JP2010038572A5 - - Google Patents

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103673908B (zh) * 2013-12-23 2016-07-06 江苏理工学院 自动化通孔尺寸检测装置及其检测方法
CN104062451B (zh) * 2014-07-04 2016-01-27 东莞职业技术学院 螺丝检测机
CN104990698A (zh) * 2015-06-30 2015-10-21 张家港华日法兰有限公司 一种质量检测工艺
CN104990927A (zh) * 2015-06-30 2015-10-21 张家港华日法兰有限公司 用于检测法兰质量的方法
CN105004371A (zh) * 2015-06-30 2015-10-28 张家港华日法兰有限公司 一种对法兰质量检测的方法
CN105004370A (zh) * 2015-06-30 2015-10-28 张家港华日法兰有限公司 一种检测法兰质量的方法
JP7220104B2 (ja) * 2019-03-20 2023-02-09 東洋ガラス株式会社 容器検査装置
JP7452188B2 (ja) * 2020-03-30 2024-03-19 オムロン株式会社 検査装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS628045A (ja) * 1985-07-04 1987-01-16 Nireko:Kk 欠陥検出装置
JPH07248300A (ja) * 1994-03-09 1995-09-26 Kyoritsu Denko Kk 部品検査装置
JPH1183754A (ja) * 1997-09-04 1999-03-26 Mitsui High Tec Inc リードフレーム検査装置
JP2002039948A (ja) * 2000-07-27 2002-02-06 Sony Corp 外観検査装置及び外観検査方法
JP2002195811A (ja) * 2000-12-27 2002-07-10 Nachi Fujikoshi Corp 輪郭形状計測方法
JP2005121570A (ja) * 2003-10-20 2005-05-12 Kirin Techno-System Corp 異物検査方法及び異物検査装置

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