JP2009282696A - 半導体メモリの制御方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】物理ブロックと論理ブロックのミスマッチに起因する書き込み性能低下を防止することを可能とした半導体メモリの制御方法を提供する。
【解決手段】nビットの物理ブロックを消去単位とする半導体メモリを、前記物理ブロックの容量より大きい2のべき乗で表されるmビットの論理ブロック単位でアドレス管理を行う半導体メモリの制御方法であって、前記論理ブロックを、先頭アドレスから連続するnビット部分を第1の管理単位として前記半導体メモリの物理ブロックに対応させ、残りの端数部分を第2の管理単位として複数個まとめて一つの物理ブロックに対応させる、というアドレス管理を行う。
【選択図】図9

Description

この発明は、半導体メモリの制御方法に係り、特に8値データ記憶を行うフラッシュメモリのアドレス管理システムに関する。
電気的書き換え可能な不揮発性半導体記憶装置(EEPROM)の一つとして、NAND型フラッシュメモリが知られている。近年、NAND型フラッシュメモリの微細化・大容量化が進み、ビデオカメラや携帯電話等における動画等の記録用途での需要が増えている。
NAND型フラッシュメモリは、ブロック単位でしかデータ消去できない。通常NAND型フラッシュメモリを使用した制御システムでは、1乃至複数の物理ブロックを単位論理ブロックとして、論理アドレスと物理アドレスの対応をとるのが一般的である。
有効データのない、大きな論理空間に対してシーケンシャルに動画記録等を行うためには、ホスト機器側では例えば4MBといったアロケーションユニット(Alocation Unit:AU)なる論理ブロック単位を用いることが行われる(例えば特許文献1参照)。AUは、制御のしやすさから、2のべき乗の容量サイズとするのが一般的である。
NAND型フラッシュメモリは、2値記憶(1ビット/セル)或いは4値記憶(2ビット/セル)の場合は、消去単位である物理ブロックのサイズが2のべき乗で表される。しかし8値記憶(3ビット/セル)になると、物理ブロックサイズが2のべき乗とはならず、ホスト機器の論理ブロックサイズとのミスマッチが生じる。
この結果、動画の連続記録等を行う場合に、フラッシュメモリ内でしばしばコピー動作が必要となるケースが生じ、書き込み性能が低下する可能性がある。
特開2006−178923号公報
この発明は、物理ブロックと論理ブロックのミスマッチに起因する書き込み性能低下を防止することを可能とした半導体メモリの制御方法を提供することを目的とする。
この発明の一態様による半導体メモリの制御方法は、nビットの物理ブロックを消去単位とする半導体メモリを、前記物理ブロックの容量より大きい2のべき乗で表されるmビットの論理ブロック単位でアドレス管理を行うものであって、
前記論理ブロックを、先頭アドレスから連続するnビット部分を第1の管理単位として前記半導体メモリの物理ブロックに対応させ、残りの端数部分を第2の管理単位として複数個まとめて一つの物理ブロックに対応させる、というアドレス管理を行う
ことを特徴とする。
この発明によれば、物理ブロックと論理ブロックのミスマッチに起因する書き込み性能低下を防止することを可能とした半導体メモリの制御方法を提供することができる。
以下、図面を参照して、この発明の実施の形態を説明する。
[メモリ制御システム]
図1は、一実施の形態によるNAND型フラッシュメモリシステムを示している。NAND型フラッシュメモリ2とメモリコントローラ3とを一体化してメモリカード1が構成されている。ホスト機器4は、例えばビデオカメラ等の携帯機器であって、メモリカード1を搭載してこれに動画等の記録を行うことを想定している。
図2は、NAND型フラッシュメモリ2の構成を示している。メモリセルアレイ11は、図3に示すように、複数の電気的書き換え可能な不揮発性メモリセルMC0−MC63を直列接続したNANDストリングNUを配列して構成されている。NANDストリングNUの一端は、選択ゲートトランジスタS1を介してビット線BLに、他端は選択ゲートトランジスタS2を介して共通ソース線CELSRCに接続されている。
メモリセルMC0−MC63の制御ゲートはそれぞれ、ワード線WL0−WL63に接続され、選択ゲートトランジスタS1,S2のゲートはそれぞれ、選択ゲート線SGD,SGSに接続されている。ワード線を共有するNANDストリングの集合は、データ消去単位となる物理ブロックを構成する。図3に示すように、ビット線方向に複数のブロックBLK0−BLKm−1が配置される。
メモリセルアレイ11のワード線や及び選択ゲート線を選択駆動するのが、ロウデコーダ12であり、メモリセルアレイ11のビット線に接続されてデータセンスを行い、書き込みデータを保持してビット線制御を行うのが、センスアンプ回路13である。
センスアンプ回路13は、図3の例では、各ビット線ごとに設けられたセンスアンプSAを有する。即ち、1ワード線により選択されるメモリセルの集合を物理的な1ページとして、センスアンプ回路13は、ページ単位でのデータ読み出し及び書き込みを行う。
センスアンプ回路13による1ページの読み出しデータは、カラムデコーダ14によりカラム単位でデータ線に転送され、I/Oバッファ15を介してI/Oパッドに出力される。1ページの書き込みデータは同様に、カラム単位で入力されて、センスアンプ回路13にロードされる。
コマンドCMD及びアドレスAddは、I/Oバッファ15を介してそれぞれ内部コントローラ16及びアドレスレジスタ17に取り込まれる。内部コントローラ16は、コマンドCMDをデコードし、外部制御信号に従って、読み出し制御、書き込みや消去のシーケンス制御を行う。アドレスAddは、アドレスレジスタ17を介してロウデコーダ12及びカラムデコーダ14に送られる。
読み出し、書き込み及び消去の各動作モードで必要とされる高電圧を発生するために、高電圧発生回路18が設けられている。この高電圧発生回路18もコントローラ16により制御される。
NAND型フラッシュメモリ2は、この実施の形態では、例えば図4に示すような8値データ記憶を行う場合を想定している。図4は、2データレベル(2LC)を得る下位ページ書き込み、中間の4データレベル(4LC)を得る中間ページ書き込み、及び8データレベル(8LC)を得る上位ページ書き込みにより、8値データを規定するしきい値分布レベルE0,A−Gが書かれる例を示している。
下位ページ書き込みは、消去状態(負のしきい値状態)のレベルE0のメモリセルに選択的に、所定の正のしきい値レベルLMを書き込む。中間ページ書き込みでは、レベルE0のセルに選択的に、レベルMAを書き込み、レベルLMのセルにレベルMB又はMCを書き込む。但し、E0<MA<MB<MCである。上位ページ書き込みでは、レベルMAのセルをレベルA又はBに、レベルMBのセルをレベルC又はDに、レベルMCのセルをレベルE,F又はGに遷移させる。
これにより、上位ページビットをUP、中間ページビットをMP、下位ページビットをLPとして、8値データを(UP,MP,LP)で表すものとして、次のような8値データが得られる。E0=(1,1,1),A=(0,1,1),B=(0,0,1),C=(1,0,1),D=(1,0,0),E=(0,0,0),F=(0,1,0),G=(1,1,0)。
但し、上述した8値データビットの割り付け例及び書き込み法は、あくまでも一例であり、この発明はこれに限定されるものではない。
[解決課題]
以上のようなフラッシュメモリ制御システムにおいて、フラッシュメモリが8値データ記憶を行うために、ホスト機器側の論理ブロックとのミスマッチによる問題を具体的に説明する。
例えば、図3で説明した物理ブロック(消去ブロック)BLKjが、64本のワード線WLと32k+α本のビット線BLで構成される場合を想定する。ここで、αは、誤り訂正のために付加されるECC用カラム、その他の管理カラムである。この場合、ホスト機器4からメモリカード1に書かれるデータを格納するブロックサイズは、2値データ記憶の場合であれば、64×32ビット=256キロバイト(kB)となり、4値記憶では512kBであるが、8値記憶では、768kBとなる。
通常NAND型フラッシュメモリを使用した制御システムでは一般に、1つないし複数の物理ブロック単位で論理アドレスと物理アドレスの対応をとるが、その単位を論理ブロックと呼ぶ。上述の8値NANDフラッシュメモリを使用した制御システムでは、1つの物理ブロックを最小単位とした場合、論理ブロックサイズは768kBとなり、図5に示すようなホスト機器とフラッシュメモリとの間で論理アドレス/物理アドレス対応となる。
ホスト機器は、直接フラッシュメモリ2の物理アドレス管理を行うことはない。即ちメモリコントローラ3は、データ書き換えのたびに書き換えられる論理アドレス/物理アドレス変換テーブルを持ち、ホスト機器は論理アドレスのみを用いてメモリアクセスを行うことになる。
以上のようなNAND型フラッシュメモリを用いた記憶システムにおいては、概ね、FATファイルシステムが用いられる。そのため、必要がなくなったファイルデータは、消去せずにFATをクリアし、新たなファイルデータを書き込むときはデータ領域に上書きされる。この種のメモリ制御システムでは、書き込まれているデータが有効なのか無効なのかの判断即ち、FATを覗き見ての判断は一般的に行わない。
上述のNAND型フラッシュメモリを用いたメモリ制御システムでは、ホスト機器側の論理ブロックサイズとメモリの物理ブロックサイズのミスマッチにより、しばしばコピー動作が必要となる。このようなコピー動作は、ホスト機器からのデータ転送を待機させることになってしまい、ホスト機器側のバッファで待ち時間を吸収できなければ、動画記録等を中断せざるを得ない。
図6は、8値データ記憶のフラッシュメモリの物理ブロックが768kBであり、ホスト機器がアロケーションユニット(AU)サイズが4メガバイト(MB)であり、使用済みのAU0,2を避けて未使用のAU1,3に順に動画を記憶しようとした例を示している。
この場合、物理ブロック5,10において、使用済みのAU領域のデータを含むものとすると、これらの物理ブロック5,10の破線で示す領域の有効データを他の領域に退避させるためのコピーを行う必要がある。即ち書き込みのためには、ブロック5,10を消去することが必要であり、それらの有効データを消失させないためには、引越しコピーが必要となる。
ホスト側のバッファサイズやNAND型フラッシュメモリシステムの書き込み性能によっては、このようなコピー動作に起因して動画記録を継続的に行うことができなくなる可能性がある。2のべき乗で表記できない単位で論理/物理アドレス対応を取っているNANDメモリ制御システムを使用する場合、現実的には書込みを行う動画サイズ分だけ連続したアドレスのAUを確保せざるを得ないが、そのような使用方法はユーザーに対して制約を加えるもので、利便性を大きく損なう。
図7は、より悪いケースを示している。これは、8値データ記憶のフラッシュメモリの物理ブロックが3MBであり、ホスト機器の論理ブロックであるAUが、4MBの場合である。このとき、3つのAUと4つの物理ブロックとが対応して同じ容量が同じになるが、一つのAUは必ず2つのNAND物理ブロックにまたがる。
図示のように、最初のAU0を書き込んだ後、一つ飛んだAU2に書き込みを行うものとして、最初のAU0書き込みのためには、二つ目の物理ブロックBLK1の破線で示す2MBのデータをコピー読み出しで退避させる必要があり、同様に3つ目のAU2の書き込みのためには、物理ブロックBLK2の破線で示す2MBのデータをコピー読み出しで退避させることが必要になる。即ち二つのAUの書き込みのために、4MBのコピー動作が発生する。
一方、8値NANDフラッシュメモリの物理ブロック768kBに対して、論理ブロックサイズをその1/3の256kBに設定したとする。この場合、アクセス単位が2のべき乗の256kBとなるので、上述のような端数データのコピー動作が必要なくなる。
しかし、消去単位は768kBであるため、不要となったデータが残されている領域(ガベージ)をどこかで集約して、空き領域を確保するためのするガベージコレクションが必要となる。従って結果として、動画記録中にコピー動作が発生しうる。
その様子を、図8を参照して説明する。ここでは例として、NAND型フラッシュメモリが各768kBの4つの物理ブロックBLK0−3を有し、論理ブロックサイズが物理ブロックサイズの1/3であって、このメモリに対して8単位の論理ブロックA0−A7が割り当てられるものとする簡易モデルである。
この場合、ランダムに書込みが発生すれば、メモリ内の物理ブロックに有効データが分散して、消去済みの物理ブロックが次第に少なくなり、そのままではいずれ消去ブロックがなくなる。これを防ぐため、有効データの少なくなった物理ブロック内の有効データを別の消去済み物理ブロックにコピーし、コピー元の物理ブロックを消去して使用するというガベージコレクションを行う必要がある。
具体的に説明すると、初期状態(a)では、物理ブロックBLK0,BLK1の全て、及びBLK2の2/3までに、A0−A7なる論理ブロックデータが書かれているものとする。A1データ更新(b)では、その更新データを例えばブロックBLK2の空いている残り1/3の領域に書き込む。同様に、A5データ更新(c)では、その更新データを例えばブロックBLK3の領域に書き込む。更にA0データ更新(d)では、その更新データを例えばブロックBLK3に書き込む。
以上のデータ更新の結果、それぞれの破線で示す旧データ(A0,A1,A5)は、無用のデータ(ガベージ)となる。ここまでのデータ更新で、メモリの残り容量が少なくなっているので、ガベージコレクションを行う。即ち、コピー動作(e)として、ブロックBLK0内の有効データ(A2データ)を読み出して、ブロックBLK3の残り領域にコピー書き込みを行う。これにより、ブロックBLK0は全て無用なデータとなるので、消去動作(f)でブロックBLK0を消去する。
以上のようにして、NANDメモリ内の有効データを整理して空き領域を確保することができる。しかしこのガベージコレクションは、メモリの内部コピー動作であるので、やはりホスト機器の動画書込み性能を妨げるものとなる。
[実施態様]
図9は、以上のような難点を解決する実施の形態の論理/物理アドレス対応を示す図である。即ち8値NANDフラッシュメモリが3MBの物理ブロックBLKjを持ち、ホスト機器側が論理ブロックとして4MBのアロケーションユニット(AUi)を持つ場合に、AUiを4分割して、1MBの管理単位で管理する。
即ち、アロケーションユニットAU0,AU1,AU2の各先頭アドレスから連続する3MBは、第1の管理単位として、それぞれNANDメモリの物理ブロック(3MB)BLK0,BLK1,BLK2に割り当てる。一方これら3つのアロケーションユニットの端数1MBは第2の管理単位として、3つをまとめて、一つの物理ブロックBLK3に対応させる。
このようなアドレス管理を行うと、見かけ上AUiとNAND物理ブロックBLKjの境界のミスマッチを隠すことができる。また、AU単位の書き込みがジャンプしても、ガベージコレクションのためのコピーは1回の2MBコピーで済む。
例えば、図10は、1つ目のAU0から4つ目のAU3へと更新書き込みが遷移した場合を示している。前提として、AU0−AU2には、図9で説明した論理/物理アドレス対応に従って書かれた有効データがあり、これが図9で説明したアドレス対応に従ってブロックBLK0−BLK3に保持されているものとする。
最初のAU0の更新データのうち、先頭アドレスから連続する3MB(第1の管理単位)については、(1)新たな消去ブロックBLK4を用意して書き込み、(2)対応する旧データが書かれているブロックBLK0は消去すればよい。(3)残りの1MBデータ(第2の管理単位)は、やはり新しいブロックBLK5を用意して書き込む。
この段階でブロックBLK3には、2つ目と3つ目のAU1,2の端数データ1,2が有効データとして残っている。1つ目のAU0の端数データも残されているが、これはすでに更新されてブロックBLK5に書かれたので、無用なデータである。そこで、4つ目のAU3の書き込みを行うに先立って、ガベージコレクションを行う。
即ち、(4)ブロックBLK3に残されている有効な端数データ1,2を、先にAU0の更新の端数データが書かれたブロックBLK5にコピー書き込みする。ここで、2MBのコピーが発生する。そして、(5)ガベージブロックBLK3を消去する。
4つ目のAU3のデータ書き込みは、その3MBを例えばガベージコレクションで空けたブロックBLK3に書き込み、端数データは更に別の空いているブロックに書き込む。
図11は、最初のユニットAU0から順番にAU1,AU2へと連続的に更新書き込みを行う場合を示している。このとき、フラッシュメモリ側の物理ブロックBLK0−2は空いているものとして、(1)AU0の更新書き込みデータのうち先頭3MBをブロックBLK0に書き込み、(2)その端数データをブロックBLK3に書き込み、(3)AU1の更新書き込みデータのうち先頭3MBをブロックBLK1に書き込み、(4)その端数データをブロックBLK3に書き込み、(5)AU2の更新書き込みデータのうち先頭3MBをブロックBLK2に書き込み、(6)その端数データをブロックBLK3に書き込む。
このように連続書き込みを行った後、AU0−AU2の旧データが書かれているNAND物理ブロックを消去すれば、コピーは発生しない。つまり連続書き込みにおいてはコピーのオーバーヘッドが生じないので最高性能は落ちない。
上記実施の形態では、フラッシュメモリの物理ブロックサイズが3MB、ホスト機器側の論理ブロックサイズが4MBの例を挙げた。この発明はより一般的に言えば、nビットの物理ブロックを消去単位とする半導体メモリを、物理ブロックの容量より大きい2のべき乗で表されるmビットの論理ブロック単位でアドレス管理を行う半導体メモリの制御方法であって、論理ブロックを、先頭アドレスから連続するnビット部分を第1の管理単位として半導体メモリの物理ブロックに対応させ、残りの端数部分を第2の管理単位として複数個まとめて一つの物理ブロックに対応させる、というアドレス管理を行うものであり、これにより上記実施の形態と同様の効果が得られる。
実施の形態によるNAND型フラッシュメモリ制御システムを示す図である。 同フラッシュメモリの機能ブロック構成を示す図である。 同フラッシュメモリのメモリセルアレイ構成を示す図である。 同フラッシュメモリの8値データ記憶方式のデータしきい値分布を示す図である。 ホスト機器とフラッシュメモリの論理/物理アドレス対応例を示す図である。 ホスト機器の論理ブロックサイズとフラッシュメモリの物理ブロックサイズのミスマッチによりコピー動作が必要となる様子を示す図である。 同様のコピー動作が必要となるより悪いケースを示す図である。 ガベージコレクションのためのコピー動作を説明するための図である。 実施の形態による論理/物理アドレス対応を示す図である。 論理ブロックジャンプを伴う書き込み例を示す図である。 シーケンシャル書き込み例を示す図である。
符号の説明
1…メモリカード、2…NAND型フラッシュ種メモリ、3…メモリコントローラ、4…ホスト機器、11…メモリセルアレイ、12…ロウデコーダ、13…センスアンプ回路、14…カラムデコーダ、15…I/Oバッフア、16…内部コントローラ、17…アドレスレジスタ、18…高電圧発生回路。

Claims (5)

  1. nビットの物理ブロックを消去単位とする半導体メモリを、前記物理ブロックの容量より大きい2のべき乗で表されるmビットの論理ブロック単位でアドレス管理を行う半導体メモリの制御方法であって、
    前記論理ブロックを、先頭アドレスから連続するnビット部分を第1の管理単位として前記半導体メモリの物理ブロックに対応させ、残りの端数部分を第2の管理単位として複数個まとめて一つの物理ブロックに対応させる、というアドレス管理を行う
    ことを特徴とする半導体メモリの制御方法。
  2. 前記半導体メモリは、3ビット/セルの8値データ記憶を行う、電気的書き換え可能な不揮発性メモリである
    ことを特徴とする請求項1記載の制御方法。
  3. 前記半導体メモリは、直列接続された複数の不揮発性メモリセルを含むNANDストリングを配列してメモリセルアレイが構成されたフラッシュメモリである
    ことを特徴とする請求項2記載の制御方法。
  4. 前記半導体メモリの物理ブロックが3Mバイト、前記論理ブロックが4Mバイトであって、前記第1の管理単位を3Mバイトとし、前記第2の管理単位1Mバイトを3個まとめて一つの物理ブロックに対応させる
    ことを特徴とする請求項2記載の制御方法。
  5. 前記半導体メモリは、メモリコントローラと共に搭載されてメモリカードを構成する
    ことを特徴とする請求項1記載の制御方法。
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