不純物領域DA1と高電位側電源VDDとの間に設けることができる。また、不純物領域DA1がN型のときは静電保護用ダイオードを不純物領域DA1と低電位側電源VSSとの間に設けることができる。
不純物領域DA1がP型の場合について説明する。静電気放電によって生じる電流は出力端子20から金属線ML1を通り第1の抵抗ユニット61に流入する。このとき放電電流が抵抗素子領域(CH1とCH4とで挟まれた領域)に到達するまでに、その電流の一部は金属線ML1からコンタクト介して不純物領域DA1に流れ、さらに静電保護用ダイオードを通って高電位側電源VDDへ抜ける。このようにして実際に抵抗素子領域を流れる電流は減少する。
次に不純物領域DA1がN型の場合について説明する。この場合は放電電流が集積回路装置から外部へ流出する。その電流の一部は低電位側電源VSSから静電保護用ダイオードを通り不純物領域DA1へ、さらに抵抗素子領域を通ることなくコンタクトを介して金属線ML1を通り出力端子20へと流れる。このようにして実際に抵抗素子領域を流れる電流は減少する。
以上説明したように、不純物領域DA1がP型、N型のいずれであっても、抵抗素子領域を流れる電流を減少させることができる。これは第3の抵抗ユニット63についても同様である。
図7の本レイアウト例では、特に抵抗値の低い第1、第3の抵抗ユニット61、63について、不純物領域DA1と金属線ML1とのコンタクト領域及び不純物領域DA3と金属線ML3とのコンタクト領域を広くすることができる。したがって抵抗素子領域を流れる電流をより減少させることができるから、集積回路装置の静電耐量を高めることができる。
6.データ線駆動回路
図8に本実施形態の集積回路装置を含むデータ線駆動回路の一例を示す。
データ線駆動回路520(広義には、駆動回路)は、シフトレジスタ522、データラッチ524、ラインラッチ526、DAC528(デジタル・アナログ変換回路。広義にはデータ電圧生成回路)、出力バッファ529(演算増幅回路)を含む。
シフトレジスタ522は、各データ線に対応して設けられ、順次接続された複数のフリップフロップを含む。このシフトレジスタ522は、クロック信号CLKに同期してイネーブル入出力信号EIOを保持すると、順次クロック信号CLKに同期して隣接するフリップフロップにイネーブル入出力信号EIOをシフトする。
データラッチ524には、コントローラ540から例えば18ビット(6ビット(階調データ)×3(RGB各色))単位で画像データDIOが入力される。データラッチ524は、この画像データDIOを、シフトレジスタ522の各フリップフロップで順次シフトされたイネーブル入出力信号EIOに同期してラッチする。
ラインラッチ526は、コントローラ540から供給される水平同期信号LPに同期して、データラッチ524でラッチされた1水平走査単位の画像データをラッチする。
DAC528は、各データ線に供給すべきアナログのデータ電圧を生成する。具体的にはDAC528は、ラインラッチ526からのデジタルの画像データに基づいて階調電圧を選択し、デジタルの画像データに対応するアナログのデータ電圧を出力する。
出力バッファ529は、DAC528からのデータ電圧をバッファリングしてデータ線に出力し、電気光学パネルを駆動する。具体的には、出力バッファ529は、各データ線毎に設けられた本実施形態の集積回路装置OPC1〜OPCnを含み、これらの各集積回路装置OPC1〜OPCnが、DAC528からのデータ電圧をインピーダンス変換して、各データ線S1〜Snを介して電気光学パネルを駆動する。
なお、図8では、デジタルの画像データをデジタル・アナログ変換して、出力バッファ529を介してデータ線に出力する構成にしているが、アナログの映像信号をサンプル・ホールドして、出力バッファ529を介してデータ線に出力する構成にしてもよい。
7.電気光学装置
図9に本実施形態の集積回路装置を含む電気光学装置の一例を示す。
この電気光学装置510は、電気光学パネル512(狭義にはLCD(Liquid Crystal Display)パネル)、データ線駆動回路520(狭義にはソースドライバ)、走査線駆動回路530(狭義にはゲートドライバ)、コントローラ540、電源回路542を含む。なお、電気光学装置510にこれらのすべての回路ブロックを含める必要はなく、その一部の回路ブロックを省略する構成にしてもよい。
ここで電気光学パネル512は、複数の走査線(狭義にはゲート線)と、複数のデータ線(狭義にはソース線)と、走査線及びデータ線により特定される画素電極を含む。この場合、データ線に薄膜トランジスタTFT(Thin Film Transistor、広義にはスイッチング素子)を接続し、このTFTに画素電極を接続することで、アクティブマトリクス型の液晶装置を構成できる。
TFTijのゲート電極は走査線Giに接続され、TFTijのソース電極はデータ線Sjに接続され、TFTijのドレイン電極は画素電極PEijに接続されている。この画素電極PEijと、画素電極PEijと液晶素子(広義には電気光学物質)を挟んで対向する対向電極VCOM(コモン電極)との間には、液晶容量CLij(液晶素子)及び補助容量CSijが形成されている。そして、TFTij、画素電極PEij等が形成されるアクティブマトリクス基板と、対向電極VCOMが形成される対向基板との間に液晶が封入され、画素電極PEijと対向電極VCOMの間の印加電圧に応じて画素の透過率が変化するようになっている。
なお、対向電極VCOMに与えられる電圧は、電源回路542により生成される。また、対向電極VCOMを対向基板上に一面に形成せずに、各走査線に対応するように帯状に形成してもよい。
データ線駆動回路520は、データ線を駆動する回路として図1の駆動回路10を用いる。データ線駆動回路520は、画像データに基づいて電気光学パネル512のデータ線S1〜Snを駆動する。一方、走査線駆動回路530は、電気光学パネル512の走査線G1〜Gmを順次走査駆動する。
コントローラ540は、図示しない中央処理装置(Central Processing Unit:CPU)等のホストにより設定された内容に従って、データ線駆動回路520、走査線駆動回路530及び電源回路542を制御する。
より具体的には、コントローラ540は、データ線駆動回路520及び走査線駆動回路530に対しては、例えば動作モードの設定や内部で生成した垂直同期信号や水平同期信号の供給を行い、電源回路542に対しては、対向電極VCOMの電圧の極性反転タイミングの制御を行う。
電源回路542は、外部から供給される基準電圧に基づいて、電気光学パネル512の駆動に必要な各種の電圧(階調電圧)や、対向電極VCOMの電圧を生成する。
なお、図9では、電気光学装置510がコントローラ540を含む構成になっているが、コントローラ540を電気光学装置510の外部に設けてもよい。或いは、コントローラ540と共にホストを電気光学装置510に含めるようにしてもよい。また、データ線駆動回路520、走査線駆動回路530、コントローラ540、電源回路542の一部又は全部を電気光学パネル512上に形成してもよい。
なお電気光学パネル512は液晶パネルには限定されず、例えば有機EL(Electro Luminescence)や無機ELなどの発光素子を用いたパネルであってもよい。
8.電子機器
図10に本実施形態の電気光学装置を含む電子機器(携帯電話機)の一例を示す。なお、本実施形態の電子機器は携帯電話機には限定されず、デジタルカメラ、PDA、電子手帳、電子辞書、プロジェクタ、リアプロジェクションテレビ、或いは携帯型情報端末などであってもよい。
携帯電話機900は、カメラモジュール910を含む。カメラモジュール910は、CCDカメラを含み、CCDカメラで撮像した画像のデータを、YUVフォーマットでコントローラ540に供給する。
携帯電話機900は、電気光学パネル512を含む。電気光学パネル512は、ソースドライバ520(広義にはデータ線駆動回路)及びゲートドライバ530(広義には走査線駆動回路)によって駆動される。電気光学パネル512は、複数のゲート線、複数のソース線及び複数の画素を含む。
コントローラ540は、ソースドライバ520及びゲートドライバ530に接続され、ソースドライバ520に対してRGBフォーマットの階調データを供給する。
電源回路542は、ソースドライバ520及びゲートドライバ530に接続され、各ドライバに対して、駆動用の電源電圧を供給する。また電気光学パネル512の対向電極に、対向電極電圧VCOMを供給する。
ホスト940は、コントローラ540に接続される。ホスト940は、表示コントローラ540を制御する。またホスト940は、アンテナ960を介して受信された階調データを、変復調部950で復調した後、コントローラ540に供給できる。コントローラ540は、この階調データに基づき、ソースドライバ520及びゲートドライバ530により電気光学パネル512に画像を表示させる。
ホスト940は、カメラモジュール910で生成された階調データを変復調部950で変調した後、アンテナ960を介して他の通信装置への送信を指示できる。
ホスト940は、操作入力部970からの操作情報に基づいて階調データの送受信処理、カメラモジュール910の撮像、電気光学パネル512の表示処理を行う。
なお、以上のように本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できるであろう。従って、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれるものとする。例えば、明細書又は図面において、少なくとも一度、より広義または同義な異なる用語と共に記載された用語は、明細書又は図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えることができる。また集積回路装置、電気光学装置及び電子機器の構成、動作も本実施形態で説明したものに限定されず、種々の変形実施が可能である。
本実施形態の基本的な構成例。 駆動信号の信号波形例。 本実施形態の第1の構成例。 本実施形態の第2の構成例。 第2の更に詳細な構成例。 集積回路装置のレイアウト例。 抵抗ユニットのレイアウト例。 データ線駆動回路の一例。 電気光学装置の一例。 電子機器の一例。
符号の説明
IA 入力信号、N1 第1の出力ノード、N2 第2の出力ノード、
R1、R2 第1、第2の静電保護用抵抗素子の抵抗値、
10 駆動回路、20 出力端子、 30、31 第1、第2の静電保護用抵抗素子、
40 駆動アンプ、50 差動部、 51、52 第1、第2の出力部、
61、62、63 第1、第2、第3の抵抗ユニット、
510 電気光学装置、512 電気光学パネル、520 データ線駆動回路、
522 シフトレジスタ、524 データラッチ、526 ラインラッチ、
528 DAC、529 出力バッファ、530 走査線駆動回路、
540 コントローラ、542 電源回路、560 表示ドライバ、
900 携帯電話機、910 カメラモジュール、940 ホスト、950 変復調部、
960 アンテナ、970 操作入力部

Claims (10)

  1. 集積回路装置の出力端子に接続される駆動対象を駆動する駆動回路と、
    前記駆動回路の第1の出力ノードと前記出力端子との間に設けられる第1の静電保護用抵抗素子と、
    前記駆動回路の第2の出力ノードと前記出力端子との間に設けられ、その抵抗値が前記第1の静電保護用抵抗素子より大きい第2の静電保護用抵抗素子とを含み、
    前記駆動回路は、
    駆動期間の前半期間では、前記第1の静電保護用抵抗素子及び前記第2の静電保護用抵抗素子を介して前記駆動対象を駆動し、前記駆動期間の後半期間では、前記第1の静電保護用抵抗素子を介すことなく前記第2の静電保護用抵抗素子を介して前記駆動対象を駆動することを特徴とする集積回路装置。
  2. 請求項1において、
    前記駆動回路は、
    駆動アンプと、
    前記駆動アンプの出力ノードと前記第1の出力ノードとの間に設けられた第1のスイッチ素子と、
    前記駆動アンプの前記出力ノードと前記第2の出力ノードとの間に設けられた第2のスイッチ素子とを含み、
    前記第1のスイッチ素子は、前記駆動期間の前記前半期間ではオン状態であり、前記駆動期間の前記後半期間ではオフ状態であり、
    前記第2のスイッチ素子は、前記駆動期間の前記前半期間及び前記後半期間を通じてオン状態であることを特徴とする集積回路装置。
  3. 請求項1において、
    前記駆動回路は、
    差動部と、
    前記差動部の出力がその入力に接続され、その出力が前記第1の出力ノードに出力される第1の出力部と、
    前記差動部の出力がその入力に接続され、その出力が前記第2の出力ノードに出力される第2の出力部とを含み、
    前記駆動期間の前記前半期間では、前記第1の出力部と前記第2の出力部が共に出力イネーブル状態に設定され、
    前記駆動期間の前記後半期間では、前記第1の出力部が出力ディスイネーブル状態に設定され、前記第2の出力部が出力イネーブル状態に設定されることを特徴とする集積回路装置。
  4. 請求項3において、
    前記第1の出力部は、
    そのドレインが前記第1の出力ノードに接続され、そのゲートに前記差動部の第1の差動出力ノードが接続される第1のN型トランジスタと、
    そのドレインが前記第1のN型トランジスタのソースに接続され、そのゲートに出力イネーブル信号が入力され、そのソースが低電位側電源に接続される第2のN型トランジスタと、
    そのドレインが前記第1の出力ノードに接続され、そのゲートに前記差動部の第2の差動出力ノードが接続される第1のP型トランジスタと、
    そのドレインが前記第1のP型トランジスタのソースに接続され、そのゲートに前記出力イネーブル信号の反転信号が入力され、そのソースが高電位側電源に接続される第2のP型トランジスタとを含み、
    前記第2の出力部は、
    そのドレインが前記第2の出力ノードに接続され、そのゲートに前記差動部の前記第1の差動出力ノードが接続され、そのソースが低電位側電源に接続される第3のN型トランジスタと、
    そのドレインが前記第2の出力ノードに接続され、そのゲートに前記差動部の前記第2の差動出力ノードが接続され、そのソースが高電位側電源に接続される第3のP型トランジスタとを含み、
    前記駆動期間の前記前半期間では、前記出力イネーブル信号が高電位レベルに設定され、前記駆動期間の前記後半期間では、前記出力イネーブル信号が低電位レベルに設定されることを特徴とする集積回路装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれかにおいて、
    前記第1の静電保護用抵抗素子は、
    第1〜第N(Nは2以上の整数)の静電保護用抵抗ユニットのうちのi(iは1≦i<Nとなる整数)個の静電保護用抵抗ユニットにより構成され、
    前記第2の静電保護用抵抗素子は、
    前記第1〜前記第Nの静電保護用抵抗ユニットのうちの前記i個の静電保護用抵抗ユニットを除くN−i個の静電保護用抵抗ユニットにより構成され、
    前記集積回路装置の1辺と平行な方向を第1の方向とし、前記第1の方向に直交する方向を第2の方向とした場合に、
    前記第1〜前記第Nの静電保護用抵抗ユニットは、
    前記駆動回路の前記第1の方向に配置され、
    前記第1〜前記第Nの静電保護用抵抗ユニットのうちの第j+1(jは1≦j<Nとなる整数)の静電保護用抵抗ユニットは、
    前記第1〜前記第Nの静電保護用抵抗ユニットのうちの第jの静電保護用抵抗ユニットの前記第2の方向に配置されることを特徴とする集積回路装置。
  6. 請求項5において、
    前記第1〜前記第Nの静電保護用抵抗ユニットとして、第1、第2及び第3の抵抗ユニットが設けられ、
    前記第2の抵抗ユニットは前記第1の抵抗ユニットと前記第3の抵抗ユニットとの間に配置され、
    前記第1の静電保護用抵抗素子は前記第1及び前記第3の抵抗ユニットにより構成され、
    前記第2の静電保護用抵抗素子は前記第2の抵抗ユニットにより構成されることを特徴とする集積回路装置。
  7. 請求項6において、
    前記第1、第2及び第3の抵抗ユニットは不純物領域により形成され、
    集積回路装置の前記出力端子に接続される第1の金属線と、前記第1の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、前記駆動回路から最も近い位置に形成されるコンタクトを第1のコンタクトとし、
    前記第1の金属線と前記第2の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、前記駆動回路から最も近い位置に形成されるコンタクトを第2のコンタクトとし、
    前記第1の金属線と前記第3の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、前記駆動回路から最も近い位置に形成されるコンタクトを第3のコンタクトとした場合に、
    前記第1のコンタクト及び前記第3のコンタクトは前記第2のコンタクトよりも前記駆動回路に近い位置に形成され、
    前記駆動回路の前記第1の出力ノードに接続される第2の金属線と前記第1の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、前記駆動回路から最も遠い位置に形成されるコンタクトを第4のコンタクトとし、
    前記駆動回路の前記第2の出力ノードに接続される第3の金属線と前記第2の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、前記駆動回路から最も遠い位置に形成されるコンタクトを第5のコンタクトとし、
    前記第2の金属線と前記第3の抵抗ユニットの不純物領域とを接続するコンタクトのうち、
    前記駆動回路から最も遠い位置に形成されるコンタクトを第6のコンタクトとし、
    前記第1のコンタクトと前記第4のコンタクトとの距離をL1とし、前記第2のコンタクトと前記第5のコンタクトとの距離をL2とし、前記第3のコンタクトと前記第6のコンタクトとの距離をL3とした場合に、
    L1<L2及びL3<L2であることを特徴とする集積回路装置。
  8. 請求項1乃至7のいずれかにおいて、
    前記駆動対象は電気光学パネルであることを特徴とする集積回路装置。
  9. 請求項8に記載された集積回路装置を含むことを特徴とする電気光学装置。
  10. 請求項9に記載された電気光学装置を含むことを特徴とする電子機器。
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