JP2010085230A - アナログディジタル混在集積回路装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】アナログディジタル混在集積回路装置20は、通常動作モードとテストモードの切換が可能で、インタフェース部22と、モード切換端子24と、電源端子26と、接地端子28とを有し、内部に、複数のアナログ回路部30と、複数のディジタル回路部40と、アナログ回路部30の信号が出力される出力側配線52とテスト信号が供給されるテスト側配線54とのいずれかと、出力側配線に対応するディジタル回路部40の入力側配線56とが接続されるように切り換える接続先切換回路50と、インタフェース部22からのシリアル信号に基いてテスト信号を生成するテスト用信号生成部46を含む信号生成回路部42とを備えて構成される。
【選択図】図1
Description
Claims (4)
- アナログ回路部とディジタル回路部とを含み、アナログ回路部またはディジタル回路部の一方側回路部の出力が他方側回路部の入力とされるアナログディジタル混在集積回路装置であって、
ファンクションテストのために外部から供給されるテストパターンを複数の系列のシリアル信号として複数の端子で受け取るインタフェース部と、
インタフェース部から供給される複数の系列のシリアル信号を、テスト側配線の数に対応する数の系列のシリアル信号に変換してテスト信号を生成するテスト信号生成回路と、
一方側回路部と他方側回路部との間の少なくとも1つの接続配線について設けられ、一方側回路部の信号が出力される出力側配線と、テスト信号が供給されるテスト側配線とのいずれかと、出力側配線に対応する他方側回路部の入力側配線とが接続されるように切り換える接続先切換回路と、
接続先切換回路について、出力側配線とこれに対応する入力側配線とが接続される通常動作モードと、テスト側配線とこれに対応する入力側配線とが接続されるテストモードとの間で切り換える切換信号を取得する切換信号取得部と、
を含むことを特徴とするアナログディジタル混在集積回路装置。 - 請求項1に記載のアナログディジタル混在集積回路装置において、
テスト信号は、一方側回路部から出力される信号に比べ安定した振幅またはタイミングを有する信号であることを特徴とするアナログディジタル混在集積回路装置。 - 請求項1に記載のアナログディジタル混在集積回路装置において、
接続先切換回路は、
切換信号を複数種類として、第1切換信号によって出力側配線の信号を入力側配線に供給するか否かの切換を行い、第2切換信号によってテスト側配線の信号を入力側配線に供給するか否かの切換を行うことを特徴とするアナログディジタル混在集積回路装置。 - 請求項1に記載のアナログディジタル混在集積回路装置において、
全体が1つの半導体チップに集積されるときは、入力側配線とテスト側配線と出力側配線とは、それぞれが半導体チップ内の配線パターンであり、
全体が1つのパッケージによって複数の半導体チップを含んで一体化集積されるときは、出力側配線とテスト側配線と入力側配線とは、それぞれパッケージ内の配線または配線パターンであることを特徴とするアナログディジタル混在集積回路装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN106990350A (zh) * | 2016-11-29 | 2017-07-28 | 珠海市微半导体有限公司 | 内部带有模数转换接口芯片的量产测试模块及方法 |
Citations (3)
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JPS62212582A (ja) * | 1986-03-14 | 1987-09-18 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
JPH05281304A (ja) * | 1992-03-30 | 1993-10-29 | Nec Corp | テスト回路を内蔵したアナログ・ディジタル混在マスタ |
JP2007157944A (ja) * | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路装置 |
-
2008
- 2008-09-30 JP JP2008254071A patent/JP2010085230A/ja active Pending
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