JP2010027188A - 記録再生装置、記録装置、再生装置、記録再生方法、記録方法、再生方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】ホログラム記録再生装置において、記録時と再生時とでの参照光の位相変調パターンについての相対的な位置ずれに対するトレランスの向上を図る
【解決手段】記録再生時に生成する参照光については、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う。
【選択図】図7
【解決手段】記録再生時に生成する参照光については、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う。
【選択図】図7
Description
本発明は、信号光と参照光との干渉縞によってデータが記録されるホログラム記録媒体に対する記録再生を行う記録再生装置とその方法に関する。また、ホログラム記録媒体に対して記録を行う記録装置とその方法、及び再生を行う再生装置とその方法に関する。
例えば上記の各特許文献にあるように、信号光と参照光との干渉縞によりデータの記録を行い、また上記干渉縞で記録されたデータを上記参照光の照射によって再生するホログラム記録再生方式が知られている。このホログラム記録再生方式としては、上記信号光と上記参照光とを同軸上に配置して記録を行う、いわゆるコアキシャル方式が知られている。
図9、図10は、コアキシャル方式によるホログラム記録再生の手法について説明するための図として、図9は記録手法、図10は再生手法についてそれぞれ示している。
先ず、図9において、記録時には、光源からの入射光に対し、光強度変調器101にて空間光変調として光強度変調を施すことで、図のように同軸上に配置された信号光と参照光とを生成するようにされる。光強度変調器101は、例えば液晶パネルなどで構成される。
このとき、上記信号光としては、記録データに応じた空間光変調を施して生成される。また、上記参照光は、所定パターンによる空間光変調を施して生成する。
先ず、図9において、記録時には、光源からの入射光に対し、光強度変調器101にて空間光変調として光強度変調を施すことで、図のように同軸上に配置された信号光と参照光とを生成するようにされる。光強度変調器101は、例えば液晶パネルなどで構成される。
このとき、上記信号光としては、記録データに応じた空間光変調を施して生成される。また、上記参照光は、所定パターンによる空間光変調を施して生成する。
このように光強度変調器101にて生成された信号光、参照光に対しては、位相マスク102による空間位相変調が施される。図示されるように、この位相マスク102によっては、信号光に対してランダムな位相パターンを与え、参照光に対しては、予め定められた所定の位相パターンを与えるようにされる。
なお、この位相マスク102による位相変調は、1画素(ピクセル)単位で行う。ここでの画素とは、光変調のために光強度変調器101が備える変調面を形成する個々の画素に対応する。例えば光強度変調器101が液晶パネルである場合には、この液晶パネルを形成する1つの画素が、上記1画素単位に相当する。
なお、この位相マスク102による位相変調は、1画素(ピクセル)単位で行う。ここでの画素とは、光変調のために光強度変調器101が備える変調面を形成する個々の画素に対応する。例えば光強度変調器101が液晶パネルである場合には、この液晶パネルを形成する1つの画素が、上記1画素単位に相当する。
ここで、信号光及び参照光に対してランダムな位相パターンを与えるのは、信号光と参照光との干渉効率の向上や、信号光のスペクトルの拡散を図ることでDC(直流)成分を抑圧し、高記録密度化を図るためである。
ここで、光強度変調器101による光強度変調によっては、信号光として、その光強度が記録データに応じて0,1に変調された光が生成される。このような信号光に対し、0又はπによる位相変調が施されることによっては、光の波面の振幅として、−1,0,1(+1)を有する光がそれぞれ生成されることになる。すなわち、光強度=1で変調された画素について位相=0の変調が与えられたときは、振幅=1であり、位相=πによる変調が得られたときは振幅=−1となる。なお、光強度=0の画素については位相=0、又は位相=πの何れの変調に対しても振幅=0のままである。
確認のために、図11に位相マスク102が無い場合(図11(a))と有る場合(図11(b))とでの信号光・参照光の違いを示しておく。なお、この図11においては色濃度により光の振幅の大小関係を表現している。具体的に、図11(a)では黒色→白色により0→1の振幅を表し、図11(b)では黒色→灰色→白色により、−1→0→1(+1)の振幅を表している。
ここで、信号光は、記録データに応じて強度変調されたものである。このため、0,1の光強度(振幅)が必ずしもランダムに配置されるものとはならず、DC成分の発生を助長することになる。
上記位相マスク102による位相パターンは、ランダムパターンとされている。これによって、光強度変調器101から出力される信号光内の光強度=1の画素を、振幅=1と振幅=−1とにランダム(半々)に分けることができるようにされている。このように振幅=1と振幅=−1とにランダムに分けられることで、フーリエ面(周波数平面:この場合はメディア上での像と考えればよい)において均質にスペクトルをばらまくことができ、これによって信号光におけるDC成分の抑圧を図ることができるものである。
上記位相マスク102による位相パターンは、ランダムパターンとされている。これによって、光強度変調器101から出力される信号光内の光強度=1の画素を、振幅=1と振幅=−1とにランダム(半々)に分けることができるようにされている。このように振幅=1と振幅=−1とにランダムに分けられることで、フーリエ面(周波数平面:この場合はメディア上での像と考えればよい)において均質にスペクトルをばらまくことができ、これによって信号光におけるDC成分の抑圧を図ることができるものである。
このように信号光のDC成分の抑圧が図られれば、データ記録密度の向上を図ることができる。
ここで、信号光にDC成分が生じることによっては、該DC成分によって記録材料が大きく反応し、上述した多重記録を行うことができなくなってしまう。すなわち、DC成分が記録された部分に対しては、それ以上データを多重させて記録することができなくなってしまうからである。
上記のようなランダム位相パターンによってDC成分の抑圧が図られれば、データの多重記録が可能となり、高記録密度化が図られる。
ここで、信号光にDC成分が生じることによっては、該DC成分によって記録材料が大きく反応し、上述した多重記録を行うことができなくなってしまう。すなわち、DC成分が記録された部分に対しては、それ以上データを多重させて記録することができなくなってしまうからである。
上記のようなランダム位相パターンによってDC成分の抑圧が図られれば、データの多重記録が可能となり、高記録密度化が図られる。
説明を図9に戻す。
上記位相マスク102による位相変調を受けた信号光、参照光は、共に対物レンズ103によって集光されてホログラム記録媒体HMに対して照射される。これにより、ホログラム記録媒体HMにおいては、信号光(記録像)に応じた干渉縞(回折格子:ホログラム)が形成される。そして、この干渉縞の形成によってデータが記録される。
上記位相マスク102による位相変調を受けた信号光、参照光は、共に対物レンズ103によって集光されてホログラム記録媒体HMに対して照射される。これにより、ホログラム記録媒体HMにおいては、信号光(記録像)に応じた干渉縞(回折格子:ホログラム)が形成される。そして、この干渉縞の形成によってデータが記録される。
続いて、再生時においては、先ず図10(a)に示されるように、入射光に対する光強度変調器101の空間光変調(強度変調)によって、参照光を生成するようにされる。そして、このように生成された参照光に対しては、位相マスク102による空間光位相変調により、記録時と同じ所定の位相パターンを与えるようにする。
図10(a)において、位相マスク102による位相変調を受けた上記参照光は、対物レンズ103を介してホログラム記録媒体HMに対して照射される。
このとき、上記のようにして参照光は記録時と同じ位相パターンが与えられたものとなっている。このような参照光がホログラム記録媒体HMに照射されることにより、図10(b)に示すように、記録されたホログラム像に応じた回折光が得られ、該回折光がホログラム記録媒体HMからの反射光として出力されることになる。すなわち、記録データに応じた再生像(再生光)が得られる。
このとき、上記のようにして参照光は記録時と同じ位相パターンが与えられたものとなっている。このような参照光がホログラム記録媒体HMに照射されることにより、図10(b)に示すように、記録されたホログラム像に応じた回折光が得られ、該回折光がホログラム記録媒体HMからの反射光として出力されることになる。すなわち、記録データに応じた再生像(再生光)が得られる。
そして、このようにして得られた再生光を、例えばCCD(Charge Coupled Device)センサやCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)センサなどとされるイメージセンサ104で受光し、該イメージセンサ104の受光信号に基づき、データの再生が行われる。
ここで、上記により説明したホログラム記録再生の手法では、記録時において、位相マスク102により信号光のDC成分の抑圧を図ることで高記録密度化を図るものとしている。このような位相マスク102を用いる手法は、ホログラムページの多重記録を可能とするという面で高記録密度化を達成するものとなる。
上記図9、図10に示すようにして参照光、及び信号光に位相パターンを与えて記録再生を行う場合においては、前述のようにして、再生に際して、記録時と同じ位相パターンを与えることで、再生データを適正に読み出すことができる。但し、このためには、記録時と再生時とで、対物レンズ、位相マスク(位相変調素子)、光強度変調器(光強度変調素子)との間での相対的な位置ずれが生じないようにすることが必要になる。
上記のような位置ずれが生じると、記録媒体内を照射する参照光の位相、強度分布などとしての情報が、記録時と再生時とで異なってしまうことになる。このような位相パターンの相違は、再生信号の光量の著しい低下として現れ、データ再生の信頼性を低下させる要因となる。従って、このような位置ずれは、データ再生の信頼性が確保できる程度に一定以下に納められることが好ましい。
上記のような位置ずれが生じると、記録媒体内を照射する参照光の位相、強度分布などとしての情報が、記録時と再生時とで異なってしまうことになる。このような位相パターンの相違は、再生信号の光量の著しい低下として現れ、データ再生の信頼性を低下させる要因となる。従って、このような位置ずれは、データ再生の信頼性が確保できる程度に一定以下に納められることが好ましい。
しかし、例えば上記の記録時と再生時とでの位置ずれは、例えば光学系における取り付け誤差、経年変化や熱による膨張、収縮など部品の位置変化などを原因として生じるのであるが、これらの原因は避けることが難しい。
このことからすると、上記の原因による位置ずれが発生することは前提としながらも、データ再生の信頼性が高められるようにすることが必要であることになる。即ち、上記の位置ずれに対するトレランスを向上させることが求められる。
このことからすると、上記の原因による位置ずれが発生することは前提としながらも、データ再生の信頼性が高められるようにすることが必要であることになる。即ち、上記の位置ずれに対するトレランスを向上させることが求められる。
そこで本発明は上記した課題を考慮して、記録再生装置として次のように構成することとした。
つまり、光源からの光を入射して、ホログラム記録媒体に照射するべき信号光と参照光とを生成可能であって、記録に際しては、記録データに応じて画素単位で光強度変調した上記信号光と、所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した、上記信号光との干渉縞によりホログラム記録媒体にデータを記録するための上記参照光を生成し、再生に際しては、上記所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した、上記ホログラム記録媒体から再生光を得るための上記参照光を生成する光生成/強度変調手段と、上記信号光と上記参照光とに対して位相変調を行うもので、上記参照光については、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う位相変調手段とを備えることとした。
つまり、光源からの光を入射して、ホログラム記録媒体に照射するべき信号光と参照光とを生成可能であって、記録に際しては、記録データに応じて画素単位で光強度変調した上記信号光と、所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した、上記信号光との干渉縞によりホログラム記録媒体にデータを記録するための上記参照光を生成し、再生に際しては、上記所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した、上記ホログラム記録媒体から再生光を得るための上記参照光を生成する光生成/強度変調手段と、上記信号光と上記参照光とに対して位相変調を行うもので、上記参照光については、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う位相変調手段とを備えることとした。
また、記録装置として、光源からの光を入射して、ホログラム記録媒体に照射するべき信号光と参照光とを生成可能であって、記録データに応じて画素単位で光強度変調した上記信号光と、所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した、上記信号光との干渉縞によりホログラム記録媒体にデータを記録するための上記参照光を生成光生成/強度変調手段と、上記信号光と上記参照光とに対して位相変調を行うもので、上記参照光については、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う位相変調手段とを備えて構成することとした。
また、再生装置として、光源からの光を入射して、上記ホログラム記録媒体から再生光を得るためにホログラム記録媒体に照射するべき参照光を生成可能であって、所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した上記参照光を生成する光生成/強度変調手段と、上記参照光に対して、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う位相変調手段とを備えて構成することとした。
上記構成では、ホログラム記録媒体に対応して記録再生が可能な装置において、記録再生時に生成する参照光については、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行うこととしている。つまり、1画素よりも大きな面積単位を位相変調の最小変調単位としている。
このため、参照光の全体的な位相パターンは、1画素を最小変調単位として位相変調して得られる位相パターンよりも粗くなる。これにより、記録時と再生時とで、対物レンズに対する位相変調素子、光強度変調素子などの間での相対的な位置ずれが生じたとしても、位置ずれが生じていないときと同じ画素の位相となる可能性、確率は、1画素を最小変調単位として位相変調した場合と比較して高くなる。つまり、記録時と再生時とで発生する、対物レンズに対する位相変調素子、光強度変調素子などの間での相対的な位置ずれに対するトレランスは向上する。
このため、参照光の全体的な位相パターンは、1画素を最小変調単位として位相変調して得られる位相パターンよりも粗くなる。これにより、記録時と再生時とで、対物レンズに対する位相変調素子、光強度変調素子などの間での相対的な位置ずれが生じたとしても、位置ずれが生じていないときと同じ画素の位相となる可能性、確率は、1画素を最小変調単位として位相変調した場合と比較して高くなる。つまり、記録時と再生時とで発生する、対物レンズに対する位相変調素子、光強度変調素子などの間での相対的な位置ずれに対するトレランスは向上する。
このようにして本発明は、上記したように、対物レンズに対する位相変調素子、光強度変調素子などの間での相対的な位置ずれに対するトレランスが向上される。この結果、ホログラム記録再生装置としての再生信頼性が高められる。
図1は、本願発明を実施するための最良の形態(以下、実施の形態という)としてのホログラム記録再生装置の構成例を示している。なお、この図においては、コアキシャル方式を採用する場合の構成例を示している。また、図1では主に記録再生装置の光学系の構成のみを抽出して示し、他の部分については省略する。
コアキシャル方式は、信号光と参照光とを同一軸上に配置し、それらを共に所定位置にセットされたホログラム記録媒体に照射して干渉縞によるデータ記録を行い、また再生時には参照光をホログラム記録媒体に対して照射することで干渉縞により記録されたデータの再生を行う方式である。
コアキシャル方式は、信号光と参照光とを同一軸上に配置し、それらを共に所定位置にセットされたホログラム記録媒体に照射して干渉縞によるデータ記録を行い、また再生時には参照光をホログラム記録媒体に対して照射することで干渉縞により記録されたデータの再生を行う方式である。
図1において、先ず、レーザダイオード(LD)1は、記録再生のためのレーザ光を得るための光源として設けられる。このレーザダイオード1としては、例えば外部共振器付きレーザダイオードが採用され、レーザ光の波長は例えば410nm程度とされる。
レーザダイオード1からの出射光はコリメータレンズ2を介した後、光強度変調器3に対して入射する。
レーザダイオード1からの出射光はコリメータレンズ2を介した後、光強度変調器3に対して入射する。
光強度変調器3は、例えば透過型液晶パネルで構成され、記録信号処理部20から出力される駆動信号によって各画素(ピクセル)が駆動制御されることで、入射光に対して空間光強度変調(以下、単に光強度変調とも言う)を画素(ピクセル)単位で与える。
具体的に、この場合の光強度変調器3では、光強度変調として、入射光を画素単位でON/OFFする。即ち、1又は0による光強度を与えるようにして変調する。
具体的に、この場合の光強度変調器3では、光強度変調として、入射光を画素単位でON/OFFする。即ち、1又は0による光強度を与えるようにして変調する。
ここで、光強度変調器3は、入射光から、参照光と信号光とをそれぞれ独立した光として生成することができるように、図2に示されるような参照光エリアA1、信号光エリアA2、ギャップエリアA3の各領域が設定されている。
具体的に、この場合の光強度変調器3では、その中心部を含む略円形の所定の画素範囲が信号光エリアA2とされ、この信号光エリアA2の外周側に隣接する略輪状の所定の画素範囲がギャップエリアA3、さらにこのギャップエリアA3の外周側に隣接する略輪状の所定の画素範囲が参照光エリアA1として設定されている。
具体的に、この場合の光強度変調器3では、その中心部を含む略円形の所定の画素範囲が信号光エリアA2とされ、この信号光エリアA2の外周側に隣接する略輪状の所定の画素範囲がギャップエリアA3、さらにこのギャップエリアA3の外周側に隣接する略輪状の所定の画素範囲が参照光エリアA1として設定されている。
上記光強度変調器3から出射された光は、リレーレンズ5Bに入射することで図示するように所定位置に焦点を結ぶようにして集光された後、集光後の拡散光がリレーレンズ7Bに入射することで平行光となるように変換される。
そして、上記リレーレンズ5Bの集光により形成される焦点位置、すなわちフーリエ面(周波数平面)となる位置に対しては、遮光マスク6Bが設けられる。
遮光マスク6Bは、光軸中心から所定範囲内の入射光のみを透過するようにして構成されている。記録時には、この遮光マスク6Bにより信号光のサイズの縮小化が図られる。これにより、高記録密度化が図られるようにしている。
遮光マスク6Bは、光軸中心から所定範囲内の入射光のみを透過するようにして構成されている。記録時には、この遮光マスク6Bにより信号光のサイズの縮小化が図られる。これにより、高記録密度化が図られるようにしている。
上記リレーレンズ7Bを透過した平行光は、位相マスク13に入射する。位相マスク13は、光強度変調器3を介して入力される光に(信号光、参照光)に対して位相変調を行う。
ここで、位相マスク13による位相変調は、入射光に対して1画素を最小変調単位として変調をかけることが一般的とされている。具体的には、例えば位相=0を与える画素と、位相=πを与える画素とが、全体においては半々となるようにして、1画素ごとに0又はπの位相を設定する。これにより、1画素を最小変調単位とするランダムな位相パターンを形成する。
このような位相変調を可能とする位相マスク13の具体的な構成例としては、例えば位相マスクをガラス等の光学材料により構成することとしたうえで、画素ごとに対応する面部分について、上記光学材質の厚みを異ならせるようにしたものが一般的に知られている。これにより、光学物質の厚さの違いによる光路長差に応じて、0の位相(位相=0)が与えられる画素とπの位相(位相=π)が与えられる画素とが設定される。
具体的に、位相=πを与える場合には、入射光の波長をλ、用いる部材の屈折率をnとしたとき、その厚さの違いtをt=λ/{2(n−1)}に設定すればよい。
このような位相変調を可能とする位相マスク13の具体的な構成例としては、例えば位相マスクをガラス等の光学材料により構成することとしたうえで、画素ごとに対応する面部分について、上記光学材質の厚みを異ならせるようにしたものが一般的に知られている。これにより、光学物質の厚さの違いによる光路長差に応じて、0の位相(位相=0)が与えられる画素とπの位相(位相=π)が与えられる画素とが設定される。
具体的に、位相=πを与える場合には、入射光の波長をλ、用いる部材の屈折率をnとしたとき、その厚さの違いtをt=λ/{2(n−1)}に設定すればよい。
このようにして、上記位相マスク13によって、先ず記録時においては、信号光について、ランダムに0又はπの位相変調を与えることができる。
ここで、0(0°)の位相(位相=0)は1の振幅(振幅=1)に対応し、π(180°)の位相(位相=π)は振幅=−1に対応する。この場合、位相=0のときの振幅=1を基準位相と定義する。以下において、位相=0や位相=πなどと言ったときは、この基準位相との位相差を示すものであるとする。また、「再生像との位相差」と言った場合も、基準位相である位相=0のときの振幅=1の再生像との位相差を指すものとする。
上記のようにして2値のランダムパターンによる位相変調が信号光に対して与えられることにより、参照光と信号光との干渉効率の向上を図ることができる。また、同時にフーリエ面(メディア上での像)において均質にスペクトルをばらまくことができ、振幅=1の数と振幅=−1の数をほぼ同じとすることによって、信号光内のDC成分の抑圧を図ることができる。
ここで、0(0°)の位相(位相=0)は1の振幅(振幅=1)に対応し、π(180°)の位相(位相=π)は振幅=−1に対応する。この場合、位相=0のときの振幅=1を基準位相と定義する。以下において、位相=0や位相=πなどと言ったときは、この基準位相との位相差を示すものであるとする。また、「再生像との位相差」と言った場合も、基準位相である位相=0のときの振幅=1の再生像との位相差を指すものとする。
上記のようにして2値のランダムパターンによる位相変調が信号光に対して与えられることにより、参照光と信号光との干渉効率の向上を図ることができる。また、同時にフーリエ面(メディア上での像)において均質にスペクトルをばらまくことができ、振幅=1の数と振幅=−1の数をほぼ同じとすることによって、信号光内のDC成分の抑圧を図ることができる。
上記位相マスク13から出射された光は、偏光ビームスプリッタ4を透過した後、リレーレンズ5A→遮光マスク6A→リレーレンズ7Aによるリレーレンズ光学系を介し、さらに1/4波長板8を介した後に対物レンズ9で集光されてホログラム記録媒体10上に照射される。
ここで、記録時においては、図2示したように光強度変調器3により生成された信号光と参照光とが、上記した経路を経て上記ホログラム記録媒体10上に集光するようにされるものとなる。
ここで、記録時においては、図2示したように光強度変調器3により生成された信号光と参照光とが、上記した経路を経て上記ホログラム記録媒体10上に集光するようにされるものとなる。
ここで、記録時において、上述した光強度変調器3では、入射光に対して以下のようにして強度変調を行う。
すなわち、記録時において光強度変調器3は、記録信号処理部20からの駆動信号に応じて、信号光エリアA2内の画素ごとに、記録データに応じてON/OFFするようにして駆動が行われる。これにより信号光エリアA2については、記録データに応じて各画素の光強度について1又は0に変調される。
すなわち、記録時において光強度変調器3は、記録信号処理部20からの駆動信号に応じて、信号光エリアA2内の画素ごとに、記録データに応じてON/OFFするようにして駆動が行われる。これにより信号光エリアA2については、記録データに応じて各画素の光強度について1又は0に変調される。
なお、参照光エリアA1については、予め定めた所定パターンにより各画素をON/OFF(1/0)とするようにして駆動を行うことで、参照光について特定の光強度変調パターン(1若しくは0の光強度が与えられた画素の分布状態)を形成することができる。
確認のために述べておくと、本実施形態においては、この光強度変調パターンとして、参照光に対応する全画素をON(光強度=1)とする、いわゆるベタパターンも含められる。
確認のために述べておくと、本実施形態においては、この光強度変調パターンとして、参照光に対応する全画素をON(光強度=1)とする、いわゆるベタパターンも含められる。
また、ギャップエリアA3、及び参照光エリアA1より外周部については、全画素をOFF(光強度=0)とする。
上記のような光強度変調器3による強度変調が行われることで、記録時には、信号光と参照光とが生成されることになる。
また、上述した位相マスク13により、光強度変調器3で生成された上記信号光に対しては0とπの位相差によるランダム位相パターンが与えられる。また、参照光には予め定めた所定の位相パターンが与えられる。
そして、このような位相変調が施された信号光と参照光とが、上述した経路を経て上記ホログラム記録媒体10に集光するようにされることで、これら信号光と参照光との干渉縞によりホログラム記録媒体10に対するデータ記録が行われる。
このとき、信号光にはランダム位相パターンが与えられていることで、光強度=1による変調が与えられた画素の光は1(+1)若しくは−1の振幅(振幅値)が与えられるようにして変調され、且つこれら1の振幅が与えられる画素と、−1の振幅が与えられる画素は、ほぼ半々となるようにされる。このことで、信号光と参照光との干渉効率の向上が図られると共に、信号光のDC(直流)成分の抑圧化が図られる。DC成分の抑圧が図られることによっては、ホログラムページの多重記録が可能となり、高記録密度化が図られる。
また、再生時において、光強度変調器3は、参照光エリアA1内の画素を所定のON/OFFパターンとし、それ以外の画素は全てOFFとするように駆動される。これにより、参照光のみを生成する。また、再生時に生成する参照光は、位相マスク13により、記録時と同じ位相パターンが与えられる。そのうえで、上記参照光は、記録時と同様のホログラム記録媒体10までの経路により、ホログラム記録媒体10に照射される。このように記録時と同じ位相パターンが与えられた参照光がホログラム記録媒体10に照射されることで、ホログラム記録媒体10に形成された干渉縞(記録されたデータ)に応じた回折光が再生光として得られる。
このようにして得られた再生光(再生像)は、ホログラム記録媒体10からの反射光として記録再生装置側に戻され、対物レンズ9を介した後、1/4波長板8→リレーレンズ7A→遮光マスク6A、及びリレーレンズ5Aを介して平行光として偏光ビームスプリッタ4に入射する。
偏光ビームスプリッタ4に入射した再生光は、該偏光ビームスプリッタ4にて反射され、イメージセンサ11に照射される。
イメージセンサ11は、例えばCCD(Charge Coupled Device)センサやCMOS(Complementary Oxide Semiconductor)センサなどの撮像素子を備え、上記のようにして導かれたホログラム記録媒体10からの再生光を受光し、電気信号に変換する。これによって再生時には、上記再生光(記録された像)についての光強度検出結果を表す受光信号(画像信号)が得られる。すなわち、記録されたデータについての読み出し信号(再生信号)が得られる。
上記再生信号は、再生信号処理部30に入力される。再生信号処理部30では、所要の復号処理を始めとする再生信号処理を実行し、元の記録データに対応する再生データを得る。
次に、再生信号処理部30の基本的な構成例について説明する。
なお、再生信号処理部30の説明にあたり、下記の前提となる事柄について述べておく。
ホログラム記録再生方式では、光学的な歪みや倍率などの問題から、光強度変調器3側の各画素(以下データピクセルとも呼ぶ)とイメージセンサ11側の各画素(ディテクタピクセルとも呼ぶ)とを厳密に1対1に合わせることが非常に困難とされている。すなわち、光強度変調器3の各画素に対応する再生像を、イメージセンサ11上の想定する各画素に厳密に入射させることが非常に難しい。
そのため、このようなずれに対応して、イメージセンサ11で得られる画像信号中のどの位置に光強度変調器3のデータピクセルが位置しているかを探索するようにされる。そして、この探索の結果特定されたデータピクセルの位置の振幅値を得て、その振幅値からデータピクセルごとのビット値の識別を行う。
なお、再生信号処理部30の説明にあたり、下記の前提となる事柄について述べておく。
ホログラム記録再生方式では、光学的な歪みや倍率などの問題から、光強度変調器3側の各画素(以下データピクセルとも呼ぶ)とイメージセンサ11側の各画素(ディテクタピクセルとも呼ぶ)とを厳密に1対1に合わせることが非常に困難とされている。すなわち、光強度変調器3の各画素に対応する再生像を、イメージセンサ11上の想定する各画素に厳密に入射させることが非常に難しい。
そのため、このようなずれに対応して、イメージセンサ11で得られる画像信号中のどの位置に光強度変調器3のデータピクセルが位置しているかを探索するようにされる。そして、この探索の結果特定されたデータピクセルの位置の振幅値を得て、その振幅値からデータピクセルごとのビット値の識別を行う。
ここでの図示による説明は省略したが、上記のような光学的な歪みや倍率などに起因する再生像のずれに対応可能とするため、イメージセンサ11としては、予め光強度変調器3側の1画素分の像をイメージセンサ11側のn画素(n>1)分で受光するように調整されている(いわゆるオーバーサンプリング)。例えば、光強度変調器3の1画素分の再生像をイメージセンサ11上の2×2=4画素分で受光するなどといったものである。このようなオーバーサンプリングを行うのは、上記のような再生像のずれが画素未満単位で生じた場合にも対応可能となるように、検出画像側の解像度を上げるためである。
例えば、上記例のようにオーバーサンプリングレートが2×2=4倍に設定される場合、イメージセンサ11からは、光強度変調器3側の4倍の解像度を有する画像信号が得られ、この画像信号が、再生信号処理部30に対して再生信号として入力される。
例えば、上記例のようにオーバーサンプリングレートが2×2=4倍に設定される場合、イメージセンサ11からは、光強度変調器3側の4倍の解像度を有する画像信号が得られ、この画像信号が、再生信号処理部30に対して再生信号として入力される。
図3は、再生信号処理部30の基本的な構成例を示している。
図示するようにして再生信号処理部30内には、アップコンバート部31、等化フィルタ32、リサンプリング部33、データ識別部34、スパース符号デコード部35が備えられている。
図示するようにして再生信号処理部30内には、アップコンバート部31、等化フィルタ32、リサンプリング部33、データ識別部34、スパース符号デコード部35が備えられている。
この場合、イメージセンサ11からの再生信号は、先ず、アップコンバート部31に入力されるものとしている。アップコンバート部31では、上記読み出し信号に対して例えば補間処理などを行うことによって、上記読み出し信号を所定倍率にアップコンバートする。
このようにオーバーサンプリング後の画像に対してさらにアップコンバート処理を行うことで、解像度をさらに上げることができ、再生像の照射位置ずれに応じた位置合わせをより高精度に行うことができる。
このようにオーバーサンプリング後の画像に対してさらにアップコンバート処理を行うことで、解像度をさらに上げることができ、再生像の照射位置ずれに応じた位置合わせをより高精度に行うことができる。
等化フィルタ32は、アップコンバート部31から出力されるアップコンバートされた再生信号を入力して、符号間干渉防止のための波形等化処理を行う。
なお、ここでの符号間干渉防止のための等化処理は、光ディスクや通信などの分野でも多用されている1次元信号についての波形等化処理を、2次元に拡張したものとなる。
なお、ここでの符号間干渉防止のための等化処理は、光ディスクや通信などの分野でも多用されている1次元信号についての波形等化処理を、2次元に拡張したものとなる。
リサンプリング部33は、上記等化フィルタ32による等化処理後の再生信号(画像信号)中における、光強度変調器3の各データピクセルの位置を特定し、特定した各データピクセルの振幅値を取得する(これをリサンプリングと呼ぶ)。
ここで、画像信号中における各データピクセルの位置特定に関しては、記録データ内にシンクと呼ばれる所定パターンデータを挿入しておくという手法が知られている。この手法を採用する場合、リサンプリング部33としては、画像信号中から上記所定パターンとしてのシンク部分を探索し、その結果検出されたシンクの位置から各データピクセルの位置を特定する。
なお、このような各データピクセルの位置特定手法としては、本実施の形態の読み出し動作と直接的に関係するものではないことから詳細な説明は省略する。これまでに知られている手法、或いは今後提案される手法など適宜最適とされる手法が採用されればよく、本実施の形態において特に限定はしない。
ここで、画像信号中における各データピクセルの位置特定に関しては、記録データ内にシンクと呼ばれる所定パターンデータを挿入しておくという手法が知られている。この手法を採用する場合、リサンプリング部33としては、画像信号中から上記所定パターンとしてのシンク部分を探索し、その結果検出されたシンクの位置から各データピクセルの位置を特定する。
なお、このような各データピクセルの位置特定手法としては、本実施の形態の読み出し動作と直接的に関係するものではないことから詳細な説明は省略する。これまでに知られている手法、或いは今後提案される手法など適宜最適とされる手法が採用されればよく、本実施の形態において特に限定はしない。
また、このように各データピクセルの位置が特定された後には、それらの振幅値を取得する処理を行うことになるが、これについては、例えば特定された各データピクセルの位置の周囲の値から補間処理を行ってそのデータピクセルの振幅値を計算により取得するという手法が知られている。これは、画像処理の分野で一般的な手法であり、双線形補間法(Bi-linear interpolation method)、3次補間法(Cubic convolution method)、双3次スプライン法 (Bicubic spline method)などが知られている。
また、計算によらず、特定された位置から最もタイミングの近い信号値をそのデータピクセルの振幅値として選択する最近傍法(Nearest neighbor method)もある。
なお、このような振幅値の取得処理についても多様な手法を採ることができ、ここでその手法について特に限定はしない。
また、計算によらず、特定された位置から最もタイミングの近い信号値をそのデータピクセルの振幅値として選択する最近傍法(Nearest neighbor method)もある。
なお、このような振幅値の取得処理についても多様な手法を採ることができ、ここでその手法について特に限定はしない。
データ識別部34は、上記のようにしてリサンプリング部33によって得られた各データピクセルの振幅値に基づくデータ識別(ビット判定)を行う。
ここで、先の説明によると、記録時においては記録データの8ビットがスパース符号化によって4×4=16ビットのブロック形状のデータ配列(シンボル)に変換され、これらシンボルがホログラムページ内にマッピングされる。
このスパース符号化としては、例えば16ビットのうちm個のビットのみを1とし、それ以外を全て0とするような符号化が行われる。これに応じデータ識別部34は、シンボル単位ごとに各データピクセルの振幅値のうち値の大きい上位m個のデータピクセルのビットを1とし、それ以外の全てのデータピクセルのビットを0とするデータ識別を行う(ソート検出と呼ばれる)。
そして、このようなソート検出によるシンボル単位でのデータ識別によってシンボル単位で得られる各ビット値を、後段のスパース符号デコード部35に対して供給する。
ここで、先の説明によると、記録時においては記録データの8ビットがスパース符号化によって4×4=16ビットのブロック形状のデータ配列(シンボル)に変換され、これらシンボルがホログラムページ内にマッピングされる。
このスパース符号化としては、例えば16ビットのうちm個のビットのみを1とし、それ以外を全て0とするような符号化が行われる。これに応じデータ識別部34は、シンボル単位ごとに各データピクセルの振幅値のうち値の大きい上位m個のデータピクセルのビットを1とし、それ以外の全てのデータピクセルのビットを0とするデータ識別を行う(ソート検出と呼ばれる)。
そして、このようなソート検出によるシンボル単位でのデータ識別によってシンボル単位で得られる各ビット値を、後段のスパース符号デコード部35に対して供給する。
スパース符号デコード部35は、上記のようにして得られるシンボル単位ごとのビット値を入力し、それらシンボルごとにスパース符号のデコードを行う。すなわち、4×4=16ビットを元の8ビットのデータにデコードし、これによって元の記録データを再現する。すなわち再生データを得る。このようにして得られた再生データが、再生信号処理部30から出力されることになる。
また、図1に示した光学系の構成の下では、図4に示すように、位相マスク13を光強度変調器3の出射光側に移動させたうえで、この位相マスク13を光強度変調器3と一体となるように形成して設けることができる。すなわち、光強度変調器3からの出射光が得られる部分は実像面にあたるので、光強度変調器3における光の出射面側に対し、位相マスク13を一体的に形成するものである。
なお、この場合には、光強度変調器3と位相マスク13が一体化された部位をSLMということができる。
なお、この場合には、光強度変調器3と位相マスク13が一体化された部位をSLMということができる。
ところで、位相マスク13による位相パターンの形成にあたっては、1画素単位、即ち、1画素を最小変調単位として位相変調を行うことが一般的であると述べた。
これは、例えば位相変調により得られる位相パターンが細かいほど、信号光、参照光のスペクトルが拡散してDC成分のピーク抑圧効果を高められるというのが、理由の1つとなる。
本実施形態のように画素単位で空間光変調を行う場合、1画素単位で位相変調を行うこととすれば、位相パターンが最も細かくなり、DC成分のピーク成分の抑圧効果は最大限に得られることになるわけである。
これは、例えば位相変調により得られる位相パターンが細かいほど、信号光、参照光のスペクトルが拡散してDC成分のピーク抑圧効果を高められるというのが、理由の1つとなる。
本実施形態のように画素単位で空間光変調を行う場合、1画素単位で位相変調を行うこととすれば、位相パターンが最も細かくなり、DC成分のピーク成分の抑圧効果は最大限に得られることになるわけである。
ここで、参照光について1画素単位で位相変調を行った場合の位相パターン例を図5に示す。
図5(a)は、位相マスク13を透過したことで位相変調が施された後の参照光51の全体像を抜き出して示し、図5(b)には、図5(a)に示される参照光51の一部を拡大して示している。
図5(a)は、位相マスク13を透過したことで位相変調が施された後の参照光51の全体像を抜き出して示し、図5(b)には、図5(a)に示される参照光51の一部を拡大して示している。
この図5(b)において、例えば、白色部分は位相(位相変調度)=0による変調が行われた画素に対応する領域を示し、黒色部分は位相(位相変調度)=πによる変調が行われた画素に対応する領域を示すものとしている。
そして、この図5(b)においては、黒色部分及び白色部分について、例えば破線で括って示す箇所をはじめ、1画素のみで独立する箇所が他にも散在している。例えばこのような画素のパターンの存在が、1画素を最小変調単位として位相変調が行われたことを顕著に示している。
そして、この図5(b)においては、黒色部分及び白色部分について、例えば破線で括って示す箇所をはじめ、1画素のみで独立する箇所が他にも散在している。例えばこのような画素のパターンの存在が、1画素を最小変調単位として位相変調が行われたことを顕著に示している。
その一方で、ホログラム記録媒体に対応する記録再生に関しては、記録時と再生時とでの、対物レンズ9、光強度変調器3、位相マスク13の間での相対的な位置ずれの発生が不可避な問題となる。
なお、以降において、記録時と再生時とでの、対物レンズ9、光強度変調器3、位相マスク13の間での相対的な位置ずれについては、「記録/再生相対誤差」ということにする。
なお、以降において、記録時と再生時とでの、対物レンズ9、光強度変調器3、位相マスク13の間での相対的な位置ずれについては、「記録/再生相対誤差」ということにする。
図6は、上記した記録/再生相対誤差の発生を説明するための図である。
図6(a)は、基準としての対物レンズ9の光軸に対して、位相マスク13及び光強度変調器3のいずれもが適正位置にある状態を示している。これに対して、図6(b)は、対物レンズ9の光軸に対して、光強度変調器3は適正位置にあるが、位相マスク13の位置がずれている状態を示している。また、図6(c)は、対物レンズ9の光軸に対して位相マスク13は適正位置にあるが、光強度変調器3がずれている状態を示している。
記録時と再生時とで、上記図6(a)(b)(c)に示される3つの態様のうち、同じ1つの組み合わせとなる場合には、上記記録/再生相対誤差は生じないが、異なる2つの組み合わせとなった場合には、記録/再生相対誤差が発生することになる。
図6(a)は、基準としての対物レンズ9の光軸に対して、位相マスク13及び光強度変調器3のいずれもが適正位置にある状態を示している。これに対して、図6(b)は、対物レンズ9の光軸に対して、光強度変調器3は適正位置にあるが、位相マスク13の位置がずれている状態を示している。また、図6(c)は、対物レンズ9の光軸に対して位相マスク13は適正位置にあるが、光強度変調器3がずれている状態を示している。
記録時と再生時とで、上記図6(a)(b)(c)に示される3つの態様のうち、同じ1つの組み合わせとなる場合には、上記記録/再生相対誤差は生じないが、異なる2つの組み合わせとなった場合には、記録/再生相対誤差が発生することになる。
係る記録/再生相対誤差の原因として、1つには、ホログラム記録媒体に対応する記録再生装置ごとの光学系における物理的、構造的な誤差(取り付け誤差)を挙げることができる。
例えば、或る1つのホログラム記録媒体に対してデータを記録した装置Aと、その後において、このホログラム記録媒体からデータを再生しようとする装置Bとが異なっていたとする。この際、上記の取り付け誤差の要因によって、装置Aと装置Bとで、対物レンズ9に対する位相マスク13、光強度変調器3の位置関係について、図6(a)(b)(b)のうちのいずれか2つの組み合わせになったとする。例えば装置Aは、図6(a)に示す位置関係であるのに対して、装置Bは図6(b)に示す位置関係であるような場合である。このような場合に、記録/再生相対誤差が生じることになる。
例えば、或る1つのホログラム記録媒体に対してデータを記録した装置Aと、その後において、このホログラム記録媒体からデータを再生しようとする装置Bとが異なっていたとする。この際、上記の取り付け誤差の要因によって、装置Aと装置Bとで、対物レンズ9に対する位相マスク13、光強度変調器3の位置関係について、図6(a)(b)(b)のうちのいずれか2つの組み合わせになったとする。例えば装置Aは、図6(a)に示す位置関係であるのに対して、装置Bは図6(b)に示す位置関係であるような場合である。このような場合に、記録/再生相対誤差が生じることになる。
また、経時変化による取り付け位置のズレ、ゆがみなどの発生であるとか、熱による膨張、収縮などによって、対物レンズ9、位相マスク13、光強度変調器3の間の位置関係が変化することも、記録/再生相対誤差の発生原因となる。なお、係る発生原因による記録/再生相対誤差の発生は、同じ記録再生装置によってデータを記録再生した場合にも生じ得る。
例えば或る記録再生装置において、先ず、ホログラム記録媒体にデータを記録したとする。そして、この後の或る機会において、同じ記録再生装置により、同じホログラム記録媒体の再生を行おうとしたとする。
この場合において、ホログラム記録媒体に対するデータ記録を行ったときには、対物レンズ9、位相マスク13、光強度変調器3は、図6(a)に示される位置関係の状態であったとする。しかし、その後の経時変化であるとか、そのときの周囲温度(熱)の影響による膨張、収縮などが原因で、対物レンズ9、位相マスク13、光強度変調器3は、図6(b)若しくは図6(c)に示されるような状態になっていたとする。このような場合にも、上記した記録/再生相対誤差が発生することになる。
例えば或る記録再生装置において、先ず、ホログラム記録媒体にデータを記録したとする。そして、この後の或る機会において、同じ記録再生装置により、同じホログラム記録媒体の再生を行おうとしたとする。
この場合において、ホログラム記録媒体に対するデータ記録を行ったときには、対物レンズ9、位相マスク13、光強度変調器3は、図6(a)に示される位置関係の状態であったとする。しかし、その後の経時変化であるとか、そのときの周囲温度(熱)の影響による膨張、収縮などが原因で、対物レンズ9、位相マスク13、光強度変調器3は、図6(b)若しくは図6(c)に示されるような状態になっていたとする。このような場合にも、上記した記録/再生相対誤差が発生することになる。
上記のような記録/再生相対誤差が発生すると、再生時における参照光の位相パターンは、ホログラム記録媒体に記録されたホログラムページに対して、位置ずれの量に応じた分だけずれることになる。これは、再生時において、ホログラムページに対して、記録時とは異なる位相パターンの参照光が照射されているのと同じことになる。即ち、記録/再生相対誤差が発生することで、ホログラム記録媒体に対しては、記録時とは異なる、誤った位相パターンの参照光が照射されるのと等価の現象が生じる。
このような現象は、再生信号光量の低下を招き、結果として、データ再生の信頼性を低下させることにつながる。
特に、位相パターンについて、これまでに述べてきたようにして1画素を最小変調単位として位相変調を行うこととしている場合には、この傾向が顕著になる。
つまり、1画素単位による位相変調の場合には、記録/再生相対誤差としての相対的な位置ずれの量が10μm程度の小さなものであるとしても、これが既にほぼ1画素分のズレに相当する。1画素を最小変調単位とする位相パターンでは、互いに隣接する画素の位相が異なって設定される可能性が相応に高く、従って、参照光における位相パターンの誤差は非常に大きなものとなる可能性がある。このようにして、1画素を最小変調単位として参照光を位相変調することは、記録/再生相対誤差による影響が大きい。
特に、位相パターンについて、これまでに述べてきたようにして1画素を最小変調単位として位相変調を行うこととしている場合には、この傾向が顕著になる。
つまり、1画素単位による位相変調の場合には、記録/再生相対誤差としての相対的な位置ずれの量が10μm程度の小さなものであるとしても、これが既にほぼ1画素分のズレに相当する。1画素を最小変調単位とする位相パターンでは、互いに隣接する画素の位相が異なって設定される可能性が相応に高く、従って、参照光における位相パターンの誤差は非常に大きなものとなる可能性がある。このようにして、1画素を最小変調単位として参照光を位相変調することは、記録/再生相対誤差による影響が大きい。
しかし、上記した記録/再生相対誤差の発生原因は、いずれも物理的な構造に起因するものなので避けることが難しい。
すると、上記の記録/再生相対誤差の発生が不可避であることを前提としたうえで、記録/再生相対誤差に対するトレランスをより高めることが必要であるといえる。
すると、上記の記録/再生相対誤差の発生が不可避であることを前提としたうえで、記録/再生相対誤差に対するトレランスをより高めることが必要であるといえる。
そこで、本実施形態としては、記録/再生相対誤差に対するトレランスの向上を図るために、以降説明するようにして、記録/再生相対誤差により生じる位相パターンの誤りを抑制する構成を提案する。
ここで先ず、上述もしたように、記録/再生相対誤差により発生する或る一定量の位置ずれに応じた位相パターンの誤差は、位相変調にあたっての最小変調単位が小さいほど大きくなる。これは逆の見方をすれば、記録/再生相対誤差に対応する一定量の位置ずれに対する位相パターンの誤差は、上記最小変調単位を形成する画素数が大きいほど、小さくなるということである。
そこで本願発明者等は、このことに着目したものである。即ち、参照光を位相変調するのにあたり、2以上の予め定めた数の画素により形成される、予め定めた特定の画素配列パターンを規定し、このように規定した画素配列パターンを最小変調単位とすることとした。
そこで本願発明者等は、このことに着目したものである。即ち、参照光を位相変調するのにあたり、2以上の予め定めた数の画素により形成される、予め定めた特定の画素配列パターンを規定し、このように規定した画素配列パターンを最小変調単位とすることとした。
図7は、上記の画素配列パターンから成る最小変調単位により位相変調を行って得られた参照光51の位相パターン例を示している。なお、この図においても、図5と同様に、図7(a)に示される参照光51の一部を、図7(b)にて拡大したものとして示している。また、この場合にも、図7(b)においては、白色部分は位相=0による変調が行われた画素に対応する領域を示し、黒色部分は位相=πによる変調が行われた画素に対応する領域を示すものとする。
ここで、図7(b)において破線で示す箇所は、位相=0の白色部分と位相=πの黒色部分のそれぞれについて、2×2(水平×垂直)の4画素から成る画素配列パターンとなっている箇所を示している。図7(b)においては、この2×2による画素配列パターンとなっている箇所が他にも散在している。この図7の例では、2×2による配列パターンを成す4画素を最小変調単位として設定しているものである。例えば、図7(b)においては、先に示した図5(b)のようにして、1画素のみで独立している箇所は存在しておらず、このことからも、1画素よりも大きな画素数により形成される画素配列パターンを、最小変調単位として設定していることが分かる。
なお、ここでは、最小変調単位は、水平方向と垂直方向のそれぞれにおいて同じ画素数Nを配列することで、N×Nで表される配列パターンであるものとしている。以降において、この最小変調単位としての画素の配列パターンに対応する水平画素数及び垂直画素数を表すNについては、「最小変調単位対応画素数」ということにする。本実施形態において、この最小変調単位対応画素数となるNは、2以上の自然数としての条件を満たすべきであることになる。
なお、ここでは、最小変調単位は、水平方向と垂直方向のそれぞれにおいて同じ画素数Nを配列することで、N×Nで表される配列パターンであるものとしている。以降において、この最小変調単位としての画素の配列パターンに対応する水平画素数及び垂直画素数を表すNについては、「最小変調単位対応画素数」ということにする。本実施形態において、この最小変調単位対応画素数となるNは、2以上の自然数としての条件を満たすべきであることになる。
そして、上記のようにして、最小変調単位対応画素数N=2に対応する位相パターン例である図7(b)と、1画素を最小変調単位とする位相パターン例である図5(b)とを比較して分かるように、位相パターン全体における白色部分と黒色部分のパターン形状としては、図7(b)のほうが、図5(b)よりも大まかで粗いものとなっている。
上記図7(b)に示すようにして、1画素を最小変調単位として設定した場合よりも白色部分と黒色部分の形状パターンが粗くなることで、記録/再生相対誤差としての位置ずれが生じたとしても、再生時において、記録時とは位相が異なる画素の発生数を抑えることができる。換言すれば、記録時と同じ位相となる画素が残る可能性は高くなる。これを全体としてみた場合には、記録/再生相対誤差により生じる位相パターンの誤りが抑制されることになる。即ち、記録/再生相対誤差に対するトレランスが向上され、再生信頼性の向上が図られる。
確認のために述べておくと、上記した最小変調単位対応画素数Nについて2以上を設定した位相変調を実現するための位相マスク13の構成は、前述した位相マスク13の物理的な形成例に倣えばよい。
つまり、位相マスク13としての光学材質(例えばガラス材料)について、位相(位相変調度)=0が設定された最小変調単位対応画素数Nの部分については、位相=0を与えることのできる物理的な厚さを設定し、位相(位相変調度)=πが設定された最小変調単位対応画素数Nの部分については、位相=πを与えることのできる物理的な厚さを設定して形成すればよい。
つまり、位相マスク13としての光学材質(例えばガラス材料)について、位相(位相変調度)=0が設定された最小変調単位対応画素数Nの部分については、位相=0を与えることのできる物理的な厚さを設定し、位相(位相変調度)=πが設定された最小変調単位対応画素数Nの部分については、位相=πを与えることのできる物理的な厚さを設定して形成すればよい。
ただし、前述もしたように、最小変調単位対応画素数Nが小さいほどDC成分のピーク抑圧については有効になる。従って、本実施形態のようにして、参照光の位相変調に際して最小変調単位対応画素数Nについて2以上の値を設定する場合には、最小変調単位対応画素数N=1の場合よりも、DC成分のピーク抑圧効果は低減することになる。
しかし、本願発明者等は、最小変調単位対応画素数N=1の場合に得られるピーク抑圧効果が、要求される記録密度や信頼性などに対して充分なマージンを持っていることを確認している。
従って、本実施形態では、要求される記録密度であるとか記録再生の信頼性を損なわないだけのDC成分のピーク強度抑圧比が維持されることと、目標とする記録/再生相対誤差により生じる位相パターンの誤りの抑制効果が得られることとを考慮することで、最小変調単位対応画素数Nとして適切な値を設定できることになる。
なお、ピーク強度抑圧比の低下がどの程度まで許容されるのかに関しては、ホログラム記録媒体の特性であるとかシステム特性などに応じても異なってくる。現状では、ピーク強度抑圧比として2桁の数字が得られる程度にまで維持することが好ましいと推定されるが、この要求を満たすための最小変調単位対応画素数Nとしては、N<10程度が適当であるとの試験結果が得られた。
従って、本実施形態では、要求される記録密度であるとか記録再生の信頼性を損なわないだけのDC成分のピーク強度抑圧比が維持されることと、目標とする記録/再生相対誤差により生じる位相パターンの誤りの抑制効果が得られることとを考慮することで、最小変調単位対応画素数Nとして適切な値を設定できることになる。
なお、ピーク強度抑圧比の低下がどの程度まで許容されるのかに関しては、ホログラム記録媒体の特性であるとかシステム特性などに応じても異なってくる。現状では、ピーク強度抑圧比として2桁の数字が得られる程度にまで維持することが好ましいと推定されるが、この要求を満たすための最小変調単位対応画素数Nとしては、N<10程度が適当であるとの試験結果が得られた。
続いて、本実施形態の変形例について説明する。
上記実施形態においては、位相変調素子について位相マスク13としていた。
位相マスク13は、前述したように、予め設定した位相パターンに対応させて、例えばガラスなどの光学素材に対して厚さを異ならせたパターンを形成して構成される。従って、参照光に与えられる位相パターンは、位相マスク13において形成される厚みのパターンに応じたものとして固定となる。
上記実施形態においては、位相変調素子について位相マスク13としていた。
位相マスク13は、前述したように、予め設定した位相パターンに対応させて、例えばガラスなどの光学素材に対して厚さを異ならせたパターンを形成して構成される。従って、参照光に与えられる位相パターンは、位相マスク13において形成される厚みのパターンに応じたものとして固定となる。
これに対して、位相素子としては、例えば画素ごとに、透過光に与える位相を変更可能に構成されたものが知られている。このような位相素子であれば、異なる任意の位相パターンを形成できることになる。
なお、本実施形態では、このような位相素子について位相変調器ということにして、位相パターンが固定の位相マスクと区別する。
また、位相変調と光強度変調については、変調する対象が位相と光強度とで異なるものの、同じく空間光を変調することから、これらの変調については空間光変調という。
なお、本実施形態では、このような位相素子について位相変調器ということにして、位相パターンが固定の位相マスクと区別する。
また、位相変調と光強度変調については、変調する対象が位相と光強度とで異なるものの、同じく空間光を変調することから、これらの変調については空間光変調という。
上記位相変調器は、透過型の液晶パネルを用いて構成できる。
例えば液晶パネルに対してオン/オフに対応する2値の駆動電圧を与えると、駆動電圧のオンとオフとで、液晶の配向が変化する。例えば液晶分子の屈折率とこの配向の変化が組み合わされることで、透過光について2つの異なる位相を与えることが可能になる。
例えば液晶パネルに対してオン/オフに対応する2値の駆動電圧を与えると、駆動電圧のオンとオフとで、液晶の配向が変化する。例えば液晶分子の屈折率とこの配向の変化が組み合わされることで、透過光について2つの異なる位相を与えることが可能になる。
上記位相変調器を備えた光学系も、例えば図1を基として構成できる。
即ち、図1における位相マスク13に代えて、位相変調器を挿入して設けることとすればよい。また、位相変調器を備える構成との場合にも、図4に準ずるようにして、位相変調器と光強度変調器3とを一体化し、1つの部品素子によるSLMとして形成できる。
即ち、図1における位相マスク13に代えて、位相変調器を挿入して設けることとすればよい。また、位相変調器を備える構成との場合にも、図4に準ずるようにして、位相変調器と光強度変調器3とを一体化し、1つの部品素子によるSLMとして形成できる。
図8は、本変形例に従って位相変調器13Aと光強度変調器3とを備える場合に対応した記録信号処理部20の構成例を示している。なお、この図では、図4に準じて、位相変調器13A及び光強度変調器3を一体化して1部品のSLMとした構成を示している。
また、この図では、レーザダイオード1及びホログラム記録媒体10と共にSLMを示すことで、SLMがレーザダイオード1からホログラム記録媒体10に至るまでの光路内において設けられるものであることが示されている。
また、この図では、レーザダイオード1及びホログラム記録媒体10と共にSLMを示すことで、SLMがレーザダイオード1からホログラム記録媒体10に至るまでの光路内において設けられるものであることが示されている。
この図に示す記録信号処理部20は、符号化部21、マッピング部22、強度変調ドライバ23、位相変調パターン生成部24、位相変調ドライバ25を備えて成るものとしている。
記録時において、記録データは符号化部21に対して入力される。符号化部21は、入力される記録データについて、記録フォーマットに従った所定の記録変調符号化処理を施す。例えば、ホログラム記録再生方式にて一般的とされるスパース符号化として、記録データの1バイト(=8ビット)を4×4=16ビットの正方形によるブロック形状のデータ配列に変換する。この4×4=16ビットのデータ配列はシンボルと呼ばれ、記録符号化の最小単位とされる。
マッピング部22は、記録時において上記符号化部21にて符号化されたデータを、記録フォーマットに従って1枚のホログラムページ内に配列する。このホログラムページとは、信号光エリアA2内に敷き詰められるデータ配列全体を指す。すなわち、ここでのホログラムページとは、信号光と参照光との干渉で一度に記録することのできるデータ単位となる。
マッピング部22は、信号光エリアA2内へのデータのマッピングと共に、参照光エリアA1の所定の画素を1、それ以外の画素を0とし、且つギャップエリアA3と参照光エリアA1より外周部分とを全て0としたデータパターンを生成し、このデータパターンと上記信号光エリアA2内のデータパターンとを併せて、光強度変調器3における全有効画素分のデータパターンを生成する。
このようにして生成された光強度変調器3における全有効画素分のデータパターンは、強度変調ドライバ23に供給される。強度変調ドライバ23はこのデータパターンに基づき光強度変調器3の各画素を駆動制御する。
これにより、記録データに応じたパターンにより光強度変調の施された信号光の元となる光と、さらに所定パターンで光強度変調された参照光の元となる光とが生成される。
このようにして生成された光強度変調器3における全有効画素分のデータパターンは、強度変調ドライバ23に供給される。強度変調ドライバ23はこのデータパターンに基づき光強度変調器3の各画素を駆動制御する。
これにより、記録データに応じたパターンにより光強度変調の施された信号光の元となる光と、さらに所定パターンで光強度変調された参照光の元となる光とが生成される。
なお、確認のために述べておくと、記録時においては、上記マッピング部22は符号化部21にて符号化されたデータについてのホログラムページごとのマッピングを順次行うものとされ、これによって強度変調ドライバ23に対しては、信号光エリアA2内のデータパターンのみが記録データ内容に応じて順次変化するようにされたデータパターンが供給される。すなわち、強度変調ドライバ23は、このようなホログラムページ単位ごとのデータパターンに基づき強度変調器16aの各画素を順次駆動制御するようにされる。
これによってホログラム記録媒体10に対しホログラムページ単位ごとにデータを記録することができる。
これによってホログラム記録媒体10に対しホログラムページ単位ごとにデータを記録することができる。
また、記録時において、記録信号処理部20では、このような光強度変調器3に対する駆動制御のための動作と共に、位相変調器13Aに対する駆動制御のための動作も行う。
このために、位相変調パターン生成部24は、位相マスクとしての位相変調を行うために、予め設定された所定のデータパターンに基づき、位相変調器13Aにおいて信号光エリアA2に設定すべき位相変調パターンを生成する。
なお、この位相マスクとしての位相変調パターンについては、2値ランダムパターンが設定されている。
このために、位相変調パターン生成部24は、位相マスクとしての位相変調を行うために、予め設定された所定のデータパターンに基づき、位相変調器13Aにおいて信号光エリアA2に設定すべき位相変調パターンを生成する。
なお、この位相マスクとしての位相変調パターンについては、2値ランダムパターンが設定されている。
また、これと共に位相変調パターン生成部34は、位相変調器16bの参照光エリアA1に設定すべき所定の位相変調パターン(位相パターンに応じて画素ごとに与えるべき位相の分布状態をいう)を生成する。確認のために述べておくと、本実施形態に対応しては、予め設定された最小変調単位対応画素数N(Nは2以上の自然数である)に応じた位相変調パターンが生成されることになる。
そして位相変調パターン生成部24は、このようにして生成した信号光エリアA2と参照光エリアA1についてのそれぞれの位相変調パターン(対応する各画素の制御パターン)を併せて、位相変調器13Aにおける全有効画素分の位相変調パターンを生成する。このとき、信号光エリアA2と参照光エリアA1以外の画素については、例えば位相=0に対応した値を設定するものとすればよい。
そして、このようにして生成した位相変調パターンを位相変調ドライバ25に供給する。
そして位相変調パターン生成部24は、このようにして生成した信号光エリアA2と参照光エリアA1についてのそれぞれの位相変調パターン(対応する各画素の制御パターン)を併せて、位相変調器13Aにおける全有効画素分の位相変調パターンを生成する。このとき、信号光エリアA2と参照光エリアA1以外の画素については、例えば位相=0に対応した値を設定するものとすればよい。
そして、このようにして生成した位相変調パターンを位相変調ドライバ25に供給する。
位相変調ドライバ25は、位相変調パターン生成部24から供給される位相変調パターンに基づき、位相変調器13Aの各画素を駆動制御する。これによって、SLMを通過した信号光、参照光について所定の位相パターンを与えることができる。
なお、位相変調器13Aについては、再生時においても、上記した位相変調パターン生成部24及び位相変調ドライバ25の動作によって、再生すべきホログラムページごとに記録時と同じ位相パターンの参照光が生成されるように駆動が行われる。
このようにして位相変調器13Aを備える構成は、ホログラム記録媒体に対するデータ(ホログラムページ)の多重記録を可能とする。
つまり、或る位相構造を有する参照光を用いて記録した信号光(データ、ホログラムページ)は、再生時において同一の位相構造(位相パターン)による参照光を照射することによってのみ読み出すことができるという選択性が与えられる。これを応用し、記録時にそれぞれ異なる位相パターンによる参照光を用いてホログラムページを多重記録し、再生時には、ホログラムページごとに、それを記録したときと同じ位相パターンによる参照光を照射することで、多重記録されたそれぞれのデータを選択的に読み出すことができる。
そこで、上記のようにして記録時と再生時とで、ホログラムページごとに対応して異なる位相パターンが形成するようにして位相変調器13Aを駆動すれば、上記の多重記録を行ったとしても、特定のホログラムページを正しく選択して読み出すことができる。つまり、ホログラムページの多重記録が可能となる。
つまり、或る位相構造を有する参照光を用いて記録した信号光(データ、ホログラムページ)は、再生時において同一の位相構造(位相パターン)による参照光を照射することによってのみ読み出すことができるという選択性が与えられる。これを応用し、記録時にそれぞれ異なる位相パターンによる参照光を用いてホログラムページを多重記録し、再生時には、ホログラムページごとに、それを記録したときと同じ位相パターンによる参照光を照射することで、多重記録されたそれぞれのデータを選択的に読み出すことができる。
そこで、上記のようにして記録時と再生時とで、ホログラムページごとに対応して異なる位相パターンが形成するようにして位相変調器13Aを駆動すれば、上記の多重記録を行ったとしても、特定のホログラムページを正しく選択して読み出すことができる。つまり、ホログラムページの多重記録が可能となる。
また、例えば図1に示したようにして、位相変調素子として、位相変調器13Aではなく位相マスク13を備える場合には、記録信号処理部20は、位相変調器の駆動に関連する位相変調パターン生成部24及び位相変調ドライバ25については省略した構成を採ることができる。
これまでにおいては、「2以上の最小変調単位対応画素数Nにより参照光の空間光変調を行う」という点について、位相変調のみを採り上げて言及してきた。
本実施形態においては、「2以上の最小変調単位対応画素数Nによる参照光の空間光変調」として、上記の位相変調は必須としたうえで、光強度変調を組み合わせることができる。この点について、考察する。
本実施形態においては、「2以上の最小変調単位対応画素数Nによる参照光の空間光変調」として、上記の位相変調は必須としたうえで、光強度変調を組み合わせることができる。この点について、考察する。
先ず、記録/再生相対誤差としての相対的な位置ずれの現象は、位相変調素子(位相マスク13、位相変調器13A)と光強度変調素子(光強度変調器3)との間でも生じ得る。この点からすれば、光強度変調素子による光強度変調については、N=∞、即ち、参照光のエリアにおける全画素について光強度=1となるパターンとすることが好ましいということになる。ちなみに、このようなパターンは、ベタパターンともいう。また、このようなパターンは、ホワイトレート=1(=100%)の光強度変調パターンとしてみることができる。この場合のホワイトレートとは、参照光における光強度=1となる画素についての、光強度=0となる画素に対する分布比率をいう。
参照光について、上記したような光強度変調パターンとすれば、記録/再生相対誤差としての位置ずれが位相変調素子と光強度変調素子との間で生じたとしても、位相パターンに対する光強度は、画素単位では常に1が対応することに変わりはない、ということになる。
ただし、ホログラム記録媒体の特性であるとかシステム特性などによっては、光強度変調により上記ベタパターンとすることが適切でなく、適当に、光強度=1と光強度=0とを混合させることのほうが好ましい場合があると考えられている。このようにして、光強度=1と光強度=0とを混合させるパターンとしては、ランダムパターンのほか、例えばスポークパターンなどといわれる、放射状のパターンなどを挙げることができる。
そして、上記のようにして光強度=1と光強度0とを混合させる場合であれば、本実施形態としては、光強度1と光強度0とについて、それぞれ、N≧2の条件を満たす所定の最小変調単位対応画素数Nにより変調して得られる光強度変調パターンとなるようにして光強度変調を行うようにする。
なお、この場合において、位相変調のための最小変調単位対応画素数と、光強度変調のための最小単位画素数については、互いに同じである必要はない。
なお、この場合において、位相変調のための最小変調単位対応画素数と、光強度変調のための最小単位画素数については、互いに同じである必要はない。
また、これまでの説明から理解されるように、本実施形態では、参照光を対象にする空間光変調に関する構成に特徴を有するものとなる。記録/再生相対誤差としての位置ずれは、記録時と再生時とで生成される参照光について生じるものだからである。
従って、これまでに説明した空間光変調のための最小変調単位対応画素数Nについての条件は、信号光の位相変調については適用する必要性はない。即ち、本実施形態の下では、信号光を位相変調するにあたっての最小変調単位対応画素数は、参照光と同じとする場合も含め、任意でよいことになる。ただし、DC成分のピーク抑圧の観点からすれば、1画素単位による位相変調を施すことが好ましいということになる。また、信号光については、位相変調に関して、3値以上の多値による変調を必要とする場合があるが、このような多値による位相変調が為されてもよい。なお、3値以上の多値による位相変調は、位相マスク、位相変調器のいずれによっても可能である。
従って、これまでに説明した空間光変調のための最小変調単位対応画素数Nについての条件は、信号光の位相変調については適用する必要性はない。即ち、本実施形態の下では、信号光を位相変調するにあたっての最小変調単位対応画素数は、参照光と同じとする場合も含め、任意でよいことになる。ただし、DC成分のピーク抑圧の観点からすれば、1画素単位による位相変調を施すことが好ましいということになる。また、信号光については、位相変調に関して、3値以上の多値による変調を必要とする場合があるが、このような多値による位相変調が為されてもよい。なお、3値以上の多値による位相変調は、位相マスク、位相変調器のいずれによっても可能である。
なお、これまでの説明では、最小変調単位は、最小変調単位対応画素数Nを用いて、N×N(Nは2以上の自然数)で表される、正方形に対応した画素配列パターンであるものとして述べた。
しかし、本願発明の下では、最小変調単位のパターンとしては、1画素単位よりも大きいという条件を満たしていればよい。従って、例えばN×M(この場合のN、Mは1以上の自然数、かつ、N≠M)で表される画素配列パターンを最小変調単位としてもよい。この点では、実施形態は、上記のN×Mについて、2以上の自然数であり、かつ、N=Mとする条件を与えた場合として扱うことができる。
ただし、本実施形態のようにして、水平方向と垂直方向のそれぞれについて同じ画素数であることとすれば、記録/再生相対誤差としての位置ずれに対しては、水平方向と垂直方向とでいずれにも偏ることなく、同じだけの許容量を持つことができる。
しかし、本願発明の下では、最小変調単位のパターンとしては、1画素単位よりも大きいという条件を満たしていればよい。従って、例えばN×M(この場合のN、Mは1以上の自然数、かつ、N≠M)で表される画素配列パターンを最小変調単位としてもよい。この点では、実施形態は、上記のN×Mについて、2以上の自然数であり、かつ、N=Mとする条件を与えた場合として扱うことができる。
ただし、本実施形態のようにして、水平方向と垂直方向のそれぞれについて同じ画素数であることとすれば、記録/再生相対誤差としての位置ずれに対しては、水平方向と垂直方向とでいずれにも偏ることなく、同じだけの許容量を持つことができる。
また、上記実施形態においては、ホログラム記録媒体を対象とする記録及び再生が可能な記録再生装置を例に挙げているが、本実施形態としての、1画素単位より大きな画素数単位を最小変調単位として参照光の空間光変調を行うという構成は、ホログラム記録媒体に対する再生のみが可能に構成された再生装置、さらには、記録のみが可能とされる記録装置にも適用して有効である。
また、これまでの説明では、円形とされる信号光エリアの外側に輪状の参照光エリアが設けられる場合を例示したが、信号光エリア、参照光エリアの形状は、これら円形や輪状に限定されるものではない。また、参照光エリアを内側、信号光エリアを外側に配置することもできる。
また、これまでの説明では、光強度変調器として、駆動電圧レベルに応じて可変的に光強度変調が可能となる液晶パネルを用いるものとしたが、このような光強度変調器としては、実施形態で例示した透過型の液晶パネルとする以外にも、例えば光学系の構造に応じては、反射型の液晶パネルとすることもできる。
また、これまでの説明では、位相変調器としては、透過型の液晶パネルを用いる場合を例示したが、各画素の駆動電圧レベルに応じて位相パターンを変更可能なものであれば、他の素子などを用いることもできる。また、記録再生対象となるホログラム記録媒体については、反射型及び透過型のいずれにも対応できる。
1 レーザダイオード(LD)、2 コリメータレンズ、3 光強度変調器、4 偏光ビームスプリッタ、5A・5B リレーレンズ、6A・6B 遮光マスク、7A・7B リレーレンズ、8 1/4波長板、9 対物レンズ、10 ホログラム記録媒体、11 イメージセンサ、13 位相マスク、13A 位相変調器
Claims (9)
- 光源からの光を入射して、ホログラム記録媒体に照射するべき信号光と参照光とを生成可能であって、記録に際しては、記録データに応じて画素単位で光強度変調した上記信号光と、所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した、上記信号光との干渉縞によりホログラム記録媒体にデータを記録するための上記参照光を生成し、再生に際しては、上記所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した、上記ホログラム記録媒体から再生光を得るための上記参照光を生成する光生成/強度変調手段と、
上記信号光と上記参照光とに対して位相変調を行うもので、上記参照光については、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う位相変調手段と、
を備える記録再生装置。 - 上記光生成/強度変調手段は、
2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位とする上記所定の光強度変調パターンが得られるようにして、上記参照光を光強度変調する、
請求項1に記載の記録再生装置。 - 上記光生成/強度変調手段は、
画素ごとに1又は0による光強度を与える光強度変調を行うものとされたうえで、上記所定の光強度変調パターンとして、上記参照光を形成する画素の全ての光強度が1となるようにして上記参照光を光強度変調する、
請求項2に記載の記録再生装置。 - 上記位相変調手段は、
透過光に与える位相を画素ごとに変更できる位相変調器を備えるとともに、与えるべき位相に応じて上記位相変調器を画素単位で駆動する、
請求項1又は請求項3に記載の記録再生装置。 - 光源からの光を入射して、ホログラム記録媒体に照射するべき信号光と参照光とを生成可能であって、記録データに応じて画素単位で光強度変調した上記信号光と、所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した、上記信号光との干渉縞によりホログラム記録媒体にデータを記録するための上記参照光を生成光生成/強度変調手段と、
上記信号光と上記参照光とに対して位相変調を行うもので、上記参照光については、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う位相変調手段と、
を備える記録装置。 - 光源からの光を入射して、上記ホログラム記録媒体から再生光を得るためにホログラム記録媒体に照射するべき参照光を生成可能であって、所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した上記参照光を生成する光生成/強度変調手段と、
上記参照光に対して、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う位相変調手段と、
を備える再生装置。 - 光源からの光を入射して、ホログラム記録媒体に照射するべき信号光と参照光とを生成する手順であって、記録に際しては、記録データに応じて画素単位で光強度変調した上記信号光と、所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した、上記信号光との干渉縞によりホログラム記録媒体にデータを記録するための上記参照光を生成し、再生に際しては、上記所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した、上記ホログラム記録媒体から再生光を得るための上記参照光を生成する光生成/強度変調手順と、
上記信号光と上記参照光とに対して位相変調を行うもので、上記参照光については、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う位相変調手順と、
を行う記録再生方法。 - 光源からの光を入射して、ホログラム記録媒体に照射するべき信号光と参照光とを生成する手順であって、記録データに応じて画素単位で光強度変調した上記信号光と、所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した、上記信号光との干渉縞によりホログラム記録媒体にデータを記録するための上記参照光を生成光生成/強度変調手順と、
上記信号光と上記参照光とに対して位相変調を行うもので、上記参照光については、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う位相変調手順と、
を行う記録方法。 - 光源からの光を入射して、上記ホログラム記録媒体から再生光を得るためにホログラム記録媒体に照射するべき参照光を生成する手順であって、所定の光強度変調パターンが形成されるようにして画素単位で光強度変調した上記参照光を生成する光生成/強度変調手順と、
上記参照光に対して、2以上の画素により形成される特定の画素配列パターンを最小変調単位として位相変調を行う位相変調手順と、
を行う再生方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008191064A JP2010027188A (ja) | 2008-07-24 | 2008-07-24 | 記録再生装置、記録装置、再生装置、記録再生方法、記録方法、再生方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2010067285A (ja) * | 2008-09-08 | 2010-03-25 | Sony Corp | 記録再生装置、記録装置、再生装置、記録再生方法、記録方法、再生方法 |
WO2013024596A1 (ja) * | 2011-08-15 | 2013-02-21 | 国立大学法人神戸大学 | ホログラフィックメモリの情報符号化方法、ホログラフィックメモリの記録方法およびホログラフィックメモリ装置 |
-
2008
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