JP2009537834A - 漏えい磁場の分布の解析による部品の非破壊検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被検査部品の内部に励起磁場を発生させる手段と、磁場の分布を検出し測定する手段とを備える装置に関する。手段一式は、被検査部品(4)の表面の一部位上に固定されるようになっているフレキシブルな被覆の形態の装置を形成するようフレキシブルハウジング(2)内に組み込まれる。本発明は、航空機部品の非破壊検査(NDI)に応用されるが、自動車、鉄道、造船、または原子力など部品の完全性の検査が重要であるあらゆる工業部門において用いることができる。
【選択図】図6
Description
−被検査構造体に接近可能であるか否かに関わらずそれら構造体の表面上に容易に貼付することができるようにされ、きわめて軽量および小型であり、かつその作動に必要な電力が少ない非破壊検査手段を提供すること、
−可能な限り早期に不良の出現を検出することにより予知保全を行うため、被検査構造体の使用期間中これらの構造体上に常時設置するのに適し、その結果、より低コストで修理を行うことができ、構造体について最大の安全性が保証される検査手段を提供すること、
−検査の自動的管理が可能であり、作業者の仕事を最大限に低減して保守コストを低減するために、構造体の良好性について完全な診断を行うことができる検査手段を提供すること、
である。
2 (フレキシブル)ハウジング
3、9 マイクロセンサ
4 (被検査)部品
6 (光電子)マイクロコイル網
7 液晶膜
8 表面層
10 (インタフェース)電子装置
11 記録メモリ
12 送信手段
13 演算システム
14 アラーム手段
15 飛行機
16 強磁性層
17 非強磁性層
18 保存ライン
20 指示装置
21 蓄積装置
22 表示画面
Claims (28)
- 励起磁場を発生させる手段を備える導電部品(4)の非破壊検査装置(1)において、前記発生手段が、被検査部品の表面の一部位を覆うことができるフレキシブルハウジング(2)内に組み込まれ、
前記ハウジングが部品の部位の表面上にある時、前記励起磁場を受ける前記被検査部品から発せられる漏えい磁場の分布を測定する手段を備え、かつ磁場の分布の前記測定手段が前記発生手段に重ねられることを特徴とする装置。 - 前記ハウジング(2)が、部品(4)の形状に合わせることにより部品の表面の前記部位を覆うようになっているフレキシブルハウジングであることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記測定手段が、前記部品の表面における漏えい磁場の分布のマップを生成することができる一式のマイクロセンサを含むことを特徴とする請求項1または2に記載の装置。
- 検出が求められる最小寸法を有する不良が存在することにより生じる漏えい磁場の部分の変化量を検出することができるようマイクロセンサの寸法および配置が決定されることを特徴とする請求項3に記載の装置。
- 前記励起磁場の前記発生手段がマイクロコイル網(6)を備え、前記励起磁場を発生させるために前記マイクロコイルのそれぞれに交流電流が通ることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の装置。
- 前記励起磁場の前記発生手段がマイクロ磁石網を備えることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の装置。
- 前記発生手段が、磁場に感応する液晶膜(7)と、前記液晶膜(7)に重ねられた光電子マイクロセンサ網(3)とを備えることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の装置。
- 各光電子センサ(3)が、受信した光放射を電荷に変換するための感光セルを含み、前記セルが電荷を収集するための電荷移動装置に結合されることを特徴とする請求項7に記載の装置。
- 前記測定手段が、前記部品によって発せられる漏えい磁場の前記分布を直接測定するための磁気抵抗マイクロセンサ(9)の網を備えることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の装置。
- 前記網が行列マトリックス状に編成されることを特徴とする請求項1から9のいずれか1項に記載の装置。
- さらに前記装置が、前記測定手段を記録メモリ(11)に接続するインタフェース電子装置(10)を備えることを特徴とする請求項1から10のいずれか1項に記載の装置。
- 一体型検査装置(1)が作製されるよう前記インタフェース電子装置(10)および前記メモリ(11)が前記フレキシブルハウジング(2)内に組み込まれることを特徴とする請求項11に記載の装置。
- 前記インタフェース電子装置(10)が光電子マイクロセンサまたは磁気抵抗センサの行の端部に配設されることを特徴とする請求項7から12のいずれか1項に記載の装置。
- 前記インタフェース電子装置(10)が光電子マイクロセンサまたは磁気抵抗センサの列の端部に配設されることを特徴とする請求項7から12のいずれか1項に記載の装置。
- 前記検査装置(1)がマイクロプロセッサシステムなどの演算システム(13)を備えることを特徴とする請求項1から14のいずれか1項に記載の装置。
- 前記演算システム(13)がフレキシブルハウジング(2)内に組み込まれず、前記検査装置が、記録メモリ(11)内に記録された振動波を表す電気信号を、有線リンクまたはワイヤレスリンク、無線、赤外線を使用して、前記演算システム(13)に送信するための送信手段を含むことを特徴とする請求項15に記載の装置。
- 前記演算システム(13)が前記フレキシブルハウジング(2)内に組み込まれ、前記インタフェース電子装置(10)と前記記録メモリ(11)との間に接続されることを特徴とする請求項15に記載の装置。
- 演算システム(13)が、単数または複数の部品の基準磁場の分布についての少なくとも1つのマップを含むメモリと、前記演算システムによって受信された電気信号を漏えい磁場の分布に変換する演算手段と、基準磁場の分布に対しマイクロセンサによって測定された磁場の前記分布を解析する手段とを備えることを特徴とする請求項1から17のいずれか1項に記載の装置。
- 基準部品に関して基準磁場の分布の前記少なくとも1つのマップがあらかじめ設定されることを特徴とする請求項18に記載の検査装置。
- 基準磁場の分布の前記少なくとも1つのマップがモデリングによりあらかじめ設定されることを特徴とする請求項18に記載の検査装置。
- 前記解析手段が、測定された磁場の分布と基準磁場の分布との間の比較解析手段を備えることを特徴とする請求項18から20のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記比較解析手段が、状態信号Sおよび部品内に存在する不良に関する情報を生成するための手段を含むことを特徴とする請求項21に記載の装置。
- 前記状態信号Sおよび前記情報が前記演算システムによりアラーム手段(14)に送信されることを特徴とする請求項16、18から22のいずれか1項に記載の装置。
- 前記状態信号Sおよび前記情報が、前記演算システム(13)に接続された前記記録メモリ(11)内に記録され、次に、有線、ワイヤレス、無線または赤外線リンクを使用してアラーム手段(14)に送信されることを特徴とする請求項17から22のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記アラーム手段(14)が表示手段(22)ならびに光または音による指示器(20)を含むことを特徴とする請求項23または24に記載の検査装置。
- 前記磁気抵抗マイクロセンサ(9)または光電子マイクロセンサ(3)の寸法が百ミクロン程度であることを特徴とする請求項1から25のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記検査装置(1)の厚さが50μm以下であることを特徴とする請求項1から26のいずれか1項に記載の検査装置。
- 検査装置(1)の前記フレキシブルハウジング(2)が接着材により被検査部品(4)の表面に固定されることを特徴とする請求項1から27のいずれか1項に記載の検査装置。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011514534A (ja) * | 2008-03-20 | 2011-05-06 | ヨーロピアン・アエロノーティック・ディフェンス・アンド・スペース・カンパニー・イーデス・フランス | 乗り物構造体の監視装置 |
JP2017516111A (ja) * | 2014-05-18 | 2017-06-15 | ザ・チャールズ・スターク・ドレイパ・ラボラトリー・インコーポレイテッド | 強磁性体の欠陥を測定するシステム及び方法 |
JP2018009872A (ja) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 株式会社Ihi | 探触子、探傷用器具、漏洩磁束探傷装置、および漏洩磁束探傷方法 |
JP2021522473A (ja) * | 2018-04-17 | 2021-08-30 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | 非破壊試験システムをリモートで管理するシステム及び方法 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2651008T3 (es) * | 2010-04-07 | 2018-01-23 | L-3 Communications Avionics Systems, Inc. | Procedimiento de instalación de un magnetómetro |
CN102346168A (zh) * | 2011-03-02 | 2012-02-08 | 江苏申锡建筑机械有限公司 | 非接触式擦窗机钢丝绳在线监测方法 |
US8823369B2 (en) * | 2011-05-17 | 2014-09-02 | Siemens Energy, Inc. | Multi directional electromagnetic yoke for inspection of bores |
CN102507729A (zh) * | 2011-11-03 | 2012-06-20 | 江苏申锡建筑机械有限公司 | 一种非接触式钢丝绳无线检测系统和方法 |
US20130132035A1 (en) * | 2011-11-23 | 2013-05-23 | Ge Aviation Systems Llc | Method for diagnosing a health of an apparatus |
CN102841133B (zh) * | 2012-09-26 | 2015-03-18 | 中国船舶重工集团公司第七一〇研究所 | 一种导磁材料无损实时检测方法和系统 |
CN104569876A (zh) * | 2015-01-07 | 2015-04-29 | 南昌航空大学 | 一种利用高斯计评价铁磁材料去应力退火效果的方法 |
CN114235944B (zh) * | 2021-12-22 | 2024-03-12 | 江西公路开发有限责任公司 | 一种基于光源信号的拉索漏磁无损检测装置及方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62135778A (ja) * | 1985-12-09 | 1987-06-18 | Katsumi Yoshino | 強誘電性液晶を用いる電界及び磁界の検知方法及び検知素子 |
JPH01185466A (ja) * | 1988-01-19 | 1989-07-25 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 薄膜磁気センサ |
JP2006046909A (ja) * | 2004-07-30 | 2006-02-16 | Olympus Corp | 渦流探傷装置のマルチコイル式プローブ |
JP2006106013A (ja) * | 2006-01-12 | 2006-04-20 | Tdk Corp | 渦電流プローブ |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1403635A (fr) | 1963-08-14 | 1965-06-25 | Massiot Philips Sa | Dispositif de reproduction visuelle de clichés par télévision |
US3511086A (en) * | 1966-11-23 | 1970-05-12 | Boeing Co | Nondestructive testing with liquid crystals |
US3970074A (en) * | 1974-08-22 | 1976-07-20 | Spitalul Clinic Filantropia Bucuresti | Method of and apparatus for making medical thermographs |
US4190419A (en) | 1978-09-22 | 1980-02-26 | Miles Laboratories, Inc. | Device for detecting serum bilirubin |
US4433637A (en) * | 1979-06-04 | 1984-02-28 | Vectra International Corporation | Microencapsulated cholesteric liquid crystal temperature measuring device for determining the temperature of non-planar or planar surfaces |
FR2598250B1 (fr) | 1986-04-30 | 1988-07-08 | Thomson Csf | Panneau de prise de vue radiologique, et procede de fabrication |
US5047719A (en) * | 1990-05-25 | 1991-09-10 | The Failure Group, Inc. | Flexible coil assembly for reflectance-mode nondestructive eddy-current examination |
ATE135214T1 (de) * | 1992-02-17 | 1996-03-15 | Siegfried Ag Pharma | Darreichungsformen mit verlaengerter wirkstoffreigabe |
US5315234A (en) * | 1992-04-03 | 1994-05-24 | General Electric Company | Eddy current device for inspecting a component having a flexible support with a plural sensor array |
DE4220544B4 (de) | 1992-06-24 | 2005-10-20 | Woelfel Horst | Verfahren zum Messen mechanischer Spannungskomponenten an der Oberfläche von dynamisch belasteten Meßobjekten |
IT1273248B (it) | 1994-03-15 | 1997-07-07 | Europiana S R L | Apparecchiatura per la misurazione della temperatura dell'epidermide |
US5659248A (en) * | 1994-10-17 | 1997-08-19 | General Electric Company | Multilayer eddy current probe array for complete coverage of an inspection surface without mechanical scanning |
US5793206A (en) * | 1995-08-25 | 1998-08-11 | Jentek Sensors, Inc. | Meandering winding test circuit |
US5915277A (en) * | 1997-06-23 | 1999-06-22 | General Electric Co. | Probe and method for inspecting an object |
US5895629A (en) * | 1997-11-25 | 1999-04-20 | Science & Technology Corp | Ring oscillator based chemical sensor |
US6077228A (en) * | 1998-11-04 | 2000-06-20 | Schonberger; Milton | Breast temperature scanner |
DE10136756C2 (de) * | 2001-07-27 | 2003-07-31 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung mit einem flexiblen Festkörper-Röntgendetektor |
US6812697B2 (en) * | 2002-09-24 | 2004-11-02 | General Electric Company | Molded eddy current array probe |
JP3812559B2 (ja) * | 2003-09-18 | 2006-08-23 | Tdk株式会社 | 渦電流プローブ |
-
2006
- 2006-05-24 FR FR0651901A patent/FR2901611B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2007
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- 2007-05-16 CA CA002650829A patent/CA2650829A1/fr not_active Abandoned
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62135778A (ja) * | 1985-12-09 | 1987-06-18 | Katsumi Yoshino | 強誘電性液晶を用いる電界及び磁界の検知方法及び検知素子 |
JPH01185466A (ja) * | 1988-01-19 | 1989-07-25 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 薄膜磁気センサ |
JP2006046909A (ja) * | 2004-07-30 | 2006-02-16 | Olympus Corp | 渦流探傷装置のマルチコイル式プローブ |
JP2006106013A (ja) * | 2006-01-12 | 2006-04-20 | Tdk Corp | 渦電流プローブ |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011514534A (ja) * | 2008-03-20 | 2011-05-06 | ヨーロピアン・アエロノーティック・ディフェンス・アンド・スペース・カンパニー・イーデス・フランス | 乗り物構造体の監視装置 |
JP2017516111A (ja) * | 2014-05-18 | 2017-06-15 | ザ・チャールズ・スターク・ドレイパ・ラボラトリー・インコーポレイテッド | 強磁性体の欠陥を測定するシステム及び方法 |
KR20180067736A (ko) * | 2014-05-18 | 2018-06-20 | 더 차레스 스타크 드레이퍼 래보레이토리, 인코포레이티드 | 강자성 재료에서 결함을 측정하는 시스템 및 방법 |
JP2018119993A (ja) * | 2014-05-18 | 2018-08-02 | ザ・チャールズ・スターク・ドレイパ・ラボラトリー・インコーポレイテッド | 強磁性体の欠陥を測定するシステム及び方法 |
KR20190035969A (ko) * | 2014-05-18 | 2019-04-03 | 더 차레스 스타크 드레이퍼 래보레이토리, 인코포레이티드 | 강자성 재료에서 결함을 측정하는 시스템 및 방법 |
KR102022955B1 (ko) * | 2014-05-18 | 2019-09-19 | 더 차레스 스타크 드레이퍼 래보레이토리, 인코포레이티드 | 강자성 재료에서 결함을 측정하는 시스템 및 방법 |
KR102085752B1 (ko) * | 2014-05-18 | 2020-03-06 | 더 차레스 스타크 드레이퍼 래보레이토리, 인코포레이티드 | 강자성 재료에서 결함을 측정하는 시스템 및 방법 |
JP2018009872A (ja) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 株式会社Ihi | 探触子、探傷用器具、漏洩磁束探傷装置、および漏洩磁束探傷方法 |
JP7073617B2 (ja) | 2016-07-13 | 2022-05-24 | 株式会社Ihi | 探触子、漏洩磁束探傷装置、および漏洩磁束探傷方法 |
JP2021522473A (ja) * | 2018-04-17 | 2021-08-30 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | 非破壊試験システムをリモートで管理するシステム及び方法 |
JP7331010B2 (ja) | 2018-04-17 | 2023-08-22 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | 非破壊試験システムをリモートで管理するシステム及び方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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JP2009537834A5 (ja) | ||
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