JP2009192308A - 電解コンデンサの劣化診断装置および劣化診断方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】透過画像取得部8は、回路基板20に対して一方からX線を照射し、回路基板20を介して対向する他方において、透過したX線に応じた透過画像を取得する。画像処理部2は、CCD部16から電気信号を受けて回路基板20の透過画像を生成し、その透過画像を濃淡画像(グレイ画像)に変換する。演算部4は、グレイ画像から濃淡値(グレイ値)の度数分布を生成するとともに、その度数分布において、電解コンデンサの劣化状態に応じて度数が変化する濃淡値の度数に基づいて劣化指標を算出する。演算部4は、この劣化指標に基づいて電解コンデンサ34の劣化状態を判断する。
【選択図】図1
Description
この発明の他の局面に従うと、電解液を含む電解コンデンサの劣化診断方法であって、電解液により透過が妨げられる電磁波を電解コンデンサに照射することにより、電解コンデンサの透過画像を取得するステップと、取得された透過画像を、所定単位の領域ごとにその領域の濃淡の程度に応じた濃淡値が対応付けられた濃淡画像に変換するステップと、濃淡画像を用いて濃淡値の度数分布を生成するステップと、生成された度数分布に基づいて、電解コンデンサの劣化状態を示す劣化指標を算出するステップとを備える。
図3は、透過画像取得部8により取得された電解コンデンサの透過画像の一例を示す図である。
図3(b)は、劣化状態の電解コンデンサの透過画像を示す図である。
図4(b)は、劣化状態の電解コンデンサのグレイ画像を示す図である。
図8は、電解コンデンサの劣化状態の診断処理を示すフローチャートである。図8および図1を参照して、演算部4は、透過画像取得部8に診断対象の電解コンデンサの透過画像を取得させる(ステップS1)。演算部4は、画像処理部2に透過画像取得部8が取得した透過画像をグレイ処理させる(ステップS2)。演算部4は、画像処理部2からグレイ画像を受ける。
電解コンデンサの電解液は、経年的に減少すると考えられる。そのため、使用条件が同じであり、かつ互いに同一構造の電解コンデンサの場合、使用時間に対する電解液の残存量の変化を示す曲線はほぼ同じになると考えられる。
図10は、電解コンデンサの寿命推定処理の一例を示すフローチャートである。
Claims (16)
- 電解液を含む電解コンデンサの劣化診断装置であって、
前記電解液により透過が妨げられる電磁波を前記電解コンデンサに照射することにより、前記電解コンデンサの透過画像を取得する透過画像取得部と、
取得された前記透過画像を、所定単位の領域ごとに、その領域の濃淡の程度に応じた濃淡値が対応付けられた濃淡画像に変換する画像処理部と、
前記濃淡画像を用いて前記濃淡値の度数分布を生成し、かつ、生成された前記度数分布に基づいて、前記電解コンデンサの劣化状態を示す劣化指標を算出する演算部とを備える、電解コンデンサの劣化診断装置。 - 前記演算部は、前記度数分布において、前記電解コンデンサの劣化に伴ってその度数が変化する前記濃淡値を、予め定められた値として記憶し、かつ、前記生成された前記度数分布と前記予め定められた値とに基づいて、前記劣化指標を算出する、請求項1に記載の電解コンデンサの劣化診断装置。
- 前記予め定められた値は、
前記電解コンデンサの劣化に応じて、前記度数分布における度数が増加する第1の値と、
前記電解コンデンサの劣化に応じて、前記度数分布における度数が減少する第2の値とを含み、
前記演算部は、前記生成された前記度数分布における、前記第1および第2の値にそれぞれ対応する第1および第2の度数を取得して、その取得した前記第1および第2の度数に基づいて、前記劣化指標を算出する、請求項2に記載の電解コンデンサの劣化診断装置。 - 前記第1および第2の値は、前記濃淡画像における前記電解液の領域の前記濃淡値である、請求項3に記載の電解コンデンサの劣化診断装置。
- 前記演算部は、前記第1および第2の度数の差と前記劣化指標との対応関係を予め記憶し、取得した前記第1および第2の度数と前記対応関係とに基づいて、前記劣化指標を算出し、算出した前記劣化指標と所定の基準値とを比較することにより前記劣化状態を診断する、請求項3に記載の電解コンデンサの劣化診断装置。
- 前記演算部は、算出した前記劣化指標と、前記電解コンデンサの使用期間とに基づいて、前記電解コンデンサの残存寿命を算出する、請求項1から5のいずれか1項に記載の電解コンデンサの劣化診断装置。
- 前記劣化指標は、前記電解コンデンサの未使用状態における前記電解液の量を基準とした、前記電解液の残存率である、請求項1から6のいずれか1項に記載の電解コンデンサの劣化診断装置。
- 前記電磁波は、軟X線である、請求項1から7のいずれか1項に記載の電解コンデンサの劣化診断装置。
- 電解液を含む電解コンデンサの劣化診断方法であって、
前記電解液により透過が妨げられる電磁波を前記電解コンデンサに照射することにより、前記電解コンデンサの透過画像を取得するステップと、
取得された前記透過画像を、所定単位の領域ごとにその領域の濃淡の程度に応じた濃淡値が対応付けられた濃淡画像に変換するステップと、
前記濃淡画像を用いて前記濃淡値の度数分布を生成するステップと、
生成された前記度数分布に基づいて、前記電解コンデンサの劣化状態を示す劣化指標を算出するステップとを備える、電解コンデンサの劣化診断方法。 - 前記劣化指標を算出するステップにおいて、前記生成された前記度数分布と、前記度数分布において、前記電解コンデンサの劣化に伴ってその度数が変化する前記濃淡値として予め定められた値とに基づいて、前記劣化指標を算出する、請求項9に記載の電解コンデンサの劣化診断方法。
- 前記予め定められた値は、
前記電解コンデンサの劣化に応じて、前記度数分布における度数が増加する第1の値と、
前記電解コンデンサの劣化に応じて、前記度数分布における度数が減少する第2の値とを含み、
前記劣化指標を算出するステップにおいて、前記生成された前記度数分布における、前記第1および第2の値にそれぞれ対応する第1および第2の度数を取得するとともに、その取得した前記第1および第2の度数に基づいて、前記劣化指標を算出する、請求項10に記載の電解コンデンサの劣化診断方法。 - 前記第1および第2の値は、前記濃淡画像における前記電解液の領域の前記濃淡値である、請求項11に記載の電解コンデンサの劣化診断方法。
- 前記劣化指標を算出するステップにおいて、予め定められた前記第1および第2の度数の差と前記劣化指標との対応関係と、取得された前記第1および第2の度数とから前記劣化指標を算出し、
算出された前記劣化指標と所定の基準値とを比較することにより前記劣化状態を診断するステップをさらに備える、請求項11に記載の電解コンデンサの劣化診断方法。 - 算出された前記劣化指標と、前記電解コンデンサの使用期間とに基づいて、前記電解コンデンサの残存寿命を算出するステップをさらに備える、請求項9から13のいずれか1項に記載の電解コンデンサの劣化診断方法。
- 前記劣化指標は、前記電解コンデンサの未使用状態における前記電解液の量を基準とした、前記電解液の残存率である、請求項9から14のいずれか1項に記載の電解コンデンサの劣化診断方法。
- 前記電磁波は、軟X線である、請求項9から15のいずれか1項に記載の電解コンデンサの劣化診断方法。
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