JP2009508289A - 5度の自由度を持つ、キャリヤ用移動プラットホーム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】クランプ手段の各々は、キャリヤを、接触点のところで、及びキャリヤの少なくとも一つのグローブ状接触面のところでクランプし、少なくとも一つのクランプ手段には、キャリヤを少なくとも二つの仮想軸線を中心として回転できるように、接触点を、少なくとも夫々の接触面及び/又は少なくとも夫々のクランプ手段に対して変位するための少なくとも一つの変位エレメントが設けられており、クランプ手段によってキャリヤに加えられる法線力は、ほぼ平行な平面内にあり、これらの平行な平面は、夫々の接触点でのグローブ状表面の接線方向平面に対してほぼ垂直である。
【選択図】図6
Description
2 球形キャリヤ
3 クランプ手段
7 ウォーキングフィンガ
10 試料
13 接触点
14 球形接触面
Fn 法線力
Fw 摩擦力
Claims (27)
- キャリヤ及び間隔が隔てられた少なくとも三つのクランプ手段を含む移動プラットホームにおいて、
前記クランプ手段の各々は、キャリヤを、前記キャリヤの少なくとも一つのグローブ状接触面における接触点でクランプし、
少なくとも一つのクランプ手段は、前記キャリヤを少なくとも二つの仮想軸線を中心として回転できるように、前記接触点を、少なくとも夫々の接触面及び/又は少なくとも夫々のクランプ手段に対して変位させるための少なくとも一つの変位エレメントを有し、
前記クランプ手段によって前記キャリヤに加えられる法線力は、ほぼ平行な平面内にあり、
これらの平行な平面は、夫々の接触点での前記グローブ状表面の接線方向平面に対してほぼ垂直である、移動プラットホーム。 - 請求項1に記載の移動プラットホームにおいて、
前記変位エレメントは、少なくとも一つのクランプ手段を、接触点のところで、前記キャリヤに対してほぼ垂直に、及び/又は接触点のところで、前記キャリヤに対してほぼ接線方向の少なくとも一つの方向に変位するように設計されている、移動プラットホーム。 - 請求項1又は2に記載の移動プラットホームにおいて、
前記キャリヤは、好ましくは二つの両側部を截頭した実質的に球形の形態を有する、移動プラットホーム。 - 請求項1又は2に記載の移動プラットホームにおいて、
前記キャリヤは実質的に円環体形状である、移動プラットホーム。 - 請求項1乃至4のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームにおいて、
前記キャリヤには少なくとも一つの凹所が設けられている、移動プラットホーム。 - 請求項5に記載の移動プラットホームにおいて、
前記凹所は連続した凹所である、移動プラットホーム。 - 請求項6に記載の移動プラットホームにおいて、
中央位置において、前記クランプ手段から前記凹所の第1縁部までの距離、及び前記クランプ手段から前記キャリヤの反対側に配置された前記凹所の第2縁部までの距離はほぼ等しい、移動プラットホーム。 - 請求項1乃至7のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームにおいて、
前記クランプ手段が前記キャリヤに加える記法線力は、ほぼ一つの平面内にあり、ほぼ前記キャリヤの中心を通る、移動プラットホーム。 - 請求項1乃至8のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームにおいて、
少なくとも一つのクランプ手段は弾性エレメントを含み、この弾性エレメントは、力を、夫々の接触点のところで、前記接線方向平面に垂直に加える、移動プラットホーム。 - 請求項1乃至9のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームにおいて、
前記少なくとも一つのクランプ手段、好ましくは二つのクランプ手段は、少なくとも一つのヒンジエレメントを含む、移動プラットホーム。 - 請求項9又は10に記載の移動プラットホームにおいて、
前記クランプ手段には、少なくとも一つの弾性エレメント及び少なくとも一つのヒンジエレメントが設けられている、移動プラットホーム。 - 請求項1乃至11のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームにおいて、
前記クランプ手段は、プレートによって前記キャリヤをクランプする、移動プラットホーム。 - 請求項1乃至12のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームにおいて、
前記クランプ手段は、各々、二つのフィンガを含む、移動プラットホーム。 - 請求項13に記載の移動プラットホームにおいて、
フィンガの接触面、接触線、又は端部を、夫々の接触点のところで前記キャリヤに対してほぼ接線方向に変位するための少なくとも一つの変位エレメントの、及び/又はフィンガの前記接触面、接触線、又は端部を、夫々の接触点のところで前記キャリヤに対してほぼ垂直方向に変位するための変位エレメントの、一つのフィンガがクランプ手段毎に設けられている、移動プラットホーム。 - 請求項1乃至14のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームにおいて、
前記キャリヤを取り外す目的のため、少なくとも一つのクランプ手段の少なくとも一つの部品を取り外すことができる、移動プラットホーム。 - 請求項1乃至15のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームにおいて、
少なくとも一つのヒンジエレメント及び/又は一つの弾性エレメントを備えた少なくとも一つのクランプ手段の少なくとも一部を取り外すことができる、移動プラットホーム。 - 請求項1乃至16のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームにおいて、
前記変位エレメントは、圧電エレメントを含む、移動プラットホーム。 - 顕微鏡、詳細には電子顕微鏡、更に詳細には透過電子顕微鏡で試料を回転し位置決めするための、請求項1乃至17のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホーム。
- 請求項1乃至18のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホーム用の試料キャリヤにおいて、
二つの両側を截頭した実質的にグローブ状形態、詳細には球形形態又は円環体形態を有し、截頭平面に少なくとも一つの凹所が設けられた、試料キャリヤ。 - 請求項1乃至18のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームを備えた顕微鏡。
- 請求項20に記載の顕微鏡において、
前記クランプ手段は、一端が前記顕微鏡に取り付けられている、顕微鏡。 - 請求項20又は21に記載の顕微鏡において、
前記顕微鏡は透過電子顕微鏡であり、前記クランプ手段は少なくとも一つのポールシューに取り付けられている、顕微鏡。 - キャリヤを回転するための方法において、
少なくとも三つのクランプ手段の各々が、キャリヤを、前記キャリヤの少なくとも一つのグローブ状接触面における接触点でクランプし、
少なくとも一つのクランプ手段が、夫々の接触点を、少なくとも一つの夫々の接触面及び/又は少なくとも一つの夫々のクランプ手段に対して変位させ、
前記クランプ手段が前記キャリヤに加える法線力は、ほぼ平行な平面内にあり、
これらの平行な表面は、夫々の接触点におけるグローブ状接触面で、前記接線方向平面に対してほぼ垂直である、方法。 - 請求項23に記載の方法において、
顕微鏡、詳細には透過電子顕微鏡で試料を回転する際に使用される、方法。 - キャリヤ及び間隔が隔てられた少なくとも三つのクランプ手段を含む移動プラットホーム、好ましくは、請求項1乃至18のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームにおいて、
前記クランプ手段の各々は、キャリヤを、接触点のところで、及び前記キャリヤの少なくとも一つのグローブ状接触面のところでクランプし、少なくとも一つのクランプ手段には、前記キャリヤを少なくとも二つの仮想軸線を中心として回転できるように、前記接触点を、少なくとも夫々の接触面及び/又は少なくとも夫々のクランプ手段に対して変位するための少なくとも一つの変位エレメントが設けられており、前記クランプ手段によって前記キャリヤに加えられる法線力は、ほぼ平行な平面内にあり、これらの平行な平面は、夫々の接触点での前記グローブ状表面の接線方向平面に対してほぼ垂直である、移動プラットホーム。 - キャリヤ及び間隔が隔てられた少なくとも三つのクランプ手段を含む移動プラットホーム、好ましくは、請求項1乃至18のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームを備えた顕微鏡において、
前記クランプ手段の各々は、キャリヤを、接触点のところで、及び前記キャリヤの少なくとも一つのグローブ状接触面のところでクランプし、少なくとも一つのクランプ手段には、前記キャリヤを少なくとも二つの仮想軸線を中心として回転できるように、前記接触点を、少なくとも夫々の接触面及び/又は少なくとも夫々のクランプ手段に対して変位するための少なくとも一つの変位エレメントが設けられており、前記クランプ手段によって前記キャリヤに加えられる法線力は、ほぼ平行な平面内にあり、これらの平行な平面は、夫々の接触点での前記グローブ状表面の接線方向平面に対してほぼ垂直である、顕微鏡。 - キャリヤを、顕微鏡で、好ましくは請求項1乃至18のうちのいずれか一項に記載の移動プラットホームを使用して回転する方法において、
少なくとも三つのクランプ手段の各々が、キャリヤを、接触点のところで、前記キャリヤの少なくとも一つのグローブ状接触面のところでクランプし、少なくとも一つのクランプ手段は、夫々の接触点を、少なくとも夫々の接触面及び/又は少なくとも夫々のクランプ手段に対して変位し、前記クランプ手段が前記キャリヤに加える法線力は、ほぼ平行な平面内にあり、これらの平行な平面は、夫々の接触点での前記グローブ状表面の接線方向平面に対してほぼ垂直である、方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3643091A (en) * | 1968-08-30 | 1972-02-15 | Ass Elect Ind | Specimen stage and holder assembly for electron microscope |
JPH03129654A (ja) * | 1989-10-13 | 1991-06-03 | Jeol Ltd | 試料移動装置 |
JPH07234447A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-09-05 | Canon Inc | 撮影ユニットおよびカメラ |
EP0741420A2 (en) * | 1995-04-06 | 1996-11-06 | Nanomotion Ltd | Multi-axis rotation device |
JP2004087141A (ja) * | 2002-08-22 | 2004-03-18 | Jeol Ltd | 試料ステージ及び荷電粒子線装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0424609A1 (en) * | 1989-09-28 | 1991-05-02 | Rockwell International Corporation | Piezoelectric actuator |
CA2066084A1 (en) * | 1991-05-31 | 1992-12-01 | Gordon Walter Culp | Twisting actuators |
JPH09219980A (ja) | 1995-12-04 | 1997-08-19 | Nikon Corp | 多自由度形駆動装置 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3643091A (en) * | 1968-08-30 | 1972-02-15 | Ass Elect Ind | Specimen stage and holder assembly for electron microscope |
JPH03129654A (ja) * | 1989-10-13 | 1991-06-03 | Jeol Ltd | 試料移動装置 |
JPH07234447A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-09-05 | Canon Inc | 撮影ユニットおよびカメラ |
EP0741420A2 (en) * | 1995-04-06 | 1996-11-06 | Nanomotion Ltd | Multi-axis rotation device |
JP2004087141A (ja) * | 2002-08-22 | 2004-03-18 | Jeol Ltd | 試料ステージ及び荷電粒子線装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008300349A (ja) * | 2007-05-29 | 2008-12-11 | Samsung Sdi Co Ltd | リチウム二次電池 |
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