JP2010015229A - 回路設計装置および回路設計方法 - Google Patents

回路設計装置および回路設計方法 Download PDF

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Abstract

【課題】必要な箇所に確実にエラー発生回路を配置する。また、ハードウェア回路の規模の増大を防止する。
【解決手段】回路設計装置1は、設計データ格納部2と、抽出部3と、回路配置部4とを有している。設計データ格納部2は、回路の設計データを格納する。抽出部3は、設計データ格納部2に格納されている設計データから、出力エラーチェックをするための機能を有する保護回路5、6を抽出する。回路配置部4は、抽出部3によって抽出された保護回路5、6にエラー検証用の検証用信号を供給するための信号供給用回路4aを配置し、信号供給用回路に選択的に検証用信号を供給するアクセス制御回路4cを配置する。
【選択図】図1

Description

本発明は、回路設計装置および回路設計方法に関し、特に、回路の設計データにエラー検証用の回路のデータを付加する回路設計装置および回路設計方法に関する。
アルファ線や中性子等の放射線によって生じたノイズによって、ハードウェア回路内のレジスタや、メモリセル等の記憶回路にエラーが発生することが知られている。
このため、ハードウェア回路を設計する際に、記憶回路にパリティチェック(Parity Check)やECC(Error Check and Correct)機能を盛り込んでエラーから保護(プロテクト)する技術が知られている。
これらの機能が正常に動作するか否かは、シミュレーション等によっては、検証することはできないため、実際にエラーを発生させて、検証する必要がある。
そこで、エラー保護を施している記憶回路に、エラーを発生させるための回路(エラー発生回路)を配置し、論理検証を行う技術が知られている。
また、他には、メモリ制御回路とメモリユニットとの間にアダプタを挿入し、アダプタで指定されたデータエラーを注入してメモリユニットに書き込ませ、読み出し時にメモリ制御回路の誤り検出/訂正機能を診断する技術が知られている。
特開平2−90334号公報 特開2004−21922号公報
エラー発生回路の配置を人手で行った場合、設計者のスキルの差によって、エラー発生回路の配置箇所のミスや、エラー発生回路自体の規模が大きくなってしまうという問題がある。
特に、エラー発生回路は、ハードウェア回路が備える本来の機能の動作には直接影響を及ぼさない回路であるため、その回路規模はできるだけ小さくするのが好ましい。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、必要な箇所に確実にエラー発生回路を配置することができる回路設計装置および回路設計方法を提供することを目的とする。
また、他の目的として、ハードウェア回路の規模の増大を防止することができる回路設計装置および回路設計方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、回路の設計データにエラー検証用の回路のデータを付加する回路設計装置が提供される。この回路設計装置は、抽出部と、回路配置部とを有している。
抽出部は、設計データ格納部に格納されている設計データから、出力エラーチェックをするための機能を有する記憶回路を抽出する。
回路配置部は、抽出部によって抽出された記憶回路にエラー検証用の検証用信号を供給するための信号供給用回路を配置し、信号供給用回路に選択的に検証用信号を供給するアクセス制御回路を配置する。
このような回路設計装置によれば、抽出部により、記憶回路が抽出される。回路配置部により、抽出部によって抽出された記憶回路に信号供給用回路が配置され、信号供給用回路に選択的に検証用信号を供給するアクセス制御回路が配置される。
開示の回路設計装置によれば、必要な箇所に確実に信号供給用回路を配置することができる。
以下、実施の形態を、図面を参照して詳細に説明する。
まず、実施の形態の概要について説明し、その後、実施の形態をより詳しく説明する。
図1は、実施の形態の概要を示す図である。
回路設計装置1は、設計データ格納部2と、抽出部3と、回路配置部4とを有している。
設計データ格納部2は、予め作成されたハードウェア回路の設計データを格納する。
抽出部3は、設計データ格納部2に格納されている設計データから、出力エラーチェックをするための機能を有する記憶回路を抽出する。
一例として図1に示す設計データ2aは、出力エラーチェックをするための機能を有する保護回路5および保護回路6と、出力エラーチェックをするための機能を有さない回路7とを有している。この場合、抽出部3は、保護回路5および保護回路6を抽出する。
回路配置部4は、抽出部3によって抽出された記憶回路にエラー検証用の検証用信号を供給するための信号供給用回路を配置し、信号供給用回路に選択的に検証用信号を供給するアクセス制御回路を配置する。
一例として図1に示す設計データ2bは、保護回路5および保護回路6にそれぞれ信号供給用回路4aおよび信号供給用回路4bを配置し、信号供給用回路4aおよび信号供給用回路4bに選択的に検証用信号を供給するアクセス制御回路4cを配置する。
このような回路設計装置1によれば、記憶回路に対して容易かつ確実に信号供給用回路を配置することができる。また、各信号供給用回路に対して1つのアクセス制御回路で制御するようにしたので、一元管理が可能となり、回路規模の増大を防止することができる。
以下、実施の形態をより詳しく説明する。
図2は、回路設計装置のハードウェア構成例を示す図である。
回路設計装置100は、CPU(Central Processing Unit)101によって装置全体が制御されている。CPU101には、バス107を介してRAM(Random Access Memory)102、ハードディスクドライブ(HDD:Hard Disk Drive)103、グラフィック処理装置104、入力インタフェース105、および通信インタフェース106が接続されている。
RAM102には、CPU101に実行させるOS(Operating System)のプログラムやアプリケーションプログラムの少なくとも一部が一時的に格納される。また、RAM102には、CPU101による処理に必要な各種データが格納される。HDD103には、OSやアプリケーションプログラムが格納される。また、HDD103内には、プログラムファイルが格納される。
グラフィック処理装置104には、モニタ104aが接続されている。グラフィック処理装置104は、CPU101からの命令に従って、画像をモニタ104aの画面に表示させる。入力インタフェース105には、キーボード105aとマウス105bとが接続されている。入力インタフェース105は、キーボード105aやマウス105bから送られてくる信号を、バス107を介してCPU101に送信する。
通信インタフェース106は、ネットワーク200に接続されている。通信インタフェース106は、ネットワーク200を介して、他のコンピュータとの間でデータの送受信を行う。
以上のようなハードウェア構成によって、本実施の形態の処理機能を実現することができる。このようなハードウェア構成のシステムにおいて、回路設計装置100内には、以下のような機能が設けられる。
図3は、回路設計装置の機能を示すブロック図である。
回路設計装置100は、入力設計データ格納部110と、データ読込部120と、保護回路抽出部130と、エラー検証回路配置部140と、出力設計データ格納部150と、フォーマル検証用プロパティ作成部160と、プロパティ格納部170とを有している。
入力設計データ格納部110は、エラー検証に必要な回路を配置する対象となる、例えばVerilogやVHDL(VHSIC Hardware Description Language)等で記述したモジュール(ハードウェア回路)の設計データ(例えばRTL(Register Transfer Level)等)を格納する。
データ読込部120は、設計者(ユーザ)のキーボード105aやマウス105bの操作に応じて、入力設計データ格納部110に格納されている設計データを読み込む。
保護回路抽出部130は、データ読込部120が読み込んだ設計データに含まれる、パリティチェックやECC機能等のエラーチェックをするための機能を盛り込んでエラーから保護されている記憶回路(以下、「保護回路」と言う)を抽出する。
例えば、保護回路抽出部130は、データ読込部120が読み込んだ設計データからエラーから保護されている記憶回路を検索する。この検索方法としては、例えば、エラー信号をバックトレースすることにより、記憶回路を検索する方法が挙げられる。
そして、例えば、記憶回路としてレジスタが検索された場合、保護回路抽出部130は、予め用意されたネーミングルールを適用することで、検索したレジスタが保護回路か否かを判断する。例えば、ネーミングルールが、「パリティが附されているレジスタは、「レジスタ名_p」という名前にする」というルールである場合、検索したレジスタに「_p」が附されていれば、これは保護回路であると判断し、このレジスタを抽出する。
また、検索されたレジスタが保護回路か否かを判断する他の例として、保護回路抽出部130が、検索したレジスタが、設計者が作成したリストに記載されているレジスタに一致するか否かを判断する。そして、一致するレジスタが存在する場合、これは保護回路であると判断し、このレジスタを抽出する。
エラー検証回路配置部140は、保護回路抽出部130が抽出した保護回路に対し、後述する処理を行い、その保護回路のエラー検証に必要な回路(以下、「エラー検証回路」と言う)を配置する。
出力設計データ格納部150は、エラー検証回路が配置された設計データを格納する。
フォーマル検証用プロパティ作成部160は、エラー検出回路をフォーマル検証するためのプロパティ(フォーマル検証用プロパティ)を作成する。
なお、フォーマル検証とは、数学的なモデルで表現した設計、仕様を、数学的推論により検証する、静的な検証手法である。
プロパティ格納部170は、フォーマル検証用プロパティ作成部160によって作成されたプロパティを格納する。
次に、回路設計装置100の動作について説明する。
図4および図5は、回路設計装置の動作を示すフローチャートである。
まず、データ読込部120が、入力設計データ格納部110から設計データを読み込む(ステップS1)。
次に、保護回路抽出部130が、データ読込部120が読み込んだ設計データから、保護回路を抽出する(ステップS2)。
次に、エラー検証回路配置部140が、保護回路抽出部130によって抽出された全ての保護回路に対し、以下のステップS4およびステップS6の内容をチェックしたか否かを判断する(ステップS3)。
チェックしていない保護回路が存在する場合(ステップS3のNo)、エラー検証回路配置部140が、抽出された保護回路を実際に検出できたか否かを判断する(ステップS4)。
抽出された保護回路が検出できない場合(ステップS4のNo)、エラー検証回路配置部140は、エラーメッセージをモニタ104aに出力する(ステップS5)。その後、ステップS3に移行し、未処理の保護回路が存在すれば、ステップS4以降の処理を継続して行う。
一方、抽出された保護回路が検出できた場合(ステップS4のYes)、エラー検証回路配置部140が、その保護回路が、外部から直接アクセス可能か否かを判断する(ステップS6)。
検出できた保護回路が、外部から直接アクセス可能である場合、(ステップS6のYes)、エラー検証回路配置部140は、エラー検証回路を配置する必要はないと判断し、警告メッセージをモニタ104aに出力する(ステップS7)。その後、ステップS3に移行し、未処理の保護回路が存在すれば、ステップS4以降の処理を継続して行う。
一方、検出できた保護回路が、外部からアクセス可能ではない場合(ステップS6のNo)、エラー検証回路配置部140は、その保護回路に対応するセレクタを配置する。さらに、このセレクタと後述するアクセス制御モジュールとを接続するためのポートを配置する(ステップS8)。なお、この回路の配置場所については、後述する。また、エラー検証回路配置部140は、配置したセレクタに入力する信号名を決定する。
次に、フォーマル検証用プロパティ作成部160が、セレクタが配置された保護回路それぞれについてフォーマル検証用プロパティを作成する(ステップS9)。なお、この処理については、後に詳述する。
その後、ステップS3に移行し、未処理の保護回路が存在すれば、ステップS4以降の処理を継続して行う。
一方、ステップS3において、全ての保護回路に対しステップS4およびステップS6の内容をチェックした場合(ステップS3のYes)、以下の処理を行う。
対応するセレクタが配置された保護回路が、最上位階層以外のモジュールに存在する場合、エラー検証回路配置部140が、そのモジュールをステップS8にて配置したポートに結線する(図5のステップS10)。
次に、エラー検証回路配置部140が、アクセス制御モジュールを配置する(ステップS11)。
このアクセス制御モジュールは、ステップS8にてセレクタが配置された保護回路に対し、外部からの要請を受けてエラーを意図的に発生させる回路である。
なお、セレクタおよびアクセス制御モジュールが、エラー検証回路の主要部を構成している。
次に、エラー検証回路配置部140が、アクセス制御モジュールを、ステップS8にて配置したポートに結線する(ステップS12)。
次に、エラー検証回路配置部140が、エラー検証回路が配置された設計データを書き出す(ステップS13)。
次に、フォーマル検証用プロパティ作成部160が、ステップS9にて作成したフォーマル検証用プロパティを出力する(ステップS14)。
次に、エラー検証回路配置部140が、アクセス制御モジュールとレジスタアクセスパスとを結線する指示をモニタ104aに出力する(ステップS15)。これにより、設計者にアクセス制御モジュールとレジスタアクセスパスとの結線を促す。
以上で処理の説明を終了する。
以下、具体例を用いて処理の内容を説明する。
図6は、エラー検証回路配置前の回路の一例を示す図である。
モジュール10は、複数の階層を有しており、各階層に必要に応じて最小限の回路単位を示すリーフ(Leaf)モジュール20a、20bが設けられている。
なお、本実施の形態では、リーフモジュール20a、20bの回路構成はそれぞれ等しく、説明を分かりやすくするために別の符号を附している。
図6では、トップモジュール(最上位のモジュール)11の直下にリーフモジュール20aが設けられている。また、中間モジュール(トップモジュールの下位のモジュール)12内にリーフモジュール20bが設けられている。
リーフモジュール20a、20bは、それぞれ、レジスタ(記憶回路)Reg1、Reg2と、有限ステートマシン(Finite State Machine)21と、エラーチェッカー(Error CHecKer)22、23と、OR回路24と、機能ブロック(FuNCtion)25とを有している。
レジスタReg1、Reg2は、それぞれパリティやECC等でエラー保護されている。なお、レジスタReg1は、リーフモジュール20a(20b)の外部から直接アクセス可能なレジスタである。
有限ステートマシン21は、レジスタReg1、Reg2の後段に設けられており、レジスタReg1、Reg2の出力に応じて変化する所定のステートをレジスタReg2に出力する。
エラーチェッカー22は、レジスタReg1が出力するエラーの有無をチェックする。また、エラーチェッカー23は、レジスタReg2が出力するエラーの有無をチェックする。
エラーチェッカー22、23は、それぞれエラーを検出すると、「H」の論理を出力する。
OR回路24は、エラーチェッカー22、23のうち、いずれか一方のまたは両方のエラーチェッカーがエラーを検出すると、そのエラーをハードエラー信号としてリーフモジュール20a(20b)の外部に出力する。
機能ブロック25は、レジスタReg1の出力に応じて、所定の信号処理を行う。
なお、説明を分かりやすくするため、図6には保護回路が存在するリーフモジュールのみを図示したが、トップモジュール11および中間モジュール12内には、保護回路が存在しない他のリーフモジュールが配置されていてもよい。
図7は、エラー検証回路配置後の回路の一例を示す図である。
リーフモジュール20cは、リーフモジュール20aに対応しており、リーフモジュール20dは、リーフモジュール20bに対応している。
なお、リーフモジュール20c、20dの回路構成はそれぞれ等しく、説明を分かりやすくするために別の符号を附している。
リーフモジュール20c、20dは、それぞれレジスタReg2の前段に、エラー注入のためのセレクタ26を備えている点が、リーフモジュール20a、20bとは異なっている。
なお、図4のステップS6にて述べたように、レジスタReg1は外部から直接アクセスできるため、前段にセレクタは配置されていない。
リーフモジュール20c、20dにおいて、セレクタ26は、ポートp1を介して、後述するアクセス制御モジュール30に接続されている。
これらセレクタ26は、それぞれアクセス制御モジュール30が出力するセレクト信号に応じて、有限ステートマシン21が出力する信号と、アクセス制御モジュール30が出力するエラー検証用信号のどちらを受けつけるかを選択する。
また、図5のステップS10にて述べたように、アクセス制御モジュール30は、トップモジュール11の直下に配置されている。トップモジュール11の直下に配置することで、リーフモジュール20c、20dのそれぞれのセレクタ26との配線を容易にすることができる。ただし、アクセス制御モジュール30を中間モジュールの下に配置することも可能である。
アクセス制御モジュール30は、レジスタアクセス制御部31と、セレクト信号制御部32と、エラー検証用信号格納部33とを有している。
レジスタアクセス制御部31は、複数のレジスタアクセスプロトコルをサポートしている。
なお、図5のステップS15にて述べたように、レジスタアクセス制御部31とレジスタアクセスパスとは、モニタに出力した指示に応じて設計者によって結線される。
レジスタアクセス制御部31は、レジスタアクセスパスを通じて入力される、エラー検証のためのレジスタアクセス命令ライトデータ(検証用信号の出力要求)を受信する。そして、受信したデータの内容に応じてリーフモジュール20cまたはリーフモジュール20dにエラーを発生させるための指示をセレクト信号制御部32およびエラー検証用信号格納部33に出力する。
また、レジスタアクセス制御部31は、セレクト信号制御部32に格納されているデータまたはエラー検証用信号格納部33に格納されているデータを、レジスタリードデータとして出力する。
セレクト信号制御部32は、レジスタアクセス制御部31からの指示に応じてエラー検証用信号の出力先のセレクタ26を決定するセレクト信号を出力する。
エラー検証用信号格納部33には、リーフモジュール20c、20dに対して与えるエラー検証用の信号(エラー検証用信号)が格納されている。
エラー検証用信号格納部33は、レジスタアクセス制御部31からの指示に応じてエラー検証用信号を出力する。より詳しくは、レジスタアクセス制御部31の指示に応じてセレクト信号制御部32が出力したセレクト信号の出力先のリーフモジュールに対してエラー検証用信号を出力する。
図8は、レジスタアクセス制御部がサポートするプロトコルの一例を示す図である。
レジスタアクセス制御部31には、レジスタアクセス命令ライトデータが備えるXビット(Xは自然数)のアドレスデータ信号と、1ビットのライトイネーブル信号と、Yビット(Yは自然数)のライトデータとが入力される。なお、XおよびYの値は、設計者が指定する。
レジスタアクセス制御部31は、ライトイネーブル信号を受信した場合、Xビットのアドレスデータ信号によって指定されたアドレスに、Yビットのライトデータを書き込む。
また、レジスタアクセス制御部31は、レジスタリードデータとして、1ビットのリード完了データと、Yビットのリードデータとを出力する。
レジスタアクセス制御部31は、リード完了データを出力すると同時(または出力した後)に、Yビットのリードデータを出力する。
図9は、セレクト信号制御部の構成を示す図である。
セレクト信号制御部32は、1つまたは複数(図9では1つ)のレジスタ32aを有している。セレクト信号制御部32のレジスタアドレスは、設計者が指定する。
レジスタ32aの各ビットは、それぞれレジスタReg2に1対1に対応しており、セレクト信号制御部32は、値が「1」のビットに対応するレジスタReg2のセレクタ26にセレクト信号を出力する。
図9では、一例としてビットb1が、リーフモジュール20cのレジスタReg2に対応しており、ビットb2が、リーフモジュール20dのレジスタReg2に対応している。
なお、レジスタ32aの個数は、レジスタReg2の個数と、設計者が指定するレジスタの最大ビット幅から、エラー検証回路配置部140が判断する。
また、レジスタ32aの各ビットの情報をデコードしてセレクト信号を出力するセレクタ26を特定するようにしてもよい。
図10は、エラー検証用信号格納部の構成を示す図である。
エラー検証用信号格納部33は、エラー検証用信号を格納するレジスタ33aを有している。レジスタ33aのビット幅、およびレジスタアドレスは、設計者が指定する。
なお、ビット幅が、設計者が指定するレジスタの最大ビット幅より小さい場合は、配置するビットの位置をオフセット指定して調整するようにしてもよい。
次に、ステップS13のフォーマル検証用プロパティの作成方法について具体的に説明する。
図11は、フォーマル検証用プロパティの作成処理を示すフローチャートである。
まず、フォーマル検証用プロパティ作成部160が、セレクト信号名と、エラー検証用信号名とを抽出する(ステップS21)。
次に、フォーマル検証用プロパティ作成部160が、保護回路のエラー保護種別(例えば、パリティやECC)と、ハードエラー信号名とを抽出する(ステップS22)。エラー保護種別は、例えば、パリティの場合、ネーミングルールを用いて抽出する。また、ECCの場合、前述したリストに基づいて抽出する。
次に、フォーマル検証用プロパティ作成部160が、ステップS21およびステップS22にて得られた情報に基づいて、フォーマル検証用プロパティを作成する(ステップS23)。
以上で、処理の説明を終了する。
図12は、フォーマル検証用プロパティの作成処理によって作成されたフォーマル検証用プロパティの例を示す図である。
フォーマル検証用プロパティ161は、「セレクト信号名(EC)が、エラー検証用信号名(ED)の受けつけを選択している状態で、エラー検証用信号が入力された場合、次のサイクルでハードエラー名(HE)が必ず発生する」ことを示すPSL(Property Specification Language)である。
なお、作成するプロパティは、これに限らず、例えば、「エラーが注入されなければ、ハードエラーを検出してはいけない」等のプロパティを作成することもできる。
以上述べたように、本実施の形態の回路設計装置100によれば、エラー検証回路を適切な位置に、容易かつ確実に配置することができる。これにより、設計者の手間を省くことができ、また、配置の漏れを防止することができる。
また、各セレクタ26に対して1つのアクセス制御モジュール30で制御するようにしたので、回路規模の増大を防止することができる。
また、エラー検証回路をフォーマルに検証するためのプロパティを自動作成することによって、論理検証をサポートすることができる。
以上、本発明の回路設計装置および回路設計方法を、図示の実施の形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する任意の構成のものに置換することができる。また、本発明に、他の任意の構成物や工程が付加されていてもよい。
また、本発明は、前述した実施の形態のうちの、任意の2以上の構成(特徴)を組み合わせたものであってもよい。
なお、上記の処理機能は、コンピュータによって実現することができる。その場合、回路設計装置100が有する機能の処理内容を記述したプログラムが提供される。そのプログラムをコンピュータで実行することにより、上記処理機能がコンピュータ上で実現される。処理内容を記述したプログラムは、コンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録しておくことができる。コンピュータで読み取り可能な記録媒体としては、例えば、磁気記録装置、光ディスク、光磁気記録媒体、半導体メモリ等が挙げられる。磁気記録装置としては、例えば、ハードディスク装置(HDD)、フレキシブルディスク(FD)、磁気テープ等が挙げられる。光ディスクとしては、例えば、DVD(Digital Versatile Disc)、DVD−RAM(Random Access Memory)、CD−ROM(Compact Disc Read Only Memory)、CD−R(Recordable)/RW(ReWritable)等が挙げられる。光磁気記録媒体としては、例えば、MO(Magneto-Optical disk)等が挙げられる。
プログラムを流通させる場合には、例えば、そのプログラムが記録されたDVD、CD−ROM等の可搬型記録媒体が販売される。また、プログラムをサーバコンピュータの記憶装置に格納しておき、ネットワークを介して、サーバコンピュータから他のコンピュータにそのプログラムを転送することもできる。
回路設計プログラムを実行するコンピュータは、例えば、可搬型記録媒体に記録されたプログラムもしくはサーバコンピュータから転送されたプログラムを、自己の記憶装置に格納する。そして、コンピュータは、自己の記憶装置からプログラムを読み取り、プログラムに従った処理を実行する。なお、コンピュータは、可搬型記録媒体から直接プログラムを読み取り、そのプログラムに従った処理を実行することもできる。また、コンピュータは、サーバコンピュータからプログラムが転送される毎に、逐次、受け取ったプログラムに従った処理を実行することもできる。
以上の実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
(付記1) 回路の設計データにエラー検証用の回路のデータを付加する回路設計装置において、
設計データ格納部に格納されている前記設計データから、出力エラーチェックをするための機能を有する記憶回路を抽出する抽出部と、
前記抽出部によって抽出された前記記憶回路にエラー検証用の検証用信号を供給するための信号供給用回路を配置し、前記信号供給用回路に選択的に前記検証用信号を供給するアクセス制御回路を配置する回路配置部と、
を有することを特徴とする回路設計装置。
(付記2) 前記アクセス制御回路は、前記検証用信号の出力要求を受けつけるアクセス制御部と、前記アクセス制御部の指示に応じて前記検証用信号を供給する前記信号供給用回路を選択する選択部と、前記検証用信号を格納し、前記アクセス制御部の指示に応じて前記選択部によって選択された前記信号供給用回路に前記検証用信号を出力する検証用信号出力部と、
を有することを特徴とする付記1記載の回路設計装置。
(付記3) 前記回路配置部は、外部から直接アクセス可能な前記記憶回路については前記信号供給用回路の配置対象から除外することを特徴とする付記1記載の回路設計装置。
(付記4) 前記信号供給用回路によって前記検証用信号が供給される前記記憶回路をフォーマル検証するためのプロパティを作成するプロパティ作成部をさらに有することを特徴とする付記1記載の回路設計装置。
(付記5) 前記プロパティ作成部は、前記検証用信号と、前記選択部が前記信号供給用回路を選択する際に出力する選択信号とを抽出し、
前記記憶回路が有する前記出力エラーチェックをするための機能の種別と、エラー発生時に前記記憶回路が出力する信号とを抽出して前記プロパティを作成することを特徴とする付記4記載の回路設計装置。
(付記6) 前記設計データ格納部を有することを特徴とする付記1記載の回路設計装置。
(付記7) 回路の設計データにエラー検証用の回路のデータを付加する回路設計方法において、
抽出手段が、設計データ格納部に格納されている前記設計データから、出力エラーチェックをするための機能を有する記憶回路を抽出し、
回路配置手段が、前記抽出手段によって抽出された前記記憶回路にエラー検証用の検証用信号を供給するための信号供給用回路を配置し、前記信号供給用回路に選択的に前記検証用信号を供給するアクセス制御回路を配置する、
ことを特徴とする回路設計方法。
(付記8) 回路の設計データにエラー検証用の回路のデータを付加する処理をコンピュータに実行させる回路設計プログラムにおいて、
前記コンピュータを、
前記設計データを格納する格納手段、
設計データ格納手段に格納されている前記設計データから、出力エラーチェックをするための機能を有する記憶回路を抽出する抽出手段、
前記抽出手段によって抽出された前記記憶回路にエラー検証用の検証用信号を供給するための信号供給用回路を配置し、前記信号供給用回路に選択的に前記検証用信号を供給するアクセス制御回路を配置する回路配置手段、
として機能させることを特徴とする回路設計プログラム。
実施の形態の概要を示す図である。 回路設計装置のハードウェア構成例を示す図である。 回路設計装置の機能を示すブロック図である。 回路設計装置の動作を示すフローチャートである。 回路設計装置の動作を示すフローチャートである。 エラー検証回路配置前の回路の一例を示す図である。 エラー検証回路配置後の回路の一例を示す図である。 レジスタアクセス制御部がサポートするプロトコルの一例を示す図である。 セレクト信号制御部の構成を示す図である。 エラー検証用信号格納部の構成を示す図である。 フォーマル検証用プロパティの作成処理を示すフローチャートである。 フォーマル検証用プロパティの例を示す図である。
符号の説明
1、100 回路設計装置
2 設計データ格納部
2a、2b 設計データ
3 抽出部
4 回路配置部
4a、4b 信号供給用回路
4c アクセス制御回路
5、6 保護回路
7 回路
10 モジュール
11 トップモジュール
12 中間モジュール
20a〜20d リーフモジュール
21 有限ステートマシン
22、23 エラーチェッカー
24 OR回路
25 機能ブロック
26 セレクタ
30 アクセス制御モジュール
31 レジスタアクセス制御部
32 セレクト信号制御部
32a、33a レジスタ
33 エラー検証用信号格納部
100 回路設計装置
110 入力設計データ格納部
120 データ読込部
130 保護回路抽出部
140 エラー検証回路配置部
150 出力設計データ格納部
160 フォーマル検証用プロパティ作成部
161 フォーマル検証用プロパティ
170 プロパティ格納部
p1 ポート
Reg1、Reg2 レジスタ

Claims (5)

  1. 回路の設計データにエラー検証用の回路のデータを付加する回路設計装置において、
    設計データ格納部に格納されている前記設計データから、出力エラーチェックをするための機能を有する記憶回路を抽出する抽出部と、
    前記抽出部によって抽出された前記記憶回路にエラー検証用の検証用信号を供給するための信号供給用回路を配置し、前記信号供給用回路に選択的に前記検証用信号を供給するアクセス制御回路を配置する回路配置部と、
    を有することを特徴とする回路設計装置。
  2. 前記アクセス制御回路は、前記検証用信号の出力要求を受けつけるアクセス制御部と、前記アクセス制御部の指示に応じて前記検証用信号を供給する前記信号供給用回路を選択する選択部と、前記検証用信号を格納し、前記アクセス制御部の指示に応じて前記選択部によって選択された前記信号供給用回路に前記検証用信号を出力する検証用信号出力部と、
    を有することを特徴とする請求項1記載の回路設計装置。
  3. 前記回路配置部は、外部から直接アクセス可能な前記記憶回路については前記信号供給用回路の配置対象から除外することを特徴とする請求項1記載の回路設計装置。
  4. 前記信号供給用回路によって前記検証用信号が供給される前記記憶回路をフォーマル検証するためのプロパティを作成するプロパティ作成部をさらに有することを特徴とする請求項1記載の回路設計装置。
  5. 回路の設計データにエラー検証用の回路のデータを付加する回路設計方法において、
    抽出手段が、設計データ格納部に格納されている前記設計データから、出力エラーチェックをするための機能を有する記憶回路を抽出し、
    回路配置手段が、前記抽出手段によって抽出された前記記憶回路にエラー検証用の検証用信号を供給するための信号供給用回路を配置し、前記信号供給用回路に選択的に前記検証用信号を供給するアクセス制御回路を配置する、
    ことを特徴とする回路設計方法。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8320641B2 (en) * 2004-10-28 2012-11-27 DigitalOptics Corporation Europe Limited Method and apparatus for red-eye detection using preview or other reference images
CN104424056B (zh) * 2013-08-19 2017-12-05 上海华虹宏力半导体制造有限公司 版图数据的层次检查方法
CN104268341A (zh) * 2014-09-28 2015-01-07 浪潮集团有限公司 一种pcb中器件高度超限高检查方法
US11210445B1 (en) * 2020-12-09 2021-12-28 Arteris, Inc. System and method for interface protection

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6373437A (ja) * 1986-09-17 1988-04-04 Fujitsu Ltd パリテイ回路検査方式
JP2001134629A (ja) * 1999-11-05 2001-05-18 Toshiba Corp シミュレーション方法およびシミュレーション装置
JP2007226818A (ja) * 2007-03-26 2007-09-06 Ricoh Co Ltd Lsiのテスト容易化設計方法
JP2009009270A (ja) * 2007-06-27 2009-01-15 Nec Electronics Corp 論理検証装置、論理検証方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0290334A (ja) 1988-09-28 1990-03-29 Hitachi Ltd 障害検出回路のシミュレーション方式
US5519630A (en) * 1993-03-22 1996-05-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. LSI automated design system
US6618841B1 (en) * 2000-11-06 2003-09-09 Verplex Systems, Inc. Non-assignable signal support during formal verification of circuit designs
JP3986898B2 (ja) 2002-06-20 2007-10-03 富士通株式会社 メモリ擬似故障注入装置
US7584315B2 (en) * 2003-04-10 2009-09-01 Panasonic Corporation Integrated circuit monitoring an internal signal converted from an analog input signal
JP3906825B2 (ja) * 2003-06-17 2007-04-18 日本電気株式会社 計算機システム、計算機システム起動方法およびプログラム
JP2007102977A (ja) * 2005-10-07 2007-04-19 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JP4864762B2 (ja) * 2007-02-19 2012-02-01 株式会社東芝 半導体記憶装置
US8429492B2 (en) * 2007-11-30 2013-04-23 Marvell World Trade Ltd. Error correcting code predication system and method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6373437A (ja) * 1986-09-17 1988-04-04 Fujitsu Ltd パリテイ回路検査方式
JP2001134629A (ja) * 1999-11-05 2001-05-18 Toshiba Corp シミュレーション方法およびシミュレーション装置
JP2007226818A (ja) * 2007-03-26 2007-09-06 Ricoh Co Ltd Lsiのテスト容易化設計方法
JP2009009270A (ja) * 2007-06-27 2009-01-15 Nec Electronics Corp 論理検証装置、論理検証方法

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