JP2009544122A - 共鳴励起イオン移動を提供するために質量分析計を動作する方法 - Google Patents
共鳴励起イオン移動を提供するために質量分析計を動作する方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009544122A JP2009544122A JP2009519762A JP2009519762A JP2009544122A JP 2009544122 A JP2009544122 A JP 2009544122A JP 2009519762 A JP2009519762 A JP 2009519762A JP 2009519762 A JP2009519762 A JP 2009519762A JP 2009544122 A JP2009544122 A JP 2009544122A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ions
- rod set
- group
- excitation
- field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005284 excitation Effects 0.000 title claims abstract description 95
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 57
- 238000012546 transfer Methods 0.000 title description 14
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 199
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims abstract description 25
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 claims description 78
- 238000000816 matrix-assisted laser desorption--ionisation Methods 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 4
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 4
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 claims description 2
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 7
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 description 2
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/422—Two-dimensional RF ion traps
- H01J49/4225—Multipole linear ion traps, e.g. quadrupoles, hexapoles
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/4265—Controlling the number of trapped ions; preventing space charge effects
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/427—Ejection and selection methods
- H01J49/4285—Applying a resonant signal, e.g. selective resonant ejection matching the secular frequency of ions
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Description
全てMDS Sciex,71 Four Valley Drive,Concord,Ontario,Canada,L4K 2V8から入手可能な、QTRAP、4000QTRAPおよびQSTAR XLの3つの異なるプラットフォームにおいて実験的測定を行った。QTRAP機器に対しては、Q1およびQ3線形イオントラップの両方が双極子共鳴励起で構成された。4000QTRAP機器に対しては、Q3が双極子励起で構成された。QSTAR XL Q1線形イオントラップでは、四極子の様式で共鳴励起が可能であった。
本発明の実施形態の一側面による、4000QTRAPのQ3線形イオントラップからの共鳴励起イオン移動を図2に示す。Q3線形イオントラップには、事前にAgilent 922+イオンの主同位体のみを充填した。この場合の922+排出の時間プロファイルは約400usecである。
Q1線形イオントラップからの共鳴移動を試験するために、QTRAPおよびQSTAR機器の両方においても実験を行った。両方の場合で、源からのイオンはQ1線形イオントラップに捕捉され、冷却され、次いで排出されて加圧衝突セルを通して移動され、さらに下流で質量分析される。加圧衝突セルの存在により、図4および5に示されるように、両方の機器で時間プロファイルが広がる。Q2におけるCADガス圧力を増加させると、時間プロファイルがさらに広がる結果となる。QTRAP機器はQ2において比較的小さな軸方向場が付加された傾斜ロッドLINAC(米国特許第6,111,250号)で構成可能であることに留意されたい。
図7および8を参照すると、RFおよび補助電圧におけるジャンプにより開始されるような排出プロセスの例がグラフとして示されている。両方の場合において、調整時間間隔または場調整時間は400usecであり、測定期間は3msである。図7のグラフでは、測定間に冷却期間は設けられておらず、図8のグラフでは、測定間に冷却期間が設けられている。すなわち、図8のグラフにおいて、補助AC電圧は、測定期間の間に約10msだけオフにされている。
動作中、調整時間間隔の後、トラップからイオンが射出されない1−2msの期間があってもよい。第1のイオンがトラップから射出されるのを待つ正確な時間は、概して、補助AC振幅により決定される。検出器が線形イオントラップの直後に設置されている場合、これに続いて、200usecまで狭くなり得るが、より典型的には600usecである、イオン電流における鋭いピークが生じる。その後、やや非共鳴であるが、より長い期間励起場に曝されているために励起されるイオンのイオン電流への寄与がある。したがって、排出された共鳴イオンは、単に観測窓をより短い期間に調整することにより、やや非共鳴のイオンから区別され得る。図9に示されるように、時間ピーク(図9では2つのピークのみ)のシーケンスが、排出されたイオンを検出することにより、励起時間間隔にわたり発生し得る。第1の(およびより高い)時間ピークは、共鳴イオンまたは選択されたイオンを表し、第2の時間ピークは、非共鳴イオンまたは選択されていないイオンを表す。
類似的に、本方法はまた、軸方向排出のかわりに半径方向排出による線形イオントラップに拡張することができる。半径方向排出線形イオントラップは、以前に米国特許第5,420,425号に開示されている。半径方向排出線形イオントラップは、イオン排出の間に漏れ電場効果が最小化されるように端部電極に比較的高いDC電圧を使用することができ、イオンが捕捉電極に機械加工されたスロットを通して、または、適切に励起された場合に捕捉電極間を通して射出され得る。著しい軸方向捕捉電位のために、捕捉されたイオンは、半径方向に印加された集合場により励起され、捕捉電極を通して、またはその間を、イオン検出器に向け射出されるか、あるいは、衝突セルおよび/または飛行時間型質量分析計に射出される。
Claims (31)
- ロッドセットを有する質量分析計を動作する方法であって、該ロッドセットは、第1端部と、該第1端部の反対側の第2端部と、該第1端部と該第2端部との間に延在する長手方向軸とを有し、該方法は、
a)該ロッドセットにイオンを導入するステップと、
b)該ロッドセット内の該イオンのうちの少なくとも一部を、i)該ロッドセットの第1端部に隣接する第1端部部材に第1バリア場を生成すること、ii)該ロッドセットの第2端部に隣接する第2端部部材に第2バリア場を生成すること、およびiii)該ロッドセットのロッド間にRF場を備える集合場を提供することと、によって捕捉するステップと、
c)該イオンにおける第1群のイオンの第1の選択された質量対電荷比を選択するステップと、
d)該第1群のイオンに対する該集合場の選択された特性の第1励起レベルを決定するステップと、
e)該第1群のイオンを共鳴励起して、該バリア場を通り該ロッドセットから軸方向に質量選択的に該第1群のイオンを排出するために、該集合場の選択された特性を該第1励起レベルまで調整するステップと、
f)励起時間間隔の間、該集合場の選択された特性を該第1励起レベルに維持するステップであって、該励起時間間隔は少なくとも1ミリ秒である、ステップと
を含む、方法。 - 前記選択された特性は、RF場の振幅および周波数のうちの1つである、請求項1に記載の方法。
- 前記集合場は、励起AC場を備え、前記選択された特性は、該励起AC場の周波数であり、該励起AC場は、双極子励起電圧および四極子励起電圧のうちの1つである、請求項1に記載の方法。
- 前記質量分析計は、一組の補助電極をさらに備え、前記励起AC場は、該一組の補助電極により提供される、請求項1に記載の方法。
- 第2の選択された質量対電荷比の第2群のイオンを前記イオンから選択するステップと、
該第2群のイオンに対する前記集合場の選択された特性の第2励起レベルを決定するステップと、
ステップf)の後に、該第2群のイオンを共鳴励起して、前記バリア場を通り前記ロッドセットから軸方向に質量選択的に該第2群のイオンを排出するために、該集合場の選択された特性を該第2励起レベルまで調整するステップと、次いで
第2励起時間間隔の間、該集合場の選択された特性を該第2励起レベルに維持するステップであって、該第2励起時間間隔は少なくとも1ミリ秒である、ステップと
をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記集合場の選択された特性を前記第2励起レベルまで調整するステップは、前記第1励起レベルから該第2励起レベルに前記集合場の選択された特性を1ミリ秒未満で調整するステップを含む、請求項5に記載の方法。
- 前記第1群のイオンは、前記第2群のイオンから1amuより大きく異なる、請求項5に記載の方法。
- 前記選択された特性は、前記励起時間間隔および前記第2励起時間間隔にわたって実質的に一定である、請求項7に記載の方法。
- ステップb)は、i)前記第1バリア場を提供するために、前記第1端部部材と前記ロッドセットとの間に第1DC電圧差を提供するステップと、ii)前記第2バリア場を提供するために、前記第2端部部材と該ロッドセットとの間に第2DC電圧差を提供するステップとを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記第1DC電圧差および前記第2DC電圧差は等しい、請求項9に記載の方法。
- ステップb)は、i)前記第1バリア場を提供するために、前記第1端部部材と前記ロッドセットとの間に第1AC電圧差を提供するステップと、ii)前記第2バリア場を提供するために、前記第2端部部材と該ロッドセットとの間に第2AC電圧差を提供するステップとを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記第1AC電圧差および前記第2AC電圧差は等しい、請求項11に記載の方法。
- ステップe)は、前記第1群のイオンを検出器に軸方向に排出するステップをさらに含み、
前記方法は、該軸方向に排出された第1群のイオンの少なくとも一部を検出するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。 - ステップe)は、前記第1群のイオンを下流側のイオントラップに軸方向に排出するステップをさらに含み、
前記方法は、g)該下流側のイオントラップ内の該第1群のイオンをさらに処理するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。 - ステップe)は、前記第1群のイオンを下流側の衝突セルに軸方向に排出するステップをさらに含み、
前記方法は、該衝突セル内の該第1群のイオンをフラグメント化するステップと、次いで質量分析のために、該第1群のイオンを下流側の質量分析計に軸方向に排出するステップとをさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記下流側の質量分析計は、線形イオントラップ質量分析計であり、前記方法は、前記第1群のイオンを該線形イオントラップ質量分析計内に保存するステップをさらに含む、請求項15に記載の方法。
- 前記下流側の質量分析計は、飛行時間型質量分析計である、請求項15に記載の方法。
- 前記第1励起間隔および前記第2励起間隔のうちの少なくとも1つは、少なくとも5ミリ秒である、請求項5に記載の方法。
- 前記第1励起間隔および前記第2励起間隔のうちの少なくとも1つは、少なくとも20ミリ秒である、請求項16に記載の方法。
- 前記ロッドセットの上流側のイオンのサンプルを保存するステップをさらに含み、ステップa)は、該サンプルイオンからの第1バッチのイオンを該ロッドセットに導入するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記サンプルイオンは、前記ロッドセットの動作圧力の2倍を超える圧力において動作する高圧質量分析計内に保存され、
前記方法は、ステップa)の間に、該高圧質量分析計から該ロッドセットへの該第1バッチのイオンの移動を促進するために、該高圧質量分析計と該ロッドセットとの間のバリア発生部材を誘引モードに切り替え、ステップb)からf)の間に、該高圧質量分析計内の第1バッチのイオン以外のサンプルイオンの維持を促進するために、反発モードに切り替えるステップをさらに含む、請求項20に記載の方法。 - 前記高圧質量分析計は、前記ロッドセットの動作圧力の10倍を超える圧力において動作する、請求項21に記載の方法。
- 前記サンプルイオンは、MALDI源に保存され、ステップa)は、前記ロッドセットを満たすために必要な回数だけ該MALDI源をパルス放出するステップを含む、請求項20に記載の方法。
- 前記サンプルイオンは、ナノスプレー源に保存され、ステップa)は、前記第1バッチのイオンを前記ロッドセットに導入するために該ナノスプレー源を起動するステップと、次いで該ナノスプレー源をオフにするステップとを含む、請求項20に記載の方法。
- 前記サンプルイオンは、前記ロッドセットの上流側のイオン源に保存され、ステップa)は、前記第1バッチのイオンを該ロッドセットに導入するために該イオン源を起動するステップと、次いで該イオン源をオフにするステップとを含む、請求項20に記載の方法。
- ステップa)からf)の後に、前記高圧質量分析計内に保存されたサンプルイオンからの第2バッチのイオンを前記ロッドセットに導入するステップをさらに含む、請求項20に記載の方法。
- 前記ロッドセットから排出された前記第1群のイオンを含むイオンを検出するステップと、
前記励起時間間隔にわたる時間ピークのシーケンスを発生するステップと、
該時間ピークのシーケンスにおける第1時間ピークを、該第1群のイオンに対応するものとして選択するステップと
をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記時間ピークのシーケンスにおける後続の時間ピークを、前記第1群のイオンとは異なる非共鳴群のイオンに対応するものとして選択するステップをさらに含む、請求項27に記載の方法。
- ロッドセットを有する質量分析計を動作する方法であって、該ロッドセットは、第1端部と、該第1端部の反対側の第2端部と、該第1端部と該第2端部との間に延在する長手方向軸とを有し、該方法は、
a)該ロッドセットにイオンを導入するステップと、
b)該ロッドセット内の該イオンの少なくとも一部を、i)該ロッドセットの該第1端部に隣接する第1端部部材に第1バリア場を生成すること、ii)該ロッドセットの該第2端部に隣接する第2端部部材に第2バリア場を生成すること、およびiii)該ロッドセットのロッド間にRF場を備える集合場を提供すること、により捕捉するステップと、
c)該イオンにおける第1群のイオンの第1の選択された質量対電荷比を選択するステップと、
d)該第1群のイオンに対する該集合場の選択された特性の第1励起レベルを決定するステップと、
e)該第1群のイオンを共鳴励起して、該バリア場を通り該ロッドセットから半径方向に質量選択的に該第1群のイオンを排出するために、該集合場の選択された特性を該第1励起レベルまで調整するステップと、
f)励起時間間隔の間、該集合場の選択された特性を該第1励起レベルに維持するステップであって、該励起時間間隔は少なくとも1ミリ秒である、ステップと
を含む、方法。 - ステップe)は、前記第1群のイオンを下流側の衝突セルに半径方向に排出するステップをさらに含み、
前記方法は、該衝突セル内の第1群のイオンをフラグメント化するステップと、次いで質量分析のために、該第1群のイオンを下流側の質量分析計に排出するステップとをさらに含む、請求項29に記載の方法。 - 前記下流側の質量分析計は、飛行時間型質量分析計である、請求項30に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US80777906P | 2006-07-19 | 2006-07-19 | |
PCT/CA2007/001256 WO2008009108A1 (en) | 2006-07-19 | 2007-07-17 | Method of operating a mass spectrometer to provide resonant excitation ion transfer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009544122A true JP2009544122A (ja) | 2009-12-10 |
Family
ID=38956470
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009519762A Pending JP2009544122A (ja) | 2006-07-19 | 2007-07-17 | 共鳴励起イオン移動を提供するために質量分析計を動作する方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7601952B2 (ja) |
EP (1) | EP2047244A1 (ja) |
JP (1) | JP2009544122A (ja) |
CA (1) | CA2654253A1 (ja) |
WO (1) | WO2008009108A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017501534A (ja) * | 2013-11-07 | 2017-01-12 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 向上した選別性のためのms3を通したフロー |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB0608470D0 (en) * | 2006-04-28 | 2006-06-07 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
JP5709742B2 (ja) * | 2008-06-09 | 2015-04-30 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 半径方向位置に伴って強度が増大する軸方向電場を提供する多極性イオン誘導 |
EP2436025A1 (en) * | 2009-05-27 | 2012-04-04 | DH Technologies Development Pte. Ltd. | Linear ion trap for msms |
GB201120307D0 (en) * | 2011-11-24 | 2012-01-04 | Thermo Fisher Scient Bremen | High duty cycle mass spectrometer |
GB2510837B (en) * | 2013-02-14 | 2017-09-13 | Thermo Fisher Scient (Bremen) Gmbh | Method of operating a mass filter in mass spectrometry |
US9583321B2 (en) * | 2013-12-23 | 2017-02-28 | Thermo Finnigan Llc | Method for mass spectrometer with enhanced sensitivity to product ions |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1021871A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Hitachi Ltd | イオントラップ質量分析装置 |
JP2000304735A (ja) * | 1999-04-20 | 2000-11-02 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置 |
JP2003501790A (ja) * | 1999-05-27 | 2003-01-14 | エムディーエス インコーポレーテッド | 感度を向上するためのイオントラップを有する四重極質量分析計 |
JP2005521874A (ja) * | 2002-03-28 | 2005-07-21 | エムディーエス シエックス | レーザ脱離およびマルチプルリアクションモニタリングを用いる小分子のハイスループット定量のための方法およびシステム |
JP2006073390A (ja) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2007538357A (ja) * | 2004-05-20 | 2007-12-27 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 質量分析計の入射端および出射端にバリア電界を供給するための方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6744043B2 (en) * | 2000-12-08 | 2004-06-01 | Mds Inc. | Ion mobilty spectrometer incorporating an ion guide in combination with an MS device |
US7045797B2 (en) * | 2002-08-05 | 2006-05-16 | The University Of British Columbia | Axial ejection with improved geometry for generating a two-dimensional substantially quadrupole field |
US6838662B2 (en) * | 2002-11-08 | 2005-01-04 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
WO2004086441A2 (en) * | 2003-03-21 | 2004-10-07 | Dana-Farber Cancer Institute, Inc | Mass spectroscopy system |
US7026613B2 (en) * | 2004-01-23 | 2006-04-11 | Thermo Finnigan Llc | Confining positive and negative ions with fast oscillating electric potentials |
JP4872088B2 (ja) * | 2004-05-05 | 2012-02-08 | ディーエイチ テクノロジーズ ディベロップメント ピーティーイー リミテッド | 質量分析計用イオンガイド |
US20060118716A1 (en) * | 2004-11-08 | 2006-06-08 | The University Of British Columbia | Ion excitation in a linear ion trap with a substantially quadrupole field having an added hexapole or higher order field |
EP2011138A4 (en) * | 2006-04-03 | 2011-08-24 | Mds Analytical Tech Bu Mds Inc | METHOD AND DEVICE FOR PROVIDING ION BARRIER AT THE INPUT AND OUTPUT TRANSMISSION OF A MASS SPECTROMETER |
-
2007
- 2007-07-17 CA CA002654253A patent/CA2654253A1/en not_active Abandoned
- 2007-07-17 WO PCT/CA2007/001256 patent/WO2008009108A1/en active Application Filing
- 2007-07-17 EP EP07800421A patent/EP2047244A1/en not_active Withdrawn
- 2007-07-17 US US11/778,954 patent/US7601952B2/en active Active
- 2007-07-17 JP JP2009519762A patent/JP2009544122A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1021871A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Hitachi Ltd | イオントラップ質量分析装置 |
JP2000304735A (ja) * | 1999-04-20 | 2000-11-02 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置 |
JP2003501790A (ja) * | 1999-05-27 | 2003-01-14 | エムディーエス インコーポレーテッド | 感度を向上するためのイオントラップを有する四重極質量分析計 |
JP2005521874A (ja) * | 2002-03-28 | 2005-07-21 | エムディーエス シエックス | レーザ脱離およびマルチプルリアクションモニタリングを用いる小分子のハイスループット定量のための方法およびシステム |
JP2007538357A (ja) * | 2004-05-20 | 2007-12-27 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 質量分析計の入射端および出射端にバリア電界を供給するための方法 |
JP2006073390A (ja) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017501534A (ja) * | 2013-11-07 | 2017-01-12 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 向上した選別性のためのms3を通したフロー |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7601952B2 (en) | 2009-10-13 |
US20080017789A1 (en) | 2008-01-24 |
WO2008009108A1 (en) | 2008-01-24 |
EP2047244A1 (en) | 2009-04-15 |
CA2654253A1 (en) | 2008-01-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA2431809C (en) | Apparatus and method for msnth in a tandem mass spectrometer system | |
AU780291B2 (en) | Quadrupole mass spectrometer with ion traps to enhance sensitivity | |
JP5860958B2 (ja) | タンデム質量分析のためのターゲット分析 | |
JP5107263B2 (ja) | 質量分析計におけるイオンの断片化 | |
US6967323B2 (en) | Mass spectrometer | |
JP5158196B2 (ja) | 質量分析装置 | |
EP1051733B1 (en) | Method of and apparatus for selective collision-induced dissociation of ions in a quadrupole ion guide | |
US20090179150A1 (en) | Mass spectrometer with looped ion path | |
GB2436004A (en) | Molecular activation of analyte ions in a tandem mass spectrometer | |
US8835834B2 (en) | Mass spectrometer and mass spectrometry method | |
JP2009544122A (ja) | 共鳴励起イオン移動を提供するために質量分析計を動作する方法 | |
WO2010132366A1 (en) | Ion population control in a mass spectrometer having mass-selective transfer optics | |
JP2009037819A (ja) | 質量分析計及び質量分析方法 | |
US11031232B1 (en) | Injection of ions into an ion storage device | |
US7034287B2 (en) | Mass spectrometer and method of use | |
CA2689091C (en) | Mass spectrometry method and apparatus | |
US20210202230A1 (en) | Rf ion trap ion loading method | |
JP7374994B2 (ja) | Rfイオントラップイオン装填方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100224 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20100224 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100621 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20110120 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120523 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120525 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120730 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120806 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130204 |