JP2009543097A - 回転角検出システム - Google Patents

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Abstract

本発明は、軸と、軸を包囲した磁石と、1対のプレートとを有しており、それぞれのプレートが磁石の遠位端部の近傍に配置されており、さらに少なくとも1つの検出装置を有する、回転検出システムを含む。持薬は磁界を発生し、軸が回転しながら磁界の角度が変化する。1対のプレートは、磁石によって発生された磁界を少なくとも1つの検出装置に方向付ける。少なくとも1つの検出装置は、磁界の角度の変化を検出し、この変化は、軸の角度位置を示している。

Description

本発明は、概して回転角検出システム、特に、機械的エラーを低減し、経済的に製造され、複数回転測定を提供するように延長されることができる、回転軸の角度位置を検出する検出システムに関する。
角度検出システムの1つの公知例は、非接触式センサエレメントと、該当する軸と非接触式センサエレメントとの間の介在機構とを有している。回転軸の角度位置は間接的に測定される。回転軸は、少なくとも1つの付加的な軸を回転させる歯車を有しており、この軸の角度位置は非接触式センサによって直接測定される。回転軸の角度位置は引き続き、直接測定と、測定された軸と回転軸との関係とに基づいて、計算される。介在機構の付加において固有の歯車バックラッシ等の機械的エラーは、回転軸の角度位置の間接的な測定において出現する。
角度検出システムの別の公知例は、介在機構を排除する。この例は、回転軸の角度位置を測定するために1対の磁石を有しているのに対し、別の角度検出システムは1つの磁石の実を必要とする。このように、このシステムの例は、より高価であり、より製造が複雑である。
さらに、公知のシステムは、回転軸の相対角度位置を、360°までしか測定することができない。公知のシステムは、回転軸が、60°の現在の角度位置に達する前に例えば2回の完全な360°の回転を完了していること、すなわち、780°の実際の回転位置、すなわち[(2回転)(360°)]+60°=780°、を考慮することができない。
したがって、機械的エラーを低減し、経済的に製造され、複数回転測定を提供する、回転角検出システムが必要とされている。
本発明は、軸と、軸を包囲した磁石と、それぞれが磁石の縁に端部の近傍に配置された1対のプレートと、少なくとも1つの検出装置とを有する回転検出システムを含む。磁石は磁界を発生し、軸が回転しながら磁界の角度が変化する。1対のプレートは、磁石によって発生された磁界を少なくとも1つの検出装置に向かって方向付ける。少なくとも1つの検出装置は、磁界の角度の変化を検出し、この変化は軸の角度位置を示している。
軸が180°未満だけ回転することが要求される用途の場合、1つの検出装置で十分である。しかしながら、軸が360°まで回転することが要求される用途の場合、軸の角度位置を明白に測定するために第2の検出装置が設けられる。
軸が、360°の位置回転を超えて回転することが要求される用途の場合、計数機構が設けられる。計数機構は、変更されたプレートと、ゼネバ歯車とを有しており、このゼネバ歯車は、軸の各360°回転を数えるためにゼネバ歯車を公知の形式で回転させる(index)することによって回転軸の連続的な運動を正確な間欠的な動作に変換する。
本発明のこれらの特徴及びその他の特徴は、以下の明細書及び図面から最もよく理解されることができ、以下はその簡単な説明である。
本発明の回転検出システムの実施例を示す図である。 最大正角度測定における本発明の回転検出システムの実施例を示す図である。 ゼロ角度測定における本発明の回転検出システムの実施例を示す図である。 最大負角度測定における本発明の回転検出システムの実施例を示す図である。 計数機構を有する本発明の回転検出システムの実施例を示す図である。 図3の計数機構の詳細な図である。 計数機構及び円形のプレートを有する本発明の回転検出システムの実施例である。 計数機構及び円形のプレートを有する本発明の回転検出システムの実施例である。
好適な実施形態の詳細な説明
図1は、本発明の回転検出システム10の実施例の図である。回転軸12は、軸軸線A−Aを規定しており、ハウジング14を貫通している。環状磁石16は、回転軸12を包囲しており、磁界Fを発生する。1対のプレート20は、磁界Fを、1対のプレート20の間においてハウジング14に取り付けられた第1の検出装置10に向かって方向付ける。第1の検出装置10は、磁界の角度変化を検出するセンサであり、このセンサは、磁気抵抗センサ、磁気誘導センサ又はリニアホール効果センサを含むことができるが、これらに限定されない。
1対のプレート2は、回転軸12に偏心的に取り付けられた、第1のプレート20Aと第2のプレート20Bとを含み、各プレートは、環状磁石16の互いに反対側の端部に取り付けられている。第1のプレート20Aは、第1のプレート20Aの中心を貫通する第1の軸線B−Bを規定している。第2のプレートは、第2のプレート20Bの中心を貫通する第2の軸線C−Cを規定している。回転軸12は、中心がずれた位置において、1対のプレートのそれぞれと交差しており、これにより、軸線A−Aは軸線B−Bから距離D1だけずれており、軸線A−Aは軸線C−Cから、距離D1と実質的に等しい距離D2だけずれている。
1対のプレート20は、環状磁石16によって発生された磁界Fを、第1の検出装置18を中心とする所望の位置へ方向付ける。すなわち、磁界Fは、環状磁石16によって発生され、SからNへ延びる。第1のプレート20Aは、環状磁石16によって発生された磁界を、第1のプレート20Aと第2のプレート20Bとの間に配置された第1の検出装置18に向かって方向付ける。回転軸12が回転すると、第1の検出装置18によって検出されかつ磁界Fに関連した角度Φが変化する。磁界Fに関連した角度Φの変化は、第1の検出装置18によって測定され、回転軸12の角度位置を示す。
示された実施例において、1対のプレート20は円形の鉄プレートである。しかしながら、1対のプレート20は、円形の鉄プレートに限定されず、種々異なる用途を提供するように種々異なる材料から又は種々異なる形状で製造されることができる。
図2Aは、最大正角度測定Φposにおける定位置における検出装置10の例の1つの実施例の図である。第1のプレート20A及び第2のプレート20Bは回転軸12に偏心的に取り付けられている。角度Φは、回転軸12の軸線A−Aに対して、第1のプレート20Aの縁部30から第2のプレート20Bの縁部32までの角度として規定される。回転軸12と、1対のプレート20とが定位置にある場合、角度位置は0°であり、これは、最大正角度測定Φposであると考えられる。定位置において、第1のプレート20Aの縁部30は軸線A−Aから距離D3だけ離れており、第2のプレート20Bの縁部32は距離D4だけ離れており、距離D3は距離D4よりも小さい。
図2Bは、ゼロ角度測定Φzeroにおける、本発明の検出装置10の実施例の図である。定位置から90°までの回転軸12、環状磁石16及び1対のプレート20の回転はゼロ角度測定Φzeroを生じる。ゼロ角度測定Φzeroにおいて、回転軸12は、第1のプレート20Aが軸線A−Aから距離D3だけ離れており、第2のプレート20Bの縁部32が距離D4だけ離れている位置に回転させられており、距離D3が距離D4に等しい位置に回転させられている。
図2Cは、最大負測定Φnegにおける検出装置10の図である。定位置から180°までの回転軸12、環状磁石16及び1対のプレート20の継続した回転は、最大負角度測定Φnegを生じる。最大負角度測定Φnegにおいて、回転軸12は、第1のプレート20Aの縁部30が軸線A−Aから距離D3だけ離れており、第2のプレート20Bが距離D4だけ離れている位置に回転させられており、距離D3が距離D4よりも大きい位置に回転させられている。
180°よりも小さい回転角測定を必要とする用途の場合、1つの検出装置18で十分である。しかしながら、定位置から180°を超えて、例えば270°までの回転軸12、環状磁石16及び1対のプレート20の継続した回転は、図2Bに示されたゼロ角度測定Φzeroを生じる。したがって、180°よりも大きい回転角を明確に測定するために、第2の検出装置50(図5に示されている)が、第1の検出装置18から実質的な角度、通常は少なくとも90°において、ハウジング14に取り付けられており、検出装置の既知の関係が、回転軸12の角度位置を決定するために使用される。
検出システム10への第2の検出装置50(図5に示されている)の付加は、検出システムの測定能力を360°までのみ増大する。したがって、360°若しくは完全な1回転を超える回転角測定を要求する用途の場合、計数機構(図3,4,5及び5Aに示されている)が、複数回転用途を提供するために測定範囲を拡大するために利用されている。
図3は、連続的な動作、すなわち回転軸12の回転を、正確な間欠的な動作、すなわち回転軸12の各360°回転を数えるインデクシングに変換する計数機構34を有する、本発明の回転検出システム10の実施例の図である。計数機構34は、変更された第2のプレート20B1と、計数軸38に取り付けられたゼネバ歯車36とを有している。変更された第2のプレート20B1は、ドウェルフィーチャ42及びインデクシングピン40を有している。回転軸12と、環状磁石16と、変更された第2のプレート20B1を有する1対のプレート20とが回転しながら、インデクシングピン40が、ゼネバ歯車36におけるスロット44(図4に示されている)に係合し、回転軸12の360°の回転ごとに、1つのステーション(図4に示されている)だけゼネバ歯車36をインデックスする。第3の検出装置52(図5に示されている)は、計数機構34の近くでハウジング14内に配置されていて、ゼネバ歯車36のインデクシングを検出する。典型的なステアリングシステムは、回転軸の3〜4回の360°回転を要求するので、第3の検出装置52(図5に示されている)によって検出されたゼネバ歯車36のインデクシングは、回転軸12が1回の360°回転を超えて回転する場合に、回転軸12の実際の角度位置を決定するために役立つ。
図4は、図3に示された計数機構34の詳細図である。示された実施例において、ゼネバ歯車36は、4つのスロットを有しているが、スロット44の数は用途に基づいて変化することができる。それぞれのスロット44はステーションを表す。このように、例としてのゼネバ歯車36は4つの連続するステーションを有している。ゼネバ歯車36は、回転軸12の360°の回転ごとに1回インデックスされ、第3の検出装置52(図5に示されている)がゼネバ歯車36のインデクシングを検出する。変更された第2のプレート20B1が回転軸12と共に時計回りに回転しながら、インデクシングピン40は連続的にそれぞれのスロット44に係合し、ゼネバ歯車36を、4つの連続するステーションのそれぞれに、公知の形式で機械的にインデックスする。
示された実施形態において、インデクシングピン40及びドウェルフィーチャ42は、製造を単純化するために、変更された第2のプレート20B1と一体的である。
図5は、計数機構34を有する、本発明の回転検出システム10の実施例の図であり、この場合、第1のプレート20A及び変更された第2のプレート20B1は円形である。第1の検出装置18及び第2の検出装置50は、第1のプレート20A及び変更された第2のプレート20B1の近くに配置されている。第1の検出装置18及び第2の検出装置50は、上述のように、環状磁石16によって発生された磁界における角度変化を検出する。
この実施例におけるゼネバ歯車36は8つのスロット44を有しており、それぞれのスロットは連続するステーションを有しており、これらのステーションは、回転軸12の360°の回転ごとにゼネバ歯車36をインデックスするために、変更された第2のプレート20B1に配置されたインデクシングピン40と協働する。第3の検出装置52は、ゼネバ歯車36の近くに配置されており、ゼネバ歯車36のインデクシングを検出する。
択一的に、54として概略的に示された第3の検出装置は、システム冗長性要求を満たすために及び回転検出システム10の精度を向上させるために加えられることができる。この構成において、第1の検出装置18、第2の検出装置50及び第3の検出装置54は、互いに約120°離れて配置されている。さらに、付加的なセンサ(図示せず)は、システム精度をさらに向上させるために加えられることができる。
第1の検出装置18及び第2の検出装置50によって検出された磁界の角度変化は、上述のように回転軸12の角度位置を決定するために使用される。さらに、第3の検出装置52によって検出されたゼネバ歯車36のインデクシングは、回転軸12の360°の回転数を決定するために使用される。このように、検出装置18,50及び52からの情報を組み合わせることによって、複数の回転を通じて回転軸12の角度位置を決定することができる。
図5Aは、計数機構34と、第1のプレート20A1と、変更された第2のプレート20B1とを有する、本発明の回転検出システム10の別の実施例の図である。この実施形態において、第1のプレート20A1と、変更された第2のプレート20B1とは、非円形であり、非円形構造を提供するために第2のインデクシングピン401が加えられている。インデクシングピン40及び第2のインデクシングピン401は、変更された第2のプレート20B1に配置されている。
第1の検出装置18及び第2の検出装置50は、第1のプレート20A及び変更された第2のプレート20B1の近くに配置されている。第1の検出装置18及び第2の検出装置50は、上述のように、環状磁石16によって発生された磁界の角度変化を検出する。
この実施例におけるゼネバ歯車36は8つのスロット44を有しており、それぞれのスロットが連続するステーションを成しており、これらのステーションはインデクシングピン40及び第2のインデクシングピン401と協働する。インデクシングピン40及び第2のインデクシングピン401は、回転軸12が360°回転するたびにゼネバ歯車36を2回だけインデックスする。
第1の検出装置18及び第2の検出装置50によって検出された磁界の角度変化は、上述のように回転軸12の角度位置を決定するために使用される。さらに、第3の検出装置52によって検出されたゼネバ歯車36のインデクシングは、回転軸12の360°の回転の数を決定するために使用される。このように、検出装置18,50及び52から決定された情報を組み合わせることによって、複数の回転を通じて回転軸12の角度位置を決定することができる。
発明の好適な実施形態が開示されたが、当業者は、ある変更が本発明の範囲に含まれることを認識するであろう。その理由から、以下の請求の範囲は、本発明の真実の範囲及び内容を決定するために研究されるべきである。
10 回転検出システム、 12 回転軸、 14 ハウジング、 16 環状磁石、 18 検出装置、 20 プレート、 30,32 縁部、 34 計数機構、 36 ゼネバ歯車、 40 インデクシングピン、 44 スロット、 50 第2の検出装置

Claims (22)

  1. 回転角検出システムにおいて、
    軸と、
    磁界を発生するための、軸の近傍に配置された磁石と、
    軸に偏心的に取り付けられた1対のプレートとが設けられており、該1対のプレートのそれぞれが、磁界を方向付けるために磁石の互いに反対側の遠位端部の近傍に配置されており、
    磁界を検出するために軸の近傍に配置された少なくとも1つの検出装置が設けられていることを特徴とする、回転角検出システム。
  2. 軸が第1の軸線を規定しており、1対のプレートのそれぞれが、第1の軸線に対して横切る平面を規定している、請求項1記載の回転角検出システム。
  3. 軸が、中心がずれた位置において1対のプレートのそれぞれと交差している、請求項2記載の回転角検出システム。
  4. 磁石が、第1の軸線に沿って、1対のプレートの一方の近傍の第1の位置から、1対のプレートの他方の近傍の第2の位置まで延びている、請求項3記載の回転角検出システム。
  5. 1対のプレートのそれぞれが、実質的に円形である、請求項1記載の回転角検出システム。
  6. 1対のプレートのそれぞれが、非円形である、請求項1記載の回転角検出システム。
  7. 磁石が軸を包囲している、請求項1記載の回転角検出システム。
  8. 1対のプレートが、軸が回転しながら変化する角度に磁界を方向付け、少なくとも1つの検出システムが、磁界の角度の変化を検出する、請求項1記載の回転角検出システム。
  9. 磁界の角度が、軸の角度位置を示している、請求項8記載の回転角検出システム。
  10. 少なくとも1つの検出装置が、第1の検出装置及び第2の検出装置を含む、請求項1記載の回転角検出システム。
  11. 第1の検出装置が1対のプレートの間の第1の位置に配置されており、第2の検出装置が1対のプレートの間の第2の位置に配置されている、請求項10記載の回転角検出システム。
  12. 第1の検出装置が第1の信号を発生し、第2の検出装置が第2の信号を発生し、第1の信号と第2の信号との関係が軸の角度位置を示している、請求項11記載の回転角検出システム。
  13. 第1の検出装置又は第2の検出装置のいずれか一方が故障した場合に第1の検出装置及び第2の検出装置に対する余分である第3の検出装置が設けられている、請求項12記載の回転角検出システム。
  14. システム検出精度を向上させるために少なくとも付加的な検出装置が設けられている、請求項12記載の回転角検出システム。
  15. 計数機構が設けられている、請求項1記載の回転角検出システム。
  16. 計数機構に、
    計数軸によって駆動される従動車が設けられており、該従動車がロッキング半径と、ピンを受容するための切欠とを有しており、
    軸によって駆動される駆動車が設けられており、該駆動車がピンを有しており、
    計数センサが設けられている、請求項15記載の回転角検出システム。
  17. 従動車が、軸の360°の回転に一致する駆動車の360°の回転ごとに、1つのステーションから次のステーションへインデックスする、請求項16記載の回転角検出システム。
  18. 計数センサが、駆動車の360°の各回転の完了を示す計数信号を発生する、請求項17記載の回転角検出システム。
  19. 軸の角度位置を測定する方法において、
    磁界を発生するステップと、
    該磁界を少なくとも1つの検出装置に1対のプレートを介して方向付けるステップと、
    磁界に関連した角度を検出するステップと、
    磁界の検出された角度に基づいて軸の角度位置を決定するステップとを含むことを特徴とする、軸の角度位置を測定する方法。
  20. 磁界が2つの検出装置に方向付けられており、軸の角度位置が、2つの検出装置からの入力に基づいて決定される、請求項19記載の軸の角度位置を測定する方法。
  21. 軸の360°の各回転を計数するステップと、
    軸の360°の回転の数の合計を決定するステップとを含む、請求項20記載の軸の角度位置を測定する方法。
  22. 軸の360°の回転の数の合計に、360°を乗じ、角度位置を加えることによって、軸の合計回転角度を決定するステップを含む、請求項21記載の軸の角度位置を測定する方法。
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