JP2010053199A - Resin composition for sealing optical semiconductor - Google Patents

Resin composition for sealing optical semiconductor Download PDF

Info

Publication number
JP2010053199A
JP2010053199A JP2008217609A JP2008217609A JP2010053199A JP 2010053199 A JP2010053199 A JP 2010053199A JP 2008217609 A JP2008217609 A JP 2008217609A JP 2008217609 A JP2008217609 A JP 2008217609A JP 2010053199 A JP2010053199 A JP 2010053199A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical semiconductor
resin composition
epoxy resin
curing
sealing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008217609A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5154340B2 (en
Inventor
Hideyuki Takai
英行 高井
Hiroyuki Hirakawa
裕之 平川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daicel Corp
Original Assignee
Daicel Chemical Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daicel Chemical Industries Ltd filed Critical Daicel Chemical Industries Ltd
Priority to JP2008217609A priority Critical patent/JP5154340B2/en
Publication of JP2010053199A publication Critical patent/JP2010053199A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5154340B2 publication Critical patent/JP5154340B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Graft Or Block Polymers (AREA)
  • Epoxy Resins (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a resin composition for sealing an optical semiconductor which can give a cured product to exert an excellent crack resistance while maintaining a high heat resistance and the transparency. <P>SOLUTION: This resin composition for sealing an optical semiconductor contains: a rubber particle-dispersed curable epoxy resin (A) in which an alicyclic epoxy resin is made to disperse such rubber particles that comprise a polymer having a (meth)acrylic acid ester as an essential monomer component and have on the surface a hydroxyl group and/or a carboxyl group as a functional group reactive with an epoxy group and have an average particle diameter of 10-500 nm, a maximal particle diameter of 50-1,000 nm and have a difference in the refractive index from a cured product of this resin composition for sealing an optical semiconductor of within ±0.02; a multifunctional thiol (B); a curing agent (C); and a curing accelerator (D). <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、光半導体封止用樹脂組成物、これを硬化して得られる硬化物、及びこれを使用して光半導体素子を封止した光半導体装置に関する。さらに詳しくは、耐熱性、透明性を低下させることなく、耐クラック性の向上した硬化物が得られる熱硬化性エポキシ樹脂組成物からなる光半導体封止用樹脂組成物と、これを硬化して得られる硬化物、及びこれを使用して光半導体素子を封止した光半導体装置に関する。   The present invention relates to an optical semiconductor sealing resin composition, a cured product obtained by curing the same, and an optical semiconductor device in which an optical semiconductor element is sealed using the same. More specifically, a resin composition for encapsulating an optical semiconductor comprising a thermosetting epoxy resin composition capable of obtaining a cured product having improved crack resistance without reducing heat resistance and transparency, and curing the resin composition. The present invention relates to a cured product obtained and an optical semiconductor device in which an optical semiconductor element is sealed using the cured product.

光半導体素子封止用のエポキシ樹脂組成物には、透明性、耐熱性が良好な脂環骨格を有する液状のエポキシ化合物が多用される。このようなエポキシ化合物として、例えば、いずれもダイセル化学工業株式会社製のセロキサイド2021(3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート)、セロキサイド2081(3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレートとε−カプロラクトンの付加物)、セロキサイド3000(1,2,8,9−ジエポキシリモネン)などが挙げられる。   A liquid epoxy compound having an alicyclic skeleton having good transparency and heat resistance is frequently used for an epoxy resin composition for sealing an optical semiconductor element. Examples of such epoxy compounds include Celoxide 2021 (3,4-epoxycyclohexylmethyl-3 ′, 4′-epoxycyclohexanecarboxylate) and Celoxide 2081 (3,4-epoxycyclohexyl), both manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd. Methyl-3 ′, 4′-epoxycyclohexanecarboxylate and ε-caprolactone adduct), Celoxide 3000 (1,2,8,9-diepoxy limonene) and the like.

セロキサイド2021に代表される3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート構造を持ったエポキシ化合物は、耐熱性、透明性に優れた硬化物を作るためLEDなどの光半導体封止用樹脂に使用されている。しかし、セロキサイド2021などの脂環エポキシ化合物は、強靱性に問題があり、ヒートサイクル試験におけるクラックの発生により、電子部品の信頼性を低下させる。   Epoxy compounds having a 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3 ′, 4′-epoxycyclohexanecarboxylate structure represented by Celoxide 2021 are used to produce cured products with excellent heat resistance and transparency. Used in sealing resins. However, alicyclic epoxy compounds such as Celoxide 2021 have a problem in toughness, and the reliability of electronic components is reduced due to the occurrence of cracks in the heat cycle test.

かかる問題点を改善しようとする提案としては、例えば、核水添されたビスフェノールAのジグリシジルエーテルを含む光半導体封止用エポキシ樹脂組成物が知られている(例えば、特許文献1参照)。また、さらに、エポキシ樹脂に強靭性を付与する手段として、エポキシ樹脂中にコアシェルポリマーを分散させる手法が知られている(例えば、特許文献2参照)。また、エポキシ樹脂中にポリエーテルポリオールを配合し、ブタジエン系ゴムのコア構造とメチルメタアクリレート系樹脂のシェル構造とを有する粒子を該エポキシ樹脂中に分散させる方法が提案されている(例えば、特許文献3参照)。   As a proposal for improving such a problem, for example, an epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor containing diglycidyl ether of bisphenol A that has been hydrogenated is known (for example, see Patent Document 1). Furthermore, as a means for imparting toughness to the epoxy resin, a technique of dispersing a core-shell polymer in the epoxy resin is known (for example, see Patent Document 2). Further, a method has been proposed in which polyether polyol is blended in an epoxy resin, and particles having a core structure of butadiene rubber and a shell structure of methyl methacrylate resin are dispersed in the epoxy resin (for example, patents) Reference 3).

一方、樹脂の屈折率を高めるためチオアルコールを光半導体封止用樹脂に用いる例として、脂肪族エポキシ樹脂の硬化に多官能チオアルコールを硬化剤として用いる例(例えば、特許文献4参照)や、モノアルキルチオアルコールを光半導体封止用樹脂に用いている例が知られている(例えば、特許文献5、6、7、8参照)。   On the other hand, as an example of using thioalcohol as a resin for encapsulating an optical semiconductor to increase the refractive index of the resin, an example of using a polyfunctional thioalcohol as a curing agent for curing an aliphatic epoxy resin (for example, see Patent Document 4), Examples in which monoalkylthioalcohol is used as a resin for encapsulating an optical semiconductor are known (see, for example, Patent Documents 5, 6, 7, and 8).

しかし、特許文献1に記載されている光半導体封止用エポキシ樹脂組成物の硬化物は着色や耐候性、耐熱性等の点で問題がある。特許文献2に記載されているエポキシ樹脂組成物は透明性には何ら触れられていない。また、特許文献3に記載されているエポキシ樹脂組成物は紫外線による光硬化性樹脂組成物であり、注型加熱による厚膜硬化に特徴を見出したものではない。また、硬化物の透明性の点で満足すべきものではない。特許文献4に記載のチオアルコールを硬化剤として使用する例は、チオアルコールのみを硬化剤として用いておりTgが低くなりすぎることと、基材の表面に特殊な表面処理を施す必要があるためあまり実用的な方法と言えない。特許文献5、6、7、8に記載のモノアルキルチオールを用いる例は、単官能のチオアルコールを用いているため強度低下を引き起こすおそれがある上、固体のエポキシ樹脂組成物を用いるトランスファー成形の応用例であり、適用の際に金型や樹脂の冷蔵貯蔵設備を準備するなど設備費用がかかるという問題点がある。   However, the cured product of the epoxy resin composition for sealing an optical semiconductor described in Patent Document 1 has problems in terms of coloring, weather resistance, heat resistance, and the like. The epoxy resin composition described in Patent Document 2 does not mention any transparency. Moreover, the epoxy resin composition described in Patent Document 3 is a photocurable resin composition by ultraviolet rays, and has not found a feature in thick film curing by casting heating. Further, it is not satisfactory in terms of transparency of the cured product. In the example of using thioalcohol described in Patent Document 4 as a curing agent, only thioalcohol is used as a curing agent because Tg becomes too low and it is necessary to perform a special surface treatment on the surface of the substrate. It's not very practical. In the examples using monoalkyl thiols described in Patent Documents 5, 6, 7, and 8, since monofunctional thioalcohol is used, there is a risk of causing a decrease in strength, and transfer molding using a solid epoxy resin composition is also possible. This is an application example, and there is a problem that equipment costs are incurred, such as preparing a refrigerated storage facility for molds and resins when applied.

特開平9−255764号公報Japanese Patent Laid-Open No. 9-255564 特開2005−255822号公報JP 2005-255822 A 特開平11−240939号公報JP-A-11-240939 特開2007−109915号公報JP 2007-109915 A 特開平11−269351号公報JP-A-11-269351 特開2002−353518号公報JP 2002-353518 A 特開2003−268200号公報JP 2003-268200 A 特開2007−197627号公報JP 2007-197627 A

本発明の目的は、前記問題点を改善し、硬化物のガラス転移温度(Tg)が低下することがなく、高い耐熱性および透明性を維持したまま、耐クラック性が付与された硬化物が得られる光半導体封止用樹脂組成物、該光半導体封止用樹脂組成物を硬化して得られる硬化物、及び該光半導体封止用樹脂組成物によって光半導体素子が封止されてなる光半導体装置を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、上記の特性に加え、さらに粘度が低く貯蔵安定性、加工性に優れる光半導体封止用樹脂組成物、該光半導体封止用樹脂組成物を硬化して得られる硬化物、及び該光半導体封止用樹脂組成物によって光半導体素子が封止されてなる光半導体装置を提供することにある。
The object of the present invention is to improve the above-mentioned problems, and to provide a cured product having crack resistance imparted while maintaining high heat resistance and transparency without lowering the glass transition temperature (Tg) of the cured product. Optical semiconductor sealing resin composition obtained, cured product obtained by curing the optical semiconductor sealing resin composition, and light obtained by sealing an optical semiconductor element with the optical semiconductor sealing resin composition It is to provide a semiconductor device.
Another object of the present invention is to cure the resin composition for optical semiconductor encapsulation, in addition to the above-mentioned properties, by further curing the resin composition for optical semiconductor encapsulation having a low viscosity and excellent storage stability and processability. An object of the present invention is to provide an optical semiconductor device in which an optical semiconductor element is sealed with the obtained cured product and the resin composition for optical semiconductor sealing.

本発明者らは、上記課題を解決するため鋭意検討した結果、特定のゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂中に分散させ、弾性特性を改良することによりヒートサイクル性の問題を改善できることを見出した。また、ゴム粒子を分散させた硬化性エポキシ樹脂と多官能チオールとを配合することにより、光学的に均質な硬化物が得られ、かつ、硬化不良部位発生という問題がなく、硬化物の透明性、耐熱性を維持したまま強靱性(低曲げ弾性率、高曲げ強度)を付与できる光半導体封止用樹脂組成物が得られることを見出した。本発明はこれらの知見に基づき、さらに研究を重ねて完成したものである。   As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have found that the problem of heat cycleability can be improved by dispersing specific rubber particles in an alicyclic epoxy resin and improving the elastic properties. . Also, by blending a curable epoxy resin in which rubber particles are dispersed and a polyfunctional thiol, an optically uniform cured product can be obtained, and there is no problem of occurrence of defective curing sites, and the transparency of the cured product is obtained. It was found that a resin composition for encapsulating an optical semiconductor capable of imparting toughness (low bending elastic modulus, high bending strength) while maintaining heat resistance was obtained. The present invention has been completed based on these findings and further research.

すなわち、本発明は、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面にエポキシ基と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、且つ当該光半導体封止用樹脂組成物の硬化物との屈折率差が±0.02以内であるゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)、多官能チオール(B)、硬化剤(C)、及び硬化促進剤(D)を含む光半導体封止用樹脂組成物を提供する。   That is, the present invention is composed of a polymer having (meth) acrylic acid ester as an essential monomer component, and has a hydroxyl group and / or a carboxyl group as a functional group capable of reacting with an epoxy group on the surface, and an average particle diameter of 10 nm. Disperse rubber particles in an alicyclic epoxy resin having a maximum particle diameter of 50 nm to 1000 nm and a difference in refractive index within ± 0.02 with respect to the cured product of the resin composition for encapsulating an optical semiconductor. A resin composition for encapsulating an optical semiconductor comprising a rubber particle-dispersed curable epoxy resin (A), a polyfunctional thiol (B), a curing agent (C), and a curing accelerator (D) is provided.

本発明は、また、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面にエポキシ基と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、且つ当該光半導体封止用樹脂組成物の硬化物との屈折率差が±0.02以内であるゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)、多官能チオール(B)、及び熱硬化触媒(E)を含む光半導体封止用樹脂組成物を提供する。   The present invention is also composed of a polymer having (meth) acrylic acid ester as an essential monomer component, and has a hydroxyl group and / or a carboxyl group as a functional group capable of reacting with an epoxy group on the surface, and an average particle size of 10 nm. Disperse rubber particles in an alicyclic epoxy resin having a maximum particle diameter of 50 nm to 1000 nm and a difference in refractive index within ± 0.02 with respect to the cured product of the resin composition for encapsulating an optical semiconductor. An optical semiconductor encapsulating resin composition comprising a rubber particle-dispersed curable epoxy resin (A), a polyfunctional thiol (B), and a thermosetting catalyst (E) is provided.

前記多官能チオール(B)は25℃で液状であるのが好ましい。また、前記硬化剤(C)は25℃で液状の酸無水物であるのが好ましい。   The polyfunctional thiol (B) is preferably liquid at 25 ° C. Moreover, it is preferable that the said hardening | curing agent (C) is a liquid acid anhydride at 25 degreeC.

本発明は、さらに、上記の各光半導体封止用樹脂組成物を硬化して得られる硬化物を提供する。   The present invention further provides a cured product obtained by curing each of the above resin compositions for encapsulating an optical semiconductor.

本発明は、さらにまた、上記の各光半導体封止用樹脂組成物によって光半導体素子が封止されてなる光半導体装置を提供する。   The present invention further provides an optical semiconductor device in which an optical semiconductor element is sealed with each of the above-mentioned resin compositions for sealing an optical semiconductor.

本発明の光半導体封止用樹脂組成物は脂環式エポキシ樹脂に特定の特性を有するゴム粒子を分散させた硬化性エポキシ樹脂と多官能チオールとを含んでいるので、ゴム粒子を含んでいながら、熱硬化させて得られる硬化物は光学的に均質であり、硬化不良部位の発生という問題がない。また、高温時にもヘーズが発生しないレベルの粒子径でゴム粒子を設計しているので透明性が高い。さらに、上記特定のゴム粒子を含有していることから、低曲げ弾性率、高曲げ強度であるため、耐クラック性に優れ、また、ガラス転移温度が高く耐熱性に優れている。   The resin composition for encapsulating an optical semiconductor of the present invention contains a curable epoxy resin in which rubber particles having specific characteristics are dispersed in an alicyclic epoxy resin and a polyfunctional thiol, and therefore does not contain rubber particles. However, the cured product obtained by heat curing is optically homogeneous, and there is no problem of occurrence of poorly cured sites. Further, since the rubber particles are designed with a particle size that does not generate haze even at high temperatures, the transparency is high. Furthermore, since it contains the specific rubber particles, it has a low bending elastic modulus and a high bending strength, and thus has excellent crack resistance, and has a high glass transition temperature and excellent heat resistance.

[光半導体封止用樹脂組成物]
本発明の第1の光半導体封止用樹脂組成物は、ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)、多官能チオール(B)、硬化剤(C)及び硬化促進剤(D)を必須の構成成分として含んでいる。本発明の第2の光半導体封止用樹脂組成物は、ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)、多官能チオール(B)及び熱硬化触媒(E)を必須の構成成分として含んでいる。なお、本発明の光半導体封止用樹脂組成物は、上記のほか、本発明の効果を損なわない範囲で各種添加剤を含んでいてもよい。
[Resin composition for optical semiconductor encapsulation]
The first resin composition for encapsulating an optical semiconductor of the present invention comprises a rubber particle dispersion curable epoxy resin (A), a polyfunctional thiol (B), a curing agent (C), and a curing accelerator (D). Contains as an ingredient. The second resin composition for encapsulating an optical semiconductor of the present invention contains a rubber particle dispersion curable epoxy resin (A), a polyfunctional thiol (B), and a thermosetting catalyst (E) as essential components. In addition to the above, the resin composition for sealing an optical semiconductor of the present invention may contain various additives as long as the effects of the present invention are not impaired.

[ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)]
本発明におけるゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)は、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面にエポキシ基と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、且つ当該光半導体封止用樹脂組成物(=本発明の光半導体封止用樹脂組成物)の硬化物との屈折率差が±0.02以内となるゴム粒子(a)を、脂環式エポキシ樹脂(b)に分散させたものである。
[Rubber particle dispersion curable epoxy resin (A)]
The rubber particle dispersion curable epoxy resin (A) in the present invention is composed of a polymer having (meth) acrylic acid ester as an essential monomer component, and has hydroxyl groups and / or carboxyl groups as functional groups capable of reacting with epoxy groups on the surface. A cured product of the resin composition for encapsulating an optical semiconductor (= the resin composition for encapsulating an optical semiconductor of the present invention) having an average particle diameter of 10 nm to 500 nm, a maximum particle diameter of 50 nm to 1000 nm, and The rubber particles (a) having a refractive index difference within ± 0.02 are dispersed in the alicyclic epoxy resin (b).

(ゴム粒子(a))
本発明におけるゴム粒子(a)は、ゴム弾性を有するコア部分と、該コア部分を被覆する少なくとも1層のシェル層とから成る多層構造(コアシェル構造)を有する。また、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成されており、表面に脂環式エポキシ樹脂のエポキシ基と反応しうるヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有する。ヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基がゴム粒子表面に存在しない場合、冷熱衝撃試験により硬化物が白濁し透明性が低下することがあるため好ましくない。
(Rubber particles (a))
The rubber particle (a) in the present invention has a multilayer structure (core-shell structure) comprising a core portion having rubber elasticity and at least one shell layer covering the core portion. Moreover, it is comprised with the polymer which uses (meth) acrylic acid ester as an essential monomer component, and has the hydroxyl group and / or carboxyl group which can react with the epoxy group of an alicyclic epoxy resin on the surface. When a hydroxyl group and / or a carboxyl group are not present on the rubber particle surface, the cured product may become cloudy and the transparency may be lowered by a thermal shock test, which is not preferable.

ゴム弾性を有するコア部分のポリマーを構成するモノマー成分としては、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸ブチルなどの(メタ)アクリル酸エステルを必須とする。(メタ)アクリル酸エステル以外に含んでいてもよいモノマー成分としては、例えば、ジメチルシロキサン、フェニルメチルシロキサンなどのシリコーン、スチレン、α−メチルスチレンなどの芳香族ビニル化合物、アクリロニトリル、メタクリロニトリルなどのニトリル、ブタジエン、イソプレンなどの共役ジエン、ウレタン、エチレン、プロピレン、イソブテンなどのオレフィンなどを挙げることができる。   As a monomer component constituting the polymer of the core portion having rubber elasticity, (meth) acrylate such as methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, and butyl (meth) acrylate is essential. Examples of monomer components other than (meth) acrylic acid esters include silicones such as dimethylsiloxane and phenylmethylsiloxane, aromatic vinyl compounds such as styrene and α-methylstyrene, acrylonitrile, methacrylonitrile, and the like. Examples thereof include conjugated dienes such as nitrile, butadiene and isoprene, and olefins such as urethane, ethylene, propylene and isobutene.

本発明においては、ゴム弾性を有するコア部分を構成するモノマー成分として、(メタ)アクリル酸エステルと共に、シリコーン、芳香族ビニル化合物、ニトリル、共役ジエンから選択された1種又は2種以上を組み合わせて含んでいることが好ましく、例えば、(メタ)アクリル酸エステル/芳香族ビニル化合物、(メタ)アクリル酸エステル/共役ジエン等の二元共重合体;(メタ)アクリル酸エステル/芳香族ビニル/共役ジエン等の三元共重合体などを挙げることができる。   In the present invention, as a monomer component constituting the core portion having rubber elasticity, together with (meth) acrylic acid ester, one or more selected from silicone, aromatic vinyl compound, nitrile and conjugated diene are combined. For example, a binary copolymer such as (meth) acrylic acid ester / aromatic vinyl compound, (meth) acrylic acid ester / conjugated diene; (meth) acrylic acid ester / aromatic vinyl / conjugated Examples thereof include terpolymers such as dienes.

ゴム弾性を有するコア部分には、上記モノマー成分の他にジビニルベンゼン、アリル(メタ)アクリレート、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジアリルマレエート、トリアリルシアヌレート、ジアリルフタレート、ブチレングリコールジアクリレートなどの分子中に2以上の反応性官能基を有する反応性架橋モノマーに対応する構造単位を含有していてもよい。   In addition to the above monomer components, the core portion having rubber elasticity includes divinylbenzene, allyl (meth) acrylate, ethylene glycol di (meth) acrylate, diallyl maleate, triallyl cyanurate, diallyl phthalate, butylene glycol diacrylate, etc. The molecule may contain a structural unit corresponding to a reactive crosslinking monomer having two or more reactive functional groups.

本発明におけるゴム弾性を有するコア部分を構成するモノマー成分としては、なかでも、(メタ)アクリル酸エステル/芳香族ビニル化合物の二元共重合体(特に、アクリル酸ブチル/スチレン)等の(メタ)アクリル酸エステルと芳香族ビニル化合物を少なくとも必須モノマー成分とする共重合体であることが、容易にゴム粒子の屈折率を調整することができる点で好ましい。   As the monomer component constituting the core portion having rubber elasticity in the present invention, (meth) acrylic acid ester / aromatic vinyl compound binary copolymer (especially butyl acrylate / styrene) and the like (meta) ) A copolymer containing at least an acrylic acid ester and an aromatic vinyl compound as essential monomer components is preferable because the refractive index of the rubber particles can be easily adjusted.

ゴム弾性を有するコア部分は、通常用いられる方法で製造することができ、例えば、上記モノマーを乳化重合法により重合する方法などを挙げることができる。乳化重合法としては、上記モノマーの全量を一括して仕込み重合してもよく、上記モノマーの一部を重合させた後、残りを連続的に又は断続的に添加して重合してもよく、さらに、シード粒子を使用する重合方法を使用してもよい。   The core portion having rubber elasticity can be produced by a commonly used method, and examples thereof include a method of polymerizing the above monomer by an emulsion polymerization method. As the emulsion polymerization method, the whole amount of the monomer may be charged and polymerized in a lump, or after polymerizing a part of the monomer, the remainder may be added continuously or intermittently to polymerize, Furthermore, a polymerization method using seed particles may be used.

シェル層は、上記コア部分を構成する重合体とは異種の重合体から成ることが好ましい。また、シェル層には、脂環式エポキシ樹脂のエポキシ基と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有する。それにより、脂環式エポキシ樹脂との界面で接着性を向上させることができ、該シェル層を有するゴム粒子を含む光半導体封止用樹脂組成物を硬化させることにより、優れた耐クラック性を有し、白濁のない透明な硬化物を得ることができる。また、硬化物のガラス転移温度が低下することを防止することができる。   The shell layer is preferably made of a polymer different from the polymer constituting the core portion. Further, the shell layer has a hydroxyl group and / or a carboxyl group as a functional group capable of reacting with the epoxy group of the alicyclic epoxy resin. Thereby, adhesiveness can be improved at the interface with the alicyclic epoxy resin, and excellent crack resistance can be obtained by curing the resin composition for optical semiconductor encapsulation containing the rubber particles having the shell layer. A transparent cured product having white turbidity can be obtained. Moreover, it can prevent that the glass transition temperature of hardened | cured material falls.

シェル層を構成するモノマー成分としては、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸ブチルなどの(メタ)アクリル酸エステルを必須とし、例えば、コア部分を構成する(メタ)アクリル酸エステルがアクリル酸ブチルである場合、シェル層は、アクリル酸ブチル以外の(メタ)アクリル酸エステル(例えば、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、メタクリル酸ブチルなど)を使用することが好ましい。(メタ)アクリル酸エステル以外に含んでいてもよいモノマー成分としては、例えば、スチレン、α−メチルスチレンなどの芳香族ビニル化合物、アクリロニトリル、メタクリロニトリルどのニトリルなどを挙げることができる。本発明においては、シェル層を構成するモノマー成分として、(メタ)アクリル酸エステルと共に、上記モノマーを単独で又は2種以上を組み合わせて含んでいることが好ましく、特に、少なくとも芳香族ビニル化合物を含むことが、容易にゴム粒子の屈折率を調整することができる点で好ましい。   As a monomer component which comprises a shell layer, (meth) acrylic acid esters, such as methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, and (butyl) (meth) acrylate, are essential, for example, a core part is comprised ( When the (meth) acrylate is butyl acrylate, the shell layer is made of (meth) acrylate other than butyl acrylate (for example, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, butyl methacrylate). Is preferably used. Examples of the monomer component that may be contained in addition to the (meth) acrylic acid ester include aromatic vinyl compounds such as styrene and α-methylstyrene, nitriles such as acrylonitrile and methacrylonitrile. In the present invention, as a monomer component constituting the shell layer, it is preferable to contain the above monomers alone or in combination of two or more together with (meth) acrylic acid ester, and in particular, at least an aromatic vinyl compound is included. It is preferable that the refractive index of the rubber particles can be easily adjusted.

さらに、脂環式エポキシ樹脂のエポキシ基と反応し得る官能基としてのヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有するモノマー成分として、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレートなどのヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリル酸などのα,β−不飽和カルボン酸、マレイン酸無水物などのα,β−不飽和カルボン酸無水物などのモノマーを含有することが好ましい。   Furthermore, as a monomer component having a hydroxyl group and / or a carboxyl group as a functional group capable of reacting with an epoxy group of an alicyclic epoxy resin, a hydroxyalkyl (meth) acrylate such as 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, (meta It is preferable to contain monomers such as α, β-unsaturated carboxylic acid such as acrylic acid and α, β-unsaturated carboxylic acid anhydride such as maleic anhydride.

本発明においては、シェル層を構成するモノマー成分として、(メタ)アクリル酸エステルと共に、上記モノマーから選択された1種又は2種以上を組み合わせて含んでいることが好ましく、例えば、(メタ)アクリル酸エステル/芳香族ビニル化合物/ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリル酸エステル/芳香族ビニル化合物/α,β−不飽和カルボン酸等の三元共重合体などを挙げることができる。   In the present invention, the monomer component constituting the shell layer preferably contains one or more selected from the above monomers together with (meth) acrylic acid ester, for example, (meth) acrylic Examples thereof include terpolymers such as acid ester / aromatic vinyl compound / hydroxyalkyl (meth) acrylate, (meth) acrylic acid ester / aromatic vinyl compound / α, β-unsaturated carboxylic acid, and the like.

また、シェル層は、コア部分と同様に、上記モノマーの他にジビニルベンゼン、アリル(メタ)アクリレート、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジアリルマレエート、トリアリルシアヌレート、ジアリルフタレート、ブチレングリコールジアクリレートなどの分子中に2以上の反応性官能基を有する反応性架橋モノマーに対応する構造単位を含有していてもよい。   In addition to the above monomers, the shell layer is composed of divinylbenzene, allyl (meth) acrylate, ethylene glycol di (meth) acrylate, diallyl maleate, triallyl cyanurate, diallyl phthalate, butylene glycol diacrylate, as well as the core portion. A structural unit corresponding to a reactive crosslinking monomer having two or more reactive functional groups may be contained in the molecule.

コア部分をシェル層で被覆する方法としては、例えば、上記方法により得られたゴム弾性を有するコア部分の表面に、シェル層を構成する共重合体を塗布することにより被覆する方法、上記方法により得られたゴム弾性を有するコア部分を幹成分とし、シェル層を構成する各成分を枝成分としてグラフト重合する方法などを挙げることができる。   As a method of coating the core portion with the shell layer, for example, a method of coating the surface of the core portion having rubber elasticity obtained by the above method by applying a copolymer constituting the shell layer, by the above method Examples thereof include a method of graft polymerization using the obtained core portion having rubber elasticity as a trunk component and each component constituting the shell layer as a branch component.

本発明におけるゴム粒子の平均粒子径は、10〜500nmの範囲であり、好ましくは20〜400nm程度である。また、ゴム粒子の最大粒子径は、50〜1000nmの範囲であり、好ましくは100〜800nm程度である。平均粒子径が500nmを上回ると、又は、ゴム粒子の最大粒子径が1000nmを上回ると、硬化物の透明性が低下し、光半導体の光度が低下する傾向がある。一方、平均粒子径が10nmを下回ると、又は、ゴム粒子の最大粒子径が50nmを下回ると、耐クラック性が低下する傾向がある。   The average particle diameter of the rubber particles in the present invention is in the range of 10 to 500 nm, preferably about 20 to 400 nm. The maximum particle size of the rubber particles is in the range of 50 to 1000 nm, preferably about 100 to 800 nm. When the average particle diameter exceeds 500 nm, or when the maximum particle diameter of the rubber particles exceeds 1000 nm, the transparency of the cured product tends to decrease and the light intensity of the optical semiconductor tends to decrease. On the other hand, if the average particle size is less than 10 nm or the maximum particle size of the rubber particles is less than 50 nm, the crack resistance tends to be reduced.

本発明におけるゴム粒子の屈折率としては、例えば1.40〜1.60、好ましくは1.42〜1.58程度である。また、ゴム粒子の屈折率と、該ゴム粒子を含む光半導体封止用樹脂組成物を硬化して得られる硬化物の屈折率との差は±0.02以内であり、なかでも、±0.018以内であることが好ましい。屈折率の差が±0.02を上回ると、硬化物の透明性が低下し、時には白濁して、光半導体の光度が低下する傾向があり、光半導体の機能を消失させてしまう場合がある。ゴム粒子の屈折率は、コア部分及びシェル層のポリマーを構成するモノマー成分の種類及び含量等により調整できる。   The refractive index of the rubber particles in the present invention is, for example, 1.40 to 1.60, preferably about 1.42 to 1.58. Further, the difference between the refractive index of the rubber particles and the refractive index of the cured product obtained by curing the resin composition for encapsulating an optical semiconductor containing the rubber particles is within ± 0.02, among which ± 0 Preferably it is within .018. If the difference in refractive index exceeds ± 0.02, the transparency of the cured product is reduced, sometimes it becomes cloudy, the light intensity of the optical semiconductor tends to decrease, and the function of the optical semiconductor may be lost. . The refractive index of the rubber particles can be adjusted by the kind and content of the monomer component constituting the polymer of the core portion and the shell layer.

ゴム粒子の屈折率は、例えば、ゴム粒子1gを型に注型して210℃、4MPaで圧縮成形し、厚さ1mmの平板を得、得られた平板から、縦20mm×横6mmの試験片を切り出し、中間液としてモノブロモナフタレンを使用してプリズムと該試験片とを密着させた状態で、多波長アッベ屈折計(商品名「DR−M2」、(株)アタゴ製)を使用し、20℃、ナトリウムD線での屈折率を測定することにより求めることができる。   The refractive index of the rubber particles is, for example, by casting 1 g of rubber particles into a mold and compression molding at 210 ° C. and 4 MPa to obtain a flat plate having a thickness of 1 mm. From the obtained flat plate, a test piece having a length of 20 mm × width of 6 mm And using a multi-wavelength Abbe refractometer (trade name “DR-M2”, manufactured by Atago Co., Ltd.) in a state where the prism and the test piece are in close contact using monobromonaphthalene as an intermediate solution, It can be determined by measuring the refractive index at 20 ° C. and sodium D line.

光半導体封止用樹脂組成物の硬化物の屈折率は、例えば、下記光半導体装置の項に記載の加熱硬化方法により得られた硬化物から、縦20mm×横6mm×厚さ1mmの試験片を切り出し、中間液としてモノブロモナフタレンを使用してプリズムと該試験片とを密着させた状態で、多波長アッベ屈折計(商品名「DR−M2」、(株)アタゴ製)を使用し、20℃、ナトリウムD線での屈折率を測定することにより求めることができる。   The refractive index of the cured product of the resin composition for encapsulating an optical semiconductor is, for example, a test piece of 20 mm long × 6 mm wide × 1 mm thick from a cured product obtained by the heat curing method described in the following section of the optical semiconductor device. And using a multi-wavelength Abbe refractometer (trade name “DR-M2”, manufactured by Atago Co., Ltd.) in a state where the prism and the test piece are in close contact using monobromonaphthalene as an intermediate solution, It can be determined by measuring the refractive index at 20 ° C. and sodium D line.

(脂環式エポキシ樹脂(b))
本発明における脂環式エポキシ樹脂(b)は、脂環を構成する隣接する2つの炭素原子と酸素原子とで構成されるエポキシ基を2個以上有する脂環式化合物であり、一般に慣用されているものの中から1又は2以上を任意に選択して使用することができる。本発明における脂環式エポキシ樹脂としては、調合時、及び注型時の作業性の点から、常温(25℃)で液状を呈するものが好ましい。
(Alicyclic epoxy resin (b))
The alicyclic epoxy resin (b) in the present invention is an alicyclic compound having two or more epoxy groups composed of two adjacent carbon atoms and oxygen atoms constituting the alicyclic ring, and is generally used. One or two or more can be arbitrarily selected and used. As the alicyclic epoxy resin in the present invention, those exhibiting a liquid state at normal temperature (25 ° C.) are preferable from the viewpoint of workability during preparation and casting.

本発明における脂環式エポキシ樹脂としては、特に、透明性、及び耐熱性の点で下記式(1)で表される脂環式エポキシ樹脂が好ましい。   The alicyclic epoxy resin in the present invention is particularly preferably an alicyclic epoxy resin represented by the following formula (1) in terms of transparency and heat resistance.

Figure 2010053199
式中、Yは連結基を示し、例えば、単結合、2価の炭化水素基、カルボニル基、エーテル結合、エステル結合、アミド結合、及びこれらが複数個連結した基等が挙げられる。
Figure 2010053199
In the formula, Y represents a linking group, and examples thereof include a single bond, a divalent hydrocarbon group, a carbonyl group, an ether bond, an ester bond, an amide bond, and a group in which a plurality of these are linked.

2価の炭化水素基としては、炭素数が1〜18の直鎖状又は分岐鎖状のアルキレン基、2価の脂環式炭化水素基、これらが2以上結合した基等が挙げられる。炭素数が1〜18の直鎖状又は分岐鎖状のアルキレン基としては、例えば、メチレン、メチルメチレン、ジメチルメチレン、エチレン、プロピレン、トリメチレン基等が挙げられる。2価の脂環式炭化水素基としては、例えば、1,2−シクロペンチレン、1,3−シクロペンチレン、シクロペンチリデン、1,2−シクロへキシレン、1,3−シクロへキシレン、1,4−シクロへキシレン、シクロヘキシリデン基等の2価のシクロアルキレン基(シクロアルキリデン基を含む)などが挙げられる。   Examples of the divalent hydrocarbon group include a linear or branched alkylene group having 1 to 18 carbon atoms, a divalent alicyclic hydrocarbon group, and a group in which two or more of these are bonded. Examples of the linear or branched alkylene group having 1 to 18 carbon atoms include methylene, methylmethylene, dimethylmethylene, ethylene, propylene, and trimethylene groups. Examples of the divalent alicyclic hydrocarbon group include 1,2-cyclopentylene, 1,3-cyclopentylene, cyclopentylidene, 1,2-cyclohexylene, 1,3-cyclohexylene, And divalent cycloalkylene groups (including cycloalkylidene groups) such as 1,4-cyclohexylene and cyclohexylidene groups.

式(1)で表される脂環式エポキシ樹脂の代表的な例として、下記式(1a)〜(1i)で表される化合物が挙げられる。なお、下記式中、n1〜n8は、それぞれ、1〜30の整数を示す。式(1e)中、−O−R−O−はジオールの残基を示す。Rとしては、2価の炭化水素基、カルボニル基、エーテル結合、エステル結合、アミド結合、及びこれらが複数個連結した基等が挙げられる。2価の炭化水素基としては、上記Yにおける2価の炭化水素基と同様の基が例示される。   Typical examples of the alicyclic epoxy resin represented by the formula (1) include compounds represented by the following formulas (1a) to (1i). In the following formulae, n1 to n8 each represent an integer of 1 to 30. In formula (1e), —O—R—O— represents a residue of a diol. Examples of R include a divalent hydrocarbon group, a carbonyl group, an ether bond, an ester bond, an amide bond, and a group in which a plurality of these are linked. Examples of the divalent hydrocarbon group include the same groups as the divalent hydrocarbon group in Y above.

Figure 2010053199
Figure 2010053199

Figure 2010053199
Figure 2010053199

これらの脂環式エポキシ樹脂は、単独で又は2種以上を組み合わせて使用することができ、例えば、商品名「セロキサイド2021P」、「セロキサイド2081」(ダイセル化学工業(株)製)等の市販品を使用することもできる。   These alicyclic epoxy resins can be used alone or in combination of two or more. For example, commercial products such as trade names “Celoxide 2021P” and “Celoxide 2081” (manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.). Can also be used.

本発明におけるゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)は、上記ゴム粒子(a)を、上記脂環式エポキシ樹脂(b)に分散させてなる。ゴム粒子の配合量としては、必要に応じて適宜調整することができ、例えば、ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)全量に対して、0.5〜30重量%程度、好ましくは、1〜20重量%程度である。ゴム粒子の使用量が0.5重量%を下回ると、耐クラック性が低下する傾向があり、一方、ゴム粒子の使用量が30重量%を上回ると、耐熱性及び透明性が低下する傾向がある。   The rubber particle dispersion curable epoxy resin (A) in the present invention is obtained by dispersing the rubber particles (a) in the alicyclic epoxy resin (b). As a compounding quantity of a rubber particle, it can adjust suitably as needed, for example, about 0.5 to 30 weight% with respect to the rubber particle dispersion | distribution curable epoxy resin (A) whole quantity, Preferably, 1- About 20% by weight. If the amount of rubber particles used is less than 0.5% by weight, the crack resistance tends to be reduced. On the other hand, if the amount of rubber particles used exceeds 30% by weight, the heat resistance and transparency tend to be reduced. is there.

ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)の粘度としては、25℃における粘度が400mPa・s〜50000mPa・sが好ましく、なかでも、500mPa・s〜10000mPa・sが好ましい。ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)の粘度(25℃)が400mPa・sを下回ると透明性が低下する傾向があり、一方、ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)の粘度(25℃)が50000mPa・sを上回るとゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)の製造、光半導体封止用樹脂組成物の製造共に生産性が低下する傾向がある。   The viscosity of the rubber particle dispersion curable epoxy resin (A) is preferably 400 mPa · s to 50,000 mPa · s at 25 ° C., and more preferably 500 mPa · s to 10000 mPa · s. When the viscosity (25 ° C.) of the rubber particle dispersion curable epoxy resin (A) is less than 400 mPa · s, the transparency tends to decrease, whereas the viscosity of the rubber particle dispersion curable epoxy resin (A) (25 ° C.). When it exceeds 50000 mPa · s, the production of the rubber particle dispersion curable epoxy resin (A) and the production of the optical semiconductor sealing resin composition tend to decrease in productivity.

ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)の製造方法としては、特に限定されることなく、ゴム粒子を樹脂中に分散させる際の慣用の方法を利用することができ、例えば、ゴム粒子を脱水乾燥して粉体とした後に、脂環式エポキシ樹脂に混合、分散する方法や、ゴム粒子エマルジョンと脂環式エポキシ樹脂とを直接混合、脱水する方法などを挙げることができる。   The method for producing the rubber particle dispersion curable epoxy resin (A) is not particularly limited, and a conventional method for dispersing the rubber particles in the resin can be used. For example, the rubber particles are dehydrated and dried. Examples of a method of mixing and dispersing in an alicyclic epoxy resin after mixing into a powder, and a method of directly mixing and dehydrating a rubber particle emulsion and an alicyclic epoxy resin can be given.

ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)の使用量としては、光半導体封止用樹脂組成物中に含まれるエポキシ基含有化合物の総量に対して30〜100重量%程度であることが好ましく、なかでも、50〜100重量%程度であることが好ましい。ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)の使用量がエポキシ基含有化合物の総量に対して30重量%を下回ると、得られる硬化物の耐クラック性が低下する傾向がある。   The amount of the rubber particle dispersion curable epoxy resin (A) used is preferably about 30 to 100% by weight based on the total amount of epoxy group-containing compounds contained in the resin composition for encapsulating an optical semiconductor. However, it is preferably about 50 to 100% by weight. When the amount of the rubber particle dispersion curable epoxy resin (A) used is less than 30% by weight based on the total amount of the epoxy group-containing compound, the crack resistance of the resulting cured product tends to be lowered.

[その他のエポキシ化合物]
本発明の光半導体封止用樹脂組成物は、上記ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)以外のエポキシ樹脂を含んでいてもよい。このようなエポキシ樹脂としては、ゴム粒子を含まない脂環式エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂以外のエポキシ樹脂が挙げられる。
[Other epoxy compounds]
The resin composition for encapsulating an optical semiconductor of the present invention may contain an epoxy resin other than the rubber particle dispersion curable epoxy resin (A). Examples of such epoxy resins include alicyclic epoxy resins that do not contain rubber particles and epoxy resins other than alicyclic epoxy resins.

ゴム粒子を含まない脂環式エポキシ樹脂としては、例えば、前記式(1)で表される脂環式エポキシ樹脂を挙げることができる。これらは単独で又は2種以上を組み合わせて使用できる。ゴム粒子を含まない脂環式エポキシ樹脂の使用量としては、例えば、光半導体封止用樹脂組成物中に含まれるエポキシ基含有化合物の総量に対して、0〜60重量%(例えば3〜60重量%)、好ましくは0〜45重量%(例えば5〜45重量%)である。   As an alicyclic epoxy resin which does not contain a rubber particle, the alicyclic epoxy resin represented by said Formula (1) can be mentioned, for example. These can be used alone or in combination of two or more. As usage-amount of the alicyclic epoxy resin which does not contain a rubber particle, it is 0-60 weight% (for example, 3-60) with respect to the total amount of the epoxy-group containing compound contained in the resin composition for optical semiconductor sealing, for example. % By weight), preferably 0 to 45% by weight (for example, 5 to 45% by weight).

脂環式エポキシ樹脂以外のエポキシ樹脂としては、例えば、芳香環を有しないグリシジルエーテル系エポキシ化合物、芳香環を有するグリシジルエーテル系エポキシ化合物(ビスフェノールA型、ビスフェノールF型等)、グリシジルエステル系エポキシ化合物、グリシジルアミン系エポキシ化合物などが挙げられる。これらは単独で又は2種以上を組み合わせて使用できる。これらのなかでも、芳香環を有しないグリシジルエーテル系エポキシ化合物が好ましい。芳香環を有しないグリシジルエーテル系エポキシ化合物を配合することで、高い耐熱性及び耐光性を損なうことなく耐クラック性をより向上させることができる場合がある。   Examples of the epoxy resin other than the alicyclic epoxy resin include a glycidyl ether epoxy compound having no aromatic ring, a glycidyl ether epoxy compound having an aromatic ring (bisphenol A type, bisphenol F type, etc.), and a glycidyl ester epoxy compound. And glycidylamine-based epoxy compounds. These can be used alone or in combination of two or more. Of these, glycidyl ether epoxy compounds having no aromatic ring are preferred. By blending a glycidyl ether epoxy compound having no aromatic ring, crack resistance may be further improved without impairing high heat resistance and light resistance.

芳香環を有しないグリシジルエーテル系エポキシ化合物には、脂肪族グリシジルエーテル系エポキシ化合物[常温(25℃)における粘度が200mPa・sを超えるもの]、及び、芳香族グリシジルエーテル系エポキシ化合物を核水添した化合物が含まれる。芳香環を有しないグリシジルエーテル型エポキシ化合物として、例えば、商品名「EPICLON703」、「EPICLON707」、「EPICLON720」、「EPICLON725」(DIC(株)製)、商品名「YH−300」、「YH−315」、「YH−324」、「PG−202」、「PG−207」、「サントートST−3000」(東都化成(株)製)、商品名「リカレジンDME−100」、「リカレジンHBE−100」(新日本理化(株)製)、商品名「デナコールEX−212」、「デナコールEX−321」(ナガセケムテックス(株)製)、商品名「YX8000」、「YX8034」(ジャパンエポキシレジン(株)製)等の市販品を好適に使用することができる。芳香環を有しないグリシジルエーテル系エポキシ化合物の使用量としては、例えば、光半導体封止用樹脂組成物中に含まれるエポキシ基含有化合物の総量に対して、0〜60重量%(例えば3〜60重量%)、好ましくは0〜45重量%(例えば5〜45重量%)である。   The glycidyl ether-based epoxy compound having no aromatic ring includes an aliphatic glycidyl ether-based epoxy compound [with a viscosity exceeding 200 mPa · s at room temperature (25 ° C.)] and an aromatic glycidyl ether-based epoxy compound. Compound. Examples of glycidyl ether type epoxy compounds having no aromatic ring include, for example, trade names “EPICLON 703”, “EPICLON 707”, “EPICLON 720”, “EPICLON 725” (manufactured by DIC Corporation), trade names “YH-300”, “YH-”. 315 ”,“ YH-324 ”,“ PG-202 ”,“ PG-207 ”,“ Santoto ST-3000 ”(manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.), trade names“ Likaresin DME-100 ”,“ Likaresin HBE-100 ” ”(Manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd.), trade names“ Denacol EX-212 ”,“ Denacol EX-321 ”(manufactured by Nagase ChemteX Corp.), trade names“ YX8000 ”,“ YX8034 ”(Japan Epoxy Resin ( Commercially available products such as those manufactured by the company) can be suitably used. As the usage-amount of the glycidyl ether type epoxy compound which does not have an aromatic ring, it is 0-60 weight% (for example, 3-60) with respect to the total amount of the epoxy-group containing compound contained in the resin composition for optical semiconductor sealing, for example. % By weight), preferably 0 to 45% by weight (for example, 5 to 45% by weight).

本発明の光半導体封止用樹脂組成物に配合するエポキシ樹脂としては、常温(25℃)において液状のものが好ましいが、常温(25℃)で固体を呈するエポキシ化合物であっても、配合した後に液状を呈するものであれば含有していてもよい。常温(25℃)で固体を呈するエポキシ化合物としては、例えば、固形のビスフェノール型エポキシ化合物、ノボラック型エポキシ化合物、グリシジルエステル、トリグリシジルイソシアヌレート、2,2−ビス(ヒドロキシメチル)−1−ブタノールの1,2−エポキシ−4−(2−オキシラニル)シクロセキサン付加物(商品名「EHPE3150」、ダイセル化学工業(株)製)などを挙げることができる。これらのエポキシ化合物は、単独で又は2種以上を組み合わせて使用することができる。   As an epoxy resin mix | blended with the resin composition for optical semiconductor sealing of this invention, although a liquid thing is preferable at normal temperature (25 degreeC), even if it was the epoxy compound which exhibits solid at normal temperature (25 degreeC), it mix | blended. It may be contained as long as it is liquid later. Examples of the epoxy compound that exhibits a solid at room temperature (25 ° C.) include solid bisphenol-type epoxy compounds, novolac-type epoxy compounds, glycidyl esters, triglycidyl isocyanurate, and 2,2-bis (hydroxymethyl) -1-butanol. Examples include 1,2-epoxy-4- (2-oxiranyl) cyclosoxane adduct (trade name “EHPE3150”, manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.). These epoxy compounds can be used individually or in combination of 2 or more types.

さらに、本発明の光半導体封止用樹脂組成物は、反応希釈剤を用いることもできる。反応性希釈剤を使用することにより粘度を調整できる。反応性希釈剤としては、常温(25℃)における粘度が200mPa・s以下(好ましくは100mPa・s以下)の脂肪族ポリグリシジルエーテル化合物(アルキレングリコールジグリシジルエーテル等)を好適に使用することができる。前記脂肪族ポリグリシジルエーテルとしては、例えば、シクロヘキサンジメタノールジグリシジルエーテル、シクロヘキサンジオールジグリシジルエーテル、ネオペンチルグリコールジグリシジルエーテル、1,6−ヘキサンジオールジグリシジルエーテル、トリメチロールプロパントリグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールジグリシジルエーテルなどを挙げることができる。なお、カチオン硬化性を有するオキセタン化合物やビニルエーテル化合物を反応性希釈剤として用いることもできる。   Furthermore, a reaction diluent can also be used for the resin composition for optical semiconductor encapsulation of the present invention. The viscosity can be adjusted by using a reactive diluent. As the reactive diluent, an aliphatic polyglycidyl ether compound (such as alkylene glycol diglycidyl ether) having a viscosity at room temperature (25 ° C.) of 200 mPa · s or less (preferably 100 mPa · s or less) can be suitably used. . Examples of the aliphatic polyglycidyl ether include cyclohexanedimethanol diglycidyl ether, cyclohexanediol diglycidyl ether, neopentyl glycol diglycidyl ether, 1,6-hexanediol diglycidyl ether, trimethylolpropane triglycidyl ether, and polypropylene glycol. A diglycidyl ether etc. can be mentioned. An oxetane compound or a vinyl ether compound having cationic curability can also be used as a reactive diluent.

反応性希釈剤の使用量としては、適宜調整することができ、例えば、ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)100重量部に対して30重量部以下、好ましくは、25重量部以下(例えば、5〜25重量部)程度である。反応性希釈剤の使用量が30重量部を上回ると、耐クラック性等の所望の性能を得ることが困難となる傾向がある。   The amount of the reactive diluent used can be adjusted as appropriate. For example, it is 30 parts by weight or less, preferably 25 parts by weight or less (for example, 100 parts by weight of the rubber particle dispersion curable epoxy resin (A) (for example, 5 to 25 parts by weight). If the amount of the reactive diluent used exceeds 30 parts by weight, it tends to be difficult to obtain desired performance such as crack resistance.

[多官能チオール(B)]
多官能チオール(B)としては2〜6官能のチオール(分子内に2〜6個のメルカプト基を有するチオアルコール)であるのが好ましい。また、多官能チオールは常温(25℃)で液状であるのが好ましい。多官能チオールは、一級でも二級でもこれらが混在していてもよい。また、固体のチオールであっても、エポキシ樹脂又は硬化剤(酸無水物等)に溶解するものであればかまわない。
[Polyfunctional thiol (B)]
The polyfunctional thiol (B) is preferably a 2-6 functional thiol (thioalcohol having 2-6 mercapto groups in the molecule). The polyfunctional thiol is preferably in a liquid state at normal temperature (25 ° C.). These polyfunctional thiols may be primary, secondary, or a mixture thereof. Moreover, even if it is solid thiol, as long as it melt | dissolves in an epoxy resin or hardening | curing agents (an acid anhydride etc.), it does not matter.

多官能チオールの代表例として、下記式(2a)〜(2h)で表される化合物が挙げられる。   As typical examples of polyfunctional thiols, compounds represented by the following formulas (2a) to (2h) can be given.

Figure 2010053199
Figure 2010053199

Figure 2010053199
Figure 2010053199

市販の一級の多官能チオールとしては、商品名「EGMP−4」、「TMMP」、「TEMPIC」、「PEMP」、「DPMP」(以上、堺化学工業(株)製)などがある。また、市販の二級の多官能チオールとしては、商品名「BD−1」、「NR−1」、「PE−1」(以上、昭和電工(株)製、カレンズMT(登録商標)シリーズ)などがある。   Examples of commercially available first-class polyfunctional thiols include “EGMP-4”, “TMMP”, “TEMPIC”, “PEMP”, “DPMP” (manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd.). Commercially available secondary polyfunctional thiols include trade names “BD-1”, “NR-1”, “PE-1” (above, Showen Denko Co., Ltd., Karenz MT (registered trademark) series). and so on.

多官能チオール(B)の使用量としては、光半導体封止用樹脂組成物中に含まれるエポキシ基含有化合物の総量100重量部に対して、例えば1〜50重量部、好ましくは3〜40重量部、さらに好ましくは5〜25重量部程度である。多官能チオール(B)の使用量が1重量部未満では、得られる硬化物の耐クラック性が低下する傾向となり、50重量部を超えると粘度が上がりすぎたり、可使時間(ポットライフ)が短くなりやすい。   As usage-amount of polyfunctional thiol (B), it is 1-50 weight part with respect to 100 weight part of total amounts of the epoxy-group containing compound contained in the resin composition for optical semiconductor sealing, Preferably it is 3-40 weight. Part, more preferably about 5 to 25 parts by weight. If the amount of the polyfunctional thiol (B) used is less than 1 part by weight, the crack resistance of the resulting cured product tends to decrease, and if it exceeds 50 parts by weight, the viscosity increases too much, and the pot life is increased (pot life). It tends to be shorter.

[硬化剤(C)]
硬化剤(C)は、エポキシ樹脂を硬化させる働きを有する。本発明における硬化剤(C)としては、エポキシ樹脂用硬化剤として慣用の硬化剤を使用することができるが、特に酸無水物が好ましい。本発明における硬化剤(C)としては、なかでも、25℃で液状の酸無水物が好ましく、例えば、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、メチルエンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸などを挙げることができる。また、例えば、無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルシクロヘキセンジカルボン酸無水物などの常温(25℃)で固体状の酸無水物は、常温(25℃)で液状の酸無水物等に溶解させて液状の混合物とすることで、本発明における硬化剤(C)として使用することができる。
[Curing agent (C)]
The curing agent (C) has a function of curing the epoxy resin. As the curing agent (C) in the present invention, a conventional curing agent can be used as a curing agent for an epoxy resin, and an acid anhydride is particularly preferable. In particular, the curing agent (C) in the present invention is preferably an acid anhydride which is liquid at 25 ° C., for example, methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, dodecenyl succinic anhydride, methylendomethylenetetrahydroanhydride. And phthalic acid. In addition, solid acid anhydrides at room temperature (25 ° C.) such as phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methylcyclohexene dicarboxylic acid anhydride, etc., are acid anhydrides that are liquid at room temperature (25 ° C.). It can be used as the curing agent (C) in the present invention by dissolving in a product or the like to form a liquid mixture.

本発明においては、硬化剤(C)として、商品名「リカシッド MH−700」(新日本理化(株)製)、商品名「HN−5500」(日立化成(株)製)等の市販品を使用することもできる。   In the present invention, as the curing agent (C), commercially available products such as trade name “Rikacid MH-700” (manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd.) and trade name “HN-5500” (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) are used. It can also be used.

硬化剤(C)の使用量としては、例えば、光半導体封止用樹脂組成物中に含まれるエポキシ基含有化合物の総量100重量部に対して、50〜150重量部、好ましくは52〜145重量部、さらに好ましくは55〜140重量部程度である。より具体的には、上記光半導体封止用樹脂組成物中に含有する全てのエポキシ樹脂(エポキシ化合物)におけるエポキシ基1当量当たり、0.5〜1.5当量(酸無水物当量)となる割合で使用することが好ましい。硬化剤(C)の使用量が50重量部を下回ると、効果が不十分となり、硬化物の強靱性が低下する傾向があり、一方、硬化剤(C)の使用量が150重量部を上回ると、硬化物が着色して色相が悪化する場合がある。   As a usage-amount of a hardening | curing agent (C), 50-150 weight part with respect to 100 weight part of total amounts of the epoxy-group containing compound contained in the resin composition for optical semiconductor sealing, for example, Preferably 52-145 weight Part, more preferably about 55 to 140 parts by weight. More specifically, it is 0.5 to 1.5 equivalents (acid anhydride equivalents) per 1 equivalent of epoxy groups in all epoxy resins (epoxy compounds) contained in the resin composition for optical semiconductor encapsulation. It is preferable to use in proportions. When the amount of the curing agent (C) used is less than 50 parts by weight, the effect becomes insufficient and the toughness of the cured product tends to be reduced, while the amount of the curing agent (C) used exceeds 150 parts by weight. When the cured product is colored, the hue may deteriorate.

[硬化促進剤(D)]
硬化促進剤(D)は、エポキシ樹脂が硬化剤(C)により硬化する際に、硬化速度を促進する機能を有する化合物である。本発明における硬化促進剤(D)としては、一般に用いられている慣用の硬化促進剤を使用することができ、例えば、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデセン−7(DBU)、及びその塩(例えば、フェノール塩、オクチル酸塩、p−トルエンスルホン酸塩、ギ酸塩、テトラフェニルボレート塩);1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]ノネン−5(DBN)、及びその塩(例えば、ホスホニウム塩、スルホニウム塩、4級アンモニウム塩、ヨードニウム塩);ベンジルジメチルアミン、2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、N,N−ジメチルシクロヘキシルアミンなどの3級アミン;2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾールなどのイミダゾール;リン酸エステル、トリフェニルホスフィンなどのホスフィン類;テトラフェニルホスホニウムテトラ(p−トリル)ボレートなどのホスホニウム化合物;オクチル酸スズ、オクチル酸亜鉛などの有機金属塩;金属キレート(アルミニウムトリスアセチルアセトナート、アルミニウムトリスアセト酢酸エチル等のアルミニウムやチタンなどの金属とアセト酢酸エステルやジケトン類とのキレート化合物など)などが挙げられる。これらは、単独で又は2種以上を混合して使用することができる。
[Curing accelerator (D)]
The curing accelerator (D) is a compound having a function of accelerating the curing rate when the epoxy resin is cured by the curing agent (C). As the curing accelerator (D) in the present invention, a commonly used conventional curing accelerator can be used. For example, 1,8-diazabicyclo [5.4.0] undecene-7 (DBU), And salts thereof (eg, phenol salt, octylate, p-toluenesulfonate, formate, tetraphenylborate salt); 1,5-diazabicyclo [4.3.0] nonene-5 (DBN), and its Salts (eg, phosphonium salts, sulfonium salts, quaternary ammonium salts, iodonium salts); tertiary amines such as benzyldimethylamine, 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) phenol, N, N-dimethylcyclohexylamine; Imidazoles such as 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole; Phosphines such as acid esters and triphenylphosphine; Phosphonium compounds such as tetraphenylphosphonium tetra (p-tolyl) borate; Organometallic salts such as tin octylate and zinc octylate; Metal chelates (aluminum trisacetylacetonate, aluminum And a chelate compound of a metal such as aluminum trisacetoacetate, such as aluminum or titanium, and an acetoacetate ester or diketone). These can be used alone or in admixture of two or more.

これらのなかでも、硬化促進剤(D)としては、ジアザビシクロウンデセン系硬化促進剤(DBU、及びその塩)が好ましい。硬化物の色相を良好にするという観点からは、用いる全硬化促進剤の50重量%以上、特に70重量%以上をジアザビシクロウンデセン系硬化促進剤とするのが好ましい。   Among these, as the curing accelerator (D), a diazabicycloundecene-based curing accelerator (DBU and its salt) is preferable. From the viewpoint of improving the hue of the cured product, it is preferable to use 50% by weight or more, particularly 70% by weight or more of the total curing accelerator used as the diazabicycloundecene curing accelerator.

本発明においては、硬化促進剤(D)として、商品名「U−CAT SA 506」、「U−CAT SA 102」、「U−CAT 5003」、「U−CAT 18X」、「12XD」(いずれもサンアプロ(株)製)、商品名「TPP−K」、「TPP−MK」(いずれも北興化学工業(株)製)、商品名「PX−4ET」(日本化学工業(株)製)等の市販品を使用することもできる。   In the present invention, as the curing accelerator (D), trade names “U-CAT SA 506”, “U-CAT SA 102”, “U-CAT 5003”, “U-CAT 18X”, “12XD” (any , San Apro Co., Ltd.), trade names "TPP-K", "TPP-MK" (both made by Hokuko Chemical Co., Ltd.), trade names "PX-4ET" (made by Nippon Chemical Industry Co., Ltd.), etc. It is also possible to use commercially available products.

硬化促進剤(D)の使用量としては、例えば、光半導体封止用樹脂組成物中に含まれるエポキシ基含有化合物の総量100重量部に対して、0.05〜5重量部、好ましくは0.1〜3重量部、特に好ましくは0.2〜3重量部、最も好ましくは0.25〜2.5重量部程度である。硬化促進剤(D)の使用量が0.05重量部を下回ると、硬化促進効果が不十分となる場合があり、一方、硬化促進剤(D)の使用量が5重量部を上回ると、硬化物が着色して色相が悪化する場合がある。   As the usage-amount of a hardening accelerator (D), 0.05-5 weight part with respect to 100 weight part of total amounts of the epoxy-group containing compound contained in the resin composition for optical semiconductor sealing, for example, Preferably it is 0. 0.1 to 3 parts by weight, particularly preferably 0.2 to 3 parts by weight, and most preferably about 0.25 to 2.5 parts by weight. When the amount of the curing accelerator (D) used is less than 0.05 parts by weight, the curing acceleration effect may be insufficient. On the other hand, when the amount of the curing accelerator (D) used is more than 5 parts by weight, The cured product may be colored to deteriorate the hue.

[熱硬化触媒(E)]
本発明における熱硬化触媒(E)は、エポキシ樹脂(エポキシ化合物)の重合を開始させる働きを有する。本発明における熱硬化触媒(E)としては、加熱処理を施すことによりカチオン種を発生して、ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)の重合を開始させるカチオン重合開始剤が好ましい。
[Thermosetting catalyst (E)]
The thermosetting catalyst (E) in the present invention has a function of initiating polymerization of an epoxy resin (epoxy compound). The thermosetting catalyst (E) in the present invention is preferably a cationic polymerization initiator that generates cationic species by heat treatment and initiates polymerization of the rubber particle dispersion-curable epoxy resin (A).

加熱処理を施すことによりカチオン種を発生するカチオン重合開始剤としては、例えば、アリールジアゾニウム塩、アリールヨードニウム塩、アリールスルホニウム塩、アレン−イオン錯体などを挙げることができ、商品名「PP−33」、「CP−66」、「CP−77」(ADEKA(株)製)、商品名「FC−509」(スリーエム(株)製)、商品名「UVE1014」(G.E.(株)製)、商品名「サンエイド SI−60L」、「サンエイド SI−80L」、「サンエイド SI−100L」、「サンエイド SI−110L」(三新化学工業(株)製)、商品名「CG−24−61」(チバ・ジャパン(株)製)等の市販品を好適に使用することができる。さらに、アルミニウムやチタンなどの金属とアセト酢酸エステル若しくはジケトン類とのキレート化合物とトリフェニルシラノール等のシラノールとの化合物、又は、アルミニウムやチタンなどの金属とアセト酢酸エステル若しくはジケトン類とのキレート化合物とビスフェノールS等のフェノール類との化合物であってもよい。   Examples of the cationic polymerization initiator that generates cationic species by performing heat treatment include aryldiazonium salts, aryliodonium salts, arylsulfonium salts, allene-ion complexes, etc., and trade name “PP-33”. “CP-66”, “CP-77” (manufactured by ADEKA Corporation), trade name “FC-509” (manufactured by 3M Corporation), trade name “UVE1014” (manufactured by GE Corporation) , Trade name "Sun-Aid SI-60L", "Sun-Aid SI-80L", "Sun-Aid SI-100L", "Sun-Aid SI-110L" (manufactured by Sanshin Chemical Industry Co., Ltd.), trade name "CG-24-61" Commercial products such as (manufactured by Ciba Japan Co., Ltd.) can be suitably used. Further, a chelate compound of a metal such as aluminum or titanium and a acetoacetate ester or diketone compound and a silanol such as triphenylsilanol, or a chelate compound of a metal such as aluminum or titanium and acetoacetate ester or diketone It may be a compound with phenols such as bisphenol S.

熱硬化触媒(E)の使用量としては、例えば、光半導体封止用樹脂組成物中に含まれるエポキシ基含有化合物の総量100重量部に対して、0.01〜15重量部、好ましくは0.01〜12重量部、特に好ましくは、0.05〜10重量部、最も好ましくは、0.1〜10重量部程度である。この範囲内で使用することにより、耐熱性、透明性、耐候性に優れた硬化物を得ることができる。   As the usage-amount of a thermosetting catalyst (E), 0.01-15 weight part with respect to 100 weight part of total amounts of the epoxy group containing compound contained in the resin composition for optical semiconductor sealing, for example, Preferably it is 0. 0.01 to 12 parts by weight, particularly preferably 0.05 to 10 parts by weight, and most preferably about 0.1 to 10 parts by weight. By using within this range, a cured product having excellent heat resistance, transparency, and weather resistance can be obtained.

[その他の成分]
本発明の光半導体封止用樹脂組成物には、必要に応じてその他の成分を配合してもよい。このようなその他の成分として、25℃で液状を呈するポリオール化合物(ポリエーテルポリオールを除く)が挙げられる。
[Other ingredients]
You may mix | blend another component with the resin composition for optical semiconductor sealing of this invention as needed. Examples of such other components include polyol compounds (excluding polyether polyol) that are liquid at 25 ° C.

25℃で液状を呈するポリオール化合物には、例えば、ポリエステルポリオール、ポリカーボネートポリオールが含まれる。   Examples of the polyol compound that exhibits a liquid state at 25 ° C. include polyester polyol and polycarbonate polyol.

ポリエステルポリオールとしては、例えば、商品名「プラクセル205」、「プラクセル205H」、「プラクセル205U」、「プラクセル205BA」、「プラクセル208」、「プラクセル210」、「プラクセル210CP」、「プラクセル210BA」、「プラクセル212」、「プラクセル212CP」、「プラクセル220」、「プラクセル220CPB」、「プラクセル220NP1」、「プラクセル220BA」、「プラクセル220ED」、「プラクセル220EB」、「プラクセル220EC」、「プラクセル230」、「プラクセル230CP」、「プラクセル240」、「プラクセル240CP」、「プラクセル210N」、「プラクセル220N」、「プラクセルL205AL」、「プラクセルL208AL」、「プラクセルL212AL」、「プラクセルL220AL」、「プラクセルL230AL」、「プラクセル305」、「プラクセル308」、「プラクセル312」、「プラクセルL312AL」、「プラクセル320」、「プラクセルL320AL」、「プラクセルL330AL」、「プラクセル410」、「プラクセル410D」、「プラクセル610」、「プラクセルP3403」、「プラクセルCDE9P」(ダイセル化学工業(株)製)等の市販品を使用することができる。   Examples of the polyester polyol include trade names “Placcel 205”, “Placcel 205H”, “Placcel 205U”, “Placcel 205BA”, “Placcel 208”, “Placcel 210”, “Placcel 210CP”, “Placcel 210BA”, “ Plaxel 212, Plaxel 212CP, Plaxel 220, Plaxel 220CPB, Plaxel 220NP1, Plaxel 220BA, Plaxel 220ED, Plaxel 220EB, Plaxel 220EC, Plaxel 230, Plaxel 230CP, Plaxel 240, Plaxel 240CP, Plaxel 210N, Plaxel 220N, Plaxel L205AL, Plaxel L208AL “Plaxel L212AL”, “Plaxel L220AL”, “Plaxel L230AL”, “Plaxel 305”, “Plaxel 308”, “Plaxel 312”, “Plaxel L312AL”, “Plaxel 320”, “Plaxel L320AL”, “Plaxel L330AL”, Commercial products such as “Placcel 410”, “Placcel 410D”, “Placcel 610”, “Placcel P3403”, and “Placcel CDE9P” (manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.) can be used.

ポリカーボネートポリオールとしては、例えば、商品名「プラクセルCD205PL」、「プラクセルCD205HL」、「プラクセルCD210PL」、「プラクセルCD210HL」、「プラクセルCD220PL」、「プラクセルCD220HL」(ダイセル化学工業(株)製)、商品名「UH−CARB50」、「UH−CARB100」、「UH−CARB300」、「UH−CARB90(1/3)」、「UH−CARB90(1/1)」、「UC−CARB100」(宇部興産(株)製)、商品名「PCDL T4671」、「PCDL T4672」、「PCDL T5650J」、「PCDL T5651」、「PCDL T5652」(旭化成ケミカルズ(株)製)等の市販品を使用することができる。   As the polycarbonate polyol, for example, trade names “Placcel CD205PL”, “Placcel CD205HL”, “Placcel CD210PL”, “Placcel CD210HL”, “Placcel CD220PL”, “Placcel CD220HL” (manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.), trade names “UH-CARB50”, “UH-CARB100”, “UH-CARB300”, “UH-CARB90 (1/3)”, “UH-CARB90 (1/1)”, “UC-CARB100” (Ube Industries, Ltd.) )), Trade names such as "PCDL T4671", "PCDL T4672", "PCDL T5650J", "PCDL T5651", "PCDL T5652" (manufactured by Asahi Kasei Chemicals Corporation) can be used.

25℃で液状を呈するポリオール化合物の使用量としては、例えば、ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)100重量部に対して0〜50重量部程度(例えば、3〜50重量部)、好ましくは、0〜40重量部(例えば10〜40重量部)程度である。   As a usage-amount of the polyol compound which exhibits a liquid state at 25 degreeC, for example, about 0-50 weight part (for example, 3-50 weight part) with respect to 100 weight part of rubber particle dispersion-curable epoxy resins (A), Preferably 0 to 40 parts by weight (for example, 10 to 40 parts by weight).

本発明の光半導体封止用樹脂組成物には、上記以外にも、本発明の効果を損なわない範囲内で各種添加剤を配合することができる。   In addition to the above, the resin composition for encapsulating an optical semiconductor of the present invention may contain various additives within a range that does not impair the effects of the present invention.

添加剤として、例えば、エチレングリコール、ネオペンチルグリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、グリセリンなどの水酸基を有する化合物(ポリオール化合物等)を使用すると、反応を緩やかに進行させることができる。その他にも、粘度や透明性を損なわない範囲内で、シリコーン系やフッ素系消泡剤、レベリング剤、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシランなどのシランカップリング剤、界面活性剤、充填剤、難燃剤、着色剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、イオン吸着体、顔料、離型剤などの慣用の添加剤を使用することができる。これら各種添加剤の配合量としては、例えば、光半導体封止用樹脂組成物全量に対して、それぞれ5重量%以下である。これらの添加剤の総配合量は、例えば、光半導体封止用樹脂組成物全量に対して、10重量%以下、好ましくは5重量%以下である。   For example, when a compound having a hydroxyl group (polyol compound or the like) such as ethylene glycol, neopentyl glycol, diethylene glycol, propylene glycol, or glycerin is used as the additive, the reaction can be allowed to proceed slowly. In addition, as long as the viscosity and transparency are not impaired, silicone-based and fluorine-based antifoaming agents, leveling agents, silane coupling agents such as γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, surfactants, fillers, Conventional additives such as a flame retardant, a colorant, an antioxidant, an ultraviolet absorber, an ion adsorbent, a pigment, and a release agent can be used. As the compounding quantity of these various additives, it is 5 weight% or less, respectively with respect to the resin composition for optical semiconductor sealing, for example. The total amount of these additives is, for example, 10% by weight or less, preferably 5% by weight or less, based on the total amount of the resin composition for optical semiconductor encapsulation.

[光半導体封止用樹脂組成物の製造]
本発明の光半導体封止用樹脂組成物を製造するには、硬化性樹脂組成物を製造するのに通常用いられる方法を利用することができる。例えば、所定量のゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)、多官能チオール(B)、硬化剤(C)及び硬化促進剤(D)、又は、ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)、多官能チオール(B)及び熱硬化触媒(E)に、必要に応じてその他の成分(その他のエポキシ化合物、添加剤等)を配合して、真空加熱下で気泡を排除しつつ撹拌・混合することにより調製される。撹拌・混合する際の温度は、通常、10〜60℃に設定されることが好ましい。調製時の設定温度が10℃未満では、粘度が高すぎて均一な撹拌・混合作業が困難になり、逆に、調製時の温度が60℃を超えると、硬化反応が起き、正常な光半導体封止用樹脂組成物が得られないので、好ましくない。撹拌・混合する際には、ニーダー、ディソルバーのような汎用の機器を使用し、例えば10分間程度撹拌・混合することにより調製してもよい。
[Production of resin composition for optical semiconductor encapsulation]
In order to produce the optical semiconductor sealing resin composition of the present invention, a method usually used for producing a curable resin composition can be used. For example, a predetermined amount of rubber particle dispersion curable epoxy resin (A), polyfunctional thiol (B), curing agent (C) and curing accelerator (D), or rubber particle dispersion curable epoxy resin (A), multiple Add other components (other epoxy compounds, additives, etc.) to the functional thiol (B) and thermosetting catalyst (E) as necessary, and stir and mix while excluding bubbles under vacuum heating. It is prepared by. The temperature at the time of stirring and mixing is usually preferably set to 10 to 60 ° C. If the set temperature at the time of preparation is less than 10 ° C., the viscosity is too high to make uniform stirring and mixing operations difficult. Conversely, if the temperature at the time of preparation exceeds 60 ° C., a curing reaction occurs, and a normal optical semiconductor. Since the sealing resin composition cannot be obtained, it is not preferable. When stirring and mixing, a general-purpose device such as a kneader or dissolver may be used, for example, by stirring and mixing for about 10 minutes.

なお、多官能チオール(B)、硬化剤(C)、硬化促進剤(D)、熱硬化触媒(E)及びその他の成分(その他のエポキシ化合物、添加剤等)については、予め製造したゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)に添加、配合することもできるが、それらの一部又は全部をゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)の製造時に添加、配合することもできる。   For the polyfunctional thiol (B), curing agent (C), curing accelerator (D), thermosetting catalyst (E) and other components (other epoxy compounds, additives, etc.), rubber particles produced in advance Although it can also add and mix | blend with a dispersion-curable epoxy resin (A), some or all of them can also be added and mix | blended at the time of manufacture of a rubber particle dispersion-curable epoxy resin (A).

本発明の光半導体封止用樹脂組成物は、光半導体素子を封止する際の加工性の点で、常温(25℃)で液状を呈することが好ましい。光半導体封止用樹脂組成物の粘度(25℃)は、好ましくは20000mPa・s以下(例えば、200〜20000mPa・s)であり、さらに好ましくは15000mPa・s以下(例えば、200〜15000mPa・s)である。   The resin composition for encapsulating an optical semiconductor of the present invention preferably exhibits a liquid state at normal temperature (25 ° C.) from the viewpoint of processability when encapsulating an optical semiconductor element. The viscosity (25 ° C.) of the resin composition for sealing an optical semiconductor is preferably 20000 mPa · s or less (for example, 200 to 20000 mPa · s), more preferably 15000 mPa · s or less (for example, 200 to 15000 mPa · s). It is.

本発明の光半導体封止用樹脂組成物は、硬化することにより、高い耐熱性、透明性を維持しつつ、優れた耐クラック性を発揮することができる硬化物を形成する。そのため、光半導体素子の封止用として好適に使用することができる。   The resin composition for encapsulating an optical semiconductor of the present invention is cured to form a cured product that can exhibit excellent crack resistance while maintaining high heat resistance and transparency. Therefore, it can be suitably used for sealing an optical semiconductor element.

[光半導体封止用樹脂組成物の硬化物]
上記光半導体封止用樹脂組成物を加熱することにより硬化物が得られる。
[Hardened product of resin composition for optical semiconductor encapsulation]
A cured product is obtained by heating the resin composition for optical semiconductor encapsulation.

本発明の光半導体封止用樹脂組成物の硬化物のガラス転移温度としては、110〜210℃が好ましく、より好ましくは130〜200℃である。   As glass transition temperature of the hardened | cured material of the resin composition for optical semiconductor sealing of this invention, 110-210 degreeC is preferable, More preferably, it is 130-200 degreeC.

本発明の光半導体封止用樹脂組成物の硬化物は、光学的に均質であることが好ましい。光学的に均質であるとは、例えば、樹脂硬化物中で屈折率が均一であることなどをいい、後述のように、光の透過率が高いことや光散乱などにより判断することが可能である。光学的な均質は樹脂硬化物の硬化度合いが硬化物中で均一であることなどにより達成される。   The cured product of the resin composition for encapsulating an optical semiconductor of the present invention is preferably optically homogeneous. Optically homogeneous means, for example, that the refractive index is uniform in the cured resin, and can be determined by high light transmittance or light scattering, as will be described later. is there. Optical homogeneity is achieved, for example, by the degree of curing of the cured resin being uniform in the cured product.

本発明の光半導体封止用樹脂組成物の硬化物は、透明性に優れることが好ましく、厚さ3mmの硬化物における波長450nmの光透過率が80T%以上であることが好ましく、より好ましくは85T%以上である。透過率が上記範囲を下回る場合には、光半導体素子の封止剤として使用する際に、発光効率が低下し、性能が低下する場合がある。   The cured product of the resin composition for encapsulating an optical semiconductor of the present invention preferably has excellent transparency, and the light transmittance at a wavelength of 450 nm in a cured product having a thickness of 3 mm is preferably 80 T% or more, more preferably. It is 85 T% or more. When the transmittance is lower than the above range, when used as a sealant for an optical semiconductor element, the light emission efficiency may be lowered and the performance may be lowered.

[光半導体装置]
本発明の光半導体装置は、光半導体封止用樹脂組成物によって光半導体素子が封止されている。光半導体素子の封止方法としては、特に限定されることなく周知慣用の方法を使用することができ、例えば、ポッティング法、キャスティング法、印刷法などの方法が挙げられる。
[Optical semiconductor device]
In the optical semiconductor device of the present invention, the optical semiconductor element is sealed with the resin composition for sealing an optical semiconductor. The method for sealing the optical semiconductor element is not particularly limited, and a well-known and commonly used method can be used. Examples thereof include a potting method, a casting method, and a printing method.

例えば、光半導体素子の封止は、前述の方法で調製された光半導体封止用樹脂組成物を所定の成形型内に注入し、所定の条件で加熱硬化することにより行うことができる。これにより、光半導体封止用樹脂組成物によって光半導体素子が封止された光半導体装置が得られる。本発明の光半導体封止用樹脂組成物は、温度100〜200℃、好ましくは、100〜190℃、さらに好ましくは、100〜180℃で、硬化時間30〜600分、好ましくは、45〜540分、さらに好ましくは、60〜480分で硬化させることができる。硬化温度と硬化時間が上記範囲の下限値より低い場合は、硬化が不十分となり、逆に上記範囲の上限値より高い場合、樹脂成分の分解が起きる場合があるので、何れも好ましくない。硬化条件は種々の条件に依存するが、硬化温度が高い場合は硬化時間は短く、硬化温度が低い場合は硬化時間は長く、適宜調整することができる。また、硬化温度を二段階以上に分けて硬化することもできる。   For example, the optical semiconductor element can be sealed by injecting the resin composition for optical semiconductor sealing prepared by the above-described method into a predetermined mold and heat curing under predetermined conditions. Thereby, the optical semiconductor device in which the optical semiconductor element is sealed with the optical semiconductor sealing resin composition is obtained. The resin composition for encapsulating an optical semiconductor of the present invention has a temperature of 100 to 200 ° C., preferably 100 to 190 ° C., more preferably 100 to 180 ° C., and a curing time of 30 to 600 minutes, preferably 45 to 540. Minutes, more preferably 60 to 480 minutes. When the curing temperature and the curing time are lower than the lower limit value in the above range, curing is insufficient. On the contrary, when the curing temperature and the curing time are higher than the upper limit value in the above range, the resin component may be decomposed. Although the curing conditions depend on various conditions, when the curing temperature is high, the curing time is short, and when the curing temperature is low, the curing time is long and can be adjusted as appropriate. Further, the curing can be performed by dividing the curing temperature into two or more stages.

本発明の光半導体装置は、本発明の光半導体封止用樹脂組成物によって光半導体素子が封止されているため、優れた光度を長期間に亘り維持することができる。そのため、長く、高い性能を維持し続けることができ、長寿命の光半導体装置として高い信頼を得ることができる。   In the optical semiconductor device of the present invention, since the optical semiconductor element is sealed with the resin composition for sealing an optical semiconductor of the present invention, it is possible to maintain excellent light intensity over a long period of time. Therefore, long and high performance can be maintained, and high reliability can be obtained as a long-life optical semiconductor device.

以下、実施例により本発明をより具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、ゴム粒子の平均粒子径、最大粒子径の測定、製造例で得られたゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂の粘度の測定、実施例及び比較例で得られた光半導体封止用樹脂組成物及び硬化物の評価試験は以下の方法により行った。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention more concretely, this invention is not limited to these Examples. In addition, the measurement of the average particle diameter of the rubber particles, the maximum particle diameter, the measurement of the viscosity of the rubber particle dispersion curable epoxy resin obtained in the production example, the resin composition for optical semiconductor encapsulation obtained in the examples and comparative examples And the evaluation test of hardened | cured material was done with the following method.

(ゴム粒子の平均粒子径、最大粒子径)
ゴム粒子の平均粒子径、最大粒子径は、動的光散乱法を測定原理とする日機装(株)製の粒度分析計(「NanotracTM」形式UPA−EX150)を用いて分析した。試料として、ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂1重量部をテトラヒドロフラン(THF)20重量部に溶解させ、ゴム粒子を分散させて測定した。得られた粒度分布測定結果において、累積カーブが50%となる時点の粒子径である累積平均径をゴム粒子の平均粒子径とした。また、粒度分布測定結果の頻度(%)が0.00を超えた時点の最も大きい粒子径(μm)を最大粒子径とした。
(Average particle diameter of rubber particles, maximum particle diameter)
The average particle size and the maximum particle size of the rubber particles were analyzed using a particle size analyzer (“Nanotrac ” type UPA-EX150) manufactured by Nikkiso Co., Ltd., which uses a dynamic light scattering method as a measurement principle. As a sample, 1 part by weight of rubber particle dispersion curable epoxy resin was dissolved in 20 parts by weight of tetrahydrofuran (THF), and the rubber particles were dispersed and measured. In the obtained particle size distribution measurement results, the cumulative average diameter, which is the particle diameter when the cumulative curve becomes 50%, was taken as the average particle diameter of the rubber particles. The largest particle size (μm) at the time when the frequency (%) of the particle size distribution measurement result exceeded 0.00 was defined as the maximum particle size.

(粘度)
製造例で得られたゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂[ゴム粒子5重量部をセロキサイド2021P(ダイセル化学工業(株)製)100重量部に分散させたもの]の粘度は、デジタル粘度計(商品名「DVU−EII型」、(株)トキメック製)を使用して、25℃における粘度を測定した。
(viscosity)
The viscosity of the rubber particle-dispersed curable epoxy resin obtained in Production Example [5 parts by weight of rubber particles dispersed in 100 parts by weight of Celoxide 2021P (manufactured by Daicel Chemical Industries)] is a digital viscometer (trade name) Viscosity at 25 ° C. was measured using “DVU-EII type” (manufactured by Tokimec Co., Ltd.).

(屈折率差)
実施例、比較例で得られた各硬化物を縦20mm×横6mm×厚み1mmにカットして試験片とした。中間液としてモノブロモナフタレンをプリズムと試験片の間に挟んで密着させた。20℃、ナトリウムD線での屈折率を、株式会社アタゴ製の多波長アッベ屈折計(商品名「DR−M2」)で測定した。ゴム粒子の屈折率と測定した硬化物の屈折率の差の絶対値を屈折率差とした。
なお、ゴム粒子の屈折率は、ゴム粒子1gを型に注型して210℃、4MPaで圧縮成形し、厚さ1mmの平板を得、得られた平板から、縦20mm×横6mmの試験片を切り出し、上記と同様にして20℃、ナトリウムD線での屈折率を測定した。
(Refractive index difference)
Each cured product obtained in Examples and Comparative Examples was cut into 20 mm length × 6 mm width × 1 mm thickness to obtain test pieces. As an intermediate solution, monobromonaphthalene was sandwiched between the prism and the test piece and adhered. The refractive index at 20 ° C. and sodium D line was measured with a multi-wavelength Abbe refractometer (trade name “DR-M2”) manufactured by Atago Co., Ltd. The absolute value of the difference between the refractive index of the rubber particles and the measured refractive index of the cured product was taken as the refractive index difference.
The refractive index of the rubber particles is as follows: 1 g of rubber particles is cast into a mold and compression molded at 210 ° C. and 4 MPa to obtain a flat plate having a thickness of 1 mm. From the obtained flat plate, a test piece of 20 mm length × 6 mm width is obtained. The refractive index at 20 ° C. and sodium D line was measured in the same manner as described above.

(耐熱性)
実施例、比較例で得られた各光半導体封止用樹脂組成物を110℃で2時間+150℃で3時間熱硬化させて、試験片(長さ10mm、幅5mm、厚さ5mm)を作製した。この試験片について、熱機械測定装置(TMA)(セイコーインスツルメント社製、商品名「TMA SS6100」)を用いてガラス転移温度(Tg、℃)を測定し、耐熱性の指標とした。
(Heat-resistant)
Each of the optical semiconductor encapsulating resin compositions obtained in Examples and Comparative Examples was thermally cured at 110 ° C. for 2 hours + 150 ° C. for 3 hours to prepare a test piece (length 10 mm, width 5 mm, thickness 5 mm). did. About this test piece, the glass transition temperature (Tg, (degreeC)) was measured using the thermomechanical measurement apparatus (TMA) (The Seiko Instruments company make, brand name "TMA SS6100"), and it was set as the heat resistant parameter | index.

(透明性)
上記耐熱性の試験と同じ条件で熱硬化させて、厚み3mmの樹脂硬化物を作製し、試験片とした。この試験片について、波長400nm及び380nmにおける光透過率[透過率(T%)]を、分光光度計[島津製作所製、商品名「UV−2450」]を用いて測定し、透明性の指標とした。
(transparency)
Thermosetting was performed under the same conditions as in the heat resistance test to produce a cured resin product having a thickness of 3 mm, which was used as a test piece. About this test piece, the light transmittance [transmittance (T%)] at wavelengths of 400 nm and 380 nm was measured using a spectrophotometer [manufactured by Shimadzu Corporation, trade name “UV-2450”]. did.

(耐クラック性試験)
実施例、比較例で得られた各光半導体封止用樹脂組成物を用いて、LEDフレームに上記耐熱性の試験片の作製条件と同じ条件で樹脂封止したLEDを、ヒートサイクル試験機(エスペック社製、商品名「TSE−11」)に投入して、105℃を30分間、−45℃を30分間で1サイクルとし、ヒートサイクル試験における耐クラック性試験を実施した。なお、LEDは各サンプル10ケ作製後、試験前に全てのサンプルでクラックがないことを確認した。その後、上記ヒートサイクル試験機にて100サイクル並びに500サイクル毎のクラック発生サンプル数を20倍のルーペで確認した。クラックは、リフレクターのエッジ部から発生するものを対象とした。クラックの数が0〜2の場合を○、3〜6の場合を△、7以上の場合を×とした。
(Crack resistance test)
Using each resin composition for encapsulating optical semiconductors obtained in Examples and Comparative Examples, an LED framed on an LED frame under the same conditions as those for producing the heat-resistant test piece, a heat cycle tester ( A product name “TSE-11” manufactured by ESPEC CORP. Was used, and a crack resistance test in a heat cycle test was performed with 105 ° C. for 30 minutes and −45 ° C. for 30 minutes as one cycle. In addition, after making 10 samples for each sample, it was confirmed that all samples had no cracks before the test. Thereafter, the number of cracked samples every 100 cycles and 500 cycles was confirmed with a 20-fold magnifier using the heat cycle tester. The cracks were generated from the edge of the reflector. The case where the number of cracks was 0 to 2 was evaluated as ◯, the case of 3 to 6 as Δ, and the case of 7 or more as ×.

(耐光性試験)
上記透明性を評価する試験片を用いて、23℃にて耐光性試験機(ダイプラウインテス製)にて500時間の耐光性試験を行った。試験後は、450nmの透過率を比較した。下記式により耐光性を求めた。
[1−((試験前の透過率−試験後の透過率)/試験前の透過率)]×100
(Light resistance test)
Using the test piece for evaluating the transparency, a light resistance test for 500 hours was performed with a light resistance tester (manufactured by Daipla Intes) at 23 ° C. After the test, the transmittance at 450 nm was compared. Light resistance was determined by the following formula.
[1-((transmittance before test−transmittance after test) / transmittance before test)] × 100

製造例1
還流冷却器付きの1L重合容器に、イオン交換水500g、及びジオクチルコハク酸ナトリウム0.68gを仕込み、窒素気流下に撹拌しながら、80℃に昇温した。ここに、コア部分を形成するために必要とする量の約5重量%分に該当するアクリル酸ブチル9.5g、スチレン2.57g、及びジビニルベンゼン0.39gからなる単量体混合物を、一括添加し、20分間撹拌して乳化させた後、ペルオキソ2硫酸カリウム9.5mgを添加し、1時間撹拌して最初のシード重合を行い、続いて、ペルオキソ2硫酸カリウム180.5mgを添加し、5分間撹拌した。ここに、コア部分を形成するために必要とする量の残り(約95重量%分)のアクリル酸ブチル180.5g、スチレン48.89g、ジビニルベンゼン7.33gにジオクチルコハク酸ナトリウム0.95gを溶解させてなる単量体混合物を2時間かけて連続的に添加し、2度目のシード重合を行い、その後、1時間熟成してコア部分を得た。
Production Example 1
A 1 L polymerization vessel equipped with a reflux condenser was charged with 500 g of ion exchange water and 0.68 g of sodium dioctyl succinate, and the temperature was raised to 80 ° C. while stirring under a nitrogen stream. Here, a monomer mixture consisting of 9.5 g of butyl acrylate, 2.57 g of styrene, and 0.39 g of divinylbenzene corresponding to about 5% by weight of the amount required to form the core portion is collectively collected. After adding and emulsifying with stirring for 20 minutes, 9.5 mg of potassium peroxodisulfate is added, stirring for 1 hour for the initial seed polymerization, followed by addition of 180.5 mg of potassium peroxodisulfate, Stir for 5 minutes. Here, 180.5 g of the remaining amount (about 95% by weight) of butyl acrylate, 48.89 g of styrene, 7.33 g of divinylbenzene and 0.95 g of sodium dioctyl succinate are added to form the core part. The dissolved monomer mixture was continuously added over 2 hours to perform the second seed polymerization, and then aged for 1 hour to obtain a core part.

次いで、ペルオキソ2硫酸カリウム60mgを添加して5分間撹拌し、これに、メタクリル酸メチル60g、アクリル酸1.5g、及びアリルメタクリレート0.3gにジオクチルコハク酸ナトリウム0.3gを溶解させてなる単量体混合物を30分かけて連続的に添加し、シード重合を行い、その後、1時間熟成し、コア部分を被覆するシェル層を形成した。   Next, 60 mg of potassium peroxodisulfate was added and stirred for 5 minutes. To this, a solution obtained by dissolving 0.3 g of sodium dioctyl succinate in 60 g of methyl methacrylate, 1.5 g of acrylic acid, and 0.3 g of allyl methacrylate was added. The monomer mixture was continuously added over 30 minutes to perform seed polymerization, and then aged for 1 hour to form a shell layer covering the core portion.

次いで、室温(25℃)まで冷却し、目開き120μmのプラスチック製網で濾過することにより、コアシェル構造を有する粒子を含むラテックスを得た。得られたラテックスをマイナス30℃で凍結し、吸引濾過器で脱水洗浄した後、60℃で一昼夜送風乾燥してゴム粒子(1)を得た。得られたゴム粒子(1)の平均粒子径は254nm、最大粒子径は486nm、屈折率は1.500であった。   Next, the mixture was cooled to room temperature (25 ° C.) and filtered through a plastic mesh having an opening of 120 μm to obtain a latex containing particles having a core-shell structure. The obtained latex was frozen at −30 ° C., dehydrated and washed with a suction filter, and then blown and dried at 60 ° C. overnight to obtain rubber particles (1). The obtained rubber particles (1) had an average particle size of 254 nm, a maximum particle size of 486 nm, and a refractive index of 1.500.

窒素気流下、60℃に加温した状態でディゾルバー(1000rpm、60分間)を使用して、得られたゴム粒子(1)5重量部を、セロキサイド2021P(ダイセル化学工業(株)製)100重量部に分散させ、真空脱泡して、ゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A−1)(25℃での粘度:559mPa・s)を得た。   Using a dissolver (1000 rpm, 60 minutes) in a state heated to 60 ° C. in a nitrogen stream, 5 parts by weight of the obtained rubber particles (1) were added to 100 parts of Celoxide 2021P (manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.). It was dispersed in a part and vacuum degassed to obtain a rubber particle dispersion curable epoxy resin (A-1) (viscosity at 25 ° C .: 559 mPa · s).

製造例2
アクリル酸1.5gの代わりに2−ヒドロキシエチルメタクリレート2.7gを使用した以外は製造例1と同様にして、ゴム粒子(2)を得た。得られたゴム粒子(2)の平均粒子径は261nm、最大粒子径は578nm、屈折率は1.500であった。
さらに、製造例1と同様にしてゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A−2)(25℃での粘度:512mPa・s)を得た。
Production Example 2
Rubber particles (2) were obtained in the same manner as in Production Example 1 except that 2.7 g of 2-hydroxyethyl methacrylate was used instead of 1.5 g of acrylic acid. The obtained rubber particles (2) had an average particle size of 261 nm, a maximum particle size of 578 nm, and a refractive index of 1.500.
Further, in the same manner as in Production Example 1, a rubber particle dispersion curable epoxy resin (A-2) (viscosity at 25 ° C .: 512 mPa · s) was obtained.

製造例3
還流冷却器付きの1L重合容器に、イオン交換水500g、及びジオクチルコハク酸ナトリウム1.3gを仕込み、窒素気流下に撹拌しながら、80℃に昇温した。ここに、コア部分を形成するために必要とする量の約5重量%分に該当するアクリル酸ブチル9.5g、スチレン2.57g、及びジビニルベンゼン0.39gからなる単量体混合物を、一括添加し、20分間撹拌して乳化させた後、ペルオキソ2硫酸カリウム12mgを添加し、1時間撹拌して最初のシード重合を行い、続いて、ペルオキソ2硫酸カリウム228mgを添加し、5分間撹拌した。ここに、コア部分を形成するために必要とする量の残り(約95重量%分)のアクリル酸ブチル180.5g、スチレン48.89g、ジビニルベンゼン7.33gにジオクチルコハク酸ナトリウム1.2gを溶解させてなる単量体混合物を2時間かけて連続的に添加し、2度目のシード重合を行い、その後、1時間熟成してコア部分を得た。
Production Example 3
A 1 L polymerization vessel equipped with a reflux condenser was charged with 500 g of ion-exchanged water and 1.3 g of sodium dioctyl succinate and heated to 80 ° C. while stirring under a nitrogen stream. Here, a monomer mixture consisting of 9.5 g of butyl acrylate, 2.57 g of styrene, and 0.39 g of divinylbenzene corresponding to about 5% by weight of the amount necessary to form the core portion is collectively collected. After adding and emulsifying with stirring for 20 minutes, 12 mg of potassium peroxodisulfate was added and stirred for 1 hour to perform the initial seed polymerization, followed by addition of 228 mg of potassium peroxodisulfate and stirring for 5 minutes. . Here, 180.5 g of the remaining amount of butyl acrylate necessary for forming the core portion (about 95% by weight), 48.89 g of styrene, 7.33 g of divinylbenzene, 1.2 g of sodium dioctyl succinate The dissolved monomer mixture was continuously added over 2 hours to perform the second seed polymerization, and then aged for 1 hour to obtain a core portion.

次いで、アクリル酸の使用量を1.5gから2.0gに変更した以外は製造例1と同様にして、ゴム粒子(3)を得た。得られたゴム粒子(3)の平均粒子径は108nm、最大粒子径は289nm、屈折率は1.500であった。
さらに、製造例1と同様にしてゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A−3)(25℃での粘度:1036mPa・s)を得た。
Next, rubber particles (3) were obtained in the same manner as in Production Example 1 except that the amount of acrylic acid used was changed from 1.5 g to 2.0 g. The rubber particles (3) obtained had an average particle size of 108 nm, a maximum particle size of 289 nm, and a refractive index of 1.500.
Further, in the same manner as in Production Example 1, a rubber particle dispersion curable epoxy resin (A-3) (viscosity at 25 ° C .: 1036 mPa · s) was obtained.

実施例1〜6、比較例1〜2
表1に示す配合処方(単位:重量部)に従って、各成分を、自公転式撹拌装置(商品名「あわとり練太郎AR−250」、シンキー(株)製)を使用して均一に混合し(2000rpm、室温、5分間)、脱泡して光半導体封止用樹脂組成物を得た。得られた光半導体封止用樹脂組成物を型に注型し、110℃で2時間、150℃で3時間加熱して硬化物を得た。
Examples 1-6, Comparative Examples 1-2
In accordance with the formulation shown in Table 1 (unit: parts by weight), each component is uniformly mixed using a self-revolving stirrer (trade name “Awatori Nerita AR-250”, manufactured by Shinky Corporation). (2000 rpm, room temperature, 5 minutes) was defoamed to obtain an optical semiconductor sealing resin composition. The obtained resin composition for optical semiconductor encapsulation was cast into a mold and heated at 110 ° C. for 2 hours and at 150 ° C. for 3 hours to obtain a cured product.

各実施例及び比較例で得られた光半導体封止用樹脂組成物、硬化物について前記の評価試験を行った。その結果を表1に示す。表中の符号の意味は以下の通りである。   The said evaluation test was done about the resin composition for optical semiconductor sealing and hardened | cured material which were obtained by each Example and the comparative example. The results are shown in Table 1. The meanings of the symbols in the table are as follows.

(エポキシ樹脂)
HBE−100:水素化ビスフェノールAのジグリシジルエーテルを主成分としたエポキシ樹脂、商品名「リカレジン HBE−100」、新日本理化(株)製
YX8000:水素化ビスフェノールAのジグリシジルエーテルを主成分としたエポキシ樹脂、商品名「エピコートYX8000」、ジャパンエポキシレジン(株)製
CEL−2081:3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキサンカルボキシレートとε−カプロラクトンの付加物、ダイセル化学工業(株)製
(Epoxy resin)
HBE-100: Epoxy resin mainly composed of diglycidyl ether of hydrogenated bisphenol A, trade name “Rikaresin HBE-100”, manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd. YX8000: diglycidyl ether of hydrogenated bisphenol A as the main component Epoxy resin, trade name “Epicoat YX8000”, manufactured by Japan Epoxy Resins Co., Ltd. CEL-2081: adduct of 3,4-epoxycyclohexylmethyl-3 ′, 4′-epoxycyclohexanecarboxylate and ε-caprolactone, Daicel Chemical Made by Kogyo Co., Ltd.

(多官能チオール)
PEMP:ペンタエリスリトール テトラキス−3−メルカプトプロピオネート、堺化学工業(株)製
TEMPIC:トリス−[(3−メルカプトプロピオニルオキシ)−エチル]−イソシアヌレート、堺化学工業(株)製
PE−1:ペンタエリスリトール テトラキス(3−メルカプトブチレート)、昭和電工(株)製、商品名「カレンズMT(登録商標) PE1」
(Multifunctional thiol)
PEMP: pentaerythritol tetrakis-3-mercaptopropionate, manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd. TEMPIC: tris-[(3-mercaptopropionyloxy) -ethyl] -isocyanurate, manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd. PE-1: Pentaerythritol tetrakis (3-mercaptobutyrate), manufactured by Showa Denko KK, trade name “Karenz MT (registered trademark) PE1”

(硬化剤)
リカシッド MH−700:メチルヘキサヒドロ無水フタル酸(新日本理化(株)製、商品名「リカシッド MH−700」)
(Curing agent)
Rikacid MH-700: Methylhexahydrophthalic anhydride (manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd., trade name “Rikacid MH-700”)

(硬化促進剤)
U−CAT SA−506:DBU−p−トルエンスルホン酸塩、サンアプロ(株)製、商品名「U−CAT SA−506」
(Curing accelerator)
U-CAT SA-506: DBU-p-toluenesulfonate, manufactured by San Apro Co., Ltd., trade name “U-CAT SA-506”

(添加剤)
エチレングリコール:和光純薬工業(株)製
(Additive)
Ethylene glycol: Wako Pure Chemical Industries, Ltd.

Figure 2010053199
Figure 2010053199

Claims (6)

(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面にエポキシ基と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、且つ当該光半導体封止用樹脂組成物の硬化物との屈折率差が±0.02以内であるゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)、多官能チオール(B)、硬化剤(C)、及び硬化促進剤(D)を含む光半導体封止用樹脂組成物。   It is composed of a polymer having (meth) acrylic acid ester as an essential monomer component, has a hydroxyl group and / or a carboxyl group as a functional group capable of reacting with an epoxy group on the surface, an average particle size of 10 nm to 500 nm, and a maximum particle size Particle dispersion sclerosis | hardenability which disperse | distributed to the alicyclic epoxy resin the rubber particle whose refractive index difference with respect to the hardened | cured material of the said resin composition for optical semiconductor sealing is 50 nm-1000 nm and less than +/- 0.02 The resin composition for optical semiconductor sealing containing an epoxy resin (A), a polyfunctional thiol (B), a hardening | curing agent (C), and a hardening accelerator (D). (メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面にエポキシ基と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、且つ当該光半導体封止用樹脂組成物の硬化物との屈折率差が±0.02以内であるゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散硬化性エポキシ樹脂(A)、多官能チオール(B)、及び熱硬化触媒(E)を含む光半導体封止用樹脂組成物。   It is composed of a polymer having (meth) acrylic acid ester as an essential monomer component, has a hydroxyl group and / or a carboxyl group as a functional group capable of reacting with an epoxy group on the surface, an average particle size of 10 nm to 500 nm, and a maximum particle size Particle dispersion sclerosis | hardenability which disperse | distributed to the alicyclic epoxy resin the rubber particle whose refractive index difference with respect to the hardened | cured material of the said resin composition for optical semiconductor sealing is 50 nm-1000 nm and less than +/- 0.02 The resin composition for optical semiconductor sealing containing an epoxy resin (A), a polyfunctional thiol (B), and a thermosetting catalyst (E). 多官能チオール(B)が25℃で液状である請求項1又は2記載の光半導体封止用樹脂組成物。   The resin composition for optical semiconductor encapsulation according to claim 1 or 2, wherein the polyfunctional thiol (B) is liquid at 25 ° C. 硬化剤(C)が25℃で液状の酸無水物である請求項1記載の光半導体封止用樹脂組成物。   The resin composition for optical semiconductor encapsulation according to claim 1, wherein the curing agent (C) is a liquid acid anhydride at 25 ° C. 請求項1〜4の何れかの項に記載の光半導体封止用樹脂組成物を硬化して得られる硬化物。   Hardened | cured material obtained by hardening | curing the resin composition for optical semiconductor sealing in any one of Claims 1-4. 請求項1〜4の何れかの項に記載の光半導体封止用樹脂組成物によって光半導体素子が封止されてなる光半導体装置。   An optical semiconductor device in which an optical semiconductor element is sealed with the optical semiconductor sealing resin composition according to claim 1.
JP2008217609A 2008-08-27 2008-08-27 Resin composition for optical semiconductor encapsulation Expired - Fee Related JP5154340B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008217609A JP5154340B2 (en) 2008-08-27 2008-08-27 Resin composition for optical semiconductor encapsulation

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008217609A JP5154340B2 (en) 2008-08-27 2008-08-27 Resin composition for optical semiconductor encapsulation

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010053199A true JP2010053199A (en) 2010-03-11
JP5154340B2 JP5154340B2 (en) 2013-02-27

Family

ID=42069447

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008217609A Expired - Fee Related JP5154340B2 (en) 2008-08-27 2008-08-27 Resin composition for optical semiconductor encapsulation

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5154340B2 (en)

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010229258A (en) * 2009-03-26 2010-10-14 Panasonic Electric Works Co Ltd Epoxy resin composition and semiconductor
JPWO2009075252A1 (en) * 2007-12-13 2011-04-28 昭和電工株式会社 Epoxy resin curing agent, method for producing the same, and epoxy resin composition
WO2012020625A1 (en) * 2010-08-10 2012-02-16 ダイセル化学工業株式会社 Curable resin composition and cured article thereof
JP2012052052A (en) * 2010-09-03 2012-03-15 Daicel Corp Thermosetting epoxy resin composition and use thereof
WO2012046552A1 (en) * 2010-10-06 2012-04-12 ダイセル化学工業株式会社 Method for producing cured product and cured product
WO2012096256A1 (en) 2011-01-11 2012-07-19 三菱レイヨン株式会社 Crosslinked polymer particles for epoxy resins, epoxy resin composition, and cured epoxy article
WO2012165413A1 (en) * 2011-05-30 2012-12-06 三菱レイヨン株式会社 Epoxy resin composition, cured product, and optical semiconductor encapsulation material
WO2013002052A1 (en) * 2011-06-27 2013-01-03 株式会社ダイセル Curable resin composition for reflection of light, and optical semiconductor device
WO2013094759A1 (en) 2011-12-21 2013-06-27 三菱レイヨン株式会社 Polymer powder, curable resin composition, and cured product thereof
WO2013099693A1 (en) * 2011-12-27 2013-07-04 株式会社ダイセル Curable epoxy resin composition
JP2013133465A (en) * 2011-12-27 2013-07-08 Daicel Corp Curable epoxy resin composition
JP2013221091A (en) * 2012-04-17 2013-10-28 Showa Denko Kk Epoxy resin composition
JP2015000888A (en) * 2013-06-13 2015-01-05 パナソニック株式会社 Epoxy resin composition for sealing semiconductor, and semiconductor device
JP2015189777A (en) * 2014-03-27 2015-11-02 スリーボンドファインケミカル株式会社 epoxy resin composition
CN106084660A (en) * 2016-06-21 2016-11-09 固德电材系统(苏州)股份有限公司 A kind of toughened epoxy resin and its preparation method and application
JP2017125212A (en) * 2017-04-10 2017-07-20 株式会社ダイセル Curable epoxy resin composition and cured article and optical semiconductor device
JP2018030999A (en) * 2017-08-04 2018-03-01 日本化薬株式会社 Curable resin composition and cured product of the same
WO2020203540A1 (en) * 2019-03-29 2020-10-08 株式会社ダイセル Curable epoxy resin composition
WO2020202777A1 (en) * 2019-03-29 2020-10-08 堺化学工業株式会社 Epoxy curing compound and epoxy resin composition
WO2024048612A1 (en) * 2022-08-31 2024-03-07 株式会社クレハ Curable composition, cured product, and method for producing cured product
JP7455381B2 (en) 2020-10-15 2024-03-26 協立化学産業株式会社 Cationic polymerizable resin composition

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001098411A1 (en) * 2000-06-21 2001-12-27 Mitsui Chemicals Inc. Sealing material for plastic liquid crystal display cells
JP2003238691A (en) * 2002-02-15 2003-08-27 Jsr Corp Photocurable resin composition
WO2010013407A1 (en) * 2008-07-31 2010-02-04 ダイセル化学工業株式会社 Optical semiconductor sealing resin composition and optical semiconductor device using same

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001098411A1 (en) * 2000-06-21 2001-12-27 Mitsui Chemicals Inc. Sealing material for plastic liquid crystal display cells
JP2003238691A (en) * 2002-02-15 2003-08-27 Jsr Corp Photocurable resin composition
WO2010013407A1 (en) * 2008-07-31 2010-02-04 ダイセル化学工業株式会社 Optical semiconductor sealing resin composition and optical semiconductor device using same

Cited By (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5653623B2 (en) * 2007-12-13 2015-01-14 昭和電工株式会社 Epoxy resin curing agent, method for producing the same, and epoxy resin composition
JPWO2009075252A1 (en) * 2007-12-13 2011-04-28 昭和電工株式会社 Epoxy resin curing agent, method for producing the same, and epoxy resin composition
JP2010229258A (en) * 2009-03-26 2010-10-14 Panasonic Electric Works Co Ltd Epoxy resin composition and semiconductor
WO2012020625A1 (en) * 2010-08-10 2012-02-16 ダイセル化学工業株式会社 Curable resin composition and cured article thereof
JP2012036320A (en) * 2010-08-10 2012-02-23 Daicel Corp Curable resin composition and cured article thereof
JP2012052052A (en) * 2010-09-03 2012-03-15 Daicel Corp Thermosetting epoxy resin composition and use thereof
WO2012046552A1 (en) * 2010-10-06 2012-04-12 ダイセル化学工業株式会社 Method for producing cured product and cured product
WO2012096256A1 (en) 2011-01-11 2012-07-19 三菱レイヨン株式会社 Crosslinked polymer particles for epoxy resins, epoxy resin composition, and cured epoxy article
EP2664651A4 (en) * 2011-01-11 2017-12-06 Mitsubishi Chemical Corporation Crosslinked polymer particles for epoxy resins, epoxy resin composition, and cured epoxy article
WO2012165413A1 (en) * 2011-05-30 2012-12-06 三菱レイヨン株式会社 Epoxy resin composition, cured product, and optical semiconductor encapsulation material
JPWO2012165413A1 (en) * 2011-05-30 2015-02-23 三菱レイヨン株式会社 Epoxy resin composition, cured product, and optical semiconductor sealing material
JPWO2013002052A1 (en) * 2011-06-27 2015-02-23 株式会社ダイセル Curable resin composition for light reflection and optical semiconductor device
US9184355B2 (en) 2011-06-27 2015-11-10 Daicel Corporation Curable resin composition for reflection of light, and optical semiconductor device
CN103492482A (en) * 2011-06-27 2014-01-01 株式会社大赛璐 Curable resin composition for reflection of light, and optical semiconductor device
KR101905216B1 (en) * 2011-06-27 2018-10-05 주식회사 다이셀 Curable resin composition for reflection of light, and optical semiconductor device
WO2013002052A1 (en) * 2011-06-27 2013-01-03 株式会社ダイセル Curable resin composition for reflection of light, and optical semiconductor device
TWI575015B (en) * 2011-06-27 2017-03-21 大賽璐股份有限公司 Curable resin composition for light reflection and optical semiconductor device
US9522997B2 (en) 2011-12-21 2016-12-20 Mitsubishi Rayon Co., Ltd. Polymer powder, curable resin composition and cured material thereof
CN104011098A (en) * 2011-12-21 2014-08-27 三菱丽阳株式会社 Polymer powder, curable resin composition, and cured product thereof
WO2013094759A1 (en) 2011-12-21 2013-06-27 三菱レイヨン株式会社 Polymer powder, curable resin composition, and cured product thereof
US9193812B2 (en) 2011-12-21 2015-11-24 Mitsubishi Rayon Co., Ltd. Polymer powder, curable resin composition and cured material thereof
KR20140095520A (en) 2011-12-21 2014-08-01 미쯔비시 레이온 가부시끼가이샤 Polymer powder, curable resin composition, and cured product thereof
EP3263612A1 (en) 2011-12-21 2018-01-03 Mitsubishi Chemical Corporation Polymer powder, curable resin composition and cured material thereof
WO2013099693A1 (en) * 2011-12-27 2013-07-04 株式会社ダイセル Curable epoxy resin composition
JPWO2013099693A1 (en) * 2011-12-27 2015-05-07 株式会社ダイセル Curable epoxy resin composition
KR101915341B1 (en) * 2011-12-27 2018-11-05 주식회사 다이셀 Curable epoxy resin composition
JP2013133465A (en) * 2011-12-27 2013-07-08 Daicel Corp Curable epoxy resin composition
CN104024333A (en) * 2011-12-27 2014-09-03 株式会社大赛璐 Curable epoxy resin composition
TWI607054B (en) * 2011-12-27 2017-12-01 大賽璐股份有限公司 Curable epoxy resin composition
JP2013221091A (en) * 2012-04-17 2013-10-28 Showa Denko Kk Epoxy resin composition
JP2015000888A (en) * 2013-06-13 2015-01-05 パナソニック株式会社 Epoxy resin composition for sealing semiconductor, and semiconductor device
JP2015189777A (en) * 2014-03-27 2015-11-02 スリーボンドファインケミカル株式会社 epoxy resin composition
CN106084660A (en) * 2016-06-21 2016-11-09 固德电材系统(苏州)股份有限公司 A kind of toughened epoxy resin and its preparation method and application
JP2017125212A (en) * 2017-04-10 2017-07-20 株式会社ダイセル Curable epoxy resin composition and cured article and optical semiconductor device
JP2018030999A (en) * 2017-08-04 2018-03-01 日本化薬株式会社 Curable resin composition and cured product of the same
WO2020203540A1 (en) * 2019-03-29 2020-10-08 株式会社ダイセル Curable epoxy resin composition
JP2020164698A (en) * 2019-03-29 2020-10-08 株式会社ダイセル Curable epoxy resin composition
WO2020202777A1 (en) * 2019-03-29 2020-10-08 堺化学工業株式会社 Epoxy curing compound and epoxy resin composition
JP7329350B2 (en) 2019-03-29 2023-08-18 株式会社ダイセル Curable epoxy resin composition
JP7455381B2 (en) 2020-10-15 2024-03-26 協立化学産業株式会社 Cationic polymerizable resin composition
WO2024048612A1 (en) * 2022-08-31 2024-03-07 株式会社クレハ Curable composition, cured product, and method for producing cured product

Also Published As

Publication number Publication date
JP5154340B2 (en) 2013-02-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5154340B2 (en) Resin composition for optical semiconductor encapsulation
KR101562420B1 (en) Optical semiconductor sealing resin composition and optical semiconductor device using same
JP5945537B2 (en) Curable resin composition for light reflection and optical semiconductor device
JP5918699B2 (en) Curable epoxy resin composition and optical semiconductor device using the same
JP6343575B2 (en) Curable epoxy resin composition
JP5852014B2 (en) Curable epoxy resin composition
KR20190103432A (en) Curable Epoxy Resin Composition
JP2007320974A (en) Resin composition for sealing optical semiconductor
JP2013213147A (en) Curable epoxy resin composition
JP2015096602A (en) Curable epoxy resin composition
JP2015110772A (en) Curable epoxy resin composition
KR20180107227A (en) A light-curable resin composition, a cured product thereof, and a optical semiconductor device
JP2015086374A (en) Curable epoxy resin composition
WO2012093590A1 (en) Curable epoxy resin composition
JP2017115006A (en) Curable epoxy resin composition
JP2015098586A (en) Curable epoxy resin composition
JP2019112477A (en) Curable epoxy resin composition
JP6472754B2 (en) Curable epoxy resin composition
JP2015086376A (en) Curable epoxy resin composition
JPWO2013150900A1 (en) Curable epoxy resin composition

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110329

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120820

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120828

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121011

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121106

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121116

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121205

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151214

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5154340

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees