JP2009158628A - パワーモジュールの温度検出構造 - Google Patents

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Yozo Makino
洋三 牧野
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Abstract

【課題】冷却フィンの取付面にパワーモジュールを取り付け、該取付面のパワーモジュールの近傍に温度検出素子を結合したり、冷却フィンのブレード側であってパワーモジュールの半導体チップに近い位置に温度検出素子を取り付けた温度検出構造を提供する。
【解決手段】ブレード1aを有する冷却フィン1の前記ブレード1aが形成された面とは反対側である取付面1bにパワーモジュール2を貼り、該パワーモジュール2を構成する半導体チップ4と対応する位置であって、前記ブレード1aどうしの間に前記取付面1bへ向かって凹部1cを形成し、該凹部1cに温度センサ3を収容し、該凹部1cにはモールド樹脂6を充填した。
【選択図】図1

Description

本発明は、パワーモジュールの温度検出構造に関し、パワーモジュールに取り付けた冷却フィンの内部に、温度センサを埋設したものである。
例えば無停電電力装置(UPS)は、非常時には蓄電池から直流電流(DC)が取り出されるので、該直流電流を家庭で扱う交流電流(AC)に変換するためにインバータが使用される。
また、家庭用電化製品であるエアコンや冷蔵庫や洗濯機に使われるモータは交流モータであり、交流モータは構造が簡単で故障しにくくメンテナンスが容易である反面、回転数は電源の周波数に比例して変化するため周波数が一定の家庭用電源は回転数が変えられない。このため、コンバータにより交流電流から変換された直流電流は、モータの回転速度を制御するため、インバータにより周波数や電圧の異なる交流電流に再度変換される。
このように直流電流を交流電流に変換するインバータは、大きな電力を使用することから大電力を制御する必要があり、大電力を駆動制御するためパワーモジュールが用いられる。該パワーモジュールは発熱を伴うので、熱を放出するための冷却フィンが用いられる。そして、パワーモジュールの温度が過大にならないように冷却フィンの温度を検出して温度監視を行うため、温度センサが設けられる。
従来のパワーモジュールの温度検出構造としては、例えば特許文献1に記載の発明が知られている。この発明は、基板に装着されたインバータの上面にヒートシンクを結合する一方、該インバータの下方であって基板の上には該インバータの温度を検出するための温度検出素子を設け、該温度検出素子とインバータの下面との間にシリコンシートやシリコングリスなどの熱伝達部材を介在させたものである。半導体の温度が熱伝達部材を伝って温度検出素子に伝達されるので、インバータの温度をより正確に検出できる。また、熱伝達部材あるいは包囲部材により温度検出素子の周囲を囲むことにより、温度検出素子の周囲の空気が流通して温度検出素子自体の温度が低下し、測定誤差が生じるのを防止している。
特開2006−135167号公報
ところが、温度検出素子は基板上に設けるため基板の存在による熱影響を受け、更に半導体と温度検出素子との間に別個に熱伝達部材を設けるため部品数が多くなる。
一方、図3に示すように、冷却フィン1の上面にパワーモジュール2を載せ、該上面であってパワーモジュール2の近傍に温度検出素子3を設けた構成のものや、図4に示すように、パワーモジュール2の内部の半導体チップ4に対し、水平方向において半導体チップ4に近い範囲αの位置であって冷却フィン1の下面であるブレード1a側の温度Tdの温度検出を行う構成のものがある。
しかし、図3の場合はパワーモジュール2に内臓される半導体チップからの距離が大きく、図4の場合はブレード1aの間であって冷却空気が通過する冷却フィン1の表面に温度検出素子3が取り付けられているため、温度検出素子3自体が冷却されてしまい、正確に温度検出ができないという問題がある。
そこで本発明は、上記の課題を解決したパワーモジュールの温度検出構造を提供することを目的とする。
請求項1に係る発明は、ブレードを有する冷却フィンの前記ブレードが形成された面とは反対側である取付面にパワーモジュールを貼り、該パワーモジュールを構成する半導体チップと対応する位置であって、前記ブレードどうしの間に前記取付面へ向かって凹部を形成し、該凹部に温度センサを埋設したことを特徴とする。
この発明によれば、冷却フィンであって半導体チップと対応する位置に温度センサを埋設したので、半導体チップから温度センサまでの距離が小さくなり、半導体チップそのものの温度に近い温度が検出される。また、温度センサは冷却フィンに埋設されているので、温度センサの近傍の空気が移動して温度センサ自体が冷却されることはなく、温度測定が高精度に行われる。
本発明に係るパワーモジュールの温度検出構造によれば、パワーモジュールを構成する半導体チップと対応する位置に凹部を形成し、該凹部に温度センサを埋設したので、半導体チップから温度センサまでの距離が小さくなり、半導体チップそのものの温度に近い温度が検出される。また、温度センサは冷却フィンに埋設されているので、温度センサの近傍の空気が移動して温度センサ自体が冷却されることはなく、高精度な温度測定を行なうことができる。
以下、本発明によるパワーモジュールの温度検出構造の実施の形態を説明する。
図1に示すように、複数のブレード1aを有する冷却フィン1が設けられており、該ブレード1aが形成された下面とは反対側の上面である取付面1bに、パワーモジュール2が貼り付けられている。該パワーモジュール2は、半導体チップ4を第1ケース5aと第2ケース5bとからなるケース5の内部に収容したものである。
そして、図1の左右方向および紙面と直角な方向により構成される面における半導体チップ4と対応する位置であって、前記ブレード1aどうしの間に、前記取付面1bへ向かって凹部1cが形成され、該凹部1cに温度センサ3が埋設されている。該凹部1cにはモールド樹脂6が流し込まれて密封されている。
次に、パワーモジュールの温度検出構造の作用を図2に基づいて説明する。
図2は、図1における半導体チップ4と温度センサ3との近傍を拡大して示す断面図である。パワーモジュール2内の半導体チップ4と第2ケース5bとの接合部である「a点」の温度Taは、絶対に定格を越えないようにする必要があるが、Taを直接に測定することは不可能である。そこで、Taを間接的に測定できるように監視する必要がある。図2において、半導体チップ4の直下に位置する第2ケース5bの外表面「b点」の温度をTb、凹部1cの上面である「c点」の温度をTc、冷却フィン1の外表面である「d点」の温度をTd、外部空間である「e点」の温度をTeとすると、「ab間」の温度変化はΔTab、「bc間」の温度変化はΔTbc、「bd間」の温度変化をΔTbd、「de間」の温度変化はΔTdeで表わすことができる。
図4の場合は温度センサ3により「d点」の温度であるTdが検出されることから、接合部「a点」の温度Taは、「d点」の温度であるTdと「ad間」の温度変化である(ΔTbd+ΔTab)とを加えた値になり、
Ta=Td+ΔTbd+ΔTab・・・(1)
で表わされる。これに対し、図1の場合は温度センサ3により「c点」の温度であるTcが検出されるので、接合部である「a点」の温度Taは、「c点」の温度であるTcと「ac間」の温度変化である(ΔTbc+ΔTab)とを加えた値になり、
Ta=Tc+ΔTbc+ΔTab・・・(2)
で表わされる。(1)=(2)だから、
Td+ΔTbd+ΔTab=Tc+ΔTbc+ΔTab
Td+ΔTbd=Tc+ΔTbc・・・(3)
となる。
ここで熱源である半導体チップ4からの距離が大きいほど温度変化が大きくΔTbd>ΔTbcであり、Tc>Tdとなる。従って、図1のように、半導体チップ4により「c点」の温度Tcを測る方が、図4のように「d点」の温度Tdを測るよりも温度が高く、半導体チップ4の温度により近い温度を測定することができる。
近年、パワーモジュールの温度検出構造に対するコストダウンの要求が大きく、この要求に答えるため、今までよりもIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)定格を下げ、パワーモジュールの性能を最大限まで引き出して使わなくてはならない。そして、パワーモジュールの信頼性を確保するためには、半導体チップ4と第2ケース5bとの接合部である「a点」の温度Taをこれまで以上に正確に推定し、パワーモジュール2が危険温度になったら直ちに装置を停止させる保護機能が必要になる。本発明はこの要求を満たすものである。
パワーモジュールの温度検出構造を示す断面図(実施の形態)。 作用説明図(実施の形態)。 パワーモジュールの温度検出構造を示す構成図(従来)。 パワーモジュールの温度検出構造を示す構成図(従来)。
符号の説明
1…冷却フィン
1a…ブレード
1b…取付面
1c…凹部
2…パワーモジュール
3…温度センサ
4…半導体チップ
6…モールド樹脂

Claims (1)

  1. ブレードを有する冷却フィンの前記ブレードが形成された面とは反対側である取付面にパワーモジュールを貼り、該パワーモジュールを構成する半導体チップと対応する位置であって、前記ブレードどうしの間に前記取付面へ向かって凹部を形成し、該凹部に温度センサを埋設したことを特徴とするパワーモジュールの温度検出構造。
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