JP2009123722A - Substrate carrier - Google Patents

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JP2009123722A JP2007292703A JP2007292703A JP2009123722A JP 2009123722 A JP2009123722 A JP 2009123722A JP 2007292703 A JP2007292703 A JP 2007292703A JP 2007292703 A JP2007292703 A JP 2007292703A JP 2009123722 A JP2009123722 A JP 2009123722A
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昭彦 瀧
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To remove static electricity surely from a substrate held at a substrate holding portion in a substrate carrier by moving the substrate holding portion by a moving means employing bearings to which nonconductive lubricant is applied. <P>SOLUTION: In the substrate carrier, a contactor 7 has an upper end being fixed to the lower end face of a coupling column 55b, and has a bend 71 at the lower end thereof wherein a resilient force acts in a direction for pressing the bend 71 against a conductive plate 522 by abutting against a conductive plate 522 arranged on the inner footprint of a supporting base 52. When a hand 51b moves, the bend 71 slides, constantly touching the upper surface of the conductive plate 522 electrically connected with the ground potential mechanically, and a neutralization passage of hand 51b-holder 53b-coupling column 55b-contactor 7-conductive plate 522 is always formed. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

この発明は、基板を搬送する基板搬送装置に関するものである。なお、搬送対象となる基板には、半導体ウエハ、フォトマスク用ガラス基板、液晶表示用ガラス基板、プラズマ表示用ガラス基板、FED(電界放出ディスプレイ:Field Emission Display)用基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板等が含まれる。   The present invention relates to a substrate transfer apparatus for transferring a substrate. The substrates to be transported include semiconductor wafers, glass substrates for photomasks, glass substrates for liquid crystal displays, glass substrates for plasma displays, FED (Field Emission Display) substrates, optical disk substrates, and magnetic disks. And a magneto-optical disk substrate.

半導体デバイス、液晶ディスプレイ等の製造工程では、半導体ウエハ、ガラス基板等の基板に対して洗浄、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、イオン注入、レジスト剥離、層間絶縁膜の形成、熱処理等の各種処理が行われる。これらの処理の過程において基板が静電気により帯電すると、放電現象により基板表面の回路パターンが損傷を受けたり、また、塵埃等のパーティクルが基板に付着しやすくなったりする。そのため、基板の静電気を除去する除電装置を基板処理装置に装備することが提案されている(特許文献1参照)。   In the manufacturing process of semiconductor devices, liquid crystal displays, etc., various processes such as cleaning, resist coating, exposure, development, etching, ion implantation, resist peeling, interlayer insulation film formation, and heat treatment for semiconductor wafers, glass substrates, etc. Is done. If the substrate is charged by static electricity in the course of these treatments, the circuit pattern on the substrate surface is damaged by the discharge phenomenon, and particles such as dust are likely to adhere to the substrate. For this reason, it has been proposed to equip the substrate processing apparatus with a static eliminator that removes static electricity from the substrate (see Patent Document 1).

しかしながら、半導体デバイス等を製造するためには、複数の基板処理装置の間で基板を搬送しながら各処理装置により上記した処理を行う必要があり、各基板処理装置に対して除電装置を装備させることは製造コストの増大要因のひとつとなってしまう。そこで、基板を搬送する基板搬送装置に除電機構を設け、当該基板搬送装置により基板を搬送する際に、基板から静電気を除去する技術が提案されている。つまり、この技術は、基板搬送時に基板保持部のハンドが基板と直接接触するため、当該基板に帯電した静電気を基板搬送装置を介してグランドに逃がすというものである。   However, in order to manufacture a semiconductor device or the like, it is necessary to perform the above-described processing by each processing apparatus while transporting the substrate between a plurality of substrate processing apparatuses, and each substrate processing apparatus is equipped with a static eliminator. This is one of the factors that increase the manufacturing cost. In view of this, a technique has been proposed in which a neutralization mechanism is provided in a substrate transport device that transports a substrate, and static electricity is removed from the substrate when the substrate is transported by the substrate transport device. That is, in this technique, since the hand of the substrate holding unit comes into direct contact with the substrate during substrate transportation, static electricity charged on the substrate is released to the ground through the substrate transportation device.

特開2005−72559号公報(図2)Japanese Patent Laying-Open No. 2005-72559 (FIG. 2)

ところで、基板搬送装置は基板処理装置との間で基板の授受を行うという機能を有しており、基板保持部は各基板処理装置に対してアクセス可能となるように構成されている。つまり、基板搬送装置の装置本体に対して基板保持部はリニアガイド機構や多関節機構などの移動機構(手段)により進退移動可能となっている。このため、基板搬送装置内での基板の静電気を除電する経路は基板保持部−移動機構−装置本体という経路となり、当該除電経路を介して静電気をグランドに逃がしている。   By the way, the substrate transfer device has a function of transferring a substrate to and from the substrate processing apparatus, and the substrate holding unit is configured to be accessible to each substrate processing apparatus. That is, the substrate holding part can be moved forward and backward by a moving mechanism (means) such as a linear guide mechanism or a multi-joint mechanism with respect to the apparatus main body of the substrate transfer apparatus. For this reason, the path for discharging the static electricity of the substrate in the substrate transfer apparatus is a path of the substrate holding part-moving mechanism-apparatus body, and the static electricity is released to the ground through the discharging path.

しかしながら、従来装置では、パーティクル発生を抑制しつつ基板保持部を円滑に移動させるために移動機構では低発塵性の潤滑剤、例えばNSK社製のクリーングリースLGUなどを封入した軸受が用いられているため、時々、除電経路が断たれて除電を良好に行うことができない場合があった。その理由について、本願発明者が鋭意検討した結果、軸受に与えられている潤滑剤が非導電性であり、これが除電経路を断つ要因として作用していることを知見した。例えばリニアガイドを用いて基板保持部を直線移動させる装置では、当該リニアガイドに組み込まれた鋼球の表面に非導電性潤滑剤の油膜が形成されている。そして、当該油膜が絶縁箇所となって除電の阻害要因となることがあった。   However, in the conventional apparatus, in order to smoothly move the substrate holding portion while suppressing the generation of particles, the moving mechanism uses a bearing enclosing a low dusting lubricant, for example, clean grease LGU manufactured by NSK. Therefore, sometimes the static elimination path is cut off and the static elimination cannot be performed satisfactorily. As a result of intensive studies by the inventors of the present invention on the reason, it has been found that the lubricant applied to the bearing is non-conductive, and this acts as a factor for cutting off the static elimination path. For example, in a device that linearly moves the substrate holding portion using a linear guide, an oil film of a non-conductive lubricant is formed on the surface of a steel ball incorporated in the linear guide. And the said oil film may become an insulation location and may become the obstruction factor of static elimination.

この発明は上記課題に鑑みなされたものであり、非導電性潤滑剤が与えられた軸受を用いた移動手段により基板保持部を移動させて基板搬送を行う基板搬送装置において基板保持部で保持した基板から静電気を確実に除去することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and is held by a substrate holding unit in a substrate transfer apparatus that transfers the substrate by moving the substrate holding unit by a moving means using a bearing provided with a non-conductive lubricant. The purpose is to reliably remove static electricity from the substrate.

この発明は、上記目的を達成するため、電気的にグランド電位に接続された導電性の支持部と、基板を保持するハンドを有し、ハンドと一体的に支持部に対して移動自在に設けられた導電性の基板保持部と、非導電性潤滑剤が与えられた軸受を用いて支持部に対して基板保持部を移動させる移動手段と、常時あるいは基板保持部の移動ごとに基板保持部と支持部を電気的に接続する通電手段とを備えたことを特徴としている。   In order to achieve the above object, the present invention has a conductive support portion electrically connected to the ground potential and a hand for holding the substrate, and is provided so as to be movable with respect to the support portion integrally with the hand. A conductive substrate holding portion, a moving means for moving the substrate holding portion relative to the support portion using a bearing provided with a non-conductive lubricant, and a substrate holding portion at all times or every movement of the substrate holding portion. And an energizing means for electrically connecting the support portion.

このように構成された発明では、通電手段が常時あるいは基板保持部の移動ごとに基板保持部と支持部を電気的に接続して基板保持部−通電手段−支持部をいう除電経路を形成する。このため、上記電気接続によって基板から静電気が上記除電経路でグランドに強制的に除電される。   In the invention configured as above, the energizing means always electrically connects the substrate holding part and the support part every time the substrate holding part moves, thereby forming a static elimination path called substrate holding part-energizing means-supporting part. . For this reason, static electricity is forcibly discharged from the substrate to the ground through the charge removal path by the electrical connection.

ここで、除電経路を常時形成するためには、通電手段を次のように構成することができる。例えば基板保持部が支持部の上方位置で移動自在に設けられている場合には、通電手段の一方端部が基板保持部(または支持部)に取り付けられる一方、通電手段の他方端部が支持部(または基板保持部)に向けて延設されて支持部(または基板保持部)の表面上を摺動自在となるように構成することができる。これによって除電経路を常時形成することができる。なお、通電手段をバネ部材で構成し、そのバネ部材を上記表面に押し付ける方向に弾性力を作用させると、良好な接触状態が形成されて除電を安定して行うことができる。   Here, in order to always form the static elimination path, the energization means can be configured as follows. For example, when the substrate holding part is provided to be movable at a position above the support part, one end of the energizing means is attached to the substrate holding part (or support part), while the other end of the energizing means is supported. It can be configured to extend toward the portion (or the substrate holding portion) and to be slidable on the surface of the support portion (or the substrate holding portion). This makes it possible to always form a static elimination path. If the energizing means is constituted by a spring member and an elastic force is applied in the direction in which the spring member is pressed against the surface, a good contact state is formed and the static elimination can be performed stably.

また、除電経路を常時形成するためには、例えば導電ケーブルの一方端部を基板保持部に取り付け、導電ケーブルの他方端部を支持部に取り付け、さらに導電ケーブルの中央部を基板保持部の移動に伴って湾曲変形可能に構成してもよい。   In order to always form the static elimination path, for example, one end of the conductive cable is attached to the board holding part, the other end of the conductive cable is attached to the support part, and the central part of the conductive cable is moved to the board holding part. Accordingly, it may be configured to be capable of bending deformation.

また、基板保持部が予め決められた移動範囲で移動自在に設けられている場合には、通電手段が支持部に設けられて移動範囲の一方端に移動してきた基板保持部に当接して基板保持部と支持部を電気的に接続するように構成してもよい。このように構成された発明では、基板保持部の移動ごとに基板保持部と支持部が電気的に接続されて除電経路が形成されて基板から静電気が強制的に除電される。なお、通電手段をバネ部材で構成し、移動範囲の一方端に移動してきた基板保持部を押し戻す方向に弾性力を作用させることで基板保持部と支持部が当接する際の衝撃を抑制することができると同時に、電気的な接触を確実なものとして除電を良好に行うことができる。   Further, when the substrate holding part is provided so as to be movable within a predetermined movement range, the energizing means is provided on the support part and comes into contact with the substrate holding part that has moved to one end of the movement range. You may comprise so that a holding | maintenance part and a support part may be electrically connected. In the invention configured as described above, each time the substrate holding portion moves, the substrate holding portion and the support portion are electrically connected to form a static elimination path, and static electricity is forcibly removed from the substrate. Note that the energizing means is constituted by a spring member, and an elastic force is applied in a direction to push back the substrate holding portion that has moved to one end of the moving range, thereby suppressing an impact when the substrate holding portion and the support portion come into contact with each other. At the same time, the neutralization can be performed satisfactorily with reliable electrical contact.

この発明によれば、通電手段が常時あるいは基板保持部の移動ごとに基板保持部と支持部を電気的に接続して除電経路を形成して基板からの静電気の強制除電が実行される。したがって、非導電性潤滑剤が与えられた軸受を用いた移動手段により基板保持部を移動させて基板搬送を行う基板搬送装置であっても、基板保持部で保持した基板から静電気を確実に除去することができる。   According to the present invention, the static electricity is forcedly removed from the substrate by forming the static elimination path by electrically connecting the substrate holding part and the support part at all times or whenever the substrate holding part moves. Therefore, even if it is a substrate transport device that transports the substrate by moving the substrate holder by moving means using a bearing provided with a non-conductive lubricant, static electricity is reliably removed from the substrate held by the substrate holder can do.

図1はこの発明にかかる基板搬送装置の一実施形態を装備した基板処理装置を示す図である。この基板処理装置は、半導体ウエハ等の基板Wに対して処理液や処理ガスなどによる処理を施すための枚葉式の処理装置である。この基板処理装置は、基板Wに対して処理を施す基板処理部PPと、この基板処理部PPに結合されたインデクサ部IDと、処理流体(液体または気体)の供給/排出のための構成を収容した処理流体ボックス11,12とを備えている。   FIG. 1 is a view showing a substrate processing apparatus equipped with an embodiment of a substrate transfer apparatus according to the present invention. This substrate processing apparatus is a single wafer processing apparatus for processing a substrate W such as a semiconductor wafer with a processing liquid or a processing gas. The substrate processing apparatus includes a substrate processing unit PP that processes a substrate W, an indexer unit ID coupled to the substrate processing unit PP, and a configuration for supplying / discharging a processing fluid (liquid or gas). The processing fluid boxes 11 and 12 are accommodated.

インデクサ部IDは、基板Wを収容するためのカセットC(複数の基板Wを密閉した状態で収容するFOUP(Front Opening Unified Pod)、SMIF(Standard Mechanical Inter Face)ポッド、OC(Open Cassette)など)を複数個保持することができるカセット保持部21と、このカセット保持部21に保持されたカセットCにアクセスして、未処理の基板WをカセットCから取り出したり、処理済の基板をカセットCに収納したりするためのインデクサロボット22とを備えている。   The indexer unit ID is a cassette C for storing the substrates W (FOUP (Front Opening Unified Pod) for storing a plurality of substrates W in a sealed state, SMIF (Standard Mechanical Interface Face) pod, OC (Open Cassette), etc.) A cassette holding unit 21 that can hold a plurality of wafers, and a cassette C held in the cassette holding unit 21 are accessed to take out an unprocessed substrate W from the cassette C or to transfer a processed substrate to the cassette C. And an indexer robot 22 for storage.

各カセットCには、複数枚の基板Wが「ロット」という一単位で収容されている。複数枚の基板Wはロット単位で種々の基板処理装置の間に搬送され、各基板処理装置でロットを構成する各基板Wに対して同一種類の処理が施される。各カセットCは、複数枚の基板Wを微小な間隔をあけて上下方向に積層して保持するための複数段の棚(図示省略)を備えており、各段の棚に1枚ずつ基板Wを保持することができるようになっている。各段の棚は、基板Wの下面の周縁部に接触し、基板Wを下方から保持する構成となっており、基板Wは表面(パターン形成面)を上方に向け、裏面を下方に向けたほぼ水平な姿勢でカセットCに収容されている。   In each cassette C, a plurality of substrates W are accommodated in one unit called “lot”. A plurality of substrates W are transferred between various substrate processing apparatuses in units of lots, and the same type of processing is performed on each substrate W constituting the lot by each substrate processing apparatus. Each cassette C is provided with a plurality of shelves (not shown) for stacking and holding a plurality of substrates W in the vertical direction with minute intervals, and one substrate W is placed on each shelf. Can be held. Each shelf is configured to contact the peripheral edge of the lower surface of the substrate W and hold the substrate W from below. The substrate W has the front surface (pattern forming surface) facing upward and the back surface facing downward. The cassette C is accommodated in a substantially horizontal posture.

基板処理部PPは、平面視においてほぼ中央に配置された基板搬送ロボット5と、この基板搬送ロボット5が取付けられたフレーム30とを有している。このフレーム30には、基板搬送ロボット5を取り囲むように、複数個(この実施形態では4個)の処理ユニット1,2,3,4が搭載されている。この実施形態では、処理ユニット1〜4として例えば半導体ウエハのようなほぼ円形の基板Wに対して所定の処理を施す処理ユニットP1がフレーム30に搭載されている。処理ユニットP1としては、例えば、基板Wに対して薬液による薬液処理および純水などのリンス液によるリンス処理を施す薬液処理ユニットMPを採用することができる。以下、薬液およびリンス液を総称する場合は「処理液」という。処理ユニット1,2,3,4はそれぞれ、内部に基板Wに対して処理を施すための処理空間が形成された処理チャンバー1a,2a,3a,4aを有する。そして、各処理チャンバー1a〜4a内で基板Wに処理液が供給され該基板Wに対して湿式処理が施される。このように、この実施形態では、複数の処理ユニット1〜4の全てにおいて互いに同一種類の処理を施すようにしている。   The substrate processing unit PP includes a substrate transfer robot 5 disposed substantially in the center in plan view, and a frame 30 to which the substrate transfer robot 5 is attached. A plurality of (four in this embodiment) processing units 1, 2, 3, and 4 are mounted on the frame 30 so as to surround the substrate transfer robot 5. In this embodiment, as the processing units 1 to 4, a processing unit P <b> 1 that performs a predetermined processing on a substantially circular substrate W such as a semiconductor wafer is mounted on the frame 30. As the processing unit P1, for example, a chemical processing unit MP that performs chemical processing with a chemical and rinsing with a rinsing liquid such as pure water on the substrate W can be employed. Hereinafter, the chemical solution and the rinse solution are collectively referred to as “treatment solution”. Each of the processing units 1, 2, 3 and 4 has processing chambers 1a, 2a, 3a and 4a in which processing spaces for processing the substrate W are formed. Then, the processing liquid is supplied to the substrate W in each of the processing chambers 1a to 4a, and wet processing is performed on the substrate W. As described above, in this embodiment, all of the plurality of processing units 1 to 4 perform the same type of processing.

処理ユニットP1としては、薬液処理ユニットMP以外に、スクラブ洗浄ユニットSS、ポリマー除去ユニットSR、ベベル洗浄ユニットCBおよび気相洗浄ユニットVPから選択した任意の処理ユニットを採用することができる。ここで、スクラブ洗浄ユニットSSは、基板Wを回転させながら基板Wに純水を供給するとともに、基板表面をスクラブブラシでスクラブする。また、ポリマー除去ユニットSRは、基板Wを回転させながら基板Wにポリマー除去液を供給して基板W上の残渣物を除去する。また、ベベル洗浄ユニットCBは、基板Wを回転させながら基板Wの周端面および表面周縁部(ベベル部)に処理液を供給してベベル部に対して処理を施す。また、気相洗浄ユニットVPは、基板Wに薬液を含む蒸気またはケミカルガスを含む蒸気を供給して基板Wを処理する。   As the processing unit P1, in addition to the chemical processing unit MP, any processing unit selected from the scrub cleaning unit SS, the polymer removal unit SR, the bevel cleaning unit CB, and the gas phase cleaning unit VP can be adopted. Here, the scrub cleaning unit SS supplies pure water to the substrate W while rotating the substrate W, and scrubs the substrate surface with a scrub brush. Further, the polymer removal unit SR removes residues on the substrate W by supplying the polymer removal solution to the substrate W while rotating the substrate W. Further, the bevel cleaning unit CB supplies the processing liquid to the peripheral end surface and the surface peripheral edge portion (bevel portion) of the substrate W while rotating the substrate W so as to process the bevel portion. The vapor phase cleaning unit VP processes the substrate W by supplying the substrate W with a vapor containing a chemical solution or a vapor containing a chemical gas.

基板搬送ロボット5は、本発明の「基板搬送装置」に相当するものであり、インデクサロボット22との間で基板Wの授受を行うことができ、かつ各処理ユニット1〜4に対する基板Wのローディング・アンローディングを行うことができる。より具体的には、例えば、基板搬送ロボット5は、基板Wを保持する導電性の一対のハンド51a、51bを有する基板保持部と、当該基板保持部を水平方向に進退移動自在に支持する支持ベース52とを備えており、基板保持部の移動によって各ハンド51a、51bを処理ユニットおよびインデクサロボット22に対してアクセス可能となっている。また、基板搬送ロボット5は各ハンド51a、51bを所望の処理ユニットに対向位置決めするために次のような構成を有している。基板搬送ロボット5では、基台部(図示省略)が基板処理部PPのフレーム30に固定されるとともに、この基台部に対して昇降ベース(図示省略)が昇降可能に取付けられている。さらに、この昇降ベースに対して上記支持ベース52が鉛直軸回りの回転可能に設けられている。このため、装置全体を制御する制御ユニット(図示省略)からの制御指令に応じて昇降ベースおよび支持ベース52が駆動されることによって支持ベース52上のハンド51a、51bが処理ユニットおよびインデクサロボット22に対向位置決めされる。なお、同図では、ハンド51a、51bはインデクサロボット22に対向して位置決めされている。   The substrate transfer robot 5 corresponds to the “substrate transfer apparatus” of the present invention, can transfer the substrate W to and from the indexer robot 22, and loads the substrate W to each processing unit 1 to 4.・ Unloading can be performed. More specifically, for example, the substrate transfer robot 5 includes a substrate holding unit having a pair of conductive hands 51a and 51b that hold the substrate W, and a support that supports the substrate holding unit so as to be movable forward and backward in the horizontal direction. A base 52 is provided, and the hands 51a and 51b are accessible to the processing unit and the indexer robot 22 by the movement of the substrate holder. The substrate transport robot 5 has the following configuration in order to position each hand 51a, 51b opposite to a desired processing unit. In the substrate transfer robot 5, a base (not shown) is fixed to the frame 30 of the substrate processing unit PP, and an elevating base (not shown) is attached to the base so as to be raised and lowered. Further, the support base 52 is provided so as to be rotatable about a vertical axis with respect to the elevating base. Therefore, the lifting base and the support base 52 are driven in accordance with a control command from a control unit (not shown) that controls the entire apparatus, whereby the hands 51a and 51b on the support base 52 are transferred to the processing unit and the indexer robot 22. Opposed positioning. In the figure, the hands 51 a and 51 b are positioned facing the indexer robot 22.

図2は本発明にかかる基板搬送装置の一実施形態たる基板搬送ロボットの基板搬送部分を示す図である。この基板搬送ロボット5は一対のハンド51a、51bを上下方向に積層配置した上下2段構造を有しており、ハンド51aは支持ベース52の上面近傍を進退方向Xに往復移動自在に設けられる一方、ハンド51bはハンド51aの直上近傍を進退方向Xに往復移動自在に設けられており、次に説明する移動機構によってハンド51a、51bはそれぞれ独立して進退移動される。   FIG. 2 is a diagram showing a substrate transfer portion of a substrate transfer robot as an embodiment of the substrate transfer apparatus according to the present invention. The substrate transfer robot 5 has a two-stage structure in which a pair of hands 51a and 51b are stacked in the vertical direction. The hand 51a is provided so as to reciprocate in the forward and backward direction X in the vicinity of the upper surface of the support base 52. The hand 51b is provided so as to be able to reciprocate in the forward / backward direction X in the vicinity immediately above the hand 51a, and the hands 51a, 51b are moved forward / backward independently by a moving mechanism described below.

図3は移動機構の構成を示す部分断面図であり、同図(b)は同図(a)の部分拡大図である。この基板搬送ロボット5では、図2に示すように、ハンド51aの後端部に平面視で台形形状の導電性ホルダ53aが取り付けられて当該ホルダ53aを介して移動機構6の下側移動機構部に接続されている。また、図3(a)に示すように略コ字状断面を有する導電性ホルダ53bがハンド51bの後端部に取り付けられて当該ホルダ53bを介して移動機構6の上側移動機構部61bに接続されている。そして、制御ユニットからの制御指令に応じて上側移動機構部61bの駆動モータ(図示省略)が作動することによってハンド51bが進退方向Xに移動して、例えば図2に示すようにハンド51b上の3つの保持ピン54bで保持された基板Wを水平移動させる。なお、ハンド51aにおいても、ハンド51bと同様に、移動機構6の下側移動機構部によってハンド51aおよび基板Wを移動可能となっている。これらの移動機構部の構成は両者とも同一であるため、以下においては、上側移動機構部61bについて詳述し、下側移動機構部については同一または相当符号を付して説明を省略する。   FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing the configuration of the moving mechanism, and FIG. 3B is a partially enlarged view of FIG. In the substrate transfer robot 5, as shown in FIG. 2, a trapezoidal conductive holder 53a is attached to the rear end portion of the hand 51a in plan view, and the lower moving mechanism portion of the moving mechanism 6 is passed through the holder 53a. It is connected to the. Further, as shown in FIG. 3A, a conductive holder 53b having a substantially U-shaped cross section is attached to the rear end portion of the hand 51b and connected to the upper moving mechanism portion 61b of the moving mechanism 6 via the holder 53b. Has been. Then, in response to a control command from the control unit, the drive motor (not shown) of the upper movement mechanism unit 61b operates to move the hand 51b in the forward / backward direction X. For example, as shown in FIG. The substrate W held by the three holding pins 54b is moved horizontally. In the hand 51a as well as the hand 51b, the hand 51a and the substrate W can be moved by the lower moving mechanism portion of the moving mechanism 6. Since the configurations of these moving mechanism units are the same, in the following, the upper moving mechanism unit 61b will be described in detail, and the lower moving mechanism unit will be given the same or corresponding reference numerals and description thereof will be omitted.

上側移動機構部61bでは、支持ベース52に固設された中央ビーム521に対して固定レール62が固定されている。この中央ビーム521および固定レール62はともに進退方向Xに延設されている。また、この固定レール62に対してスライダ63が取り付けられており、固定レール62に沿って進退方向Xに移動自在となっている。レール62とスライダ63との間には鋼球(図示省略)が介挿されてスライド軸受構造が形成されている。そして、レール62、スライダ63および鋼球の間で発生する摩擦を低減するために低発塵性の潤滑剤、例えばNSK社製のクリーングリースLGUなどが封入されている。なお、図3(b)における符号64は当該潤滑剤を示している。   In the upper moving mechanism 61b, the fixed rail 62 is fixed to the central beam 521 fixed to the support base 52. Both the central beam 521 and the fixed rail 62 are extended in the forward / backward direction X. In addition, a slider 63 is attached to the fixed rail 62 and is movable along the fixed rail 62 in the forward / backward direction X. A steel ball (not shown) is inserted between the rail 62 and the slider 63 to form a slide bearing structure. And in order to reduce the friction which generate | occur | produces between the rail 62, the slider 63, and the steel ball, the low dust generation lubricant, for example, clean grease LGU made from NSK, etc. are enclosed. In addition, the code | symbol 64 in FIG.3 (b) has shown the said lubricant.

このスライダ63に対して導電性の連結コラム55bの下端部が固着されるとともに、連結コラム55bの上端部にホルダ53bが取り付けられており、ハンド51b、ホルダ53b、連結コラム55bおよびスライダ63が一体的に進退方向Xに移動自在となっている。このように、本実施形態では、ハンド51b、ホルダ53bおよび連結コラム55bが本発明の「基板保持部」に相当しており、固定レール62、スライダ63および鋼球からなるリニアガイドによって進退方向Xに移動自在となっている。   The lower end portion of the conductive connection column 55b is fixed to the slider 63, and the holder 53b is attached to the upper end portion of the connection column 55b. The hand 51b, the holder 53b, the connection column 55b, and the slider 63 are integrated. Therefore, it is movable in the forward / backward direction X. As described above, in this embodiment, the hand 51b, the holder 53b, and the connecting column 55b correspond to the “substrate holding portion” of the present invention, and the advancing / retreating direction X is achieved by the linear guide including the fixed rail 62, the slider 63, and the steel ball. It has become freely movable.

また、連結コラム55bの下端部にはベルト固定部66が設けられ、駆動モータにより駆動されるベルト67と連結されている。このベルト67は支持ベース52の内部で進退方向Xに離隔配置された2つのプーリ68、69の間に掛け渡されたものであり、駆動モータからの回転駆動力により一方のプーリ68が回転駆動されると、その回転運動に応じてベルト67は循環移動する。そして、このベルト駆動に応じてハンド51b、ホルダ53b、連結コラム55bおよびスライダ63が一体的に進退方向Xに移動する。なお、この実施形態では、ベルト駆動方式によりハンド51bを駆動しているが、駆動方式はこれに限定されるものではなく、任意の駆動方式、例えばボールネジ駆動方式を採用してもよい。このように本実施形態の移動機構6が本発明の「移動手段」に相当している。   Further, a belt fixing portion 66 is provided at the lower end portion of the connection column 55b, and is connected to a belt 67 driven by a drive motor. This belt 67 is stretched between two pulleys 68 and 69 that are spaced apart in the advance / retreat direction X inside the support base 52, and one pulley 68 is rotationally driven by the rotational driving force from the drive motor. Then, the belt 67 circulates according to the rotational movement. Then, the hand 51b, the holder 53b, the connecting column 55b, and the slider 63 are integrally moved in the forward / backward direction X according to the belt drive. In this embodiment, the hand 51b is driven by the belt driving method, but the driving method is not limited to this, and any driving method, for example, a ball screw driving method may be adopted. Thus, the moving mechanism 6 of this embodiment corresponds to the “moving means” of the present invention.

また、図3(b)に示すように、連結コラム55bの下端面からは断面略レ字状の接触子7が下方に突設され、ハンド51bと支持ベース52を常時電気的に接続している。すなわち、接触子7は導電性材料、例えばバネ鋼板等のバネ部材で構成されており、接触子7の上方端部は連結コラム55bの下端面に取り付けられている。一方、その下方端部は屈折部71となっており、支持ベース52の内底面に配置された導電プレート522に当接して屈折部71を導電プレート522に押し付ける方向に弾性力が作用している。このため、ハンド51bが移動する際にも、屈折部71は一定の弾性力で導電プレート522の上面と機械的に接触しながら摺動する。このため、ハンド51bと支持ベース52は常時電気的に接続されることとなる。しかも、この導電プレート522は電気的にグランド電位に接続されているため、ハンド51b−ホルダ53b−連結コラム55b−接触子7−導電プレート522という除電経路が常時形成されている。このように本実施形態では、接触子7が本発明の「通電手段」に相当している。   Further, as shown in FIG. 3B, a contact 7 having a substantially letter-shaped cross section projects downward from the lower end surface of the connecting column 55b, and the hand 51b and the support base 52 are always electrically connected. Yes. That is, the contact 7 is made of a conductive material, for example, a spring member such as a spring steel plate, and the upper end of the contact 7 is attached to the lower end surface of the connection column 55b. On the other hand, the lower end portion is a refracting portion 71, and an elastic force acts in a direction in which the refracting portion 71 is pressed against the conductive plate 522 by contacting the conductive plate 522 disposed on the inner bottom surface of the support base 52. . For this reason, even when the hand 51b moves, the refracting portion 71 slides while being in mechanical contact with the upper surface of the conductive plate 522 with a certain elastic force. For this reason, the hand 51b and the support base 52 are always electrically connected. Moreover, since the conductive plate 522 is electrically connected to the ground potential, a static elimination path of hand 51b-holder 53b-connection column 55b-contact 7-conductive plate 522 is always formed. Thus, in the present embodiment, the contact 7 corresponds to the “energizing means” of the present invention.

以上のように、接触子7を設けることによって除電経路(ホルダ53b−連結コラム55b−接触子7−導電プレート522)を常時形成し、当該除電経路を介して基板Wから静電気を強制的にグランドに逃がしているので、上記したように軸受(固定レール、鋼球、スライダ)に非導電性潤滑剤が与えられているものの、基板Wから静電気を常時、確実に除去することができる。なお、このような作用効果については、ハンド51a側についても全く同様である。   As described above, by providing the contact 7, a static elimination path (holder 53 b -connection column 55 b -contact 7-conductive plate 522) is always formed, and static electricity is forcibly grounded from the substrate W through the static elimination path. As described above, the non-conductive lubricant is applied to the bearings (fixed rails, steel balls, sliders) as described above, but static electricity can always be reliably removed from the substrate W. In addition, about this effect, it is completely the same also about the hand 51a side.

また、接触子7はバネ部材で構成されるとともに、一定の弾性力で導電プレート522の上面と機械的に接触しながら摺動する。このため、ハンド51bと支持ベース52は常時、しかも良好な接触状態を形成しつつ電気的に接続されることとなる。その結果、除電を安定して行うことができる。なお、この実施形態では、基板保持部を構成する要素(ハンド51b、ホルダ53bおよび連結コラム55b)のうち連結コラム55bに接触子7を取り付けているが、他の要素に接触子を設けてもよい。また、本実施形態では、基板保持部(ハンド51b、ホルダ53bおよび連結コラム55b)および支持ベース52のうちの基板保持部を本発明の「取付部」とし、支持ベース52を本発明の「接触部」として機能させているが、それらを逆に設定してもよい。   The contact 7 is formed of a spring member and slides while being in mechanical contact with the upper surface of the conductive plate 522 with a certain elastic force. For this reason, the hand 51b and the support base 52 are always electrically connected while forming a good contact state. As a result, static elimination can be performed stably. In this embodiment, the contact 7 is attached to the connection column 55b among the elements (the hand 51b, the holder 53b, and the connection column 55b) constituting the substrate holding unit. However, even if the contact is provided to other elements. Good. Further, in the present embodiment, the substrate holding portion of the substrate holding portion (hand 51b, holder 53b and connecting column 55b) and the support base 52 is the “mounting portion” of the present invention, and the support base 52 is the “contact” of the present invention. Although they function as “parts”, they may be set in reverse.

なお、本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて上述したもの以外に種々の変更を行うことが可能である。例えば、上記実施形態では、接触子7を本発明の「通電手段」として用いているが、フラットケーブル等の導電ケーブルにより基板保持部(ハンド51b、ホルダ53bおよび連結コラム55b)と支持ベース52を電気的に接続してもよい。つまり、導電ケーブルの一方端部を基板保持部に取り付ける一方、導電ケーブルの他方端部を支持部に取り付けてもよく、進退方向Xへの基板保持部の移動に応じて導電ケーブルの中央部が湾曲変形しながら通電状態を維持することができ、除電経路を常時形成することができる。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications other than those described above can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, in the above embodiment, the contact 7 is used as the “energizing means” of the present invention, but the substrate holding portion (hand 51b, holder 53b and connecting column 55b) and the support base 52 are connected by a conductive cable such as a flat cable. You may connect electrically. That is, one end of the conductive cable may be attached to the board holding part, while the other end of the conductive cable may be attached to the support part, and the central part of the conductive cable may be moved according to the movement of the board holding part in the forward / backward direction X. The energized state can be maintained while being bent and a static elimination path can always be formed.

また、上記実施形態では、除電経路を常時形成しているが、例えば図4に示すように、基板保持部の移動範囲Rの一方端側(同図(a)の右手側)に支持ベース52に電気的に接続された導電性の通電部材、例えばバネ部材72を本発明の「通電手段」として設けてもよい。このように構成された基板搬送装置では、ハンドを含む基板保持部が進退方向Xに移動してバネ部材72に当接する(同図(b))と、当該バネ部材72を介して基板保持部と支持ベース52が電気的に接続される。このように、基板保持部の移動ごとに基板保持部−バネ部材72−支持ベース52という除電経路が形成されて基板Wから静電気が強制的に除電される。また、上記のように通電手段をバネ部材72で構成した場合、移動範囲Rの一方端側(図4の右手側)に移動してきた基板保持部を押し戻す方向に弾性力を作用させることで基板保持部と支持ベース52が当接する際の衝撃を抑制することができると同時に、電気的な接触を確実なものとして除電を良好に行うことができる。   In the above embodiment, the static elimination path is always formed. However, as shown in FIG. 4, for example, the support base 52 is provided on one end side (the right hand side in FIG. 4A) of the movement range R of the substrate holder. A conductive current-carrying member electrically connected to, for example, a spring member 72 may be provided as the “energization means” in the present invention. In the substrate transport apparatus configured as described above, when the substrate holding portion including the hand moves in the forward / backward direction X and comes into contact with the spring member 72 ((b) in the same figure), the substrate holding portion is interposed via the spring member 72. And the support base 52 are electrically connected. In this way, each time the substrate holding portion moves, a static elimination path of the substrate holding portion-spring member 72-support base 52 is formed, and static electricity is forcibly discharged from the substrate W. Further, when the energizing means is constituted by the spring member 72 as described above, the elastic force is applied in a direction to push back the substrate holding portion that has moved to one end side (the right hand side in FIG. 4) of the moving range R. The impact at the time when the holding portion and the support base 52 come into contact with each other can be suppressed, and at the same time, the electrical contact can be ensured and the charge removal can be performed well.

また、上記実施形態では、2本のハンドをそれぞれ進退方向Xに直線的に移動させる基板搬送装置に本発明を適用しているが、ハンドの本数や移動方向は本発明の適用範囲を限定するものではない。要は、非導電性潤滑剤が与えられた軸受を用いてハンドを移動させる構成を採用している基板搬送装置全般に適用することができる。例えば、上記実施形態のインデクサロボット22に適用してもよい。   In the above embodiment, the present invention is applied to the substrate transfer apparatus that linearly moves the two hands in the forward / backward direction X. However, the number of hands and the moving direction limit the application range of the present invention. It is not a thing. In short, the present invention can be applied to any substrate transport apparatus that employs a configuration in which a hand is moved using a bearing provided with a non-conductive lubricant. For example, you may apply to the indexer robot 22 of the said embodiment.

この発明は、半導体ウエハ、フォトマスク用ガラス基板、液晶表示用ガラス基板、プラズマ表示用ガラス基板、FED(Field Emission Display)用基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板などを含む基板を搬送する基板搬送装置に適用することができる。   The present invention relates to a semiconductor wafer, a glass substrate for photomask, a glass substrate for liquid crystal display, a glass substrate for plasma display, a substrate for FED (Field Emission Display), a substrate for optical disk, a substrate for magnetic disk, a substrate for magneto-optical disk, etc. The present invention can be applied to a substrate transfer apparatus that transfers a substrate including the substrate.

本発明にかかる基板搬送装置の一実施形態を装備した基板処理装置を示す図である。It is a figure which shows the substrate processing apparatus equipped with one Embodiment of the substrate conveying apparatus concerning this invention. 本発明にかかる基板搬送装置の一実施形態たる基板搬送ロボットの基板搬送部分を示す図である。It is a figure which shows the board | substrate conveyance part of the board | substrate conveyance robot which is one Embodiment of the board | substrate conveyance apparatus concerning this invention. 移動機構の構成を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view which shows the structure of a moving mechanism. 本発明にかかる基板搬送装置の他の実施形態を示す図である。It is a figure which shows other embodiment of the board | substrate conveying apparatus concerning this invention.

符号の説明Explanation of symbols

5…基板搬送ロボット(基板搬送装置)
6…移動機構(移動手段)
7…接触子(通電手段、通電部材)
51a、51b…ハンド(基板保持部)
52…支持ベース(支持部)
53a、53b…導電性ホルダ(基板保持部)
55b…連結コラム(基板保持部)
61b…上側移動機構部(移動手段)
71…屈折部71
72…バネ部材(通電手段、通電部材)
522…導電プレート(支持部)
R…移動範囲
W…基板
X…進退方向
5 ... Substrate transfer robot (substrate transfer device)
6 ... Moving mechanism (moving means)
7 ... Contact (energizing means, energizing member)
51a, 51b ... hand (substrate holding part)
52 ... Support base (support part)
53a, 53b ... conductive holder (substrate holding part)
55b ... Connection column (substrate holding part)
61b ... Upper moving mechanism (moving means)
71: Refraction part 71
72 ... Spring member (energizing means, energizing member)
522 ... Conductive plate (supporting part)
R ... Movement range W ... Substrate X ... Forward / backward direction

Claims (6)

電気的にグランド電位に接続された導電性の支持部と、
基板を保持するハンドを有し、前記ハンドと一体的に前記支持部に対して移動自在に設けられた導電性の基板保持部と、
非導電性潤滑剤が与えられた軸受を用いて前記支持部に対して前記基板保持部を移動させる移動手段と、
常時あるいは前記基板保持部の移動ごとに前記基板保持部と前記支持部を電気的に接続する通電手段と
を備えたことを特徴とする基板搬送装置。
A conductive support electrically connected to ground potential;
A conductive substrate holding unit provided with a hand for holding a substrate and provided so as to be movable with respect to the support unit integrally with the hand;
Moving means for moving the substrate holder relative to the support using a bearing provided with a non-conductive lubricant;
An apparatus for transporting a substrate, comprising: energizing means for electrically connecting the substrate holding part and the support part at all times or whenever the substrate holding part is moved.
前記基板保持部は前記支持部の上方位置で移動自在に設けられ、
前記基板保持部および前記支持部のうちの一方を取付部とし、他方を接触部とするとき、
前記通電手段の一方端部が前記取付部に取り付けられる一方、前記通電手段の他方端部が前記接触部に向けて延設されて前記接触部の表面上を摺動自在となっている請求項1記載の基板搬送装置。
The substrate holding part is provided movably at a position above the support part,
When one of the substrate holding part and the support part is an attachment part and the other is a contact part,
The one end portion of the energizing means is attached to the attachment portion, and the other end portion of the energizing means is extended toward the contact portion so as to be slidable on the surface of the contact portion. The substrate transfer apparatus according to 1.
前記通電手段はバネ部材であり、前記他方端部を前記接触部の表面に押し付ける方向に弾性力を作用させる請求項2記載の基板搬送装置。   The substrate transfer apparatus according to claim 2, wherein the energizing means is a spring member and applies an elastic force in a direction in which the other end is pressed against the surface of the contact portion. 前記通電手段は導電ケーブルであり、
前記導電ケーブルの一方端部が前記基板保持部に取り付けられる一方、前記導電ケーブルの他方端部が前記支持部に取り付けられ、導電ケーブルの中央部が前記基板保持部の移動に伴って湾曲変形する請求項1記載の基板搬送装置。
The energizing means is a conductive cable;
One end of the conductive cable is attached to the substrate holding portion, while the other end of the conductive cable is attached to the support portion, and the central portion of the conductive cable is curved and deformed as the substrate holding portion moves. The substrate transfer apparatus according to claim 1.
前記基板保持部は予め決められた移動範囲で移動自在に設けられ、
前記通電手段は前記支持部に設けられて前記移動範囲の一方端に移動してきた前記基板保持部に当接して前記基板保持部と前記支持部を電気的に接続する請求項1記載の基板搬送装置。
The substrate holding part is provided movably within a predetermined movement range,
2. The substrate transport according to claim 1, wherein the energization means is provided in the support portion and contacts the substrate holding portion that has moved to one end of the moving range to electrically connect the substrate holding portion and the support portion. apparatus.
前記通電手段はバネ部材であり、前記移動範囲の一方端に移動してきた前記基板保持部を押し戻す方向に弾性力を作用させる請求項5記載の基板搬送装置。   The substrate transfer apparatus according to claim 5, wherein the energizing means is a spring member, and applies an elastic force in a direction to push back the substrate holding portion that has moved to one end of the moving range.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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