JP2009529202A - 独立してアドレス可能な副単位を有するデータ記憶装置用のデータステアリングロジックをテストするための方法および装置 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (18)
- N個のデータレーンを有するデータバスと、各々がN個の対応するアドレス可能な副単位を備えた複数の記憶場所を備えるメモリアレーと、の間に置かれたインターフェースの書込データステアリングロジックをテストする方法であって、各記憶場所に関して、
少なくともN−1個の副単位に第1のデータパターンを書き込むことと、
前記N個の副単位のうちの対応しない1個に、前記書込データステアリングロジックを介して、N個のバスレーンのうちの1個から前記第1のデータパターンと異なる第2のデータパターンを書き込むことと、
すべてのN個のバスレーンを使用して、すべてのN個の副単位を読み取ることと、
各副単位に関して、前記アレーから読み取られた前記データを、その副単位に書き込まれた前記それぞれの第1または第2のデータパターンと比較することと、
を備える方法。 - 少なくともN−1個の副単位に第1のデータパターンを書き込むことは、すべてのN個のデータバスレーンを使用して、すべてのN個の副単位に第1のデータパターンを書き込むことを備える、請求項1に記載の方法。
- 各記憶場所に関して前記テストをN−1回繰り返すことと、その度ごとに、前記記憶場所の異なる副単位に前記第2のデータパターンを書き込むことと、をさらに備える請求項1に記載の方法。
- 前記メモリアレー内の各記憶場所に関して前記テストを繰り返すこと、をさらに備える、請求項3に記載の方法。
- 前記アレーから読み取られた前記データを、その副単位に書き込まれた前記それぞれの第1または第2のデータパターンと比較することは、各副単位から読み取られた前記データを、その副単位に書き込まれた前記第1または第2のデータパターンと、並列に、独立して比較すること、を備える請求項1に記載の方法。
- 並列に前記データを比較することは、各副単位に関して、前記アレーから読み取られた前記データと、前記それぞれの第1または第2のデータパターンとを、N個の比較器のうちの1個に方向づけることを備える、請求項5に記載の方法。
- 前記第1のデータパターンを書き込むこんだ後に、
前記書込ステアリングロジックを介して、前記第1のM個のバスレーンから前記N個の副単位のうちのM個に、前記第1のデータパターンと異なる第2のデータパターンを書き込むこと、
をさらに備え、MはNの整数因数である、
請求項1に記載の方法。 - 各記憶場所に関して前記テストをN/M回繰り返すことと、前記書込データステアリングロジックを介して、その度ごとに、前記第1のM個のバスレーンから前記記憶場所の前記N個の副単位のうちの異なるM個に前記第2のデータパターンを書き込むことと、をさらに備える請求項7に記載の方法。
- 前記比較器回路が、非テストモードにおいて、メモリアレーデータ読取りに応答して切り換わることを防ぐために、前記非テストモードにおいて、固定されたインプットを、テストモードにおいてデータ比較を実行する前記比較器回路に方向づけること、をさらに備える請求項1に記載の方法。
- 各々がN個のアドレス可能な副単位を備えた複数の記憶場所を備えるメモリアレーと、N個の対応するデータレーンを有するデータバスと、の間に置かれたインターフェースの読取データステアリングロジックをテストする方法であって、各記憶場所に関して、
すべてのN個のデータバスレーンを使用して、テスト対象の副単位以外のN―1個の副単位用の第1のデータパターンと、テスト対象の副単位用の第2のデータパターンと、を備えるテストデータパターンを書き込むことと、
前記N個のバスレーンのうちの対応しない1個のバスレーン上で、前記読取データステアリングロジックを介して、N−1個の副単位を連続して読み取ることと、
前記アレーから読み取られた前記副単位データを、その副単位に書き込まれた前記それぞれの第1または第2のデータパターンと比較することと、
を備える方法。 - 各記憶場所に関して、前記テストをN−1回繰り返すことと、その度ごとに、前記第2のデータパターンを異なる副単位に書き込むことと、をさらに備える請求項10に記載の方法。
- 前記メモリアレー内の各記憶場所に関して前記テストを繰り返すこと、をさらに備える請求項11に記載の方法。
- 前記比較器回路が、非テストモードにおいて、メモリアレーデータ読取りに応答して切り換わることを防ぐために、前記非テストモードにおいて、固定されたインプットを、テストモードにおいてデータ比較を実行する前記比較器回路に方向づけること、をさらに備える請求項10に記載の方法。
- 各々がN個のアドレス可能な副単位を備えた複数の記憶場所を備えるメモリアレーと;
N個のデータレーンを有するデータバスと;
前記データバスと前記メモリアレーとの間に置かれたインターフェースと、なお前記データインターフェースは書込データステアリングロジックを含む;
各々が、前記N個のデータバスレーンのうちの1個に接続された読取データインプトと、比較データインプットと、を有し、前記読取データインプットと前記比較データインプットとが一致するかどうかの表示を出力する、N個の比較器と;
前記メモリアレーを制御し、前記N個のデータバスレーンの前記各々に書込データを提供し、前記N個の比較器の各々の前記比較データインプットに比較データを提供し、前記N個の比較器の一致アウトプットを受信する、組込み自己テスト(BIST)コントローラと;
を備え、
前記BISTコントローラは、
メモリアレー記憶場所の少なくともN−1個の副単位に、第1のデータパターンを書き込み、
前記記憶場所の前記N個の副単位のうちの対応しない1個に、前記書込データステアリングロジックを介して、N個のバスレーンのうちの1個から前記第1のデータパターンとは異なる第2のデータパターンを書き込み、
すべてのN個のバスレーンを使用して、前記記憶場所のすべてのN個の副単位を読み取り、
各比較器に前記それぞれの第1または第2のデータパターンを提供し、
前記書込データステアリングロジックの動作を検証するために前記比較器の一致アウトプットを検査する、
ように動作する、
プロセッサ。 - 各々がN個のアドレス可能な副単位を備えた複数の記憶場所を備えるメモリアレーと;
N個の対応するデータレーンを有するデータバスと;
前記メモリアレーと前記データバスとの間に置かれたインターフェースと、なお前記インターフェースは読取データステアリングロジックを含む;
各々が、前記N個のデータバスレーンのうちの1個に接続された読取データインプトと、比較データインプットと、を有し、前記読取データインプットと前記比較データインプットとが一致するかどうかの表示を出力する、N個の比較器と;
前記メモリアレーを制御し、前記N個のデータバスレーンの前記各々に書込データを提供し、前記N個の比較器の各々の前記比較データインプットに比較データを提供し、前記N個の比較器の一致アウトプットを受信する、組込み自己テスト(BIST)コントローラと;
を備え、
前記BISTコントローラは、
すべてのN個のデータバスレーンを使用して、前記メモリアレー内の記憶場所に、テスト対象の副単位以外のN−1個の副単位用の第1のデータパターンと、テスト対象の副単位用の第2のデータパターンと、を備えるテストデータパターンを書き込み、
前記N個のバスレーンのうちの対応しない1個のバスレーン上で、前記読取データステアリングロジックを介して、前記記憶場所の各N−1個の副単位を連続して読み取り、
読取データが方向づけられる前記バスレーンに対応する前記比較器に、前記それぞれの第1または第2のデータパターンを提供し、
前記読取データステアリングロジックの動作を検証するためにその比較器の一致アウトプットを検査する
ように動作する、
プロセッサ。 - 非テストモードにおいて、各比較器の前記データインプットに静的データパターンを提供するように動作する、前記メモリアレーと前記データバスの間に置かれたロジック、をさらに備える請求項15に記載のプロセッサ。
- 前記ロジックは、静的データパターンに関係するインプットを有している、前記読取データステアリングロジック内の選択器、を備える、請求項16に記載のプロセッサ。
- 前記ロジックは、読取データビットとテストモード信号との間でアンド機能を実行する、請求項16に記載のプロセッサ。
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