JP2010117519A - キャリア - Google Patents
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Abstract
【解決手段】キャリアは、芯材粒子の表面に被覆層が形成されており、被覆層は、結着樹脂と、酸化スズ粒子の表面に炭素を有する第一の導電性粒子と、金属酸化物粒子及び/又は金属塩粒子の表面が導電処理されている第二の導電性粒子を含有し、第一の導電性粒子は、平均一次粒径が1nm以上100nm以下であり、第二の導電性粒子は、平均一次粒径が100nm以上500nm以下である。
【選択図】なし
Description
Log[π(2.54/2)2/H×r]
(式中、Hは、抵抗測定時の電極間の距離[cm]である。)
から、比抵抗の常用対数値[Log(Ω・cm)]を算出することができる。
H2N(CH2)3Si(OCH3)3、
H2N(CH2)3Si(OC2H5)3、
H2N(CH2)3Si(CH3)2(OC2H5)、
H2N(CH2)3Si(CH3)(OC2H5)2、
H2N(CH2)2(NH)(CH2)Si(OCH3)3、
H2N(CH2)2(NH)(CH2)3Si(CH3)(OCH3)2、
H2N(CH2)2(NH)(CH2)3Si(OCH3)3、
(CH3)2N(CH2)3Si(CH3)(OC2H5)2、
(C4H9)2N(CH2)3Si(OCH3)3
で表される化合物が挙げられる。
Log[r×(2.5×4)/0.2]
から、体積固有抵抗の常用対数値[Log(Ω・cm)]を算出することができる。
固形分が50質量%のアクリル樹脂39.7部、固形分が70質量%のグアナミン樹脂12.4部、固形分が20質量%のシリコーン樹脂SR2410(東レ・ダウコーニング社製)185.8部、アミノシランSH6020(東レ・ダウコーニング社製)0.42部、第一の導電性粒子として、平均一次粒径が30nm、比抵抗の常用対数値が2.1[Log(Ω・cm)]の表面に炭素を有する酸化スズ粒子66.2部、第二の導電性粒子として、平均一次粒径が400nm、比抵抗の常用対数値が1.7[Log(Ω・cm)]の酸素欠陥型の酸化スズで表面処理された二酸化チタン粒子66.2部及びトルエン800部を、ホモミキサーを用いて、10分間分散させ、被覆層用塗布液を得た。
第二の導電性粒子として、平均一次粒径が350nm、比抵抗の常用対数値が1.7[Log(Ω・cm)]の酸素欠陥型の酸化スズで表面処理された二酸化チタン粒子を用いた以外は、実施例1と同様にして、キャリアを得た。
第二の導電性粒子として、平均一次粒径が350nm、比抵抗の常用対数値が1.2[Log(Ω・cm)]のリンドープ型の酸化スズで表面処理された二酸化チタン粒子を用いた以外は、実施例1と同様にして、キャリアを得た。
第二の導電性粒子として、平均一次粒径が350nm、比抵抗の常用対数値が1.8[Log(Ω・cm)]の酸素欠陥型の酸化スズで表面処理された酸化アルミニウム粒子を用いた以外は、実施例1と同様にして、キャリアを得た。
第二の導電性粒子として、平均一次粒径が350nm、比抵抗の常用対数値が1.4[Log(Ω・cm)]のリンドープ型の酸化スズで表面処理された酸化アルミニウム粒子を用いた以外は、実施例1と同様にして、キャリアを得た。
第二の導電性粒子を用いず、第一の導電性粒子の添加量を132.4部とした以外は、実施例1と同様にして、キャリアを得た。
第二の導電性粒子として、平均一次粒径が400nm、比抵抗の常用対数値が4.9[Log(Ω・cm)]の酸化アルミニウム粒子を用いた以外は、実施例1と同様にして、キャリアを得た。
フィルミングを抑制することができ、帯電安定性に優れることがわかる。これに対して、比較例1のキャリアは、第二の導電性粒子を含有しない被覆層が形成されているため、被覆層の削れや剥離が発生して、帯電量の低下率が大きくなる。また、比較例2のキャリアは、比抵抗が大きい第二の導電性粒子を含有する被覆層が形成されているため、体積固有抵抗が大きくなる。
導電性粒子の比抵抗は、以下のようにして測定した。まず、内径1インチ(2.54cm)の円筒状の塩化ビニル管の中に、導電性粒子5gを入れ、その上下を電極で挟んだ。次に、プレス機を用いて、これらの電極に10kg/cm2の圧力を印加した状態で、LCRメータ4216A(横河ヒューレット・パッカード社製)を用いて、抵抗r[Ω]を測定し、式
Log[π(2.54/2)2/H×r]
(式中、Hは、抵抗測定時の電極間の距離[cm]である。)
から、比抵抗の常用対数値[Log(Ω・cm)]を算出した。
マイクロトラック粒度分布計モデルHRA9320−X100(日機装社製)を用いて、芯材粒子の粒度分布を測定した。
透過型電子顕微鏡(TEM)を用いて、キャリアの断面を観察して、被覆層の平均膜厚を測定した。
体積固有抵抗は、図1に示すセルを用いて測定した。具体的には、まず、表面積2.5cm×4cmの電極1a及び電極1bを、0.2cmの距離を隔てて収容したフッ素樹脂製容器2からなるセルに、キャリア3を充填し、落下高さ1cm、タッピングスピード30回/分で、10回のタッピングを行った。次に、電極1a及び1bの間に1000Vの直流電圧を印加して30秒後の抵抗値r[Ω]を、ハイレジスタンスメーター4329A(横川ヒューレットパッカード社製)を用いて測定し、式
Log[r×(2.5×4)/0.2]
から、体積固有抵抗の常用対数値[Log(Ω・cm)]を算出した。
キャリア約0.15gを、内径が2.4mm、高さが8.5mmのセルに充填した後、VSM−P7−15(東英工業社製)を用いて、1kOeの磁場において、磁化を測定した。
数平均分子量が3800、重量均分子量が20000、ガラス転移点が60℃、軟化点が122℃のポリエステル100部、5部のアゾ系イエロー顔料C.I.P.Y.180、サリチル酸亜鉛2部及び融点が82℃のカルナウバワックス3部を、ヘンシェルミキサーを用いて混合した後、2本ロールを用いて120℃で40分間溶融混練した。次に、冷却した後、ハンマーミルを用いて粗粉砕し、エアージェット粉砕機を用いて微粉砕した。得られた微粉末を分級して重量平均粒径が5μmの母体粒子を得た。
(Q1−Q2)/Q1×100
から、帯電量の低下率[%]を算出した。
11 感光体
12 帯電装置
13 現像装置
14 クリーニング装置
Claims (12)
- 芯材粒子の表面に被覆層が形成されているキャリアであって、
該被覆層は、結着樹脂と、酸化スズ粒子の表面に炭素を有する第一の導電性粒子と、金属酸化物粒子及び/又は金属塩粒子の表面が導電処理されている第二の導電性粒子を含有し、
該第一の導電性粒子は、平均一次粒径が1nm以上100nm以下であり、
該第二の導電性粒子は、平均一次粒径が100nm以上500nm以下であることを特徴とするキャリア。 - 前記金属酸化物は、酸化アルミニウム、二酸化チタン、酸化亜鉛、二酸化ケイ素及び酸化ジルコニウムからなる群より選択される少なくとも一種であり、
前記金属塩は、硫酸バリウムであることを特徴とする請求項1に記載のキャリア。 - 前記第一の導電性粒子及び前記第二の導電性粒子は、比抵抗の常用対数値が0.5[Log(Ω・cm)]以上3[Log(Ω・cm)]以下であることを特徴とする請求項1又は2に記載のキャリア。
- 体積固有抵抗の常用対数値が10[Log(Ω・cm)]以上14[Log(Ω・cm)]以下であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載のキャリア。
- 前記芯材粒子は、重量平均粒径が20μm以上65μm以下であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のキャリア。
- 前記被覆層は、平均膜厚が0.05μm以上2μm以下であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載のキャリア。
- 前記結着樹脂は、シリコーン樹脂及び/又はアクリル樹脂を含有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載のキャリア。
- 1kOeの磁場における磁化が40Am2/kg以上90Am2/kg以下であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載のキャリア。
- 請求項1乃至8のいずれか一項に記載のキャリア及びトナーを有することを特徴とする現像剤。
- 前記トナーは、カラートナーであることを特徴とする請求項9に記載の現像剤。
- 静電潜像担持体上に静電潜像を形成する工程と、
該静電潜像担持体上に形成された静電潜像を、請求項9又は10に記載の現像剤を用いて現像してトナー像を形成する工程と、
該静電潜像担持体上に形成されたトナー像を記録媒体に転写する工程と、
該記録媒体に転写されたトナー像を定着させる工程とを有することを特徴とする画像形成方法。 - 静電潜像担持体、該静電潜像担持体上に形成された静電潜像を、請求項9又は10に記載の現像剤を用いて現像する手段が少なくとも一体に支持されていることを特徴とするプロセスカートリッジ。
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