JP2010015855A - Substrate processing method, deposition method, and method of manufacturing organic electroluminescent device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem of substrate processing methods in the prior art having difficulty forming a plurality of films over one another in such a way as to form each film throughout the inside of an area surrounded by barrier ribs. <P>SOLUTION: A substrate processing method has, in that order, a step of preparing a substrate 41a provided with an insulating film 63 in such a way as to define a pixel formation area on a planar view; a lyophilic processing step of providing at least a portion of the insulating film 63 with a greater lyophilic property than the lyophilic property of the insulating film 63 toward a first liquefied body; a repellent processing step of providing a portion of the insulating film 63 with liquid repellency so that the portion has a greater liquid repellency toward the first liquefied body than the insulating film 63 made lyophilic toward the first liquefied body; and a heating step of heating the substrate 41a. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、基板の処理方法、成膜方法及び有機EL装置の製造方法に関する。   The present invention relates to a substrate processing method, a film forming method, and an organic EL device manufacturing method.

従来から、画素形成領域を区画するように設けられた隔壁を有する基板に対する処理として、平面視で隔壁によって囲まれた領域内に親液性を付与し、隔壁の表面に撥液性を付与する処理が知られている(例えば、特許文献1参照)。   Conventionally, as a treatment for a substrate having a partition wall provided so as to partition a pixel formation region, lyophilicity is imparted in a region surrounded by the partition wall in a plan view, and liquid repellency is imparted to the surface of the partition wall. Processing is known (see, for example, Patent Document 1).

特許第3328297号公報(第21頁〜第22頁、図23及び図24)Japanese Patent No. 3328297 (pages 21 to 22, FIGS. 23 and 24)

上記特許文献1に記載された処理によれば、隔壁によって囲まれた領域内に液状体を塗布したときに、液状体は、隔壁によって囲まれた領域内にわたって濡れ広がりやすい。他方で、隔壁表面は、液状体をはじきやすい。このため、液状体は、隔壁を乗り越えにくい。これらの結果、液状体を塗布して膜を形成したときに、隔壁によって囲まれた領域内にわたって膜を形成しやすくすることができる。   According to the process described in Patent Document 1, when a liquid material is applied to a region surrounded by the partition walls, the liquid material is likely to spread over the region surrounded by the partition walls. On the other hand, the partition surface tends to repel the liquid. For this reason, the liquid is difficult to get over the partition. As a result, when the film is formed by applying the liquid material, the film can be easily formed over the region surrounded by the partition walls.

ところで、隔壁によって囲まれた領域内に複数の膜を重ねて形成する場合、特許文献1に記載された処理を適用することにより、基板に最も近い層である第1層は、隔壁によって囲まれた領域内にわたって形成され得る。
しかしながら、隔壁によって囲まれた領域内で第1層上に新たな液状体を塗布すると、第1層に対する新たな液状体の濡れ性が充分に得られないことがある。つまり、新たな液状体が第1層上ではじかれやすくなることがある。このような状態で新たな液状体から第2層となる膜を形成すると、第2層には、第1層が露呈する開口が発生しやすい。このような現象は、第1層だけに限られず、他の層においても発生することがある。
By the way, when a plurality of films are formed in a region surrounded by the partition walls, the first layer which is the layer closest to the substrate is surrounded by the partition walls by applying the process described in Patent Document 1. Can be formed in the region.
However, when a new liquid material is applied on the first layer within the region surrounded by the partition walls, the wettability of the new liquid material with respect to the first layer may not be sufficiently obtained. That is, a new liquid may be easily repelled on the first layer. When a film that becomes the second layer is formed from a new liquid in such a state, an opening that exposes the first layer is likely to occur in the second layer. Such a phenomenon may occur not only in the first layer but also in other layers.

つまり、従来の基板の処理方法では、複数の膜を重ねて形成するときに、それぞれの膜を隔壁によって囲まれた領域内にわたって形成することが困難であるという課題がある。   In other words, the conventional substrate processing method has a problem that it is difficult to form each film over a region surrounded by the partition walls when a plurality of films are formed to overlap each other.

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は適用例として実現され得る。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.

[適用例1]隔壁が平面視で画素形成領域を区画するように設けられた基板を用意する工程と、前記隔壁の少なくとも一部に、第1液状体に対して前記隔壁が有する親液性よりも大きな親液性を付与する親液化工程と、前記第1液状体に対して親液化された前記隔壁よりも、前記第1液状体に対して大きな撥液性を有するように、前記隔壁の一部に撥液性を付与する撥液化工程と、前記基板を加熱する加熱工程と、をこの順番で有することを特徴とする基板の処理方法。   [Application Example 1] A step of preparing a substrate in which a partition wall divides a pixel formation region in a plan view, and a lyophilic property of the partition wall with respect to the first liquid material in at least a part of the partition wall A lyophilic step for imparting greater lyophilicity, and the partition so as to have a greater liquid repellency to the first liquid than the partition made lyophilic to the first liquid. A substrate processing method comprising: a lyophobic step for imparting repellency to a part of the substrate and a heating step for heating the substrate in this order.

適用例1の基板の処理方法は、基板を用意する工程と、親液化工程と、撥液化工程と、加熱工程と、をこの順番で有している。基板には、画素形成領域を区画する隔壁が設けられている。親液化工程では、第1液状体に対して隔壁が有する親液性よりも大きな親液性を隔壁の少なくとも一部に付与する。撥液化工程では、第1液状体に対して親液化された隔壁よりも、第1液状体に対して大きな撥液性を有するように、隔壁の一部に撥液性を付与する。加熱工程では、基板を加熱する。
この基板の処理方法によれば、加熱工程後に、隔壁によって囲まれている画素形成領域内に第1液状体を塗布したときに、第1液状体を画素形成領域内に濡れ広げやすくすることができる。よって、第1液状体から膜を形成すると、この膜を画素形成領域内にわたって形成しやすくすることができる。そして、この膜上に新たな液状体を塗布したときに、新たな液状体を画素形成領域内に濡れ広げやすくすることができる。よって、この基板の処理方法によれば、加熱工程後に形成された膜において、新たな液状体に対する親液性を向上させやすくすることができる。この結果、複数の膜を重ねて形成するときに、それぞれの膜を隔壁によって囲まれた画素形成領域内にわたって形成しやすくすることができる。
The substrate processing method of Application Example 1 includes a substrate preparation step, a lyophilic step, a lyophobic step, and a heating step in this order. A partition wall for partitioning a pixel formation region is provided on the substrate. In the lyophilic step, lyophilicity greater than the lyophilic property of the first partition is imparted to at least a part of the partition. In the liquid repellency step, liquid repellency is imparted to a part of the partition so that the first liquid is more liquid repellent than the partition made lyophilic with respect to the first liquid. In the heating step, the substrate is heated.
According to this substrate processing method, when the first liquid material is applied to the pixel formation region surrounded by the partition walls after the heating process, the first liquid material can be easily spread in the pixel formation region. it can. Therefore, when a film is formed from the first liquid, this film can be easily formed over the pixel formation region. When a new liquid material is applied on the film, the new liquid material can be easily spread in the pixel formation region. Therefore, according to this substrate processing method, it is possible to easily improve the lyophilicity with respect to a new liquid material in the film formed after the heating step. As a result, when a plurality of films are formed in an overlapping manner, each film can be easily formed over the pixel formation region surrounded by the partition walls.

[適用例2]上記の基板の処理方法であって、前記隔壁は、有機材料を含む材料で構成されており、前記加熱工程では、前記基板を50℃以上且つ280℃未満の範囲で加熱することを特徴とする基板の処理方法。   Application Example 2 In the above substrate processing method, the partition is made of a material containing an organic material, and in the heating step, the substrate is heated in a range of 50 ° C. or higher and lower than 280 ° C. And a substrate processing method.

適用例2の基板の処理方法にかかる基板では、隔壁が有機材料を含む材料で構成されている。そして、加熱工程では、この基板を50℃以上且つ280℃未満の範囲で加熱する。280℃未満であれば、有機材料を含む材料で構成された隔壁に損傷を与えることを避けやすくすることができる。また、50℃以上であれば、加熱工程後に形成された膜において、液状体に対する親液性を向上させやすくすることができる。   In the substrate according to the substrate processing method of Application Example 2, the partition walls are made of a material containing an organic material. And in a heating process, this board | substrate is heated in 50 degreeC or more and less than 280 degreeC. If it is less than 280 degreeC, it can make it easy to avoid damaging the partition comprised with the material containing an organic material. Moreover, if it is 50 degreeC or more, it can make it easy to improve the lyophilicity with respect to a liquid body in the film | membrane formed after the heating process.

[適用例3]上記の基板の処理方法であって、前記撥液化工程では、フッ素及びフッ素化合物のうちの少なくとも一方を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする基板の処理方法。   Application Example 3 In the substrate processing method described above, in the liquid repellency step, the substrate is subjected to plasma processing in an environment containing a gas containing at least one of fluorine and a fluorine compound. A substrate processing method.

適用例3では、撥液化工程において、フッ素及びフッ素化合物のうちの少なくとも一方を含むガスが含まれた環境下で基板にプラズマ処理を施すので、隔壁に撥液性を付与することができる。   In Application Example 3, since the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing at least one of fluorine and a fluorine compound in the liquid repellency step, liquid repellency can be imparted to the partition walls.

[適用例4]上記の基板の処理方法であって、前記親液化工程では、酸素を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする基板の処理方法。   Application Example 4 In the substrate processing method described above, in the lyophilic step, the substrate is subjected to plasma processing in an environment containing a gas containing oxygen.

適用例4では、親液化工程において、酸素を含むガスが含まれた環境下で基板にプラズマ処理を施すので、基板に親液性を付与することができる。   In Application Example 4, in the lyophilic step, the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing oxygen, so that lyophilicity can be imparted to the substrate.

[適用例5]隔壁が平面視で画素形成領域を区画するように設けられた基板を用意する工程と、前記隔壁の少なくとも一部に、第1液状体に対して前記隔壁が有する親液性よりも大きな親液性を付与する親液化工程と、前記第1液状体に対して親液化された前記隔壁よりも、前記第1液状体に対して大きな撥液性を有するように、前記隔壁の一部に撥液性を付与する撥液化工程と、前記基板を加熱する加熱工程と、前記加熱工程の後に、前記隔壁によって囲まれている前記画素形成領域内に前記第1液状体を配置する工程と、前記第1液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、前記第1液状体に含まれる物質で第1膜を形成する工程と、前記隔壁によって囲まれている前記画素形成領域内で前記第1膜上に第2液状体を配置する工程と、前記第2液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、前記第2液状体に含まれる物質で第2膜を形成する工程と、をこの順番で有することを特徴とする成膜方法。   Application Example 5 A step of preparing a substrate in which a partition wall is provided so as to partition a pixel formation region in a plan view, and a lyophilic property of the partition wall with respect to the first liquid material in at least a part of the partition wall A lyophilic step for imparting greater lyophilicity, and the partition so as to have a greater liquid repellency to the first liquid than the partition made lyophilic to the first liquid. A liquid repellent process for imparting liquid repellency to a part of the substrate, a heating process for heating the substrate, and the first liquid material is disposed in the pixel formation region surrounded by the partition wall after the heating process. A step of forming a first film with a substance contained in the first liquid material by drying at least a part of the liquid contained in the first liquid material, and the step surrounded by the partition wall A second liquid material on the first film in the pixel formation region And a step of forming a second film with a substance contained in the second liquid material by drying at least a part of the liquid contained in the second liquid material in this order. A characteristic film forming method.

適用例5の成膜方法は、基板を用意する工程と、親液化工程と、撥液化工程と、加熱工程と、第1液状体を配置する工程と、第1膜を形成する工程と、第2液状体を配置する工程と、第2膜を形成する工程と、をこの順番で有している。基板には、画素形成領域を区画する隔壁が設けられている。親液化工程では、第1液状体に対して隔壁が有する親液性よりも大きな親液性を隔壁の少なくとも一部に付与する。撥液化工程では、第1液状体に対して親液化された隔壁よりも、第1液状体に対して大きな撥液性を有するように、隔壁の一部に撥液性を付与する。加熱工程では、基板を加熱する。第1液状体を配置する工程では、加熱工程の後に、隔壁によって囲まれている画素形成領域内に第1液状体を配置する。第1膜を形成する工程では、第1液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、第1液状体に含まれる物質で第1膜を形成する。第2液状体を配置する工程では、隔壁によって囲まれている画素形成領域内で第1膜上に第2液状体を配置する。第2膜を形成する工程では、第2液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、第2液状体に含まれる物質で第2膜を形成する。
この成膜方法によれば、画素形成領域内に第1液状体を塗布したときに、第1液状体を画素形成領域内に濡れ広げやすくすることができる。よって、第1液状体から第1膜を形成すると、第1膜を画素形成領域内にわたって形成しやすくすることができる。そして、第1膜上に第2液状体を配置したときに、第1膜上に第2液状体を濡れ広げやすくすることができる。よって、この成膜方法によれば、加熱工程後に形成された第1膜において、第2液状体に対する親液性を向上させやすくすることができる。この結果、第1膜及び第2膜を含む複数の膜を重ねて形成するときに、それぞれの膜を隔壁によって囲まれた領域内にわたって形成しやすくすることができる。
The film forming method of application example 5 includes a step of preparing a substrate, a lyophilic step, a lyophobic step, a heating step, a step of arranging a first liquid, a step of forming a first film, The step of arranging the two liquid materials and the step of forming the second film are included in this order. A partition wall for partitioning a pixel formation region is provided on the substrate. In the lyophilic step, lyophilicity greater than the lyophilic property of the first partition is imparted to at least a part of the partition. In the liquid repellency step, liquid repellency is imparted to a part of the partition so that the first liquid is more liquid repellent than the partition made lyophilic with respect to the first liquid. In the heating step, the substrate is heated. In the step of disposing the first liquid material, the first liquid material is disposed in the pixel formation region surrounded by the partition walls after the heating step. In the step of forming the first film, at least a part of the liquid contained in the first liquid is dried to form the first film with the substance contained in the first liquid. In the step of arranging the second liquid material, the second liquid material is arranged on the first film in the pixel formation region surrounded by the partition walls. In the step of forming the second film, at least a part of the liquid contained in the second liquid material is dried to form the second film with the substance contained in the second liquid material.
According to this film forming method, when the first liquid material is applied in the pixel formation region, the first liquid material can be easily spread in the pixel formation region. Therefore, when the first film is formed from the first liquid, the first film can be easily formed over the pixel formation region. In addition, when the second liquid material is disposed on the first film, the second liquid material can be easily spread on the first film. Therefore, according to this film forming method, the lyophilicity with respect to the second liquid can be easily improved in the first film formed after the heating step. As a result, when a plurality of films including the first film and the second film are formed in an overlapping manner, each film can be easily formed over the region surrounded by the partition walls.

[適用例6]上記の成膜方法であって、前記第1液状体と、前記第2液状体とが、互いに異なる組成を有していることを特徴とする成膜方法。   Application Example 6 In the film forming method described above, the first liquid material and the second liquid material have different compositions.

適用例6では、第1液状体と、第2液状体とが、互いに異なる組成を有しているので、互いに異なる性質を有する第1膜と第2膜とを形成することができる。   In Application Example 6, since the first liquid body and the second liquid body have different compositions, the first film and the second film having different properties can be formed.

[適用例7]上記の成膜方法であって、前記隔壁は、有機材料を含む材料で構成されており、前記加熱工程では、前記基板を50℃以上且つ280℃未満の範囲で加熱することを特徴とする成膜方法。   Application Example 7 In the film forming method described above, the partition is made of a material containing an organic material, and in the heating step, the substrate is heated in a range of 50 ° C. or more and less than 280 ° C. A film forming method characterized by the above.

適用例7の成膜方法にかかる基板では、隔壁が有機材料を含む材料で構成されている。そして、加熱工程では、この基板を50℃以上且つ280℃未満の範囲で加熱する。280℃未満であれば、有機材料を含む材料で構成された隔壁に損傷を与えることを避けやすくすることができる。また、50℃以上であれば、加熱工程後に形成された膜において、液状体に対する親液性を向上させやすくすることができる。   In the substrate according to the film forming method of Application Example 7, the partition walls are made of a material containing an organic material. And in a heating process, this board | substrate is heated in 50 degreeC or more and less than 280 degreeC. If it is less than 280 degreeC, it can make it easy to avoid damaging the partition comprised with the material containing an organic material. Moreover, if it is 50 degreeC or more, it can make it easy to improve the lyophilicity with respect to a liquid body in the film | membrane formed after the heating process.

[適用例8]上記の成膜方法であって、前記撥液化工程では、フッ素及びフッ素化合物のうちの少なくとも一方を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする成膜方法。   Application Example 8 In the film forming method described above, in the liquid repellency step, the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing at least one of fluorine and a fluorine compound. A film forming method.

適用例8では、撥液化工程において、フッ素及びフッ素化合物のうちの少なくとも一方を含むガスが含まれた環境下で基板にプラズマ処理を施すので、隔壁に撥液性を付与することができる。   In Application Example 8, since the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing at least one of fluorine and a fluorine compound in the liquid repellency step, liquid repellency can be imparted to the partition walls.

[適用例9]上記の成膜方法であって、前記親液化工程では、酸素を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする成膜方法。   Application Example 9 In the film forming method described above, in the lyophilic step, the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing oxygen.

適用例9では、親液化工程において、酸素を含むガスが含まれた環境下で基板にプラズマ処理を施すので、基板に親液性を付与することができる。   In Application Example 9, in the lyophilic step, the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing oxygen, so that the lyophilic property can be imparted to the substrate.

[適用例10]複数の画素の前記画素ごとに、互いに対向する一対の電極と、前記一対の電極間に介在する有機層と、平面視で前記有機層を囲む隔壁と、を有し、前記有機層が少なくとも第1層と第2層とを含む複数の層を有している有機EL装置の製造方法であって、前記隔壁を有する基板を用意する工程と、前記隔壁の少なくとも一部に、第1液状体に対して前記隔壁が有する親液性よりも大きな親液性を付与する親液化工程と、前記第1液状体に対して親液化された前記隔壁よりも、前記第1液状体に対して大きな撥液性を有するように、前記隔壁の一部に撥液性を付与する撥液化工程と、前記基板を加熱する加熱工程と、前記加熱工程の後に、前記隔壁によって囲まれている前記画素形成領域内に前記第1液状体を配置する工程と、前記第1液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、前記第1液状体に含まれる物質で前記第1層を形成する工程と、前記隔壁によって囲まれている前記画素形成領域内で前記第1層上に第2液状体を配置する工程と、前記第2液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、前記第2液状体に含まれる物質で前記第2層を形成する工程と、をこの順番で有することを特徴とする有機EL装置の製造方法。   Application Example 10 For each of the plurality of pixels, the pixel includes a pair of electrodes facing each other, an organic layer interposed between the pair of electrodes, and a partition wall surrounding the organic layer in plan view, An organic EL device manufacturing method in which an organic layer has a plurality of layers including at least a first layer and a second layer, the step of preparing a substrate having the partition, and at least a part of the partition A lyophilic step for imparting greater lyophilicity to the first liquid than the lyophilic property of the partition, and the first liquid rather than the partition made lyophilic to the first liquid. So as to have a large liquid repellency with respect to the body, a liquid repellency process for imparting liquid repellency to a part of the partition wall, a heating process for heating the substrate, and the partition wall surrounded by the partition wall after the heating process. Disposing the first liquid material in the pixel forming region, The step of forming the first layer with a substance contained in the first liquid by drying at least a part of the liquid contained in the first liquid, and the pixel formation region surrounded by the partition wall And disposing at least a part of the liquid contained in the second liquid material by disposing the second liquid material on the first layer in the second layer, so that the second liquid material is contained in the second liquid material. And a step of forming layers in this order.

適用例10の製造方法にかかる有機EL装置は、複数の画素の画素ごとに、互いに対向する一対の電極と、一対の電極間に介在する有機層と、平面視で有機層を囲む隔壁と、を有している。この有機EL装置では、有機層が、少なくとも第1層と第2層とを含む複数の層を有している。
この適用例の製造方法は、基板を用意する工程と、親液化工程と、撥液化工程と、加熱工程と、第1液状体を配置する工程と、第1層を形成する工程と、第2液状体を配置する工程と、第2層を形成する工程と、を有している。
基板には、画素形成領域を区画する隔壁が設けられている。親液化工程では、第1液状体に対して隔壁が有する親液性よりも大きな親液性を隔壁の少なくとも一部に付与する。撥液化工程では、第1液状体に対して親液化された隔壁よりも、第1液状体に対して大きな撥液性を有するように、隔壁の一部に撥液性を付与する。加熱工程では、撥液性を有する隔壁を有する基板を加熱する。第1液状体を配置する工程では、加熱工程の後に、隔壁によって囲まれている画素形成領域内に第1液状体を配置する。第1層を形成する工程では、第1液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、第1液状体に含まれる物質で第1層を形成する。第2液状体を配置する工程では、隔壁によって囲まれている画素形成領域内で第1層上に第2液状体を配置する。第2層を形成する工程では、第2液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、第2液状体に含まれる物質で第2層を形成する。
この有機EL装置の製造方法によれば、画素形成領域内に第1液状体を塗布したときに、第1液状体を画素形成領域内に濡れ広げやすくすることができる。よって、第1液状体から第1層を形成すると、第1層を画素形成領域内にわたって形成しやすくすることができる。そして、第1層上に第2液状体を配置したときに、第1層に第2液状体を濡れ広げやすくすることができる。よって、この製造方法によれば、加熱工程後に形成された第1層において、第2液状体に対する親液性を向上させやすくすることができる。この結果、第1層及び第2層を含む複数の層を重ねて形成するときに、それぞれの層を隔壁によって囲まれた画素形成領域内にわたって形成しやすくすることができる。
この結果、複数の画素において、欠陥画素などの発生を低く抑えやすくすることができる。このため、有機EL装置の表示品位の向上を図りやすくすることができる。
The organic EL device according to the manufacturing method of Application Example 10 includes, for each pixel of a plurality of pixels, a pair of electrodes facing each other, an organic layer interposed between the pair of electrodes, a partition wall surrounding the organic layer in plan view, have. In this organic EL device, the organic layer has a plurality of layers including at least a first layer and a second layer.
The manufacturing method of this application example includes a step of preparing a substrate, a lyophilic step, a lyophobic step, a heating step, a step of disposing a first liquid, a step of forming a first layer, and a second step. A step of disposing a liquid material; and a step of forming a second layer.
A partition wall for partitioning a pixel formation region is provided on the substrate. In the lyophilic step, lyophilicity greater than the lyophilic property of the first partition is imparted to at least a part of the partition. In the liquid repellency step, liquid repellency is imparted to a part of the partition so that the first liquid has greater liquid repellency than the partition made lyophilic with respect to the first liquid. In the heating step, the substrate having a partition having liquid repellency is heated. In the step of disposing the first liquid material, the first liquid material is disposed in the pixel formation region surrounded by the partition walls after the heating step. In the step of forming the first layer, the first layer is formed of the substance contained in the first liquid by drying at least a part of the liquid contained in the first liquid. In the step of arranging the second liquid material, the second liquid material is arranged on the first layer in the pixel formation region surrounded by the partition walls. In the step of forming the second layer, the second layer is formed of the substance contained in the second liquid material by drying at least a part of the liquid contained in the second liquid material.
According to this method for manufacturing an organic EL device, when the first liquid material is applied in the pixel formation region, the first liquid material can be easily spread in the pixel formation region. Therefore, when the first layer is formed from the first liquid, the first layer can be easily formed over the pixel formation region. When the second liquid material is disposed on the first layer, the second liquid material can be easily spread and wetted on the first layer. Therefore, according to this manufacturing method, the lyophilicity with respect to the second liquid can be easily improved in the first layer formed after the heating step. As a result, when a plurality of layers including the first layer and the second layer are formed in an overlapping manner, each layer can be easily formed over the pixel formation region surrounded by the partition walls.
As a result, it is possible to easily reduce the occurrence of defective pixels and the like in a plurality of pixels. For this reason, the display quality of the organic EL device can be easily improved.

[適用例11]上記の有機EL装置の製造方法であって、前記隔壁は、有機材料を含む材料で構成されており、前記加熱工程では、前記基板を50℃以上且つ280℃未満の範囲で加熱することを特徴とする有機EL装置の製造方法。   [Application Example 11] In the method of manufacturing the organic EL device described above, the partition is made of a material containing an organic material, and in the heating step, the substrate is placed in a range of 50 ° C or higher and lower than 280 ° C. A method for manufacturing an organic EL device, comprising heating.

適用例11の製造方法にかかる基板では、隔壁が有機材料を含む材料で構成されている。そして、加熱工程では、この基板を50℃以上且つ280℃未満の範囲で加熱する。280℃未満であれば、有機材料を含む材料で構成された隔壁に損傷を与えることを避けやすくすることができる。また、50℃以上であれば、加熱工程後に形成された膜において、液状体に対する親液性を向上させやすくすることができる。   In the substrate according to the manufacturing method of Application Example 11, the partition wall is made of a material containing an organic material. And in a heating process, this board | substrate is heated in 50 degreeC or more and less than 280 degreeC. If it is less than 280 degreeC, it can make it easy to avoid damaging the partition comprised with the material containing an organic material. Moreover, if it is 50 degreeC or more, it can make it easy to improve the lyophilicity with respect to a liquid body in the film | membrane formed after the heating process.

[適用例12]上記の有機EL装置の製造方法であって、前記撥液化工程では、フッ素及びフッ素化合物のうちの少なくとも一方を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする有機EL装置の製造方法。   Application Example 12 In the above-described organic EL device manufacturing method, in the liquid repellency process, the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing at least one of fluorine and a fluorine compound. A method of manufacturing an organic EL device characterized by the above.

適用例12では、撥液化工程において、フッ素及びフッ素化合物のうちの少なくとも一方を含むガスが含まれた環境下で基板にプラズマ処理を施すので、隔壁に撥液性を付与することができる。   In Application Example 12, in the liquid repellency step, the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing at least one of fluorine and a fluorine compound, so that the partition walls can be provided with liquid repellency.

[適用例13]上記の有機EL装置の製造方法であって、前記親液化工程では、酸素を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする有機EL装置の製造方法。   Application Example 13 In the method of manufacturing an organic EL device described above, in the lyophilic step, the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing oxygen. Production method.

適用例13では、親液化工程において、酸素を含むガスが含まれた環境下で基板にプラズマ処理を施すので、基板に親液性を付与することができる。   In Application Example 13, in the lyophilic step, the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing oxygen, so that the lyophilic property can be imparted to the substrate.

[適用例14]上記の有機EL装置の製造方法であって、前記第2層が発光層であることを特徴とする有機EL装置の製造方法。   Application Example 14 A method for manufacturing an organic EL device according to the above-described method, wherein the second layer is a light emitting layer.

[適用例15]上記の有機EL装置の製造方法であって、前記第2層が正孔輸送層であることを特徴とする有機EL装置の製造方法。   Application Example 15 A method for manufacturing an organic EL device according to the above-described method, wherein the second layer is a hole transport layer.

実施形態について、有機EL装置を利用した表示装置を例に、図面を参照しながら説明する。
実施形態における表示装置1は、図1に示すように、表示面3を有している。
Embodiments will be described with reference to the drawings, taking a display device using an organic EL device as an example.
The display device 1 according to the embodiment has a display surface 3 as shown in FIG.

ここで、表示装置1には、複数の画素5が設定されている。複数の画素5は、表示領域7内で、図中のX方向及びY方向に配列しており、X方向を行方向とし、Y方向を列方向とするマトリクスMを構成している。表示装置1は、複数の画素5から選択的に表示面3を介して表示装置1の外に光を射出することで、表示面3に画像を表示することができる。なお、表示領域7とは、画像が表示され得る領域である。図1では、構成をわかりやすく示すため、画素5が誇張され、且つ画素5の個数が減じられている。   Here, a plurality of pixels 5 are set in the display device 1. The plurality of pixels 5 are arranged in the X direction and the Y direction in the drawing within the display area 7, and constitute a matrix M in which the X direction is the row direction and the Y direction is the column direction. The display device 1 can display an image on the display surface 3 by selectively emitting light from the plurality of pixels 5 to the outside of the display device 1 via the display surface 3. The display area 7 is an area where an image can be displayed. In FIG. 1, the pixels 5 are exaggerated and the number of the pixels 5 is reduced for easy understanding of the configuration.

表示装置1は、図1中のA−A線における断面図である図2に示すように、素子基板11と、封止基板13とを有している。
素子基板11には、表示面3側すなわち封止基板13側に、複数の画素5のそれぞれに対応して、後述する有機EL素子などが設けられている。なお、素子基板11の表示面3側とは反対側の面15は、表示装置1の底面として設定されている。以下において、面15は、底面15と表記される。
The display device 1 includes an element substrate 11 and a sealing substrate 13 as shown in FIG. 2 which is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG.
The element substrate 11 is provided with an organic EL element, which will be described later, corresponding to each of the plurality of pixels 5 on the display surface 3 side, that is, the sealing substrate 13 side. The surface 15 of the element substrate 11 opposite to the display surface 3 side is set as the bottom surface of the display device 1. Hereinafter, the surface 15 is referred to as a bottom surface 15.

封止基板13は、素子基板11よりも表示面3側で素子基板11に対向した状態で設けられている。素子基板11と封止基板13とは、接着剤16を介して接合されている。表示装置1では、有機EL素子は、接着剤16によって表示面3側から覆われている。
また、素子基板11と封止基板13との間は、表示装置1の周縁よりも内側で表示領域7を囲むシール材17によって封止されている。つまり、表示装置1では、有機EL素子と接着剤16とが、素子基板11及び封止基板13並びにシール材17によって封止されている。
The sealing substrate 13 is provided in a state facing the element substrate 11 on the display surface 3 side with respect to the element substrate 11. The element substrate 11 and the sealing substrate 13 are bonded via an adhesive 16. In the display device 1, the organic EL element is covered with the adhesive 16 from the display surface 3 side.
Further, the element substrate 11 and the sealing substrate 13 are sealed with a sealing material 17 that surrounds the display region 7 inside the periphery of the display device 1. That is, in the display device 1, the organic EL element and the adhesive 16 are sealed with the element substrate 11, the sealing substrate 13, and the sealing material 17.

ここで、表示装置1における複数の画素5は、それぞれ、表示面3から射出する光の色が、図3に示すように、赤系(R)、緑系(G)及び青系(B)のうちの1つに設定されている。つまり、マトリクスMを構成する複数の画素5は、Rの光を射出する画素5rと、Gの光を射出する画素5gと、Bの光を射出する画素5bとを含んでいる。
なお、以下においては、画素5という表記と、画素5r、5g及び5bという表記とが、適宜、使いわけられる。
Here, each of the plurality of pixels 5 in the display device 1 has a red color (R), a green color (G), and a blue color (B) as shown in FIG. Is set to one of these. That is, the plurality of pixels 5 constituting the matrix M include a pixel 5r that emits R light, a pixel 5g that emits G light, and a pixel 5b that emits B light.
In the following description, the expression “pixel 5” and the expressions “pixels 5r, 5g, and 5b” are appropriately used.

ここで、Rの色は、純粋な赤の色相に限定されず、橙等を含む。Gの色は、純粋な緑の色相に限定されず、青緑や黄緑等を含む。Bの色は、純粋な青の色相に限定されず、青紫や青緑等を含む。他の観点から、Rの色を呈する光は、光の波長のピークが、可視光領域で570nm以上の範囲にある光であると定義され得る。また、Gの色を呈する光は、光の波長のピークが500nm〜565nmの範囲にある光であると定義され得る。Bの色を呈する光は、光の波長のピークが415nm〜495nmの範囲にある光であると定義され得る。   Here, the color of R is not limited to a pure red hue, and includes orange and the like. The color of G is not limited to a pure green hue, and includes bluish green and yellowish green. The color of B is not limited to a pure blue hue, and includes bluish purple and blue-green. From another viewpoint, light exhibiting the color of R can be defined as light having a light wavelength peak in a range of 570 nm or more in the visible light region. The light exhibiting the color G can be defined as light having a light wavelength peak in the range of 500 nm to 565 nm. Light exhibiting the color B can be defined as light having a light wavelength peak in the range of 415 nm to 495 nm.

マトリクスMでは、Y方向に沿って並ぶ複数の画素5が、1つの画素列18を構成している。また、X方向に沿って並ぶ複数の画素5が、1つの画素行19を構成している。
1つの画素列18内の各画素5は、光の色がR、G及びBのうちの1つに設定されている。つまり、マトリクスMは、複数の画素5rがY方向に配列した画素列18rと、複数の画素5gがY方向に配列した画素列18gと、複数の画素5bがY方向に配列した画素列18bとを有している。そして、表示装置1では、画素列18r、画素列18g及び画素列18bが、この順でX方向に沿って反復して並んでいる。
なお、以下においては、画素列18という表記と、画素列18r、画素列18g及び画素列18bという表記とが、適宜、使いわけられる。
In the matrix M, a plurality of pixels 5 arranged along the Y direction form one pixel column 18. A plurality of pixels 5 arranged along the X direction form one pixel row 19.
Each pixel 5 in one pixel column 18 has a light color set to one of R, G, and B. That is, the matrix M includes a pixel column 18r in which a plurality of pixels 5r are arranged in the Y direction, a pixel column 18g in which the plurality of pixels 5g are arranged in the Y direction, and a pixel column 18b in which the plurality of pixels 5b are arranged in the Y direction. have. In the display device 1, the pixel column 18r, the pixel column 18g, and the pixel column 18b are repeatedly arranged in this order along the X direction.
In the following, the notation of the pixel column 18 and the notation of the pixel column 18r, the pixel column 18g, and the pixel column 18b are appropriately used.

表示装置1は、回路構成を示す図である図4に示すように、画素5ごとに、選択トランジスタ21と、駆動トランジスタ23と、容量素子25と、有機EL素子27とを有している。有機EL素子27は、画素電極29と、有機層31と、共通電極33とを有している。選択トランジスタ21及び駆動トランジスタ23は、それぞれ、TFT(Thin Film Transistor)素子で構成されており、スイッチング素子としての機能を有する。
また、表示装置1は、走査線駆動回路34と、データ線駆動回路35と、複数の走査線GTと、複数のデータ線SIと、複数の電源線PWとを有している。
The display device 1 includes a selection transistor 21, a drive transistor 23, a capacitor element 25, and an organic EL element 27 for each pixel 5, as shown in FIG. The organic EL element 27 includes a pixel electrode 29, an organic layer 31, and a common electrode 33. Each of the selection transistor 21 and the driving transistor 23 is configured by a TFT (Thin Film Transistor) element and has a function as a switching element.
In addition, the display device 1 includes a scanning line driving circuit 34, a data line driving circuit 35, a plurality of scanning lines GT, a plurality of data lines SI, and a plurality of power supply lines PW.

複数の走査線GTは、それぞれ走査線駆動回路34につながっており、Y方向に互いに間隔をあけた状態でX方向に延びている。
複数のデータ線SIは、それぞれデータ線駆動回路35につながっており、X方向に互いに間隔をあけた状態でY方向に延びている。
複数の電源線PWは、Y方向に互いに間隔をあけた状態で、且つ各電源線PWと各走査線GTとがY方向に間隔をあけた状態でX方向に延びている。
The plurality of scanning lines GT are respectively connected to the scanning line driving circuit 34, and extend in the X direction with a space therebetween in the Y direction.
The plurality of data lines SI are respectively connected to the data line driving circuit 35 and extend in the Y direction with a space therebetween in the X direction.
The plurality of power supply lines PW extend in the X direction in a state in which the power supply lines PW are spaced from each other in the Y direction, and the power supply lines PW and the scanning lines GT are spaced in the Y direction.

各画素5は、各走査線GTと各データ線SIとの交差に対応して設定されている。各走査線GT及び各電源線PWは、それぞれ、図3に示す各画素行19に対応している。各データ線SIは、図3に示す各画素列18に対応している。
図4に示す各選択トランジスタ21のゲート電極は、対応する各走査線GTに電気的につながっている。各選択トランジスタ21のソース電極は、対応する各データ線SIに電気的につながっている。各選択トランジスタ21のドレイン電極は、各駆動トランジスタ23のゲート電極及び各容量素子25の一方の電極に電気的につながっている。
Each pixel 5 is set corresponding to the intersection of each scanning line GT and each data line SI. Each scanning line GT and each power supply line PW correspond to each pixel row 19 shown in FIG. Each data line SI corresponds to each pixel column 18 shown in FIG.
The gate electrode of each selection transistor 21 shown in FIG. 4 is electrically connected to each corresponding scanning line GT. The source electrode of each select transistor 21 is electrically connected to each corresponding data line SI. The drain electrode of each select transistor 21 is electrically connected to the gate electrode of each drive transistor 23 and one electrode of each capacitive element 25.

容量素子25の他方の電極と、駆動トランジスタ23のソース電極は、それぞれ、対応する各電源線PWに電気的につながっている。
各駆動トランジスタ23のドレイン電極は、各画素電極29に電気的につながっている。各画素電極29と共通電極33とは、画素電極29を陽極とし、共通電極33を陰極とする一対の電極を構成している。
ここで、共通電極33は、マトリクスMを構成する複数の画素5間にわたって一連した状態で設けられており、複数の画素5間にわたって共通して機能する。
各画素電極29と共通電極33との間に介在する有機層31は、有機材料で構成されており、後述する発光層を含んだ構成を有している。
The other electrode of the capacitive element 25 and the source electrode of the driving transistor 23 are electrically connected to the corresponding power supply line PW.
The drain electrode of each drive transistor 23 is electrically connected to each pixel electrode 29. Each pixel electrode 29 and the common electrode 33 constitute a pair of electrodes having the pixel electrode 29 as an anode and the common electrode 33 as a cathode.
Here, the common electrode 33 is provided in a series of states between the plurality of pixels 5 constituting the matrix M, and functions in common between the plurality of pixels 5.
The organic layer 31 interposed between each pixel electrode 29 and the common electrode 33 is made of an organic material and has a configuration including a light emitting layer to be described later.

選択トランジスタ21は、この選択トランジスタ21につながる走査線GTに選択信号が供給されるとON状態となる。このとき、この選択トランジスタ21につながるデータ線SIからデータ信号が供給され、駆動トランジスタ23がON状態になる。駆動トランジスタ23のゲート電位は、データ信号の電位が容量素子25に一定の期間だけ保持されることによって、一定の期間だけ保持される。これにより、駆動トランジスタ23のON状態が一定の期間だけ保持される。なお、各データ信号は、階調表示に応じた電位に生成される。   The selection transistor 21 is turned on when a selection signal is supplied to the scanning line GT connected to the selection transistor 21. At this time, a data signal is supplied from the data line SI connected to the selection transistor 21, and the drive transistor 23 is turned on. The gate potential of the driving transistor 23 is held for a certain period by holding the potential of the data signal in the capacitor 25 for a certain period. As a result, the ON state of the drive transistor 23 is held for a certain period. Each data signal is generated at a potential corresponding to the gradation display.

駆動トランジスタ23のON状態が保持されているときに、駆動トランジスタ23のゲート電位に応じた電流が、電源線PWから画素電極29と有機層31を経て共通電極33に流れる。そして、有機層31に含まれる発光層が、有機層31を流れる電流量に応じた輝度で発光する。これにより、表示装置1では、階調表示が行われ得る。
表示装置1は、有機層31に含まれる発光層が発光し、発光層からの光が封止基板13を介して表示面3から射出されるトップエミッション型の有機EL装置の1つである。なお、表示装置1では、表示面3側という表現が上側とも表現され、底面15側という表現が下側とも表現される。
When the ON state of the driving transistor 23 is maintained, a current corresponding to the gate potential of the driving transistor 23 flows from the power supply line PW to the common electrode 33 through the pixel electrode 29 and the organic layer 31. Then, the light emitting layer included in the organic layer 31 emits light with a luminance corresponding to the amount of current flowing through the organic layer 31. Thereby, the display device 1 can perform gradation display.
The display device 1 is one of top emission type organic EL devices in which a light emitting layer included in the organic layer 31 emits light, and light from the light emitting layer is emitted from the display surface 3 through the sealing substrate 13. In the display device 1, the expression “display surface 3 side” is also expressed as the upper side, and the expression “bottom surface 15 side” is also expressed as the lower side.

ここで、素子基板11及び封止基板13のそれぞれの構成について、詳細を説明する。
素子基板11は、図3中のC−C線における断面図である図5に示すように、第1基板41を有している。なお、図5では、構成をわかりやすく示すため、選択トランジスタ21、容量素子25、データ線SI及び電源線PWが省略されている。
第1基板41は、例えばガラスや石英などの光透過性を有する材料で構成されており、表示面3側に向けられた第1面42aと、底面15側に向けられた第2面42bとを有している。
Here, the details of the configurations of the element substrate 11 and the sealing substrate 13 will be described.
The element substrate 11 has a first substrate 41 as shown in FIG. 5 which is a cross-sectional view taken along the line CC in FIG. In FIG. 5, the selection transistor 21, the capacitor 25, the data line SI, and the power supply line PW are omitted for easy understanding of the configuration.
The first substrate 41 is made of a light-transmitting material such as glass or quartz, for example, and includes a first surface 42a facing the display surface 3 side and a second surface 42b facing the bottom surface 15 side. have.

第1基板41の第1面42aには、ゲート絶縁膜43が設けられている。ゲート絶縁膜43の表示面3側には、絶縁膜45が設けられている。絶縁膜45の表示面3側には、絶縁膜47が設けられている。
また、第1基板41の第1面42aには、各画素5の駆動トランジスタ23に対応して、半導体層51が設けられている。半導体層51は、ゲート絶縁膜43によって表示面3側から覆われている。なお、ゲート絶縁膜43の材料としては、例えば酸化シリコンなどの材料が採用され得る。
A gate insulating film 43 is provided on the first surface 42 a of the first substrate 41. An insulating film 45 is provided on the display surface 3 side of the gate insulating film 43. An insulating film 47 is provided on the display surface 3 side of the insulating film 45.
A semiconductor layer 51 is provided on the first surface 42 a of the first substrate 41 corresponding to the drive transistor 23 of each pixel 5. The semiconductor layer 51 is covered with the gate insulating film 43 from the display surface 3 side. As a material of the gate insulating film 43, for example, a material such as silicon oxide can be adopted.

ゲート絶縁膜43の表示面3側には、平面視で半導体層51に重なる領域にゲート電極53が設けられている。ゲート電極53の材料としては、例えば、アルミニウム、銅、モリブデン、タングステン、クロムなどの金属や、これらを含む合金などが採用され得る。ゲート電極53は、絶縁膜45によって表示面3側から覆われている。   On the display surface 3 side of the gate insulating film 43, a gate electrode 53 is provided in a region overlapping the semiconductor layer 51 in plan view. As a material of the gate electrode 53, for example, a metal such as aluminum, copper, molybdenum, tungsten, or chromium, or an alloy containing these metals can be used. The gate electrode 53 is covered with the insulating film 45 from the display surface 3 side.

絶縁膜45の表示面3側には、平面視で半導体層51のソース領域(図示せず)に重なる領域にソース電極55が設けられている。ソース電極55は、絶縁膜45及びゲート絶縁膜43に設けられたコンタクトホール57を介して半導体層51のソース領域(図示せず)につながっている。ソース電極55の材料としては、例えば、アルミニウム、銅、モリブデン、タングステン、クロムなどの金属や、これらを含む合金などが採用され得る。ソース電極55は、絶縁膜47によって表示面3側から覆われている。   On the display surface 3 side of the insulating film 45, a source electrode 55 is provided in a region overlapping a source region (not shown) of the semiconductor layer 51 in plan view. The source electrode 55 is connected to a source region (not shown) of the semiconductor layer 51 through a contact hole 57 provided in the insulating film 45 and the gate insulating film 43. As a material of the source electrode 55, for example, a metal such as aluminum, copper, molybdenum, tungsten, or chromium, or an alloy containing these metals can be employed. The source electrode 55 is covered with the insulating film 47 from the display surface 3 side.

絶縁膜47の表示面3側には、画素電極29が設けられている。画素電極29は、絶縁膜47、絶縁膜45及びゲート絶縁膜43に設けられたコンタクトホール59を介して半導体層51のドレイン領域(図示せず)につながっている。画素電極29の材料としては、例えば、銀、白金、アルミニウム、銅などの光反射性を有する金属や、これらを含む合金などが採用され得る。   A pixel electrode 29 is provided on the display surface 3 side of the insulating film 47. The pixel electrode 29 is connected to a drain region (not shown) of the semiconductor layer 51 through a contact hole 59 provided in the insulating film 47, the insulating film 45, and the gate insulating film 43. As a material of the pixel electrode 29, for example, a light-reflective metal such as silver, platinum, aluminum, or copper, or an alloy containing these metals can be employed.

画素電極29を陽極として機能させる場合には、画素電極29の材料として、銀、白金などの仕事関数が比較的高い材料を用いることが好ましい。また、画素電極29の材料としてITO(Indium Tin Oxide)やインジウム亜鉛酸化物(Indium Zinc Oxide)などを用い、光反射性を有する部材を画素電極29と第1基板41との間に設けた構成も採用され得る。本実施形態では、画素電極29の材料としてITOが採用されている。
また、絶縁膜45及び47の材料としては、例えば、酸化シリコン、窒化シリコン、アクリル系の樹脂などの材料が採用され得る。
When the pixel electrode 29 functions as an anode, it is preferable to use a material having a relatively high work function such as silver or platinum as the material of the pixel electrode 29. Further, ITO (Indium Tin Oxide), indium zinc oxide (Indium Zinc Oxide) or the like is used as the material of the pixel electrode 29, and a light reflective member is provided between the pixel electrode 29 and the first substrate 41. Can also be employed. In this embodiment, ITO is used as the material of the pixel electrode 29.
Further, as the material of the insulating films 45 and 47, for example, materials such as silicon oxide, silicon nitride, and acrylic resin can be adopted.

隣り合う画素電極29同士の間には、各画素5を区画する絶縁膜(第1隔壁)61が領域62にわたって設けられている。絶縁膜61は、例えば、酸化シリコン、窒化シリコン、アクリル系の樹脂などの光透過性を有する材料で構成されている。絶縁膜61は、平面視で、表示領域7にわたって格子状に設けられている。このため、表示領域7は、絶縁膜61によって複数の画素5の領域に区画されている。1つの画素5に着目すると、絶縁膜61は、平面視で環状に設けられている。なお、各画素電極29は、絶縁膜61によって囲まれた各画素5の領域に平面視で重なっている。本実施形態では、絶縁膜61の材料として酸化シリコンが採用されている。   Between the adjacent pixel electrodes 29, an insulating film (first partition) 61 that partitions each pixel 5 is provided over the region 62. The insulating film 61 is made of a light transmissive material such as silicon oxide, silicon nitride, or acrylic resin. The insulating film 61 is provided in a lattice shape over the display region 7 in plan view. For this reason, the display region 7 is partitioned into regions of the plurality of pixels 5 by the insulating film 61. When attention is paid to one pixel 5, the insulating film 61 is provided in an annular shape in plan view. Each pixel electrode 29 overlaps the area of each pixel 5 surrounded by the insulating film 61 in plan view. In the present embodiment, silicon oxide is used as the material of the insulating film 61.

絶縁膜61の表示面3側には、各画素5の領域を囲む絶縁膜(第2隔壁)63が設けられている。絶縁膜63は、例えば、カーボンブラックやクロムなどの光吸収性が高い材料を含有するアクリル系の樹脂やポリイミド樹脂などの有機材料で構成されており、平面視で絶縁膜61に沿って格子状に設けられている。1つの画素5に着目すると、絶縁膜63は、平面視で各画素5の領域を囲んでいる。このため、絶縁膜63は、画素5ごとに環状に設けられているとみなされ得る。本実施形態では、絶縁膜63の材料としてアクリル系の樹脂が採用されている。
画素電極29の表示面3側には、絶縁膜63に囲まれた領域(以下、画素形成領域と呼ぶ)内に、有機層31が設けられている。
On the display surface 3 side of the insulating film 61, an insulating film (second partition) 63 surrounding the area of each pixel 5 is provided. The insulating film 63 is made of, for example, an organic material such as an acrylic resin or a polyimide resin containing a material having a high light absorption property such as carbon black or chromium, and has a lattice shape along the insulating film 61 in a plan view. Is provided. Focusing on one pixel 5, the insulating film 63 surrounds the area of each pixel 5 in plan view. For this reason, the insulating film 63 can be considered to be provided in a ring shape for each pixel 5. In the present embodiment, an acrylic resin is employed as the material of the insulating film 63.
On the display surface 3 side of the pixel electrode 29, an organic layer 31 is provided in a region surrounded by the insulating film 63 (hereinafter referred to as a pixel formation region).

有機層31は、各画素5に対応して設けられており、正孔注入層65と、正孔輸送層67と、発光層69とを有している。
正孔注入層65は、有機材料で構成されており、平面視で絶縁膜63によって囲まれた画素形成領域内で、画素電極29の表示面3側に設けられている。
正孔注入層65の有機材料としては、3,4−ポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)等のポリチオフェン誘導体と、ポリスチレンスルホン酸(PSS)等との混合物が採用され得る。正孔注入層65の有機材料としては、ポリスチレン、ポリピロール、ポリアニリン、ポリアセチレンやこれらの誘導体なども採用され得る。
The organic layer 31 is provided corresponding to each pixel 5 and includes a hole injection layer 65, a hole transport layer 67, and a light emitting layer 69.
The hole injection layer 65 is made of an organic material, and is provided on the display surface 3 side of the pixel electrode 29 in the pixel formation region surrounded by the insulating film 63 in plan view.
As the organic material for the hole injection layer 65, a mixture of a polythiophene derivative such as 3,4-polyethylenedioxythiophene (PEDOT) and polystyrene sulfonic acid (PSS) or the like may be employed. As the organic material for the hole injection layer 65, polystyrene, polypyrrole, polyaniline, polyacetylene, derivatives thereof, and the like may be employed.

正孔輸送層67は、有機材料で構成されており、平面視で絶縁膜63によって囲まれた画素形成領域内で、正孔注入層65の表示面3側に設けられている。
正孔輸送層67の有機材料としては、例えば、下記化合物1として示されるTFBなどのトリフェニルアミン系ポリマーを含んだ構成が採用され得る。
The hole transport layer 67 is made of an organic material, and is provided on the display surface 3 side of the hole injection layer 65 in the pixel formation region surrounded by the insulating film 63 in plan view.
As the organic material of the hole transport layer 67, for example, a configuration including a triphenylamine-based polymer such as TFB shown as the following compound 1 can be adopted.

Figure 2010015855
Figure 2010015855

発光層69は、有機材料で構成されており、平面視で絶縁膜63によって囲まれた画素形成領域内で、正孔輸送層67の表示面3側に設けられている。
Rの画素5rに対応する発光層69の有機材料としては、例えば、下記化合物2として示されるF8(ポリジオクチルフルオレン)と、ペリレン染料とを混合したものが採用され得る。
The light emitting layer 69 is made of an organic material, and is provided on the display surface 3 side of the hole transport layer 67 in the pixel formation region surrounded by the insulating film 63 in plan view.
As the organic material of the light emitting layer 69 corresponding to the R pixel 5r, for example, a mixture of F8 (polydioctylfluorene) shown as the following compound 2 and a perylene dye may be employed.

Figure 2010015855
Figure 2010015855

Gの画素5gに対応する発光層69の有機材料としては、例えば、下記化合物3として示されるF8BTと、上記化合物1として示されるTFBと、上記化合物2として示されるF8とを混合したものが採用され得る。   As the organic material of the light emitting layer 69 corresponding to the G pixel 5g, for example, a mixture of F8BT shown as the following compound 3, TFB shown as the compound 1, and F8 shown as the compound 2 is adopted. Can be done.

Figure 2010015855
Figure 2010015855

Bの画素5bに対応する発光層69の有機材料としては、例えば、上記化合物2として示されるF8が採用され得る。   As an organic material of the light emitting layer 69 corresponding to the B pixel 5b, for example, F8 shown as the compound 2 can be adopted.

有機層31の表示面3側には、図5に示すように、絶縁膜63に囲まれた画素形成領域内に、電子注入層71が設けられている。電子注入層71の材料としては、例えば、マグネシウムと銀とを含む合金や、カルシウムなどが採用され得る。本実施形態では、電子注入層71の材料として、マグネシウムと銀とを含む合金が採用されている。
電子注入層71の表示面3側には、共通電極33が設けられている。共通電極33は、例えば、アルミニウム等の金属を薄膜化して光透過性を付与したものなどが採用され得る。また、共通電極33は、例えば、マグネシウムと銀とを含む合金等を薄膜化して光透過性を付与したものなどによっても構成され得る。本実施形態では、共通電極33として、アルミニウムの薄膜が採用されている。共通電極33は、電子注入層71及び絶縁膜63を表示面3側から複数の画素5間にわたって覆っている。
On the display surface 3 side of the organic layer 31, as shown in FIG. 5, an electron injection layer 71 is provided in the pixel formation region surrounded by the insulating film 63. As a material of the electron injection layer 71, for example, an alloy containing magnesium and silver, calcium, or the like can be adopted. In this embodiment, an alloy containing magnesium and silver is employed as the material of the electron injection layer 71.
A common electrode 33 is provided on the display surface 3 side of the electron injection layer 71. As the common electrode 33, for example, a thin film made of a metal such as aluminum can be used. The common electrode 33 can also be configured by, for example, a thin film made of an alloy containing magnesium and silver to provide light transmission. In the present embodiment, an aluminum thin film is employed as the common electrode 33. The common electrode 33 covers the electron injection layer 71 and the insulating film 63 across the plurality of pixels 5 from the display surface 3 side.

なお、表示装置1では、各画素5において発光する領域は、平面視で画素電極29と有機層31と共通電極33とが重なる領域であると定義され得る。また、画素5ごとに発光する領域を構成する要素の一群が1つの有機EL素子27であると定義され得る。表示装置1では、1つの有機EL素子27は、1つの画素電極29と、1つの有機層31と、1つの電子注入層71と、1つの画素5に対応する共通電極33とを含んだ構成を有している。   In the display device 1, the region that emits light in each pixel 5 can be defined as a region where the pixel electrode 29, the organic layer 31, and the common electrode 33 overlap in a plan view. In addition, a group of elements constituting a region that emits light for each pixel 5 may be defined as one organic EL element 27. In the display device 1, one organic EL element 27 includes one pixel electrode 29, one organic layer 31, one electron injection layer 71, and a common electrode 33 corresponding to one pixel 5. have.

封止基板13は、例えばガラスや石英などの光透過性を有する材料で構成されており、表示面3側に向けられた外向面13aと、底面15側に向けられた対向面13bとを有している。
上記の構成を有する素子基板11及び封止基板13は、素子基板11の共通電極33と封止基板13の対向面13bとの間が、接着剤16を介して接合されている。
The sealing substrate 13 is made of a light-transmitting material such as glass or quartz, for example, and has an outward surface 13a facing the display surface 3 side and an opposing surface 13b facing the bottom surface 15 side. is doing.
In the element substrate 11 and the sealing substrate 13 having the above-described configuration, the common electrode 33 of the element substrate 11 and the facing surface 13 b of the sealing substrate 13 are bonded via an adhesive 16.

表示装置1では、図2に示すシール材17は、図5に示す第1基板41の第1面42aと、封止基板13の対向面13bとによって挟持されている。つまり、表示装置1では、有機EL素子27及び接着剤16が、第1基板41及び封止基板13並びにシール材17によって封止されている。なお、シール材17は、対向面13b及び共通電極33の間に設けられていてもよい。この場合、有機EL素子27及び接着剤16は、素子基板11及び封止基板13並びにシール材17によって封止されているとみなされ得る。   In the display device 1, the sealing material 17 illustrated in FIG. 2 is sandwiched between the first surface 42 a of the first substrate 41 and the facing surface 13 b of the sealing substrate 13 illustrated in FIG. 5. That is, in the display device 1, the organic EL element 27 and the adhesive 16 are sealed with the first substrate 41, the sealing substrate 13, and the sealing material 17. The sealing material 17 may be provided between the facing surface 13 b and the common electrode 33. In this case, the organic EL element 27 and the adhesive 16 can be regarded as being sealed by the element substrate 11, the sealing substrate 13, and the sealing material 17.

ここで、表示装置1の製造方法について説明する。
表示装置1の製造方法は、素子基板11を製造する工程と、表示装置1を組み立てる工程とに大別される。
素子基板11を製造する工程では、図6(a)に示すように、まず、第1基板41の第1面42aに駆動素子層81を形成する。この駆動素子層81には、前述した選択トランジスタ21(図4)、駆動トランジスタ23、容量素子25(図4)、電源線PW(図4)、画素電極29、ゲート絶縁膜43、絶縁膜45、絶縁膜47が含まれている。
Here, a method for manufacturing the display device 1 will be described.
The manufacturing method of the display device 1 is roughly divided into a step of manufacturing the element substrate 11 and a step of assembling the display device 1.
In the process of manufacturing the element substrate 11, first, the drive element layer 81 is formed on the first surface 42 a of the first substrate 41 as shown in FIG. The drive element layer 81 includes the selection transistor 21 (FIG. 4), the drive transistor 23, the capacitor element 25 (FIG. 4), the power supply line PW (FIG. 4), the pixel electrode 29, the gate insulating film 43, and the insulating film 45. Insulating film 47 is included.

次いで、図6(b)に示すように、平面視で画素電極29の周縁及び絶縁膜47に重なる領域(図5に示す領域62)に絶縁膜61を形成する。絶縁膜61の形成では、まず、CVD技術などを活用することにより、平面視で画素電極29及び絶縁膜47を覆う酸化シリコン膜を形成する。次いで、例えばフォトリソグラフィ技術及びエッチング技術などを活用することによって、酸化シリコン膜をパターニングする。これにより、絶縁膜61が形成され得る。   Next, as illustrated in FIG. 6B, the insulating film 61 is formed in a region overlapping the periphery of the pixel electrode 29 and the insulating film 47 (region 62 illustrated in FIG. 5) in plan view. In forming the insulating film 61, first, a silicon oxide film that covers the pixel electrode 29 and the insulating film 47 in a plan view is formed by utilizing a CVD technique or the like. Next, the silicon oxide film is patterned by utilizing, for example, a photolithography technique and an etching technique. Thereby, the insulating film 61 can be formed.

次いで、図6(c)に示すように、平面視で絶縁膜61に重なる領域に絶縁膜63を形成する。絶縁膜63の形成では、まず、ネガ型の感光物質を含むアクリル系の樹脂で、平面視で画素電極29及び絶縁膜61を覆う樹脂膜を形成する。この樹脂膜の形成では、スピンコート技術や印刷技術などが活用され得る。次いで、例えばフォトリソグラフィ技術を活用することによって、樹脂膜をパターニングする。これにより、絶縁膜63が形成され得る。
なお、駆動素子層81から絶縁膜63までの構成が形成された第1基板41は、以下において基板41aと呼ばれる。
Next, as shown in FIG. 6C, an insulating film 63 is formed in a region overlapping the insulating film 61 in plan view. In forming the insulating film 63, first, a resin film that covers the pixel electrode 29 and the insulating film 61 in a plan view is formed with an acrylic resin containing a negative photosensitive material. In the formation of the resin film, spin coating technology, printing technology, or the like can be used. Next, the resin film is patterned by using, for example, a photolithography technique. Thereby, the insulating film 63 can be formed.
The first substrate 41 on which the configuration from the drive element layer 81 to the insulating film 63 is formed is hereinafter referred to as a substrate 41a.

次いで、図7(a)に示すように、基板41aに酸素プラズマ処理を施す。これにより、酸素プラズマ処理前よりも、画素電極29及び絶縁膜61に、後述する液状体65a、67a、69aに対して親液性が付与される。本実施形態では、処理室内を所定の真空度に保った状態で処理室内に処理ガスを導入しながら、処理室内にプラズマを発生させる方法が採用されている。本実施形態では、処理ガスとして酸素を含むガスが採用されている。
ここで、本実施形態での酸素プラズマ処理に適用されるプラズマ処理装置の一例について説明する。プラズマ処理装置83は、概略の構成を示す断面図である図8に示すように、チャンバー(処理室)85と、テーブル87と、コイル89と、シャワープレート91と、を有している。
Next, as shown in FIG. 7A, the substrate 41a is subjected to oxygen plasma treatment. Thereby, lyophilicity is imparted to the liquid materials 65a, 67a, and 69a, which will be described later, to the pixel electrode 29 and the insulating film 61 than before the oxygen plasma treatment. In the present embodiment, a method is employed in which plasma is generated in the processing chamber while introducing a processing gas into the processing chamber while the processing chamber is kept at a predetermined degree of vacuum. In the present embodiment, a gas containing oxygen is employed as the processing gas.
Here, an example of a plasma processing apparatus applied to the oxygen plasma processing in the present embodiment will be described. The plasma processing apparatus 83 includes a chamber (processing chamber) 85, a table 87, a coil 89, and a shower plate 91, as shown in FIG.

チャンバー85には、外部からチャンバー85内に処理ガスを導く導入管93と、チャンバー85内から外部にガスを排出する排気管95とが接続されている。チャンバー85の天板部には、誘電体で構成された誘電プレート97が設けられている。
テーブル87は、チャンバー85内に配設されている。コイル89は、チャンバー85の外側で誘電プレート97に対向した状態で設けられている。シャワープレート91は、チャンバー85内で誘電プレート97に対向した状態で設けられている。誘電プレート97とシャワープレート91との間には、隙間が設けられている。
テーブル87には、整合器99を介して高周波バイアス電源101が接続されている。コイル89の一端には、整合器103を介して高周波電源105が接続されている。なお、コイル89の他端は、接地されている。
Connected to the chamber 85 are an introduction pipe 93 that guides the processing gas from the outside into the chamber 85 and an exhaust pipe 95 that discharges the gas from the chamber 85 to the outside. A dielectric plate 97 made of a dielectric is provided on the top plate portion of the chamber 85.
The table 87 is disposed in the chamber 85. The coil 89 is provided outside the chamber 85 so as to face the dielectric plate 97. The shower plate 91 is provided in a state facing the dielectric plate 97 in the chamber 85. A gap is provided between the dielectric plate 97 and the shower plate 91.
A high frequency bias power source 101 is connected to the table 87 via a matching unit 99. A high frequency power source 105 is connected to one end of the coil 89 via a matching unit 103. The other end of the coil 89 is grounded.

導入管93は、チャンバー85の外側から、誘電プレート97とシャワープレート91との間の隙間内に至っている。導入管93には、チャンバー85の外側にバルブ107が接続されている。処理ガスは、バルブ107を経由してから導入管93を通って、誘電プレート97とシャワープレート91との間の隙間内に導かれる。誘電プレート97とシャワープレート91との間の隙間内に導かれた処理ガスは、シャワープレート91を介してチャンバー85内に導入される。
排気管95には、チャンバー85の外側に真空ポンプ109が接続されている。チャンバー85内は、真空ポンプ109で排気管95を介してチャンバー85内のガスをチャンバー85の外側に排出することによって減圧される。
The introduction pipe 93 extends from the outside of the chamber 85 into the gap between the dielectric plate 97 and the shower plate 91. A valve 107 is connected to the introduction pipe 93 outside the chamber 85. The processing gas is introduced into the gap between the dielectric plate 97 and the shower plate 91 through the introduction pipe 93 after passing through the valve 107. The processing gas introduced into the gap between the dielectric plate 97 and the shower plate 91 is introduced into the chamber 85 through the shower plate 91.
A vacuum pump 109 is connected to the exhaust pipe 95 outside the chamber 85. The pressure in the chamber 85 is reduced by discharging the gas in the chamber 85 to the outside of the chamber 85 through the exhaust pipe 95 by the vacuum pump 109.

基板41aに酸素プラズマ処理を施す工程では、まず、基板41aをテーブル87に載置する。
次いで、真空ポンプ109を駆動して、チャンバー85内の圧力を減圧状態に保つ。
次いで、バルブ107を開いて酸素をチャンバー85内に導入する。
次いで、高周波電源105及び高周波バイアス電源101を駆動して、コイル89に高周波電圧を印加し、テーブル87にバイアス電圧を印加する。
これにより、チャンバー85内に酸素プラズマが誘起される。
In the step of performing oxygen plasma treatment on the substrate 41 a, first, the substrate 41 a is placed on the table 87.
Next, the vacuum pump 109 is driven to keep the pressure in the chamber 85 in a reduced pressure state.
Next, the valve 107 is opened to introduce oxygen into the chamber 85.
Next, the high frequency power source 105 and the high frequency bias power source 101 are driven to apply a high frequency voltage to the coil 89 and a bias voltage to the table 87.
Thereby, oxygen plasma is induced in the chamber 85.

本実施形態では、酸素プラズマ処理の条件として、チャンバー85内の圧力を約133Pa(1Torr)とし、酸素の導入量を約500SCCMとし、プラズマ照射強度を1W/cm2とし、処理時間を1分間とした。 In the present embodiment, the oxygen plasma treatment conditions are as follows: the pressure in the chamber 85 is about 133 Pa (1 Torr), the amount of oxygen introduced is about 500 SCCM, the plasma irradiation intensity is 1 W / cm 2 , and the treatment time is 1 minute. did.

基板41aに酸素プラズマ処理を施す工程に次いで、図7(b)に示すように、基板41aにUVオゾン処理を施す。これにより、画素電極29及び絶縁膜61の親液性が高められる。本実施形態では、処理室内に基板41aを収容した状態で、処理室内に酸素を含むガスを導入しながら、処理室内で紫外線を発生させる方法が採用されている。
ここで、本実施形態でのUVオゾン処理に適用されるUVオゾン処理装置の一例について説明する。UVオゾン処理装置111は、概略の構成を示す断面図である図9に示すように、チャンバー(処理室)113と、テーブル115と、低圧水銀ランプ117と、導入管119と、排気管121と、を有している。
Following the step of performing oxygen plasma treatment on the substrate 41a, as shown in FIG. 7B, the substrate 41a is subjected to UV ozone treatment. Thereby, the lyophilicity of the pixel electrode 29 and the insulating film 61 is enhanced. In the present embodiment, a method of generating ultraviolet rays in the processing chamber while introducing a gas containing oxygen into the processing chamber while the substrate 41a is accommodated in the processing chamber is employed.
Here, an example of a UV ozone treatment apparatus applied to the UV ozone treatment in the present embodiment will be described. As shown in FIG. 9 which is a sectional view showing a schematic configuration, the UV ozone treatment apparatus 111 includes a chamber (treatment chamber) 113, a table 115, a low-pressure mercury lamp 117, an introduction pipe 119, an exhaust pipe 121, ,have.

チャンバー113には、外部からチャンバー113内に処理ガスを導く導入管119と、チャンバー113内から外部に分解ガスを排出する排気管121とが接続されている。テーブル115は、チャンバー113内に配設されている。低圧水銀ランプ117は、チャンバー113内でテーブル115に対向して設けられている。本実施形態では、低圧水銀ランプ117は、約254nmの波長の紫外線と、約185nmの波長の紫外線とを発する。約254nmの波長の紫外線と、約185nmの波長の紫外線とのエネルギ比は、約4:1に設定されている。   Connected to the chamber 113 are an introduction pipe 119 that guides the processing gas from the outside into the chamber 113 and an exhaust pipe 121 that discharges the decomposition gas from the chamber 113 to the outside. The table 115 is disposed in the chamber 113. The low-pressure mercury lamp 117 is provided facing the table 115 in the chamber 113. In this embodiment, the low-pressure mercury lamp 117 emits ultraviolet light having a wavelength of about 254 nm and ultraviolet light having a wavelength of about 185 nm. The energy ratio between the ultraviolet light having a wavelength of about 254 nm and the ultraviolet light having a wavelength of about 185 nm is set to about 4: 1.

基板41aにUVオゾン処理を施す工程では、基板41aをテーブル115に載置した状態で、低圧水銀ランプ117を点灯させながらチャンバー113内に処理ガスを導入する。なお、本実施形態では、処理ガスに酸素が含まれている。酸素は、約185nmの波長の紫外線によって分解され、オゾンに変化する。これにより、基板41aにUVオゾン処理が施される。
なお、チャンバー113内のオゾンは、約254nmの波長の紫外線によって分解され、酸素に変化する。オゾンから酸素に変化した分解ガスは、排気管121を介してチャンバー113の外側に排出される。
In the step of performing the UV ozone treatment on the substrate 41a, the processing gas is introduced into the chamber 113 while the low-pressure mercury lamp 117 is turned on with the substrate 41a placed on the table 115. In the present embodiment, the processing gas contains oxygen. Oxygen is decomposed by ultraviolet rays having a wavelength of about 185 nm and converted into ozone. Thereby, the UV ozone treatment is performed on the substrate 41a.
Note that ozone in the chamber 113 is decomposed by ultraviolet rays having a wavelength of about 254 nm, and changes to oxygen. The cracked gas changed from ozone to oxygen is discharged to the outside of the chamber 113 through the exhaust pipe 121.

基板41aにUVオゾン処理を施す工程に次いで、図7(c)に示すように、基板41aにCF4プラズマ処理を施す。これにより、CF4プラズマ処理前よりも、絶縁膜63に、後述する液状体65a、67a、69aに対して撥液性が付与される。本実施形態では、処理室内を所定の真空度に保った状態で処理室内に処理ガスを導入しながら、処理室内にプラズマを発生させる方法が採用されている。本実施形態では、処理ガスとして、フッ素化合物を含むガスであるCF4ガスが採用されている。 Following the step of performing UV ozone treatment on the substrate 41a, as shown in FIG. 7C, CF 4 plasma treatment is performed on the substrate 41a. Thereby, than before the CF 4 plasma treatment, the insulating film 63, described later liquid material 65a, 67a, liquid repellency is imparted to 69a. In the present embodiment, a method is employed in which plasma is generated in the processing chamber while introducing a processing gas into the processing chamber while the processing chamber is kept at a predetermined degree of vacuum. In the present embodiment, CF 4 gas that is a gas containing a fluorine compound is employed as the processing gas.

CF4プラズマ処理には、前述したプラズマ処理装置83(図8)が適用され得る。本実施形態では、CF4プラズマ処理の条件として、チャンバー85内の圧力を約133Pa(1Torr)とし、CF4ガスの導入量を約900SCCMとし、プラズマ照射強度を1W/cm2とし、処理時間を30分間とした。
なお、処理ガスは、CF4ガスに限定されず、SF6やCHF3などのハロゲンガスや、フッ素ガスなども採用され得る。
The above-described plasma processing apparatus 83 (FIG. 8) can be applied to the CF 4 plasma processing. In the present embodiment, the CF 4 plasma processing conditions are such that the pressure in the chamber 85 is about 133 Pa (1 Torr), the amount of CF 4 gas introduced is about 900 SCCM, the plasma irradiation intensity is 1 W / cm 2 , and the processing time is set. 30 minutes.
The processing gas is not limited to CF 4 gas, and halogen gas such as SF 6 or CHF 3 , fluorine gas, or the like may be employed.

基板41aにCF4プラズマ処理を施す工程に次いで、基板41aに加熱処理を施す。本実施形態では、加熱処理の方法として、基板41aを所定の温度範囲に保たれた環境下に所定の保持時間だけ保持する方法が採用されている。加熱処理の条件としては、本実施形態では、温度範囲を50℃以上且つ280℃未満とし、保持時間を約10分間とした条件が採用され得る。50℃未満では、後述する効果が得られるのに要する時間が長期化してしまう。このため、50℃を下回ることは、効率化の観点から好ましくない。また、280℃以上では、有機材料で構成される絶縁膜63が軟化してしまったり、重量が減少してしまったりすることがある。このため、280℃以上は好ましくない。 Subsequent to the step of subjecting the substrate 41a to CF 4 plasma treatment, the substrate 41a is subjected to heat treatment. In the present embodiment, as a heat treatment method, a method is employed in which the substrate 41a is held for a predetermined holding time in an environment maintained in a predetermined temperature range. As the conditions for the heat treatment, in the present embodiment, a temperature range of 50 ° C. or higher and lower than 280 ° C. and a holding time of about 10 minutes may be employed. If it is less than 50 degreeC, the time required for the effect mentioned later to be acquired will become long. For this reason, it is unpreferable from a viewpoint of efficiency to fall below 50 degreeC. Further, at 280 ° C. or higher, the insulating film 63 made of an organic material may be softened or the weight may be reduced. For this reason, 280 degreeC or more is not preferable.

基板41aに加熱処理を施す工程に次いで、図10(a)に示すように、絶縁膜63によって囲まれた各画素5の領域(画素形成領域)内に液状体65aを配置する。液状体65aには、正孔注入層65を構成する有機材料が含まれている。液状体65aの配置には、液滴吐出ヘッド131を利用したインクジェット法が活用され得る。
液滴吐出ヘッド131から液状体65aなどを液滴65bとして吐出する技術は、インクジェット技術と呼ばれる。そして、インクジェット技術を活用して液状体65aなどを所定の位置に配置する方法は、インクジェット法と呼ばれる。このインクジェット法は、塗布法の1つである。
Following the step of performing the heat treatment on the substrate 41a, as shown in FIG. 10A, the liquid material 65a is disposed in the region (pixel formation region) of each pixel 5 surrounded by the insulating film 63. The liquid material 65 a contains an organic material that forms the hole injection layer 65. For the arrangement of the liquid material 65a, an ink jet method using a droplet discharge head 131 can be used.
The technique for ejecting the liquid material 65a and the like as the droplet 65b from the droplet ejection head 131 is called an inkjet technique. And the method of arrange | positioning the liquid body 65a etc. in a predetermined position using an inkjet technique is called the inkjet method. This ink jet method is one of coating methods.

各画素5の領域内に配置された液状体65aを減圧乾燥法で乾燥させてから焼成を行うことによって、図10(b)に示す正孔注入層65が形成され得る。なお、液状体65aには、PEDOTとPSSとの混合物を、溶媒に溶解させた構成が採用され得る。溶媒としては、例えば、ジエチレングリコール、イソプロピルアルコール、ノルマルブタノールなどが採用され得る。なお、減圧乾燥法は、減圧環境下で行う乾燥方法であり、真空乾燥法とも呼ばれる。また、液状体65aの焼成条件は、環境温度が約200℃で、保持時間が約10分間である。   A hole injection layer 65 shown in FIG. 10B can be formed by drying the liquid material 65a arranged in the region of each pixel 5 by a reduced pressure drying method and then performing firing. In addition, the liquid material 65a may employ a configuration in which a mixture of PEDOT and PSS is dissolved in a solvent. As the solvent, for example, diethylene glycol, isopropyl alcohol, normal butanol and the like can be employed. The reduced pressure drying method is a drying method performed under a reduced pressure environment, and is also called a vacuum drying method. The firing conditions for the liquid 65a are an environmental temperature of about 200 ° C. and a holding time of about 10 minutes.

次いで、図10(b)に示すように、絶縁膜63によって囲まれた画素形成領域内に液滴吐出ヘッド131から液状体67aを液滴67bとして吐出することで、絶縁膜63によって囲まれた画素形成領域内に液状体67aを配置する。液状体67aには、正孔輸送層67を構成する有機材料が含まれている。
このとき、正孔注入層65は、液状体67aによって覆われる。なお、液状体67aには、TFBを溶媒に溶解させた構成が採用され得る。溶媒としては、例えば、シクロヘキシルベンゼンなどが採用され得る。
Next, as illustrated in FIG. 10B, the liquid material 67 a is discharged as droplets 67 b from the droplet discharge head 131 into the pixel formation region surrounded by the insulating film 63, thereby being surrounded by the insulating film 63. A liquid 67a is disposed in the pixel formation region. The liquid material 67 a contains an organic material that constitutes the hole transport layer 67.
At this time, the hole injection layer 65 is covered with the liquid 67a. In addition, the liquid material 67a may employ a configuration in which TFB is dissolved in a solvent. As the solvent, for example, cyclohexylbenzene can be employed.

次いで、液状体67aを減圧乾燥法で乾燥させてから、不活性ガス中で焼成を行うことによって、図10(c)に示す正孔輸送層67が形成され得る。なお、液状体67aの焼成条件は、環境温度が約130℃で、保持時間が約1時間である。   Next, after the liquid 67a is dried by a reduced pressure drying method, the hole transport layer 67 shown in FIG. 10C can be formed by firing in an inert gas. The firing conditions for the liquid 67a are an environmental temperature of about 130 ° C. and a holding time of about 1 hour.

次いで、図10(c)に示すように、絶縁膜63によって囲まれた各領域内に、液状体69aを配置する。液状体69aには、発光層69を構成する有機材料が含まれている。液状体69aは、液滴吐出ヘッド131から液状体69aを液滴69bとして吐出することによって配置される。このとき、正孔輸送層67は、液状体69aによって覆われる。なお、液状体69aには、画素5r、5g及び5bのそれぞれに対応する前述した有機材料を溶媒に溶解させた構成が採用され得る。溶媒としては、例えば、シクロヘキシルベンゼンなどが採用され得る。   Next, as illustrated in FIG. 10C, the liquid material 69 a is disposed in each region surrounded by the insulating film 63. The liquid material 69 a contains an organic material that constitutes the light emitting layer 69. The liquid material 69a is disposed by discharging the liquid material 69a from the droplet discharge head 131 as droplets 69b. At this time, the hole transport layer 67 is covered with the liquid 69a. In addition, the liquid material 69a may employ a configuration in which the organic material described above corresponding to each of the pixels 5r, 5g, and 5b is dissolved in a solvent. As the solvent, for example, cyclohexylbenzene can be employed.

次いで、液状体69aを減圧乾燥法で乾燥させてから、不活性ガス中で焼成を行うことによって、図5に示す発光層69が形成され得る。液状体69aの焼成条件は、環境温度が約130℃で、保持時間が約1時間である。   Next, after the liquid 69a is dried by a reduced pressure drying method, the light emitting layer 69 shown in FIG. 5 can be formed by firing in an inert gas. The firing conditions of the liquid 69a are an environmental temperature of about 130 ° C. and a holding time of about 1 hour.

次いで、蒸着技術などを活用してカルシウム等の膜を、絶縁膜63に囲まれた画素形成領域内に形成することにより、図5に示す電子注入層71が形成され得る。このとき、電子注入層71は、絶縁膜63をマスクで表示面3側から覆った状態で形成され得る。
次いで、マスクを用いた蒸着技術を活用してアルミニウム等の膜を形成することにより、図5に示す共通電極33が形成され得る。これにより、素子基板11が製造され得る。
Next, an electron injection layer 71 shown in FIG. 5 can be formed by using a vapor deposition technique or the like to form a film of calcium or the like in the pixel formation region surrounded by the insulating film 63. At this time, the electron injection layer 71 can be formed in a state where the insulating film 63 is covered from the display surface 3 side with a mask.
Next, the common electrode 33 shown in FIG. 5 can be formed by forming a film of aluminum or the like by utilizing a vapor deposition technique using a mask. Thereby, the element substrate 11 can be manufactured.

表示装置1を組み立てる工程では、図2に示すように、素子基板11及び封止基板13を、接着剤16及びシール材17を介して接合する。
このとき、素子基板11及び封止基板13は、図5に示すように、第1基板41の第1面42aと、封止基板13の対向面13bとが向き合った状態で接合される。これにより、表示装置1が製造され得る。
In the process of assembling the display device 1, as shown in FIG. 2, the element substrate 11 and the sealing substrate 13 are joined via an adhesive 16 and a sealing material 17.
At this time, the element substrate 11 and the sealing substrate 13 are joined in a state where the first surface 42a of the first substrate 41 and the facing surface 13b of the sealing substrate 13 face each other, as shown in FIG. Thereby, the display apparatus 1 can be manufactured.

本実施形態では、絶縁膜63が隔壁に対応し、基板41aが基板に対応し、液状体65aが第1液状体に対応し、液状体67aが第2液状体に対応し、正孔注入層65が第1層としての第1膜に対応し、正孔輸送層67が第2層としての第2膜に対応している。また、各画素5における画素電極29と共通電極33とが一対の電極に対応している。
また、基板41aに加熱処理を施す工程が、加熱工程に対応している。また、基板41aに酸素プラズマ処理を施す工程、及び基板41aにUVオゾン処理を施す工程のそれぞれが、親液化工程に対応している。また、基板41aにCF4プラズマ処理を施す工程が、撥液化工程に対応している。
In the present embodiment, the insulating film 63 corresponds to the partition, the substrate 41a corresponds to the substrate, the liquid material 65a corresponds to the first liquid material, the liquid material 67a corresponds to the second liquid material, and the hole injection layer. 65 corresponds to the first film as the first layer, and the hole transport layer 67 corresponds to the second film as the second layer. Further, the pixel electrode 29 and the common electrode 33 in each pixel 5 correspond to a pair of electrodes.
Further, the step of performing the heat treatment on the substrate 41a corresponds to the heating step. Each of the step of performing oxygen plasma treatment on the substrate 41a and the step of performing UV ozone treatment on the substrate 41a corresponds to the lyophilic step. Further, the process of performing the CF 4 plasma treatment on the substrate 41a corresponds to the liquid repellency process.

本実施形態では、酸素プラズマ処理によって画素電極29及び絶縁膜61に親液性が付与される。また、CF4プラズマ処理によって、絶縁膜63に撥液性が付与される。このため、基板41aにおいて絶縁膜63によって囲まれている領域内に液状体65aを配置したときに、液状体65aが画素電極29及び絶縁膜61に濡れ広がりやすく、且つ液状体65aが絶縁膜63にはじかれやすい。このため、液状体65aが絶縁膜63を乗り越えにくい。これらの結果、正孔注入層65を、絶縁膜61によって囲まれている領域内において画素電極29及び絶縁膜61にわたって形成しやすくすることができる。つまり、各画素5において、例えば正孔注入層65の一部が欠落してしまうという欠陥の発生を低く抑えやすくすることができる。 In the present embodiment, lyophilicity is imparted to the pixel electrode 29 and the insulating film 61 by oxygen plasma treatment. In addition, liquid repellency is imparted to the insulating film 63 by the CF 4 plasma treatment. For this reason, when the liquid material 65a is disposed in the region surrounded by the insulating film 63 on the substrate 41a, the liquid material 65a is likely to wet and spread on the pixel electrode 29 and the insulating film 61, and the liquid material 65a is formed into the insulating film 63. Easy to be repelled. For this reason, it is difficult for the liquid material 65 a to get over the insulating film 63. As a result, the hole injection layer 65 can be easily formed over the pixel electrode 29 and the insulating film 61 in the region surrounded by the insulating film 61. That is, in each pixel 5, it is possible to easily suppress the occurrence of a defect that a part of the hole injection layer 65 is lost, for example.

また、本実施形態では、酸素プラズマ処理及びCF4プラズマ処理の後に、基板41aに加熱処理が施される。これによって、絶縁膜63によって囲まれている領域内において正孔注入層65にわたって液状体67aが濡れ広がりやすくなる。このため、正孔輸送層67を、絶縁膜63によって囲まれている領域内において正孔注入層65にわたって形成しやすくすることができる。
発光層69においても同様の効果が得られる。液状体69aは、絶縁膜63によって囲まれている領域内において正孔輸送層67にわたって濡れ広がりやすくなる。
In this embodiment, the substrate 41a is subjected to heat treatment after the oxygen plasma treatment and the CF 4 plasma treatment. As a result, the liquid 67a easily spreads over the hole injection layer 65 in the region surrounded by the insulating film 63. For this reason, the hole transport layer 67 can be easily formed over the hole injection layer 65 in the region surrounded by the insulating film 63.
The same effect can be obtained in the light emitting layer 69. The liquid 69a is easily spread over the hole transport layer 67 in the region surrounded by the insulating film 63.

上述したように、本実施形態では、正孔注入層65、正孔輸送層67及び発光層69のそれぞれを、絶縁膜63によって囲まれている領域内にわたって形成しやすくすることができる。この結果、複数の画素5において、例えば画素5内で各層の一部が欠落する欠陥画素の発生を低く抑えることができる。このため、表示装置1の表示における表示品位を向上させやすくすることができる。   As described above, in this embodiment, each of the hole injection layer 65, the hole transport layer 67, and the light emitting layer 69 can be easily formed over a region surrounded by the insulating film 63. As a result, in the plurality of pixels 5, for example, it is possible to suppress the occurrence of defective pixels in which a part of each layer is missing in the pixel 5. For this reason, the display quality in the display of the display device 1 can be easily improved.

ここで、実施例及び比較例について説明する。
以下に説明する実施例及び比較例では、それぞれ、ガラス基板上に、ITOの膜と、アクリル樹脂の膜とを並べて形成したものを試料とした。同じ条件で作成した3つの試料を準備した。3つの試料は、試料1、試料2及び試料3として識別される。
試料1〜試料3に、酸素プラズマ処理、UVオゾン処理、及びCF4プラズマ処理を施した。これらの処理の順序及び条件は、前述した順序及び条件と同等にした。
Here, examples and comparative examples will be described.
In Examples and Comparative Examples described below, samples formed by arranging an ITO film and an acrylic resin film on a glass substrate were used as samples. Three samples prepared under the same conditions were prepared. The three samples are identified as Sample 1, Sample 2 and Sample 3.
Samples 1 to 3 were subjected to oxygen plasma treatment, UV ozone treatment, and CF 4 plasma treatment. The order and conditions of these processes were made the same as the order and conditions described above.

(実施例1)
温度を200℃とし、保持時間を10分とする条件で、試料1に加熱処理を施した。
次いで、ITOの膜及びアクリル樹脂の膜のそれぞれの上に、液状体65aを塗布して接触角を測定した。なお、接触角の測定には、微小接触角計FTA4000(First Ten Angstroms社製)を使用した。
ITOの膜における接触角は、9度であった。また、アクリル樹脂の膜における接触角は、90度であった。
Example 1
Sample 1 was subjected to heat treatment under the conditions of a temperature of 200 ° C. and a holding time of 10 minutes.
Next, a liquid material 65a was applied on each of the ITO film and the acrylic resin film, and the contact angle was measured. For the measurement of the contact angle, a fine contact angle meter FTA4000 (manufactured by First Ten Angstroms) was used.
The contact angle in the ITO film was 9 degrees. The contact angle in the acrylic resin film was 90 degrees.

次いで、液状体65aを減圧乾燥法で乾燥させてから焼成を行った。これによって、ITOの膜上に、正孔注入層65と同等の第1膜を形成した。乾燥条件及び焼成条件は、前述した条件と同等にした。
次いで、第1膜及びアクリル樹脂の膜のそれぞれの上に、液状体67aを塗布して接触角を測定した。
第1膜における接触角は、9度であった。また、アクリル樹脂の膜における接触角は、90度であった。
Next, the liquid body 65a was dried by a reduced pressure drying method and then fired. Thus, a first film equivalent to the hole injection layer 65 was formed on the ITO film. Drying conditions and firing conditions were the same as those described above.
Next, the liquid 67a was applied on each of the first film and the acrylic resin film, and the contact angle was measured.
The contact angle in the first film was 9 degrees. The contact angle in the acrylic resin film was 90 degrees.

次いで、液状体67aを減圧乾燥法で乾燥させてから焼成を行った。これによって、第1膜上に、正孔輸送層67と同等の第2膜を形成した。乾燥条件及び焼成条件は、前述した条件と同等にした。
次いで、第2膜及びアクリル樹脂の膜のそれぞれの上に、液状体69aを塗布して接触角を測定した。
第2膜における接触角は、9度であった。また、アクリル樹脂の膜における接触角は、90度であった。
Next, the liquid 67a was dried by a reduced pressure drying method and then fired. As a result, a second film equivalent to the hole transport layer 67 was formed on the first film. Drying conditions and firing conditions were the same as those described above.
Next, a liquid material 69a was applied on each of the second film and the acrylic resin film, and the contact angle was measured.
The contact angle in the second film was 9 degrees. The contact angle in the acrylic resin film was 90 degrees.

(実施例2)
温度を100℃とし、保持時間を10分とする条件で、試料2に加熱処理を施した。
次いで、ITOの膜及びアクリル樹脂の膜のそれぞれの上に、液状体65aを塗布して接触角を測定した。
ITOの膜における接触角は、9度であった。また、アクリル樹脂の膜における接触角は、90度であった。
(Example 2)
Sample 2 was subjected to heat treatment under the conditions of a temperature of 100 ° C. and a holding time of 10 minutes.
Next, a liquid material 65a was applied on each of the ITO film and the acrylic resin film, and the contact angle was measured.
The contact angle in the ITO film was 9 degrees. The contact angle in the acrylic resin film was 90 degrees.

次いで、液状体65aを減圧乾燥法で乾燥させてから焼成を行った。これによって、ITOの膜上に、正孔注入層65と同等の第1膜を形成した。乾燥条件及び焼成条件は、前述した条件と同等にした。
次いで、第1膜及びアクリル樹脂の膜のそれぞれの上に、液状体67aを塗布して接触角を測定した。
第1膜における接触角は、15度であった。また、アクリル樹脂の膜における接触角は、90度であった。
Next, the liquid body 65a was dried by a reduced pressure drying method and then fired. Thus, a first film equivalent to the hole injection layer 65 was formed on the ITO film. Drying conditions and firing conditions were the same as those described above.
Next, the liquid 67a was applied on each of the first film and the acrylic resin film, and the contact angle was measured.
The contact angle in the first film was 15 degrees. The contact angle in the acrylic resin film was 90 degrees.

次いで、液状体67aを減圧乾燥法で乾燥させてから焼成を行った。これによって、第1膜上に、正孔輸送層67と同等の第2膜を形成した。乾燥条件及び焼成条件は、前述した条件と同等にした。
次いで、第2膜及びアクリル樹脂の膜のそれぞれの上に、液状体69aを塗布して接触角を測定した。
第2膜における接触角は、15度であった。また、アクリル樹脂の膜における接触角は、90度であった。
Next, the liquid 67a was dried by a reduced pressure drying method and then fired. As a result, a second film equivalent to the hole transport layer 67 was formed on the first film. Drying conditions and firing conditions were the same as those described above.
Next, a liquid material 69a was applied on each of the second film and the acrylic resin film, and the contact angle was measured.
The contact angle in the second film was 15 degrees. The contact angle in the acrylic resin film was 90 degrees.

(比較例)
試料3に加熱処理を施さずに、ITOの膜及びアクリル樹脂の膜のそれぞれの上に、液状体65aを塗布して接触角を測定した。
ITOの膜における接触角は、9度であった。また、アクリル樹脂の膜における接触角は、90度であった。
(Comparative example)
Without subjecting the sample 3 to heat treatment, the liquid material 65a was applied on each of the ITO film and the acrylic resin film, and the contact angle was measured.
The contact angle in the ITO film was 9 degrees. The contact angle in the acrylic resin film was 90 degrees.

次いで、液状体65aを減圧乾燥法で乾燥させてから焼成を行った。これによって、ITOの膜上に、正孔注入層65と同等の第1膜を形成した。乾燥条件及び焼成条件は、前述した条件と同等にした。
次いで、第1膜及びアクリル樹脂の膜のそれぞれの上に、液状体67aを塗布して接触角を測定した。
第1膜における接触角は、50度であった。また、アクリル樹脂の膜における接触角は、90度であった。
Next, the liquid body 65a was dried by a reduced pressure drying method and then fired. Thus, a first film equivalent to the hole injection layer 65 was formed on the ITO film. Drying conditions and firing conditions were the same as those described above.
Next, the liquid 67a was applied on each of the first film and the acrylic resin film, and the contact angle was measured.
The contact angle in the first film was 50 degrees. The contact angle in the acrylic resin film was 90 degrees.

次いで、液状体67aを減圧乾燥法で乾燥させてから焼成を行った。乾燥条件及び焼成条件は、前述した条件と同等にした。
しかしながら、第1膜上には、正孔輸送層67と同等の第2膜を形成することができなかった。第1膜上の液状体67aの接触角が50度であったため、液状体67aに乾燥及び焼成を行っても膜が形成されなかった。このため、試料3については、以後の評価を継続することができなかった。
Next, the liquid 67a was dried by a reduced pressure drying method and then fired. Drying conditions and firing conditions were the same as those described above.
However, a second film equivalent to the hole transport layer 67 could not be formed on the first film. Since the contact angle of the liquid 67a on the first film was 50 degrees, no film was formed even when the liquid 67a was dried and fired. For this reason, about the sample 3, subsequent evaluation was not able to be continued.

実施例1、実施例2及び比較例の結果を下記表1に示す。   The results of Example 1, Example 2, and Comparative Example are shown in Table 1 below.

Figure 2010015855
なお、表1では、アクリル樹脂の膜が「樹脂の膜」と表記されている。
Figure 2010015855
In Table 1, an acrylic resin film is described as a “resin film”.

実施例1、実施例2及び比較例の結果から、酸素プラズマ処理及びCF4プラズマ処理の後に基板41aに加熱処理を施すことが好ましいことが理解される。また、この結果から、同じ保持時間であれば、温度が高い方が好ましいことが理解される。逆の観点から、温度を低くすると、同等の濡れ性を得るのにかかる保持時間が長くなることが理解される。 From the results of Example 1, Example 2, and Comparative Example, it is understood that it is preferable to heat-treat the substrate 41a after the oxygen plasma treatment and the CF 4 plasma treatment. Further, from this result, it is understood that a higher temperature is preferable for the same holding time. From the opposite viewpoint, it is understood that when the temperature is lowered, the holding time required to obtain the same wettability is increased.

実施例1、実施例2及び比較例における各条件で作成した表示装置1の表示状態を観察した。その結果、実施例1及び実施例2のそれぞれに対応する表示装置1では、比較例に対応する表示装置よりも輝度ムラが軽減していることが確認された。   The display state of the display device 1 created under each condition in Example 1, Example 2, and Comparative Example was observed. As a result, in the display device 1 corresponding to each of Example 1 and Example 2, it was confirmed that the luminance unevenness was reduced as compared with the display device corresponding to the comparative example.

なお、本実施形態では、複数の画素5が設定され、画素5ごとに有機EL素子27を有する表示装置1を例に説明したが、実施の形態はこれに限定されない。実施の形態としては、有機EL素子27を表示領域7にわたって一連した状態で設けた照明装置などの形態もある。このような照明装置は、例えば液晶表示装置などの光源に好適である。   In the present embodiment, the display device 1 in which a plurality of pixels 5 are set and the organic EL element 27 is provided for each pixel 5 has been described as an example, but the embodiment is not limited thereto. As an embodiment, there is also a form such as a lighting device in which the organic EL elements 27 are arranged in a series over the display region 7. Such an illuminating device is suitable for a light source such as a liquid crystal display device.

また、本実施形態では、正孔輸送層67を第2層とする構成が採用されているが、構成はこれに限定されない。正孔を発生させ、且つ正孔を発光層69に送出することができる層が第1層として設けられていれば、発光層69を第2層とする構成も採用され得る。   In the present embodiment, a configuration in which the hole transport layer 67 is the second layer is employed, but the configuration is not limited to this. If a layer capable of generating holes and sending holes to the light emitting layer 69 is provided as the first layer, a configuration in which the light emitting layer 69 is the second layer may be employed.

また、本実施形態では、有機層31からの光を封止基板13を介して表示面3から射出するトップエミッション型の有機EL装置を例に説明したが、有機EL装置はこれに限定されない。有機EL装置は、有機層31からの光を素子基板11を介して底面15から射出するボトムエミッション型も採用され得る。
ボトムエミッション型の場合、有機層31からの光が底面15から射出されるので、底面15側に表示面3が設定される。つまり、ボトムエミッション型では、表示装置1の底面15と表示面3とが入れ替わる。そして、ボトムエミッション型では、底面15側が上側に対応し、表示面3側が下側に対応する。
In this embodiment, the top emission type organic EL device that emits light from the organic layer 31 from the display surface 3 through the sealing substrate 13 is described as an example. However, the organic EL device is not limited to this. As the organic EL device, a bottom emission type in which light from the organic layer 31 is emitted from the bottom surface 15 through the element substrate 11 may be employed.
In the case of the bottom emission type, since the light from the organic layer 31 is emitted from the bottom surface 15, the display surface 3 is set on the bottom surface 15 side. That is, in the bottom emission type, the bottom surface 15 of the display device 1 and the display surface 3 are interchanged. In the bottom emission type, the bottom surface 15 side corresponds to the upper side, and the display surface 3 side corresponds to the lower side.

なお、ボトムエミッション型の場合には、画素電極29の材料として、ITOやインジウム亜鉛酸化物などが採用され得る。また、電子注入層71の材料として、カルシウムなどが採用され得る。共通電極33の材料として、アルミニウムなどが採用され得る。
なお、試料1〜試料3において、ITOの膜を白金の膜に替えた場合にも、上述した実施例1、実施例2及び比較例の結果と同様の結果が得られた。
In the case of the bottom emission type, ITO, indium zinc oxide, or the like can be adopted as the material of the pixel electrode 29. In addition, calcium or the like can be adopted as a material for the electron injection layer 71. Aluminum or the like can be used as the material of the common electrode 33.
In Samples 1 to 3, when the ITO film was replaced with a platinum film, the same results as those of the above-described Example 1, Example 2, and Comparative Example were obtained.

上述した表示装置1は、例えば、図11に示す電子機器500の表示部510に適用され得る。この電子機器500は、携帯電話機である。この電子機器500は、操作ボタン511を有している。表示部510は、操作ボタン511で入力した内容や着信情報を始めとする様々な情報について表示を行うことができる。この電子機器500では、表示部510に表示装置1が適用されているので、各画素5における輝度ムラが低く抑えられる。   The display device 1 described above can be applied to, for example, the display unit 510 of the electronic device 500 illustrated in FIG. The electronic device 500 is a mobile phone. This electronic device 500 has an operation button 511. The display unit 510 can display various information including information input by the operation buttons 511 and incoming call information. In this electronic apparatus 500, since the display device 1 is applied to the display unit 510, luminance unevenness in each pixel 5 can be suppressed low.

なお、電子機器500としては、携帯電話機に限られず、モバイルコンピュータ、デジタルスチルカメラ、デジタルビデオカメラ、カーナビゲーションシステム用の表示機器などの車載機器、オーディオ機器等の種々の電子機器が挙げられる。   The electronic device 500 is not limited to a mobile phone, and includes various electronic devices such as mobile computers, digital still cameras, digital video cameras, in-vehicle devices such as display devices for car navigation systems, and audio devices.

本実施形態における表示装置を示す平面図。The top view which shows the display apparatus in this embodiment. 図1中のA−A線における断面図。Sectional drawing in the AA in FIG. 本実施形態における複数の画素の一部を示す平面図。FIG. 3 is a plan view showing a part of a plurality of pixels in the embodiment. 本実施形態における表示装置の回路構成を示す図。1 is a diagram showing a circuit configuration of a display device in an embodiment. 図3中のC−C線における断面図。Sectional drawing in the CC line | wire in FIG. 本実施形態での素子基板の製造工程を説明する図。The figure explaining the manufacturing process of the element substrate in this embodiment. 本実施形態での素子基板の製造工程を説明する図。The figure explaining the manufacturing process of the element substrate in this embodiment. 本実施形態での酸素プラズマ処理に適用されるプラズマ処理装置の一例の概略の構成を示す断面図。Sectional drawing which shows the structure of an outline of an example of the plasma processing apparatus applied to the oxygen plasma processing in this embodiment. 本実施形態でのUVオゾン処理に適用されるUVオゾン処理装置の一例の概略の構成を示す断面図。Sectional drawing which shows the schematic structure of an example of the UV ozone treatment apparatus applied to the UV ozone treatment in this embodiment. 本実施形態での素子基板の製造工程を説明する図。The figure explaining the manufacturing process of the element substrate in this embodiment. 本実施形態における表示装置を適用した電子機器の斜視図。The perspective view of the electronic device to which the display apparatus in this embodiment is applied.

符号の説明Explanation of symbols

1…表示装置、3…表示面、5…画素、7…表示領域、11…素子基板、15…底面、27…有機EL素子、29…画素電極、31…有機層、33…共通電極、41…第1基板、41a…基板、61…絶縁膜、62…領域、63…絶縁膜、65…正孔注入層、65a…液状体、65b…液滴、67…正孔輸送層、67a…液状体、67b…液滴、69…発光層、69a…液状体、69b…液滴、71…電子注入層、81…駆動素子層、83…プラズマ処理装置、111…UVオゾン処理装置、131…液滴吐出ヘッド、500…電子機器、510…表示部。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Display apparatus, 3 ... Display surface, 5 ... Pixel, 7 ... Display area, 11 ... Element substrate, 15 ... Bottom surface, 27 ... Organic EL element, 29 ... Pixel electrode, 31 ... Organic layer, 33 ... Common electrode, 41 1st substrate, 41a ... substrate, 61 ... insulating film, 62 ... region, 63 ... insulating film, 65 ... hole injection layer, 65a ... liquid, 65b ... droplet, 67 ... hole transport layer, 67a ... liquid Body, 67b ... droplet, 69 ... light emitting layer, 69a ... liquid, 69b ... droplet, 71 ... electron injection layer, 81 ... drive element layer, 83 ... plasma treatment apparatus, 111 ... UV ozone treatment apparatus, 131 ... liquid Drop ejection head, 500... Electronic device, 510.

Claims (15)

隔壁が平面視で画素形成領域を区画するように設けられた基板を用意する工程と、
前記隔壁の少なくとも一部に、第1液状体に対して前記隔壁が有する親液性よりも大きな親液性を付与する親液化工程と、
前記第1液状体に対して親液化された前記隔壁よりも、前記第1液状体に対して大きな撥液性を有するように、前記隔壁の一部に撥液性を付与する撥液化工程と、
前記基板を加熱する加熱工程と、
をこの順番で有することを特徴とする基板の処理方法。
A step of preparing a substrate in which a partition wall is provided so as to partition a pixel formation region in plan view;
A lyophilic step of imparting at least a part of the partition with a lyophilic property greater than the lyophilic property of the partition with respect to the first liquid;
A liquid repellency step for imparting liquid repellency to a part of the partition so as to have a greater liquid repellency with respect to the first liquid than the partition made lyophilic with respect to the first liquid. ,
A heating step of heating the substrate;
In this order.
前記隔壁は、有機材料を含む材料で構成されており、
前記加熱工程では、前記基板を50℃以上且つ280℃未満の範囲で加熱することを特徴とする請求項1に記載の基板の処理方法。
The partition is made of a material containing an organic material,
2. The substrate processing method according to claim 1, wherein in the heating step, the substrate is heated in a range of 50 ° C. or higher and lower than 280 ° C. 3.
前記撥液化工程では、フッ素及びフッ素化合物のうちの少なくとも一方を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする請求項1又は2に記載の基板の処理方法。   3. The substrate processing method according to claim 1, wherein in the liquid repellency step, the substrate is subjected to a plasma treatment in an environment containing a gas containing at least one of fluorine and a fluorine compound. 前記親液化工程では、酸素を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の基板の処理方法。   4. The substrate processing method according to claim 1, wherein in the lyophilic step, plasma processing is performed on the substrate in an environment containing a gas containing oxygen. 5. 隔壁が平面視で画素形成領域を区画するように設けられた基板を用意する工程と、
前記隔壁の少なくとも一部に、第1液状体に対して前記隔壁が有する親液性よりも大きな親液性を付与する親液化工程と、
前記第1液状体に対して親液化された前記隔壁よりも、前記第1液状体に対して大きな撥液性を有するように、前記隔壁の一部に撥液性を付与する撥液化工程と、
前記基板を加熱する加熱工程と、
前記加熱工程の後に、前記隔壁によって囲まれている前記画素形成領域内に前記第1液状体を配置する工程と、
前記第1液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、前記第1液状体に含まれる物質で第1膜を形成する工程と、
前記隔壁によって囲まれている前記画素形成領域内で前記第1膜上に第2液状体を配置する工程と、
前記第2液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、前記第2液状体に含まれる物質で第2膜を形成する工程と、
をこの順番で有することを特徴とする成膜方法。
A step of preparing a substrate in which a partition wall is provided so as to partition a pixel formation region in plan view;
A lyophilic step of imparting at least a part of the partition with a lyophilic property greater than the lyophilic property of the partition with respect to the first liquid;
A liquid repellency step for imparting liquid repellency to a part of the partition so as to have a larger liquid repellency to the first liquid than the partition made lyophilic to the first liquid. ,
A heating step of heating the substrate;
After the heating step, disposing the first liquid material in the pixel formation region surrounded by the partition;
Forming a first film with a substance contained in the first liquid by drying at least a part of the liquid contained in the first liquid;
Disposing a second liquid material on the first film in the pixel formation region surrounded by the partition;
Forming a second film with a substance contained in the second liquid by drying at least a part of the liquid contained in the second liquid;
In this order.
前記第1液状体と、前記第2液状体とが、互いに異なる組成を有していることを特徴とする請求項5に記載の成膜方法。   The film forming method according to claim 5, wherein the first liquid body and the second liquid body have different compositions. 前記隔壁は、有機材料を含む材料で構成されており、
前記加熱工程では、前記基板を50℃以上且つ280℃未満の範囲で加熱することを特徴とする請求項5又は6に記載の成膜方法。
The partition is made of a material containing an organic material,
The film forming method according to claim 5, wherein, in the heating step, the substrate is heated in a range of 50 ° C. or more and less than 280 ° C. 7.
前記撥液化工程では、フッ素及びフッ素化合物のうちの少なくとも一方を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする請求項5乃至7のいずれか一項に記載の成膜方法。   8. The plasma treatment is performed on the substrate in an environment containing a gas containing at least one of fluorine and a fluorine compound in the liquid repellency step. Film forming method. 前記親液化工程では、酸素を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする請求項5乃至8のいずれか一項に記載の成膜方法。   9. The film forming method according to claim 5, wherein in the lyophilic step, plasma treatment is performed on the substrate in an environment containing a gas containing oxygen. 複数の画素の前記画素ごとに、互いに対向する一対の電極と、前記一対の電極間に介在する有機層と、平面視で前記有機層を囲む隔壁と、を有し、前記有機層が少なくとも第1層と第2層とを含む複数の層を有している有機EL装置の製造方法であって、
前記隔壁を有する基板を用意する工程と、
前記隔壁の少なくとも一部に、第1液状体に対して前記隔壁が有する親液性よりも大きな親液性を付与する親液化工程と、
前記第1液状体に対して親液化された前記隔壁よりも、前記第1液状体に対して大きな撥液性を有するように、前記隔壁の一部に撥液性を付与する撥液化工程と、
前記基板を加熱する加熱工程と、
前記加熱工程の後に、前記隔壁によって囲まれている前記画素形成領域内に前記第1液状体を配置する工程と、
前記第1液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、前記第1液状体に含まれる物質で前記第1層を形成する工程と、
前記隔壁によって囲まれている前記画素形成領域内で前記第1層上に第2液状体を配置する工程と、
前記第2液状体に含まれる液体の少なくとも一部を乾燥させることにより、前記第2液状体に含まれる物質で前記第2層を形成する工程と、
をこの順番で有することを特徴とする有機EL装置の製造方法。
Each of the plurality of pixels includes a pair of electrodes facing each other, an organic layer interposed between the pair of electrodes, and a partition wall surrounding the organic layer in plan view, and the organic layer is at least a first layer A method for manufacturing an organic EL device having a plurality of layers including a first layer and a second layer,
Preparing a substrate having the partition;
A lyophilic step of imparting at least a part of the partition with a lyophilic property greater than the lyophilic property of the partition with respect to the first liquid;
A liquid repellency step for imparting liquid repellency to a part of the partition so as to have a larger liquid repellency to the first liquid than the partition made lyophilic to the first liquid. ,
A heating step of heating the substrate;
After the heating step, disposing the first liquid material in the pixel formation region surrounded by the partition;
Forming the first layer with a substance contained in the first liquid by drying at least a portion of the liquid contained in the first liquid;
Disposing a second liquid material on the first layer in the pixel formation region surrounded by the partition;
Forming the second layer with a substance contained in the second liquid material by drying at least part of the liquid contained in the second liquid material;
In this order. A method of manufacturing an organic EL device.
前記隔壁は、有機材料を含む材料で構成されており、
前記加熱工程では、前記基板を50℃以上且つ280℃未満の範囲で加熱することを特徴とする請求項10に記載の有機EL装置の製造方法。
The partition is made of a material containing an organic material,
The method for manufacturing an organic EL device according to claim 10, wherein in the heating step, the substrate is heated in a range of 50 ° C. or higher and lower than 280 ° C.
前記撥液化工程では、フッ素及びフッ素化合物のうちの少なくとも一方を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする請求項10又は11に記載の有機EL装置の製造方法。   12. The manufacturing of an organic EL device according to claim 10, wherein in the lyophobic process, the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing at least one of fluorine and a fluorine compound. Method. 前記親液化工程では、酸素を含むガスが含まれた環境下で前記基板にプラズマ処理を施すことを特徴とする請求項10乃至12のいずれか一項に記載の有機EL装置の製造方法。   13. The method of manufacturing an organic EL device according to claim 10, wherein in the lyophilic step, the substrate is subjected to plasma treatment in an environment containing a gas containing oxygen. 前記第2層が発光層であることを特徴とする請求項10乃至13のいずれか一項に記載の有機EL装置の製造方法。   The method for manufacturing an organic EL device according to claim 10, wherein the second layer is a light emitting layer. 前記第2層が正孔輸送層であることを特徴とする請求項10乃至13のいずれか一項に記載の有機EL装置の製造方法。   The method for manufacturing an organic EL device according to claim 10, wherein the second layer is a hole transport layer.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012079897A (en) * 2010-09-30 2012-04-19 Fujifilm Corp Method of manufacturing organic electroluminescent display device, and organic electroluminescent display device

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