JP2009116317A - 顕微鏡装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】セクショニング分解能が変更可能な共焦点観察と通常の共焦点観察とを切り換えて行うことが可能な顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】標本3に照明光を照射する照明光学系5と、標本3を共焦点観察するための第1の共焦点観察光学系21と、標本3をセクショニング分解能を変更して共焦点観察するための第2の共焦点観察光学系23と、標本3からの観察光を少なくとも第1の共焦点観察光学系21及び第2の共焦点観察光学系23の一方へ切り換えて導く光学部材16aを有する光路切換手段16と、共焦点観察光学系21,23を経た前記観察光を検出するための検出手段6と、を有することを特徴とする。
【選択図】図1
【解決手段】標本3に照明光を照射する照明光学系5と、標本3を共焦点観察するための第1の共焦点観察光学系21と、標本3をセクショニング分解能を変更して共焦点観察するための第2の共焦点観察光学系23と、標本3からの観察光を少なくとも第1の共焦点観察光学系21及び第2の共焦点観察光学系23の一方へ切り換えて導く光学部材16aを有する光路切換手段16と、共焦点観察光学系21,23を経た前記観察光を検出するための検出手段6と、を有することを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、顕微鏡装置に関する。
従来、対物レンズの焦点位置と共役な位置にピンホールを配置することで、観察対象を標本のピント面近傍の薄い層に限定(セクショニング)して観察を行う共焦点顕微鏡が知られており、近年では観察対象となるこの層の厚み、所謂互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行うものが提案されている(例えば、特許文献1を参照。)。
特開2005-274591号公報
しかしながら、通常(所定(固定)のセクショニング分解能)の共焦点顕微鏡と上述のような互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行う共焦点顕微鏡を用いて同一の標本を観察しようとすれば、各共焦点顕微鏡において標本の観察位置をその都度セッティングしなければならない。このため、各共焦点顕微鏡で得られる標本の観察画像には観察位置のずれが生じてしまうという問題があった。
そこで本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、ほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察と所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察とを切り換えて行うことが可能な顕微鏡装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために本発明は、標本に照明光を照射する照明光学系と、
前記標本を所定のセクショニング分解能で共焦点観察するための第1の共焦点観察光学系と、
前記標本を互いに異なるセクショニング分解能でほぼ同時に共焦点観察を行うための第2の共焦点観察光学系と、
前記標本からの観察光を少なくとも前記第1の共焦点観察光学系及び前記第2の共焦点観察光学系の一方へ切り換えて導く反射部材を有する光路切換手段と、
前記共焦点観察光学系を経た前記観察光を検出するための検出手段と、
を有することを特徴とする顕微鏡装置を提供する。
前記標本を所定のセクショニング分解能で共焦点観察するための第1の共焦点観察光学系と、
前記標本を互いに異なるセクショニング分解能でほぼ同時に共焦点観察を行うための第2の共焦点観察光学系と、
前記標本からの観察光を少なくとも前記第1の共焦点観察光学系及び前記第2の共焦点観察光学系の一方へ切り換えて導く反射部材を有する光路切換手段と、
前記共焦点観察光学系を経た前記観察光を検出するための検出手段と、
を有することを特徴とする顕微鏡装置を提供する。
本発明によれば、ほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察と所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察とを切り換えて行うことが可能な顕微鏡装置を提供することができる。
以下、本発明の各実施形態に係る顕微鏡装置を添付図面に基づいて詳細に説明する。
(第1実施形態)
はじめに、本発明の第1実施形態に係る顕微鏡装置の構成を説明する。
図1(a)に示すように本実施形態に係る顕微鏡装置1は、倒立顕微鏡2、標本3の共焦点観察を行うための共焦点観察システム4、該共焦点観察システム4へ照明光を供給するレーザユニット5、共焦点観察システム4で得られた標本3の観察光を検出する光検出ユニット6、及びコントローラ7からなる。
(第1実施形態)
はじめに、本発明の第1実施形態に係る顕微鏡装置の構成を説明する。
図1(a)に示すように本実施形態に係る顕微鏡装置1は、倒立顕微鏡2、標本3の共焦点観察を行うための共焦点観察システム4、該共焦点観察システム4へ照明光を供給するレーザユニット5、共焦点観察システム4で得られた標本3の観察光を検出する光検出ユニット6、及びコントローラ7からなる。
倒立顕微鏡2は、上方から順に、透過照明装置8、標本3を載置するステージ9、対物レンズ10、及び結像レンズ11を有している。なお、この倒立顕微鏡2は、接眼観察用の接眼レンズ、及び標本3からの観察光を接眼レンズへ導くための不図示の光学系も備えている。
共焦点観察システム4は、倒立顕微鏡2の本体2aに直接取り付けられており、該倒立顕微鏡2の結像レンズ11側から順に、スキャナレンズ12、光を二次元的に走査するガルバノスキャナ13、ダイクロイックミラー14、集光レンズ15、光路切換部16、及び第1ピンホールユニット21を有している。そして、ダイクロイックミラー14の反射光路上にはコリメートレンズ19を有し、さらに光路切換部16の反射光路上には反射ミラー18を介して第2ピンホールユニット23を有している。
第1ピンホールユニット21は、所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察を行うためのユニットであって、集光レンズ15の焦点位置近傍に配置されており円形の開口が形成されたピンホール部材22からなる。なお、このピンホール部材22の開口径は、不図示の調整機構によって可変であり、これによって対物レンズ10の倍率に対して最適な大きさに設定することが可能である。また、斯かる構成の第1ピンホールユニット21は、光ファイバ21aを介して光検出ユニット6と接続されている。
第2ピンホールユニット23は、互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行うためのユニットであって、光路切換部16の反射光路上において集光レンズ15の焦点位置近傍に配置されたマスク部材24からなる。取得した互いに異なるセクショニング分解能の共焦点画像を用いて演算により任意のセクショニング分解能の共焦点観察画像を取得することができる。
このマスク部材24は、図1(b)に示すように入射光軸上に位置する小径の円形開口(小径ピンホール)25aと該小径ピンホール25aよりも大径の円形開口(大径ピンホール)25bとが形成されたピンホールマスク面25と、これに対向する反射面26とを備えた透明基板27からなり、光軸に対して傾けて配置されている。なお、小径ピンホール25a及び大径ピンホール25bは、集光レンズ15の焦点深度内に収まるように設けられている。そして、斯かる構成の第2ピンホールユニット23は、光ファイバ23a,23bを介して光検出ユニット6と接続されている。
このマスク部材24は、図1(b)に示すように入射光軸上に位置する小径の円形開口(小径ピンホール)25aと該小径ピンホール25aよりも大径の円形開口(大径ピンホール)25bとが形成されたピンホールマスク面25と、これに対向する反射面26とを備えた透明基板27からなり、光軸に対して傾けて配置されている。なお、小径ピンホール25a及び大径ピンホール25bは、集光レンズ15の焦点深度内に収まるように設けられている。そして、斯かる構成の第2ピンホールユニット23は、光ファイバ23a,23bを介して光検出ユニット6と接続されている。
光路切換部16は、反射ミラー16aを備えたターレット部材からなり、これを回転操作することで当該反射ミラー16aを光軸上に配置、或いは何も配置せずに素通し状態とすることができる。なお、斯かる光路切換部16の構成はターレット部材に限られず、反射ミラー16aをスライドさせて光軸上へ選択的に配置する構成のスライド部材等としてもよく、このことは後記第2実施形態においても同様である。
レーザユニット5は、光ファイバ5aを介して共焦点観察システム4と接続されており、共焦点観察システム4のコリメートレンズ19側から順に、集光レンズ30、ダイクロイックミラー31、及び反射ミラー32を有し、これらのミラー31,32の反射光路上には、シャッタ装置33a,34a、及び波長の異なるレーザ光を発するレーザ光源3
3b,34bをそれぞれ有している。なお、シャッタ装置33a,34aには、レーザ光のパワーを調整するための音響光学素子等も含まれている。
3b,34bをそれぞれ有している。なお、シャッタ装置33a,34aには、レーザ光のパワーを調整するための音響光学素子等も含まれている。
光検出ユニット6は、共焦点観察システム4における第1ピンホールユニット21からの観察光を入力するために光ファイバ21aが接続された第1の入力ポート6aと、第2ピンホールユニット23の小径ピンホール25aを通過した観察光を入力するために光ファイバ23aが接続された第2の入力ポート6bと、第2ピンホールユニット23の大径ピンホール25bを通過した観察光を入力するために光ファイバ23bが接続された第3の入力ポート6cとを筐体側面に備えている。
そして光検出ユニット6の筐体内部には、次の2つの光検出部35,36が備えられている。光検出部35は、第3の入力ポート6c側から順に、レンズ37、光路切換ミラー38、ダイクロイックミラー39、及び該ダイクロイックミラー39と波長特性の異なるダイクロイックミラー40を有している。また、光路切換ミラー38の反射光路上には、第1の入力ポート6aに対向するレンズ41を有している。そして光検出部35は、各ダイクロイックミラー39,40の透過光路上及び反射光路上に、バリアフィルタ42a,43a,44a、集光レンズ42b,43b,44b、微弱光を検出可能なフォトマルチプライヤ(PMT)42c,43c,44cをそれぞれ有している。
なお、光路切換ミラー38は、不図示のスライド機構によって光軸上へ挿脱可能に設けられており、これにより第1の入力ポート6aから入力された観察光と第3の入力ポート6cから入力された観察光を選択的に切り換えて各PMT42c,43c,44cへ導くことが可能である。
なお、光路切換ミラー38は、不図示のスライド機構によって光軸上へ挿脱可能に設けられており、これにより第1の入力ポート6aから入力された観察光と第3の入力ポート6cから入力された観察光を選択的に切り換えて各PMT42c,43c,44cへ導くことが可能である。
また光検出部36は、第2の入力ポート6b側から順に、レンズ45、ダイクロイックミラー46、該ダイクロイックミラー46と波長特性の異なるダイクロイックミラー47を有している。そして、各ダイクロイックミラー46,47の透過光路上及び反射光路上に、バリアフィルタ48a,49a,50a、集光レンズ48b,49b,50b、PMT48c,49c,50cをそれぞれ有している。
コントローラ7は、コンピュータ52と接続されており、該コンピュータ52からの指示に基づいて顕微鏡装置1の各部を制御するものである。具体的には、コントローラ7は、倒立顕微鏡2、共焦点観察システム4のガルバノスキャナ13、レーザユニット5、光検出ユニット6を制御するために、それぞれに対応した制御部7a,7b,7c,7dを備えている。なお、コンピュータ52には、標本3の観察画像等を表示するためのモニタ53も接続されている。
次に、以上に述べた構成の顕微鏡装置1について、所定のセクショニング分解能の共焦点観察を行う場合と、互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行う場合とに分けて説明する。
本顕微鏡装置1において、所定のセクショニング分解能の共焦点観察を行う場合には、予め共焦点観察システム4における光路切換部16を回転操作して、反射ミラー16aを光軸外へ退避させ素通し状態にしておく。そして、光検出ユニット6内の光検出部35の光路切換ミラー38を光軸上に配置しておく。
この前提の下、レーザユニット5においてレーザ光源33bから発せられた光は、シャッタ装置33aを経て、ダイクロイックミラー31で反射され、集光レンズ30に入射する。また、もう1つのレーザ光源34bから発せられた光は、シャッタ装置34aを経て、反射ミラー32で反射され、さらにダイクロイックミラー31を透過して集光レンズ30に入射する。これにより、各レーザ光源33b,34bのレーザ光は、集光レンズ30によってまとめて光ファイバ5aの端面に集光され、この光ファイバ5aを介して照明光として共焦点観察システム4へ入力される。
この前提の下、レーザユニット5においてレーザ光源33bから発せられた光は、シャッタ装置33aを経て、ダイクロイックミラー31で反射され、集光レンズ30に入射する。また、もう1つのレーザ光源34bから発せられた光は、シャッタ装置34aを経て、反射ミラー32で反射され、さらにダイクロイックミラー31を透過して集光レンズ30に入射する。これにより、各レーザ光源33b,34bのレーザ光は、集光レンズ30によってまとめて光ファイバ5aの端面に集光され、この光ファイバ5aを介して照明光として共焦点観察システム4へ入力される。
共焦点観察システム4に入力された照明光は、コリメートレンズ19を経てダイクロイックミラー14で反射され、ガルバノスキャナ13とスキャナレンズ12を介して倒立顕微鏡2へ入力される。この照明光は、倒立顕微鏡2の本体2a内において結像レンズ11と対物レンズ10を順に介してステージ9上の標本3に照射される。
これによって標本3から発せられた観察光は、再び対物レンズ10、結像レンズ11を順に経て共焦点観察システム4へ入力される。この観察光は、共焦点観察システム4において再びスキャナレンズ12とガルバノスキャナ13を経た後、ダイクロイックミラー14を透過しさらに集光レンズ15を経て、光路切換部16へ導かれる。そしてこの観察光は、光路切換部16を素通りして第1ピンホールユニット21のピンホール部材22に集光され、該ピンホール部材22を通過した観察光は、光ファイバ21aを介して光検出ユニット6へ第1の入力ポート6aより入力される。
これによって標本3から発せられた観察光は、再び対物レンズ10、結像レンズ11を順に経て共焦点観察システム4へ入力される。この観察光は、共焦点観察システム4において再びスキャナレンズ12とガルバノスキャナ13を経た後、ダイクロイックミラー14を透過しさらに集光レンズ15を経て、光路切換部16へ導かれる。そしてこの観察光は、光路切換部16を素通りして第1ピンホールユニット21のピンホール部材22に集光され、該ピンホール部材22を通過した観察光は、光ファイバ21aを介して光検出ユニット6へ第1の入力ポート6aより入力される。
光検出ユニット6へ入力された観察光は、光検出部35において、レンズ41を経た後、光路切換ミラー38によって反射されてダイクロイックミラー39へ導かれる。そしてこの観察光は、該ダイクロイックミラー39によって透過光と反射光に分離され、当該透過光はダイクロイックミラー40によってさらに透過光と反射光に分離される。即ち観察光は、波長特性の異なる2枚のダイクロイックミラー39,40によって、3つの波長成分(ダイクロイックミラー39の反射光、及びダイクロイックミラー40の反射光と透過光)に分離されることとなり、この3つの波長成分はそれぞれ対応するバリアフィルタ42a,43a,44aと集光レンズ42b,43b,44bを順に経た後、PMT42c,43c,44cで検出される。なお、標本3に照射される照明光は、ガルバノスキャナ13によって二次元的に走査されるため、各PMT42c,43c,44cでは標本3の観察領域全体にわたって観察光が検出されることとなる。
そしてこれによりコンピュータ52は、各PMT42c,43c,44cから観察光の波長成分毎の検出信号をコントローラ7を介して取得し、これに基づいて標本3の二次元画像データを作成して観察画像をモニタ53に表示させる。このようにして観察者は、標本3を波長成分毎に共焦点観察することが可能となる。
本顕微鏡装置1において、互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行う場合には、予め共焦点観察システム4における光路切換部16を回転操作して反射ミラー16aを光軸上に配置しておく。そして、光検出ユニット6内の光検出部35の光路切換ミラー38を光軸外へ退避させておく。
この前提の下、上述した所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察を行う場合と同様に、レーザユニット5からの照明光が照射された標本3から発せられた観察光は、共焦点観察システム4の光路切換部16へ導かれる。そしてこの観察光は、該光路切換部16の反射ミラー16aで反射され、さらにミラー18で反射された後、第2ピンホールユニット23のマスク部材24へ入射する。
この前提の下、上述した所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察を行う場合と同様に、レーザユニット5からの照明光が照射された標本3から発せられた観察光は、共焦点観察システム4の光路切換部16へ導かれる。そしてこの観察光は、該光路切換部16の反射ミラー16aで反射され、さらにミラー18で反射された後、第2ピンホールユニット23のマスク部材24へ入射する。
マスク部材24に入射した観察光のうち、小径ピンホール25a内に集光した光は、該小径ピンホール25aを通過し、光ファイバー23aを介して光検出ユニット6へ第2の入力ポート6bより入力される。一方、小径ピンホール25aの周辺に入射した観察光は、ピンホールマスク面25で反射され、さらに反射面26で反射されて大径ピンホール25bへ導かれる。この観察光のうち、大径ピンホール25b内に集光した光は該大径ピンホール25bを通過し、光ファイバー23bを介して光検出ユニット6へ第3の入力ポート6cより入力される。なお、大径ピンホール25bの周辺に入射した観察光は、ピンホールマスク面25で再び反射され不要光として廃棄される。
次に、光検出ユニット6へ第2の入力ポート6bより入力された観察光(小径ピンホール25aを通過した観察光)は、光検出部36において、レンズ45を経た後、2枚のダイクロイックミラー46,47によって3つの波長成分に分離され、それぞれ対応するバリアフィルタ48a,49a,50aと集光レンズ48b,49b,50bを順に経た後、PMT48c,49c,50cで検出される。なお、標本3に照射される照明光は、上述のようにガルバノスキャナ13によって二次元的に走査されるため、各PMT48c,49c,50cでは標本3の観察領域全体にわたって観察光が検出されることとなる。
これによりコンピュータ52は、光検出ユニット6の各PMT48c,49c,50cから観察光の波長成分毎の検出信号をコントローラ7を介して取得し、これに基づいて標本3の二次元画像データを作成して当該コンピュータ52内に備えられている不図示のメモリに格納する。なお、ここで得られた標本3の二次元画像データは、小径ピンホール25aを通過した観察光に基づくものであるため、標本3におけるピント面近傍の薄い層の情報、即ちセクショニング分解能が高い情報を有している。
また、光検出ユニット6へ第3の入力ポート6cより入力された観察光(大径ピンホール25bを通過した観察光)は、上述した第1の入力ポート6aより入力された観察光と同様に光検出部35で検出され、コンピュータ52によって波長成分毎の標本3の二次元画像データが作成されてメモリに格納される。なお、ここで得られた標本3の二次元画像データは、大径ピンホール25bを通過した観察光に基づくものであるため、標本3におけるピント面周辺の厚い層の情報、即ちセクショニング分解能が低い情報を有している。
以上のようにしてセクショニング分解能の高い二次元画像データとセクショニング分解能の低い二次元画像データを波長成分毎に得たコンピュータ52は、これらに演算を施すことで、観察者より指定されているセクショニング分解能の二次元画像データを波長成分毎に作成し観察画像をモニタ52に表示させる。このようにして観察者は、標本3を波長成分毎に所望のセクショニング分解能にて共焦点観察することが可能となる。
なお、観察者によるセクショニング分解能の変更は、標本3の二次元画像データの取得前後に関わらず、当該コンピュータ52に設けられている不図示の入力部を介して行うことができる。したがって観察者は、例えばモニタ53に表示された標本3の観察画像を確認後、セクショニング分解能を低く変更することで、より明るい観察画像をモニタ53に表示させて再度観察を行うこと等も可能となる。
なお、観察者によるセクショニング分解能の変更は、標本3の二次元画像データの取得前後に関わらず、当該コンピュータ52に設けられている不図示の入力部を介して行うことができる。したがって観察者は、例えばモニタ53に表示された標本3の観察画像を確認後、セクショニング分解能を低く変更することで、より明るい観察画像をモニタ53に表示させて再度観察を行うこと等も可能となる。
以上、本実施形態によれば、ほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察と所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察とを、標本の観察位置がずれることなく、光路切換部16によって素早く簡単に切り換えて行うことが可能な顕微鏡装置1を実現することができる。また本実施形態に係る顕微鏡装置1は、本来ならば3つの光検出ユニットを要する構成であるものの、上述した構成の光検出ユニット6を用いることで、電気ケーブルや筐体部品を減らし、さらに設置スペースの小型化を図ることができる。
(第2実施形態)
以下、本実施形態に係る顕微鏡装置について、上記第1実施形態と同様の構成である部分には同じ符号を付してその説明を省略し、異なる構成の部分について詳細に説明する。
図2に示すように本実施形態に係る顕微鏡装置60は、共焦点観察システム4における光路切換部16が、反射ミラー16a、及びビームスプリッタを備えたターレット部材からなり(本実施形態では、ビームスプリッタとしてハーフミラー16bと不図示のダイクロイックミラーを備えている。)、これを回転操作することで所望の光学部品を光軸上に選択的に配置、或いは何も配置せずに素通し状態とすることができる。
以下、本実施形態に係る顕微鏡装置について、上記第1実施形態と同様の構成である部分には同じ符号を付してその説明を省略し、異なる構成の部分について詳細に説明する。
図2に示すように本実施形態に係る顕微鏡装置60は、共焦点観察システム4における光路切換部16が、反射ミラー16a、及びビームスプリッタを備えたターレット部材からなり(本実施形態では、ビームスプリッタとしてハーフミラー16bと不図示のダイクロイックミラーを備えている。)、これを回転操作することで所望の光学部品を光軸上に選択的に配置、或いは何も配置せずに素通し状態とすることができる。
また、本実施形態に係る顕微鏡装置60は、第1実施形態に係る顕微鏡装置1の光検出ユニット6に代えて、3つの光検出ユニット61,62,63を備えている。
第1ピンホールユニット21と光ファイバ21aを介して接続されている光検出ユニット61は、上記第1実施形態における光検出ユニット6の光検出部36と同様の構成である。
第1ピンホールユニット21と光ファイバ21aを介して接続されている光検出ユニット61は、上記第1実施形態における光検出ユニット6の光検出部36と同様の構成である。
また、第2ピンホールユニット23と光ファイバ23aを介して接続されている光検出ユニット62は、入力ポート側から順に、レンズ65、ダイクロイックミラー切換部66、及びダイクロイックミラー切換部67を有している。そして、各ダイクロイックミラー切換部66,67の透過光路上及び反射光路上に、集光レンズ68b,69b,70b、PMT68c,69c,70cをそれぞれ有している。
ここで、ダイクロイックミラー切換部66,67は、ダイクロイックミラー66a,67aと該ダイクロイックミラー66a,67aに対応してその反射光路上に配置されたバリアフィルタ66b,67bとの組み合わせを複数組備えたターレット部材からなる。なお、ダイクロイックミラー切換部67は、ダイクロイックミラー67aの透過光路上にも対応するバリアフィルタ67cが備えられている。これにより観察者は、斯かる構成のダイクロイックミラー切換部66,67をそれぞれ回転操作することで、所望の波長特性を有するダイクロイックミラー及びバリアフィルタの組み合わせを光軸上に選択的に配置し、観察光を所望の波長成分に分離することが可能となる。
なお、第2ピンホールユニット23と光ファイバ23bを介して接続されている光検出ユニット63は、前述の光検出ユニット62と同様の構成である。
なお、第2ピンホールユニット23と光ファイバ23bを介して接続されている光検出ユニット63は、前述の光検出ユニット62と同様の構成である。
次に、以上に述べた構成の顕微鏡装置60について、所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察を行う場合、互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行う場合、及びこれらの観察を同時に行う場合に分けて説明する。
本顕微鏡装置60において、所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察を行う場合には、予め共焦点観察システム4の光路切換部16を回転操作し、いずれの光学部材も光軸上に配置せず素通し状態にしておく。
この前提の下、上記第1実施形態で述べた所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察を行う場合と同様に標本3から発せられた観察光は共焦点観察システム4の第1ピンホールユニット21を経た後、光検出ユニット61へ導かれ該光検出ユニット61で検出される。これによりコンピュータ52は、光検出ユニット61からの検出信号に基づいて標本3の二次元画像データを波長成分毎に作成し観察画像をモニタ53に表示させる。これによって観察者は、標本3を波長成分毎に共焦点観察することが可能となる。
この前提の下、上記第1実施形態で述べた所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察を行う場合と同様に標本3から発せられた観察光は共焦点観察システム4の第1ピンホールユニット21を経た後、光検出ユニット61へ導かれ該光検出ユニット61で検出される。これによりコンピュータ52は、光検出ユニット61からの検出信号に基づいて標本3の二次元画像データを波長成分毎に作成し観察画像をモニタ53に表示させる。これによって観察者は、標本3を波長成分毎に共焦点観察することが可能となる。
本顕微鏡装置60において、互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行う場合には、予め共焦点観察システム4の光路切換部16を回転操作して反射ミラー16aを光軸上に配置しておく。また、光検出ユニット62,63における各ダイクロイックミラー切換部66,67を回転操作して所望の波長特性を有するダイクロイックミラーを光軸上に配置しておく。
この前提の下、上記第1実施形態で述べた互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行う場合と同様に、標本3から発せられた観察光は共焦点観察システム4の第2ピンホールユニット23へ導かれる。これにより、マスク部材24の小径ピンホール25aを通過した観察光と大径ピンホール25bを通過した観察光は、それぞれ光検出ユニット62,63へ導かれ該光検出ユニット62,63で検出される。これによりコンピュータ52は、上記第1実施形態で述べた互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行う場合と同様に、観察者より指定されているセクショニング分解能の二次元画像データを波長成分毎に作成して観察画像をモニタに表示させる。これにより観察者は、標本3を波長成分毎に所望のセクショニング分解能にて共焦点観察することが可能となる。
この前提の下、上記第1実施形態で述べた互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行う場合と同様に、標本3から発せられた観察光は共焦点観察システム4の第2ピンホールユニット23へ導かれる。これにより、マスク部材24の小径ピンホール25aを通過した観察光と大径ピンホール25bを通過した観察光は、それぞれ光検出ユニット62,63へ導かれ該光検出ユニット62,63で検出される。これによりコンピュータ52は、上記第1実施形態で述べた互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行う場合と同様に、観察者より指定されているセクショニング分解能の二次元画像データを波長成分毎に作成して観察画像をモニタに表示させる。これにより観察者は、標本3を波長成分毎に所望のセクショニング分解能にて共焦点観察することが可能となる。
本顕微鏡装置60において、所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察とほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察とを同時に行う場合には、予め共焦点観察システム4における光路切換部16を回転操作してハーフミラー16bを光軸上に配置しておく。また、光検出ユニット62,63における各ダイクロイックミラー切換部66,67を回転操作して所望の波長特性を有するダイクロイックミラーを光軸上に配置しておく。
この前提により、上述した所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察を行う場合と同様に標本3から発せられた観察光は、共焦点観察システム4における光路切換部16のハーフミラー16bによって透過光と反射光に分離される。そして透過光は第1ピンホールユニット21へ導かれ、これと同時に反射光は第2ピンホールユニット23へ導かれる。このため、各ピンホールユニット21,23に対応する各光検出ユニット61,62,63では観察光が同時に検出されることとなる。
これによりコンピュータ52は、所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察による標本3の二次元画像データとほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察による標本3の二次元画像データとを作成し、これらの観察画像を同時にモニタ53に表示する。これによって観察者は所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察と、ほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察とを同時に行うことが可能となる。
これによりコンピュータ52は、所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察による標本3の二次元画像データとほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察による標本3の二次元画像データとを作成し、これらの観察画像を同時にモニタ53に表示する。これによって観察者は所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察と、ほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察とを同時に行うことが可能となる。
ここで、本顕微鏡装置60において所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察とほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察とを同時に行う場合には、共焦点観察システム4における光路切換部16の不図示のダイクロイックミラーを光軸上に配置してもよい。これにより、所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察と、ほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察とを異なる波長で同時に行うことが可能となる。具体的には、例えば波長550nm以下の観察光によって所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察を行い、波長550nm以上の観察光によって互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察をほぼ同時に行うことができる。
以上、本実施形態によれば、上記第1実施形態に係る顕微鏡装置と同様に、ほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察と所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察とを、標本の観察位置がずれることなく、光路切換部16によって素早く簡単に切り換えて行うことが可能な顕微鏡装置60を実現することができる。また、本実施形態では、上述のようにほぼ同時に行う互いに異なるセクショニング分解能の共焦点観察と所定(固定)のセクショニング分解能の共焦点観察とを同時に行うこともできる。
(第3実施形態)
以下、本実施形態に係る顕微鏡装置について、上記第1実施形態と同様の構成である部分には同じ符号を付してその説明を省略し、異なる構成の部分について詳細に説明する。
図3に示すように本実施形態に係る顕微鏡装置100は、集光レンズ15に光軸と直交する方向へ電動で移動できる機構を備えている。
以下、本実施形態に係る顕微鏡装置について、上記第1実施形態と同様の構成である部分には同じ符号を付してその説明を省略し、異なる構成の部分について詳細に説明する。
図3に示すように本実施形態に係る顕微鏡装置100は、集光レンズ15に光軸と直交する方向へ電動で移動できる機構を備えている。
これは、不図示のダイクロイックミラー切換部のダイクロイックミラー14を使用する励起波長ごとに適切なダイクロイックミラーに切り換えること、及び光路切換部16の反射ミラー16aを挿入又は脱却することにより、各ダイクロイックミラー14、反射ミラー16aの位置ズレに起因して生じる、集光レンズ15の焦点位置とピンホール部材22、マスク部材24の小径ピンホール25a、大径ピンホール25bの中心とのズレを修正するためのものである。
集光レンズ15に光軸と直交する方向へ電動で移動できる機構を設けることにより、光軸をz軸方向とする3次元直交座標系において、集光レンズ15は、x軸方向、y軸方向へ、それぞれモータ113、114によって移動される。なお、移動機構の詳細については後述する。
集光レンズ15に光軸と直交する方向へ電動で移動できる機構を設けることにより、光軸をz軸方向とする3次元直交座標系において、集光レンズ15は、x軸方向、y軸方向へ、それぞれモータ113、114によって移動される。なお、移動機構の詳細については後述する。
光路切換部16の反射ミラー16aを挿入した場合であって、各ダイクロイックミラーの集光位置と小径ピンホール25a、大径ピンホール25bの中心とのズレ量、及び光路切換部16に何も配置せずに素通し状態の場合であって、各ダイクロイックミラーの集光位置とピンホール部材22の中心とのズレ量を装置出荷前に求め、これらを一致させるための補正値をコントローラ7内のメモリに記憶させておく。そして、光路切換部16の反射ミラー16a及びダイクロイックミラー切換部のダイクロイックミラー14がある所定のポジションとされたら、集光レンズ15の移動機構を制御するためにコントローラ7内に設けられた制御部7eが対応する補正値に基づいてモータ113、114を駆動し、集光レンズ15をx軸方向、y軸方向に2次元的に移動させる。このことにより、常に、集光レンズ15の焦点位置がピンホール部材22、マスク部材24の小径ピンホール25a、大径ピンホール25bの中心と一致するようにすることができる。これにより、光量ロスのない共焦点顕微鏡とすることができる。
図4に、本発明の実施の形態である走査型共焦点顕微鏡に用いられる集光レンズ15の駆動部の例を示す。集光レンズ15はX方向駆動ステージ151上にあり、X方向駆動ステージ151は、X方向ガイド152、153上を、モータ113、カップリング155、送りねじ156により、X方向に移動することができる。このX方向駆動ステージ151はY方向駆動ステージ158上にある。また、Y方向駆動ステージ158も同様に、Y方向ガイド159、160上を、モータ114、カップリング162、送りねじ163により、Y方向に駆動することができる、上述の集光レンズ駆動機構には座標原点を求めるためにX、Y各軸にリミットセンサ157、164が取り付けられている。
コントローラ7内の不図示のCPUは電源投入時に、以下の方法で原点検知を行う。X方向駆動ステージ151をリミットセンサ157方向に駆動し、X方向駆動ステージ151とリミットセンサ157が接触することにより、リミットセンサ157はCPUにリミット状態であることを通知する。この通知を受けたCPUはリミットセンサ157からある一定のパルス分駆動した位置をX方向の原点とする。Y方向も同様にY方向駆動ステージ158とリミットセンサ164が接触状態にあることを検知し、CPUはリミットセンサ164から一定のパルス分駆動した位置をY方向の原点とする。原点検知後はパルスモータのパルス数のみを制御することでX、Yの位置を高い再現性で制御することが可能となる。
図3の集光レンズ駆動機構を備えた共焦点顕微鏡において、装置出荷前にダイクロイックミラー切換部の各ダイクロイックミラー14と光路切換部16の反射ミラー16aのポジション毎の全ての組み合わせにおいて、集光レンズ15の焦点位置がピンホール部材22、マスク部材24の小径ピンホール25a、大径ピンホール25bの中心と一致するために必要な集光レンズ15の補正値(X,Y)を予め計測し、コンピュータ52内のメモリに格納する。コンピュータ52では、図5(a)に示す形式でメモリに格納する(図5(a)は、光路切換部16のポジション(1は反射ミラー、2は素通し状態)、ダイクロイックミラー切換部のポジション(1〜3は、励起波長、蛍光波長に対応した各ダイクロイックミラー14)における参照表である)。このときの補正値はパルスモータのパルス数としているため制御が簡単である。
上述した集光レンズ15の補正値がメモリに格納されている場合の本体部のモータ制御は、図6に示すように以下のシーケンスで行う。
処理1…コンピュータ52内のソフトウェアからの駆動指示により、コントローラ7内のCPUは必要な駆動部材(光路切換部16、ダイクロイックミラー切換部、集光レンズ15の駆動部等)の選択を行う。
処理2…処理1で駆動部材として光路切換部16あるいはダイクロイックミラー切換部を駆動する場合、メモリから集光レンズ補正パルス数を取得する。
処理3…処理1で選択された部材の駆動を開始する。集光レンズ15の駆動量は処理2で取得した集光レンズ補正パルス数とする。
処理4…処理1で選択された全ての駆動部が停止して処理が完了となる。
処理1…コンピュータ52内のソフトウェアからの駆動指示により、コントローラ7内のCPUは必要な駆動部材(光路切換部16、ダイクロイックミラー切換部、集光レンズ15の駆動部等)の選択を行う。
処理2…処理1で駆動部材として光路切換部16あるいはダイクロイックミラー切換部を駆動する場合、メモリから集光レンズ補正パルス数を取得する。
処理3…処理1で選択された部材の駆動を開始する。集光レンズ15の駆動量は処理2で取得した集光レンズ補正パルス数とする。
処理4…処理1で選択された全ての駆動部が停止して処理が完了となる。
例えば、光路切換部16のポジションが図5(a)の1でダイクロイックミラー切換部のポジションが図5(a)の2(光路切換部16に何も配置せずに素通し状態)の場合、集光レンズ15はX方向にX2パルス、Y方向にY2パルス駆動させることにより、集光レンズ15の焦点位置がピンホール部材22の中心と一致する。
図5(a)では、ダイクロイックミラー切換部と光路切換部16の全ての組み合わせについての補正値をメモリに格納するようにしているが、これに限定されず、図5(b)に示すように、ダイクロイックミラー切換部の各ポジションに対する補正値、及び光路切換部16の反射ミラー16aを脱却して素通しにした状態(ポジション2)に対する、反射ミラー16aを挿入した状態(ポジション1)のオフセット量をメモリに格納しておいてもよい。
図5(a)では、ダイクロイックミラー切換部と光路切換部16の全ての組み合わせについての補正値をメモリに格納するようにしているが、これに限定されず、図5(b)に示すように、ダイクロイックミラー切換部の各ポジションに対する補正値、及び光路切換部16の反射ミラー16aを脱却して素通しにした状態(ポジション2)に対する、反射ミラー16aを挿入した状態(ポジション1)のオフセット量をメモリに格納しておいてもよい。
1,60,100 顕微鏡装置
2 倒立顕微鏡
3 標本
4 共焦点観察システム
5 レーザユニット
6,61,62 光検出ユニット
7 コントローラ
16 光路切換部
16a 反射ミラー
16b ハーフミラー
21 第1ピンホールユニット
23 第2ピンホールユニット
24 マスク部材
52 コンピュータ
2 倒立顕微鏡
3 標本
4 共焦点観察システム
5 レーザユニット
6,61,62 光検出ユニット
7 コントローラ
16 光路切換部
16a 反射ミラー
16b ハーフミラー
21 第1ピンホールユニット
23 第2ピンホールユニット
24 マスク部材
52 コンピュータ
Claims (5)
- 標本に照明光を照射する照明光学系と、
前記標本を所定のセクショニング分解能で共焦点観察するための第1の共焦点観察光学系と、
前記標本を互いに異なるセクショニング分解能でほぼ同時に共焦点観察を行うための第2の共焦点観察光学系と、
前記標本からの観察光を少なくとも前記第1の共焦点観察光学系及び前記第2の共焦点観察光学系の一方へ切り換えて導く反射部材を有する光路切換手段と、
前記共焦点観察光学系を経た前記観察光を検出するための検出手段と、
を有することを特徴とする顕微鏡装置。 - 前記第2の共焦点観察光学系は、前記標本からの前記観察光をセクショニング分解能の異なる少なくとも2つの光束に分離する光分離手段を有しており、
前記光束から得られた少なくとも2つの共焦点画像のデータに基づき、前記共焦点画像とセクショニング分解能の異なる共焦点画像のデータを作成する演算手段を有していることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡装置。 - 前記光路切換手段は、前記反射部材と、前記標本からの前記観察光を前記第1の共焦点観察光学系及び前記第2の共焦点観察光学系へ同時に導く光学部材とを切換可能に有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の顕微鏡装置。
- 前記検出手段は、
前記第1の共焦点観察光学系及び前記第2の共焦点観察光学系で得られた前記観察光を個別に入力するための複数の入力ポートと、
前記観察光を検出するための検出素子と、
前記複数の入力ポートに入力された前記観察光を選択的に前記検出素子へ導く光路切換部材と、を有することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の顕微鏡装置。 - 前記照明光学系は、前記照明光を標本に導くとともに、前記観察光を前記光路切換手段に導く光路分割手段を有し、
前記第1の共焦点観察光学系は、第1のピンホール部材と前記観察光を前記第1のピンホール部材に集光させる集光光学系とを有し、
前記第2の共焦点観察光学系は、第2のピンホール部材と前記観察光を前記第2のピンホール部材に集光させる前記集光光学系を有し、
前記光路分割手段及び前記光路切換手段の前記光学部材のいずれか一方の切り換えに伴って発生する、前記集光光学系の集光位置と、前記第1のピンホール部材又は第2のピンホール部材との位置ズレを補正する補正量を予め記憶しておく記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された前記補正量に基づいて、前記集光光学系の位置を移動させることにより前記位置ズレを補正する補正機構を備えた請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の顕微鏡装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008248953A JP2009116317A (ja) | 2007-10-18 | 2008-09-26 | 顕微鏡装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2022043644A1 (en) * | 2020-08-25 | 2022-03-03 | Aurox Limited | Microscope |
-
2008
- 2008-09-26 JP JP2008248953A patent/JP2009116317A/ja not_active Withdrawn
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WO2022043644A1 (en) * | 2020-08-25 | 2022-03-03 | Aurox Limited | Microscope |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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