JP2009180828A - 顕微鏡と、顕微鏡の像ぶれ補正結像レンズと、顕微鏡の像ぶれ補正方法 - Google Patents

顕微鏡と、顕微鏡の像ぶれ補正結像レンズと、顕微鏡の像ぶれ補正方法 Download PDF

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Abstract

【課題】顕微鏡が受ける振動による像ぶれを補正し、像ぶれのない標本像の観察が可能な顕微鏡と、これに用いられる像ぶれ補正結像レンズと、顕微鏡の像ぶれ補正方法を提供すること。
【解決手段】ステージ14と、対物レンズ17と像面I1、I2との間に配置された結像レンズ18と、前記結像レンズを光軸に直交する平面内で移動させる駆動装置と、前記結像レンズの光軸に対して直交する平面における前記対物レンズと前記ステージとの位置の変位量を検出する少なくとも1つの変位検出センサーS1と、前記変位検出センサーが検出した信号に基づき、前記駆動装置を駆動して前記結像レンズを移動し、前記像面における像ぶれを補正する制御装置22と、を有することを特徴とする顕微鏡1。
【選択図】図1

Description

本発明は、顕微鏡と、これに使用される像ぶれ補正結像レンズと、顕微鏡の像ぶれ補正方法に関する。
従来、顕微鏡が設置されている建造物自体が外部から受ける振動や、顕微鏡近傍における歩行者によるわずかな振動でさえも、高倍率の観察になるほど大きな像ぶれを生じ、観察像に影響を与える。そこで重量の大きな定盤や除振台などの上に顕微鏡を設置して振動による像ぶれを防いでいた(例えば、特許文献1参照)。
特開平7−181395号公報
従来の定盤や除振台を設置する場合でも、観察中はこれら防振部材に触れないよう注意する必要があった。しかし、これらの防振手段でも比較的高い周波数の振動には十分な効果が得られないと言う問題があった。
本発明は、上記課題に鑑みて行われたものであり、顕微鏡が受ける振動による像ぶれを補正し、像ぶれのない標本像の観察が可能な顕微鏡と、これに用いられる像ぶれ補正結像レンズと、顕微鏡の像ぶれ補正方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明は、ステージと、対物レンズと像面との間に配置された結像レンズと、前記結像レンズを光軸に直交する平面内で移動させる駆動装置と、前記結像レンズの光軸に対して直交する平面における前記対物レンズと前記ステージとの位置の変位量を検出する少なくとも1つの変位検出センサーと、前記変位検出センサーが検出した信号に基づき、前記駆動装置を駆動して前記結像レンズを移動し、前記像面における像ぶれを補正する制御装置と、を有することを特徴とする顕微鏡を提供する。
また、本発明は、結像レンズを第1の方向に移動可能に支持する内輪と、前記内輪を前記第1の方向を含む面内で前記第1の方向とは略直交する第2の方向に移動可能に支持する外輪と、前記内輪に固定され前記結像レンズを前記第1の方向に移動する第1の駆動装置と、前記外輪に固定され前記内輪を前記第2の方向に移動する第2の駆動装置と、を有することを特徴とする像ぶれ補正結像レンズを提供する。
また、本発明は、顕微鏡に配設された少なくとも1つの変位検出センサーの信号に基づき、前記顕微鏡で観察する標本像の像ぶれ量を算出して、前記顕微鏡の結像光学系内に配置された結像レンズを前記結像光学系の光軸に直交する平面内で略直交する2つの方向にそれぞれ移動させ、前記標本像の像ぶれ量を相殺することを特徴とする顕微鏡の像ぶれ補正方法を提供する。
本発明によれば、顕微鏡が受ける振動による像ぶれを補正し、像ぶれのない標本像の観察が可能な顕微鏡と、これに用いられる像ぶれ補正結像レンズと、顕微鏡の像ぶれ補正方法を提供することができる。
以下、本発明の一実施の形態にかかる顕微鏡について図面を参照しつつ説明する。
図1は、実施の形態にかかる顕微鏡の側面図を示す。図2は、標本ステージを対物レンズ側から見た図を示す。図3は、像ぶれ補正に用いられる結像レンズを示し、(a)は上面図を、(b)はX軸に沿った断面を、(c)は結像レンズの駆動状態をそれぞれ示す。なお、以下の実施の形態は、発明の理解の容易化のためのものに過ぎず、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲において当業者により実施可能な付加・置換等を施すことを排除することは意図していない。この点に関しては補正・訂正後においても同様である。
図1において、透過照明用のランプ光源11からの照明光は、ベース部12の内部の不図示の照明光学系を通じてコンデンサーレンズ13に入射し、コンデンサーレンズ13を介してステージ14上に置かれた標本15を照明する。
標本15からの光束は、レボルバ16に搭載された対物レンズ17で集光され結像レンズ18により像面I1、I2に結像する。像面I1に結像された標本の像は、接眼レンズ19を介して観察者に眼視される。また像面I2に結像された標本の像は、不図示のカメラにより撮像され不図示のモニタで観察される。
また標本15への焦点調節は、焦準ハンドル20を回転することでステージ14を上下動し達成する。また、スタンド部21には、制御装置22が内蔵され、顕微鏡1の各種動作を制御可能に構成されている。例えば、顕微鏡1が電動顕微鏡の場合には、レボルバ16の回転、焦準ハンドル20の回転によるステージ14の上下動、標本15へのオートフォーカス動作などを制御装置22で制御する。また、制御装置22は、後述する像ぶれ補正処理にも用いられる。
また、図2に示すようにステージ14の上面、及びレボルバ16の内側に2軸加速度センサーS1、S2がそれぞれ配設されている。この2軸加速度センサーS1,S2は、対物レンズ17の光軸に直交する平面(以後「XY平面」と記す)内の変位を検出可能に配置されている。
図2において、2軸加速度センサーS1は、ステージ14の上面で標本15をスライドする試料スライド31の近傍に配置されている。符号32はX移動ブロック、33は標本押え爪、34はステージ板、35はYステージ板、36は開口部をそれぞれ示す。なお、図2においてXY軸を図示のように決め説明する。
また、図3に示すように、結像レンズ18は、XY平面内に移動可能に構成されている。結像レンズ18は、内輪18aにガイドバー18bとボイスコイルモータ18cに支持されたシャフト18dでX軸方向に移動可能に支持されている。また内輪18aは、外輪18eにガイドバー18fとボイスコイルモータ18gに支持されたシャフト18hでY軸方向に移動可能に支持されている。
結像レンズ18は、ボイスコイルモータ18cでX軸方向に移動し、ボイスコイルモータ18gでY軸方向に移動する。この結果、両ボイスコイルモータ18c、18gをそれぞれ駆動することでそれぞれシャフト18d、18hを介して結像レンズ18をXY平面内で移動することが出来る。図2(c)は結像レンズ18を図中右上方向(+X、+Y)方向に移動させた状態を一例として示している。
本実施の形態にかかる顕微鏡1では、顕微鏡1に加えられたXY方向の振動を2軸加速度センサーS1、及びS2で検出し、検出されたXY方向それぞれの変位を制御装置22で処理し、結像レンズ18の2つのボイスコイルモータ18c、18gをそれぞれ駆動して結像レンズ18を光軸に対して変位させることで、像面I1、I2上での像ぶれ補正を可能にしている。これにより、顕微鏡1に面内の振動が加えられても像面I1、I2上での像ぶれを止めることが出来、観察者は静止した標本像を観察することが出来る。なお、結像レンズ18の移動に用いる駆動手段は、ボイスコイルモータに限らず、一軸方向に駆動可能な駆動手段であれば使用することが出来る。
なお、変位検出センサーS1、S2は2軸加速度センサーに限らず、3軸加速度センサーでも良いし、1軸加速度センサをそれぞれの場所に2つ直交するように配置することで2軸加速度センサーと同様の働きをさせることが出来る。
次に、制御装置22における制御について説明する。
図4は制御ブロック図を示す。図5は制御装置22における像ぶれ補正処理のXY平面上での説明図であり、(a)は標本15の移動量を、(b)は対物レンズ18の移動量を、(c)は標本15と対物レンズ18の合成移動量を、(d)は結像レンズ18による補正移動量をそれぞれ例示している。
図4において、2軸加速度センサーS1、S2からの信号は、制御装置22の信号入力部41に入力される。入力されたそれぞれの信号は演算部42でX方向成分、Y方向成分のそれぞれが演算される。更に、結像レンズ18のXY方向それぞれの移動量を結像倍率などのパラメータに基づき演算する。この演算結果に基づき、ボイスコイルモータ駆動部43を介してXYそれぞれのボイスコイルモータ18c、18gをそれぞれ駆動する。以上の処理を行うことにより2軸加速度センサーS1、S2で検出された像の移動量を結像レンズ18でキャンセルし像ぶれを止めることが出来る。
図5において、Sは標本15が移動した量を、Aは対物レンズ17が移動した量を、Cは結像レンズ18が移動した量をそれぞれ示す。また、標本15が単位長さ移動したときに像面I1、I2における拡大像が移動する長さに対する倍率をs、対物レンズ17が単位長さ移動したときに像面I1、I2における拡大像が移動する長さに対する倍率をa、結像レンズ18が単位長さ移動したときに像面I1、I2における拡大像が移動する長さに対する倍率をcとすると、制御装置22の演算部42では、
s×S+a×A+c×C=0
となるCを算出する。なお、上記S,A,Cはベクトルで表され、s、a、cはスカラーで表される。但し、XY方向成分の倍率が異なる場合にはベクトルとなる。
図5(a)では、標本15の移動量に伴う像の移動量が(X方向の移動量、Y方向の移動量)S=(3、5)、対物レンズ17の移動量に伴う像の移動量A=(−2、2)である場合、その合成された像の移動量はS+A=(1、7)となる。よって制御装置22は、この合成された像の移動量S+A=(1、7)をキャンセルする為に結像レンズ18により像をC=(−1、−7)移動するようにボイスコイルモータ駆動部43を介してXYそれぞれのボイスコイルモータ18c、18gをそれぞれ駆動する。この結果、標本15及び対物レンズ17の移動による像ぶれはキャンセル(S+A+C=0)され像ぶれが止まる。なお、ここでは簡単の為に倍率s,a,cはいずれも1倍として説明している。
なお、実施の形態の説明では2つの2軸加速度センサーS1,S2が配設されている場合について説明したが、2軸加速度センサーは、振動により像ぶれを発生する場所の少なくとも1ヶ所に配設してあれば像ぶれ補正を達成することが出来ることは言うまでもない。
また、振動による像ぶれを発生する各位置に2軸加速度センサーをそれぞれ配置し、制御装置22で合成処理することで、振動による像ぶれをより効果的に補正することが出来る。例えば、図1に示す、ステージ14、レボルバ16以外のアーム部23のレボルバ16の近傍S3など3箇所に配置することでより効果的に像ぶれを補正することが出来る。
また顕微鏡1は、透過型顕微鏡に限らず倒立型顕微鏡や走査型共焦点顕微鏡などにも使用することが出来る。
以上述べたように、実施の形態にかかる顕微鏡によれば、顕微鏡に加えられた振動によって生じる像面上の像ぶれを止めることが出来、常に静止した状態の標本像を観察することが出来る。
また、顕微鏡本体で像ぶれ補正が出来るため、除振台が不要となり設置スペースを削減することが出来る。
また、顕微鏡本体で像ぶれ補正が出来るため、顕微鏡の重量や体積を少なくすることが出来、顕微鏡本体の軽量化を達成することが出来る。
また、軽量な結像レンズを移動することで像ぶれ補正が可能であり、高い周波数成分の振動による像ぶれを補正することが出来ると共に、小型のモータで結像レンズを移動することが出来る。
実施の形態にかかる顕微鏡の側面図を示す。 標本ステージを対物レンズ側から見た図を示す。 像ぶれ補正に用いられる結像レンズを示し、(a)は上面図を、(b)はX軸に沿った断面を、(c)は結像レンズの駆動状態をそれぞれ示す。 制御ブロック図を示す。 制御装置における像ぶれ補正処理のXY平面上での説明図であり、(a)は標本の移動量を、(b)は対物レンズの移動量を、(c)は標本と対物レンズの合成移動量を、(d)は結像レンズによる補正移動量をそれぞれ例示している。
符号の説明
1 顕微鏡
11 ランプ光源
12 ベース部
13 コンデンサーレンズ
14 ステージ
15 標本
16 レボルバ
17 対物レンズ
18 結像レンズ
19 接眼レンズ
20 焦準ハンドル
21 スタンド部
22 制御装置
23 アーム部
31 試料スライド
32 X移動ブロック
33 標本押え爪
34 ステージ板
35 Yステージ板
36 開口部
41 信号入力部
42 演算部
43 ボイスモータ駆動部
S1、S2、S3 2軸加速度センサー

Claims (9)

  1. ステージと、
    対物レンズと像面との間に配置された結像レンズと、
    前記結像レンズを光軸に直交する平面内で移動させる駆動装置と、
    前記結像レンズの光軸に対して直交する平面における前記対物レンズと前記ステージとの位置の変位量を検出する少なくとも1つの変位検出センサーと、
    前記変位検出センサーが検出した信号に基づき、前記駆動装置を駆動して前記結像レンズを移動し、前記像面における像ぶれを補正する制御装置と、
    を有することを特徴とする顕微鏡。
  2. 前記変位検出センサーは、顕微鏡のステージに配設されていることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。
  3. 前記変位検出センサーは、前記対物レンズを支持するレボルバに配設されていることを特徴とする請求項1または2に記載の顕微鏡。
  4. 前記変位検出センサーは、加速度センサーを含むことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の顕微鏡。
  5. 結像レンズを第1の方向に移動可能に支持する内輪と、
    前記内輪を前記第1の方向を含む面内で前記第1の方向とは略直交する第2の方向に移動可能に支持する外輪と、
    前記内輪に固定され前記結像レンズを前記第1の方向に移動する第1の駆動装置と、
    前記外輪に固定され前記内輪を前記第2の方向に移動する第2の駆動装置と、
    を有することを特徴とする像ぶれ補正結像レンズ。
  6. 前記駆動装置は、ボイスコイルモータを含むことを特徴とする請求項5に記載の像ぶれ補正結像レンズ。
  7. 顕微鏡に配設された少なくとも1つの変位検出センサーの信号に基づき、前記顕微鏡で観察する標本像の像ぶれ量を算出して、前記顕微鏡の結像光学系内に配置された結像レンズを前記結像光学系の光軸に直交する平面内で略直交する2つの方向にそれぞれ移動させ、前記標本像の像ぶれ量を相殺することを特徴とする顕微鏡の像ぶれ補正方法。
  8. 前記顕微鏡のステージに配設された第1の前記変位検出センサーの信号と、前記顕微鏡の結像光学系の近傍に配設された第2の前記位置センサーの信号との合成信号から前記標本像の像ぶれ量を算出することを特徴とする請求項6に記載の顕微鏡の像ぶれ補正方法。
  9. 前記変検出センサーは、加速度センサーを含むことを特徴とする請求項7または8に記載の顕微鏡の像ぶれ補正方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017129649A (ja) * 2016-01-19 2017-07-27 ソニー・オリンパスメディカルソリューションズ株式会社 医療用観察装置、医療用観察システム及び画揺れ補正方法
JP2021512346A (ja) * 2017-11-30 2021-05-13 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッドLeica Biosystems Imaging, Inc. 衝撃再走査システム

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017129649A (ja) * 2016-01-19 2017-07-27 ソニー・オリンパスメディカルソリューションズ株式会社 医療用観察装置、医療用観察システム及び画揺れ補正方法
US11284000B2 (en) 2016-01-19 2022-03-22 Sony Olympus Mfdical Solutions Inc. Medical observation device, medical observation system, and image shake correction method
JP2021512346A (ja) * 2017-11-30 2021-05-13 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッドLeica Biosystems Imaging, Inc. 衝撃再走査システム
JP7119085B2 (ja) 2017-11-30 2022-08-16 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッド 衝撃再走査システム

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