JP2009295856A - Electrolytic capacitor examination method and electrolytic capacitor examination apparatus - Google Patents

Electrolytic capacitor examination method and electrolytic capacitor examination apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2009295856A
JP2009295856A JP2008149202A JP2008149202A JP2009295856A JP 2009295856 A JP2009295856 A JP 2009295856A JP 2008149202 A JP2008149202 A JP 2008149202A JP 2008149202 A JP2008149202 A JP 2008149202A JP 2009295856 A JP2009295856 A JP 2009295856A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrolytic capacitor
terminal
anode
case
cathode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008149202A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuya Takahashi
哲哉 高橋
Hiroshi Kubota
洋志 久保田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hioki EE Corp filed Critical Hioki EE Corp
Priority to JP2008149202A priority Critical patent/JP2009295856A/en
Publication of JP2009295856A publication Critical patent/JP2009295856A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To perform an accurate examination by enabling a chuck defect to be detected. <P>SOLUTION: A power source unit 13 is configured by connecting in series a resistor 13b and a DC power source 13c between an anode output terminal 13d and a cathode output terminal 13e. A DC voltage V from the DC power source 13c is applied between an anode terminal 3 and a cathode terminal 4 of an electrolytic capacitor 1 from the power source unit 13. A waveform A between a case 5 of the electrolytic capacitor 1 and the anode output terminal 13d is measured from the application start of the DC voltage V and a determination area B is compared with the waveform A. If the overall waveform A is included in the determination area B, a non-short-circuited state is discriminated with the anode terminal 3 and the case 5 not short-circuited. If the waveform A is not partially included in the determination area B, either a short-circuited state with the anode terminal 3 and the case 5 short-circuited or a non-connected state with the cathode output terminal 13e and the cathode terminal 4 not connected is discriminated or a non-connected state is discriminated with the anode output terminal 13d and the anode terminal 3 not connected. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、陽極端子および陰極端子が立設されたコンデンサ素子を金属製のケース内に封入してなる電解コンデンサの陽極端子とケースとの間の短絡の有無を検査する電解コンデンサの検査方法、および電解コンデンサ検査装置に関するものである。   The present invention is an electrolytic capacitor inspection method for inspecting the presence or absence of a short circuit between an anode terminal of an electrolytic capacitor formed by enclosing a capacitor element in which an anode terminal and a cathode terminal are erected in a metal case, and the case, And an electrolytic capacitor inspection apparatus.

この種の電解コンデンサの検査方法として、下記特許文献1に開示された電解コンデンサの検査方法が知られている。この電解コンデンサの検査方法では、金属製(例えばアルミニウム製)のケースとリード線との間に電圧を印加することにより、ケースとリード線との間のショートを検査する。この特許文献1には具体的な検査回路の構成について記載されてはいないが、例えば、図10に示す検査回路101のように、直流電源102と、直流電源102の陽極102aを電解コンデンサ1の陽極端子3に接触させるチャック部11aと、直流電源102の陰極102bを電解コンデンサ1の陰極端子4に接触させるチャック部11bと、チャック部11aと直流電源102の陽極102aとの間を接断(オン・オフ)するためのスイッチ104と、一対のチャック部11a,11b間の電圧を測定する直流電圧計105とを備えているものが一般的に使用されている。   As this type of electrolytic capacitor inspection method, an electrolytic capacitor inspection method disclosed in Patent Document 1 below is known. In this method for inspecting an electrolytic capacitor, a short circuit between the case and the lead wire is inspected by applying a voltage between the case made of metal (for example, aluminum) and the lead wire. Although this patent document 1 does not describe a specific configuration of the inspection circuit, for example, as in the inspection circuit 101 shown in FIG. The chuck portion 11a that is in contact with the anode terminal 3, the chuck portion 11b that is in contact with the cathode terminal 4 of the electrolytic capacitor 1 and the chuck portion 11a and the anode 102a of the DC power source 102 are disconnected (connected) A switch 104 that is turned on / off) and a DC voltmeter 105 that measures the voltage between the pair of chuck portions 11a and 11b are generally used.

この検査回路101を用いた検査方法では、まず、電解コンデンサ1の陽極端子3および陰極端子4を各チャック部11a,11bでチャックし、次いで、スイッチ104をオン状態に移行させて直流電源102で電解コンデンサ1を満充電状態に移行させる。続いて、スイッチ104をオフ状態に移行させて、充電の完了のときから所定時間経過後における電解コンデンサ1の保持電圧を直流電圧計105で測定する。この場合、電解コンデンサ1の陽極端子3とケース5との間に短絡が発生していなければ、保持電圧は閾値以上に維持され、陽極端子3とケース5との間に短絡が発生しているときには、保持電圧は閾値未満となる。したがって、保持電圧と閾値とを比較することにより、電解コンデンサ1の陽極端子3とケース5との間の短絡の有無が検査される。また、他の検査方法として、図11に示すように、電解コンデンサ1の陽極端子3をチャック部11aでチャックして、陽極端子3とケース5とに直流抵抗計111の各プローブを接触させ、陽極端子3とケース5との間の抵抗値を直流抵抗計111を用いて測定することにより、短絡状態を検査する方法も一般的に実施されている。   In this inspection method using the inspection circuit 101, first, the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 of the electrolytic capacitor 1 are chucked by the chuck portions 11 a and 11 b, and then the switch 104 is turned on and the DC power source 102 is used. The electrolytic capacitor 1 is shifted to a fully charged state. Subsequently, the switch 104 is shifted to the OFF state, and the holding voltage of the electrolytic capacitor 1 is measured by the DC voltmeter 105 after a predetermined time has elapsed since the completion of charging. In this case, if a short circuit does not occur between the anode terminal 3 of the electrolytic capacitor 1 and the case 5, the holding voltage is maintained above the threshold value, and a short circuit occurs between the anode terminal 3 and the case 5. Sometimes the holding voltage is below the threshold. Therefore, the presence or absence of a short circuit between the anode terminal 3 of the electrolytic capacitor 1 and the case 5 is inspected by comparing the holding voltage with the threshold value. As another inspection method, as shown in FIG. 11, the anode terminal 3 of the electrolytic capacitor 1 is chucked by the chuck portion 11a, and each probe of the DC resistance meter 111 is brought into contact with the anode terminal 3 and the case 5. A method of inspecting a short circuit state by measuring a resistance value between the anode terminal 3 and the case 5 by using a DC resistance meter 111 is also generally performed.

特許第2542961号公報(第1−2頁、第1図)Japanese Patent No. 2542961 (page 1-2, Fig. 1)

ところが、上記の電解コンデンサの検査方法には、以下の問題点が存在している。すなわち、この電解コンデンサの検査方法は、検査ラインにおいて、自動検査装置によって実施される場合がある。この場合、電解コンデンサ1は、通常、表面に複数の凹部が形成された搬送用トレイ(図示せず)の各凹部にケース5側が収容されて、倒立状態で、つまり、陽極端子3および陰極端子4がケース5から上方に突出した状態で、検査位置に搬送される。搬送用トレイは導電性材料で形成されているため、ケース5は搬送用トレイと電気的に接続された状態にある。このため、例えば、図10の検査回路101を備えた自動検査装置では、ケース5に対する直流電源102の陰極102bや直流電圧計105の接触は搬送用トレイを介して行われる。一方、陽極端子3および陰極端子4に対しては、自動検査装置は、まず、検査対象とする電解コンデンサ1が収容された凹部上方にチャック部11a,11bを移動させ、次いで、陽極端子3および陰極端子4までチャック部11a,11bを下降させる。続いて、各チャック部11a,11bをチャック状態に移行させて陽極端子3および陰極端子4をチャックさせる。   However, the following problems exist in the above-described electrolytic capacitor inspection method. That is, this electrolytic capacitor inspection method may be performed by an automatic inspection device in an inspection line. In this case, the electrolytic capacitor 1 is normally in an inverted state, that is, the anode terminal 3 and the cathode terminal, with the case 5 side accommodated in each recess of a transfer tray (not shown) having a plurality of recesses formed on the surface. In a state where 4 protrudes upward from the case 5, it is conveyed to the inspection position. Since the transfer tray is formed of a conductive material, the case 5 is in a state of being electrically connected to the transfer tray. Therefore, for example, in the automatic inspection apparatus including the inspection circuit 101 of FIG. 10, the contact of the cathode 102b of the DC power source 102 and the DC voltmeter 105 with respect to the case 5 is performed via the transfer tray. On the other hand, for the anode terminal 3 and the cathode terminal 4, the automatic inspection apparatus first moves the chuck portions 11 a and 11 b above the recess in which the electrolytic capacitor 1 to be inspected is accommodated, and then the anode terminal 3 and The chuck portions 11 a and 11 b are lowered to the cathode terminal 4. Subsequently, the chuck portions 11a and 11b are shifted to the chucked state, and the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 are chucked.

しかしながら、陽極端子3や陰極端子4が大きく曲がっている電解コンデンサ1に対しては、各チャック部11a,11bによる陽極端子3や陰極端子4のチャックが正常に行われない状態が発生し、この場合には、電解コンデンサ1に対する検査が正常に行われない。上記の電解コンデンサの検査方法では、充電完了のときから所定時間経過後における電解コンデンサ1の保持電圧や、陽極端子3とケース5との間の抵抗値といったスタティックな物理量に基づいて検査が行われるため、電解コンデンサ1が不良であるという検査結果が得られた場合に、電解コンデンサ1が実際に不良なのか、チャック不良によって電解コンデンサ1が不良であるという検査結果が得られたのかの区別が困難である。したがって、上記の電解コンデンサの検査方法には、チャック不良を検出できないため、正確な検査が行えないという課題が存在している。   However, with respect to the electrolytic capacitor 1 in which the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 are bent greatly, a state occurs in which the chucking of the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 by the chuck portions 11a and 11b is not normally performed. In this case, the electrolytic capacitor 1 is not normally inspected. In the above-described electrolytic capacitor inspection method, the inspection is performed based on a static physical quantity such as a holding voltage of the electrolytic capacitor 1 after a predetermined time has elapsed from the completion of charging and a resistance value between the anode terminal 3 and the case 5. Therefore, when the inspection result that the electrolytic capacitor 1 is defective is obtained, it is distinguished whether the electrolytic capacitor 1 is actually defective or whether the inspection result that the electrolytic capacitor 1 is defective due to a defective chuck is obtained. Have difficulty. Therefore, the above-described electrolytic capacitor inspection method has a problem that an accurate inspection cannot be performed because a chuck failure cannot be detected.

本発明は、かかる課題を解決すべくなされたものであり、チャック不良を検出可能として正確な検査を行い得る電解コンデンサの検査方法および電解コンデンサ検査装置を提供することを主目的とする。   The present invention has been made to solve such a problem, and it is a main object of the present invention to provide an electrolytic capacitor inspection method and an electrolytic capacitor inspection apparatus capable of detecting a chuck failure and performing an accurate inspection.

上記目的を達成すべく請求項1記載の電解コンデンサの検査方法は、電解コンデンサの陽極端子とケースとの間の短絡の有無を検査する電解コンデンサの検査方法であって、陽極出力端子と陰極出力端子との間に抵抗および直流電源が直列接続されて構成された電源部から前記陽極端子と前記電解コンデンサの陰極端子との間に当該直流電源からの直流電圧を印加すると共に、前記ケースと前記電源部の前記陽極出力端子との間の電圧波形を前記直流電圧の印加開始から測定し、予め規定された判定エリアと前記測定された電圧波形とを比較して、当該電圧波形の全体が当該判定エリアに含まれるときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が非短絡状態にあると判別し、当該電圧波形の少なくとも一部が当該判定エリアに含まれないときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が短絡する短絡状態および前記電源部の前記陰極出力端子と前記陰極端子とが非接続となる非接続状態のうちのいずれか、または前記電源部の前記陽極出力端子と前記陽極端子とが非接続となる非接続状態であると判別する。   In order to achieve the above object, an electrolytic capacitor inspection method according to claim 1 is an electrolytic capacitor inspection method for inspecting for a short circuit between an anode terminal of the electrolytic capacitor and a case, the anode output terminal and the cathode output. A DC voltage from the DC power source is applied between the anode terminal and the cathode terminal of the electrolytic capacitor from a power source configured by connecting a resistor and a DC power source in series between the terminal, and the case and the The voltage waveform between the anode output terminal of the power supply unit is measured from the start of application of the DC voltage, and a predetermined determination area is compared with the measured voltage waveform. When included in the determination area, it is determined that the anode terminal and the case are not short-circuited, and at least a part of the voltage waveform is not included in the determination area Any of a short circuit state in which the anode terminal and the case are short-circuited and a non-connected state in which the cathode output terminal and the cathode terminal of the power supply unit are disconnected, or the anode of the power supply unit It is determined that the output terminal and the anode terminal are in a disconnected state in which they are disconnected.

また、請求項2記載の電解コンデンサの検査方法は、請求項1記載の電解コンデンサの検査方法において、前記電圧波形の測定の際に、前記陽極端子および前記陰極端子が立設されて前記ケース内に封入されたコンデンサ素子と当該ケースとの間に圧力または振動を印加する。   The method for inspecting an electrolytic capacitor according to claim 2 is the method for inspecting an electrolytic capacitor according to claim 1, wherein the anode terminal and the cathode terminal are erected in the case when the voltage waveform is measured. A pressure or vibration is applied between the capacitor element enclosed in the case and the case.

また、請求項3記載の電解コンデンサ検査装置は、電解コンデンサの陽極端子とケースとの間の短絡の有無を検査する電解コンデンサ検査装置であって、前記陽極端子および前記電解コンデンサの陰極端子をチャックする一対のチャック部と、陽極出力端子と陰極出力端子との間に抵抗および直流電源が直列接続されて構成され、当該陽極出力端子が前記一対のチャック部の一方に接続されると共に前記陰極出力端子が前記一対のチャック部の他方に接続された電源部と、前記一対のチャック部にチャックされた前記電解コンデンサへの前記電源部の前記直流電源からの直流電圧の印加開始からの前記ケースと当該電源部の当該陽極出力端子との間の電圧波形を1つのチャンネルで測定する測定処理と、予め記憶されている判定エリアと前記測定された電圧波形とを比較し、当該測定された電圧波形の全体が当該判定エリア内にあるときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が非短絡状態にあると判別し、当該測定された電圧波形の少なくとも一部が当該判定エリアに含まれないときには、当該陽極端子と当該ケースとの間が短絡状態および前記陰極出力端子と前記陰極端子とが非接続状態のうちのいずれか、または当該陽極出力端子と当該陽極端子とが非接続状態であると判別する判別処理とを実行する測定器とを備えている。   The electrolytic capacitor inspection apparatus according to claim 3 is an electrolytic capacitor inspection apparatus that inspects for the presence or absence of a short circuit between the anode terminal of the electrolytic capacitor and the case, and chucks the anode terminal and the cathode terminal of the electrolytic capacitor. A resistor and a DC power source are connected in series between a pair of chuck portions and an anode output terminal and a cathode output terminal, and the anode output terminal is connected to one of the pair of chuck portions and the cathode output A power supply having a terminal connected to the other of the pair of chucks; and the case from the start of application of a DC voltage from the DC power supply of the power supply to the electrolytic capacitor chucked by the pair of chucks; A measurement process for measuring a voltage waveform between the power supply unit and the anode output terminal in one channel; a determination area stored in advance; The measured voltage waveform is compared, and when the measured voltage waveform is entirely within the determination area, it is determined that the anode terminal and the case are in a non-shorted state, and the measured When at least part of the voltage waveform is not included in the determination area, the anode terminal and the case are either short-circuited and the cathode output terminal and the cathode terminal are not connected, or the And a measuring device that executes a discrimination process for discriminating that the anode output terminal and the anode terminal are not connected.

請求項1記載の電解コンデンサの検査方法および請求項3記載の電解コンデンサ検査装置では、陽極出力端子と陰極出力端子との間に抵抗および直流電源が直列接続されて構成された電源部から電解コンデンサの陽極端子と陰極端子との間に直流電圧を印加すると共に、ケースと電源部の陽極出力端子との間の電圧波形を直流電圧の印加開始から測定し、測定された電圧波形を判定エリアと比較して、電圧波形の全体が判定エリア内にあるときには、陽極端子とケースとの間が非短絡状態にあると判別し、電圧波形の少なくとも一部が判定エリアに含まれていないときには、陽極端子とケースとの間が短絡する短絡状態および電源部の陰極出力端子と陰極端子とが非接続となる非接続状態のいずれかの状態であるか、または電源部の陽極出力端子と電解コンデンサの陽極端子とが非接続となる非接続状態であると判別する。   4. The electrolytic capacitor inspection method according to claim 1, and the electrolytic capacitor inspection apparatus according to claim 3, wherein the electrolytic capacitor is connected to the anode output terminal and the cathode output terminal by connecting a resistor and a DC power source in series. A DC voltage is applied between the anode terminal and the cathode terminal, and a voltage waveform between the case and the anode output terminal of the power supply unit is measured from the start of DC voltage application, and the measured voltage waveform is used as a determination area. In comparison, when the entire voltage waveform is within the determination area, it is determined that the anode terminal and the case are not short-circuited, and when at least a part of the voltage waveform is not included in the determination area, the anode Either the short-circuit state in which the terminal and the case are short-circuited or the non-connected state in which the cathode output terminal and the cathode terminal of the power supply unit are disconnected, or the anode output of the power supply unit An anode terminal of the child and the electrolytic capacitor is determined to be in an unconnected state to be disconnected.

したがって、この電解コンデンサの検査方法および電解コンデンサ検査装置によれば、電解コンデンサの良否(陽極端子とケースとの間が短絡状態にあるか否か)の検出と共に、陽極出力端子と陽極端子との間、および陰極出力端子と陰極端子との間が接続状態にあるか非接続状態にあるかを検出することができるため、電解コンデンサに対する正確な検査を実行することができる。また、測定器の1つのチャンネルを使用するだけで、電解コンデンサの検査をチャック状態を含めて検査することができるため、装置構成や検査方法を単純化することができる。   Therefore, according to the electrolytic capacitor inspection method and the electrolytic capacitor inspection apparatus, the quality of the electrolytic capacitor (whether or not the anode terminal and the case are in a short-circuited state) is detected, and the anode output terminal and the anode terminal are And whether the cathode output terminal and the cathode terminal are in the connected state or in the disconnected state can be detected, so that an accurate inspection of the electrolytic capacitor can be performed. In addition, since the electrolytic capacitor can be inspected including the chuck state by using only one channel of the measuring instrument, the apparatus configuration and the inspection method can be simplified.

請求項2記載の電解コンデンサの検査方法によれば、コンデンサ素子をケースに押し付けて検査することができるため、陽極箔および陰極箔が電解紙に対してずれて巻回されて製造された結果、電解紙の端部と各箔との端部との間の距離が極めて少ない電解コンデンサ(不良と判別すべき電解コンデンサ)における各箔(陽極箔および陰極箔)のいずれかがケースと接触する確率を高めることができ、これにより、不良と判別すべき電解コンデンサをより確実に不良と判別することができる。また、ケースの内面には、アルミニウムの酸化被膜が存在しているため、電解コンデンサによっては、製造不良に起因して、各箔、陽極端子および陰極端子の少なくとも1つがケースと接触している状態であっても、この酸化被膜によって一時的に絶縁状態(高抵抗状態)となっていることがある。このような電解コンデンサ(不良と判別すべき電解コンデンサ)は、圧力や振動を加えない状態では良品として判別されるが、圧力や振動を加えることで、酸化被膜を物理的に破壊することができ、これにより、不良と判別することができる。   According to the method for inspecting an electrolytic capacitor according to claim 2, since the capacitor element can be pressed against the case and inspected, the anode foil and the cathode foil are manufactured by being wound out of the electrolytic paper, Probability of any foil (anode foil or cathode foil) in contact with the case in an electrolytic capacitor (electrolytic capacitor to be determined as defective) having an extremely small distance between the end of the electrolytic paper and the end of each foil As a result, the electrolytic capacitor to be determined as defective can be more reliably determined as defective. In addition, since an aluminum oxide film is present on the inner surface of the case, depending on the electrolytic capacitor, at least one of the foil, the anode terminal, and the cathode terminal is in contact with the case due to manufacturing defects. Even so, the oxide film may be temporarily in an insulating state (high resistance state). Such an electrolytic capacitor (an electrolytic capacitor that should be identified as defective) is determined as a non-defective product when no pressure or vibration is applied, but the oxide film can be physically destroyed by applying pressure or vibration. Thus, it can be determined as a failure.

以下、添付図面を参照して、本発明に係る電解コンデンサの検査方法および電解コンデンサ検査装置の最良の形態について説明する。   The best mode of an electrolytic capacitor inspection method and an electrolytic capacitor inspection device according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

まず、検査対象となる電解コンデンサ1の概要構成について、図1を参照して説明する。電解コンデンサ1は、所定の寸法に切断された陽極箔および陰極箔(いずれも図示せず)に陽極端子3および陰極端子4をそれぞれ接続し、陽極箔および陰極箔を電解紙(図示せず)を介在させた状態で巻回して作製したコンデンサ素子2と、コンデンサ素子2が収容される金属製のケース5と、ケース5に収容されたコンデンサ素子2を封止するための封止材(一例としてゴム)6と、ケース5の周壁を電気的に絶縁する樹脂フィルム7とで構成されている。また、電解コンデンサ1は、等価的には、図2に示すように、静電容量C、この静電容量Cと直列に接続された状態で陽極端子3と陰極端子4との間に接続された等価直列抵抗Rs(以下、単に「抵抗Rs」ともいう。抵抗値は0.1Ω以下と極めて小さい)と、陽極端子3とケース5との間に存在する漏れ抵抗R1と、陰極端子4とケース5との間に存在する漏れ抵抗R2とを有している。この場合、漏れ抵抗R1の抵抗値は、漏れ抵抗R2の抵抗値と比べて非常に大きな値であり、良品では、数10MΩ程度である。   First, a schematic configuration of the electrolytic capacitor 1 to be inspected will be described with reference to FIG. The electrolytic capacitor 1 has an anode terminal 3 and a cathode terminal 4 connected to an anode foil and a cathode foil (both not shown) cut into predetermined dimensions, respectively, and the anode foil and the cathode foil are connected to an electrolytic paper (not shown). Capacitor element 2 produced by winding in a state of interposing metal, metal case 5 in which capacitor element 2 is accommodated, and a sealing material for sealing capacitor element 2 accommodated in case 5 (one example) As rubber) 6 and a resin film 7 that electrically insulates the peripheral wall of the case 5. Further, the electrolytic capacitor 1 is equivalently connected between the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 in a state of being connected in series with the capacitance C and the capacitance C, as shown in FIG. Equivalent series resistance Rs (hereinafter also referred to simply as “resistance Rs”, the resistance value is as small as 0.1Ω or less), leakage resistance R1 existing between the anode terminal 3 and the case 5, and the cathode terminal 4 A leakage resistance R2 existing between the case 5 and the case 5 is provided. In this case, the resistance value of the leakage resistance R1 is very large compared to the resistance value of the leakage resistance R2, and is about several tens of MΩ for a good product.

次いで、電解コンデンサ検査装置10の構成について、図面を参照して説明する。   Next, the configuration of the electrolytic capacitor inspection apparatus 10 will be described with reference to the drawings.

電解コンデンサ検査装置10は、図1に示すように、一対のチャック部11a,11b、移動機構12、電源部13、測定器14および制御部15を備えている。各チャック部11a,11bはその間隔が陽極端子3と陰極端子4の間隔(立設された陽極端子3と陰極端子4との立設間隔)に対応させられて、チャック部11aが陽極端子3を、チャック部11bが陰極端子4をそれぞれチャック可能に構成されている。また、チャック部11a,11bは、制御部15からの制御信号S1に基づいて作動して、チャック状態および非チャック状態のいずれかの状態に移行する。移動機構12は、制御部15からの制御信号S2に基づいて作動して、電解コンデンサ1に対する検査位置の上方においてチャック部11a,11bを3次元的に移動させる。一例として、電解コンデンサ1は、従来と同様にして、導電性材料で形成された搬送用トレイの表面に形成された複数の凹部にケース5が収容されて、倒立状態で検査位置に複数個同時に搬送される。移動機構12は、制御部15からの制御信号S2に基づいて、制御部15によって凹部に収容されている検査対象の電解コンデンサ1にチャック部11a,11bを移動させる。   As shown in FIG. 1, the electrolytic capacitor inspection apparatus 10 includes a pair of chuck portions 11 a and 11 b, a moving mechanism 12, a power source portion 13, a measuring instrument 14, and a control portion 15. The intervals between the chuck portions 11a and 11b are made to correspond to the interval between the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 (the interval between the erected anode terminal 3 and the cathode terminal 4). The chuck portion 11b is configured to be able to chuck the cathode terminals 4 respectively. Further, the chuck portions 11a and 11b operate based on the control signal S1 from the control portion 15, and shift to either the chuck state or the non-chuck state. The moving mechanism 12 operates based on the control signal S2 from the control unit 15 to move the chuck units 11a and 11b three-dimensionally above the inspection position with respect to the electrolytic capacitor 1. As an example, the electrolytic capacitor 1 has a case 5 accommodated in a plurality of recesses formed on the surface of a transfer tray formed of a conductive material in the same manner as in the past, and a plurality of electrolytic capacitors 1 are simultaneously placed in an inspection position in an inverted state. Be transported. The moving mechanism 12 moves the chuck portions 11a and 11b to the electrolytic capacitor 1 to be inspected accommodated in the recess by the control unit 15 based on the control signal S2 from the control unit 15.

電源部13は、互いに直列に接続されたスイッチ13a、抵抗13bおよび直流電源13cを備え、これらの直列回路が陽極出力端子13dと陰極出力端子13eとの間に接続されて構成されている。この場合、スイッチ13aは、その接断状態(オン・オフ状態)が制御部15からの制御信号S3によって制御される。また、陽極出力端子13dはチャック部11aに接続され、陰極出力端子13eはチャック部11bに接続されている。また、抵抗13bは、その抵抗値が検査対象となる電解コンデンサ1の静電容量Cに対応した適切な数値(例えば、Cが2200μFのときには50Ω、500μFのときには200Ω)に規定されて、直流電源13cによる電解コンデンサ1の充電が緩やかに行われるようになっている。   The power supply unit 13 includes a switch 13a, a resistor 13b, and a DC power supply 13c connected in series with each other, and these series circuits are connected between an anode output terminal 13d and a cathode output terminal 13e. In this case, the connection / disconnection state (on / off state) of the switch 13a is controlled by the control signal S3 from the control unit 15. The anode output terminal 13d is connected to the chuck portion 11a, and the cathode output terminal 13e is connected to the chuck portion 11b. In addition, the resistance 13b is regulated to an appropriate numerical value corresponding to the capacitance C of the electrolytic capacitor 1 to be inspected (for example, 50Ω when C is 2200 μF, 200Ω when C is 500 μF), and the DC power supply The electrolytic capacitor 1 is slowly charged by 13c.

測定器14は、1つのチャンネルの正入力端子に接続された電圧検出プローブ14aと、この1つのチャンネルの負入力端子に接続された電圧検出プローブ14bとを備え、測定処理および判別処理を実行可能に構成されている。また、測定器14は、測定処理で測定した波形(電圧波形)Aや予め記憶されている判定エリア(斜線で示した領域)Bを表示するための表示部14c、および判別処理での判別結果を表示するインジケータ14dを備えている。また、測定器14は、制御部15からの制御信号S4の入力をトリガとして、上記の測定処理等を実行する。この場合、判定エリアBは、良品(陽極端子3とケース5との短絡が発生していない状態)の電解コンデンサ1の陽極端子3および陰極端子4を各チャック部11a,11bに正常にチャックさせた状態において、電源部13のスイッチ13aをオン状態にしたときに、各電圧検出プローブ14a,14bを介して測定器14の1つのチャンネルで測定される波形A(漏れ抵抗R1に発生する電圧の波形)に基づいて作成されたものであり、良品の電解コンデンサ1のばらつきなどを考慮して、良品の電解コンデンサ1についての波形Aがすべて含まれるようにエリアの形状が規定されている。また、測定器14は、1つの電解コンデンサ1に対する検査が完了した時点で、制御部15に対して完了信号S5を出力する。   The measuring instrument 14 includes a voltage detection probe 14a connected to the positive input terminal of one channel and a voltage detection probe 14b connected to the negative input terminal of this one channel, and can perform measurement processing and discrimination processing. It is configured. Further, the measuring instrument 14 includes a display unit 14c for displaying a waveform (voltage waveform) A measured in the measurement process and a determination area (area indicated by oblique lines) B stored in advance, and a determination result in the determination process. The indicator 14d which displays is provided. Further, the measuring instrument 14 executes the above-described measurement processing and the like with the input of the control signal S4 from the control unit 15 as a trigger. In this case, in the determination area B, the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 of the electrolytic capacitor 1 which is a non-defective product (a state where the anode terminal 3 and the case 5 are not short-circuited) are normally chucked by the chuck portions 11a and 11b. In this state, when the switch 13a of the power supply unit 13 is turned on, the waveform A (the voltage generated in the leakage resistance R1) is measured in one channel of the measuring instrument 14 through the voltage detection probes 14a and 14b. The shape of the area is defined so that all of the waveform A for the good electrolytic capacitor 1 is included in consideration of the variation of the good electrolytic capacitor 1 and the like. Further, the measuring instrument 14 outputs a completion signal S5 to the control unit 15 when the inspection of one electrolytic capacitor 1 is completed.

制御部15は、CPUなどで構成されて、搬送用トレイの検査位置への移動完了や、1つの電解コンデンサ1に対する検査完了を検出して、チャック部11a,11b、移動機構12および電源部13に対する制御を実行する。また、制御部15は、測定器14に対して制御信号S4を出力して、測定処理等を開始させる。   The control unit 15 is configured by a CPU or the like, and detects completion of movement of the transport tray to the inspection position or completion of inspection of one electrolytic capacitor 1 to detect the chuck units 11a and 11b, the moving mechanism 12, and the power supply unit 13. Executes control for. Further, the control unit 15 outputs a control signal S4 to the measuring instrument 14 to start measurement processing and the like.

次いで、電解コンデンサ検査装置10の動作と併せて、電解コンデンサの検査方法について説明する。   Next, an electrolytic capacitor inspection method will be described together with the operation of the electrolytic capacitor inspection apparatus 10.

電解コンデンサ検査装置10では、作動状態において、制御部15が、新たな搬送用トレイの検査位置への移動の完了を検出したときには、電解コンデンサ1に対する検査処理50を開始する(図9参照)。この検査処理では、制御部15は、まず、制御信号S2を移動機構12に出力して、最初に検査対象となる電解コンデンサ1の位置にチャック部11a,11bを移動させ(ステップ51)、移動が完了した時点で、制御信号S1をチャック部11a,11bに出力してチャック状態に移行させる(ステップ52)。この場合、電解コンデンサ1が正規な状態で搬送用トレイに収容されており、かつ電解コンデンサ1の陽極端子3や陰極端子4に曲がりが生じていないとき(曲がりが許容範囲内のものであるときも含む)には、電解コンデンサ1の陽極端子3および陰極端子4は、チャック部11a,11bによってチャックされる。一方、陽極端子3や陰極端子4に生じている曲がりが許容範囲を超えているときには、チャック部11a,11bがチャック状態に移行したとしても、陽極端子3や陰極端子4はチャック部11a,11bによってチャックされない状態となる。なお、チャック部11aが陽極端子3を正常にチャックしたときには、電源部13の陽極出力端子13dが陽極端子3と接続され、これにより、測定器14の1つのチャンネルにおける電圧検出プローブ14aも陽極出力端子13dおよびチャック部11aを介して陽極端子3と接続される。また、チャック部11bが陰極端子4を正常にチャックしたときには、電源部13の陰極出力端子13eが陰極端子4と接続される。   In the electrolytic capacitor inspection apparatus 10, in the operating state, when the control unit 15 detects the completion of the movement of the new transport tray to the inspection position, the inspection process 50 for the electrolytic capacitor 1 is started (see FIG. 9). In this inspection process, the control unit 15 first outputs a control signal S2 to the moving mechanism 12, and first moves the chuck units 11a and 11b to the position of the electrolytic capacitor 1 to be inspected (step 51). Is completed, the control signal S1 is output to the chuck portions 11a and 11b to shift to the chuck state (step 52). In this case, when the electrolytic capacitor 1 is accommodated in the transfer tray in a normal state and the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 of the electrolytic capacitor 1 are not bent (when the bending is within an allowable range). The anode terminal 3 and the cathode terminal 4 of the electrolytic capacitor 1 are chucked by the chuck portions 11a and 11b. On the other hand, when the bending occurring in the anode terminal 3 or the cathode terminal 4 exceeds the allowable range, even if the chuck portions 11a and 11b shift to the chucked state, the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 are not in the chuck portions 11a and 11b. Is not chucked. When the chuck part 11a normally chucks the anode terminal 3, the anode output terminal 13d of the power supply part 13 is connected to the anode terminal 3, so that the voltage detection probe 14a in one channel of the measuring instrument 14 also outputs the anode. The anode terminal 3 is connected via the terminal 13d and the chuck portion 11a. When the chuck part 11 b normally chucks the cathode terminal 4, the cathode output terminal 13 e of the power supply part 13 is connected to the cathode terminal 4.

次いで、制御部15は、制御信号S4を測定器14に出力する。これにより、測定器14は、測定処理および判別処理をこの順に実行する(ステップ53)。また、制御部15は、制御信号S4の出力に同期して、制御信号S3を電源部13に所定時間だけ出力する。これにより、電源部13では、スイッチ13aがオフ状態からオン状態に所定時間だけ移行(制御)されて、直流電源13cの直流電圧Vが抵抗13bおよびスイッチ13aを介して電解コンデンサ1の陽極端子3および陰極端子4間に所定時間だけ印加される。   Next, the control unit 15 outputs a control signal S4 to the measuring instrument 14. Thereby, the measuring instrument 14 performs the measurement process and the discrimination process in this order (step 53). The control unit 15 outputs the control signal S3 to the power supply unit 13 for a predetermined time in synchronization with the output of the control signal S4. As a result, in the power supply unit 13, the switch 13a is shifted (controlled) from the OFF state to the ON state for a predetermined time, and the DC voltage V of the DC power supply 13c is supplied to the anode terminal 3 of the electrolytic capacitor 1 via the resistor 13b and the switch 13a. And is applied between the cathode terminal 4 for a predetermined time.

測定器14は、測定処理では、電解コンデンサ1のケース5と、チャック部11a(本例では電解コンデンサ1の陽極端子3)との間に発生する電圧を所定時間だけ測定して、その波形Aを記憶する。これにより、測定処理が完了する。次いで、測定器14は、記憶した波形Aと予め記憶されている判定エリアBとを図1に示すように同時に(重ねて)表示部14cに表示させる。次いで、測定器14は、判別処理を実行する。この判別処理では、測定器14は、波形A全体が判定エリアBに含まれているか否かを判別し、波形A全体が含まれているときには、電解コンデンサ1が良品であると判別する。また、波形Aの少なくとも一部が判定エリアBに含まれていないときには、電解コンデンサ1が不良品であるかまたはチャック部11a,11bによる陽極端子3および陰極端子4のチャックの少なくとも一方にチャックミス(チャック不良)が発生していると判別して、その旨をインジケータ14dに表示する。これにより、測定器14による判別処理が完了する。   In the measurement process, the measuring instrument 14 measures a voltage generated between the case 5 of the electrolytic capacitor 1 and the chuck portion 11a (in this example, the anode terminal 3 of the electrolytic capacitor 1) for a predetermined time, and the waveform A Remember. Thereby, the measurement process is completed. Next, the measuring instrument 14 displays the stored waveform A and the preliminarily stored determination area B on the display unit 14c simultaneously (overlapping) as shown in FIG. Next, the measuring instrument 14 executes a discrimination process. In this determination process, the measuring instrument 14 determines whether or not the entire waveform A is included in the determination area B, and determines that the electrolytic capacitor 1 is a good product when the entire waveform A is included. Further, when at least a part of the waveform A is not included in the determination area B, the electrolytic capacitor 1 is defective or a chuck error occurs in at least one of the chuck of the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 by the chuck portions 11a and 11b. It is determined that (chuck failure) has occurred, and that effect is displayed on the indicator 14d. Thereby, the discrimination process by the measuring instrument 14 is completed.

この判別処理について具体的に説明すると、電解コンデンサ1が良品(つまり、陽極端子3とケース5との間が短絡(ショート)していないもの)であって、チャック部11a,11bによる陽極端子3および陰極端子4のチャックが正常に行われているときには、電源部13の直流電源13cから図3中の右図に示す経路で電流Iが電解コンデンサ1に供給される。このため、電解コンデンサ1は、電流Iによって自らの静電容量Cが充電される。このときに電圧検出プローブ14a,14bを介して測定器14の1つのチャンネルで測定される波形A(つまり、陽極端子3および陰極端子4間に発生する電圧が各漏れ抵抗R1,R2で分圧されて、漏れ抵抗R1の両端間に発生する電圧の波形)は、電源部13による電圧の印加開始(時刻t1)直後から、静電容量C、電源部13の抵抗13b、および抵抗Rsで規定される時定数(上記したように抵抗Rsが極めて小さいため、実質的には静電容量Cおよび抵抗13bで規定される時定数)で上昇する波形となり、同図中の左図に示されるように、判定エリアBに含まれることとなる。したがって、測定器14は、判別処理を実行することにより、電解コンデンサ1が良品であると判別する。また、測定器14は、検査対象となっている電解コンデンサ1が良品である旨をインジケータ14dに表示する。   This determination process will be described in detail. The electrolytic capacitor 1 is a non-defective product (that is, the anode terminal 3 and the case 5 are not short-circuited), and the anode terminal 3 by the chuck portions 11a and 11b. When the chucking of the cathode terminal 4 is normally performed, the current I is supplied to the electrolytic capacitor 1 from the DC power supply 13c of the power supply unit 13 through the path shown in the right diagram of FIG. For this reason, the electrolytic capacitor 1 is charged with its own capacitance C by the current I. At this time, the waveform A (that is, the voltage generated between the anode terminal 3 and the cathode terminal 4) measured by one channel of the measuring instrument 14 via the voltage detection probes 14a and 14b is divided by the leakage resistors R1 and R2. The voltage waveform generated between both ends of the leakage resistor R1 is defined by the capacitance C, the resistor 13b of the power supply unit 13 and the resistor Rs immediately after the voltage application start (time t1) by the power supply unit 13. Waveform that rises with a time constant (the resistance Rs is extremely small as described above, and is substantially the time constant defined by the capacitance C and the resistor 13b), as shown in the left diagram of FIG. Are included in the determination area B. Therefore, the measuring instrument 14 determines that the electrolytic capacitor 1 is a non-defective product by executing a determination process. Further, the measuring instrument 14 displays on the indicator 14d that the electrolytic capacitor 1 to be inspected is a non-defective product.

また、電解コンデンサ1の陰極端子4とケース5とが短絡しているときには、図4中の右図に示すように漏れ抵抗R2の抵抗値がほぼゼロとなる。このため、チャック部11a,11bによる陽極端子3および陰極端子4のチャックが正常に行われている状態において、測定器14で測定される波形Aは、陽極端子3および陰極端子4間に発生する電圧が漏れ抵抗R1全体に印加されるため、図4中の左図に示すように、陰極端子4とケース5とが短絡していない電解コンデンサ1の波形A(図3中の左図)よりも、高い電圧まで上昇する。しかしながら、漏れ抵抗R2の抵抗値は元々小さいため、図4中の左図に示すように、多くの電解コンデンサ1で判定エリアB内に含まれることとなる。このような電解コンデンサ1はコンデンサとしての機能には問題ないため、測定器14は、このような電解コンデンサ1を良品と判別し、その旨をインジケータ14dに表示する。   Further, when the cathode terminal 4 of the electrolytic capacitor 1 and the case 5 are short-circuited, the resistance value of the leakage resistance R2 becomes substantially zero as shown in the right diagram in FIG. Therefore, the waveform A measured by the measuring instrument 14 is generated between the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 in a state where the chucking of the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 by the chuck portions 11a and 11b is normally performed. Since the voltage is applied to the entire leakage resistance R1, as shown in the left diagram in FIG. 4, from the waveform A (left diagram in FIG. 3) of the electrolytic capacitor 1 in which the cathode terminal 4 and the case 5 are not short-circuited. Also rises to a higher voltage. However, since the resistance value of the leakage resistance R2 is originally small, many electrolytic capacitors 1 are included in the determination area B as shown in the left diagram of FIG. Since the electrolytic capacitor 1 has no problem with the function as a capacitor, the measuring instrument 14 determines that the electrolytic capacitor 1 is a non-defective product and displays the fact on the indicator 14d.

一方、電解コンデンサ1の陽極端子3とケース5とが短絡しているときには、図5中の右図に示すように漏れ抵抗R1の抵抗値がほぼゼロとなる。このため、チャック部11a,11bによる陽極端子3および陰極端子4のチャックが正常に行われている状態においても、同図中の左図に示すように、測定器14で測定される波形Aはゼロボルトのままで、変化しない。このため、波形Aは電源部13による電圧の印加開始(時刻t1)直後から判定エリアBに含まれないこととなる(具体的には、判定エリアBの下限電圧値よりも低い電圧となる)。また、電解コンデンサ1が良品であっても、図6に示すように、チャック部11bにおいてチャック不良(陰極端子4がチャックされていない状態)が発生しているときには、電源部13による電解コンデンサ1の充電が行われない。このため、この場合にも、測定器14で測定される波形Aは、図5中の左図に示すように、ゼロボルトから変化せずに、判定エリアBの下限電圧値よりも低い電圧となる。したがって、測定器14は、波形Aが図5の左図に示す態様で判定エリアBに含まれない状態となっているときには、陽極端子3とケース5とが短絡状態にあるか、またはチャック部11bにおいて陰極端子4に対するチャック不良が発生している状態にあるかのいずれかであると判別して、その旨をインジケータ14dに表示する。   On the other hand, when the anode terminal 3 of the electrolytic capacitor 1 and the case 5 are short-circuited, the resistance value of the leakage resistance R1 is substantially zero as shown in the right figure of FIG. Therefore, even when the chucking of the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 by the chuck portions 11a and 11b is performed normally, as shown in the left diagram of FIG. It remains at zero volts and does not change. For this reason, the waveform A is not included in the determination area B immediately after the voltage application start (time t1) by the power supply unit 13 (specifically, the voltage is lower than the lower limit voltage value of the determination area B). . Even if the electrolytic capacitor 1 is a non-defective product, as shown in FIG. 6, when a chuck failure (a state in which the cathode terminal 4 is not chucked) occurs in the chuck portion 11b, the electrolytic capacitor 1 by the power source portion 13 is used. Is not charged. Therefore, also in this case, the waveform A measured by the measuring instrument 14 is a voltage lower than the lower limit voltage value of the determination area B without changing from zero volts as shown in the left diagram in FIG. . Therefore, when the waveform A is not included in the determination area B in the form shown in the left diagram of FIG. 5, the measuring instrument 14 is in a state where the anode terminal 3 and the case 5 are short-circuited or the chuck portion. In 11b, it is determined that there is a chuck failure with respect to the cathode terminal 4, and the fact is displayed on the indicator 14d.

また、電解コンデンサ1が良品であっても、図7に示すように、チャック部11aにおいてチャック不良(陽極端子3がチャックされていない状態)が発生しているときには、電源部13の直流電源13cからは電解コンデンサ1に対して正規の経路(図3に示す経路)での電流Iの供給は行われず、図7中の右図に示す経路(測定器14の内部抵抗Ri(図2,7参照)を含む経路)で電流Iが供給される。この経路においては、静電容量Cは、抵抗値の極めて大きい漏れ抵抗R1と直列に接続されると共にその直列回路と抵抗値の小さい漏れ抵抗R2とが並列に接続された状態で含まれる。このため、測定器14で測定される波形Aは、静電容量Cの存在には殆ど影響を受けることなく、図7中の左図に示すように、電源部13の直流電源13cによる電圧の印加開始(時刻t1)直後に、急激に上昇して判定エリアBの上限電圧値よりも高い電圧となり、その後に徐々に低下する波形となる。したがって、測定器14は、波形Aが図7の左図に示す態様で判定エリアBに含まれない状態となっているときには、チャック部11aにチャック不良が発生していると判別して、その旨をインジケータ14dに表示する。なお、図7中の左図に示すような波形Aは、電解コンデンサ1が搬送用トレイの凹部へ正常の収容状態から180°回転して収容されている誤装着状態、つまりチャック部11aで陰極端子4をチャックするようになる状態において、チャック部11aでチャック不良が発生しているときにも発生する。   Even if the electrolytic capacitor 1 is a non-defective product, as shown in FIG. 7, when a chuck failure (a state where the anode terminal 3 is not chucked) occurs in the chuck portion 11a, the DC power source 13c of the power source portion 13 is used. , The current I is not supplied to the electrolytic capacitor 1 through the regular path (path shown in FIG. 3), and the path shown in the right diagram in FIG. 7 (internal resistance Ri of the measuring instrument 14 (FIGS. 2 and 7) The current I is supplied in the path including the reference). In this path, the capacitance C is included in a state where the leakage resistance R1 having a very large resistance value is connected in series and the series circuit and the leakage resistance R2 having a small resistance value are connected in parallel. For this reason, the waveform A measured by the measuring instrument 14 is hardly affected by the presence of the capacitance C, and as shown in the left diagram of FIG. Immediately after the start of application (time t1), the voltage rapidly increases and becomes a voltage higher than the upper limit voltage value of the determination area B, and thereafter the waveform gradually decreases. Therefore, when the waveform A is in a state not included in the determination area B in the form shown in the left diagram of FIG. 7, the measuring instrument 14 determines that a chuck failure has occurred in the chuck portion 11 a, and The effect is displayed on the indicator 14d. Note that the waveform A as shown in the left diagram of FIG. 7 indicates that the electrolytic capacitor 1 is in a wrong mounting state in which the electrolytic capacitor 1 is rotated 180 ° from the normal storage state and stored in the concave portion of the transport tray, that is, the cathode in the chuck portion 11a. This also occurs when a chuck failure occurs in the chuck portion 11a in a state where the terminal 4 is to be chucked.

また、電解コンデンサ1が良品であって、かつチャック部11a,11bによる陽極端子3および陰極端子4のチャックが正常に行われている状態であっても、例えば、電解コンデンサ1が搬送用トレイの凹部へ上記の誤装着状態で収容されていることに起因して、図8中の右図に示すように、チャック部11aで陰極端子4がチャックされ、チャック部11bで陽極端子3がチャックされている状態(逆装着状態)のときには、測定器14は、漏れ抵抗R1と比較して抵抗値が大幅に小さい漏れ抵抗R1の両端間にその電圧検出プローブ14a,14bが接続されることになる。このため、測定器14で測定される波形Aは、図8中の左図に示すように、電源部13による電圧印加開始(時刻t1)直後から徐々に上昇するものの極めて低い電圧までしか上昇せず、判定エリアBの下限電圧値を下回るものとなる。したがって、測定器14は、波形Aが図8中の左図に示す態様で判定エリアBに含まれない状態となっているときには、電解コンデンサ1の陽極端子3および陰極端子4が、チャック部11a,11bに逆装着状態(逆極性)でチャックされていると判別して、その旨をインジケータ14dに表示する。   Further, even when the electrolytic capacitor 1 is a non-defective product and the chucking of the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 by the chuck portions 11a and 11b is normally performed, for example, the electrolytic capacitor 1 is a transfer tray. As shown in the right figure in FIG. 8, the cathode terminal 4 is chucked by the chuck portion 11a and the anode terminal 3 is chucked by the chuck portion 11b due to being housed in the concave portion in the above-described erroneous mounting state. When the measuring instrument 14 is in a reverse state (reverse mounting state), the voltage detector probes 14a and 14b of the measuring instrument 14 are connected between both ends of the leakage resistance R1 whose resistance value is significantly smaller than that of the leakage resistance R1. . For this reason, the waveform A measured by the measuring instrument 14 increases only to a very low voltage although it gradually increases immediately after the start of voltage application (time t1) by the power supply unit 13 as shown in the left diagram of FIG. Therefore, it is lower than the lower limit voltage value of the determination area B. Therefore, when the waveform A is not included in the determination area B in the manner shown in the left diagram of FIG. 8, the measuring instrument 14 has the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 of the electrolytic capacitor 1 connected to the chuck portion 11a. , 11b is chucked in the reverse mounting state (reverse polarity), and the fact is displayed on the indicator 14d.

測定器14は、検査対象となっている1つの電解コンデンサ1に対する上記の測定処理および判別処理が完了したときには、完了信号S5を制御部15に出力する。制御部15は、完了信号S5を入力したときには、制御信号S1を各チャック部11a,11bに出力して非チャック状態に移行させる(ステップ54)。次いで、制御部15は、未検査の電解コンデンサ1が存在するか否かを判別し(ステップ55)、存在する場合には、ステップ51に移行して、次に検査対象となる電解コンデンサ1の位置にチャック部11a,11bを移動させる。制御部15は、上記のステップ51〜55を繰り返し実行して、搬送用トレイに収容されている電解コンデンサ1に対する検査を続行する。一方、ステップ55において、未検査の電解コンデンサ1が存在しないと判別したときには、制御部15は、各チャック部11a,11bを待避位置に移動させる(ステップ56)。これにより、検査処理が完了する。したがって、作業者は、測定器14のインジケータ14dの表示や、表示部14cに表示される波形Aを観測することにより、電解コンデンサ1についての良否の判断や、チャック部11a,11bによる陽極端子3および陰極端子4のチャック状態の良否を判断可能となっている。   The measuring instrument 14 outputs a completion signal S5 to the control unit 15 when the measurement process and the discrimination process for one electrolytic capacitor 1 to be inspected are completed. When the completion signal S5 is input, the control unit 15 outputs the control signal S1 to the chuck units 11a and 11b to shift to the non-chuck state (step 54). Next, the control unit 15 determines whether or not an untested electrolytic capacitor 1 is present (step 55). If present, the control unit 15 proceeds to step 51 to determine the electrolytic capacitor 1 to be inspected next. The chuck portions 11a and 11b are moved to positions. The control unit 15 repeats the above steps 51 to 55 to continue the inspection of the electrolytic capacitor 1 accommodated in the transfer tray. On the other hand, when it is determined in step 55 that there is no untested electrolytic capacitor 1, the control unit 15 moves the chuck portions 11a and 11b to the retracted position (step 56). Thereby, the inspection process is completed. Accordingly, the operator observes the display of the indicator 14d of the measuring instrument 14 and the waveform A displayed on the display unit 14c, thereby judging the quality of the electrolytic capacitor 1 and the anode terminal 3 by the chuck units 11a and 11b. Also, it is possible to determine whether the cathode terminal 4 is in a chucked state.

このように、この電解コンデンサ検査装置10、およびこの電解コンデンサ検査装置10が実行する電解コンデンサの検査方法では、陽極出力端子13dと陰極出力端子13eとの間に抵抗13bおよび直流電源13cが直列接続されて構成された電源部13から電解コンデンサ1の陽極端子3と陰極端子4との間に直流電圧Vを印加すると共に、ケース5と電源部13の陽極出力端子13dとの間の波形Aを直流電圧Vの印加開始(時刻t1)から測定し、測定された波形Aを判定エリアBと比較して、波形Aの全体が判定エリアB内にあるときには、陽極端子3とケース5との間が非短絡状態にあると判別し、波形Aの少なくとも一部が判定エリアBに含まれていないとき(判定エリアB外にあるとき)には、波形Aの形状に基づいて、陽極端子3とケース5との間が短絡する短絡状態および電源部13の陰極出力端子13eと陰極端子4とが非接続となる非接続状態(チャック部11bでチャック不良が生じている状態)のいずれかの状態であるか、または電源部13の陽極出力端子13dと陽極端子3とが非接続となる非接続状態(チャック部11aでチャック不良が生じている状態)であると判別する。   Thus, in this electrolytic capacitor inspection apparatus 10 and the electrolytic capacitor inspection method executed by this electrolytic capacitor inspection apparatus 10, the resistor 13b and the DC power supply 13c are connected in series between the anode output terminal 13d and the cathode output terminal 13e. A DC voltage V is applied between the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 of the electrolytic capacitor 1 from the power supply unit 13 configured as described above, and a waveform A between the case 5 and the anode output terminal 13d of the power supply unit 13 is generated. Measured from the start of application of the DC voltage V (time t1), and the measured waveform A is compared with the determination area B. When the entire waveform A is in the determination area B, the interval between the anode terminal 3 and the case 5 is Is determined to be in a non-short-circuit state, and when at least a part of the waveform A is not included in the determination area B (when it is outside the determination area B), based on the shape of the waveform A, A short-circuited state in which the electrode terminal 3 and the case 5 are short-circuited and a non-connected state in which the cathode output terminal 13e and the cathode terminal 4 of the power supply unit 13 are disconnected (a state in which a chuck failure occurs in the chuck unit 11b). It is determined that the state is either one or a non-connected state in which the anode output terminal 13d of the power supply unit 13 and the anode terminal 3 are not connected (a state in which a chuck failure occurs in the chuck unit 11a).

したがって、この電解コンデンサ検査装置10および電解コンデンサの検査方法によれば、電解コンデンサ1の良否の検出と共に、チャック部11a,11bによる陽極端子3および陰極端子4のチャック不良を検出することができるため、電解コンデンサ1に対する正確な検査を実行することができる。また、この電解コンデンサ検査装置10、および電解コンデンサの検査方法によれば、測定器14の1つのチャンネルを使用するだけで、電解コンデンサ1の検査をチャック状態を含めて検査することができるため、装置構成や検査方法を単純化することができる。   Therefore, according to the electrolytic capacitor inspection apparatus 10 and the electrolytic capacitor inspection method, it is possible to detect the quality of the electrolytic capacitor 1 and the chuck failure of the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 by the chuck portions 11a and 11b. An accurate inspection for the electrolytic capacitor 1 can be executed. Further, according to the electrolytic capacitor inspection apparatus 10 and the electrolytic capacitor inspection method, the electrolytic capacitor 1 can be inspected including the chuck state by using only one channel of the measuring instrument 14. The apparatus configuration and the inspection method can be simplified.

なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、電源部13から直流電圧Vを電解コンデンサ1に印加して、測定器14による波形Aの測定中において、制御部15が制御信号S2を移動機構12に出力することにより、移動機構12に対してチャック部11a,11bを電解コンデンサ1側にさらに移動させる制御を行わせるようにすることもできる。これにより、チャック部11a,11bから陽極端子3や陰極端子4を介してコンデンサ素子2が圧力を受けて、ケース5に押し付けられる。このため、陽極箔および陰極箔が電解紙に対してずれて巻回されて製造された結果、電解紙の端部と各箔との端部との間の距離が極めて少ない電解コンデンサ1(不良と判別すべき電解コンデンサ1)に対して、そのコンデンサ素子2をケース5に押し付けて検査することができるため、各箔のいずれかがケース5と接触する確率を高めることができ、これにより、不良と判別すべき電解コンデンサ1をより確実に不良と判別することができる。また、ケース5の内面には、アルミニウムの酸化被膜が存在しているため、電解コンデンサ1によっては、製造不良に起因して、箔、陽極端子3および陰極端子4の少なくとも1つがケース5と接触している状態であっても、この酸化被膜によって一時的に絶縁状態(高抵抗状態)となっていることがある。このような電解コンデンサ1(不良と判別すべき電解コンデンサ1)は、圧力や振動を加えない状態では良品として判別されるが、圧力や振動を加えることで、酸化被膜を物理的に破壊することができ、これにより、不良と判別することができる。   In addition, this invention is not limited to said structure. For example, when the DC voltage V is applied from the power supply unit 13 to the electrolytic capacitor 1 and the waveform A is measured by the measuring instrument 14, the control unit 15 outputs the control signal S 2 to the moving mechanism 12. On the other hand, it is also possible to perform control to further move the chuck portions 11a and 11b to the electrolytic capacitor 1 side. As a result, the capacitor element 2 receives pressure from the chuck portions 11 a and 11 b via the anode terminal 3 and the cathode terminal 4 and is pressed against the case 5. For this reason, as a result of the anode foil and the cathode foil being manufactured by being wound with respect to the electrolytic paper, the electrolytic capacitor 1 having a very small distance between the end of the electrolytic paper and the end of each foil (defective) Therefore, it is possible to increase the probability that any one of the foils comes into contact with the case 5, because the capacitor element 2 can be pressed against the case 5 and inspected. It is possible to more reliably determine that the electrolytic capacitor 1 to be determined as defective is defective. Further, since an aluminum oxide film is present on the inner surface of the case 5, depending on the electrolytic capacitor 1, at least one of the foil, the anode terminal 3, and the cathode terminal 4 is in contact with the case 5 due to manufacturing defects. Even in this state, the oxide film may temporarily be in an insulating state (high resistance state). Such an electrolytic capacitor 1 (electrolytic capacitor 1 to be determined as defective) is determined as a non-defective product in the state where no pressure or vibration is applied, but the oxide film is physically destroyed by applying pressure or vibration. Thus, it can be determined as a failure.

このため、制御部15が制御信号S2を移動機構12に出力することにより、移動機構12に対してチャック部11a,11bを電解コンデンサ1に対して進退動させる制御を行わせるようにすることもできる。この構成によれば、電解コンデンサ1のコンデンサ素子2に対して振動を加えることができ、この振動により、上記のような不良と判別すべき電解コンデンサ1を、一層確実に不良と判別することもできる。なお、上記の例では、移動機構12に対する制御により、電解コンデンサ1のコンデンサ素子2に対して圧力や振動を加えるようにしているが、圧力や振動を加えるための専用の機構(振動印加部)を設けることもできる。   For this reason, the control unit 15 outputs the control signal S2 to the moving mechanism 12, thereby causing the moving mechanism 12 to perform control for moving the chuck units 11a and 11b forward and backward with respect to the electrolytic capacitor 1. it can. According to this configuration, it is possible to apply vibration to the capacitor element 2 of the electrolytic capacitor 1, and it is possible to more reliably determine that the electrolytic capacitor 1 to be determined as defective as described above is defective. it can. In the above example, pressure and vibration are applied to the capacitor element 2 of the electrolytic capacitor 1 by controlling the moving mechanism 12, but a dedicated mechanism (vibration applying unit) for applying pressure and vibration is used. Can also be provided.

電解コンデンサ1の構成および電解コンデンサ検査装置10の構成を示す構成図である。1 is a configuration diagram showing a configuration of an electrolytic capacitor 1 and a configuration of an electrolytic capacitor inspection device 10. FIG. 電解コンデンサ1の等価回路を説明するための説明図である。3 is an explanatory diagram for explaining an equivalent circuit of the electrolytic capacitor 1. FIG. 良品の電解コンデンサ1を正常にチャックした状態の電解コンデンサ検査装置10の部分構成図、およびこの状態において表示部14cに表示される波形Aおよび判定エリアBを説明するための説明図である。FIG. 2 is a partial configuration diagram of the electrolytic capacitor inspection device 10 in a state where the good electrolytic capacitor 1 is normally chucked, and an explanatory diagram for explaining a waveform A and a determination area B displayed on the display unit 14c in this state. 陰極端子4がケース5と短絡している電解コンデンサ1を正常にチャックした状態の電解コンデンサ検査装置10の部分構成図、およびこの状態において表示部14cに表示される波形Aおよび判定エリアBを説明するための説明図である。The partial block diagram of the electrolytic capacitor inspection apparatus 10 in a state where the electrolytic capacitor 1 in which the cathode terminal 4 is short-circuited with the case 5 is normally chucked, and the waveform A and the determination area B displayed on the display unit 14c in this state are described. It is explanatory drawing for doing. 陽極端子3がケース5と短絡している電解コンデンサ1を正常にチャックした状態の電解コンデンサ検査装置10の部分構成図、およびこの状態において表示部14cに表示される波形Aおよび判定エリアBを説明するための説明図である。The partial block diagram of the electrolytic capacitor inspection apparatus 10 in a state where the electrolytic capacitor 1 in which the anode terminal 3 is short-circuited with the case 5 is normally chucked, and the waveform A and the determination area B displayed on the display unit 14c in this state are described. It is explanatory drawing for doing. チャック部11bにおいてチャック不良が生じている状態の電解コンデンサ検査装置10の部分構成図である。It is a partial block diagram of the electrolytic capacitor inspection apparatus 10 in a state where a chuck failure has occurred in the chuck portion 11b. チャック部11aにおいてチャック不良が生じている状態の電解コンデンサ検査装置10の部分構成図、およびこの状態において表示部14cに表示される波形Aおよび判定エリアBを説明するための説明図である。It is the partial block diagram of the electrolytic capacitor inspection apparatus 10 in the state where the chuck | zipper defect has arisen in the chuck | zipper part 11a, and explanatory drawing for demonstrating the waveform A and the determination area B which are displayed on the display part 14c in this state. 電解コンデンサ1がチャック部11a,11bに逆装着状態(逆極性)でチャックされている状態の電解コンデンサ検査装置10の部分構成図、およびこの状態において表示部14cに表示される波形Aおよび判定エリアBを説明するための説明図である。Partial configuration diagram of the electrolytic capacitor inspection device 10 in a state where the electrolytic capacitor 1 is chucked in the reversely mounted state (reverse polarity) on the chuck portions 11a and 11b, and the waveform A and the determination area displayed on the display portion 14c in this state It is explanatory drawing for demonstrating B. FIG. 電解コンデンサ検査装置10の検査処理50を示すフローチャートである。4 is a flowchart showing an inspection process 50 of the electrolytic capacitor inspection device 10. 電解コンデンサ1に対する従来の検査回路101の構成図である。1 is a configuration diagram of a conventional inspection circuit 101 for an electrolytic capacitor 1. FIG. 電解コンデンサ1に対して直流抵抗計111を用いて検査する場合の構成図である。2 is a configuration diagram in the case of inspecting the electrolytic capacitor 1 using a DC resistance meter 111. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 電解コンデンサ
2 コンデンサ素子
3 陽極端子
4 陰極端子
5 ケース
11a,11b チャック部
13 電源部
13b 抵抗
13c 直流電源
13d 陽極出力端子
13e 陰極出力端子
14 測定器
14a,14b 電圧検出プローブ
15 制御部
A 波形(電圧波形)
B 判定エリア
V 直流電圧
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electrolytic capacitor 2 Capacitor element 3 Anode terminal 4 Cathode terminal 5 Case 11a, 11b Chuck part 13 Power supply part 13b Resistance 13c DC power supply 13d Anode output terminal 13e Cathode output terminal 14 Measuring instrument 14a, 14b Voltage detection probe 15 Control part A Waveform ( Voltage waveform)
B Judgment area V DC voltage

Claims (3)

電解コンデンサの陽極端子とケースとの間の短絡の有無を検査する電解コンデンサの検査方法であって、
陽極出力端子と陰極出力端子との間に抵抗および直流電源が直列接続されて構成された電源部から前記陽極端子と前記電解コンデンサの陰極端子との間に当該直流電源からの直流電圧を印加すると共に、前記ケースと前記電源部の前記陽極出力端子との間の電圧波形を前記直流電圧の印加開始から測定し、
予め規定された判定エリアと前記測定された電圧波形とを比較して、当該電圧波形の全体が当該判定エリアに含まれるときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が非短絡状態にあると判別し、当該電圧波形の少なくとも一部が当該判定エリアに含まれないときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が短絡する短絡状態および前記電源部の前記陰極出力端子と前記陰極端子とが非接続となる非接続状態のうちのいずれか、または前記電源部の前記陽極出力端子と前記陽極端子とが非接続となる非接続状態であると判別する電解コンデンサの検査方法。
An electrolytic capacitor inspection method for inspecting the presence or absence of a short circuit between the anode terminal of the electrolytic capacitor and the case,
A DC voltage from the DC power supply is applied between the anode terminal and the cathode terminal of the electrolytic capacitor from a power supply unit configured by connecting a resistor and a DC power supply in series between the anode output terminal and the cathode output terminal. A voltage waveform between the case and the anode output terminal of the power supply unit is measured from the start of application of the DC voltage,
A predetermined determination area and the measured voltage waveform are compared, and when the entire voltage waveform is included in the determination area, it is determined that the anode terminal and the case are not short-circuited. When the voltage waveform is not included in the determination area, the anode terminal and the case are short-circuited and the cathode output terminal and the cathode terminal of the power supply unit are not connected. A method for inspecting an electrolytic capacitor that determines that any one of the unconnected states or the unconnected state in which the anode output terminal and the anode terminal of the power supply unit are disconnected from each other.
前記電圧波形の測定の際に、前記陽極端子および前記陰極端子が立設されて前記ケース内に封入されたコンデンサ素子と当該ケースとの間に圧力または振動を印加する請求項1記載の電解コンデンサの検査方法。   2. The electrolytic capacitor according to claim 1, wherein, when the voltage waveform is measured, the anode terminal and the cathode terminal are erected and pressure or vibration is applied between the case and the capacitor element enclosed in the case. Inspection method. 電解コンデンサの陽極端子とケースとの間の短絡の有無を検査する電解コンデンサ検査装置であって、
前記陽極端子および前記電解コンデンサの陰極端子をチャックする一対のチャック部と、
陽極出力端子と陰極出力端子との間に抵抗および直流電源が直列接続されて構成され、当該陽極出力端子が前記一対のチャック部の一方に接続されると共に前記陰極出力端子が前記一対のチャック部の他方に接続された電源部と、
前記一対のチャック部にチャックされた前記電解コンデンサへの前記電源部の前記直流電源からの直流電圧の印加開始からの前記ケースと当該電源部の当該陽極出力端子との間の電圧波形を1つのチャンネルで測定する測定処理と、予め記憶されている判定エリアと前記測定された電圧波形とを比較し、当該測定された電圧波形の全体が当該判定エリア内にあるときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が非短絡状態にあると判別し、当該測定された電圧波形の少なくとも一部が当該判定エリアに含まれないときには、当該陽極端子と当該ケースとの間が短絡状態および前記陰極出力端子と前記陰極端子とが非接続状態のうちのいずれか、または当該陽極出力端子と当該陽極端子とが非接続状態であると判別する判別処理とを実行する測定器とを備えている電解コンデンサ検査装置。
An electrolytic capacitor inspection device for inspecting the presence or absence of a short circuit between the anode terminal of the electrolytic capacitor and the case,
A pair of chuck portions for chucking the anode terminal and the cathode terminal of the electrolytic capacitor;
A resistor and a DC power source are connected in series between the anode output terminal and the cathode output terminal, the anode output terminal is connected to one of the pair of chuck portions, and the cathode output terminal is connected to the pair of chuck portions. A power supply connected to the other of
One voltage waveform between the case and the anode output terminal of the power supply unit from the start of application of a DC voltage from the DC power supply of the power supply unit to the electrolytic capacitor chucked by the pair of chuck units The measurement processing measured in the channel is compared with the determination area stored in advance and the measured voltage waveform. When the measured voltage waveform is entirely within the determination area, the anode terminal and the case Between the anode terminal and the case is short-circuited and the cathode output terminal when at least part of the measured voltage waveform is not included in the determination area And a determination process for determining whether the anode terminal is in a disconnected state or the anode output terminal and the anode terminal are in a disconnected state Bets and has an electrolytic capacitor testing apparatus comprising a.
JP2008149202A 2008-06-06 2008-06-06 Electrolytic capacitor examination method and electrolytic capacitor examination apparatus Pending JP2009295856A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008149202A JP2009295856A (en) 2008-06-06 2008-06-06 Electrolytic capacitor examination method and electrolytic capacitor examination apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008149202A JP2009295856A (en) 2008-06-06 2008-06-06 Electrolytic capacitor examination method and electrolytic capacitor examination apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009295856A true JP2009295856A (en) 2009-12-17

Family

ID=41543763

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008149202A Pending JP2009295856A (en) 2008-06-06 2008-06-06 Electrolytic capacitor examination method and electrolytic capacitor examination apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009295856A (en)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02119216A (en) * 1988-10-28 1990-05-07 Nichicon Corp Method for testing capacitor
JPH04267514A (en) * 1991-02-22 1992-09-24 Ckd Corp Manufacture of electrolytic capacitor
JP2003276555A (en) * 2002-03-22 2003-10-02 Mitsubishi Electric Corp Backup capacity detecting device of occupant protecting device
JP2004128312A (en) * 2002-10-04 2004-04-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for manufacturing aluminum electrolytic capacitor
JP2007057402A (en) * 2005-08-25 2007-03-08 Nec Fielding Ltd System and method for measuring performance of capacitor

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02119216A (en) * 1988-10-28 1990-05-07 Nichicon Corp Method for testing capacitor
JPH04267514A (en) * 1991-02-22 1992-09-24 Ckd Corp Manufacture of electrolytic capacitor
JP2003276555A (en) * 2002-03-22 2003-10-02 Mitsubishi Electric Corp Backup capacity detecting device of occupant protecting device
JP2004128312A (en) * 2002-10-04 2004-04-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for manufacturing aluminum electrolytic capacitor
JP2007057402A (en) * 2005-08-25 2007-03-08 Nec Fielding Ltd System and method for measuring performance of capacitor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102462033B1 (en) Circuit board inspection method and circuit board inspection apparatus
KR101612091B1 (en) Method for inspecting electrostatic chuck, and electrostatic chuck apparatus
JP2010185697A (en) Apparatus and method for inspecting printed circuit board
US20150084643A1 (en) Insulation inspection method and insulation inspection apparatus
JP5177851B2 (en) Insulation inspection method and insulation inspection apparatus
JP2007333465A (en) Inspection apparatus
US9697757B2 (en) Method and system of determining a location of a line fault of a panel
JP5391869B2 (en) Board inspection method
JP2008203077A (en) Circuit inspection device and method
JP5079603B2 (en) Electrolytic capacitor inspection method and electrolytic capacitor inspection device
CN111579910A (en) Electrical detection method for component faults
JP2010032457A (en) Insulation inspecting apparatus and technique
JP2009162669A (en) Insulation resistance measurement circuit
TWI577997B (en) Insulation tester of printed circuit board and insulation test method
JP2009295856A (en) Electrolytic capacitor examination method and electrolytic capacitor examination apparatus
KR101961536B1 (en) Substrate inspection apparatus and substrate inspection method
JP5944121B2 (en) Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method
JP2000230960A (en) Apparatus for inspecting connector contact state
JP2014219335A (en) Inspection apparatus and inspection method
JP4987497B2 (en) Circuit board inspection equipment
JP5604839B2 (en) Substrate inspection method and substrate inspection apparatus
JP6400347B2 (en) Inspection device
JP2011247788A (en) Insulation inspection device and insulation inspection method
CN108169664A (en) Board failure detection method and device, computer equipment and storage medium
JP6932609B2 (en) Data generation device, board inspection device and data generation method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110602

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120607

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120619

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20121016