JP2010078435A - 磁場分布測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】磁場分布測定装置1は、測定器2と、恒温槽3と、アクチュエータ4と、温度センサ13と、制御部を備えている。測定器2は、磁気センサ11で磁束を検出して磁場を測定する。恒温槽3は、測定対象物101と磁気センサ11を収容する測定室21と、測定室21内の温度を調整する温度調整部22を有している。アクチュエータ4は、磁気センサ11を三次元方向に移動させる。制御部は、温度センサ13によって検出された測定対象物101の温度が予め設定した温度になると、アクチュエータ4を制御して磁気センサ11を移動させ、測定対象物101の周囲に生じる磁場の分布を測定させる。
【選択図】図1
Description
まず、本発明の磁場分布測定装置の一実施形態の構成について、図1及び図2を参照して説明する。
図1は、本発明の磁場分布測定装置の一実施形態を正面から見た部分断面図である。図2は、本発明の磁場分布測定装置の一実施形態を図1に示すA−A線で切断した断面図である。
図3は恒温槽3の測定室21に配置された支持台を示す断面図、図4は恒温槽を図3に示すB−B線で切断した断面図である。
図5は恒温槽3の測定室21に配置された載置台を示す断面図、図6は恒温槽3を図5に示すC−C線で切断した断面図である。
次に、制御装置5の制御回路について図7を参照して説明する。
図5は、制御装置5の制御回路例を示すブロック図である。
次に、制御部61により行われる制御処理の例について図8を参照して説明する。
図8は、制御部61により行われる制御処理の例を示すフローチャートである。
本発明は、前述しかつ図面に示した実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内で種々の変形実施が可能である。例えば、上述した実施の形態においては、温度センサ13をアクチュエータ4のセンサ保持部31に取り付ける構成としたが、本発明に係る温度センサとしては、支持台41及び載置台55に設ける構成としてもよい。
上述した実施の形態の磁場分布測定装置1によれば、恒温槽3の測定室21内の温度を変化させることにより、測定室21に収容される測定対象物101の温度を予め設定される設定温度に変化させることができる。そして、アクチュエータ4によって測定器2の磁気センサ11を移動させ、測定対象物の磁場分布を測定することにより、温度変化に対する測定対象物101の磁気の特性を確認することができる。
Claims (7)
- 測定対象物から発せられる磁束を検出する磁気センサを有し、前記磁気センサによって検出された磁束に基づいて磁場を測定する測定器と、
前記測定対象物と前記磁気センサを収容する測定室と、前記測定室内の温度を調整する温度調整部とを有する恒温槽と、
前記測定室に収容された磁気センサを三次元方向に移動させるアクチュエータと、
前記測定対象物の温度を検出する温度センサと、
前記温度センサによって検出された前記測定対象物の温度が予め設定した温度になると、前記アクチュエータを制御して前記磁気センサを移動させ、前記測定対象物の周囲に生じる磁場の分布を測定させる制御部と、
を備えた磁場分布測定装置。 - 前記測定室に収容され、前記測定対象物を支持する支持台と、
前記支持台を回転させる回転駆動部と、を備える
請求項1記載の磁場分布測定装置。 - 前記支持台に支持された前記測定対象物の一部と係合して前記測定対象物の姿勢を調整する調整台と、
前記調整台を移動可能に支持する移動台と、を備える
請求項2記載の磁場分布測定装置。 - 前記測定対象物を前記支持台で支持しない場合に、前記測定対象物が載置される載置台を備え、
前記載置台は、前記移動台によって前記調整台を前記支持台から最も離れた待機位置に移動させてから前記測定室に配設される
請求項3記載の磁場分布測定装置。 - 前記測定室は、上面に開口部を有するケース本体と、前記アクチュエータが貫通し、前記測定室本体の前記開口部を塞ぎながら前記アクチュエータと共に水平方向に移動する蓋体からなる
請求項1記載の磁場分布測定装置。 - 前記測定器は、サーチコイルとフラックスメータからなり、磁測量に基づいて磁場分布を測定する第1の測定器と、ホールプローブとテスラメータからなり、磁束密度に基づいて磁場分布を測定する第2の測定器と、を有する
請求項1記載の磁場分布測定装置。 - 前記第1の測定器は、前記予め設定した温度が所定の温度より小さいときに使用され、前記第2の測定器は、前記予め設定した温度が前記所定の温度以上のとき使用される
請求項6記載の磁場分布測定装置。
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