JP2010068755A - 細胞培養基板、その製造方法、細胞培養方法 - Google Patents

細胞培養基板、その製造方法、細胞培養方法 Download PDF

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Abstract

【課題】透明フッ素系樹脂基板に簡便な表面処理を施すことによって細胞培養に適した培養基板を得る。
【解決手段】屈折率1.33以上1.34以下の可視光領域において透明なフッ素系樹脂基板21を酸素を含有しない雰囲気中に保持し、基板表面にF2レーザーのレーザー光をアブレーション閾値以下のレーザーフルエンスで照射して親水性を付与する。
【選択図】図2

Description

本発明は、細胞培養用の透明基板、その製造方法、及び透明基板上への選択的な細胞培養方法に関する。
近年、光学顕微鏡を利用した細胞観察に関する研究分野において、個々の細胞をそれぞれの状態に応じてきめ細かく操作・分析する手法へのニーズが高まっている。こうした研究分野の研究現場では、血球細胞などの浮遊性の細胞に関しては、細胞を個別操作する技術が既に用いられ、フローサイトメトリーや磁気細胞分離システム(MACS)が細胞操作技術の地位を確立している。
一方で、一般的に接着状態で生理機能を維持する非浮遊性の細胞に関しては、細胞培養基板(主にガラスやPDMSなどのポリマー)をレジスト処理により親水・疎水性の部分に分ける方法(非特許文献1)や、微細周期構造を基板上に作製する方法(非特許文献2)を用いて、選択的に細胞を固定化することが行われている。また、特許文献1には、水と同程度の屈折率を有する透明フッ素樹脂の表面の粗度を変化させて、標本を培養するためのコラーゲンを定着可能にした顕微鏡観察用培養基板が記載されている。
特開2003−177331号公報 H. Liu and Y. Ito: Lab chip. 2 (2002) 175. M. Ochsner, M. R. Dusseiller, H. M. Grandin, S. L. Morris, M. Textor, V. Vogel and M. L. Smith: Lab Chip. 7 (2007) 1074.
選択的に細胞を固定化するために培養基板をレジスト処理により親水・疎水性の部分に分ける方法や、基板上に微細周期構造を作製する方法は、処理工程が複雑であるとともに工程数が多いといった問題がある。また、基板と培養液となる水との間に屈折率差があるため、基板面に対して垂直上方からの顕微鏡観察には適するが、横からの観察に対しては像がぼやけてしまうといった問題、細胞が周期構造に密着し、細胞自身の形状が本来の形状と異なってしまうといった問題がある。
特許文献1では、フッ素系樹脂を水に浸し、紫外線光源としてArFエキシマレーザーを、エネルギー密度20mJ/cm2、繰り返し周波数30Hzで25,200ショット照射して、フッ素系樹脂の表面の粗度を変化させている。この方法によって処理された培養基板は、表面が平坦でないため、細胞によっては(細胞によって大きさが異なるため)細胞自身の形状が本来の形状と異なってしまうという問題があり、形質の変化は場合によっては細胞自滅を招く恐れがある (参考文献:C. S. Chen, M. Mrksich, S. Huang, G. M. Whitesides and D. E. Ingber: Science. 276 (1997) 1425.) 。更に、引用文献1は、透明フッ素系樹脂にコラーゲン等の塗布を可能にするものであり、培養基板に直接細胞を付着させて培養することについては記載されていない。
本発明は、透明フッ素系樹脂基板に簡便な表面処理を施すことによって細胞培養に適した培養基板を得ることを目的とする。
本発明は、屈折率が水とほぼ等しく可視領域において透明なフッ素樹脂基板にF2レーザーを照射して表面改質を行い、基板上のレーザー照射領域のみに細胞を固定化する。このとき、レーザーフルエンスをアブレーション閾値以下とし、基板の表面粗さをレーザー照射によって大きくしない。
本発明による細胞培養基板は、可視光領域において透明な屈折率1.33以上1.34以下のフッ素系樹脂からなり、レーザーフルエンスがアブレーション閾値以下の紫外線レーザー照射によって、表面に親水性領域が形成された基板である。親水性領域は、表面の二乗平均粗さが基板本来の粗さと同等の2.6nm以下である。この程度の表面粗さであれば、そこに付着した細胞が変形したり、観察に影響を及ぼすことはない。細胞が付着可能な親水性領域は、特定のパターンに従って形成してもよい。フッ素系樹脂は一例として化学式[CF2=CFOCF2CF2CF=CF2]nで表される樹脂であり、紫外線レーザーは一例としてF2レーザーである。
本発明による細胞培養基板の製造方法は、可視光領域において透明な屈折率1.33以上1.34以下のフッ素系樹脂基板を酸素を含有しない雰囲気中に保持する工程と、前記基板の表面に波長が基板の光吸収端波長より短い200nm以下のレーザー光をアブレーション閾値以下のレーザーフルエンスで照射して親水性を付与する工程とを有する。
また、本発明による細胞培養方法は、可視光領域において透明な屈折率1.33以上1.34以下のフッ素系樹脂基板からなる基板を酸素を含有しない雰囲気中に保持する工程と、前記基板の表面に波長が基板の光吸収端波長より短い200nm以下のレーザー光をアブレーション閾値以下のレーザーフルエンスで照射して親水性を付与する工程と、親水性を付与された基板上に直接細胞を培養する工程とを有する。
細胞の選択培養では、レーザー照射領域のみが親水性になることから、レーザー照射領域のみに強く細胞が培養される。よって、本発明はF2レーザーを照射するだけ、という簡単な工程で、かつ、少ない工程数により、細胞を屈折率が水とほぼ等しく可視領域において透明なフッ素樹脂基板上に選択培養できる。この基板は水と屈折率がほぼ等しいことから、細胞観察の際にあらゆる角度から細胞観察をすることが可能である。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
以下に示す実施例では、細胞培養液の屈折率、すなわち水の屈折率1.333と同程度の屈折率を有する可視光領域において透明なフッ素系樹脂として、屈折率が1.33〜1.34であるCYTOP(商品名、旭硝子株式会社)を用いた。CYTOPの化学構造は図1に示すとおりである。また、CYTOPは高い疎水性を有し、その光学的特性、化学的特性、電気的特性は以下のとおりである。
・光学的特性
透過限界波長:>95%(200nm<λ<2000nm、厚さ200μm)
屈折率:1.34(λ=589nm)
アッベ数:90
・化学的特性
耐酸性・耐アルカリ性、有機溶媒には反応なし
・電気的特性
誘電率:2.1
体積固有抵抗値:1017Ω・cm
絶縁破壊電圧:11kV/0.1mm
耐アーク性:180s
図2は、高い疎水性を有するCYTOP基板の表面改質に用いた装置の概略図である。CYTOP基板21は、XYステージ22上に保持されて窒素ガスで満たされた試料室23に配置されている。波長157nm、パルス幅20nsのF2レーザー24から30Hzの周期で発生されたレーザー光は、4×4mmのアパーチャ25を通って減衰板26で照射エネルギーを調整され、シャッター27を通り、CaF2製の対物レンズ28で集光されてCYTOP基板21上にスポット径50μm−10mmで照射される。照射エネルギーは、パワーメーター29によって計測し、減衰板26により調整することができる。レーザーフルエンスはアブレーション閾値以下(4mJ/cm2)とし、本実施例ではレーザーショット数は300shotとした。
なお、試料室23中の雰囲気は酸素を含有していなければ良く、真空雰囲気であっても良い。ここでレーザー光源としてF2レーザーを用いたのは、波長が200nm以下の157nmであり、フッ素樹脂基板の光吸収端波長よりも短いためである。この条件を満たせば、F2レーザー以外のレーザーを用いてもよい。また、レーザーフルエンスをアブレーション閾値以下としたのは、アブレーションにより加工痕が形成された場合、細胞は加工痕内に吸着されるが、加工痕の形状によって、細胞の形が制限されてしまうのを防ぐためである。CYTOP基板の場合、アブレーション閾値は32mJ/cm2のため、レーザーフルエンスを4mJ/cm2とした。
図3は、F2レーザー照射による表面改質の前と後に、CYTOP基板の表面に付着させた水滴の状態を示す図である。図3(a)は表面改質前に付着させた水滴の状態を示し、図3(b)は表面改質後に付着させた水滴の状態を示す。水滴の接触角は、表面改質前には110度であったが、表面改質後には73度と90度より小さくなっており、CYTOP基板の表面はF2レーザーをアブレーション閾値以下のエネルギーで照射することにより親水性が付与されることが確認できる。
図4は、レーザーショット数に対する接触角依存性の実験結果を示す図である。図4から、レーザーフルエンスが4mJ/cm2の条件では、ショット数が300〜500程度のとき接触角低下の効果が著しく、それより大幅にショット数を増した場合には親水性改善の効果が低減することが分かる。
本発明のF2レーザー照射による表面処理の場合、F2レーザー照射前後においてCYTOPの透過率特性に変化はなく、基板表面の平坦性も失われない。
図5に、F2レーザー照射前後のCYTOP基板表面のAFM像を示す。図5(a)はF2レーザー照射前のCYTOP基板表面AFM像、図5(b)はF2レーザーを300ショット照射した後のCYTOP基板表面AFM像、図5(c)はF2レーザーを1500ショット照射した後のCYTOP基板表面AFM像である。二乗平均粗さ(RMS)は、F2レーザー照射前が2.51nmであり、300ショット照射後に2.57nm、1500ショット照射後に6.06nmであった。
これより、F2レーザーを300ショット照射したことによる改質後の基板のRMSは培養した細胞の形状に影響を与えない基板本来の粗さと同等の2.6nm以下であることから、使用した細胞(HeLa細胞)の大きさに比べると、形質の変化や、観察時に影響を与えることがない。また、F2レーザー照射前と、300〜500ショットのF2レーザー照射後におけるCYTOP基板表面の二乗平均粗さ(RMS)の変化は2%以下であり、CYTOP基板表面の平坦性はF2レーザー照射による表面改質前後で保たれていることが確認できる。但し、本実施例の実験条件ではショット数が1000ショットを超えるとアブレーションが起こり始め、また親水性が落ちる。
図6(a)にF2レーザー未照射、図6(b)に300ショット照射後、図6(c)に1500ショット照射後のCYTOP基板の透過率特性を示す。F2レーザー照射による表面改質前後でCYTOPが有する透過率特性が維持されていることが確認できる。
次に、F2レーザー照射によって表面改質を行った本発明のCYTOP基板にHeLa細胞を培養した。比較のため、レーザー未照射のCYTOP基板にもHeLa細胞を培養した。ここで、図7に、CYTOP基板の表面改質から細胞培養までの処理手順を示す。最初に、大きさ10mm×10mm×500μm程度のCYTOP基板を用意し、それを図2に示した装置に装着して表面改質を行った(S11)。レーザースポット径は10mmである。レーザーフルエンスは上記同様、アブレーション閾値以下(4mJ/cm2)とし、レーザーショット数は300とした。次に、基板を70%エチルアルコールによって洗浄した(S12)。次に、洗浄したCYTOP基板にHeLa細胞を培養した(S13)。
図8に、細胞培養の結果を示す。図8(a)は表面改質を行った本発明のCYTOP基板上に培養されたHeLa細胞を示し、図8(b)はF2レーザー未照射のCYTOP基板上に培養されたHeLa細胞を示す。図8(a)より、本発明のレーザー改質を行ったCYTOP基板では、細胞が紡錘状に伸び、基板に強く密着しているのが確認できる。一方、レーザー改質を行わないCYTOP基板の場合には、図8(b)に示すように、基板表面が疎水性であることからその上の細胞は球状であり、また基板に密着しない。
次に、F2レーザー光を更に絞り、スポット径50μmとし、CYTOP基板上でスキャンさせてCYTOP基板表面を部分的に改質処理し、その後、そのCYTOP基板上にHeLa細胞培養を行った。実験条件は、レーザーフルエンス:4mJ/cm2、レーザースキャン速度:1μm/秒、レーザー照射幅:50μmである。図9に、細胞培養の結果を示す。図9より、HeLa細胞はレーザー照射された幅50μmの直線状の領域のみに吸着し、細胞が線上に配列しているのが確認できる。ここではCYTOP基板表面に細い直線状の改質領域を選択的に形成したが、改質領域を他のパターン形状に従って選択的に形成することも適宜可能である。例えば、細胞が吸着できる改質領域を三角や円の形にパターン化して形成できる。
また、従来法による細胞の培養では、ガラスやPDMSなどといった透明材料が培養基板として用いられているが、これらの透明材料は水との屈折率差が大きく、細胞の三次元顕微鏡観察には適さない。しかしながらCYTOPの屈折率は水の屈折率とほぼ同じであることから、細胞の3次元顕微鏡観察に適している。図10(a)にCYTOP基板上に細胞を培養した場合の細胞の3次元顕微鏡観察像を、図10(b)にガラス基板上に細胞を培養した場合の細胞の3次元顕微鏡観察像を示す。これらの図を比較すると、細胞を横から観察した際に、CYTOP基板を使用した場合には、その形状を鮮明に確認できるが、ガラス基板を使用した場合には、鏡像が現れる。また、細胞と基板との境界面は、CYTOP基板の場合には鮮明に映るが、ガラス基板を使用した場合、像がぼやけて見える。よって細胞を培養したCYTOP基板の3次元顕微鏡観察は従来法に比べて有効であると。
本発明は、F2レーザーを紫外透過性フッ素樹脂基板(CYTOP)に照射するだけ、という簡単な工程で、基板表面の選択的改質が可能であり、その改質した領域に細胞を選択的に固定化できる。また、CYTOPは水と屈折率がほぼ等しいことから、鮮明な細胞の顕微鏡観察用マイクロチップとして機能する。
なお、以上の説明では、水の屈折率1.33と同程度の屈折率を有する可視光領域において透明なフッ素系樹脂としてCYTOPを例にとって説明したが、同様の性質を持つ材料であればCYTOP以外の材料を用いてもかまわない。
CYTOPの化学構造を示す図。 基板の表面改質に用いた装置の概略図。 2レーザー照射による表面改質の前と後にCYTOP基板の表面に付着させた水滴の状態を示す図。 レーザーショット数に対する接触角依存性の実験結果を示す図。 2レーザー照射前後のCYTOP基板表面のAFM像を示す図。 2レーザー未照射及び照射後のCYTOP基板の透過率特性を示す図。 CYTOP基板の表面改質から細胞培養までの処理手順を示す図。 細胞培養の結果を示す図。 細胞培養の結果を示す図。 細胞の3次元顕微鏡観察像を示す図。
符号の説明
21 CYTOP基板
22 XYステージ
23 試料室
24 F2レーザー
25 アパーチャ
26 減衰板
27 シャッター
28 対物レンズ
29 パワーメーター

Claims (12)

  1. 可視光領域において透明な屈折率1.33以上1.34以下のフッ素系樹脂からなり、
    レーザーフルエンスがアブレーション閾値以下の紫外線レーザー照射によって、表面に親水性領域が形成されたことを特徴とする細胞培養基板。
  2. 請求項1記載の細胞培養基板において、前記親水性領域の表面の二乗平均粗さが2.6nm以下であることを特徴とする細胞培養基板。
  3. 請求項1又は2記載の細胞培養基板において、所定のパターンに従って前記親水性領域が形成されていることを特徴とする細胞培養基板。
  4. 請求項1−3のいずれか1項記載の細胞培養基板において、前記フッ素系樹脂は化学式[CF2=CFOCF2CF2CF=CF2]nで表される樹脂であり、前記紫外線レーザーはF2レーザーであることを特徴とする細胞培養基板。
  5. 可視光領域において透明な屈折率1.33以上1.34以下のフッ素系樹脂基板を酸素を含有しない雰囲気中に保持する工程と、
    前記基板の表面に波長が基板の光吸収端波長より短い200nm以下のレーザー光をアブレーション閾値以下のレーザーフルエンスで照射して親水性を付与する工程とを有することを特徴とする細胞培養基板の製造方法。
  6. 請求項5記載の細胞培養基板の製造方法において、前記フッ素系樹脂は化学式[CF2=CFOCF2CF2CF=CF2]nで表される樹脂であり、前記レーザーはF2レーザーであることを特徴とする細胞培養基板の製造方法。
  7. 請求項5又は6記載の細胞培養基板の製造方法において、前記親水性が付与された領域は表面の二乗平均粗さが基板本来の粗さと同等の2.6nm以下であることを特徴とする細胞培養基板の製造方法。
  8. 請求項5−7のいずれか1項記載の細胞培養基板の製造方法において、前記レーザー光照射の前後における表面の二乗平均粗さの変化が2%以下であることを特徴とする細胞培養基板の製造方法。
  9. 可視光領域において透明な屈折率1.33以上1.34以下のフッ素系樹脂基板からなる基板を酸素を含有しない雰囲気中に保持する工程と、
    前記基板の表面に波長が基板の光吸収端波長より短い200nm以下のレーザー光をアブレーション閾値以下のレーザーフルエンスで照射して親水性を付与する工程と、
    前記親水性を付与された基板上に細胞を培養する工程とを有することを特徴とする細胞培養方法。
  10. 請求項9記載の細胞培養方法において、前記フッ素系樹脂は化学式[CF2=CFOCF2CF2CF=CF2]nで表される樹脂であり、前記レーザーはF2レーザーであることを特徴とする細胞培養方法。
  11. 請求項9又は10記載の細胞培養方法において、前記親水性が付与された領域は表面の二乗平均粗さが基板本来の粗さと同等の2.6nm以下であることを特徴とする細胞培養方法。
  12. 請求項9−11のいずれか1項記載の細胞培養方法において、前記レーザー光照射の前後における表面の二乗平均粗さの変化が2%以下であることを特徴とする細胞培養方法。
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