JP2009211617A - 電源電圧変動解析システム、電源電圧変動解析方法及び電源電圧変動解析プログラム - Google Patents

電源電圧変動解析システム、電源電圧変動解析方法及び電源電圧変動解析プログラム Download PDF

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【課題】 半導体集積回路及びその他の受動部品が搭載されたプリント配線基板における電源電圧の変動を短時間で精度良く解析する計算システムを提供する。
【解決手段】 半導体集積回路の格子状に粗く分割された電源系配線領域に対し、電源系配線と単位電流源を複数分割し、生成した等価回路を用いた回路シミュレーションにより、電源系配線モデルを生成する手段と、前記電源系配線モデルを含むLSIモデルと受動部品を含むプリント配線基板モデルを結合して電源供給系の等価回路モデル生成手段とを備え、細分割した場合と同等のモデル精度を確保する。
【選択図】図1

Description

本発明は、電源電圧の変動を解析するための電源電圧変動解析システム、電源電圧変動解析方法及びプログラムに関し、特に半導体集積回路及びその他の受動部品が搭載されたプリント配線基板における電源電圧の変動を解析するための電源電圧変動解析システム、電源電圧変動解析方法及び電源電圧変動解析プログラムに関するものである。
従来、プリント配線基板のレイアウト情報を取り込み、取り込まれたレイアウト情報から電源供給系回路のレイアウト情報のみを抽出し、抽出された電源供給系回路のレイアウト情報を電気回路情報に変換して、指定した電源端子接続位置から見たインピーダンス特性を算出し、計算結果を表示するという電源電圧変動解析手段が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
また、半導体集積回路を電源配線、内部容量、内部消費電流及び入出力セルに分け、図5に示すように電源配線サブモデル作成手段により電源配線サブモデルを作成し、内部容量サブモデル作成手段により内部容量サブモデルを作成し、内部消費電流サブモデル作成手段により内部消費電流サブモデルを作成し、サブモデル結合手段により電源ノイズ解析用の半導体装置モデルを作成する、電源電圧変動解析モデル作成手段が提案されている(例えば、特許文献2参照)。
この特許文献2に記載された電源電圧変動解析サブモデル作成手段は、図6に示すように、電源配線領域を指定した分割数で格子状に分割し、分割した領域の各々に存在する電源配線の抵抗及びインダクタンスを回路モデルに割り付けている。
この図において、26は3.3V系の電源配線層であるVDE配線層、27は1.2V系の電源配線層であるVDD配線層、28は0V(接地)系の電源配線層であるVSS配線層、29は電源配線サブモデルの単位である。
電源配線層は、2mm×2mmの正方形とされ、VDE配線層26と、VDD配線層27と、VSS配線層28に分けられ、これらVDE配線層26、VDD配線層27及びVSS配線層28は、それぞれ4(縦)×4(横)に分割され、分割された500μm×500μmの格子領域内に存在する電源配線の抵抗及びインダクタンスを同じ電源配線種の異なる配線層について合成を行った後で、2次元十字形の回路モデルに割り付けて電源配線サブモデルが作成されている。
この他に、特開2000−99554号公報、特開2003−271695号公報、特開2004−178501号公報にも電源電圧変動解析技術が示されている。
特開2005−251223号公報 特開2004−234618号公報 特開2000−99554号公報 特開2003−271695号公報 特開2004−178501号公報
特許文献2の電源配線サブモデル作成手段半導体集積回路の電源配線領域格子状に分割する分割数と領域中央部の等価抵抗との関係の例を図7に示す。
この図から明らかなように、分割数が小さいと等価抵抗が大きすぎ、モデル精度の問題がある。
また、分割数を10×10以上と大きくとると、電流源サブモデル、容量サブモデルも同じ分割数となり、これらを結合し、更にパッケージおよびプリント配線基板の電源系モデルとも結合するとモデルである等価回路の規模が膨大となるため、電源電圧変動を短時間で計算することが困難である。
本発明は、半導体集積回路及びその他の受動部品が搭載されたプリント配線基板における電源電圧の変動を短時間で精度良く解析する計算システムを提供することを課題とする。
この課題を解決するために、半導体集積回路の格子状に粗く分割された電源系配線領域に対し、電源系配線と単位電流源を複数分割し、生成した等価回路を用いた回路シミュレーションにより、電源系配線モデルを生成する手段と、前記電源系配線モデルを含むLSIモデルと受動部品を含むプリント配線基板モデルを結合して電源供給系の等価回路モデル生成手段とを備え、細分割した場合と同等のモデル精度を確保するようにする。
本発明のシステム内の半導体集積回路等価回路モデル作成手段は、モデル精度を確保し、かつ等価回路規模の小さいモデルを生成するため、半導体集積回路及びその他の受動部品が搭載されたプリント配線基板上の電源供給系における電源電圧変動を精度良くかつ高速に解析でき、モデル等価回路規模を小さくし、高速に電源電圧変動解析することにより、本発明の課題が解決される。
以下、発明を実施するための最良の形態に関して、図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明のシステム構成である。
このシステムは、解析に必要な情報を入力する入力装置100、プリント配線基板および半導体集積回路の設計データベースを格納する記憶装置109、等価回路モデルを作成し電源電圧変動解析を行うデータ処理装置101及び計算結果を出力する出力装置108から構成されている。
データ処理装置101は、解析エンジン102及び入力データ、生成された等価回路モデル及び計算結果を一時的に保存・逐次読み出し可能なデータ記憶部107を含んでいる。
解析エンジン102は、電源系配線分割手段・単位電流源分割手段103を含む電源系配線モデル生成手段104、モデル結合・電源供給系等価回路モデル生成手段を含むモデル結合生成手段105及び演算手段106を含んでいる。
記憶装置109には、プリント配線基板設計データベース110及び半導体集積回路データベース111が格納されている。
このように構成されたシステムにおいては、以下の処理が行われる。
入力装置100からの入力情報に基づき、半導体集積回路設計データベース111から選択されたチップ電源系配線レイアウト情報を用いて、電源系配線モデル生成手段104が電源系配線モデルを生成する。
前記電源系配線モデルに、半導体集積回路設計データベース111から選択されたチップ電源系電流源記述モデル、チップ電源系容量等価回路モデル、パッケージ電源系配線等価回路モデルとを結合して半導体集積回路モデルを作成し、プリント配線基板設計データベース110から選択された受動部品を含むプリント配線基板の等価回路モデルとを結合して、モデル結合生成手段105が電源供給系等価回路モデルを作成する。
電源供給系等価回路モデルを用いて演算手段106が解析を行う。
解析エンジン102内での処理が終了すると、計算された電源供給系回路での電圧変動値の結果が出力装置108へ出力され、システムでの処理が完了する。
図2のフロー図を参照して本実施の形態の全体の動作について詳細に説明する。
初めに、半導体集積回路情報入力ステップ201で、半導体集積回路設計データベース209からチップ電源系配線レイアウト情報が選択され、入力される。
次に、LSI等価回路モデル作成ステップ202の電源配線モデル作成ステップ203で、電源配線分割及び単位電流源分割が行われ、モデル結合ステップ204で電流源モデル、容量モデル及びパッケージモデルが結合される。
さらに、半導体集積回路情報入力ステップ201で、半導体集積回路設計データベース209から選択された、チップ電源系電流源記述モデル、チップ電源系容量等価回路モデル、パッケージ電源系配線等価モデルが結合され、LSI等価回路モデル作成ステップ202で、LSI等価回路モデルが作成される。
次に、プリント配線基板情報入力ステップ205で、プリント配線基板設計データベース210から選択されたプリント配線基板の電源系モデルは、電源供給系等価回路モデル作成ステップ206において、LSI等価回路モデルと結合され、搭載部品の全てを含むプリント回路基板全体の等価回路モデルが作成される。
最後に、回路シミュレーションステップ207において、電源電圧変動が算出され、結果出力/表示ステップ208で、解析結果が出力される。
次に、具体的な実施例を用いて本発明を実施するための最良の形態の動作を図3及び図4により説明する。
図4に示す半導体集積回路の電源系配線全体601は、粗く3×3に9分割されており、これらの格子状の9個の領域それぞれがモデル化対象領域である。
図3に示す処理フロー図の501において、各モデル化対象領域が更に細分割対象領域602に細分割される。
この細分割数は、従来技術である図7に例示されたように、等価抵抗が一定値に収束する値、例えば、21×21とする。
次に、処理フロー図の502において、単位電流源をこの細分割数で細分割し、処理フロー図の503において、配線等価回路と電流源からなる等価回路記述を作成する。
図4に1個の細分割領域の等価回路例604を示す。
次に、処理フロー図の504において、作成された対象領域全体の結合された等価回路記述を用いて、回路シミュレーションし、対象領域中央部の電圧が算出される。
この電圧値は、対象領域中央部を第一のノードとし、対象領域の4角を短絡した第二のノード間の電位差である。
最後に、処理フロー図の505において、対象領域中央部の電圧値と対象領域全体の電流値単位電流から等価抵抗、等価インダクタンスを算出し、処理フロー図の506において、等価回路記述を作成し、対象領域の等価回路記述603を作成する。
このように、等価回路モデル記述は3×3の粗い分割規模でありながら、63×63の細かい分割規模の場合と同等のモデル精度を得ることができる。
本 発明は、半導体集積回路及びその他の受動部品が搭載されたプリント配線基板上の電源供給系における電源電圧変動を精度良くかつ高速に解析する用途に適用可能である。
また、本発明のシステム内の要素技術である電源電圧変動解析用半導体集積回路等価回路モデルの作成技術は、他の解析で使用する半導体集積回路の等価回路モデルを作成する用途にも適用可能で、例えばプリント配線基板からの不要電磁放射EMIの解析用の半導体集積回路の等価回路モデルを作成する用途にも適用可能である。
本発明のシステム構成図。 本発明の全体処理フロー図。 本発明の半導体集積回路電源系配線等価回路モデル生成処理フロー図。 本発明の半導体集積回路電源配線モデル生成手段の実施例。 従来技術の電源配線サブモデル処理フロー図。 従来技術の電源配線サブモデルの一例の概念図。 半導体集積回路における電源配線分割数と等価抵抗の一例。
符号の説明
13 電源配線分割手段
14 抵抗インダクタンス算出手段
15 回路記述作成手段
26 VDE配線層
27 VDD配線層
28 VSS配線層
29 電源配線サブモデル
100 入力装置
101 データ処理装置
102 解析エンジン
103 電源配線・単位電流源分割手段
104 電源系配線モデル生成手段
105 モデル結合・電源供給系等価回路モデル生成手段
106 演算手段
107 データ記憶部
108 出力装置
109 記憶装置
110 プリント配線基板設計データベース
111 半導体集積回路設計データベース
601 全体電源系配線
602 細分割された対象領域電源系配線
603 対象領域等価回路モデル
604 細分割領域等価回路モデル

Claims (9)

  1. 半導体集積回路を搭載したプリント配線基板の電源供給系回路電圧変動を解析するシステムであって、
    半導体集積回路の格子状に分割された電源系配線モデル化対象領域に関し、電源系配線と単位電流源を複数分割し、等価回路を生成する手段と前記等価回路を用いた回路シミュレーションによる対象領域中央部の電圧から等価抵抗、等価インダクタンスを算出する手段から構成される電源系配線等価回路モデル生成手段を備えたことを特徴とする電源電圧変動解析システム。
  2. チップ全体を格子状に分割した電源系配線モデル化対象領域毎に生成された電源系配線等価回路モデルを結合して、チップ全体の電源系配線等価回路モデルを生成する手段を備えたことを特徴とする請求項1記載の電源電圧変動解析システム。
  3. 電源系配線等価回路モデルと、半導体集積回路設計データベースから選択されたチップ電源系容量等価回路モデルとチップ電源系電流源モデルとパッケージ電源系配線等価回路モデルと、プリント配線基板設計データベースから選択された受動部品を含むプリント配線基板の電源系配線等価回路モデルとを結合して電源供給系の等価回路モデル生成手段を備えたことを特徴とする請求項1記載の電源電圧変動解析システム。
  4. 半導体集積回路を搭載したプリント配線基板の電源供給系回路電圧変動を解析する方法であって、
    半導体集積回路の格子状に分割された電源系配線モデル化対象領域に関し、電源系配線と単位電流源を複数分割し、等価回路を生成し、生成した等価回路を用いた回路シミュレーションによる対象領域中央部の電圧から等価抵抗、等価インダクタンスを算出し、電源系配線等価回路モデル生成することを特徴とする電源電圧変動解析方法。
  5. チップ全体を格子状に分割した電源系配線モデル化対象領域毎に生成された電源系配線等価回路モデルを結合して、チップ全体の電源系配線等価回路モデルを生成することを特徴とする請求項4記載の電源電圧変動解析方法。
  6. 電源系配線等価回路モデルと、半導体集積回路設計データベースから選択されたチップ電源系容量等価回路モデルとチップ電源系電流源モデルとパッケージ電源系配線等価回路モデルと、プリント配線基板設計データベースから選択された受動部品を含むプリント配線基板の電源系配線等価回路モデルとを結合して電源供給系の等価回路モデル生成することを特徴とする請求項4記載の電源電圧変動解析方法。
  7. 半導体集積回路を搭載したプリント配線基板の電源供給系回路電圧変動解析をコンピュータに実行させるプログラムであって、
    半導体集積回路の格子状に分割された電源系配線モデル化対象領域に関し、電源系配線と単位電流源を複数分割し、等価回路を生成する処理と前記等価回路を用いた回路シミュレーションによる対象領域中央部の電圧から等価抵抗、等価インダクタンスを算出する処理から構成される電源系配線等価回路モデル生成処理をコンピュータに実行させることを特徴とする電源電圧変動解析プログラム。
  8. チップ全体を格子状に分割した電源系配線モデル化対象領域毎に生成された電源系配線等価回路モデルを結合して、チップ全体の電源系配線等価回路モデル生成処理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項7記載の電源電圧変動解析プログラム。
  9. 電源系配線等価回路モデルと、半導体集積回路設計データベースから選択されたチップ電源系容量等価回路モデルとチップ電源系電流源モデルとパッケージ電源系配線等価回路モデルと、プリント配線基板設計データベースから選択された受動部品を含むプリント配線基板の電源系配線等価回路モデルとを結合して電源供給系の等価回路モデル生成処理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項7記載の電源電圧変動解析プログラム。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004234618A (ja) * 2002-12-06 2004-08-19 Fujitsu Ltd 半導体装置モデルとその作成方法及び装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002197139A (ja) * 2000-12-26 2002-07-12 Toshiba Corp 電圧降下解析システム
JP2004234618A (ja) * 2002-12-06 2004-08-19 Fujitsu Ltd 半導体装置モデルとその作成方法及び装置

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