JP2009532852A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2009532852A5
JP2009532852A5 JP2009501016A JP2009501016A JP2009532852A5 JP 2009532852 A5 JP2009532852 A5 JP 2009532852A5 JP 2009501016 A JP2009501016 A JP 2009501016A JP 2009501016 A JP2009501016 A JP 2009501016A JP 2009532852 A5 JP2009532852 A5 JP 2009532852A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
photodetector
barrier layer
energy
band energy
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009501016A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009532852A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/IL2006/000364 external-priority patent/WO2007107973A2/en
Publication of JP2009532852A publication Critical patent/JP2009532852A/ja
Publication of JP2009532852A5 publication Critical patent/JP2009532852A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (17)

  1. 暗電流を低減した光検出器であって、
    光検出器の動作中に、価電子帯エネルギーと伝導帯エネルギーとを示すドープされた半導体を含む光吸収層と、
    アンドープの半導体を含むバリア層であって、所定のバンドギャップエネルギーと関連した価電子帯エネルギーと伝導帯エネルギーとを有し、その第1側面は光吸収層の第1側面に隣接するバリア層と、
    光検出器の動作中に、価電子帯エネルギーと伝導帯エネルギーとを示すドープされた半導体を含むコンタクト層であって、バリア層の、第1側面に対向する第2側面に隣接するコンタクト層と、を含み、
    光吸収層とコンタクト層の、価電子帯および伝導帯のエネルギーと、バリア層の、価電子帯および伝導帯のエネルギーとの関係が、コンタクト層と光吸収層との間で、少数キャリア電流の流れを促進し、多数キャリア電流の流れを抑制する光検出器。
  2. 光吸収層は、InAs、InAsSb、InGaAs、InAs/InGaSbのII型超格子、およびHgCdTeの1つからなる請求項1に記載の光検出器。
  3. コンタクト層は、InAs、InGaAs、InAsSb、InAs/InGaSbのII型超格子、HgCdTe、およびGaSbの1つからなる請求項2に記載の光検出器。
  4. コンタクト層および光吸収層は、実質的に同じ組成である請求項3に記載の光検出器。
  5. 光吸収層とコンタクト層は、双方がn型か、双方がp型のいずれかである請求項1に記載の光検出器。
  6. コンタクト層は、光検出器を横切る方向に互いに分離され、それぞれが個々の検出素子に対応する個々のセクションを含み、
    バリア層は、光検出器を横切る方向に、コンタクト層の個々のセクションを越えて拡がり、個々の検出素子のそれぞれに対して一体となって提供され、これにより、バリア層の露出した表面に多数キャリアが流れるのを阻止することにより、動作中に光検出器をパッシベートする請求項1に記載の光検出器。
  7. コンタクト層は、バリア層の第2側面がコンタクト層を越えて横方向に拡がるように、バリア層の上にメサを形成し、これにより、バリア層の露出した表面に多数キャリアが流れるのを防止することにより、動作中に光検出器をパッシベートする請求項1に記載の光検出器。
  8. コンタクト層と光吸収層とが同じ多数キャリアのタイプを有し、光検出器が実質的に空乏層を有さない請求項1に記載の光検出器。
  9. 光検出器であって、
    価電子帯エネルギーと伝導帯エネルギーとを示すnドープされた半導体を含む光吸収層と、
    所定の膜厚を有し、その第1側面は光吸収層の第1側面に隣接するバリア層と、
    ドープされた半導体を含み、バリア層の、第1側面に対向する第2側面に隣接するコンタクト層と、を含み、
    バリア層は、光吸収層の価電子帯エネルギーに実質的に等しい価電子帯エネルギーと、光吸収層の伝導帯エネルギーより大きな伝導帯エネルギーを示し、バリア層が、光吸収層とコンタクト層との間で伝導帯エネルギーのバンドオフセットを形成し、
    バリア層の膜厚と伝導帯エネルギーのバンドオフセットは、光吸収層とコンタクト領域との間の多数キャリアのトンネルを防止し、光吸収層とコンタクト領域との間で熱化された多数キャリアの流れを実質的に阻止するのに十分であり、
    コンタクト層は、光検出器を横切る方向に互いに分離され、それぞれが個々の検出素子に対応する個々のセクションを含み、
    バリア層は、光検出器を横切る方向に、コンタクト層の複数の個々のセクションを越えて拡がり、個々の検出素子のそれぞれに対して一体となって提供され、これにより、バリア層の露出した表面に多数キャリアが流れるのを阻止することにより、動作中に光検出器をパッシベートする光検出器。
  10. 光検出器であって、
    伝導帯エネルギーと価電子帯エネルギーとを示すpドープされた半導体を含む光吸収層と、
    所定の膜厚を有し、その第1側面は光吸収層の第1側面に隣接するバリア層と、
    ドープされた半導体を含み、バリア層の、第1側面に対向する第2側面に隣接するコンタクト層と、を含み、
    バリア層は、光吸収層の伝導帯エネルギーに実質的に等しい伝導帯エネルギーと、光吸収層の価電子帯エネルギーより小さな価電子帯エネルギーを示し、バリア層が、光吸収層とコンタクト層との間で価電子帯エネルギーのバンドオフセットを形成し、
    バリア層の膜厚と価電子帯エネルギーのバンドオフセットは、光吸収層とコンタクト層との間の多数キャリアのトンネルを防止し、光吸収層とコンタクト層との間で熱化された多数キャリアの流れを実質的に阻止するのに十分であり、
    コンタクト層は、光検出器を横切る方向に互いに分離され、それぞれが個々の検出素子に対応する個々のセクションを含み、
    バリア層は、光検出器を横切る方向に、コンタクト層の複数の個々のセクションを越えて拡がり、個々の検出素子のそれぞれに対して一体となって提供され、これにより、バリア層の露出した表面に多数キャリアが流れるのを阻止することにより、動作中に光検出器をパッシベートする光検出器。
  11. 光吸収層は、光検出器を横切る方向に、1またはそれ以上のコンタクト層の個々のセクションを越えて拡がり、個々の検出素子のそれぞれに対して一体となって提供される請求項10に記載の光検出器。
  12. 光検出器であって、
    価電子帯エネルギーと伝導帯エネルギーとを示すドープされた半導体を含む第1層と、
    価電子帯エネルギーと伝導帯エネルギーとを示す半導体を含み、その第1側面は第1層の第1側面に隣接するバリア層と、
    価電子帯エネルギーと伝導帯エネルギーとを示すドープされた半導体を含み、バリア層の、第1側面に対向する第2側面に隣接し、第1層と同じ多数キャリアのタイプを有する第2層と、を含み、
    光検出器の動作中に、第1層、バリア層、および第2層の、それぞれの価電子帯エネルギーおよび伝導帯エネルギーは、第1層と第2層との間で光により生成された少数キャリアの流れを許容し、多数キャリアの流れを実質的に阻止し、
    第2層は、光検出器を横切る方向に互いに分離され、個々の検出素子に対応する個々のセクションを含み、
    バリア層は、光検出器を横切る方向に、第2層の複数の個々のセクションを越えて拡がり、個々の検出素子のそれぞれに対して一体となって提供され、これにより、バリア層の露出した表面に多数キャリアが流れるのを阻止することにより、動作中に光検出器をパッシベートする光検出器。
  13. 暗電流を低減した光検出器であって、
    関連したエネルギーバンドと共に多数キャリアタイプと少数キャリアタイプを有する電気的に伝導性の半導体を含む第1層と、
    バリアエネルギーギャップと関連する伝導帯と価電子帯とを有し、その第1側面は第1層と隣接するバリア層と、
    多数キャリアタイプと少数キャリアタイプおよび関連した第2層のエネルギーギャップを有する電気的に伝導性の半導体を含み、バリア層の、第1側面に対向する第2側面と隣接する第2層と、を含み、
    第1層と第2層のエネルギーバンドと、バリア層の伝導帯と価電子帯のバンド端との間の関係は、第1層と第2層との間で少数キャリア電流の流れを可能にする一方、多数キャリア電流の流れを阻止し、
    バリア層は、バリア層中で横方向に電気的な伝導性を提供しないアンドープの半導体を含む光検出器。
  14. 第1層と第2層は、同じ多数キャリアタイプを有し、光検出器は実質的に空乏層を有さない請求項13も記載の光検出器。
  15. 暗電流を低減した光検出器であって、
    関連したエネルギーバンドと共に多数キャリアタイプと少数キャリアタイプを有する電気的に伝導性の半導体を含む第1層と、
    バリアエネルギーギャップと関連する伝導帯と価電子帯とを有する半導体を含み、その第1側面は第1層と隣接するバリア層と、
    多数キャリアタイプと少数キャリアタイプおよび関連した第2層のエネルギーギャップを有する電気的に伝導性の半導体を含み、バリア層の、第1側面に対向する第2側面と隣接する第2層と、を含み、
    第1層と第2層のエネルギーバンドと、バリア層の伝導帯と価電子帯のバンド端との間の関係は、第1層と第2層との間で少数キャリア電流の流れを可能にする一方、多数キャリア電流の流れを阻止し、
    更に、第2層は、バリア層の第1側面がメサを越えて横方向に延びるように、連続したバリア層の上でメサを形成し、これにより、バリア層の露出した部分に多数キャリアが到達するのを防止することにより、光検出器をパッシベートする光検出器。
  16. バリア層は、バリア層中での多数キャリアの横方向の伝導を防止するアンドープの半導体である請求項15に記載の光検出器。
  17. 第1層および第2層は、同じ多数キャリアタイプを有し、光検出器は実質的に空乏層を有しない請求項15に記載の光検出器。
JP2009501016A 2006-03-21 2006-03-21 暗電流を低減した光検出器 Pending JP2009532852A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/IL2006/000364 WO2007107973A2 (en) 2006-03-21 2006-03-21 Reduced dark current photodetector

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012003281A Division JP2012134507A (ja) 2012-01-11 2012-01-11 暗電流を低減した光検出器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009532852A JP2009532852A (ja) 2009-09-10
JP2009532852A5 true JP2009532852A5 (ja) 2010-08-26

Family

ID=38522821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009501016A Pending JP2009532852A (ja) 2006-03-21 2006-03-21 暗電流を低減した光検出器

Country Status (7)

Country Link
EP (1) EP2005480B1 (ja)
JP (1) JP2009532852A (ja)
KR (2) KR101037213B1 (ja)
CA (1) CA2646692C (ja)
GB (1) GB2451202B (ja)
IL (1) IL194231A (ja)
WO (1) WO2007107973A2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5266521B2 (ja) * 2008-03-31 2013-08-21 旭化成エレクトロニクス株式会社 赤外線センサ、及び赤外線センサic
JP5612407B2 (ja) * 2010-09-13 2014-10-22 浜松ホトニクス株式会社 半導体受光素子及び半導体受光素子の製造方法
JP5606374B2 (ja) * 2011-03-29 2014-10-15 旭化成エレクトロニクス株式会社 量子型赤外線センサ用化合物半導体積層体の製造方法および量子型赤外線センサ
US11114480B2 (en) * 2013-03-15 2021-09-07 ActLight SA Photodetector
JP6295693B2 (ja) 2014-02-07 2018-03-20 ソニー株式会社 撮像装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2127619B (en) * 1982-09-23 1986-07-02 Secr Defence Infrared detectors
US4731640A (en) * 1986-05-20 1988-03-15 Westinghouse Electric Corp. High resistance photoconductor structure for multi-element infrared detector arrays
US5047662A (en) 1989-08-28 1991-09-10 Motorola, Inc. Inductive load driving circuit with inductively induced voltage compensating means
US5047622A (en) * 1990-06-18 1991-09-10 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Long wavelength infrared detector with heterojunction
JPH10256594A (ja) * 1997-03-10 1998-09-25 Fujitsu Ltd 半導体光検知装置
KR100343814B1 (en) 2000-12-08 2002-07-20 Kwangju Inst Sci & Tech Photodetector using high electron mobility transistor
US6531721B1 (en) * 2001-12-27 2003-03-11 Skyworks Solutions, Inc. Structure for a heterojunction bipolar transistor
US6740908B1 (en) 2003-03-18 2004-05-25 Agilent Technologies, Inc. Extended drift heterostructure photodiode having enhanced electron response
IL156744A (en) * 2003-07-02 2011-02-28 Semi Conductor Devices An Elbit Systems Rafael Partnership Depletion-less photodiode with suppressed dark current
DE10357654A1 (de) * 2003-12-10 2005-07-14 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Abtastkopf für optische Positionsmeßsysteme
US7180066B2 (en) 2004-11-24 2007-02-20 Chang-Hua Qiu Infrared detector composed of group III-V nitrides

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7737411B2 (en) nBn and pBp infrared detectors with graded barrier layer, graded absorption layer, or chirped strained layer super lattice absorption layer
US9466746B1 (en) Compound-barrier infrared photodetector
US20100006822A1 (en) Complementary barrier infrared detector (cbird)
US10872987B2 (en) Enhanced quantum efficiency barrier infrared detectors
US20100230720A1 (en) Semiconductor device and method
US8502271B2 (en) Barrier photodetector with planar top layer
US9799785B1 (en) Unipolar barrier dual-band infrared detectors
US11682741B2 (en) Electromagnetic wave detector
KR102523974B1 (ko) 전하 배리어층을 포함한 광전 소자
US7049640B2 (en) Low capacitance avalanche photodiode
KR102411967B1 (ko) 태양전지
EP3111478A1 (en) Simultaneous dual-band detector
JP2010135360A (ja) アバランシェフォトダイオード
JP2009532852A5 (ja)
JP2016522578A5 (ja)
US10205043B2 (en) Hot-carrier photoelectric conversion method
US20110215434A1 (en) Thin-film photoelectric conversion device and method of manufacturing thin-film photoelectric conversion device
JP2008028421A (ja) アバランシェフォトダイオード
US20180337210A1 (en) Photodetection device which has an inter-diode array and is overdoped by metal diffusion and manufacturing method
JP7431400B2 (ja) 電磁波検出器、電磁波検出器アレイ、および電磁波検出器の製造方法
JP7422963B1 (ja) 電磁波検出器
EP3693997B1 (fr) Matrice de photo-détecteurs à barrière avec pixellisation par déplétions locales
US11063163B1 (en) Infrared photo-detector with low turn-on voltage
JP7163803B2 (ja) 半導体受光デバイス
JP2010177350A (ja) 赤外線検出素子