JP2009236696A - 被写体の3次元画像計測方法、計測システム、並びに計測プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光源を移動させて4以上の全ては同一平面上に無い位置から被写体を照明し撮影することで撮影画像の情報を得て、カメラをピンホールカメラモデルと仮定してカメラの画像平面上の各画素とピンホールレンズとを結ぶ光線方向を計算し、光源の配光分布、撮影画像および光線方向の情報に基づいて、照度差ステレオ法を利用して位置座標、法線方向および反射率の情報を得る。
【選択図】図3
Description
照度差ステレオ法を応用すると、その被写体の表面各点における法線の方向の他に、そこの反射率を得ることも出来る。
また、照度差ステレオ法では、一回の撮像において光源から被写体の各点への照明方向は一定である平行光が用いられるが、光源から出射した光線を平行光とするためには大きな計測環境が必要になる、特殊な光学系が必要になるなど実用的ではない。そこで特許文献1に開示された発明では、被写体の撮影に用いたカメラの自動焦点調節機構等から被写体の各点における距離情報を取得し、各撮影における光源との位置関係から照明方向を計算することで、平行光を用いることなく被写体の各点における法線および反射率を取得している。
また、最大放射輝度であったとしても、上述の理由より被写体の各点へ入射する放射輝度は一定ではない。即ち、特許文献1の発明は、平行光を用いずに法線を正確に取得できていないという問題がある。
該光源を移動させて4以上の複数の位置から被写体を照明したときそれぞれの該被写体を一台のカメラを用いて撮影し、且つ、該撮影時の該光源の位置が全ては同一平面上に無いように配置することにより、該被写体の照明位置が異なる4以上の複数の撮影画像の情報を得る被写体撮像ステップ、
該カメラをピンホールカメラモデルと仮定した場合の、該カメラの画像平面上の各画素とピンホールレンズとを結ぶそれぞれの光線方向を計算する光線方向情報ステップ、及び、
該光源の配光分布の情報、該撮影画像の情報、及び該光線方向の情報に基づき照度差ステレオ法を利用して、該被写体の表面の各点の位置の座標の情報、法線の方向の情報、及び反射率の情報を得る情報取得ステップ、
を全て具備することを特徴とする被写体の3次元画像計測方法である。
該光源を移動させて4以上の複数の位置から被写体を照明する照明機構と、該照明したそれぞれの該被写体を一台のカメラを用いて撮影する撮影機構とを有し、且つ、該撮影時の該光源の位置は全ては同一平面上に無いよう異ならせることにより、該被写体の照明位置が異なる4以上の複数の撮影画像の情報を得る被写体撮像手段、
該カメラをピンホールカメラモデルと仮定した場合の、該カメラの画像平面上の各画素とピンホールレンズとを結ぶそれぞれの光線方向を計算する光線方向計算手段、及び、
該光源の配光分布の情報、該撮影画像の情報、及び該光線方向の情報に基づいて、照度差ステレオ法を利用し、該被写体の表面の各点の位置の座標の情報、法線の方向の情報、及び反射率の情報を得る情報取得手段、
を全て具備することを特徴とする被写体の3次元画像計測システムである。
該光源を移動させて4以上の複数の位置から被写体を照明したときそれぞれの該被写体を一台のカメラを用いて撮影し、且つ、該撮影時の該光源の位置が全ては同一平面上に無いように配置することにより、該被写体の照明位置が異なる4以上の複数の撮影画像の情報を得る被写体撮像ステップ、
該カメラをピンホールカメラモデルと仮定した場合の、該カメラの画像平面上の各画素とピンホールレンズとを結ぶそれぞれの光線方向を計算する光線方向情報ステップ、及び、
該光源の配光分布の情報、該撮影画像の情報、及び該光線方向の情報に基づき照度差ステレオ法を利用して、該被写体の表面の各点の位置の座標の情報、法線の方向の情報、及び反射率の情報を得る情報取得ステップ、
の全てをコンピュータに行わせることを特徴とする被写体の3次元画像計測プログラムである。
この被写体Qの各点へ入射する光線の放射輝度の情報は、もし既に得られてあればそれを利用して良いが、もし未だ得られていなければ例えば次のような手法によって得る。即ち、図3のステップS1において、被写体の各点における位置の座標の情報、法線の方向の情報、及び反射率の情報の取得に必要となる、被写体Qの各点へ入射する光線の放射輝度を取得する。
そこで、光源13から出射する光線の放射輝度分布である、光源の配光分布を計測する。すなわち、図2のように光源13の中心Pcにおいて光源の法線nlに対する、光源13から出射される光線方向の天頂角をφ、方位角をθとしたときの、光線13の放射輝度l(φ、θ)を計測する。
“Near−Field Photometry In Practice.”、
Ian Ashdown著、
(J.Illuminating Eng.Soc.22.p.163、1993)
に詳しく記載されている。
そこで、図2に示すように、Pcを中心に放射輝度計19を回転させ、各方向(φ、θ)における放射輝度を計測する。
光源13は光源移動装置14によって移動可能であり、これによって任意地点から被写体Qを照明する。光源をm回移動させ、照明された被写体Qはカメラ12によって撮像され、m枚の画像Fを取得する。このとき、被写体Qを照明し撮像する全ての光源位置が同一平面には存在しないように、光源を移動させる。尚、光源を移動させて4以上の複数の位置から被写体を照明したときそれぞれの該被写体を一台のカメラを用いて撮影する。この「4以上の複数」と云う要件は、被写体の表面の各点とピンホールレンズ間の距離、および3次元空間において法線の方向を表す3要素を計算するために必要だからである。
「3次元ビジョン」、徐剛、辻三郎 著(共立出版)
の2章に記載されたものである。これは一般的なカメラモデルとして用いられている。
skが平行光でない場合、光線の放射強度、および向きは点Pの位置に依存し、次の(2)式で表すことができる。
すなわち、画像Fk(4≦k≦m)の画素値pk(t)に対して、非線形最適化手法であるNelder−Mead法を用いて下の式を最小にする
ステップS4において式(9)より
なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、OSや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、CD−ROM等の可搬媒体、ハードディスク等の記憶装置のことをいう。それから「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリ(RAM)のように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。
また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよい。それから、前述した機能を記録媒体にすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル(差分プログラム)であってもよい。
12 ・・・カメラ
13 ・・・光源
14 ・・・光源移動装置
15 ・・・コンピュータ
16 ・・・処理部
161・・・CPU
162・・・メモリ
163・・・データ記録部
17 ・・・入力部
18 ・・・表示部
19 ・・・放射輝度計
Q ・・・被写体
Fi ・・・撮影画像
Claims (5)
- 光源の配光分布の情報を得る光源情報ステップ、
該光源を移動させて4以上の複数の位置から被写体を照明したときそれぞれの該被写体を一台のカメラを用いて撮影し、且つ、該撮影時の該光源の位置が全ては同一平面上に無いように配置することにより、該被写体の照明位置が異なる4以上の複数の撮影画像の情報を得る被写体撮像ステップ、
該カメラをピンホールカメラモデルと仮定した場合の、該カメラの画像平面上の各画素とピンホールレンズとを結ぶそれぞれの光線方向を計算する光線方向情報ステップ、
及び、
該光源の配光分布の情報、該撮影画像の情報、及び該光線方向の情報に基づき照度差ステレオ法を利用して、該被写体の表面の各点の位置の座標の情報、法線の方向の情報、及び反射率の情報を得る情報取得ステップ、
を全て具備することを特徴とする被写体の3次元画像計測方法。 - 前記情報取得ステップにおいて、射影方法が中心射影である前記ピンホールカメラモデルと仮定すること、を特徴とする請求項1に記載の被写体の3次元画像計測方法。
- 前記光源の配光分布が、該光源から出射する光線の角度に対する放射輝度分布であること、を特徴とする請求項1又は2のいずれかに記載の被写体の3次元画像計測方法。
- 光源の配光分布の情報を入力する光源情報入力手段と、
該光源を移動させて4以上の複数の位置から被写体を照明する照明機構と、該照明したそれぞれの該被写体を一台のカメラを用いて撮影する撮影機構とを有し、且つ、該撮影時の該光源の位置は全ては同一平面上に無いよう異ならせることにより、該被写体の照明位置が異なる4以上の複数の撮影画像の情報を得る被写体撮像手段、
該カメラをピンホールカメラモデルと仮定した場合の、該カメラの画像平面上の各画素とピンホールレンズとを結ぶそれぞれの光線方向を計算する光線方向計算手段、
及び、
該光源の配光分布の情報、該撮影画像の情報、及び該光線方向の情報に基づいて、照度差ステレオ法を利用し、該被写体の表面の各点の位置の座標の情報、法線の方向の情報、及び反射率の情報を得る情報取得手段、
を全て具備することを特徴とする被写体の3次元画像計測システム。 - 光源の配光分布の情報を得る光源情報ステップ、
該光源を移動させて4以上の複数の位置から被写体を照明したときそれぞれの該被写体を一台のカメラを用いて撮影し、且つ、該撮影時の該光源の位置が全ては同一平面上に無いように配置することにより、該被写体の照明位置が異なる4以上の複数の撮影画像の情報を得る被写体撮像ステップ、
該カメラをピンホールカメラモデルと仮定した場合の、該カメラの画像平面上の各画素とピンホールレンズとを結ぶそれぞれの光線方向を計算する光線方向情報ステップ、
及び、
該光源の配光分布の情報、該撮影画像の情報、及び該光線方向の情報に基づき照度差ステレオ法を利用して、該被写体の表面の各点の位置の座標の情報、法線の方向の情報、及び反射率の情報を得る情報取得ステップ、
の全てをコンピュータに行わせることを特徴とする被写体の3次元画像計測プログラム。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014046325A1 (ko) * | 2012-09-24 | 2014-03-27 | 위프코 주식회사 | 3차원 계측 시스템 및 그 방법 |
JP2015059849A (ja) * | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 凸版印刷株式会社 | 色と三次元形状の計測方法及び装置 |
US9792690B2 (en) | 2014-06-20 | 2017-10-17 | Ricoh Company, Ltd. | Shape measurement system, image capture apparatus, and shape measurement method |
CN110455815A (zh) * | 2019-09-05 | 2019-11-15 | 西安多维机器视觉检测技术有限公司 | 一种电子元器件外观缺陷检测的方法及系统 |
CN110619807A (zh) * | 2018-06-20 | 2019-12-27 | 北京京东尚科信息技术有限公司 | 生成全局热力图的方法和装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61198015A (ja) * | 1984-11-14 | 1986-09-02 | Agency Of Ind Science & Technol | 二組の照度差ステレオ法にもとづく距離計測法及びその装置 |
JPS63233312A (ja) * | 1987-03-20 | 1988-09-29 | Univ Osaka | 被測定物体からの反射光による距離測定方法 |
JPH01119706A (ja) * | 1987-11-04 | 1989-05-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 輝度変化による角度計測方法 |
JPH0658713A (ja) * | 1992-06-05 | 1994-03-04 | Stanley Electric Co Ltd | 光学的測定装置 |
JP2001165655A (ja) * | 1999-12-06 | 2001-06-22 | Oki Electric Ind Co Ltd | 距離推定装置及び距離推定方法 |
JP2005259009A (ja) * | 2004-03-15 | 2005-09-22 | Japan Science & Technology Agency | 物体の双方向反射分布関数の高速推定方法 |
JP2007206797A (ja) * | 2006-01-31 | 2007-08-16 | Omron Corp | 画像処理方法および画像処理装置 |
-
2008
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61198015A (ja) * | 1984-11-14 | 1986-09-02 | Agency Of Ind Science & Technol | 二組の照度差ステレオ法にもとづく距離計測法及びその装置 |
JPS63233312A (ja) * | 1987-03-20 | 1988-09-29 | Univ Osaka | 被測定物体からの反射光による距離測定方法 |
JPH01119706A (ja) * | 1987-11-04 | 1989-05-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 輝度変化による角度計測方法 |
JPH0658713A (ja) * | 1992-06-05 | 1994-03-04 | Stanley Electric Co Ltd | 光学的測定装置 |
JP2001165655A (ja) * | 1999-12-06 | 2001-06-22 | Oki Electric Ind Co Ltd | 距離推定装置及び距離推定方法 |
JP2005259009A (ja) * | 2004-03-15 | 2005-09-22 | Japan Science & Technology Agency | 物体の双方向反射分布関数の高速推定方法 |
JP2007206797A (ja) * | 2006-01-31 | 2007-08-16 | Omron Corp | 画像処理方法および画像処理装置 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN6012029928; 牧野貴雄, 本間隆介, 高瀬紘一, 津村徳道, 中口俊哉, 三宅洋一, 小島伸俊: '近距離照明を用いた3次元物体の物理特性計測システム' 第12回パターン計測シンポジウム資料 , 2007, 第37-42頁, 計測自動制御学会 * |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014046325A1 (ko) * | 2012-09-24 | 2014-03-27 | 위프코 주식회사 | 3차원 계측 시스템 및 그 방법 |
US9342889B2 (en) | 2012-09-24 | 2016-05-17 | Chang-Suk Cho | Three-dimensional measurement system and method therefor |
JP2015059849A (ja) * | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 凸版印刷株式会社 | 色と三次元形状の計測方法及び装置 |
US9792690B2 (en) | 2014-06-20 | 2017-10-17 | Ricoh Company, Ltd. | Shape measurement system, image capture apparatus, and shape measurement method |
CN110619807A (zh) * | 2018-06-20 | 2019-12-27 | 北京京东尚科信息技术有限公司 | 生成全局热力图的方法和装置 |
CN110455815A (zh) * | 2019-09-05 | 2019-11-15 | 西安多维机器视觉检测技术有限公司 | 一种电子元器件外观缺陷检测的方法及系统 |
CN110455815B (zh) * | 2019-09-05 | 2023-03-24 | 西安多维机器视觉检测技术有限公司 | 一种电子元器件外观缺陷检测的方法及系统 |
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