JP2009162591A5 - - Google Patents

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  1. 光源からの光による参照面からの参照光と被検物からの光との干渉縞を用いて前記被検物の形状を測定する測定方法であって、
    前記被検物の第1番目の干渉縞を取得し、前記第1番目の干渉縞を前記被検物の第1番目の形状に変換するステップと、
    前記被検物を前記参照面の光軸方向に移動した位置において第2番目の干渉縞を取得するステップと、
    前記第1番目の干渉縞の基準点における位相と前記第2番目の干渉縞の基準点における位相とを揃え、前記第2番目の干渉縞をアンラップするステップと、
    アンラップした前記第2番目の干渉縞を前記被検物の第2番目の形状に変換するステップと、
    前記被検物の第1番目の形状と前記被検物の前記第2番目の形状とが一致するか否かを判定する判定ステップと、
    前記判定ステップにおいて、一致しないと判定した場合、アンラップした前記第2番目の干渉縞に前記光源の波長の整数倍を加えて、前記被検物の形状を算出するステップとを有することを特徴とする測定方法。
  2. 前記被検物は軸対称非球面であることを特徴とする請求項1に記載の測定方法。
  3. 前記第1番目の干渉縞の基準点は、該干渉縞の中心に設定されていることを特徴とする請求項1に記載の測定方法。
  4. 前記被検物が、前記参照面が集光する位置から前記被検物の中心曲率半径だけ離れた位置に配置された状態で前記第1番目の干渉縞が得られることを特徴とする請求項1に記載の測定方法。
  5. 前記被検物の半径方向の距離をh、高さ方向の距離をz’、前記被検物の第1番目の測定位置をR、該第1番目の測定位置からの走査量をv、前記参照面が集光する位置と前記干渉縞を結ぶ直線が前記光軸となす角度をθ、該干渉縞で測定された位相を長さ単位に変換した値をδp、前記光源の波長をλとしたとき、整数nを推定して、数式(1)からz’、数式(2)からhを導出することを特徴とする請求項1記載の測定方法。
    Figure 2009162591

    Figure 2009162591
  6. 光源からの光による参照面からの参照光と被検物からの光との干渉縞を用いた前記被検物の形状の測定をコンピュータに実行させるプログラムであって、
    前記被検物の第1番目の干渉縞を取得し、前記第1番目の干渉縞を前記被検物の第1番目の形状に変換するステップと、
    前記被検物を前記参照面の光軸方向に移動した位置において第2番目の干渉縞を取得するステップと、
    前記第1番目の干渉縞の基準点における位相と前記第2番目の干渉縞の基準点における位相とを揃え、前記第2番目の干渉縞をアンラップするステップと、
    アンラップした前記第2番目の干渉縞を前記被検物の第2番目の形状に変換するステップと、
    前記被検物の第1番目の形状と前記被検物の前記第2番目の形状とが一致するか否かを判定する判定ステップと、
    前記判定ステップにおいて、一致しないと判定した場合、アンラップした前記第2番目の干渉縞に前記光源の波長の整数倍を加えて前記被検物の形状を算出するステップと
    を有することを特徴とするプログラム。
  7. 被検物の形状を測定する測定装置であって、
    光源と、
    前記光源からの光を用いて、参照面からの参照光と前記被検物からの光との干渉縞を測定する測定部と、
    前記測定部で測定された干渉縞から前記被検物の形状を算出する算出部と、
    前記被検物を前記参照面の光軸方向に移動する移動機構とを有し、
    前記算出部は、前記測定部によって測定された前記被検物の第1番目の干渉縞を前記被検物の第1番目の形状に変換し、
    前記第1番目の干渉縞の基準点における位相と前記被検物を前記参照面の光軸方向に移動した位置において得られた第2番目の干渉縞の基準点における位相とを揃えて前記第2番目の干渉縞をアンラップし、該アンラップした前記第2番目の干渉縞を前記被検物の第2番目の形状に変換し、
    前記被検物の第1番目の形状と前記被検物の前記第2番目の形状とが一致するか否かを判定して一致しないと判定した場合、アンラップした前記第2番目の干渉縞に前記光源の波長の整数倍を加えて前記被検物の形状を算出することを特徴とする測定装置。
  8. 前記移動機構による移動量を測定する測定部を備えることを特徴とする請求項7に記載の測定装置。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7880897B2 (en) * 2007-12-28 2011-02-01 Fujinon Corporation Light wave interferometer apparatus
JP5053833B2 (ja) * 2007-12-28 2012-10-24 キヤノン株式会社 被検物の形状を測定する測定方法、測定装置及び前記被検物形状の測定をコンピュータに実行させるプログラム
JP5955001B2 (ja) * 2012-01-25 2016-07-20 キヤノン株式会社 非球面形状計測方法、形状計測プログラム及び形状計測装置
JP6169339B2 (ja) * 2012-10-04 2017-07-26 株式会社日立製作所 形状計測方法及び装置
WO2014064636A2 (en) * 2012-10-24 2014-05-01 Csir Modal decomposition of a laser beam
CN104634275A (zh) * 2015-01-26 2015-05-20 河南理工大学 一种基于牛顿环的非球面实时干涉测量装置及方法
US11262191B1 (en) * 2018-07-12 2022-03-01 Onto Innovation Inc. On-axis dynamic interferometer and optical imaging systems employing the same

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5926277A (en) * 1987-09-08 1999-07-20 Erim International, Inc. Method and apparatus for three-dimensional imaging using laser illumination interferometry
US5880841A (en) * 1997-09-08 1999-03-09 Erim International, Inc. Method and apparatus for three-dimensional imaging using laser illumination interferometry
US6744522B2 (en) * 2001-02-01 2004-06-01 Zygo Corporation Interferometer for measuring the thickness profile of thin transparent substrates
US6781700B2 (en) * 2001-06-20 2004-08-24 Kuechel Michael Scanning interferometer for aspheric surfaces and wavefronts
US7557929B2 (en) * 2001-12-18 2009-07-07 Massachusetts Institute Of Technology Systems and methods for phase measurements
US7365858B2 (en) * 2001-12-18 2008-04-29 Massachusetts Institute Of Technology Systems and methods for phase measurements
JP2004045168A (ja) 2002-07-11 2004-02-12 Nikon Corp 非球面形状計測方法
US7649634B2 (en) * 2007-10-30 2010-01-19 Mountain View Optical Consultant Corp. Methods and systems for white light interferometry and characterization of films
JP5053833B2 (ja) * 2007-12-28 2012-10-24 キヤノン株式会社 被検物の形状を測定する測定方法、測定装置及び前記被検物形状の測定をコンピュータに実行させるプログラム
US8133127B1 (en) * 2008-07-21 2012-03-13 Synder Terrance W Sports training device and methods of use

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