RU2008151180A - Устройство неразрушающего контроля детали путем анализа магнитного поля утечки - Google Patents

Устройство неразрушающего контроля детали путем анализа магнитного поля утечки Download PDF

Info

Publication number
RU2008151180A
RU2008151180A RU2008151180/28A RU2008151180A RU2008151180A RU 2008151180 A RU2008151180 A RU 2008151180A RU 2008151180/28 A RU2008151180/28 A RU 2008151180/28A RU 2008151180 A RU2008151180 A RU 2008151180A RU 2008151180 A RU2008151180 A RU 2008151180A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
magnetic field
distribution
microsensors
control device
control
Prior art date
Application number
RU2008151180/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2439549C2 (ru
Inventor
СМЕ Мари-Анн ДЕ (FR)
СМЕ Мари-Анн ДЕ
Original Assignee
Эрбюс Франс (Fr)
Эрбюс Франс
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Эрбюс Франс (Fr), Эрбюс Франс filed Critical Эрбюс Франс (Fr)
Publication of RU2008151180A publication Critical patent/RU2008151180A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2439549C2 publication Critical patent/RU2439549C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/83—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields
    • G01N27/87—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields using probes

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Abstract

1. Устройство (1) неразрушающего контроля электропроводящей детали (4), содержащее средства генерирования магнитного поля возбуждения, отличающееся тем, что упомянутые средства генерирования интегрированы в подложку (2), выполненную с возможностью покрывания зоны поверхности упомянутой контролируемой детали, и ! средства измерения распределения магнитного поля утечки, излучаемого упомянутой контролируемой деталью, на которую действует упомянутое магнитное поле возбуждения, когда упомянутая подложка находится на поверхности зоны детали, и тем, что упомянутые средства измерения распределения магнитного поля наложены на упомянутые средства генерирования. ! 2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что упомянутая подложка (2) является гибкой подложкой, предназначенной для покрывания упомянутой зоны детали (4), следуя форме детали. ! 3. Устройство по пп.1 и 2, отличающееся тем, что упомянутые средства измерения содержат набор микродатчиков, выполненных с возможностью генерирования картографии распределения магнитного поля утечки на поверхности упомянутой детали. ! 4. Устройство по п.3, отличающееся тем, что размеры и расположение микродатчиков определяют таким образом, чтобы они могли обнаруживать изменения распределения магнитного поля утечки, вызванные присутствием дефекта, имеющего наименьшие размеры, детектирование которого добиваются. ! 5. Устройство по п.4, отличающееся тем, что упомянутые средства генерирования упомянутого магнитного поля возбуждения содержат сеть микрокатушек (6), при этом через каждую из упомянутых микрокатушек проходит переменный ток для генерирования упомянутого магнитного поля возб

Claims (28)

1. Устройство (1) неразрушающего контроля электропроводящей детали (4), содержащее средства генерирования магнитного поля возбуждения, отличающееся тем, что упомянутые средства генерирования интегрированы в подложку (2), выполненную с возможностью покрывания зоны поверхности упомянутой контролируемой детали, и
средства измерения распределения магнитного поля утечки, излучаемого упомянутой контролируемой деталью, на которую действует упомянутое магнитное поле возбуждения, когда упомянутая подложка находится на поверхности зоны детали, и тем, что упомянутые средства измерения распределения магнитного поля наложены на упомянутые средства генерирования.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что упомянутая подложка (2) является гибкой подложкой, предназначенной для покрывания упомянутой зоны детали (4), следуя форме детали.
3. Устройство по пп.1 и 2, отличающееся тем, что упомянутые средства измерения содержат набор микродатчиков, выполненных с возможностью генерирования картографии распределения магнитного поля утечки на поверхности упомянутой детали.
4. Устройство по п.3, отличающееся тем, что размеры и расположение микродатчиков определяют таким образом, чтобы они могли обнаруживать изменения распределения магнитного поля утечки, вызванные присутствием дефекта, имеющего наименьшие размеры, детектирование которого добиваются.
5. Устройство по п.4, отличающееся тем, что упомянутые средства генерирования упомянутого магнитного поля возбуждения содержат сеть микрокатушек (6), при этом через каждую из упомянутых микрокатушек проходит переменный ток для генерирования упомянутого магнитного поля возбуждения.
6. Устройство по п.4, отличающееся тем, что упомянутые средства генерирования упомянутого магнитного поля возбуждения содержат сеть микромагнитов.
7. Устройство по п.3, отличающееся тем, что упомянутые средства измерения содержат мембрану (7) из жидких кристаллов, чувствительных к магнитному полю, и сеть оптоэлектронных микродатчиков (3), наложенную на упомянутую жидкокристаллическую мембрану (7).
8. Устройство по п.7, отличающееся тем, что каждый оптоэлектронный микродатчик (3) содержит светочувствительный элемент для преобразования принимаемого светового излучения в электрические заряды, при этом упомянутый элемент соединен с устройством переноса зарядов для сбора электрических зарядов.
9. Устройство по п.3, отличающееся тем, что упомянутые средства измерения содержат сеть магниторезистивных микродатчиков (9) для непосредственного измерения упомянутого распределения магнитного поля утечки, излучаемого упомянутой деталью.
10. Устройство по пп.5 и 9, отличающееся тем, что упомянутые сети сгруппированы в матрицу линий и столбцов.
11. Устройство по п.1, отличающееся тем, что дополнительно содержит интерфейсную электронику(10), соединяющую упомянутые средства измерения с записывающим запоминающим устройством (11).
12. Устройство по п.11, отличающееся тем, что упомянутая интерфейсная электроника (10) и упомянутое запоминающее устройство (11) интегрированы в упомянутую гибкую подложку (2) таким образом, чтобы получить монолитное устройство (1) контроля.
13. Устройство по п.12, отличающееся тем, что упомянутая интерфейсная электроника (10) расположена на конце линий оптоэлектронных микродатчиков или магниторезистивных микродатчиков.
14. Устройство по п.13, отличающееся тем, что упомянутая интерфейсная электроника (10) расположена на конце столбцов оптоэлектронных микродатчиков или магниторезистивных микродатчиков.
15. Устройство по п.1, отличающееся тем, что упомянутое устройство (1) контроля содержит вычислительную систему (13), такую как микропроцессорная система.
16. Устройство по п.15, отличающееся тем, что упомянутая вычислительная система (13) не интегрирована в гибкую подложку (2), и упомянутое устройство контроля содержит средства передачи для направления электрических сигналов, записанных в запоминающем устройстве (11), в упомянутую вычислительную систему (13) при помощи проводной связи, беспроводной связи, радиосвязи или инфракрасной связи.
17. Устройство по п.15, отличающееся тем, что упомянутая вычислительная система (13) интегрирована в упомянутую гибкую подложку (2) и соединена между упомянутой интерфейсной электроникой (10) и упомянутым записывающим запоминающим устройством (11).
18. Устройство по п.15, отличающееся тем, что упомянутая вычислительная система (13) содержит запоминающее устройство, содержащее, по меньшей мере, одну картографию распределения контрольного магнитного поля детали или деталей, средства вычисления, преобразующие электрические сигналы, принятые упомянутой вычислительной системой, в распределение магнитного поля утечки, и средства анализа упомянутого распределения магнитного поля, измеренного микродатчиками, по отношению к распределению контрольного магнитного поля.
19. Устройство контроля по п.18, отличающееся тем, что упомянутую, по меньшей мере, одну картографию распределения контрольного магнитного поля определяют заранее на контрольной детали.
20. Устройство контроля по п.18, отличающееся тем, что упомянутую, по меньшей мере, одну картографию распределения контрольного магнитного поля определяют заранее путем моделирования.
21. Устройство контроля по п.18, отличающееся тем, что упомянутые средства анализа содержат средства сравнительного анализа между распределением измеренного магнитного поля и распределением контрольного магнитного поля.
22. Устройство по п.21, отличающееся тем, что упомянутые средства сравнительного анализа содержат средства генерирования сигнала состояния S и данных, связанных с дефектами, присутствующими в детали.
23. Устройство по п.22, отличающееся тем, что упомянутый сигнал состояния S и упомянутые данные передаются упомянутой вычислительной системой в средства (14) тревожной сигнализации.
24. Устройство по п.22, отличающееся тем, что упомянутый сигнал состояния S и упомянутые данные записываются в упомянутое записывающее запоминающее устройство (11), соединенное с упомянутой вычислительной системой (13), затем передаются в средства (14) тревожной сигнализации при помощи проводной связи, беспроводной связи, радиосвязи или инфракрасной связи.
25. Устройство контроля по п.23 или 24, отличающееся тем, что упомянутые средства (14) тревожной сигнализации содержат средства (22) отображения и световые или звуковые индикаторы (20).
26. Устройство контроля по пп.8 и 9, отличающееся тем, что упомянутые магниторезистивные микродатчики (9) или оптоэлектронные микродатчики (3) имеют размер порядка сотни микрон.
27. Устройство контроля по п.1, отличающееся тем, что толщина упомянутого устройства (1) контроля меньше или равна 50 мкм.
28. Устройство контроля по п.2, отличающееся тем, что упомянутую гибкую подложку (2) устройства (1) контроля крепят на поверхности контролируемой детали (4) при помощи адгезивного материала.
RU2008151180/28A 2006-05-24 2007-05-16 Устройство неразрушающего контроля детали путем анализа магнитного поля утечки RU2439549C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0651901 2006-05-24
FR0651901A FR2901611B1 (fr) 2006-05-24 2006-05-24 Dispositif de controle non destructif d'une piece par analyse de distribution du champ magnetique de fuite

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2008151180A true RU2008151180A (ru) 2010-06-27
RU2439549C2 RU2439549C2 (ru) 2012-01-10

Family

ID=37600777

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2008151180/28A RU2439549C2 (ru) 2006-05-24 2007-05-16 Устройство неразрушающего контроля детали путем анализа магнитного поля утечки

Country Status (9)

Country Link
US (1) US8395380B2 (ru)
EP (1) EP2030010A1 (ru)
JP (1) JP5394918B2 (ru)
CN (1) CN101449158B (ru)
BR (1) BRPI0713938A2 (ru)
CA (1) CA2650829A1 (ru)
FR (1) FR2901611B1 (ru)
RU (1) RU2439549C2 (ru)
WO (1) WO2007135051A1 (ru)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2929008B1 (fr) * 2008-03-20 2010-04-02 Eads Europ Aeronautic Defence Dispositif de surveillance de la structure d'un vehicule
BR112012025662A2 (pt) * 2010-04-07 2020-08-18 L-3 Communications Avionics Systems, Inc. sistema e método para instalação de magnetômetro
CN102346168A (zh) * 2011-03-02 2012-02-08 江苏申锡建筑机械有限公司 非接触式擦窗机钢丝绳在线监测方法
US8823369B2 (en) * 2011-05-17 2014-09-02 Siemens Energy, Inc. Multi directional electromagnetic yoke for inspection of bores
CN102507729A (zh) * 2011-11-03 2012-06-20 江苏申锡建筑机械有限公司 一种非接触式钢丝绳无线检测系统和方法
US20130132035A1 (en) * 2011-11-23 2013-05-23 Ge Aviation Systems Llc Method for diagnosing a health of an apparatus
CN102841133B (zh) * 2012-09-26 2015-03-18 中国船舶重工集团公司第七一〇研究所 一种导磁材料无损实时检测方法和系统
BR122018009767B1 (pt) * 2014-05-18 2021-07-20 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Sistema e método para detectar defeitos em um material ferromagnético e meio legível por computador não transitório
CN104569876A (zh) * 2015-01-07 2015-04-29 南昌航空大学 一种利用高斯计评价铁磁材料去应力退火效果的方法
JP7073617B2 (ja) * 2016-07-13 2022-05-24 株式会社Ihi 探触子、漏洩磁束探傷装置、および漏洩磁束探傷方法
US20190317048A1 (en) * 2018-04-17 2019-10-17 Illinois Tool Works Inc. Systems and methods to remotely manage non-destructive testing systems
CN114235944B (zh) * 2021-12-22 2024-03-12 江西公路开发有限责任公司 一种基于光源信号的拉索漏磁无损检测装置及方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1403635A (fr) 1963-08-14 1965-06-25 Massiot Philips Sa Dispositif de reproduction visuelle de clichés par télévision
US3511086A (en) * 1966-11-23 1970-05-12 Boeing Co Nondestructive testing with liquid crystals
US3970074A (en) * 1974-08-22 1976-07-20 Spitalul Clinic Filantropia Bucuresti Method of and apparatus for making medical thermographs
US4190419A (en) 1978-09-22 1980-02-26 Miles Laboratories, Inc. Device for detecting serum bilirubin
US4433637A (en) * 1979-06-04 1984-02-28 Vectra International Corporation Microencapsulated cholesteric liquid crystal temperature measuring device for determining the temperature of non-planar or planar surfaces
JPS62135778A (ja) * 1985-12-09 1987-06-18 Katsumi Yoshino 強誘電性液晶を用いる電界及び磁界の検知方法及び検知素子
FR2598250B1 (fr) 1986-04-30 1988-07-08 Thomson Csf Panneau de prise de vue radiologique, et procede de fabrication
JPH01185466A (ja) * 1988-01-19 1989-07-25 Sumitomo Metal Ind Ltd 薄膜磁気センサ
US5047719A (en) * 1990-05-25 1991-09-10 The Failure Group, Inc. Flexible coil assembly for reflectance-mode nondestructive eddy-current examination
ES2084478T3 (es) * 1992-02-17 1996-05-01 Siegfried Ag Pharma Formas de dosificacion que tienen liberacion prolongada del ingrediente activo.
US5315234A (en) * 1992-04-03 1994-05-24 General Electric Company Eddy current device for inspecting a component having a flexible support with a plural sensor array
DE4220544B4 (de) 1992-06-24 2005-10-20 Woelfel Horst Verfahren zum Messen mechanischer Spannungskomponenten an der Oberfläche von dynamisch belasteten Meßobjekten
IT1273248B (it) 1994-03-15 1997-07-07 Europiana S R L Apparecchiatura per la misurazione della temperatura dell'epidermide
US5659248A (en) * 1994-10-17 1997-08-19 General Electric Company Multilayer eddy current probe array for complete coverage of an inspection surface without mechanical scanning
US5793206A (en) * 1995-08-25 1998-08-11 Jentek Sensors, Inc. Meandering winding test circuit
US5915277A (en) * 1997-06-23 1999-06-22 General Electric Co. Probe and method for inspecting an object
US5895629A (en) * 1997-11-25 1999-04-20 Science & Technology Corp Ring oscillator based chemical sensor
US6077228A (en) * 1998-11-04 2000-06-20 Schonberger; Milton Breast temperature scanner
DE10136756C2 (de) * 2001-07-27 2003-07-31 Siemens Ag Röntgendiagnostikeinrichtung mit einem flexiblen Festkörper-Röntgendetektor
US6812697B2 (en) * 2002-09-24 2004-11-02 General Electric Company Molded eddy current array probe
JP3812559B2 (ja) * 2003-09-18 2006-08-23 Ｔｄｋ株式会社 渦電流プローブ
JP2006046909A (ja) * 2004-07-30 2006-02-16 Olympus Corp 渦流探傷装置のマルチコイル式プローブ
JP4007386B2 (ja) * 2006-01-12 2007-11-14 Ｔｄｋ株式会社 渦電流プローブ

Also Published As

Publication number Publication date
EP2030010A1 (fr) 2009-03-04
US20090302836A1 (en) 2009-12-10
CN101449158B (zh) 2013-03-27
FR2901611A1 (fr) 2007-11-30
FR2901611B1 (fr) 2009-01-16
RU2439549C2 (ru) 2012-01-10
JP2009537834A (ja) 2009-10-29
CA2650829A1 (fr) 2007-11-29
US8395380B2 (en) 2013-03-12
JP5394918B2 (ja) 2014-01-22
CN101449158A (zh) 2009-06-03
BRPI0713938A2 (pt) 2012-12-18
WO2007135051A1 (fr) 2007-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2008151180A (ru) Устройство неразрушающего контроля детали путем анализа магнитного поля утечки
JP2009537834A5 (ru)
US4277744A (en) Apparatus for measuring electric and magnetic fields
RU2008151161A (ru) Устройство неразрушающего контроля конструкции при помощи вибрационного анализа
CN202720230U (zh) 一种便携式高分辨率金标检测仪
CN103048039B (zh) 分布式宽光谱光纤干涉振动传感系统的频响标定装置
GB2460174A (en) Remote sensor network powered inductively from data lines
CN103245819A (zh) 采用磁激励谐振压阻式悬臂梁测量直流电流或直流电压的方法
CN110160608A (zh) 一种信号波形显示的磁致伸缩液位计
CN204730887U (zh) 一种无线婴儿培养箱自动校准装置
CN104793151A (zh) 一种磁性元件的磁场测量装置及测量方法
CN108594090A (zh) 高压设备电晕放电的检测装置及系统
CN103542962A (zh) 一种压力测试装置
RU2008151170A (ru) Устройство неразрушающего контроля путем анализа рассеяния излучения
CN103616651B (zh) 一种光纤电流传感器现场校验装置及其使用方法
CN104977430A (zh) 一种无风洞虚拟热风速传感器测试装置
JP2009537836A5 (ru)
US20210072044A1 (en) Output system and gauge
CN107728021A (zh) 基于倾角和超声测距补偿的局放光子数检测装置
CN201787919U (zh) 变形量检测装置
CN205157437U (zh) 试纸条荧光生物检测系统
CN208125867U (zh) 高压设备电晕放电的检测装置及系统
CN102507612A (zh) 一种x射线机焦距准确设定与测量的检测装置及方法
Oh et al. Sensor Systems for PHM
CN207408534U (zh) 基于倾角和超声测距补偿的局放光子数检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20150517